EA017369B1

EA017369B1 - Способ выявления и тестирования субпроцессов в сложном волновом поле объекта

Info

Publication number: EA017369B1
Application number: EA201100929A
Authority: EA
Inventors: Владимир Николаевич Ростовцев; Александр Олегович Лукьянов
Original assignee: Владимир Николаевич Ростовцев; Александр Олегович Лукьянов
Priority date: 2011-05-04
Filing date: 2011-05-04
Publication date: 2012-11-30
Also published as: EA201100929A1

Abstract

Изобретение относится к технике для исследований, преимущественно биологических и медицинских. Способ выявления субпроцессов по соответствию эталонам после пассивной записи сигнала включает проведение серии записей, чем достигается повышение точности оценки соответствия, а также сопряженные с этим способом способы активного тестирования выявляемых субпроцессов, включая следующие: 1) тестирование выявленного гиперэргического субпроцесса в режиме компенсации; 2) тестирование выявленного гиперэргического субпроцесса в режиме резонанса; 3) тестирование влияния выявленного гиперэргического субпроцесса на другие субпроцессы путем записи сигнала объекта на фоне волновой компенсации выбранного субпроцесса; 4) тестирование влияния выявленного гипоэргического субпроцесса на другие субпроцессы путем записи сигнала объекта на фоне резонансной активации выявленного субпроцесса; 5) совмещение режимов тестирования 3 и 6 и/или 4 и 7. Способы тестирования позволяют достигать большей точности исследований сложного волнового поля объекта.

Description

Изобретение относится к техническим системам, предназначенным для прикладных исследований, преимущественно биологических и медицинских, и отражает процессы исследования материальных объектов.

Ближайшим аналогом предлагаемого способа является патент Украины (ИЛ 34389 А) Способ диагностики и коррекции волновых характеристик исследуемых объектов и устройство для его осуществления (С.М. Закиров, И.В. Оржельский, бюл. № 1, 15.02.2001 г.). Этот способ заключается в снятии сигнала, который содержит в себе волновые характеристики объекта, и их сравнении с эталонами и отличается тем, что снятый сигнал переводится в цифровую форму и для сравнения с эталонами используют специальный математический аппарат. Основные недостатки этого способа заключаются в использовании для оценки соответствия эталону однократной записи сигнала и квазипорядковой шкалы измерения соответствия.

Предлагается способ, который включает способ пассивного выявления спектрально-динамических (СД) субпроцессов волнового электромагнитного поля объекта, записываемого через пассивный электрод, осуществляется по СД-соответствию предварительно записанному эталону и отличается тем, что с целью повышения точности оценки соответствия производится серия записей с последующей специальной процедурой усреднения результатов по серии, а также несколько способов активного тестирования свойств выявляемых субпроцессов.

Сущность предлагаемого способа заключается, во-первых, в осуществлении серии СД-записей волнового сигнала объекта с целью повышения точности и научной адекватности оценок соответствия эталону в пассивном режиме выявления субпроцессов и, во-вторых, в дополнительном использовании нескольких вариантов активного тестирозания для уточнения свойств исследуемых волновых субпроцессов объекта.

Научная адекватность оценивания означает возможность использования математикостатистических методов анализа получаемых данных. Эта возможность достигается в два этапа. Первый этап связан с переходом от квазипорядковой к порядковой шкале оценивания соответствия в каждой единичной записи сигнала. Второй этап заключается в реализации серии записей сигнала и применении специального метода усреднения по серии с последующим нормированием на 100%. В итоге достигается количественная оценка соответствия более высокой точности и простой интерпретации соответствия (в процентах соответствия). Ключевым действием является осуществление серии записей, что позволяет перевести оценку соответствия эталону из качественной в количественную и одновременно повысить точность оценки.

Помимо задачи выявления в сложном волновом поле соответствующих эталонам субпроцессов, принципиально важным является тестирование стабильности (устойчивости) выявляемых субпроцессов, а также тестирование их влияния на другие выявляемые волновые субпроцессы. Тестирование как активное исследование объекта является непосредственным развитием пассивного выявления субпроцессов, поскольку выполняется на основе последнего. Совокупность способа выявления волновых субпроцессов и нескольких способов их тестирования решает единую задачу анализа сложных волновых полей и позволяет получить единый технический результат, который заключается в повышении эффективности процесса исследования (например, диагностического) материальных объектов.

Первым способом тестирования является определение стабильности выявленного гиперэргического (с относительно высокой энергией) волнового процесса, который отражает соответствующий вещественный процесс (например, воспалительный).

Для этого динамический спектр эталона излучают через активный электрод на тестируемый объект в режиме компенсации, то есть с использованием инвертированного спектрально-динамического сигнала, и по обратной связи с параллельно снимаемым волновым сигналом от объекта фиксируют продолжительность компенсации до некоторого условного уровня (например, в 10 раз, то есть до 10% от величины исходного сигнала). Зафиксированная таким образом продолжительность компенсации отражает уровень стабильности тестируемого процесса. Возможен также вариант фиксации относительного уменьшения сигнала при фиксированной продолжительности тестирования.

Вторым способом тестирования является определение устойчивости выявленного гипоэргического (с относительно низкой энергией) волнового процесса, который отображает соответствующий вещественный процесс (например, дегенеративный).

Для этого динамический спектр эталона излучают через активный электрод на тестируемый объект в режиме резонанса, то есть с использованием прямого (неинвертированного) спектрально-динамического сигнала, и по обратной связи с параллельно снимаемым волновым сигналом от объекта фиксируют продолжительность резонансного ответа при его снижении до некоторого условного уровня (например, в 10 раз, то есть до 10% от величины исходного резонансного ответа). Возможен также вариант фиксации относительного уменьшения резонансного сигнала при фиксированной продолжительности тестирования.

Третьим способом тестирования является определение влияния выявленного гиперэргического волнового субпроцесса на другие волновые субпроцессы, представляющие интерес в контексте исследования объекта (например, диагностического исследования).

Для этого динамический спектр соответствующего эталона излучают через активный электрод на тестируемый объект в режиме компенсации и одновременно через пассивный электрод записывают ди

- 1 017369 намический спектр тестируемого объекта. Иными словами, пассивную запись волнового сигнала от объекта проводят на фоне компенсаторного тестирующего сигнала от выбранного эталона. Затем полученный результат пассивной записи волнового сигнала объекта анализируют согласно п.1 и выясняют, на какие из интересующих исследователя субпроцессов и как влияет компенсаторное подавление тестируемого субпроцесса.

Четвертым способом тестирования является определение влияния выявленного гипоэргического волнового субпроцесса на другие волновые субпроцессы, представляющие интерес в контексте исследования объекта (например, диагностического исследования).

Для этого динамический спектр соответствующего эталона излучают через активный электрод на тестируемый объект в режиме резонанса и одновременно через пассивный электрод записывают динамический спектр тестируемого объекта. Иными словами, пассивную запись волнового сигнала от объекта проводят на фоне резонансного тестирующего сигнала от выбранного эталона. Затем полученный результат пассивной записи волнового сигнала объекта анализируют согласно п.1 и выясняют, на какие из интересующих исследователя субпроцессов и как влияет резонансная активация тестируемого субпроцесса.

Пятый способ тестирования заключается в одновременном проведении тестирования по пп.3 и 6. Это позволяет значительно экономить время, затрачиваемое на исследование, и существенно упрощает процедуру исследования.

Шестой способ тестирования заключается в одновременном проведении тестирования по пп.4 и 7. Это также приводит к значительному сокращению времени исследования и к существенному упрощению процедуры исследования.

Для реализации предлагаемого способа по всем пунктам изобретения используют Комплекс медицинский спектрально-динамический (КМСД) согласно патенту РФ на полезную модель ΒΥ 6321 и Устройство для записи и компенсации спектрально-динамических процессов и ВИ 88932 И1 Устройство для записи и коррекции волновых биообъектов. Информация о КМСД содержится на сайтах производителей (\ν\ν\ν.1<ιη5θν и те^^.кткй.ки). КМСД предназначен для спектрально-динамических исследований в медицине, ветеринарии и других областях.

Claims

ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ

1. Способ выявления спектрально-динамических (СД) субпроцессов волнового электромагнитного поля биологических объектов, включающий запись динамического спектра объекта через пассивный электрод, установление качественного СД-соответствия предварительно записанному эталону, отличающийся тем, что производится серия записей, для которой фиксируют уровни СД-соответствий, переводят результат в количественный вид и осуществляют оценку соответствия.
2. Способ тестирования устойчивости выявленного способом по п.1 СД-субпроцесса, включающий излучение через активный электрод динамического спектра соответствующего эталона на объект, отличающийся тем, что по обратной связи от пассивного электрода определяют время изменения обратного сигнала до заданного уровня.
3. Способ тестирования устойчивости выявленного способом по п.1 СД-субпроцесса, включающий излучение через активный электрод динамического спектра соответствующего эталона на объект, отличающийся тем, что по обратной связи от пассивного электрода определяют относительное изменение величины сигнала при фиксированном времени тестирования.
4. Способ по п.2 или 3, отличающийся тем, что для тестирования выявленного гиперэргического СД-субпроцесса при излучении используют режим компенсации.
5. Способ по п.2 или 3, отличающийся тем, что для тестирования выявленного гипоэргического СДсубпроцесса при излучении используют режим резонанса.
6. Способ тестирования влияния выявленного СД-субпроцесса на другие СД-субпроцессы, включающий излучение через активный электрод динамического спектра соответствующего эталона, одновременную тестовую запись через пассивный электрод динамического спектра объекта, выявление способом по п.1 СД-субпроцессов в тестовой записи и сравнение с СД-субпроцессами, выявленными способом по п.1 для исходной записи динамического спектра объекта.
7. Способ по п.6, отличающийся тем, что для тестирования выявленного гиперэргического СДсубпроцесса при излучении используют режим компенсации.
8. Способ по п.6, отличающийся тем, что для тестирования выявленного гипоэргического СДсубпроцесса при излучении используют режим резонанса.
9. Способ по п.1, отличающийся тем, что он включает осуществление способов тестирования по п.2 или 3 в комбинации со способами по п.7 или 8.

Евразийская патентная организация, ЕАПВ

Россия, 109012, Москва, Малый Черкасский пер., 2