EP0600003B1 - Verfahren zur temperaturkompensation von zenerdioden mit entweder positiven oder negativen temperaturkoeffizienten - Google Patents

Verfahren zur temperaturkompensation von zenerdioden mit entweder positiven oder negativen temperaturkoeffizienten Download PDF

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EP0600003B1
EP0600003B1 EP92918698A EP92918698A EP0600003B1 EP 0600003 B1 EP0600003 B1 EP 0600003B1 EP 92918698 A EP92918698 A EP 92918698A EP 92918698 A EP92918698 A EP 92918698A EP 0600003 B1 EP0600003 B1 EP 0600003B1
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    • G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10—Regulating voltage or current 
    • G05F1/46—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
    • G05F1/462—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
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    • G—PHYSICS
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    • G05F1/10—Regulating voltage or current 
    • G05F1/46—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
    • G05F1/56—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/565—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
    • G05F1/567—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for temperature compensation
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02—Regulating voltage or current
    • G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
    • G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/18—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using Zener diodes

Definitions

  • This invention relates to temperature-compensated Zener-diode voltage references. More particularly, this invention relates to a so-called "auto-TC" voltage reference wherein trimming of a circuit resistance to give a predetermined output voltage will simultaneously optimize the temperature compensation for that output voltage.
  • EP-A-0 220 789 shows a Zener-diode circuit for use with CMOS processes where parasitic bipolar transistors are produced as part of the CMOS process. Such bipolar-transistors are formed in such a fashion that the circuit designer cannot make independent connections to their collector. Thus, a special circuit arrangement is required.
  • the object of the present invention is to provide a temperature-compensated Zener-diode voltage reference and a corresponding method which automatically produces zero TC at the output voltage.
  • the present invention in one preferred embodiment provides an auto-TC voltage reference wherein an operational amplifier receives at one input the voltage of a Zener diode and at its other input receives a compensation signal from a feedback circuit comprising a transistor and resistor network. When one of the resistors of the network is trimmed to give a nominal output voltage for the reference, the TC of the reference voltage will have been reduced to zero, or nearly so.
  • the circuitry is capable of compensating Zener diodes of either positive or negative TC.
  • the graph of Figure 1 depicts in an idealized manner the temperature response characteristics of the avalanche voltage (V z ) versus temperature of a group of Zener diodes produced by the same process.
  • the slopes of upper and lower solid lines 10 and 12 illustrate extremes of positive and negative temperature coefficients (TC) respectively. Any one diode made by the process can have a TC which lies anywhere between these extremes. It will be assumed in the following discussion that the temperature response characteristic is linear, which is approximately correct as a practical matter.
  • T m is shown as being negative on the absolute or Kelvin scale, which is generally true in practice. Although such a negative T m is not a realizable operating point, it is useful for analysis as an extrapolation of Zener behavior in a normal operating temperature range.
  • This circuit includes an operational amplifier 20 having its non-inverting input terminal 22 connected to the positive electrode of a Zener diode 24 producing a voltage V z .
  • the other Zener electrode is connected to a common line 26.
  • the Zener voltage generally is temperature sensitive, as discussed above with reference to Figure 1.
  • the output terminal 28 of the amplifier 20 produces an output voltage V o responsive to the applied Zener voltage.
  • a negative feedback circuit generally indicated at 30 is connected between the output terminal 28 and the common line 26.
  • This feedback circuit 30 includes a number of series-connected elements comprising a first segment 32 with a resistor R1 and diode D1, a second segment 34 with a resistor R2 and a diode D2, and a resistor R3.
  • the junction point 36 between the two segments 32, 34 is connected to the inverting input terminal 38 of the amplifier 20.
  • the Zener diode 24 has a zero TC (rare, but possible)
  • the output V o will be temperature invariant.
  • the V BE of a diode has a negative TC, the current in the feedback circuit nevertheless will vary with temperature.
  • R3 now is made greater than zero (R3 > 0)
  • the output V o will increase due to the added voltage drop across R3 resulting from the feedback current.
  • This added increment to the output voltage will have a positive TC (since the feedback current will in the circumstances noted above have a positive TC).
  • the positive TC of the voltage across R3 can compensate for the negative TC of the Zener voltage V z , so that the output V o can be made (essentially) invariant with temperature.
  • the initial value of R2 can be set significantly less than R1 (R2 ⁇ R1), and R2 can be thought of as R2 "nominal" in series with an initially negative R3 of relatively large value.
  • the circuit without any trimming should be capable of compensating for a limiting (maximum) positive TC in the Zener 24. Since the actual Zener normally will have a less positive TC than this limiting value, R2 can be trimmed up (increased in ohmic value) until the correct magnitude is reached to provide compensation for the actual Zener involved (including Zeners with negative TC).
  • Zener TC The range of Zener TC which can be compensated is constrained by the relationship between the diode V BE and the magnitude of the Zener voltage V z which determines the maximum TC of the current in R1 and R2. To increase this range, more diodes can be added to both feedback segments 32, 34.
  • V BE voltage multiplier
  • the feedback voltage for input terminal 38 is tapped off an intermediate point 36A between R4 and R5.
  • the V BE of one transistor can be "multiplied" to provide effective junction drops in both feedback segments 32A and 34A.
  • the V BE is effectively multiplied by ( 1 + (R4 + R5)/R6 ), and this multiplied voltage is divided between the lower and upper segments in proportions determined by the resistance values.
  • V o can be made a convenient value higher than V m .
  • the nominal value of V o to which the output will be trimmed must be higher than the maximum anticipated Zener voltage by an amount which allows for the temperature compensation voltage.
  • trimming to increase the output TC will increase the output voltage V o .
  • trimming to decrease the output TC (by making R2 ⁇ kR1) will lower the output voltage V o .
  • the direction of voltage change is correct for providing an auto-TC compensation. To achieve that result, it is necessary to establish correct proportions between the output voltage adjustment (change in V o ), and the induced TC.
  • the output voltage V o changed only about 4 millivolts peak-to-peak, in a convex curve centered roughly about 6 volts, with the output lower than 6V at both ends of the curve.
  • a V o of 6 volts at room temperature was obtained when R2 was trimmed to 4.56K.
  • the output changed by only about 5mV peak-to-peak over the same 180° temperature sweep, in a curve which was inverted relative to the positive TC Zener curve.
  • R1 can be chosen to give any nominal current through the feedback network at a given temperature. Since V c has a TC proportional to its value, the TC of the current can be adjusted by adjusting V C . Thus it is possible to independently choose the current and the TC of the current, over some range. This is what makes it possible to find a single value of R3 which compensates both the TC of V o to zero (or nearly so) and simultaneously sets the output voltage at (1 + k)V m .
  • V c the voltage at which the Zener has a voltage V m and zero TC. In this case, it will not be necessary to adjust R3 away from zero, the feedback ratio will be (1 + k) at all temperatures, and both V x and V o will equal (1 + k)V m .
  • V o should be at (1 + k)V m at any temperature, including T m .
  • R3 is not zero, the ratio of the resistive parts of the feedback would not be (1 + k), although the voltage source component ratio always is.
  • V BE has a negative TC and its voltage extrapolates to go through the bandgap voltage (approximately 1.2V) at 0°K.
  • V c to be a multiple of V BE makes it possible to develop such a voltage which extrapolates to V m at T m .
  • Using k times this multiple of V BE as the voltage source in the upper segment 34B of the feedback completes the compensation so that trimming R3 to bring V o to (1 + k)V m should also cause the TC of V o to be zero.
  • the magnitude of V c is set by the values of the resistors in the feedback network.
  • the total voltage across all three feedback resistors R4, R5 and R6 similarly will be 6V, since that is the selected output voltage.
  • R5 +R6 R4 4.52 6 - 4.52 ⁇ 3.04 It will be seen that the V BE multiplier should produce a total of about 4 V BE s, with one V BE across R6, about two V BE s across R5, and about one V BE across R4.
  • V o V x + V 3
  • V c is not a battery, but something constructed of forward-biased diode drops. Therefore, it must have some bias current to operate which implies that the voltage across R1 must be positive for all operating temperatures and bias conditions.
  • T-T m will always be positive, since T m is often less than 0° Kelvin. Therefore the constraint that ( ⁇ 1 - ⁇ 2 ) (T-T m ) > 0 requires that ⁇ 1 - ⁇ 2 > 0 or ⁇ 1 > ⁇ 2 . Since it is desired to accommodate a range of ⁇ 1 which may be positive or negative, ⁇ 2 must be made more negative than the most negative value of ⁇ 1 . That is, the TC of the compensating voltage must be more negative than the most negative Zener TC expected from the process.
  • the largest component of this expression is the second term which is linear in T.
  • the third term usually reduces the effect of the fourth term, although the circuit described here does not force a strictly PTAT collector current as is often done in bandgap circuits.
  • FIG. 5 presents a detailed circuit diagram of a voltage reference in accordance with this invention and suitable for adaptation to IC format.
  • a dashed-line box 20 indicates the operational amplifier, as shown in the somewhat simplified diagrams previously discussed.
  • the feedback circuit 30A is of the V BE -multiplier type described with reference to Figure 3.
  • a start-up circuit 46 is provided in the usual way.
  • Figure 6 presents a modified form of feedback circuit 30C for the voltage reference of Figure 5, to reduce errors due to base current in the V BE multiplier transistor Q4.
  • a pair of diode-connected transistors Q10 and Q11 have been connected in series with the transistor Q4 to produce the required integral number of V BE s, with the fractional part for the lower feedback segment being supplied by the V BE multiplier across R5.
  • an additional transistor-connected diode Q5 has been inserted between R4 and R2 with the fractional part of V BE for the upper segment appearing across R4.
  • the voltage between the network junction point 36C and the top of R1 will be about 3-1/3 V BE s.

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Claims (16)

  1. Temperaturkompensierte Spannungsreferenz zur Verwendung mit einer Klasse von Z-Dioden, die in einem einzigen Prozeß hergestellt werden, wobei die Spannungsreferenz aufweist:
    einen Verstärker (20) mit einer Eingangseinrichtung und einer Ausgangsschaltung zum Erzeugen einer Referenzspannung;
    eine Z-Diode (24) der Klasse, die mit der Verstärkereingangseinrichtung verbunden ist;
    eine Rückkopplungsschaltung (30), die mit der Ausgangsschaltung gekoppelt ist;
    wobei die Rückkopplungsschaltung ein erstes und zweites serielles Segment (32, 34) aufweist, wobei das zweite Segment mit der Ausgangsschaltung des Verstärkers verbunden ist,
    wobei das erste und zweite Segment (32, 34) eine erste bzw. zweite Widerstandseinrichtung aufweist;
    eine Einrichtung, die einen dazwischen liegenden Punkt zwischen den seriellen Segmenten (32, 34) mit der Eingangseinrichtung verbindet, um an diese ein Rückkopplungssignal zu übergeben, das die Spannung über dem ersten Spannungssegment (32) darstellt, wobei bewirkt wird, daß das Rückkopplungssignal der Z-Diodenspannung entspricht, die an die Eingangseinrichtung übergeben wird;
    eine Einrichtung, die eine temperaturabhängige Spannung mit einem negativen Temperaturkoeffizienten entwickelt und dem ersten Segment zugeordnet ist, um einen temperaturabhängigen Strom in dem ersten Segment mit einem positiven Temperaturkoeffizienten zu entwickeln;
    dadurch gekennzeichnet, daß
    der Strom, der durch das erste Segment (32) fließt, gleichermaßen durch die Widerstandseinrichtung des zweiten Segments (34) fließt, um einen entsprechenden Spannungsabfall über dieser zu erzeugen;
    die Größe der Spannung, die im zweiten Segment (34) erzeugt wird, vorbestimmt proportional zur Größe der Spannung ist, die im ersten Segment (32) erzeugt wird;
    die Werte der ersten und zweiten Widerstandseinrichtung eingestellt werden, um eine Temperaturkompensation dieser Referenzspannung zu bewirken, um entweder einen positiven oder einen negativen Temperaturkoeffizienten der Z-Diodenspannung zu kompensieren, so daß der Strom in der Widerstandseinrichtung des ersten Segments der Z-Diodenspannung und der temperaturabhängigen Spannung, die von der temperaturabhängigen Spannungseinrichtung entwickelt wird, die dem ersten Segment (32) zugeordnet ist, entspricht.
  2. Temperaturkompensierte Z-Diodenspannungsreferenz nach Anspruch 1, wobei die temperaturabhängige Spannungseinrichtung des ersten Segments (32) so bemessen ist, daß sie dem bestimmten Spannungspegel entspricht, wenn dieser bis zu der bestimmten Temperatur extrapoliert worden ist.
  3. Temperaturkompensierte Z-Diodenspannungsreferenz nach Anspruch 1 oder 2, wobei der Temperaturkoeffizient der temperaturabhängigen Einrichtung des ersten Segments (32) negativer ist als der von der Klasse von Z-Dioden erwartete negativste Temperaturkoeffizient.
  4. Temperaturkompensierte Z-Diodenspannungsreferenz nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Rückkopplungsschaltung einen bipolaren Transistor (Q4) mit einer VBE-Multipliziererschaltung (40) aufweist, die so angeordnet ist, daß ein erster Teil der VBE-Gesamtspannung effektiv in dem ersten Segment (32) und ein zweiter Teil effektiv in dem zweiten Segment (34) ist.
  5. Temperaturkompensierte Z-Diodenspannungsreferenz nach Anspruch 4, mit mindestens einer reihengeschalteten Diode (Q10, Q11), die in dem ersten Segment (32) so verbunden ist, daß für reduzierte Widerstände in der VBE-Multipliziererschaltung (40) gesorgt wird, um Fehler aufgrund des Basisstroms des Transistors (Q4) zu reduzieren.
  6. Temperaturkompensierte Z-Diodenspannungsreferenz nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei das Widerstandselement in dem zweiten Segment (34) abstimmbar ist, um die Referenzspannung auf einen vorbestimmten Nennpegel einzustellen, wobei die Temperaturkompensation der Referenzspannung optimiert wird.
  7. Temperaturkompensierte Spannungsreferenz nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei die Nennwerte des Widerstands des zweiten Segments und der Spannung der Spannungserzeugungseinrichtung des zweiten Segments so bemessen sind, daß sie das (1 + k)-fache des Widerstands des ersten Segments und der Spannung der Spannungserzeugungseinrichtung des ersten Segments betragen, wobei "k" eine vorgewählte Konstante ist.
  8. Temperaturkompensierte Z-Diodenspannungsreferenz nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei die Werte der ersten und zweiten Widerstandseinrichtung eingestellt werden, um eine vorbestimmte Nennreferenzspannung zu erzeugen.
  9. Verfahren zur Temperaturkompensation der Spannung einer Z-Diode mit den Schritten:
    Leiten einer Spannung, die von der Z-Diodenspannung abgeleitet ist, zur Eingangseinrichtung des Verstärkers (20), wobei der Verstärker eine Ausgangsschaltung aufweist, die eine Referenzspannüng erzeugt; wobei
    eine Rückkopplungsschaltung (30), die mit der Ausgangsschaltung gekoppelt ist;
    wobei die Rückkopplungsschaltung ein erstes und zweites serielles Segment (32, 34) aufweist, wobei das zweite Segment mit der Ausgangsschaltung des Verstärkers verbunden ist,
    wobei das erste und zweite Segment (32, 34) eine erste bzw. zweite Widerstandseinrichtung aufweisen;
    Liefern eines Rückkopplungssignals, das die Spannung über dem ersten Spannungssegment (32) darstellt, an die Eingangseinrichtung, wobei die Einrichtung einen dazwischen liegenden Punkt zwischen den seriellen Segmenten (32, 34) mit der Eingangseinrichtung verbindet, wobei bewirkt wird, daß das Rückkopplungssignal der Z-Diodenspannung entspricht, die an die Eingangseinrichtung übergeben wird;
    Entwickeln eines temperaturabhängigen Stroms in dem ersten Segment mit einem positiven Temperaturkoeffizienten, wobei die Einrichtung, die eine temperaturabhängige Spannung mit einem negativen Temperaturkoeffizienten entwickelt, dem ersten Segment zugeordnet ist,
    gekennzeichnet durch
    Erzeugen eines Spannungsabfalis, der dem Strom entspricht, der durch das erste Segment (32) fließt und der gleichermaßen durch die Widerstandseinrichtung des zweiten Segments (34) fließt,
    Einstellen der Größe der Spannung, die in dem zweiten Segment (34) erzeugt wird, so daß sie vorbestimmt proportional der Größe der Spannung ist, die in dem ersten Segment (32) erzeugt wird;
    Einstellen des Wertes der ersten und zweiten Widerstandseinrichtung, um eine Temperaturkompensation dieser Referenzspannung zu bewirken, um entweder einen positiven oder negativen Temperaturkoeffizienten der Z-Diodenspannung zu kompensieren, so daß der Strom in der Widerstandseinrichtung des ersten Segments der Z-Diodenspannung und der temperaturabhängigen Spannung, die von der temperaturabhängigen Spannungseinrichtung entwickelt wird, die dem ersten Segment (32) zugeordnet ist, entspricht.
  10. Verfahren zur Temperaturkompensation der Spannung einer Z-Diode nach Anspruch 9, mit dem Schritt des Abstimmens einer der Widerstandseinrichtungen, um die Ausgangsspannung auf einen vorgewählten Pegel festzulegen.
  11. Verfahren zur Temperaturkompensation der Spannung einer Z-Diode nach Anspruch 10, mit dem Schritt des Abstimmens einer der Widerstandseinrichtungen, um einen vorbestimmten Ausgangsspannungspegel zu erzeugen und gleichzeitig eine optimale Temperaturkompensation dieser Ausgangsspannung zu bewirken.
  12. Verfahren zur Temperaturkompensation der Spannung einer Z-Diode nach Anspruch 10 oder 11, wobei die Widerstandseinrichtung in dem zweiten Segment abgestimmt wird, um den vorbestimmten Ausgangsspannungspegel zu erzeugen.
  13. Verfahren zur Temperaturkompensation der Spannung einer Z-Diode nach einem der Ansprüche 9 bis 12, wobei die Diodenklasse temueraturabhängige Spannungskurven hat, die alle bei einer spezifischen Temperatur durch eine spezifische Spannung laufen;
    Bemessen der Größe der temperaturabhängigen Spannungseinrichtung in dem ersten Segment (32) auf einen Wert, der, wenn er bis zu der spezifischen Temperatur zurückextrapoliert wird, der spezifischen Spannung entspricht.
  14. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 13, wobei der Rückkopplungsstrom des einen Segments (32) so gesteuert wird, daß er proportional der Differenz zwischen der Z-Diodenspannung und der ersten temperaturabhängigen Spannung ist.
  15. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 14, wobei der negative Rückkopplungsstrom zumindest wesentlich von der Verstärkerausgangsschaltung abgeleitet wird.
  16. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 15, wobei die Werte der ersten und der zweiten Widerstandseinrichtung eingestellt werden, um eine vorbestimmte Nennreferenzspannung zu erzeugen.
EP92918698A 1991-08-21 1992-08-20 Verfahren zur temperaturkompensation von zenerdioden mit entweder positiven oder negativen temperaturkoeffizienten Expired - Lifetime EP0600003B1 (de)

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US74808791A 1991-08-21 1991-08-21
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EP0600003A1 EP0600003A1 (de) 1994-06-08
EP0600003A4 EP0600003A4 (de) 1994-11-02
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4511697B2 (ja) * 2000-07-27 2010-07-28 Ｎｅｃエンジニアリング株式会社 温度補償回路
JP4578427B2 (ja) * 2006-03-28 2010-11-10 株式会社豊田中央研究所 応力温度測定装置
US9104222B2 (en) * 2012-08-24 2015-08-11 Freescale Semiconductor, Inc. Low dropout voltage regulator with a floating voltage reference
EP3553625A1 (de) 2018-04-13 2019-10-16 NXP USA, Inc. Zenerdioden-spannungsreferenzschaltung
CN109343606B (zh) * 2018-11-15 2023-11-10 扬州海科电子科技有限公司 一种分离补偿温控装置
EP3680745B1 (de) 2019-01-09 2022-12-21 NXP USA, Inc. Selbstvorgespannte temperaturkompensierte zener-referenz
EP3812873A1 (de) 2019-10-24 2021-04-28 NXP USA, Inc. Spannungsreferenzerzeugung mit kompensation von temperaturschwankungen

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL6806969A (de) * 1968-05-17 1969-05-27
GB1549689A (en) * 1975-07-28 1979-08-08 Nippon Kogaku Kk Voltage generating circuit
GB1484789A (en) * 1975-09-02 1977-09-08 Standard Telephones Cables Ltd Power supply circuits
DE2645182C2 (de) * 1976-10-07 1983-02-10 Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg Temperaturkompensierte Z-Diodenanordnung, Betriebsschaltung hierfür und Verwendung der Anordnung mit dieser Betriebsschaltung
US4313083A (en) * 1978-09-27 1982-01-26 Analog Devices, Incorporated Temperature compensated IC voltage reference
US4315209A (en) * 1980-07-14 1982-02-09 Raytheon Company Temperature compensated voltage reference circuit
US4562400A (en) * 1983-08-30 1985-12-31 Analog Devices, Incorporated Temperature-compensated zener voltage reference
US4622512A (en) * 1985-02-11 1986-11-11 Analog Devices, Inc. Band-gap reference circuit for use with CMOS IC chips
US4668903A (en) * 1985-08-15 1987-05-26 Thaler Corporation Apparatus and method for a temperature compensated reference voltage supply
US4677369A (en) * 1985-09-19 1987-06-30 Precision Monolithics, Inc. CMOS temperature insensitive voltage reference
US4774452A (en) * 1987-05-29 1988-09-27 Ge Company Zener referenced voltage circuit

Also Published As

Publication number Publication date
EP0600003A4 (de) 1994-11-02
EP0600003A1 (de) 1994-06-08
DE69230856T2 (de) 2000-11-09
WO1993004423A1 (en) 1993-03-04
DE69230856D1 (de) 2000-05-04
JPH06510149A (ja) 1994-11-10

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