RU2769377C1 - Tof mass spectrometer - Google Patents
Tof mass spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- RU2769377C1 RU2769377C1 RU2021120798A RU2021120798A RU2769377C1 RU 2769377 C1 RU2769377 C1 RU 2769377C1 RU 2021120798 A RU2021120798 A RU 2021120798A RU 2021120798 A RU2021120798 A RU 2021120798A RU 2769377 C1 RU2769377 C1 RU 2769377C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- flat electrode
- time
- mass spectrometer
- source
- flat
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Description
Настоящее изобретение относится к области масс-спектрометрии, а более конкретно к конструкции времяпролетного масс-спектрометра.The present invention relates to the field of mass spectrometry, and more specifically to the construction of a time-of-flight mass spectrometer.
Известен времяпролетный масс-спектрометр (см. В.И. Каратаев, Б.А. Мамырин, Д.В. Шмикк. - Новый принцип фокусировки ионных пакетов во времяпролетных масс-спектрометрах. // ЖТФ, 1971, т.41, в. 7, с. 1498-1501), состоящий из импульсного источника ионов, бесполевого дрейфового пространства, двухступенчатого электростатического зеркала и детектора, в котором достаточно хорошо (до второго порядка) компенсируется разброс начальных энергий однотипных ионов.Known time-of-flight mass spectrometer (see V.I. Karataev, B.A. Mamyrin, D.V. Shmikk. - A new principle of focusing ion packets in time-of-flight mass spectrometers. // ZhTF, 1971, v. 41, c. 7, pp. 1498–1501), consisting of a pulsed ion source, a fieldless drift space, a two-stage electrostatic mirror, and a detector in which the spread of initial energies of similar ions is compensated quite well (up to the second order).
Однако в нем невозможно получить более высокую степень фокусировки ионов по энергии, а следовательно, достичь существенного повышения разрешающей способности без значительного увеличения габаритов прибора.However, it is impossible to obtain a higher degree of focusing of ions in terms of energy, and, consequently, to achieve a significant increase in resolution without a significant increase in the dimensions of the device.
Известен времяпролетный масс-спектрометр (см. патент US5869829, МПК H01J 49/34, H01J 49/40, опубликован 09.02.1999), включающий источник ионов, двухступенчатый ионный ускоритель, одноступенчатый ионный отражатель, первый и второй дрейфовые пространства, электроды и детектор. Потенциалы электродов установлены таким образом, что достигается продольная фокусировка первого и второго порядков для ионов равной массы к значению заряда, поступающих на детектор.A time-of-flight mass spectrometer is known (see patent US5869829, IPC H01J 49/34, H01J 49/40, published 02/09/1999), including an ion source, a two-stage ion accelerator, a single-stage ion reflector, first and second drift spaces, electrodes and a detector. The electrode potentials are set in such a way that longitudinal focusing of the first and second orders is achieved for ions of equal mass to the value of the charge entering the detector.
К недостаткам известного времяпролетного масс-спектрометра можно отнести его невысокую разрешающую способность.The disadvantages of the known time-of-flight mass spectrometer include its low resolution.
Известен времяпролетный масс-спектрометр (см. патент RU 2295797, МПК H01J 49/40, опубликован 20.03.2007), состоящий из импульсного источника ионов, пространства дрейфа, в конце которого последовательно установлены два плоских сетчатых конденсатора с тормозящими электрическими полями, и детектора. Масс-спектрометр содержит также второе дрейфовое пространство, образованное разнесенными вдоль оси прибора общими электродами плоских сетчатых конденсаторов. Второе дрейфовое пространство имеет тормозящий по отношению к первому дрейфовому пространству потенциал.A time-of-flight mass spectrometer is known (see patent RU 2295797, IPC H01J 49/40, published March 20, 2007), consisting of a pulsed ion source, a drift space, at the end of which two flat mesh capacitors with retarding electric fields are installed in series, and a detector. The mass spectrometer also contains a second drift space formed by common electrodes of planar mesh capacitors spaced apart along the instrument axis. The second drift space has a potential that slows down in relation to the first drift space.
В этом времяпролетном масс-спектрометре достигается фокусировка времени пролета ионных пакетов по энергии третьего порядка, но это не обеспечивает достаточно высокую чувствительность.In this time-of-flight mass spectrometer, the focusing of the time of flight of ion packets with respect to the energy of the third order is achieved, but this does not provide a sufficiently high sensitivity.
Известен времяпролетный масс-спектрометр (см. патент RU 2504045, МПК H01J 49/40, опубликован 10.01.2014),содержащий источник ионов, ускоряющую сетку, источник тока и напряжения, источник изменяемого во времени импульсного напряжения, сетку, ограничивающую нелинейный отражатель, нелинейный отражатель и приемник ионов в виде микроканальной пластины. Нелинейный отражатель выполнен в виде набора колец, диаметр которых увеличивается по мере отдаления от источника ионов. Источник тока и напряжения подключен к кольцам. Источник изменяемого во времени импульсного напряжения подключен к ускоряющей сетке, а трубка дрейфа и сетка, ограничивающая нелинейный отражатель, заземлены. Этот времяпролетный масс-спектрометр имеет расширенный диапазон исследуемых масс, однако его чувствительность оказывается недостаточно высокой.Known time-of-flight mass spectrometer (see patent RU 2504045, IPC H01J 49/40, published 01/10/2014), containing an ion source, an accelerating grid, a current and voltage source, a source of time-varying pulse voltage, a grid that limits a nonlinear reflector, a nonlinear reflector and ion receiver in the form of a microchannel plate. The nonlinear reflector is made in the form of a set of rings, the diameter of which increases with distance from the ion source. The source of current and voltage is connected to the rings. The source of time-varying pulsed voltage is connected to the accelerating grid, and the drift tube and the grid that bounds the non-linear reflector are grounded. This time-of-flight mass spectrometer has an extended mass range, but its sensitivity is not high enough.
Известен времяпролетный масс-спектрометр (см. патент US 20030071208 от 17.04.2003, МПК H01J 49/40), совпадающий с настоящим решением по наибольшему числу существенных признаков и принятый за прототип. Времяпролетный масс-спектрометр состоит из импульсного источника ионов, выполненного в виде трех параллельных друг другу плоских электродов и электронной пушки, бесполевого пространства дрейфа, в конце которого расположен отражатель ионов, и детектора. Первый плоский электрод выполнен сплошным, а второй и третий плоские электроды выполнены в виде сетки, первый плоский электрод подключен к источнику положительных импульсов прямоугольной формы, второй плоский электрод подключен к источнику положительного напряжения, а третий плоский электрод заземлен. Ионный пучок ортогонален оси прибора и вводится в зазор, образуемый первым сеточным и сплошным плоским электродом, на который подается выталкивающий импульс.Known time-of-flight mass spectrometer (see patent US 20030071208 dated 17.04.2003, IPC H01J 49/40), coinciding with the present decision on the largest number of essential features and taken as a prototype. The time-of-flight mass spectrometer consists of a pulsed ion source made in the form of three flat electrodes parallel to each other and an electron gun, a drift-free space at the end of which there is an ion reflector, and a detector. The first flat electrode is made solid, and the second and third flat electrodes are made in the form of a grid, the first flat electrode is connected to a source of positive rectangular pulses, the second flat electrode is connected to a positive voltage source, and the third flat electrode is grounded. The ion beam is orthogonal to the device axis and is introduced into the gap formed by the first grid and solid flat electrode, to which a pushing pulse is applied.
Недостатком прототипа является невысокая разрешающая способность времяпролетного масс-спектрометра, которая обусловлена разбросом ионов по энергии и по углу в ортогонально вводимом в масс-спектрометр пучке. Ионы в пучке имеют разброс по энергиям, возникающий при их образовании, при ускорении, при столкновениях с атомами и молекулами остаточного и анализируемого газа, а также в процессе выталкивания ионных пакетов положительными прямоугольными импульсами, ускорении пакетов и выводе их на траекторию полета. Все эти изменения энергии и траектории движения ионов приводят к образованию временных аберраций ионных пучков и уменьшению разрешающей способности времяпролетного масс - спектрометра.The disadvantage of the prototype is the low resolution of the time-of-flight mass spectrometer, which is due to the spread of ions in energy and angle in the beam orthogonally introduced into the mass spectrometer. Ions in the beam have an energy spread that occurs during their formation, during acceleration, during collisions with atoms and molecules of the residual and analyzed gas, as well as in the process of pushing ion packets out by positive rectangular pulses, accelerating the packets, and bringing them to the flight path. All these changes in the energy and trajectory of the ions lead to the formation of temporal aberrations of ion beams and a decrease in the resolution of the time-of-flight mass spectrometer.
Задачей настоящего технического решения является разработка времяпролетного масс-спектрометра, который бы обеспечивал повышение его разрешающей способности при сохранении или незначительной потере его чувствительности.The objective of this technical solution is to develop a time-of-flight mass spectrometer that would increase its resolution while maintaining or slightly losing its sensitivity.
Поставленная задача достигается тем, что времяпролетный масс-спектрометр содержит импульсный источник ионов, выполненный в виде трех параллельных друг другу плоских электродов и электронной пушки, бесполевое пространства дрейфа, в конце которого расположен отражатель ионов, и детектор, при этом второй и третий плоские электроды источника выполнены в виде сетки, первый плоский электрод подключен к источнику положительных импульсов прямоугольной формы, второй плоский электрод подключен к источнику положительного напряжения, а третий плоский электрод заземлен. Новым в настоящем техническом решении является тот факт, что электронная пушка расположена перед первым плоским электродом, выполненным в виде сетки.The task is achieved by the fact that the time-of-flight mass spectrometer contains a pulsed ion source, made in the form of three flat electrodes parallel to each other and an electron gun, a fieldless drift space, at the end of which there is an ion reflector, and a detector, while the second and third flat electrodes of the source made in the form of a grid, the first flat electrode is connected to a source of positive rectangular pulses, the second flat electrode is connected to a positive voltage source, and the third flat electrode is grounded. New in this technical solution is the fact that the electron gun is located in front of the first flat electrode, made in the form of a grid.
Электронная пушка может быть расположена перед первым плоским электродом на расстоянии 0,5-1,5 мм.The electron gun can be located in front of the first flat electrode at a distance of 0.5-1.5 mm.
Первый плоский электрод может быть подключен к источнику положительных импульсов прямоугольной формы с амплитудой 800-1500 V.The first flat electrode can be connected to a source of positive rectangular pulses with an amplitude of 800-1500 V.
Второй плоский электрод может быть подключен к источнику положительного напряжения 450-550 V.The second flat electrode can be connected to a positive voltage source of 450-550 V.
Наибольший вклад в уменьшение разрешающей способности прибора-прототипа дают ионы, начальные векторы скорости движения которых направлены влево от первого сплошного плоского электрода, и для разворачивания которых требовалось какое-то дополнительное время, называемое в литературе "turn around time". В предлагаемой конструкции времяпролетного масс-спектрометра электронная пушка расположена перед первым плоским электродом, выполненным в виде сетки, таким образом, ионы, после рождения двигающиеся изотропно в разные стороны, разделяются в пространстве, и это приводит к исключению аберрации "turn around time", так как ионы, летящие влево от выполненного в виде сетки первого плоского электрода не участвуют в анализе. Работа заявляемого устройства может быть оптимизирована без влияния этой аберрации, что приводит к повышению его разрешающей способности при сохранении или незначительной потере чувствительности.The greatest contribution to the decrease in the resolution of the prototype device is made by ions, the initial velocity vectors of which are directed to the left of the first solid flat electrode, and for the deployment of which some additional time was required, called "turn around time" in the literature. In the proposed design of the time-of-flight mass spectrometer, the electron gun is located in front of the first flat electrode, made in the form of a grid, so that the ions moving isotropically in different directions after birth are separated in space, and this leads to the exclusion of the "turn around time" aberration, so as ions flying to the left of the first flat electrode made in the form of a grid do not participate in the analysis. The operation of the proposed device can be optimized without the influence of this aberration, which leads to an increase in its resolution while maintaining or slightly losing sensitivity.
Настоящее устройство поясняется чертежом, где схематично изображена конструкция времяпролетного масс-спектрометра.The present device is illustrated in the drawing, which schematically shows the design of the time-of-flight mass spectrometer.
Настоящий времяпролетный масс-спектрометр содержит импульсный источник ионов 1, выполненный в виде трех параллельных друг другу плоских сетчатых электродов 2-3-4 и электронной пушки 5, бесполевого пространства 6 дрейфа, в конце которого расположен отражатель 7 ионов и детектора 8. Электронная пушка 5 расположена перед первым плоским электродом 2, который подключен к источнику положительных импульсов прямоугольной формы. Второй плоский электрод 3 подключен к источнику положительного напряжения, а третий плоский электрод 4 заземлен.This time-of-flight mass spectrometer contains a
Электронная пушка 5 может быть расположена перед первым плоским электродом 2 на расстоянии 0,5-1,5 мм.The
Первый плоский электрод 2 может быть подключен к источнику положительных импульсов прямоугольной формы с амплитудой 800-1500 V.The first
Второй плоский электрод 3 может быть подключен к источнику положительного напряжения 450-550 V.The second
Настоящий времяпролетный масс-спектрометр работает следующим образом. В предлагаемой конструкции ионного источника 1 ионы, двигающиеся в разные стороны, разделяются в пространстве после рождения, и это приводит к исключению аберрации "turn around time". Часть образовавшихся ионов проходит сквозь первый сетчатый плоский электрод 2 и выталкивается положительным электрическим импульсом в бесполевое пространство 6 дрейфа, где летящие ионы разделяются в соответствии с их отношением массы к заряду m/q, далее пакеты ионов с одинаковыми отношениями m/q попадают отражатель 7 ионов, где меняют направление движения на обратное, ускоряются электрическим полем и попадают в бесполевое пространство 6 дрейфа, в котором происходит дальнейшее формирование ионных пакетов с одинаковым отношением m/q. В конце пространства 6 дрейфа ионные пакеты регистрируются детектором 8, который представляет собой микроканальную пластину или сборку из двух последовательно стоящих микроканальных пластин.This time-of-flight mass spectrometer operates as follows. In the proposed design of the
По определению разрешающая способность времяпролетного масс-спектрометра равнаBy definition, the resolution of a time-of-flight mass spectrometer is
где: Т - время пролета ионов массы m от источника до детектора, a Δt - длительность пакета ионов с одним отношением массы к заряду m/q на входной плоскости детектора или разброс времени прилета ионов одной массы на детектор. При конструировании времяпролетного масс-спектрометра с сетками обычно используется аберрационная модель, описывающая уширение массового пика:where: T is the time of flight of ions of mass m from the source to the detector, and Δt is the duration of an ion packet with one mass-to-charge ratio m/q on the input plane of the detector or the spread in the time of arrival of ions of one mass to the detector. When designing a time-of-flight mass spectrometer with grids, an aberration model is usually used that describes the broadening of the mass peak:
где: Δti и Δtk - разброс времени прилета ионов на детектор, вызванный различными аберрационными факторами. Для любого времяпролетного масс-спектрометра с сетками типичны следующие аберрации:where: Δt i and Δt k - the spread of the arrival time of ions to the detector, caused by various aberration factors. For any time-of-flight mass spectrometer with grids, the following aberrations are typical:
1) Δttat - уширение пакета ионов, связанное с неустранимостью времени разворота ионов ("turn around time") во время действия выталкивающего импульса,1) Δt tat - broadening of the ion packet associated with the irremovable time of ion turn ("turn around time") during the action of the buoyancy pulse,
2) Δtv - уширение пакета ионов, вызванное разбросом ионов по начальным скоростям в процессе ионизации,2) Δt v - broadening of the ion packet caused by the spread of ions over the initial velocities during the ionization process,
3) ΔtΔх - уширение пакета ионов, связанное с конечными размерами области ионизации в направлении выталкивания ионов,3) Δt Δx - broadening of the ion packet associated with the finite dimensions of the ionization region in the direction of expulsion of ions,
4) Δtd - уширение пакета ионов, обусловленное конечным временем отклика детектирующего устройства на приход одного иона,4) Δt d - broadening of the ion packet due to the finite response time of the detecting device to the arrival of one ion,
5) ΔtМСР - уширение пакета ионов, вызванное глубиной входа микроканальной пластины детектора,5) Δt MSR - broadening of the ion packet, caused by the depth of entry of the microchannel plate of the detector,
6) Δtgrid - уширение пакета ионов, обусловленное рассеянием ионов на микронеоднородностях сеточных полей.6) Δt grid - broadening of the ion packet due to the scattering of ions on the micro-inhomogeneities of the grid fields.
Аберрации Δttat, Δtv, ΔtΔх обычно самые большие по величине. Для уменьшения влияния Δttat обычно применяются быстро спадающие электрические поля при выталкивании ионов из источника, поскольку Δttat ~ 1/Е, где Е - амплитуда выталкивающего импульса. В заявляемом техническом решении эта аберрация исключается путем такой конструкции прибора, в котором электронная пушка расположена перед первым плоским электродом, выполненным в виде сетки Аберрация ΔtΔх может быть полностью исключена с помощью известного, уже описанного устройства - фильтра низких энергий. В результате в предлагаемом приборе действие аберрации Δttat полностью исключается, и на разрешающую способность времяпролетного масс-спектрометра будут оказывать влияние только оставшиеся аберрации: Δtd, ΔtМср, Δtgrid и нескомпенсированная в двухзазорном отражателе часть аберрации Δtv, что обеспечивает повышение разрешающей способности заявляемого времяпролетного масс-спектрометра при сохранении или незначительной потере его чувствительности.Aberrations Δt tat , Δt v , Δt Δx are usually the largest in magnitude. To reduce the influence of Δt tat , rapidly decreasing electric fields are usually used when ions are pushed out of the source, since Δt tat ~ 1/E, where E is the amplitude of the pushing pulse. In the claimed technical solution, this aberration is eliminated by such a design of the device, in which the electron gun is located in front of the first flat electrode, made in the form of a grid. As a result, in the proposed device, the action of aberration Δt tat is completely eliminated, and only the remaining aberrations will affect the resolution of the time-of-flight mass spectrometer: Δt d , Δt Mav , Δt grid and the part of the aberration Δt v that is not compensated in a two-gap reflector, which provides an increase in resolution the inventive time-of-flight mass spectrometer while maintaining or slightly losing its sensitivity.
Был изготовлен макет заявляемого времяпролетного масс-спектрометра на основе прибора ЭМГ-30-3 компании «Меттек». В изготовленном макете электронная пушка расположена перед первым плоским электродом на расстоянии 1,2 мм. Напряжение на втором плоском электроде источника ионов составляло 490 В. Данный набор параметров обеспечивает минимизацию аберрации, связанной с рассеянием ионов на микронеоднородностях сеточных полей. Аберрация "turn around time" полностью исключена за счет выноса электронной пушки из выталкивающего зазора источника ионов. Среди оставшихся аберраций самая большая аберрация была связана с компенсацией разброса скоростей ионов в ионном отражателе, и она обеспечивала разрешающую способность опытного прибора на уровне 600 и выше.A mock-up of the inventive time-of-flight mass spectrometer was made based on the EMG-30-3 device from Mettek. In the mock-up, the electron gun is located in front of the first flat electrode at a distance of 1.2 mm. The voltage at the second flat electrode of the ion source was 490 V. This set of parameters minimizes the aberration associated with the scattering of ions by microinhomogeneities of the grid fields. Aberration "turn around time" is completely eliminated due to the removal of the electron gun from the ejection gap of the ion source. Among the remaining aberrations, the largest aberration was associated with compensation for the spread of ion velocities in the ion reflector, and it ensured the resolution of the experimental device at a level of 600 and higher.
Claims (4)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2021120798A RU2769377C1 (en) | 2021-07-13 | 2021-07-13 | Tof mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2021120798A RU2769377C1 (en) | 2021-07-13 | 2021-07-13 | Tof mass spectrometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2769377C1 true RU2769377C1 (en) | 2022-03-30 |
Family
ID=81076224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2021120798A RU2769377C1 (en) | 2021-07-13 | 2021-07-13 | Tof mass spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2769377C1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU225173U1 (en) * | 2023-09-01 | 2024-04-15 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук | TOF MASS SPECTROMETER |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5854485A (en) * | 1996-08-01 | 1998-12-29 | Bergmann; Thorald Horst | MS/MS time-of-flight mass-spectrometer with collision cell |
| US20030071208A1 (en) * | 2001-10-12 | 2003-04-17 | Hansen Stuart C. | Ion mirror for time-of-flight mass spectrometer |
| RU2239909C2 (en) * | 2001-07-17 | 2004-11-10 | Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П. Королева | Gas particle mass spectrometer |
| RU2239910C2 (en) * | 2001-11-12 | 2004-11-10 | Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П. Королева | Transit-time mass-spectrometer |
| RU2504045C2 (en) * | 2012-04-11 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Timespan mass spectrometer with non-linear reflector |
-
2021
- 2021-07-13 RU RU2021120798A patent/RU2769377C1/en active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5854485A (en) * | 1996-08-01 | 1998-12-29 | Bergmann; Thorald Horst | MS/MS time-of-flight mass-spectrometer with collision cell |
| RU2239909C2 (en) * | 2001-07-17 | 2004-11-10 | Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П. Королева | Gas particle mass spectrometer |
| US20030071208A1 (en) * | 2001-10-12 | 2003-04-17 | Hansen Stuart C. | Ion mirror for time-of-flight mass spectrometer |
| RU2239910C2 (en) * | 2001-11-12 | 2004-11-10 | Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П. Королева | Transit-time mass-spectrometer |
| RU2504045C2 (en) * | 2012-04-11 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Timespan mass spectrometer with non-linear reflector |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU225173U1 (en) * | 2023-09-01 | 2024-04-15 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук | TOF MASS SPECTROMETER |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20200357625A1 (en) | Mass spectrometer and method for time-of-flight mass spectrometry | |
| US5117107A (en) | Mass spectrometer | |
| RU2564443C2 (en) | Device of orthogonal introduction of ions into time-of-flight mass spectrometer | |
| JP6527170B2 (en) | Multiple reflection time-of-flight mass spectrometer with axial pulse converter | |
| US8604423B2 (en) | Method for enhancement of mass resolution over a limited mass range for time-of-flight spectrometry | |
| JP6287419B2 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| US5032722A (en) | MS-MS time-of-flight mass spectrometer | |
| US10573504B2 (en) | Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry | |
| EP3020064B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometers with cassini reflector | |
| US5821534A (en) | Deflection based daughter ion selector | |
| US3576992A (en) | Time-of-flight mass spectrometer having both linear and curved drift regions whose energy dispersions with time are mutually compensatory | |
| WO2016103339A1 (en) | Time-of-flight type mass spectrometric device | |
| Schueler | Time-of-flight mass analysers | |
| US6674069B1 (en) | In-line reflecting time-of-flight mass spectrometer for molecular structural analysis using collision induced dissociation | |
| CN103531432B (en) | A kind of method of pulsed ion source, mass spectrometer and generation ion | |
| EP0456516B1 (en) | Ion buncher | |
| RU2769377C1 (en) | Tof mass spectrometer | |
| US7388193B2 (en) | Time-of-flight spectrometer with orthogonal pulsed ion detection | |
| JP2015072922A (en) | Method and apparatus for ion axial spatial distribution focusing | |
| RU2658293C1 (en) | Time-of-flight plasma ion spectrometer | |
| Sudakov et al. | TOF systems with two-directional isochronous motion | |
| RU2551119C1 (en) | Time-of-flight ion spectrometer | |
| RU2381591C2 (en) | Time-of-flight mass spectrometre | |
| CN203481184U (en) | Pulse type ion source and mass spectrometer | |
| RU225173U1 (en) | TOF MASS SPECTROMETER |