EP0822574A1 - Tandem time-of-flight mass spectrometer with colission cell - Google Patents

Tandem time-of-flight mass spectrometer with colission cell Download PDF

Info

Publication number
EP0822574A1
EP0822574A1 EP97112631A EP97112631A EP0822574A1 EP 0822574 A1 EP0822574 A1 EP 0822574A1 EP 97112631 A EP97112631 A EP 97112631A EP 97112631 A EP97112631 A EP 97112631A EP 0822574 A1 EP0822574 A1 EP 0822574A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
time
flight
mass spectrometer
chamber
flight mass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
EP97112631A
Other languages
German (de)
French (fr)
Other versions
EP0822574B1 (en
Inventor
Thorald Dr. Bergmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of EP0822574A1 publication Critical patent/EP0822574A1/en
Application granted granted Critical
Publication of EP0822574B1 publication Critical patent/EP0822574B1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/061Ion deflecting means, e.g. ion gates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0045Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
    • H01J49/005Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers

Definitions

  • the invention relates to a time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to the preamble of claim 1.
  • time-of-flight time-of-flight mass spectrometers there is generally at least one two flight routes, on which ions due to their different Flight times are separated according to their mass. Thereby always forms End location of the previous flight route the start location of the following one.
  • a specific ion mass is usually determined by means of the first flight route preselected, either before or after the selection of a is subjected to any interaction.
  • This interaction can e.g. the action of a laser beam, the crossing with a second ion beam or flying through a cell with collision gas be.
  • the fragments themselves can undergo further interaction be subjected to, after flying through the second Filter a certain ion mass, its fragments you then determine in the third flight route.
  • the maximum working pressure is 10 -4 mbar. Electrical discharges on high-voltage components can occur from a pressure of approx. 10 -3 mbar.
  • T.J. Cornish et al. can also suffice with helium as the collision gas Cause fragmentation in the ion masses to be examined.
  • This is achieved here by using a pulsed nozzle Let the high-density helium beam into the collision cell. By sufficient Waiting time until the next primary ion pulse becomes an increase in pressure Prevents electrical discharges in the time-of-flight mass spectrometer or cause damage to components of the instrument could.
  • the contains the reflector, another chamber, in the following scattering chamber called, arranged, which then contains the collision cell.
  • the collision cell Between Scattering chamber and reflector chamber are one or more Gas flow impedances, which in the collision cell a very high gas density can be achieved with only a slight increase in pressure in the reflector chamber.
  • the scattering chamber and the reflector chamber are arranged separately pumped room areas, their each have their own pump nozzle, and that through a gas flow impedance are connected. So that the gas pressure in the reflector chamber is significantly lower than in the scattering chamber, the gas conductivity of the Connection between the two chambers may be significantly lower than that Pumping speed of the pump, which pumps on the reflector chamber.
  • a gas flow impedance around an opening of certain cross section in the partition between Areas of different pressure.
  • the cross-section of a gas flow impedance is always so small chosen that the ion beam is just not blocked. So achieved to get maximum sensitivity of the mass spectrometer with minimal Gas conductance of flow impedance.
  • the subclaims can therefore already exist components time-of-flight mass spectrometer as gas flow impedances used to have the greatest possible pressure difference between Reflector chamber or ion source chamber and the scattering chamber or the collision cell.
  • Fig. 1 shows a first embodiment of the arrangement according to the invention. Shown are the ion source chamber 1 with the ion source 21 and the withdrawal volume 11 contained therein.
  • the ion source chamber is connected to a pump 6 which generates a vacuum, preferably below 10 -6 mbar.
  • the gas or ion beam 10 to be examined starts the ions to be detected on the detector 34 from the withdrawal volume on their path 12 into the time-of-flight mass spectrometer.
  • the scattering chamber 2 is arranged shortly behind the ion source chamber, connected via the connecting tube 4, which can simultaneously serve as flow impedance between the two chambers.
  • the collision cell 22 is located in the scattering chamber.
  • the collision gas is supplied via a gas line 24 and the metering valve 25.
  • the scattering chamber is connected to a pump 7, which generates a vacuum, preferably below 10 -5 mbar.
  • An ion selector 23 can additionally be arranged within the collision cell.
  • the reflector chamber 3 is connected via the connecting tube 5.
  • a shielding plate 31 between the ion path and the detector or a shot tube 32 can be used.
  • the bullet tube 32 cooperates with the connecting tube 5 as a gas flow impedance. As shown in FIG. 1, it can have a smaller cross section than the connecting pipe 5. However, a larger cross section can also be selected. By selecting a shot tube 32 with a predetermined cross section, the gas flow impedance can thus be set in a certain range.
  • the ions are deflected by 180 ° in the reflector 33 and hit a detector 34 which is located in relative proximity to the inlet opening of the reflector chamber.
  • the reflector chamber is connected to a pump 8, which generates a vacuum, preferably below 10 -6 mbar.
  • the ion source is located in its own chamber, which has its own pump nozzle, which is connected to the scattering chamber via a connection with a small gas conductance. Since discharges can also occur at the ion source with its live electrodes at pressures of more than 10 -3 mbar, it may be necessary to reduce the residual gas pressure in the ion source chamber when the collision cell is charged with collision gas.
  • Fig. 2 shows a second embodiment of the arrangement according to the invention.
  • the ion source chamber and the scattering chamber are integrated in a vacuum chamber, which is separated by means of an orifice 26, which can also serve as an electrode of the ion source, into the two areas, which have their own pump stubs, and which only have a flow impedance of low gas conductance are connected.
  • This flow impedance can also be incorporated in an electrode of the ion source or in the diaphragm.
  • a pipe 35 is arranged within the connecting pipe 5 from the scattering chamber 2 to the reflector chamber 3 or the bullet tube 32 in the reflector chamber.
  • This pipe is used for flow resistance between the scattering chamber and the reflector chamber.
  • it extends within both of the connecting tube 5 and the bullet tube 32 and has accordingly a diameter that is smaller than the diameter of the two mentioned pipes.
  • the tube 35 can also only within one of the two pipes. The tube 35 thus offers another Possibility to adjust the gas flow impedance.
  • FIG. 3 shows an embodiment of a collision cell 22 with an integrated ion selector.
  • the ion selector 23 is shown here in the embodiment of an ion switching grid and is carried by the ceramic rings 27.
  • the collision cell itself consists of the two halves 22a, 22b, which can be held together with the ceramic rings of the ion selector by any device for clamping, which need not be shown here. Since the two halves of the collision cell can be made of metal, this entire unit can also be easily attached and positioned within the scattering chamber.
  • the collision gas is supplied via the gas line 24, which has its passage near the ion selector, which in the embodiment shown here is arranged in a plane perpendicular to the ion-optical axis, and divides the collision cell into two symmetrical halves. Because the collision gas is supplied near the center of the collision cell, the maximum possible pressure is generated in the center, at the same time with a minimal gas load on the scattering chamber.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

The mass spectrometer has an ion source (21), a reflector (33), and a detector (34). There is a collision cell (22) containing an impurity gas, in which primary ions are fractured to produce fragment ions by collision with the impurity atoms or molecules. Each of several different pressure regions of the mass spectrometer has a vacuum pump connection (6,7,8). The regions are connected via the gas flow impedances (4,5,32). One region is a reflector chamber (3) containing the reflector. A further region is a scattering chamber (2) containing the collision cell, which is arranged before the reflector chamber in the ion flight direction.

Description

Die Erfindung betrifft ein Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach dem Oberbegriff des Anspruch 1.The invention relates to a time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to the preamble of claim 1.

Bei Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometern gibt es generell mindestens zwei Flugstrecken, auf welchen Ionen durch ihre unterschiedlichen Flugzeiten ihrer Masse nach aufgetrennt werden. Dabei bildet immer der Endort der vorangehenden Flugstrecke den Startort der folgenden.With time-of-flight time-of-flight mass spectrometers, there is generally at least one two flight routes, on which ions due to their different Flight times are separated according to their mass. Thereby always forms End location of the previous flight route the start location of the following one.

Üblicherweise wird mittels der ersten Flugstrecke eine bestimmte Ionenmasse vorselektiert, welche entweder vor oder nach der Selektion einer beliebigen Wechselwirkung unterworfen wird. Diese Wechselwirkung kann z.B. die Einwirkung eines Laserstrahls sein, das Kreuzen mit einem zweiten Ionenstrahl oder auch das Durchfliegen einer Zelle mit Kollisionsgas sein.A specific ion mass is usually determined by means of the first flight route preselected, either before or after the selection of a is subjected to any interaction. This interaction can e.g. the action of a laser beam, the crossing with a second ion beam or flying through a cell with collision gas be.

Die Selektion bzw. Auswahl einer bestimmten Ionenmasse am Endort einer Flugstreckekann nach dem Stand der Technik durch eine Reihe von Methoden bewirkt werden:

  • Sind die Flugstrecken orthogonal zueinander angeordnet, so kann die Selektion am Ende der einen bzw. am Anfang der folgenden Flugstrecke dadurch bewirkt werden, daß zum Ankunfts-Zeitpunkt einer bestimmten Ionenmasse die an diesem Ort plazierte Ionenquelle des folgenden Flugzeit-Massenspektrometers angeschaltet wird, was die Ablenkung und den Einschuß genau dieser Ionenmasse in das folgende Flugzeit-Massenspektrometer bewirkt.
  • Sind die Flugstrecken kolinear zueinander angeordnet, so kann am Ende der einen bzw. am Anfang der folgenden Flugzstrecke eine Vorrichtung zum gepulsten Ablenken der Ionen vorgesehen werden:
  • a) Eine solche Vorrichtung kann z.B. aus zwei zueinander parallel angeordneten Platten bestehen, welche normalerweise auf unterschiedlichen Potentialen liegen, wodurch die hindurchfliegenden Ionen abgelenkt werden. Werden diese Platten nun kurzzeitig auf gleiches Potential gelegt, so kann nur die Ionenmasse passieren, welche sich gerade kurz vor den Platten befindet und während der Passage kein ablenkendes Feld spürt.
  • b) Eine solche Vorrichtung kann auch durch zwei kammartige Strukturen bewirkt werden, deren Zähne aus feinen Drähten bestehen, wobei die Zähne der einander gegenüberliegenden kammartigen Strukturen mittig ineinander greifen und alle zu jeweils einer kammartigen Struktur gehörenden Zähne elektrisch leitend miteinander verbunden sind. Werden diese beiden Strukturen auf Potentiale gelegt, die in ihrem Wert symmetrisch zum Potential der Driftstrecke sind, so heben sich die von den beiden kammartigen Strukturen erzeugten elektrischen Felder schon in sehr kurzem Abstand auf. Ein solches Ionenschaltgitter kann schon mit vergleichsweise geringen Spannungen durchtretende Ionen so stark ablenken, daß sie den Bahnbereich der Flugstrecken verlassen. Außerdem beeinflußt dieses Schaltgitter nur die Ionen in seiner allernächsten Nähe, was eine Selektion mit hoher Massenauflösung der gewünschten Ionenmasse bewirkt. Ein solches Ionenschaltgitter ist beispielsweise in der Veröffentlichung von D.J. Beussman et al. beschrieben. (Analytical Chemistry, Bd. 67, Seiten 3952 - 3957,1995)
The selection or selection of a specific ion mass at the end point of a flight route can be effected according to the prior art by a number of methods:
  • If the flight paths are arranged orthogonally to one another, the selection at the end of the one or at the beginning of the following flight path can be brought about by switching on the ion source of the following time-of-flight mass spectrometer located at this point in time of arrival of a specific ion mass, which means that Deflection and the injection of precisely this ion mass into the following time-of-flight mass spectrometer.
  • If the flight paths are arranged colinearly to one another, a device for pulsed deflection of the ions can be provided at the end of the one or at the beginning of the following flight path:
  • a) Such a device can consist, for example, of two plates arranged parallel to one another, which normally have different potentials, as a result of which the ions flying through are deflected. If these plates are now briefly placed at the same potential, only the ion mass that is just in front of the plates and does not feel a distracting field during the passage can pass.
  • b) Such a device can also be brought about by two comb-like structures, the teeth of which consist of fine wires, the teeth of the opposing comb-like structures intermeshing in the center and all teeth belonging to a comb-like structure being electrically conductively connected to one another. If these two structures are placed on potentials whose value is symmetrical to the potential of the drift path, the electrical fields generated by the two comb-like structures cancel each other out at a very short distance. Such an ion switching grid can deflect ions passing through at comparatively low voltages to such an extent that they leave the rail area of the flight paths. In addition, this switching grid affects only the ions in its immediate vicinity, which results in a selection with high mass resolution of the desired ion mass. Such an ion switching grid is described, for example, in the publication by DJ Beussman et al. described. (Analytical Chemistry, vol. 67, pages 3952 - 3957, 1995)

Durch die nach oder vor der Selektion ausgeführte Wechselwirkung wird der innere Zustand der selektierten Ionenmasse geändert. Meist wird Energie zugeführt, um einen Zerfall dieser Ionenmasse in Bruchstücke zu bewirken. Die Massen dieser Bruchstücke lassen dann oft Rückschlüsse auf den Aufbau der ursprünglichen Ionenmasse zu und dienen so der Strukturaufklärung komplexer Moleküle. Die Massen dieser Bruchstücke werden nun durch Messen der Flugzeit in der zweiten Flugstrecke des Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometers bestimmt.Through the interaction performed after or before the selection the inner state of the selected ion mass is changed. Most of time energy is supplied to break up this ion mass into fragments to effect. The masses of these fragments then often drop Conclusions on the structure of the original ion mass and serve so the structure elucidation of complex molecules. The masses of these Fragments are now measured by measuring the flight time in the second flight segment time-of-flight mass spectrometer.

Müssen noch mehr Einzelheiten als nur die Massen der Bruchstücke bestimmt werden, so können die Bruchstücke selbst einer weiteren Wechselwirkung unterworfen werden, man kann nach Durchfliegen der zweiten Flugstrecke eine bestimmte Ionenmasse herausfiltern, deren Bruchstücke man dann in der dritten Flugstrecke bestimmt.Need more details than just the masses of the fragments can be determined, the fragments themselves can undergo further interaction be subjected to, after flying through the second Filter a certain ion mass, its fragments you then determine in the third flight route.

Soll der selektierten Ionenmasse durch Wechselwirkung mit einem Kollisionsgas Energie zugeführt werden, so werden in den meisten Fällen die Gase Helium, Stickstoff, oder Argon verwendet, wobei sich in vielen Untersuchungen Helium als das günstigste Kollisionsgas erwiesen hat. Zum Stand der Technik finden sich zwei Anordnungen, welche Kollisionsgas in einem Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer zur Erzeugung von Fragment-Ionen verwenden:

  • a) B. Spengler et al. (Journal of Physical Chemistry, Bd. 96, Seiten 9678 - 9684, 1992) untersuchen die Fragmentation des Moleküls Cytochrom C, indem sie verschiedene Gase bis zu einem Druck von 4·10-5 mbar in die Flugstrecke ihres Flugzeit-FlugzeitMassenspektrometers einlassen.
  • b) T.J. Cornish et al. (Rapid Communications in Mass Spectrometry, Bd. 7, Seiten 1037 - 1040, 1993) untersuchen die Fragmentation von Molekülen in ihrem Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer, indem sie mittels einer gepulsten Düse Argon oder Helium in eine Kollisionszelle einlassen, welche sich zwischen den beiden Flugstrecken ihrer Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer-Anordnung befindet.
  • If energy is to be added to the selected ion mass by interaction with a collision gas, the gases helium, nitrogen or argon are used in most cases, with helium having proven to be the cheapest collision gas in many studies. The prior art has two arrangements which use collision gas in a time-of-flight time-of-flight mass spectrometer to generate fragment ions:
  • a) B. Spengler et al. (Journal of Physical Chemistry, vol. 96, pages 9678-9684, 1992) investigate the fragmentation of the molecule cytochrome C by letting various gases up to a pressure of 4 × 10 -5 mbar into the flight path of their time-of-flight time-of-flight mass spectrometer.
  • b) TJ Cornish et al. (Rapid Communications in Mass Spectrometry, vol. 7, pages 1037-1040, 1993) investigate the fragmentation of molecules in their time-of-flight time-of-flight mass spectrometer by inserting argon or helium into a collision cell, which is located between the two, using a pulsed nozzle Flight routes of their time-of-flight mass spectrometer arrangement is located.
  • B. Spengler et al. haben hierbei die einfachste Ausführungsform gewählt. Das Kollisionsgas einfach in die Driftstrecke des Flugzeit-Massenspektrometers einzulassen, stellt die billigste, und am leichtesten zu realisierende Möglichkeit dar, Fragmente durch Stöße mit Gasmolekülen oder -Atomen zu erzeugen. Nachteilig ist allerdings, daß bei Helium, dem am häufigsten verwendeten Kollisionsgas nicht soviel Gas in die Driftstrecke eingelassen werden kann, so daß eine ausreichende Anzahl der Primärionen fragmentierbar wäre. Der Helium-Gasdruck, der notwendig für eine ausreichende Fragmentation wäre, würde elektrische Entladungen im Flugzeit-Massenspektrometer hervorrufen, welche seine Funktion beeinträchtigen würden, unter Umständen auch zur Zerstörung von Komponenten, insbesondere des Detektors führen könnten.B. Spengler et al. have chosen the simplest embodiment. The collision gas simply into the drift path of the time-of-flight mass spectrometer let in, represents the cheapest, and easiest to implement Possibility of fragments by collisions with gas molecules or To generate atoms. The disadvantage, however, is that with helium, the most commonly used collision gas not so much gas in the drift path can be let in, so that a sufficient number of Primary ions would be fragmentable. The helium gas pressure that is necessary for sufficient fragmentation would be electrical discharges in the time-of-flight mass spectrometer, which cause its function would impair, possibly also to the destruction of components, could lead in particular to the detector.

    Bei Vielkanalplatten, welche häufig in den Detektoren der Flugzeit-Massenspektrometer verwendet werden, wird als maximaler Arbeitsdruck 10-4 mBar angegeben. Elektrische Entladungen an hochspannungsführenden Bauteilen können ab einem Druck von ca. 10-3 mBar auftreten.For multi-channel plates, which are often used in the detectors of time-of-flight mass spectrometers, the maximum working pressure is 10 -4 mbar. Electrical discharges on high-voltage components can occur from a pressure of approx. 10 -3 mbar.

    T.J. Cornish et al. können auch mit Helium als Kollisionsgas ausreichende Fragmentation bei den zu untersuchenden Ionenmassen hervorrufen. Dies wird hier erreicht, indem sie mit einer gepulsten Düse einen Heliumstrahl hoher Dichte in die Kollisionszelle einlassen. Durch ausreichende Wartezeit bis zum nächsten Primärionenpuls wird ein Druckanstieg im Flugzeit-Massenspektrometer verhindert, der elektrische Entladungen bzw. Zerstörungen an Komponenten des Instruments hervorrufen könnte.T.J. Cornish et al. can also suffice with helium as the collision gas Cause fragmentation in the ion masses to be examined. This is achieved here by using a pulsed nozzle Let the high-density helium beam into the collision cell. By sufficient Waiting time until the next primary ion pulse becomes an increase in pressure Prevents electrical discharges in the time-of-flight mass spectrometer or cause damage to components of the instrument could.

    Insbesondere dadurch, daß T.J. Cornish et al. die Austrittsöffnung ihrer gepulsten Düse mit einer Hohl-Nadel bis zur Kollisionszelle verlängern (Analytical Chemistry, Bd. 65, Seiten 1043 - 1047, 1993), erreichen sie einen hohen Gasdruck im Bereich der Kollisionszelle, wobei gleichzeitig der Druckanstieg im restlichen Bereich des Massenspektrometers sich in zulässigen Grenzen hält.In particular that T.J. Cornish et al. the exit opening of their Extend the pulsed nozzle with a hollow needle to the collision cell (Analytical Chemistry, Vol. 65, pages 1043-1047, 1993) achieve this a high gas pressure in the area of the collision cell, at the same time the pressure increase in the rest of the mass spectrometer range admissible limits.

    Trotzdem ist in jedem Falle, um einen unzulässigen Druckanstieg zu vermeiden, eine niedrige Repetitionsfrequenz der Düse notwendig, was infolge der langen Wartezeiten zwischen Primärionenpulsen jedoch die Empfindlichkeit des Flugzeit-Massenspektrometers in kaum vertretbarer Weise herabgesetzt. Außerdem stellt eine gepulste Düse ein Bauteil mit großem Verschleiß dar, d.h. es wird ein öfteres Auswechseln erforderlich sein.Nonetheless, in any case, an inadmissible increase in pressure avoid a low repetition frequency of the nozzle necessary what however, due to the long waiting times between primary ion pulses Sensitivity of the time-of-flight mass spectrometer in an unacceptable way Way belittled. A pulsed nozzle also creates a component great wear, i.e. more frequent replacement is required be.

    Dementsprechend ist es Aufgabe der Erfindung, ein Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer anzugeben, bei welchem mit vertretbarem technischen Aufwand und ohne Einbußen bei der Massenauflösung oder Empfindlichkeit ein ausreichender Druck des Kollisionsgases für die verschiedenen Möglichkeiten der Fragmentation zur Verfügung steht. Insbesondere ist es Aufgabe der Erfindung, bei einem zur Fragmentation ausreichendem Druck, keine Entladungen an den spannungsführenden Teilen des Massenspektrometers entstehen zu lassen.Accordingly, it is an object of the invention to provide a time-of-flight time-of-flight mass spectrometer specify which one with reasonable technical Effort and without sacrificing mass resolution or sensitivity a sufficient pressure of the collision gas for the different Ways of fragmentation is available. Especially it is the object of the invention, with a sufficient for fragmentation Pressure, no discharges on the live parts of the mass spectrometer.

    Diese Aufgaben werden durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.These tasks are characterized by the distinctive features of the claim 1 solved.

    Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird vor der Kammer, welche den Reflektor enthält, eine weitere Kammer, im folgenden Streukammer genannt, angeordnet, welche dann die Kollisionszelle enthält. Zwischen Streukammer und Reflektorkammer befinden sich eine oder mehrere Gas-Strömungsimpedanzen, wodurch in der Kollisionszelle eine sehr hohe Gasdichte erzielbar ist, bei gleichzeitig nur geringfügigem Druckanstieg in der Reflektorkammer.In the device according to the invention, the contains the reflector, another chamber, in the following scattering chamber called, arranged, which then contains the collision cell. Between Scattering chamber and reflector chamber are one or more Gas flow impedances, which in the collision cell a very high gas density can be achieved with only a slight increase in pressure in the reflector chamber.

    Hierbei werden die Streukammer und die Reflektorkammer in verschiedenen, separat gepumpten Raumbereichen angeordnet, die ihre jeweils eigenen Pumpstutzen aufweisen, und die durch eine Gas-Strömungsimpedanz verbunden sind. Damit der Gasdruck in der Reflektorkammer deutlich niedriger als in der Streukammer ist, muß der Gas-Leitwert der Verbindung zwischen den beiden Kammern deutlich niedriger sein als das Saugvermögen der Pumpe, welche an der Reflektorkammer pumpt.The scattering chamber and the reflector chamber are arranged separately pumped room areas, their each have their own pump nozzle, and that through a gas flow impedance are connected. So that the gas pressure in the reflector chamber is significantly lower than in the scattering chamber, the gas conductivity of the Connection between the two chambers may be significantly lower than that Pumping speed of the pump, which pumps on the reflector chamber.

    Im einfachsten Fall handelt es sich bei einer Gas-Strömungsimpedanz um eine Öffnung bestimmten Querschnitts in der Trennwand zwischen Bereichen verschiedenen Druckes. Rohre oder rohrähnliche Gebilde haben jedoch einen wesentlich kleineren Gasleitwert als Öffnungen gleichen Querschnitts und sind darum in vielen Fällen vorzuziehen. Vorteilhafterweise wird der Querschnitt einer Gas-Strömungsimpedanz immer so klein gewählt, daß der Ionenstrahl gerade eben nicht blockiert wird. So erzielt man maximale Empfindlichkeit des Massenspektrometers bei minimalem Gas-Leitwert der Strömungsimpedanz.In the simplest case, it is a gas flow impedance around an opening of certain cross section in the partition between Areas of different pressure. Have pipes or pipe-like structures but have a much lower gas conductance than openings Cross-section and are therefore preferable in many cases. Advantageously the cross-section of a gas flow impedance is always so small chosen that the ion beam is just not blocked. So achieved to get maximum sensitivity of the mass spectrometer with minimal Gas conductance of flow impedance.

    Es ist auch möglich, die Streukammer und die Reflektorkammer in einer gemeinsamen Vakuumkammer aufzubauen, und durch Trennwände solcherart voneinander zu trennen, daß sich Raumgebiete ergeben, welche nur durch Öffnungen mit kleinem Gas-Leitwert verbunden sind, und für jeden dieser Bereiche einen eigenen Pumpstutzen vorsehen.It is also possible to put the scattering chamber and the reflector chamber in to build a common vacuum chamber, and by partitions to be separated from each other in such a way that spatial areas arise which are connected only by openings with small gas conductance, and for provide each of these areas with its own pump connection.

    Dadurch, daß die Kollisionszelle auf diese Weise nun vergleichbar nahe am Abzugsvolumen des Flugzeit-Massenspektrometers angeordnet ist, können auch bei großer Divergenz der Ionenbahnen die Querschnitte der Strömungsimpedanzen kleiner gewählt werden, ohne die Empfindlichkeit des Massenspektrometers herabzusetzen.The fact that the collision cell is now comparable in this way is arranged on the discharge volume of the time-of-flight mass spectrometer, the cross sections of the Flow impedances can be chosen smaller without the sensitivity of the mass spectrometer.

    Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.Advantageous embodiments of the invention are in the subclaims specified.

    Als besonders vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung gemäß den Unteransprüchen können somit bereits vorhandene Komponenten des Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometers als Gas-Strömungsimpedanzen verwendet werden, um einen möglichst großen Druckunterschied zwischen Reflektorkammer bzw. Ionenquellenkammer und der Streukammer bzw. der Kollisionszelle hervorzurufen.According to particularly advantageous embodiments of the invention the subclaims can therefore already exist components time-of-flight mass spectrometer as gas flow impedances used to have the greatest possible pressure difference between Reflector chamber or ion source chamber and the scattering chamber or the collision cell.

    Im Folgenden wird nun anhand der in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiele die Erfindung näher beschrieben und erläutert. Es zeigen:

  • Fig. 1 eine erste Ausführungsform der Erfindung.
  • Fig. 2 eine weitere Ausführungsform der Erfindung.
  • Fig. 3 eine Ausführungsform der Kollisionszelle mit integriertem Ionenselektor.
  • The invention will now be described and explained in more detail below on the basis of the exemplary embodiments illustrated in the drawings. Show it:
  • Fig. 1 shows a first embodiment of the invention.
  • Fig. 2 shows another embodiment of the invention.
  • Fig. 3 shows an embodiment of the collision cell with an integrated ion selector.
  • Fig. 1 zeigt eine erste Ausführungsform der erfindungsgemäßen Anordnung. Gezeigt sind die Ionenquellenkammer 1 mit der Ionenquelle 21, und dem darin enthaltenen Abzugsvolumen 11. Die Ionenquellenkammer ist mit einer Pumpe 6 verbunden, die ein Vakuum, vorzugsweise unterhalb 10-6 mBar erzeugt. Zum Start-Zeitpunkt der Massenanalyse werden von dem zu untersuchenden Gas- bzw. Ionenstrahl 10 die am Detektor 34 nachzuweisenden Ionen aus dem Abzugsvolumen heraus auf ihrer Bahn 12 ins Flugzeit-Massenspektrometer gestartet. Fig. 1 shows a first embodiment of the arrangement according to the invention. Shown are the ion source chamber 1 with the ion source 21 and the withdrawal volume 11 contained therein. The ion source chamber is connected to a pump 6 which generates a vacuum, preferably below 10 -6 mbar. At the start of the mass analysis, the gas or ion beam 10 to be examined starts the ions to be detected on the detector 34 from the withdrawal volume on their path 12 into the time-of-flight mass spectrometer.

    Kurz hinter der Ionenquellenkammer ist die Streukammer 2 angeordnet, verbunden über das Verbindungsrohr 4, welches gleichzeitig als Strömungsimpedanz zwischen beiden Kammern dienen kann. In der Streukammer befindet sich die Kollisionszelle 22. Über eine Gasleitung 24 und das Dosierventil 25 wird das Kollisionsgas zugeführt. Die Streukammer ist mit einer Pumpe 7 verbunden, die ein Vakuum, vorzugsweise unterhalb 10-5 mBar erzeugt. Innerhalb der Kollisionszelle kann zusätzlich ein Ionenselektor 23 angeordnet sein.The scattering chamber 2 is arranged shortly behind the ion source chamber, connected via the connecting tube 4, which can simultaneously serve as flow impedance between the two chambers. The collision cell 22 is located in the scattering chamber. The collision gas is supplied via a gas line 24 and the metering valve 25. The scattering chamber is connected to a pump 7, which generates a vacuum, preferably below 10 -5 mbar. An ion selector 23 can additionally be arranged within the collision cell.

    Über das Verbindungsrohr 5 ist die Reflektorkammer 3 angeschlossen. Um die eingeschossenen Ionen gegenüber Streufeldern des Detektors 34 abzuschirmen, kann man entweder ein Abschirmblech 31 zwischen der Ionenbahn und dem Detektor oder ein Einschußrohr 32 verwenden. Das Einschußrohr 32 wirkt mit dem Verbindungsrohr 5 zusammen als Gasströmungsimpedanz. Es kann, wie in Fig. 1 dargestellt, einen geringeren Querschnitt als das Verbindungsrohr 5 aufweisen. Es kann aber auch ein größerer Querschnitt gewählt werden. Durch Auswahl eines Einschußrohrs 32 mit vorgegebenem Querschnitt kann somit die Gasströmungsimpedanz in einem gewissen Bereich eingestellt werden. Die Ionen werden im Reflektor 33 um 180° umgelenkt und treffen auf einen Detektor 34, der sich in relativer Nähe zur Eintrittsöffnung der Reflektorkammer befindet. Die Reflektorkammer ist mit einer Pumpe 8 verbunden, die ein Vakuum, vorzugsweise unterhalb 10-6 mBar erzeugt.The reflector chamber 3 is connected via the connecting tube 5. In order to shield the injected ions from stray fields of the detector 34, either a shielding plate 31 between the ion path and the detector or a shot tube 32 can be used. The bullet tube 32 cooperates with the connecting tube 5 as a gas flow impedance. As shown in FIG. 1, it can have a smaller cross section than the connecting pipe 5. However, a larger cross section can also be selected. By selecting a shot tube 32 with a predetermined cross section, the gas flow impedance can thus be set in a certain range. The ions are deflected by 180 ° in the reflector 33 and hit a detector 34 which is located in relative proximity to the inlet opening of the reflector chamber. The reflector chamber is connected to a pump 8, which generates a vacuum, preferably below 10 -6 mbar.

    Diese Anordnung schützt den Detektor und Reflektor vor zu hohen Drücken, wobei insbesondere der Detektor mit seinen Vielkanalplatten ein empfindliches Bauteil darstellt, an welchem zuerst Probleme durch einen Druck von mehr als 10-4 mBar entstehen würden. In dieser Ausführungsform befindet sich die Ionenquelle in einer eigenen Kammer, die einen eigenen Pumpstutzen aufweist, welche über eine Verbindung mit kleinem Gas-Leitwert an die Streukammer angeschlossen ist. Da auch an der Ionenquelle mit ihren spannungsführenden Elektroden bei Drücken von mehr als 10-3 mBar Entladungen auftreten können, kann es notwendig sein, den Restgasdruck in der Ionenquellenkammer zu reduzieren, wenn die Kollisionszelle mit Stoßgas beaufschlagt wird.This arrangement protects the detector and reflector from excessively high pressures, the detector in particular, with its multi-channel plates, being a sensitive component on which problems would first arise due to a pressure of more than 10 -4 mbar. In this embodiment, the ion source is located in its own chamber, which has its own pump nozzle, which is connected to the scattering chamber via a connection with a small gas conductance. Since discharges can also occur at the ion source with its live electrodes at pressures of more than 10 -3 mbar, it may be necessary to reduce the residual gas pressure in the ion source chamber when the collision cell is charged with collision gas.

    Fig. 2 zeigt eine zweite Ausführungsform der erfindungsgemäßen Anordnung. Hier sind die Ionenquellenkammer und die Streukammer in eine Vakummkammer integriert, die mittels einer Blende 26, die auch als Elektrode der Ionenquelle dienen kann, in die beiden Bereiche aufgetrennt wird, welche eigene Pumpstuzen aufweisen, und die nur durch eine Strömungsimpedanz von kleinem Gas-Leitwert verbunden sind. Diese Strömungsimpedanz kann auch in eine Elektrode der Ionenquelle bzw. in die Blende eingearbeitet sein. Fig. 2 shows a second embodiment of the arrangement according to the invention. Here, the ion source chamber and the scattering chamber are integrated in a vacuum chamber, which is separated by means of an orifice 26, which can also serve as an electrode of the ion source, into the two areas, which have their own pump stubs, and which only have a flow impedance of low gas conductance are connected. This flow impedance can also be incorporated in an electrode of the ion source or in the diaphragm.

    Innerhalb des Verbindungsrohrs 5 von der Streukammer 2 zur Refiektorkammer 3 bzw. des Einschußrohrs 32 in die Reflektorkammer ist ein Rohr 35 angeordnet. Dieses Rohr dient dazu, den Strömungswiderstand zwischen Streukammer und Reflektorkammer zu erhöhen. In der in Fig. 2 gezeigten Ausführungsform erstreckt es sich innerhalb sowohl des Verbindungsrohrs 5 als auch des Einschußrohrs 32 und hat demzufolge einen Durchmesser, der kleiner ist als die Durchmesser der beiden genannten Rohre. Das Rohr 35 kann sich aber auch nur innerhalb eines der beiden Rohre befinden. Das Rohr 35 bietet somit eine weitere Möglichkeit zur Einstellung der Gasströmungsimpedanz.Within the connecting pipe 5 from the scattering chamber 2 to the reflector chamber 3 or the bullet tube 32 in the reflector chamber a pipe 35 is arranged. This pipe is used for flow resistance between the scattering chamber and the reflector chamber. In the in Fig. 2 embodiment it extends within both of the connecting tube 5 and the bullet tube 32 and has accordingly a diameter that is smaller than the diameter of the two mentioned pipes. The tube 35 can also only within one of the two pipes. The tube 35 thus offers another Possibility to adjust the gas flow impedance.

    Fig. 3 zeigt eine Ausführungsform einer Kollisionszelle 22 mit integriertem Ionenselektor. Der Ionenselektor 23 ist hier in der Ausführungsform eines Ionenschaltgitters dargestellt und wird von den Keramikringen 27 getragen. Die Kollisionszelle selbst besteht aus den beiden Hälften 22a, 22b, welche durch eine beliebige Vorrichtung zum Klemmen, die hier nicht gezeigt werden muß, mit den Keramikringen des Ionenselektors zusammengehalten werden können. Da die beiden Hälften der Kollisionszelle aus Metall gefertigt werden können, läßt sich diese gesamte Einheit auch auf einfache Weise innerhalb der Streukammer befestigen und positionieren. Das Kollisionsgas wird über die Gasleitung 24 zugeführt, die ihren Durchtritt nahe des Ionenselektors hat, welcher in der hier gezeigten Ausführung in einer zur ionenoptischen Achse senkrechten Ebene angeordnet ist, und die Kollisionszelle in zwei symmetrische Hälften teilt. Dadurch, daß das Kollisionsgas nahe der Mitte der Kollisionszelle zugeführt wird, wird in der Mitte der maximal mögliche Druck erzeugt, gleichzeitig bei minimaler Gasbelastung der Streukammer. 3 shows an embodiment of a collision cell 22 with an integrated ion selector. The ion selector 23 is shown here in the embodiment of an ion switching grid and is carried by the ceramic rings 27. The collision cell itself consists of the two halves 22a, 22b, which can be held together with the ceramic rings of the ion selector by any device for clamping, which need not be shown here. Since the two halves of the collision cell can be made of metal, this entire unit can also be easily attached and positioned within the scattering chamber. The collision gas is supplied via the gas line 24, which has its passage near the ion selector, which in the embodiment shown here is arranged in a plane perpendicular to the ion-optical axis, and divides the collision cell into two symmetrical halves. Because the collision gas is supplied near the center of the collision cell, the maximum possible pressure is generated in the center, at the same time with a minimal gas load on the scattering chamber.

    Claims (14)

    Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer, mit einer Ionenquelle(21), einem Reflektor(33), einem Detektor(34), und einer Kollisionszelle(22), in der ein Fremdgas enthalten ist, durch welches Primärionen infolge der Kollision mit Fremdatomen oder -molekülen in Fragment-Ionen zerfallen,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Massenspektrometer in Bereiche unterschiedlichen Druckes aufgeteilt ist, von denen jeder einen Anschluß für eine Vakuumpumpe(6,7,8) aufweist, daß diese Bereiche über Gas-Strömungsimpedanzen(4,5,32,35) verbunden sind, daß einer dieser Bereiche durch eine, den Reflektor(33) enthaltende Reflektorkammer(3) gebildet ist, daß ein weiterer Bereich durch die, die Kollisionszelle(22) enthaltende Streukammer(2) gebildet wird, und daß dieser Bereich in Flugrichtung der Ionen vor der Reflektorkammer(3) angeordnet ist.
    Time of flight time of flight mass spectrometer, with an ion source (21), a reflector (33), a detector (34), and a collision cell (22), in which a foreign gas is contained, through which primary ions due to the collision with foreign atoms or molecules disintegrate into fragment ions,
    characterized by that the mass spectrometer is divided into areas of different pressure, each of which has a connection for a vacuum pump (6, 7, 8), that these areas are connected via gas flow impedances (4,5,32,35), that one of these areas is formed by a reflector chamber (3) containing the reflector (33), that a further area is formed by the scattering chamber (2) containing the collision cell (22), and that this area is arranged in the direction of flight of the ions in front of the reflector chamber (3).
    Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionenquelle(21) in einer Ionenquellen-Kammer(1) angeordnet ist, und die Ionenquellen-Kammer(1) und die Streukammer(2) jeweils eine eigenen Anschluß für eine Vakuumpumpe(6,7) aufweisen und über eine Gas-Strömungsimpedanz(4) miteinander verbunden sind, sodaß die Ionenquellen-Kammer(1) einen niedrigeren Druck als die Streukammer(2) aufweist, wenn die Kollisionszelle mit dem Fremdgas beaufschlagt ist. Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to claim 1, characterized in that the ion source (21) is arranged in an ion source chamber (1), and the ion source chamber (1) and the scattering chamber (2) each have their own connection for a vacuum pump (6,7) and are connected to one another via a gas flow impedance (4), so that the ion source chamber (1) has a lower pressure than the scattering chamber (2) when the collision cell is exposed to the extraneous gas. Flugzeit-Flugzdt-Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß Reflektor und Detektor in ein- und demselben Bereich enthalten sind.Time-of-flight mass spectrometer according to claim 1 or 2, characterized in that the reflector and detector are contained in one and the same area. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Gasströmungsimpedanz(5,32,35) zwischen Streukammer(2) und Reflektorkammer(3) mindestens teilweise durch ein Verbindungsrohr(5) zwischen beiden Kammern gebildet ist.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of the preceding claims, characterized in that the gas flow impedance (5, 32, 35) between the scattering chamber (2) and the reflector chamber (3) is at least partially formed by a connecting tube (5) between the two chambers. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß sich das Verbindungsrohr(5) von einer Auslaßöffnung der Streukammer(2) bis zu einer Einlaßöffnung der Reflektorkammer(3) erstreckt und daß mindestens ein weiterer Teil der Gasströmungsimpedanz durch ein Einschußrohr(32) gebildet ist, das sich von der Einlaflöffnung aus in die Reflektorkammer(3) erstreckt.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to Claim 4, characterized in that the connecting tube (5) extends from an outlet opening of the scattering chamber (2) to an inlet opening of the reflector chamber (3) and that at least a further part of the gas flow impedance extends through a bullet tube (32 ) is formed, which extends from the inlet opening into the reflector chamber (3). Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem oder beiden der Ansprüche 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein weiterer Teil der Gas-Strömungsimpedanz durch ein Rohr(35) gebildet ist, das kleineren Durchmesser als das Verbindungsrohr(5) und/oder das Einschußrohr(32) aufweist, und innerhalb eines oder beider dieser Rohre angeordnet ist. Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one or both of claims 4 and 5, characterized in that at least a further part of the gas flow impedance is formed by a tube (35) which has a smaller diameter than the connecting pipe (5) and / or the bullet pipe (32), and is arranged within one or both of these tubes. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß Ionenquelle(21) und Kollisionszelle(22) in ein- und derselben Vakuumkammer untergebracht sind, die jedoch durch eine innerhalb dieser Kammer angeordnente vakuumtechnische Trennwand(26) in zwei Teile(1,2) aufgeteilt ist, jeder dieser Teile(1,2) seinen eigenen Anschluß für eine Vakuumpumpe(6,7) aufweist, und daß eine Öffnung in der Trennwand(26) als Gas-Strömungsimpedanz zwischen den Teilen(1,2) wirkt.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of the preceding claims, characterized in that the ion source (21) and collision cell (22) are accommodated in one and the same vacuum chamber, which, however, is divided into two parts by a vacuum-technical partition (26) arranged within this chamber ( 1,2), each of these parts (1,2) has its own connection for a vacuum pump (6,7), and that an opening in the partition (26) as gas flow impedance between the parts (1,2) works. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem oder beiden der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionenquelle(21) Elektroden enthält und daß mindestens ein Teil der Trennwand(26) in eine der Elektroden integriert ist.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one or both of claims 1 and 2, characterized in that the ion source (21) contains electrodes and that at least part of the partition (26) is integrated in one of the electrodes. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb der Kollisionszelle(22) ein Ionenselektor(23) angeordnet ist.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of the preceding claims, characterized in that an ion selector (23) is arranged within the collision cell (22). Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kollisionszelle(22) eine Eintritts-(22a) und eine Austritts-Strömungsimpedanz(22b) enthält, und der Ionenselektor(23) zwischen beiden Strömungsimpedanzen angeordnet ist.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of the preceding claims, characterized in that the collision cell (22) contains an inlet (22a) and an outlet flow impedance (22b), and the ion selector (23) is arranged between the two flow impedances. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Halterung des Ionenselektors(23) durch die Eintritts- bzw. Austritts-Strömungsimpedanz(22a, 22b) der Kollisionszelle gebildet ist.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to claim 9 or 10, characterized in that the holder of the ion selector (23) is formed by the entry or exit flow impedance (22a, 22b) of the collision cell. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Ionenselektor(23) in einer zur ionenoptischen Achse senkrechten Ebene angeordnet ist, und die Kollisionszelle in zwei symmetrische Hälften teilt.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of Claims 9 to 11, characterized in that the ion selector (23) is arranged in a plane perpendicular to the ion-optical axis and divides the collision cell into two symmetrical halves. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Ionenselektor ein Schaltgitter ist, welches aus zwei kammartigen, mittig ineinandergreifenden Strukturen besteht, bei denen die Zähne jeweils einer Kammstruktur elektrisch leitend miteinander verbunden sind.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of claims 9 to 12, characterized in that the ion selector is a switching grid which consists of two comb-like, interlocking structures in which the teeth of each comb structure are electrically conductively connected to one another. Flugzeit-Flugzeit-Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Ionenselektor aus zwei gegenüberliegenden Platten besteht, die parallel zur ionenoptischen Achse angeordnet sind.Time-of-flight time-of-flight mass spectrometer according to one of Claims 9 to 12, characterized in that the ion selector consists of two opposing plates which are arranged parallel to the ion-optical axis.
    EP97112631A 1996-08-01 1997-07-23 Tandem time-of-flight mass spectrometer with colission cell Expired - Lifetime EP0822574B1 (en)

    Applications Claiming Priority (2)

    Application Number Priority Date Filing Date Title
    DE19631161 1996-08-01
    DE19631161A DE19631161A1 (en) 1996-08-01 1996-08-01 Time of flight time of flight mass spectrometer with differentially pumped collision cell

    Publications (2)

    Publication Number Publication Date
    EP0822574A1 true EP0822574A1 (en) 1998-02-04
    EP0822574B1 EP0822574B1 (en) 2003-02-05

    Family

    ID=7801544

    Family Applications (1)

    Application Number Title Priority Date Filing Date
    EP97112631A Expired - Lifetime EP0822574B1 (en) 1996-08-01 1997-07-23 Tandem time-of-flight mass spectrometer with colission cell

    Country Status (5)

    Country Link
    US (1) US5854485A (en)
    EP (1) EP0822574B1 (en)
    AT (1) ATE232334T1 (en)
    CA (1) CA2209119A1 (en)
    DE (2) DE19631161A1 (en)

    Families Citing this family (9)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    USRE39099E1 (en) * 1998-01-23 2006-05-23 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
    US6331702B1 (en) * 1999-01-25 2001-12-18 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
    US6348688B1 (en) 1998-02-06 2002-02-19 Perseptive Biosystems Tandem time-of-flight mass spectrometer with delayed extraction and method for use
    DE19853189C1 (en) 1998-11-18 2000-04-13 Frech Oskar Gmbh & Co Hot chamber die casting machine has a ring inductor consisting of a bent pipe made of elastic material forming a one-part ring open at one point with connections for energy and for flowing cooling air
    US6781117B1 (en) 2002-05-30 2004-08-24 Ross C Willoughby Efficient direct current collision and reaction cell
    US7196324B2 (en) * 2002-07-16 2007-03-27 Leco Corporation Tandem time of flight mass spectrometer and method of use
    GB2390935A (en) 2002-07-16 2004-01-21 Anatoli Nicolai Verentchikov Time-nested mass analysis using a TOF-TOF tandem mass spectrometer
    KR100659261B1 (en) 2006-02-07 2006-12-20 한국기초과학지원연구원 Tandem fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer
    RU2769377C1 (en) * 2021-07-13 2022-03-30 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук Tof mass spectrometer

    Citations (3)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    US5032722A (en) * 1989-06-23 1991-07-16 Bruker Franzen Analytik Gmbh MS-MS time-of-flight mass spectrometer
    US5464985A (en) * 1993-10-01 1995-11-07 The Johns Hopkins University Non-linear field reflectron
    US5496998A (en) * 1993-07-02 1996-03-05 Thorald Bergmann Time-of-flight mass-spectrometer with gasphase ion source, with high sensitivity and large dynamic range

    Family Cites Families (2)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    US3621240A (en) * 1969-05-27 1971-11-16 Franklin Gro Corp Apparatus and methods for detecting and identifying trace gases
    US5202563A (en) * 1991-05-16 1993-04-13 The Johns Hopkins University Tandem time-of-flight mass spectrometer

    Patent Citations (3)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    US5032722A (en) * 1989-06-23 1991-07-16 Bruker Franzen Analytik Gmbh MS-MS time-of-flight mass spectrometer
    US5496998A (en) * 1993-07-02 1996-03-05 Thorald Bergmann Time-of-flight mass-spectrometer with gasphase ion source, with high sensitivity and large dynamic range
    US5464985A (en) * 1993-10-01 1995-11-07 The Johns Hopkins University Non-linear field reflectron

    Non-Patent Citations (2)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Title
    BEUSSMAN D J ET AL: "TANDEM REFLECTRON TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER UTILIZING PHOTODISSOCIATION", ANALYTICAL CHEMISTRY, vol. 67, no. 21, 1 November 1995 (1995-11-01), pages 3952 - 3957, XP000540826 *
    CORNISH T J ET AL: "TANDEM TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER", ANALYTICAL CHEMISTRY, vol. 65, no. 8, 15 April 1993 (1993-04-15), pages 1043 - 1047, XP000368506 *

    Also Published As

    Publication number Publication date
    CA2209119A1 (en) 1998-02-01
    ATE232334T1 (en) 2003-02-15
    EP0822574B1 (en) 2003-02-05
    DE19631161A1 (en) 1998-02-12
    DE59709254D1 (en) 2003-03-13
    US5854485A (en) 1998-12-29

    Similar Documents

    Publication Publication Date Title
    DE19941670B4 (en) Mass spectrometer and method of operating a mass spectrometer
    DE3750928T2 (en) Runtime mass spectrometry.
    DE4303027C2 (en) mass spectrometry
    DE1798021B2 (en) DEVICE FOR CONFIRMING A PRIMARY ION BEAM FROM A MICROANALYZER
    DE10162267B4 (en) Reflector for time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection
    EP0822574B1 (en) Tandem time-of-flight mass spectrometer with colission cell
    DE1937482A1 (en) Microbeam probe
    DE2439711B2 (en) ION SOURCE
    DE2701606A1 (en) SYSTEM FOR PROCESSING POSITIVE AND NEGATIVE IONS IN THE MASS SPECTROMETER
    DE19635645A1 (en) High-resolution ion detection for linear time-of-flight mass spectrometers
    DE102007013693A1 (en) Ion detection system with neutral noise suppression
    EP0633602B1 (en) High sensitivity, wide dynamic range time-of-flight mass spectrometer provided with a gas phase ion source
    DE68901731T2 (en) MASS SPECTROMETRY.
    DE69121463T2 (en) Ion beam device
    EP0221339B1 (en) Ion cyclotron resonance spectrometer
    EP0000865B1 (en) Ion source comprising an ionisation chamber for chemical ionisation
    DE69712739T2 (en) A mass
    EP0633601B1 (en) Large aperture, low flight-time distortion detector for a time-of-flight mass spectrometer
    DE4322101C2 (en) Ion source for time-of-flight mass spectrometers
    EP0822573A1 (en) Collision cell with built-in ion selector used in a tandem time-of-flight mass spectrometer
    DE2752933A1 (en) ELECTRON MICROSCOPE
    DE1277590B (en) Ion source for a mass spectrometer, consisting of an ion generation system and several acceleration electrodes acting as an electrostatic lens
    DE102022105233B4 (en) Device and method for generating short pulses of charged particles
    EP0087152A2 (en) Secondary electron spectrometer and method of using the same
    DE102018116305B4 (en) Dynamic ion filter to reduce highly abundant ions

    Legal Events

    Date Code Title Description
    PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

    Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

    AK Designated contracting states

    Kind code of ref document: A1

    Designated state(s): AT CH DE FR GB LI

    17P Request for examination filed

    Effective date: 19980721

    AKX Designation fees paid

    Free format text: AT CH DE FR GB LI

    RBV Designated contracting states (corrected)

    Designated state(s): AT CH DE FR GB LI

    GRAG Despatch of communication of intention to grant

    Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS AGRA

    17Q First examination report despatched

    Effective date: 20020121

    GRAG Despatch of communication of intention to grant

    Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS AGRA

    GRAH Despatch of communication of intention to grant a patent

    Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS IGRA

    GRAH Despatch of communication of intention to grant a patent

    Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS IGRA

    GRAA (expected) grant

    Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210

    AK Designated contracting states

    Designated state(s): AT CH DE FR GB LI

    REG Reference to a national code

    Ref country code: GB

    Ref legal event code: FG4D

    Free format text: NOT ENGLISH

    REG Reference to a national code

    Ref country code: CH

    Ref legal event code: EP

    REF Corresponds to:

    Ref document number: 59709254

    Country of ref document: DE

    Date of ref document: 20030313

    Kind code of ref document: P

    GBT Gb: translation of ep patent filed (gb section 77(6)(a)/1977)
    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: GB

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20030723

    Ref country code: AT

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20030723

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: LI

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20030731

    Ref country code: CH

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20030731

    ET Fr: translation filed
    PLBE No opposition filed within time limit

    Free format text: ORIGINAL CODE: 0009261

    STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

    Free format text: STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT

    26N No opposition filed

    Effective date: 20031106

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: DE

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20040203

    REG Reference to a national code

    Ref country code: CH

    Ref legal event code: PL

    GBPC Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee

    Effective date: 20030723

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: FR

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20040331

    REG Reference to a national code

    Ref country code: FR

    Ref legal event code: ST