EP0803068A1 - Einrichtung zur fehlererkennung bei einem sensor - Google Patents

Einrichtung zur fehlererkennung bei einem sensor

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EP0803068A1
EP0803068A1 EP96941577A EP96941577A EP0803068A1 EP 0803068 A1 EP0803068 A1 EP 0803068A1 EP 96941577 A EP96941577 A EP 96941577A EP 96941577 A EP96941577 A EP 96941577A EP 0803068 A1 EP0803068 A1 EP 0803068A1
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EP
European Patent Office
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voltage
sensor
voltages
signal
connection
Prior art date
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Withdrawn
Application number
EP96941577A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Ralf Noltemeyer
Horst Fuhrmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
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Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
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Withdrawn legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L27/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring fluid pressure
    • G01L27/007—Malfunction diagnosis, i.e. diagnosing a sensor defect
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems

Definitions

  • the invention relates to a device for error detection in a sensor which emits an essentially binary output signal, according to the preamble of the main claim.
  • Position sensors are used, the output signal of which can essentially assume two states, namely a state in which the signal is "high” and a state in which it is "low".
  • Such sensors are, for example, Hall sensors or Hall switches, which scan movable parts, on the surface of which there are, for example, characteristic magnetic structures. Depending on whether a north pole or a south pole faces the Hall element, the output signal of the sensor is "high” or "low".
  • the signal from the Hall probe exceeds a switch-on threshold and the open collector output is switched through, the signal at the output of the Hall IC assumes a "low” state. If the magnet is removed from the IC again, if the magnetic field corresponding to the output threshold is undershot, the open collector output becomes high-resistance again and the output signal of the Hall sensor changes to the "high” state.
  • Hall sensors not only detect north or south poles, but it is also possible to detect, for example, a ferromagnetic diaphragm that passes between the Hall IC and an opposite magnet.
  • Hall effect sensors can be used in a large number of possible applications.
  • An example of the use of several Hall effect sensors is also given in the international patent application PCT / DE 95/00343.
  • the solution described there shows how the steering angle of a vehicle is determined with the aid of a number of Hall sensors.
  • This known system for steering angle detection consists of a fine system with a Disc which has recesses on its circumference within a track. This rotatable disc is scanned with the aid of several Hall sensors arranged at uniform angular intervals.
  • the interaction of the disc and sensors produces a signal which reproduces a code which enables absolute value detection within one turn of the steering wheel.
  • the disc consists, for example, of magnetically highly conductive sheet metal and is firmly connected to the steering shaft.
  • the cutouts in the disc rotating with the steering shaft are scanned with the aid of nine magnetic Hall barriers arranged on the circumference of the disc. These Hall barriers are part of a Hall sensor, at the output of which a logical 1 ("high” ) arises when there is no sheet between the magnet and Hall barrier and a logical 0 ("low”) arises when the magnetic flux is interrupted by a sheet metal segment of the disk.
  • the inventive device for error detection in a sensor with the features of claim 1 has the advantage that a failure of the immediately after switching on
  • FIG. 1 shows the structure of a sensor, for example a Hall element, including the associated evaluation circuit.
  • the supply voltage modulations and the signal voltages which are set up are plotted over time in FIG. description
  • FIG. 1 shows an example of a sensor, the construction of which enables the fault detection according to the invention.
  • the sensor element S consists of a bridge circuit of four resistors R1, R2, R3, R4.
  • the sensor element S has a connection AI, through which the supply voltage UV is usually supplied.
  • connection A3 of the sensor element leads to a terminal K3, via which the voltage U3 can be supplied.
  • a further connection of the sensor element S, at which the signal voltage US1 can be tapped, leads to an operational amplifier in which the signal voltage US1 supplied by the sensor element is processed and amplified in a suitable manner.
  • the output signal of the operational amplifier is usually already a binary signal which is either "high” or "low”.
  • This signal is led to the base of the transistor T, which together with the resistor RC forms the open collector output of the evaluation circuit.
  • the connection of the transistor is such that the emitter is connected to the connection A3 and the collector leads directly to a connection A4 at which the processed signal voltage US can be tapped.
  • the collector of the transistor T is led to the terminal A2 via the resistor RC.
  • the arrangement described is integrated, for example, in an integrated circuit IC.
  • an error detection for example the detection of a line break or a short circuit
  • the voltages U1, U2, U3 at the connections AI, A2, A3 are fed to the evaluation device A, the voltage supply being able to be interrupted in a selectable manner via switching means S1, S2, and S3.
  • a possible one The time course of the voltages U1, U2, U3 in the evaluation device A is shown in FIG.
  • the voltages USO and US1 are also shown over time t in FIG.
  • USO denotes the voltage curve at the output of the Hall sensor in the switching state 0 and US1 denotes the voltage at the output 4 in the switching state 1, that is to say in the state in which the sensor element S is not assigned a magnet or ferromagnetic material.
  • the course of the voltage US at terminal A4 is evaluated in a downstream evaluation device A.
  • This can be a simple voltage meter, and the evaluation device A can also be a microcontroller or the control unit of an internal combustion engine.
  • checks are carried out in the evaluation device A as to whether the voltages USO or US1 behave in the manner shown in FIG. 2, provided the voltage modulations also shown in FIG. 2 are carried out by opening or closing the switching means S1, S2, S3 . Why the voltage profiles must behave in the manner shown in FIG. 2 will be briefly outlined below.
  • the voltages U1 and U2 are high (1) and the voltage U3 is low (0). If the sensor element is in the switching state 0, the voltage US at connection A4 is low (0) if it functions correctly. If, on the other hand, the sensor element is in switching state 1, the voltage US must be "High” (1) at output A4.
  • the usual voltage supply is shown in time interval 1.
  • the supply voltage UV Ul for the sensor element S and the voltage at the open collector is therefore "high", the voltage at connection A3 is equal to 0, so that the sensor must output the expected signal 0 or 1 depending on the switching state.
  • the actual supply voltage U1 is switched off in the time interval 2, while the voltages U2 and U3 remain unchanged with respect to the time interval 1. In this case, terminal A4 is at a voltage level that
  • one of the voltages U1, U2, U3 is also changed during the transition from one interval to the next, ie switched from "high” to "low” or vice versa.
  • the changes shown under USO or USl must then result. If at least one of the expected changes in the voltages USO or USl does not occur, an error is recognized.
  • the interval 9 again corresponds to the interval 1. At the latest after passing through the 8 time intervals from 1 to 9, one of the signal changes to be expected for USO or US1 need not have occurred if any error has occurred. If, on the other hand, all signal changes from USO or USl have actually occurred, it is ensured that there is no error.
  • the temporary modulation of the supply voltages U1, U2, U3 shown in FIG new commissioning of the sensor are processed. It is also possible to carry out such a temporary voltage modulation for error detection after predefinable times or predefinable operating times. A new error detection can be carried out in each of the test runs with voltage modulation.
  • the proposed error detection can be used in particular in connection with Hall elements, but it can also be used in connection with other sensors which supply an essentially binary output signal, it being essential that the sensors to be monitored have several sensors have conclusions about which temporary modulations of the supplied voltages are possible.
  • the proposed device for error detection in a sensor can be used, for example, in a steering angle sensor as is known from the international patent application PCT / DE 95/00343. Both the sensors (eg Hall sensors) of the fine system and those of the coarse system can then be monitored, the sensors then also having to be operated in open collector mode. A fault in a sensor can thus be recognized immediately.
  • a steering angle sensor as is known from the international patent application PCT / DE 95/00343.

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Abstract

Es wird eine Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor, der ein im wesentlichen binäres Ausgangssignal abgibt, beschrieben, wobei zur Fehlererkennung den verschiedenen Anschlüssen des Sensors im wesentlichen binäre Spannungen zugeführt werden und der Einfluß der in Folge der zugeführten Spannungen auftretenden Änderungen des Ausgangssignals des Sensors zur Fehlererkennung ausgewertet wird.

Description

Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor
Stand der Technik
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor, der ein im wesentlichen binäres Ausgangs- signal abgibt, nach der Gattung des Hauptanspruchs.
Zur Bestimmung der Lage eines Bauteiles oder einer Winkel-
Stellung werden Sensoren eingesetzt, deren Ausgangssignal im wesentlichen zwei Zustände annehmen kann, nämlich einen Zu¬ stand, bei dem das Signal "High" ist, und einem Zustand, bei dem es "Low" ist.
Solche Sensoren sind beispielsweise Hall-Sensoren bzw. Hall-Schalter, die bewegbare Teile abtasten, an deren Ober¬ fläche sich beispielsweise charakteristische Magnetstruktu¬ ren befinden. Je nachdem ob ein Nordpol oder ein Südpol dem Hall-Element gegenübersteht, ist das Ausgangssignal des Sen¬ sors "High" oder "Low" .
Die Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise von integrierten Hall-Effekt-Sensoren ist beispielsweise der Zeitschrift Elektronic Industry 7-1995 zu entnehmen. In die¬ ser Druckschrift ist ein Artikel von P. Schieffer mit der Bezeichnung "Integrierte Hall-Effekt-Sensoren zur Positions- und Drehzahlerkennung" abgedruckt, in dem unter anderem beschrieben wird, wie ein Hall-Sensor beim Annähern eines Südpols eines Magneten umschaltet. Der Aufbau dieses Hall-Sensors ist so, daß ein Chip, der den Hall-IC trägt mit einem ersten Anschluß an VersorgungsSpannung liegt und mit einem zweiten Anschluß über einen Widerstand auf Masse geführt wird. An diesem zweiten Anschluß läßt sich das Aus¬ gangssignal des Hall-Sensors abgreifen. Ein weiterer Eingang des Hall-ICs ist über einen weiteren Widerstand ebenfalls auf Versorgungsspannung gelegt. Dieser Eingang führt auf einen Transistor, der Bestandteil des ICs ist und als soge¬ nannte "Open-Collector-Ausgangsstufe" wirkt.
Bei der bereits erwähnten Annäherung eines Südpoles eines Magneten überschreitet das Signal der Hall-Sonde eine Ein¬ schaltschwelle und der Open-Collector-Ausgang wird durchge¬ schaltet, das am Ausgang des Hall-ICs liegende Signal nimmt einen "Low" Zustand an. Wird der Magnet wieder vom IC ent¬ fernt, wird beim Unterschreiten des der Ausgangsschwelle entsprechenden Magnetfeldes der Open-Collector-Ausgang wie¬ der hochohmig und das Ausgangssignal des Hall-Sensors wech¬ selt in den "High"-Zustand.
Mit solchen Hall-Sensoren lassen sich nicht nur Nord- oder Südpole erkennen, sondern es ist auch möglich, beispielswei¬ se eine ferromagnetische Blende zu erfassen, die zwischen dem Hall-IC und einem gegenüberliegenden Magneten durch¬ läuft. Generell sind solche Hall-Effekt-Sensoren bei einer Vielzahl von möglichen Anwendungen einsetzbar. Ein Beispiel für den Einsatz von mehreren Hall-Effekt-Sensoren wird auch in der internationalen Patentanmeldung PCT/DE 95/00343 ange¬ geben. Die dort beschriebene Lösung zeigt auf, wie der Lenk¬ winkel eines Fahrzeugs mit Hilfe einer Anzahl von Hall-Sensoren ermittelt wird. Dieses bekannte System zur Lenkwinkelerkennung besteht aus einem Feinsystem mit einer Scheibe, die an ihrem Umfang innerhalb einer Spur Aussparun¬ gen aufweist. Diese drehbare Scheibe wird mit Hilfe mehre¬ rer, in gleichmäßigen Winkelabständen angeordneter Hall-Sensoren abgetastet, im Zusammenwirken von Scheibe und Sensoren entsteht ein Signal, das einen Code wiedergibt, der eine Absolutwerterkennung innerhalb einer Lenkradumdrehung ermöglicht. Die Scheibe besteht dabei beispielsweise aus magnetisch gut leitendem Blech und ist fest mit der Lenk¬ welle verbunden. Die Aussparungen in der sich mit der Lenk- welle drehenden Scheibe werden mit Hilfe von neun am Umfang der Scheibe angeordneten Magnet-Hall-Schranken abgetastet, diese Hall-Schranken sind Bestandteil eines Hall-Sensors, an dessen Ausgang eine logische 1 ("High") entsteht, wenn zwi¬ schen Magnet und Hall-Schranke kein Blech ist und eine logische 0 ("Low") entsteht, wenn der Magnetfluß durch ein Blechsegment der Scheibe unterbrochen ist.
Da bei einem solchen System für jede Winkelstellung inner¬ halb von 360° ein eindeutiger Code erhalten wird, kann sofort nach dem Einschalten eine Aussage über die Winkel- Stellung getroffen werden, sofern sichergestellt wird, daß alle Hall-Sensoren einwandfrei arbeiten. Wird zusätzlich noch ein Grobsystem eingesetzt, mit einer codierten Scheibe, die sich mittels eines Getriebes um 1 : 4 untersetzt dreht und mit zugehörigen Sensoren abgetastet wird, kann der erfaßbare Winkelbereich auf 720° ausgedehnt werden.
Falls der aus der PCT/DE 95/00343 bekannte Lenkradwinkelsen¬ sor im Zusammenhang mit einer Fahrdynamikregelung eingesetzt werden soll, wird eine Eigensicherheit verlangt, diese For¬ derung bedeutet, daß alle Hall-Sensoren des Systems entweder zuverlässig funktionieren müssen oder daß ein Ausfall eines Sensors möglichst schnell und zuverlässig erkannt werden kann. Vorteile der Erfindung
Die erfindungsgemäße Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor mit den Merkmalen des Anspruchs 1 hat den Vorteil, daß sofort nach dem Einschalten ein Ausfall des
Sensors sicher und zuverlässig erkannt wird, so daß verhin¬ dert wird, daß ein fehlerhaftes Ausgangssignal weiter verar¬ beitet wird. Erzielt wird dieser Vorteil, indem der Open- Collector-Anschluß des Hall-Sensors oder der Hall-Sensoren als zusätzlicher Anschluß nach außen geführt wird, so daß ein Hall-Sensor erhalten wird, der einen Versorgungsspan¬ nungsanschluß, einen Anschluß zum Open-Collector sowie einen Masse Anschluß und einen getrennten Anschluß zum Abgriff der SignalSpannung aufweist. Es wird dann den ersten drei An- Schlüssen eine in geeigneter Weise modulierte Versorgungs¬ spannung zugeführt, die jeweils entweder den Zustand "High" oder den Zustand "Low" aufweist. Je nach Schaltzustand des Ausgangssignales, also je nachdem ob das Hall-Element einem Magneten bzw. einer Blende oder einer Lücke gegenübersteht, kann das Ausgangssignal auf Leitungsbruch und Kurzschluß überprüft werden. Dabei wird letztendlich überprüft, ob bei einer temporären Modulation der drei Versorgungsspannungen sich die SignalSpannung in der zu erwartenden Weise verhallt oder nicht. Im letzteren Fall ist eine Fehlfunktion erkannt.
Zeichnung
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Dabei zeigt Figur 1 den Aufbau eines Sensors, beispielsweise eines Hall-Elements einschließlich der zuge¬ hörigen Auswerteschaltung. In Figur 2 sind die vorgenommenen Versorgungsspannungs Modulationen sowie die sich einstellen¬ den Signalspannungen über der Zeit aufgetragen. Beschreibung
In Figur 1 ist ein Beispiel für einen Sensor dargestellt, dessen Aufbau die erfindungsgemäße Fehlererkennung ermög- licht. Dabei besteht das Sensorelement S aus einer Brücken¬ schaltung von vier Widerständen Rl, R2, R3 , R4. Das Sensor¬ element S hat einen Anschluß AI, über den üblicherweise die Versorgungsspannung UV zugeführt wird.
Ein weiterer Anschluß A3 des Sensorelements führt zu einer Klemme K3 , über die die Spannung U3 zuführbar ist. Ein wei¬ terer Anschluß des Sensorelements S, an dem die Signalspan¬ nung USl abgreifbar ist, führt auf einen Operationsverstär¬ ker, in dem die vom Sensorelement gelieferte Signalspan- nung USl in geeigneter Weise aufbereitet und verstärkt wird. Das Ausgangssignal des Operationsverstärkers ist üblicher¬ weise bereits ein binäres Signal, das entweder "High" oder "Low" ist. Dieses Signal wird zur Basis des Transistors T geführt, der zusammen mit dem Widerstand RC den Open-Col- lector-Ausgang der Auswerteschaltung bildet. Die Verschal¬ tung des Transistors ist so, daß der Emitter mit dem An¬ schluß A3 verbunden ist und der Collector direkt zu einem Anschluß A4 führt, an dem die aufbereitete SignalSpannung US abgreifbar ist. Weiterhin ist der Collector des Transistors T über den Widerstand RC zum Anschluß A2 geführt. Die be¬ schriebene Anordnung ist beispielsweise in einem integrier¬ ten Schaltkreis IC integriert.
Mit der in der Figur 1 dargestellten Schaltungsanordnung läßt sich eine Fehlererkennung, beispielsweise die Erkennung eines Leitungsbruchs oder eines Kurzschlußes durchführen. Dazu werden die an den Anschlüssen AI, A2, A3 liegenden Spannungen Ul, U2, U3 der Auswerteeinrichtung A zugeführt, wobei die Spannungszufuhr über Schaltmittel Sl, S2 , und S3 in wählbarer Weise unterbrochen werden kann. Ein möglicher zeitlicher Verlauf der Spannungen Ul, U2, U3 in der Auswer¬ teeinrichtung A ist in Figur 2 dargestellt. Außer den zuge¬ führten Spannungen Ul, U2, U3 sind in Figur 2 auch noch die Spannungen USO und USl über der Zeit t dargestellt. USO be¬ zeichnet dabei den Spannungsverlauf am Ausgang des Hall-Sensors beim Schaltzustand 0 und USl bezeichnet die Spannung am Ausgang 4 beim Schaltzustand 1, also bei dem Zu¬ stand, bei dem dem Sensorelement S kein Magnet bzw. kein ferromagnetisches Material zugeordnet ist.
Die Auswertung des Verlaufs der Spannung US an Klemme A4 er¬ folgt in einer nachgeschalteten Auswerteeinrichtung A. Dies kann ein einfacher Spannungsmesser sein, bei der Auswerte¬ einrichtung A kann es sich auch um einen Mikrocontroller oder um das Steuergerät einer Brennkraftmaschine handeln. In jedem Fall laufen in der Auswerteeinrichtung A Überprüfungen ab, ob sich die Spannungen USO bzw. USl in der in Figur 2 aufgetragenen Weise verhalten, sofern die ebenfalls in Figur 2 aufgezeigten Spannungsmodulationen durch Öffnen bzw. Schließen der Schaltmittel Sl, S2 , S3 durchgeführt werden. Weshalb die Spannungsverläufe sich in der in Figur 2 darge¬ stellten Weise verhalten müssen, soll im Folgenden kurz skizziert werden*.
Im mit 1 bezeichneten Zeitintervall sind die Spannungen Ul und U2 High (1) die Spannung U3 ist Low (0) . Befindet sich das Sensorelement im Schaltzustand 0, ist die Spannung US am Anschluß A4 bei korrekter Funktionsweise Low (0) . Befindet sich dagegen das Sensorelement im Schaltzustand 1 muß am Ausgang A4 die Spannung US "High" (1) sein. Im Zeitinter¬ vall 1 ist die übliche Spannungsversorgung dargestellt. Die Versorgungsspannung UV = Ul für das Sensorelement S sowie die Spannung am Open-Collector ist also "High", die Spannung am Anschluß A3 gleich 0, so daß der Sensor das zu erwartende Signal 0 oder 1 je nach Schaltzustand abgeben muß. Im Zeitintervall 2 wird die eigentliche Versorgungsspan¬ nung Ul abgeschaltet, während die Spannungen U2 und U3 ge¬ genüber dem Zeitintervall 1 unverändert bleiben. In diesem Fall liegt der Anschluß A4 auf einem Spannungspegel, der
"High" (1) ist, denn der Transistor T sperrt und die Span¬ nung U2 gelangt über den Widerstand RC an den Anschluß A4. Im Schaltzustand 1 liegt an der Basis des Transistors T und am Collector des Transistors T jeweils ein Spannungsniveau "High", so daß auch am Anschluß A4 Spannung auf "High" liegt .
Im Zeitintervall 3 wird dem Anschluß A3 eine Spannung zuge¬ führt, die "High" (1) ist. Da Ul "Low" und U2 "High" ist muß die Spannung US am Ausgang A4 "High" sein unabhängig davon, ob der Schaltzustand 0 oder 1 vorliegt.
In den übrigen Zeitintervallen 5, 6, 7, 8 wird beim Übergang von einem Intervall zum nächsten ebenfalls jeweils eine der Spannungen Ul, U2, U3 verändert, also von "High" nach "Low" oder umgekehrt geschaltet. Es müssen sich dann die unter USO bzw. USl dargestellten Änderungen ergeben. Tritt wenigstens eine der zu erwartenden Änderungen der Spannungen USO bzw. USl nicht ein, wird ein Fehler erkannt.
Das Intervall 9 entspricht wieder dem Intervall 1. Späte¬ stens nach Durchlaufen der 8 Zeitintervalle von 1 bis 9 muß eine der zu erwartenden Signaländerungen für USO oder USl nicht aufgetreten sein, falls irgendein Fehler aufgetreten ist. Sind dagegen alle Signaländerungen von USO bzw. USl tatsächlich aufgetreten, ist sichergestellt, daß kein Fehler vorliegt .
Die in Figur 2 dargestellte temporäre Modulation der Versor- gungsSpannungen Ul, U2, U3 kann beispielsweise bei jeder neuen Inbetriebnahme des Sensors abgearbeitet werden. Es ist auch möglich, nach vorgebbaren Zeiten bzw. vorgebbaren Be¬ triebsdauern eine solche temporäre Spannungsmodulation zur Fehlererkennung durchzuführen. Bei jedem der durchgeführten Testläufe mit Spannungsmodulation ist eine neue Fehlererken¬ nung durchführbar.
Die vorgeschlagene Fehlererkennung ist besonders im Zusam¬ menhang mit Hall-Elementen einsetzbar, jedoch ist sie auch im Zusammenhang mit anderen Sensoren, die ein im wesentli¬ chen binäres Ausgangssignal liefern verwendbar, wobei we¬ sentlich ist, daß die zu überwachenden Sensoren mehrere An¬ schlüsse aufweisen, über die temporäre Modulationen der zu¬ geführten Spannungen möglich sind.
Die vorgeschlagene Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor kann beispielsweise bei einem Lenkwinkelsensor einge¬ setzt werden, wie er aus der internationalen Patentanmeldung PCT/DE 95/00343 bekannt ist. Es können dann sowohl die Sen- soren (z. B. Hall-Sensoren) des Feinsystems als auch die des Grobsystems überwacht werden, wobei die Sensoren dann ebenfalls im Open-Collector-Betrieb zu betreiben sind. Ein Fehler eines Sensors kann damit sofort erkannt werden.

Claims

Ansprüche
1. Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor, der ein im wesentlichen binäres Ausgangssignal abgibt und Anschlüsse zur Spannungsversorgung und zur Verbindung mit Masse auf¬ weist, mit Signalaufbereitungsmittel, die das im wesentli¬ chen binäre Ausgangssignal der Basis einer Open-Collector-Ausgangsstufe zuführen.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Open-Collector-Ausgangsstufe einen Transistor (T) um¬ faßt, dessen Emitter mit dem Sensorelement (S) und dem An¬ schluß (A3) verbunden ist und dessen Collector mit dem An- Schluß (A4), an dem die SignalSpannung abgreifbar ist, ver¬ bunden ist und über einen Widerstand (RC) mit einem weiteren Anschluß (A2) in Verbindung steht.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich- net, daß das Sensorelement (S) , die Aufbereitungεschaltungs- mittel, die wenigstens einen Operationsverstärker (OP) um¬ fassen, der Transistor (T) und der Widerstand (RC) auf einem integrierten Schaltkreis (IC) integriert sind.
4. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da¬ durch gekennzeichnet, daß die Auswertung der Signalspannung und die Fehlererkennung in einer weiteren Aufbereitungs- schaltung (A) erfolgt, die den Eingängen (AI, A2, A3) des integrierten Schaltkreises (IC) die Spannungen (Ul, U2, U3) zuführt und deren Reaktionen auf die Spannung (US) auswer¬ tet.
5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Spannungen (Ul, U2, U3) die Zustände "High" (1) oder "Low" (0) annehmen können und der Spannungsverlauf in Zeit- intervalle eingeteilt ist und eine Umschaltung von "High" zu "Low" bzw. "Low" zu "High" so erfolgt, daß innerhalb eines Zeitintervalles nur eine Umschaltung erfolgt.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Spannungsverläufe von (Ul, U2, U3) nach 8 Zeitperioden wiederholen.
7. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Sensorelemente vorhanden sind, daß die Funktionsfähigkeit jedes dieser Sensorelemente durch temporäre Modulation der Versorgungsspannung überwacht wird, wobei die Modulation der VersorgungsSpannungen (Ul, U2, U3) entweder gleichzeitig oder zeitlich versetzt erfolgt .
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Hall-Elemente Bestandteil eines Lenkwinkelsensors sind, der wenigstens eine codierte Scheibe umfaßt, die fest mit der Lenkwelle verbunden ist und an ihrer Oberfläche eine Struktur aufweist, die in Verbindung mit den zugeordneten Sensorelementen einen Absolutcode bildet, der für jede Winkelstellung eindeutig ist.
EP96941577A 1995-11-11 1996-09-24 Einrichtung zur fehlererkennung bei einem sensor Withdrawn EP0803068A1 (de)

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EP (1) EP0803068A1 (de)
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