WO2000007921A1 - Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper - Google Patents

Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper Download PDF

Info

Publication number
WO2000007921A1
WO2000007921A1 PCT/CH1999/000340 CH9900340W WO0007921A1 WO 2000007921 A1 WO2000007921 A1 WO 2000007921A1 CH 9900340 W CH9900340 W CH 9900340W WO 0007921 A1 WO0007921 A1 WO 0007921A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
measuring
gap
measuring device
coating
thread
Prior art date
Application number
PCT/CH1999/000340
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Cyrill Bucher
Roger Pidoux
Original Assignee
Zellweger Luwa Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zellweger Luwa Ag filed Critical Zellweger Luwa Ag
Priority to JP2000563559A priority Critical patent/JP2002522322A/ja
Priority to EP99930974A priority patent/EP1100742B1/de
Priority to DE59905211T priority patent/DE59905211D1/de
Priority to US09/744,915 priority patent/US6499345B1/en
Publication of WO2000007921A1 publication Critical patent/WO2000007921A1/de

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
    • B65H63/06—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package responsive to presence of irregularities in running material, e.g. for severing the material at irregularities ; Control of the correct working of the yarn cleaner
    • B65H63/062—Electronic slub detector
    • B65H63/065—Electronic slub detector using photo-electric sensing means, i.e. the defect signal is a variation of light energy
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H2701/00—Handled material; Storage means
    • B65H2701/30—Handled filamentary material
    • B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments

Definitions

  • the invention relates to a measuring device with a measuring gap with measuring zones for measuring properties on a moving thread-like test body, which are assigned to a measuring device
  • Such a measuring device for yarn is known, for example, from US-A-3,377,852.
  • two electrodes are embedded in a gap in a plastic block so that together they form a measuring capacitor, the measuring field of which crosses the gap.
  • the surface of this gap is thin Coated layer of a material whose electrical conductivity is lower than that of the electrodes. This is to ensure that locally occurring static charges, which arise from contact with the moving yarn, are distributed and broken down on this layer
  • Measuring gaps in optically operating yarn measuring devices can be soiled by the yarn to be measured, which affects the optical measurement. This soiling can counteract a certain amount of self-cleaning by the moving yarn This is opposed to the fact that in the case of narrow measuring gaps an inadmissible wear of the side surfaces or the elements then installed is to be expected. However, this limits the freedom of design in the area of such measuring gaps and for yarn measuring devices in general
  • the object to be achieved by the invention is then to increase the design options for devices for measuring filamentary test specimens, in particular when forming the measuring gap
  • this is to be done by covering at least part of the measuring gap with a wear-resistant coating that is insensitive to wear from the moving yarn.
  • This coating preferably covers electrodes, lenses or windows of optical devices that are embedded in the side walls of the measuring gap or parts thereof, as well as gaps or joints between the above-mentioned devices or electrodes and the other parts of the measuring gap.Coating is carried out by printing, immersing, steaming, sputtering or spotting the measuring gap with a material which preferably has a chemical connection with the surface of the parts mentioned in the gap received and applied in a layer thickness of, for example, 20-30 nm
  • the advantages that can be achieved in this way can be seen in particular in that the service life of the measuring gap can be increased.
  • Another advantage is that the measuring field, ie the space in which the beam path of an optical system or the electrical field of a capacitive system extends, is reduced can This can be achieved on the one hand by a reduced gap width and on the other hand by a smaller surface area of the electrodes or the optical elements that adjoin the measuring gap.
  • Another advantage can then be seen that the effect of self-cleaning of the measuring gap can be better exploited a reduced gap width will occur. Soiling or deposits will be removed more safely by the test specimen itself. The narrower the measuring gap and the more likely it is that the test specimen or protruding parts will come into contact with the rare walls no guide if the position of the test specimen in the gap becomes meaningless
  • a narrower gap also has the advantage that the flow of the shape, ie the fact that the cross-section of the test specimen is not circular but possibly oval, is significantly reduced when measuring the mass of the test specimen. This is because, in a narrow gap, the Yarn no longer appears as a flat body as in a very wide gap for the electrodes or the optical elements
  • FIG. 1 shows a measuring gap in a schematic representation
  • Figure 2 shows a part of a measuring device with a measuring gap
  • Figure 3 is a schematic representation of part of a measuring gap
  • part 1 of a measuring device with a measuring gap or gap 2 for a test specimen 3, here for example a yarn, is shown schematically and in a simplified manner.
  • Elements 6 and 7 of measuring devices are fastened to rare walls 4 and 5 of the gap 2 or into the side walls 4 , 5 embedded
  • These elements 6, 7 can be electrodes of a capacitively operating measuring system or windows, surfaces of prisms, lenses or other components of an optically operating measuring system.
  • Corresponding elements 6 'and 7 "can be found in the opposite side wall.
  • a coating 8 here partially covers the side wall 4 with the Elements 6 and 7
  • This coating can only be elements 6, 6 ', 7, 7' or only that Cover base 9 or the entire side wall 4 and 5 and possibly also base 9 of the gap 2 and consists of a wear-resistant material which is preferably transparent for optical measuring systems or conductive for capacitive measuring systems.
  • the coating preferably has glass-like properties, ie it is transparent, hard and smooth, so that it offers little resistance to the test piece when touched
  • the coating can be obtained, for example, by an inorganic material synthesis and form a so-called nanocomposite, with which, for example, a glass-like, scratch-resistant but not brittle or brittle surface can be created.
  • the coating can be applied by immersing part 1 in the material of the coating or by spraying
  • the coating can consist of a so-called sol, which forms a chemical compound with the material on the surface of the measuring gap.
  • sol-gel technology Such brines are known from sol-gel technology
  • the coating makes it possible, for example, to limit the width B of the gap 2 to a value which is 4 to 10 times the diameter of the test specimen 3. speaks or provide novel slit forms, as shown in the figures described below.
  • FIG. 2 shows part of a measuring device with a coated measuring gap 10, which can be divided into an inlet part 11 and a measuring part 12.
  • a test specimen 13 is located in the measuring part 12 for measuring.
  • a further arrangement of an inlet part 11 ' can also be seen, which is not arranged in an axis with the measuring part 12 as usual, but opens out laterally.
  • the coating according to the invention makes it possible to design the measuring part 12 with three-dimensionally curved side surfaces 17, which also act as a thread guide, as can be seen from FIG. 3.
  • FIG. 3 shows a view of the measuring part 12 starting from a cutting surface, as indicated by the arrows A-A in FIG. 2.
  • the end regions 14 and 15 and a middle region 16 can be seen, the middle region 16 having a larger cross section than the end regions 14, 15.
  • the bottom i.e. that part of the gap which is designated 9 according to FIG. 1, no longer runs parallel to the test specimen and is not flat.
  • the bottom is deeper in the middle of the gap than at the ends.
  • Many other shapes are also conceivable for the measuring part 12.
  • the area 16 can be provided with a layer for its better protection. If the gap 2 is continuous at its base, i.e. without discontinuities such as paragraphs, deposits are also continuously removed or taken along by the test material. This is particularly important for test specimens which, like game, consist of fibers.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)
  • Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung für fadenförmige Prüfkörper (3) mit einem Messspalt (2) mit Messzonen (6, 7) zur Messung von Eigenschaften an einem längsbewegten Prüfkörper, die einer Messvorrichtung zugeordnet sind. Um die Abmessungen des Messspaltes freier gestalten zu können, und um den Messspalt insbesondere enger ausbilden zu können, ist eine Beschichtung (8) aus einem abriebfesten Material vorgesehen, die den gesamten Messspalt mit den Messzonen (6, 7) überdeckt.

Description

MESSVORRICHTUNG FÜR FADENFÖRMIGE PRÜFKÖRPER
Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung mit einem Messspalt mit Messzonen zur Messung von Eigenschaften an einem bewegten fadenförmigen Prüfkörper, die einer Messvorrichtung zugeordnet sind
Eine solche Messvorrichtung ist für Garn beispielsweise aus der US-A-3,377,852 bekannt Bei dieser Messvorrichtung sind zwei Elektroden in einem Spalt in einem Kunststoffblock so eingelassen, dass diese zusammen einen Messkondensator bilden, dessen Messfeld den Spalt überquert Die Oberflache dieses Spaltes ist mit einer dünnen Schicht aus einem Material überzogen, dessen elektrische Leitfähigkeit geringer als diejenige der Elektroden ist Damit soll erreicht werden, dass lokal auftretende statische Aufladungen, die durch Berührung mit dem bewegten Garn entstehen, sich auf dieser Schicht verteilen und abbauen
Ein Nachteil einer solchen bekannten Messvorrichtung ist darin zu sehen, dass die Bemessung der Leitfähigkeit der dünnen Schicht sehr schwierig ist, da vermieden werden soll, dass die Schicht eine Ausdehnung der Flache der Elektroden bewirkt Ausserdem ist diese Schicht nur sinnvoll, wenn das zu messende Garn statisch aufgeladen ist und die Seiten- wande des Spaltes oft berührt oder berühren konnte Zudem kann sich diese Schicht abnutzen, was auch bedeutet, dass die elektrischen Eigenschaften des Spaltes sich dann wieder verandern
Es ist weiter bekannt, dass es auch optisch arbeitende Vorπchtungen zur Messung von Garn gibt, die ebenfalls einen Spalt für das Garn bilden Über diesen Spalt erstreckt sich der Strahlengang einer Optik, die in die Seitenwande des Spaltes mundet
Messspalte in optisch arbeitenden Garnmessvorrichtungen können durch das zu messende Garn verschmutzt werden, was die optische Messung beeinträchtigt Dieser Verschmutzung kann eine gewisse Selbstreinigung durch das bewegte Garn entgegenwirken Um die Verschmutzung durch die Selbstreinigung wirksam bekämpfen zu können, muss auf eine gunstige Abstimmung der Abmessungen des Messspaltes geachtet werden Dem steht entgegen, dass bei engen Messspalten mit einer unzulässigen Abnutzung der Seitenflachen oder der dann eingebauten Elemente zu rechnen ist Dies aber schrankt die Gestal- tungsfreiheit im Bereiche solcher Messspalte und bei Garnmesseinrichtungen allgemein ein Die durch die Erfindung zu losende Aufgabe besteht nun dann, die Gestaltungsmoglichkei- ten bei Vorrichtungen zur Messung von fadenförmigen Prüfkörpern insbesondere bei der Ausbildung des Messspaltes zu erhohen
Dies soll erfindungsgemass dadurch geschehen, dass mindestens ein Teil des Messspaltes mit einer abnebfesten Beschichtung überdeckt wird, die gegen Abnutzung durch das bewegte Garn unempfindlich ist Diese Beschichtung überdeckt vorzugsweise Elektroden, Linsen oder Fenster optischer Einrichtungen, die in die Seitenwande des Messspaltes eingelassen sind oder Teile davon, sowie Zwischenräume oder Fugen zwischen den genannten Einrichtungen oder Elektroden und den übrigen Teilen des Messspaltes Die Beschichtung erfolgt durch Bedrucken, Eintauchen, Bedampfen, Besputtern oder Bespπtzen des Messspaltes mit einem Werkstoff, der vorzugsweise mit der Oberflache der genannten Teile im Spalt eine chemische Verbindung eingeht und in einer Schichtdicke von z B 20 - 30 nm aufgetragen bleibt
Die dadurch erreichbaren Vorteile sind insbesondere dann zu sehen, dass die Lebensdauer des Messspaltes erhöht werden kann Ein weiterer Vorteil besteht dann, dass das Messfeld, also der Raum in dem sich der Strahlengang eines optischen Systems oder das elektπsche Feld eines kapazitiven Systems erstreckt, verkleinert werden kann Dies kann einerseits durch eine verringerte Spaltbreite und andererseits durch eine kleinere Oberflache der Elektroden oder der optischen Elemente, die an den Messspalt angrenzen erreicht werden Ein weiterer Vorteil ist dann zu sehen, dass der Effekt der Selbstreinigung des Messspaltes besser ausgenutzt werden kann Das kann durch eine verringerte Spaltbreite geschehen Dabei werden Verschmutzungen oder Ablagerungen sicherer durch den Prüfkörper selbst entfernt Diese Wirkung ist umso starker je enger der Messspalt ist und je wahrscheinlicher eine Berührung des Prüfkörpers oder abstehender Teile davon mit den Seltenwanden ist Oder, es ist möglich auf eine Seitenfuhrung zu verzichten, wenn die Position des Prüfkörpers im Spalt bedeutungslos wird
Ein engerer Spalt hat auch den Vorteil, dass der Emfluss der Form, d h der Umstand, dass der Querschnitt des Prüfkörpers nicht kreisrund sondern möglicherweise oval ist, auf die Messung der Masse des Prüfkörpers wesentlich verringert wird Dies deshalb, weil in einem engen Spalt, das Garn nicht mehr wie in einem sehr breiten Spalt für die Elektroden oder die optischen Elemente als flacher Korper erscheint
Durch die erfmdungsgemasse Ausbildung eines Messspaltes sind auch bessere Bedingungen geschaffen, um ein optisches und ein kapazitives Messsystem zusammen in einem Messspalt einzubauen Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Beispiels und mit bezug auf die beiliegenden Figuren naher erläutert Es zeigen
Figur 1 einen Messspalt in schematischer Darstellung,
Figur 2 einen Teil einer Messvorrichtung mit einem Messspalt und
Figur 3 eine schematische Darstellung eines Teils eines Messspaltes
In der Figur ist ein Teil 1 einer Messvorπchtung mit einem Messspalt oder Spalt 2 für einen Prüfkörper 3, hier beispielsweise ein Garn, schematisch und vereinfacht dargestellt An Seltenwanden 4 und 5 des Spaltes 2 sind Elemente 6 und 7 von Messeinrichtungen befestigt oder in die Seitenwande 4, 5 eingelassen Diese Elemente 6, 7 können Elektroden eines kapazitiv arbeitenden Messsystems oder Fenster, Flachen von Prismen, Linsen oder anderer Bestandteile eines optisch arbeitenden Messsystems sein Entsprechende Elemente 6' und 7" sind in der gegenüberliegenden Seitenwand zu finden Die Elemente 6, 6' bzw 7, 7' definieren an den Seltenwanden 4, 5 Messzonen einer an sich bekannten und deshalb hier nicht naher dargestellten Messvorrichtung zur Messung von Garneigenschaften wie Masse, Durchmesser, Haarigkeit, Farbe, Fremdfasergehalt usw Eine Beschichtung 8 überdeckt hier teilweise die Seitenwand 4 mit den Elementen 6 und 7 Diese Beschichtung kann nur die Elemente 6, 6', 7, 7' oder nur den Grund 9 oder auch die ganze Seitenwand 4 und 5 und eventuell auch den Grund 9 des Spaltes 2 überdecken und besteht aus einem abπeb- festen Mateπal, das vorzugsweise durchsichtig für optische Messsysteme oder leitfahig für kapazitive Messsysteme ist Vorzugsweise hat die Beschichtung glasahnliche Eigenschaften, d h sie ist durchsichtig, hart und glatt, so dass sie dem Prüfkörper bei einer Berührung wenig Widerstand entgegensetzt
Die Beschichtung kann beispielsweise durch eine anorganische Werkstoffsynthese gewonnen werden und ein sogenanntes Nanokomposit bilden, mit dem beispielsweise eine glasahnliche, kratzfeste aber nicht bruchige oder spröde Oberflache geschaffen werden kann Das Aufbringen der Beschichtung kann durch Eintauchen des Teils 1 in den Werkstoff der Beschichtung oder durch Aufsprühen desselben erfolgen Die Beschichtung kann aus einem sogenannten Sol bestehen, das mit dem Material an der Oberflache des Messspaltes eine chemische Verbindung eingeht Solche Sole sind aus der Sol-Gel-Technologie bekannt
Durch die Beschichtung wird es beispielsweise möglich, die Breite B des Spaltes 2 auf einen Wert zu beschranken, der dem 4 bis 10 fachen Durchmesser des Prüfkörpers 3 ent- spricht oder neuartige Spaltformen vorzusehen, wie dies die nachfolgend beschriebenen Figuren zeigen.
Fig. 2 zeigt einen Teil einer Messvorrichtung mit einem beschichteten Messspalt 10, der sich in einen Einlaufteil 11 und einen Messteil 12 unterteilen lässt. Zum Messen befindet sich ein Prüfkörper 13 im Messteil 12. Man erkennt auch eine weitere Anordung eines Einlaufteiles 11', der nicht wie üblich in einer Achse mit dem Messteil 12 angeordnet ist, sondern seitlich ausmündet. Beide Einlaufteile 11 und 11' schirmen durch ihren engen Querschnitt den Messteil 12 gegen Fremdlicht ab, was bei optischen Messsystemen vorteilhaft ist. Beim Einlaufteil 11' ist dies in stärkerem Masse der Fall.
Durch die erfindungsgemässe Beschichtung ist es möglich den Messteii 12 auch mit dreidimensional gewölbten Seitenflächen 17 auszubilden, die auch als Fadenführer wirken, wie dies aus der Fig. 3 ersichtlich ist.
Fig. 3 zeigt eine Ansicht des Messteiles 12 ausgehend von einer Schnittfläche, wie sie in der Fig. 2 durch die Pfeile A-A angegeben ist. Man erkennt dabei die Endbereiche 14 und 15 sowie einen mittleren Bereich 16, wobei der mittlere Bereich 16 einen grösseren Querschnitt aufweist als die Endbereiche 14, 15. Das bedeutet hier auch, dass der Grund, d.h. jener Teil des Spaltes der gemass Fig. 1 mit 9 bezeichnet ist, nicht mehr parallel zum Prüfkörper verläuft und nicht eben ist. In der gezeigten Ausführung ist der Grund in der Mitte des Spaltes tiefer als an den Enden. So ist es beispielsweise möglich, nur die Endbereiche 14, 15 mit einer erfindungsgemässen Schicht 17, 18 zu versehen, so dass diese die Funktion einer Führung für das Prüfgut übernehmen können. Damit sind auch viele andere Formen für den Messteil 12 denkbar. Trotzdem kann der Bereich 16 zu seinem besseren Schutz mit einer Schicht versehen sein. Wird der Spalt 2 an seinem Grund kontinierlich, d.h. ohne Unstetigkeiten wie Absätzen ausgebildet, so werden Ablagerungen auch kontinuierlich entfernt oder durch das Prüfgut mitgenommen. Dies ist besonders bei Prüfkörpern wichtig, die wie Game aus Fasern bestehen.

Claims

Patentansprüche:
1. Messvorrichtung für fadenförmige Prüfkörper mit einem Messspalt (2) mit Messzonen (6, 7), zur Messung von Eigenschaften an einem bewegten Prüfkörper, die einer Messvorrichtung zugeordnet sind, gekennzeichnet durch eine Beschichtung (8) aus einem abriebfesten Material, die die Messzone im Messspalt mindestens teilweise überdeckt.
2. Messvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung aus Material besteht, das glasähnliche Eigenschaften aufweist.
3. Messvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung durch ein aus einer anorganischen Werkstoffsynthese gewonnenes Nanokomposit gebildet ist.
4. Messvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung eine Dicke von 20-30 nm aufweist.
5. Messvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass der Messspalt mit der Beschichtung eine Breite (B) aufweist, die dem 4 bis 10 fachen Durchmesser des Prüfkörpers entspricht.
6. Messvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass der beschichtete Messspalt einen Einlaufteil (11) und einen Messteil (12) aufweist.
7. Messvorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Einlaufteil einen engeren Querschnitt aufweist als der Messteil (12).
8. Messvorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Messteil dreidimensional gewölbte Seitenflächen (17) aufweist.
9. Verfahren zur Erzeugung einer Messvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass eine Beschichtung mindestens auf Teile des Messspaltes aufgebracht wird, wobei die Beschichtung mit dem Material im Messspalt eine chemische Verbindung eingeht.
PCT/CH1999/000340 1998-07-31 1999-07-23 Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper WO2000007921A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000563559A JP2002522322A (ja) 1998-07-31 1999-07-23 糸状のテスト部材のための測定装置
EP99930974A EP1100742B1 (de) 1998-07-31 1999-07-23 Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper
DE59905211T DE59905211D1 (de) 1998-07-31 1999-07-23 Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper
US09/744,915 US6499345B1 (en) 1998-07-31 1999-07-23 Measuring device for thread-like test samples

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH161298 1998-07-31
CH1612/98 1998-07-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2000007921A1 true WO2000007921A1 (de) 2000-02-17

Family

ID=4214513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CH1999/000340 WO2000007921A1 (de) 1998-07-31 1999-07-23 Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6499345B1 (de)
EP (1) EP1100742B1 (de)
JP (1) JP2002522322A (de)
CN (1) CN1098799C (de)
DE (1) DE59905211D1 (de)
WO (1) WO2000007921A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1035059A2 (de) * 1999-03-05 2000-09-13 W. SCHLAFHORST AG & CO. Vorrichtung zur optischen Garnüberwachung
WO2010000078A1 (de) 2008-07-02 2010-01-07 Uster Technologies Ag Vorrichtung zur erfassung von parametern an einem fadenförmigen prüfgut

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004053735A1 (de) 2004-11-06 2006-05-11 Saurer Gmbh & Co. Kg Garnsensor
CN101168874B (zh) * 2006-10-27 2011-07-27 马国富 带测速的纱线信号检测装置
CH700087A2 (de) * 2008-12-05 2010-06-15 Uster Technologies Ag Gehäuse für einen garnreinigermesskopf.
CN102442585A (zh) * 2011-09-16 2012-05-09 江苏华宇机械有限公司 一种用于络筒并捻设备的检测装置
WO2017168236A1 (de) * 2016-04-01 2017-10-05 Schleuniger Holding Ag Kombinationssensor
DE102018111648A1 (de) * 2018-05-15 2019-11-21 Saurer Spinning Solutions Gmbh & Co. Kg Garnsensor zum optischen Erfassen eines in seiner Längsrichtung bewegten Garns

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3377852A (en) 1964-06-05 1968-04-16 Philips Corp Device for testing yarns
DE3112812A1 (de) * 1981-02-13 1983-02-10 Peyer, Siegfried, 8806 Bäch "fotoelektrische messeinrichtung fuer elektronische garnreiniger"
JPH0273136A (ja) * 1988-09-07 1990-03-13 Akira Ito 繊度測定装置
EP0401600A2 (de) * 1989-06-07 1990-12-12 Zellweger Luwa Ag Vorrichtung zur Überwachung und/oder Messung von Parametern eines laufenden, faden- oder drahtartigen Prüfguts und Verfahren zum Betrieb der Vorrichtung
WO1993012028A1 (de) * 1991-12-12 1993-06-24 Rieter Ingolstadt Spinnereimaschinenbau Aktiengesellschaft Verfahren und vorrichtung zur reinigung der sensorflächen einer garnüberwachung
EP0553445A2 (de) * 1992-01-31 1993-08-04 Gebrüder Loepfe AG Vorrichtung zur Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern in einem langgestreckten, textilen Gebilde
US5530368A (en) * 1992-10-01 1996-06-25 Zellweger Luwa Ag Capacitive sensor for detecting fluctuations in the mass and/or diameter of elongated textile test material
EP0761585A1 (de) * 1995-09-06 1997-03-12 Zellweger Luwa Ag Garnsensor

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US541529A (en) * 1895-06-25 genese
CH563021A5 (de) * 1973-09-26 1975-06-13 Zellweger Uster Ag
CH661586A5 (de) * 1983-10-04 1987-07-31 Zellweger Uster Ag Optisches messorgan fuer die querschnittsmessung textiler garne, sowie verwendung desselben.
IT1179098B (it) * 1984-09-06 1987-09-16 Cselt Centro Studi Lab Telecom Perfezionamenti alle apparecchiature a condensatore per la misura del diametro di fibre dielettriche
GB9222082D0 (en) * 1992-10-21 1992-12-02 Davy Mckee Poole A radiation pyrometer assembly for sensing the temperature of an elongate body moving longitudinally
FR2698962B1 (fr) * 1992-12-07 1995-02-10 Commissariat Energie Atomique Procédé et dispositif de mesure sans contact de la tension et de la vitesse de défilement d'un fil.
DE29519501U1 (de) * 1995-12-08 1996-01-25 Textechno Herbert Stein GmbH & Co KG, 41066 Mönchengladbach Vorrichtung zum Prüfen von Einzelfasern
US5926267A (en) * 1997-06-11 1999-07-20 Zellweger Luwa Ag Process and device for detecting extraneous substances and extraneous fibers in a fibrous composite

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3377852A (en) 1964-06-05 1968-04-16 Philips Corp Device for testing yarns
DE3112812A1 (de) * 1981-02-13 1983-02-10 Peyer, Siegfried, 8806 Bäch "fotoelektrische messeinrichtung fuer elektronische garnreiniger"
JPH0273136A (ja) * 1988-09-07 1990-03-13 Akira Ito 繊度測定装置
EP0401600A2 (de) * 1989-06-07 1990-12-12 Zellweger Luwa Ag Vorrichtung zur Überwachung und/oder Messung von Parametern eines laufenden, faden- oder drahtartigen Prüfguts und Verfahren zum Betrieb der Vorrichtung
WO1993012028A1 (de) * 1991-12-12 1993-06-24 Rieter Ingolstadt Spinnereimaschinenbau Aktiengesellschaft Verfahren und vorrichtung zur reinigung der sensorflächen einer garnüberwachung
EP0553445A2 (de) * 1992-01-31 1993-08-04 Gebrüder Loepfe AG Vorrichtung zur Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern in einem langgestreckten, textilen Gebilde
US5530368A (en) * 1992-10-01 1996-06-25 Zellweger Luwa Ag Capacitive sensor for detecting fluctuations in the mass and/or diameter of elongated textile test material
EP0761585A1 (de) * 1995-09-06 1997-03-12 Zellweger Luwa Ag Garnsensor

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 14, no. 264 (P - 1057) 7 June 1990 (1990-06-07) *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1035059A2 (de) * 1999-03-05 2000-09-13 W. SCHLAFHORST AG & CO. Vorrichtung zur optischen Garnüberwachung
EP1035059A3 (de) * 1999-03-05 2001-07-04 W. SCHLAFHORST AG & CO. Vorrichtung zur optischen Garnüberwachung
WO2010000078A1 (de) 2008-07-02 2010-01-07 Uster Technologies Ag Vorrichtung zur erfassung von parametern an einem fadenförmigen prüfgut
CH699070A1 (de) * 2008-07-02 2010-01-15 Uster Technologies Ag Vorrichtung zur Erfassung von Parametern an einem fadenförmigen Prüfgut.

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002522322A (ja) 2002-07-23
EP1100742B1 (de) 2003-04-23
CN1311752A (zh) 2001-09-05
CN1098799C (zh) 2003-01-15
US6499345B1 (en) 2002-12-31
EP1100742A1 (de) 2001-05-23
DE59905211D1 (de) 2003-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3144541A1 (de) Messverfahren und stabaehnliche vorrichtung zum erfassen des jeweiligen niveaus von fluessigkeiten in behaeltern, kanaelen od. dgl.
EP1100742B1 (de) Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper
EP0924518A1 (de) Vorrichtung zum Messen von Eigenschaften eines textilen Produktes
DE1962804A1 (de) Differenzdruck-Messvorrichtung
EP0618048A1 (de) Messer mit verschiebbarer Klinge
DE19738382A1 (de) Fadenabzugsdüse
DE2708204C2 (de) Falschdrallvorrichtung
DE69409896T2 (de) Kapazitiver Stellungsgeber
DE3412958A1 (de) Phasengitter
DE3403887A1 (de) Sensor
DE2256425A1 (de) Faseroptische lichtleiteranordnung
DE3410964A1 (de) Schlittenfuehrung
DE2825378A1 (de) Erfassungsabschnitt fuer eine durchsatzmessvorrichtung
EP1370847A1 (de) Messsonde zur in-line-bestimmung der grösse von bewegten partikeln in transparenten medien
DE19506470C2 (de) Gleitplatte und deren Verwendung
DE3505769A1 (de) Streicheinrichtung
EP2304088B1 (de) Kapazitiv arbeitende sensoreinheit zur überwachung der qualität von fasermaterial und damit ausgerüstete maschine zur herstellung von maschenware
EP0751243A1 (de) Vorrichtung zur Messung der Dicke und/oder Ungleichmässigkeit von Faserbänder
DE1548983A1 (de) Lichtelektrischer Fluessigkeitsdetektor
DE10053314A1 (de) Vorrichtung zum Messen der Sauertoffkonzentration in Gasen
DE3505387C2 (de) Sensor zur Messung dielektrischer Eigenschaften von Meßobjekten im elektrischen Feld
DE3620427C2 (de) Verschmutzungsgeschützter Sauerstoffsensor
DE3045415A1 (de) Sichtscheibe fuer ein messinstrument
DE2842367C2 (de) Vorrichtung zum Einführen von Teilchen in einen Analysator
DE19537982A1 (de) Vorrichtung an einer Spinnereivorbereitungsmaschine, insbesondere einer Strecke, zum Messen der Stärke eines Faserverbandes

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 99809068.9

Country of ref document: CN

AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): CN IN JP US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1999930974

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: IN/PCT/2001/95/CHE

Country of ref document: IN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 09744915

Country of ref document: US

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1999930974

Country of ref document: EP

WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 1999930974

Country of ref document: EP