DK3136151T3 - Apparat til at observere lysemissionen fra en prøve ved dynamisk optisk mikroskopi - Google Patents

Apparat til at observere lysemissionen fra en prøve ved dynamisk optisk mikroskopi Download PDF

Info

Publication number
DK3136151T3
DK3136151T3 DK16194311.3T DK16194311T DK3136151T3 DK 3136151 T3 DK3136151 T3 DK 3136151T3 DK 16194311 T DK16194311 T DK 16194311T DK 3136151 T3 DK3136151 T3 DK 3136151T3
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
light
components
sample
light components
filters
Prior art date
Application number
DK16194311.3T
Other languages
English (en)
Inventor
Emmanuel Fort
Fort Sandrine Leveque
Karla Balaa
Thomas Barroca
Original Assignee
Centre Nat Rech Scient
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centre Nat Rech Scient filed Critical Centre Nat Rech Scient
Application granted granted Critical
Publication of DK3136151T3 publication Critical patent/DK3136151T3/da

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0088Inverse microscopes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/648Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/33Immersion oils, or microscope systems or objectives for use with immersion fluids
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/005Diaphragms
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/95Computational photography systems, e.g. light-field imaging systems
    • H04N23/951Computational photography systems, e.g. light-field imaging systems by using two or more images to influence resolution, frame rate or aspect ratio
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/222Studio circuitry; Studio devices; Studio equipment
    • H04N5/262Studio circuits, e.g. for mixing, switching-over, change of character of image, other special effects ; Cameras specially adapted for the electronic generation of special effects
    • H04N5/265Mixing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N2021/6463Optics
    • G01N2021/6465Angular discrimination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Claims (10)

1. Observationsapparat (100) til at observere en lysemission (14, 15) fra en prøve (10) i et medium (11) med brydningsindeks ni., hvor prøven er anbragt mod en overflade (20a) afen transparent bærer (20) med brydningsindeks ns, som er større end ni., idet lysemissionen omfatter lyskomponenter, som hver især har en amplitude og en fase, er orienterede mod bæreren og danner en vinkel Θ med en retning (20b) vinkelret på overfladen (20a), blandt hvilke på den ene side superkritiske lyskomponenter, for hvilke vinklen Θ netop er større end en kritisk vinkel 0c = arcsin(nL/ns), og på den anden side kritiske eller subkritiske lyskomponenter, for hvilke vinklen θ er mindre end eller lig med den kritiske vinkel 0c, idet observationsindretningen (100) er i stand til: - at fange mindst en del af lysemissionen fra et interesseområde af prøven og opnå et fanget lyssignal omfattende lyskomponenter, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen; - at anvende filtre (170) på det fangede lyssignal for selektivt at mindske amplituden og/eller at ændre fasen af nogle af lyskomponenterne af det fangede lyssignal for at opnå et filtreret lyssignal; og - at omdanne det filtrerede lyssignal til et billedområde af interesseområdet af prøven; idet opservationsapparatet (100) er kendetegnet ved, at: - det tillader at udføre en modulation af det filtrerede lyssignal, idet det tillades lyskomponenter, der stammer fra de kritiske eller subkritiske lyskomponenter af lysemissionen at passere igennem for at opnå billedområder (6a, 6b) af et og samme interesseområde af prøven, hvor modulationen anvendes på alle eller nogle af lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen; og - det tillader at frembringe mindst et brugbart billedområde (6c) af prøven ved at kombinere billedområderne (6a, 6b), hvor kombinationen fremhæver forskelle mellem de med modulationen associerede billedområder (6a, 6b).
2. Observationsapparat (100) ifølge krav 1, kendetegnet ved, at lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der er genstand for modulationen, stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen.
3. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 eller 2, kendetegnet ved, at det tillader successivt at anvende filtre (170) på det fangede lyssignal for successivt at opnå billedområder (6a, 6b), som i kombination giver det brugbare billedområde (6c) af prøven.
4. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 3, kendetegnet ved, at det omfatter en flerhed af filtre (170), hvor flerheden af filtre er således at: - i det filtrerede lyssignal tillader et filter blandt flerheden af filtre passage af lyskomponenter, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen; - alle filtrene blandt flerheden af filtre tillader lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de kritiske eller subkritiske lyskomponenter af lysemissionen, at passere igennem, og virker indbyrdes i alt væsentligt på en samme måde på lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de kritiske eller subkritiske lyskomponenter af lysemissionen; og - der er mindst to filtre af flerheden, der virker indbyrdes i alt væsentligt på forskellige måder på amplituden eller fasen af mindst nogle af lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen; og observationsapparatet (100) tillader at tage en flerhed af billedområder af et og samme interesseområde af prøven ved hjælp af flerheden af filtre, idet hvert filter tjener til at tage et billedområde blandt flerheden af billedområder og tillader at frembringe et brugbart billedområde af prøven ved en beregning, der kombinerer flerheden af billedområder for at påvise forskelle mellem billedområderne blandt flerheden af billedområder af prøven.
5. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 4, kendetegnet ved, at det omfatter to filtre, hvor de to filtre er således at: - i det filtrerede lyssignal tillader det ene af de to filtre passage af de lyskomponenter, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen; og - det andet filter virker i alt væsentligt på samme måde som nævnte ene af de to filtre på lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de kritiske eller subkritiske lyskomponenter af lysemissionen, og det mindsker i alt væsentligt stærkere end det nævnte ene af de to filtre amplituden af mindst nogle af lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen; og observationsapparatet (100) tillader at tage mindst to billedområder af et og samme interesseområde af prøven ved hjælp af to filtre, idet hvert filter tjener til at tage et af de to billedområder og tillader at frembringe et brugbart billedområde af prøven ved en beregning, idet beregningen omfatter en algebraisk differens mellem begge billedområder af prøven.
6. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 5, kendetegnet ved, at de filtrene også delvist reducerer amplituden af alle eller nogle af lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de kritiske og subkritiske lyskomponenter af lysemissionen.
7. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 6, kendetegnet ved, at lyskomponenter af det fangede lyssignal, der stammer fra lyskomponenter af lysemissionen, som danner den samme vinkel Θ, behandles i alt væsentligt på en samme måde med et og samme filter til at mindske amplituden eller ændre fasen.
8. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 7, kendetegnet ved, at det omfatter: - et neutralt filter, der i det filtrerede lyssignal tillader alle lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen, at passere uden nogen mindskelse af amplitude for at tilvejebringe et af billedområderne af prøven; og - et totalt filter, der i det filtrerede lyssignal totalt ophæver alle de lyskomponenter, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen, for at tilvejebringe et andet billedområde af prøven.
9. Observationsapparat (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 8, kendetegnet ved, at det omfatter et fuldfelt-immersionsobjektiv (110), og filtrene (170) er lokaliseret i et bageste fokusplan (400) af immersionsobjektivet (110) og/eller i et med det bageste fokusplan konjugeret plan (420).
10. Observationsapparat (100) ifølge krav 9, kendetegnet ved, at filtrene (170) omfatter en blænde (176), der i en åben position tillader passage af lyskomponenter af det fangede lyssignal, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen, og afhængigt af blænderens (176) lukningsgrad tillader at skjule lyskomponenterne af det fangede lyssignal, der stammer fra de superkritiske lyskomponenter af lysemissionen med en vinkel Θ større end en grænseværdi relateret til lukningsgraden.
DK16194311.3T 2010-10-28 2011-10-25 Apparat til at observere lysemissionen fra en prøve ved dynamisk optisk mikroskopi DK3136151T3 (da)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1058913A FR2966937B1 (fr) 2010-10-28 2010-10-28 Methode d'observation de l'emission de lumiere d'un echantillon par microscopie optique dynamique
EP11785747.4A EP2633357B1 (fr) 2010-10-28 2011-10-25 Methode d'observation de l'emission de lumiere d'un echantillon par microscopie optique dynamique

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DK3136151T3 true DK3136151T3 (da) 2019-04-01

Family

ID=43926905

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK16194311.3T DK3136151T3 (da) 2010-10-28 2011-10-25 Apparat til at observere lysemissionen fra en prøve ved dynamisk optisk mikroskopi
DK11785747.4T DK2633357T3 (da) 2010-10-28 2011-10-25 Fremgangsmåde til at observere emissionen af lys fra en prøve med dynamisk optisk mikroskopi

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK11785747.4T DK2633357T3 (da) 2010-10-28 2011-10-25 Fremgangsmåde til at observere emissionen af lys fra en prøve med dynamisk optisk mikroskopi

Country Status (9)

Country Link
US (2) US9541751B2 (da)
EP (2) EP3136151B1 (da)
JP (1) JP5992913B2 (da)
DK (2) DK3136151T3 (da)
ES (2) ES2617449T3 (da)
FR (1) FR2966937B1 (da)
PL (1) PL2633357T3 (da)
PT (1) PT2633357T (da)
WO (1) WO2012056160A1 (da)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014013720A1 (ja) * 2012-07-19 2014-01-23 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
JP2016105126A (ja) * 2014-12-01 2016-06-09 横河電機株式会社 顕微鏡装置
FR3051921B1 (fr) * 2016-05-31 2018-06-01 Centre National De La Recherche Scientifique Dispositif et procede d'eclairage pour microscopie de fluorescence a onde evanescente
GB2589327B (en) * 2019-11-26 2023-09-13 Andor Tech Limited Differential phase contrast microscope

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6819484B2 (en) * 2001-11-06 2004-11-16 Olympus Optical Co., Ltd. Total internal reflection illumination apparatus and microscope using this total internal reflection illumination apparatus
DE10231667A1 (de) * 2002-07-12 2004-01-22 Olympus Biosystems Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und optische Objektuntersuchungseinrichtung
DE102004031049A1 (de) * 2004-06-25 2006-01-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung zum spektralselektiven Nachweis von Licht eines Lichtstrahls
US7046359B2 (en) * 2004-06-30 2006-05-16 Chemimage Corporation System and method for dynamic chemical imaging
EP2016393A2 (en) * 2006-05-05 2009-01-21 Dublin City University Optical probe
AU2007249399A1 (en) * 2006-05-09 2007-11-22 Braincells, Inc. Neurogenesis by modulating angiotensin
US7460248B2 (en) * 2006-05-15 2008-12-02 Carestream Health, Inc. Tissue imaging system
JP5021254B2 (ja) * 2006-09-06 2012-09-05 オリンパス株式会社 顕微鏡装置の制御方法、顕微鏡装置
FR2943428B1 (fr) * 2009-03-20 2011-05-13 Univ Paris Diderot Paris 7 Dispositif de microscopie de fluorescence et methode d'observation associe
US8228602B2 (en) * 2009-03-25 2012-07-24 Dublin City University Of Collins Avenue Super critical angle fluorescence scanning system

Also Published As

Publication number Publication date
FR2966937B1 (fr) 2012-12-28
ES2617449T3 (es) 2017-06-19
PT2633357T (pt) 2017-03-10
WO2012056160A1 (fr) 2012-05-03
JP5992913B2 (ja) 2016-09-14
EP3136151A1 (fr) 2017-03-01
US20170082547A1 (en) 2017-03-23
US20130278742A1 (en) 2013-10-24
PL2633357T3 (pl) 2017-06-30
EP2633357A1 (fr) 2013-09-04
US10345241B2 (en) 2019-07-09
EP3136151B1 (fr) 2018-12-12
DK2633357T3 (da) 2017-03-13
JP2013542466A (ja) 2013-11-21
EP2633357B1 (fr) 2016-12-07
US9541751B2 (en) 2017-01-10
FR2966937A1 (fr) 2012-05-04
ES2714361T3 (es) 2019-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11036037B2 (en) Microscopy devices, methods and systems
US8582203B2 (en) Optical arrangement for oblique plane microscopy
US20200150446A1 (en) Method and System for Improving Lateral Resolution in Optical Scanning Microscopy
WO2010111649A1 (en) Low numerical aperture exclusion imaging
JP5479733B2 (ja) 顕微鏡照明装置及びアダプタ
US10345241B2 (en) Method of observing the emission of light from a sample by dynamic optical microscopy
JP2018146602A (ja) 観察装置
CN103038691A (zh) 一个提高成像系统图像分辨率的方法和系统
US20120140057A1 (en) Microscope for Measuring Total Reflection Fluorescence
US20120289832A1 (en) Illumination Methods And Systems For Improving Image Resolution Of Imaging Systems
US20200088982A1 (en) A system and method for microscopy
Fuseler et al. Types of confocal instruments: Basic principles and advantages and disadvantages
US6940641B2 (en) Fluorescence observation apparatus
FR2943428A1 (fr) Dispositif de microscopie de fluorescence et methode d'observation associe
US20230341328A1 (en) Device, method and use for optically determining at least one property of a sample positioned on a sample stage
Carlsson Light microscopy
EP1218789B1 (en) A microscope, a method for manufacturing a microscope and a method for operating a microscope
Macháň Introduction to Fluorescence Microscopy
CN111751972B (zh) 一种泊松光斑显微镜