DK200100644A - System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrør - Google Patents

System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrør Download PDF

Info

Publication number
DK200100644A
DK200100644A DK200100644A DKPA200100644A DK200100644A DK 200100644 A DK200100644 A DK 200100644A DK 200100644 A DK200100644 A DK 200100644A DK PA200100644 A DKPA200100644 A DK PA200100644A DK 200100644 A DK200100644 A DK 200100644A
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
layer thicknesses
multilayer tube
measuring layer
detector
tube
Prior art date
Application number
DK200100644A
Other languages
English (en)
Inventor
Olesen Finn Fallentin
Fink Joergen
Nielsen Bill Sejer
Original Assignee
Sciteq Hammel As
Force Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sciteq Hammel As, Force Technology filed Critical Sciteq Hammel As
Priority to DK200100644A priority Critical patent/DK175850B1/da
Priority to EP02764048.1A priority patent/EP1381826B1/en
Priority to US10/475,944 priority patent/US7092486B2/en
Priority to PCT/DK2002/000260 priority patent/WO2002086421A1/en
Publication of DK200100644A publication Critical patent/DK200100644A/da
Application granted granted Critical
Publication of DK175850B1 publication Critical patent/DK175850B1/da

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

PATENTKRAV
Figure DK200100644AD00031
1. System til måling af lagtykkelser af et flerlagsrør ved måling af dæmpningen af en gennem røret transmitteret røntgenstråling ved hjælp af et detektorarray ^kendetegnet ved, at detektorarrayet (2) består af et n-element array med en kollimator for afgrænsning af strålingsfeltet foran hvert enkelt detektorelement. 2. System ifølge krav 1,kendetegnet ved, at detektorarrayet (2) består af 4 scintillationstællere, idet der for enden af hver scintillationstæller (6) er anbragt en tynd blyholdig scintillationsskive (4). 3. System ifølge krav 2, kendetegnet ved, at der på scintillationsskiven (4) er anbragt en forholdsvis tynd blyplade (5), der tjener som støtteplade for en yderligere detektor, således at der dannes et detektorpar. 4. System ifølge krav 3, kendetegnet ved, at to detektorpar er anbragt ved siden af hinanden, idet dog det ene detektorpar er forskudt i længderetningen i forhold til det andet detektorpar. 5. System ifølge krav 4,kendetegnet ved, at det ene detektorpar er forskudt ca. 0,5 mm i længderetningen i forhold til det andet detektorpar. 6. System ifølge krav 1,kendetegnet ved, at kollimatoren har en smal blændeåbning (8) , der er bestemmende for opløsningen ved en bestemmelse af positionen af rørvæggen. 7. System ifølge krav 6, kendetegnet ved, at kollimatoren består af en tynd plade, eksempelvis en tantalplade (7) af en tykkelse på eksempelvis 1 mm. . 8. System ifølge krav 7, kendetegnet ved, at den enkelte blandeåbning i den tynde plade har en spaltebredde på ca. 50 μιη. 9. System ifølge krav 1,kendetegnet ved, at der kompenseres for fluktuationer såsom vibrationer af rørets position ved en on-line måling af karakteristika af rørvæggen. 10. System ifølge et af de foregående krav, kendetegnet ved, at amplituden af rørvibrationen bestemmes ud fra en måling af forskellen i tidspunktet for detektering af en rørvæg relateret til det forventede tidspunkt for detektering af samme rørvæg. 11. Fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrør ved måling af dampningen af en gennem røret transmitteret røntgenstråling ved hjælp af et detektorarray, kendetegnet ved, at det anvendte detektorarray består af et n-element array med en kollinator til afgrænsning af strålingsfeltet foran hvert enkelt detektorelement i array-et. 12. Fremgangsmåde ifølge krav 10,kendetegnet ved, at lagtykkelseme og/eller densiteterne af de enkelte lag af et flerlagsrør bestemmes ved en simulationsberegning ud fra en model, hvor man tilpasser værdierne af henholdsvis lagtykkelser og/eller densiteter optimalt.
DK200100644A 2001-04-24 2001-04-24 System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrör DK175850B1 (da)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DK200100644A DK175850B1 (da) 2001-04-24 2001-04-24 System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrör
EP02764048.1A EP1381826B1 (en) 2001-04-24 2002-04-22 System and method for the measurement of the layer thicknesses of a multi-layer pipe
US10/475,944 US7092486B2 (en) 2001-04-24 2002-04-22 System and method for the measurement of the layer thickness of a multi-layer pipe
PCT/DK2002/000260 WO2002086421A1 (en) 2001-04-24 2002-04-22 System and method for the measurement of the layer thicknesses of a multi-layer pipe

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DK200100644A DK175850B1 (da) 2001-04-24 2001-04-24 System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrör
DK200100644 2001-04-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DK200100644A true DK200100644A (da) 2002-10-25
DK175850B1 DK175850B1 (da) 2005-03-29

Family

ID=8160450

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK200100644A DK175850B1 (da) 2001-04-24 2001-04-24 System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrör

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7092486B2 (da)
EP (1) EP1381826B1 (da)
DK (1) DK175850B1 (da)
WO (1) WO2002086421A1 (da)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1375820B1 (en) * 2001-03-09 2005-11-30 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Steel pipe for use as embedded expanded pipe, and method of embedding oil-well steel pipe
EP1801536A1 (en) * 2005-12-23 2007-06-27 Uponor Innovation Ab Method of manufacturing a pipe and a pipe
FR2904421B1 (fr) 2006-07-28 2008-10-31 Areva Np Sas Procede de caracterisation non destructif, notammenent pour les particules de combustible nucleaire pour reacteur a haute temperature
WO2008039056A1 (en) * 2006-09-25 2008-04-03 Röntgen Technische Dienst Arrangement and method for non destructive measurement of wall thickness and surface shapes of objects with inner surface
CN102059257B (zh) * 2010-11-04 2012-10-03 天津市核人仪器设备有限公司 一种使用γ射线在线测量热轧金属管材壁厚的装置
TW201705047A (zh) * 2015-07-24 2017-02-01 Cliff Young Trading Co Ltd 影像式板體數量計數裝置及方法
US10168288B2 (en) * 2015-09-21 2019-01-01 General Electric Company System for radiography imaging and method of operating such system
EP4163588A1 (en) * 2021-10-08 2023-04-12 Tech Pro Packag S.L. Process and installation for manufacturing and inspecting metal containers
CN114279373B (zh) * 2021-12-15 2024-07-30 哈尔滨工业大学 一种测量碳氢燃料在冷却通道内产生结焦层厚度的系统、方法和设备

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL7906634A (nl) * 1979-09-05 1981-03-09 Philips Nv Inrichting voor het bepalen van lokale absorptie- verschillen in een objekt.
DE3123685A1 (de) * 1980-06-19 1982-03-18 Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa Verfahren zur wanddicken-messung von rohrfoermigen gegenstaenden
US4574387A (en) * 1981-09-18 1986-03-04 Data Measurement Corporation Apparatus and method for measuring thickness
US4560877A (en) * 1982-12-29 1985-12-24 General Electric Company Solid state detector module
DE3327267A1 (de) * 1983-07-28 1985-02-14 Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa Vorrichtung zur messung der wandstaerke eines rohrfoermigen teils
GB2146115B (en) 1983-09-07 1987-01-07 Fuji Electric Co Ltd Tube wall thickness
US4725963A (en) * 1985-05-09 1988-02-16 Scientific Measurement Systems I, Ltd. Method and apparatus for dimensional analysis and flaw detection of continuously produced tubular objects
DE3669928D1 (de) * 1985-07-12 1990-05-03 Siemens Ag Roentgendetektorsystem.
FR2587804B1 (fr) 1985-09-23 1988-06-17 Commissariat Energie Atomique Systeme de controle au defile, de pieces, par un rayonnement penetrant
US5414648A (en) * 1990-05-31 1995-05-09 Integrated Diagnostic Measurement Corporation Nondestructively determining the dimensional changes of an object as a function of temperature
GB9411468D0 (en) 1994-06-08 1994-07-27 Beta Instr Co Scanning apparatus
US6304626B1 (en) * 1998-10-20 2001-10-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Two-dimensional array type of X-ray detector and computerized tomography apparatus
DE69931253T2 (de) 1999-05-10 2007-02-22 Ge Inspection Technologies Gmbh Verfahren zum Messen der Wanddicke rohrförmiger Objekte

Also Published As

Publication number Publication date
US20060098774A9 (en) 2006-05-11
US20040234027A1 (en) 2004-11-25
EP1381826A1 (en) 2004-01-21
WO2002086421A1 (en) 2002-10-31
US7092486B2 (en) 2006-08-15
EP1381826B1 (en) 2015-05-27
DK175850B1 (da) 2005-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7356114B2 (en) X-ray fluorescence spectrometer
RU2397480C1 (ru) Детекторная решетка (варианты) и способ детектирования
EP3064931B1 (en) Quantitative x-ray analysis
CN102128845B (zh) Xrd和xrf的组合装置
JPS62184339A (ja) 配管を通つて流れる原油混合物中の種々の成分割合を測定する方法および装置
DK200100644A (da) System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrør
MX2008002212A (es) Metodos para determinar el tiempo de retardo y la separacion entre transductores en medidores ultrasonicos de flujo.
EP2684010A2 (de) Verfahren zur ultraschall-clamp-on-durchflussmessung und vorrichtung zur umsetzung des verfahrens
US7523676B2 (en) Ultrasonic flow rate measurement method and system
NO20064016L (no) Asimut gruppering av tetthets- og porositetsdata fra en jordformasjon
WO2009079311A3 (en) Apparatus and method for fluid phase fraction determination using x-rays optimized for wet gas
CA2653375A1 (en) Borehole imaging and standoff determination using neutron measurements
CN108872386A (zh) 混凝土强度超声波角测法检测的校正方法
CN106970098A (zh) 应力解析装置、方法以及程序
KR101566297B1 (ko) 기설정된 변형률-변위 계수를 이용하여 실측 변형률을 변위로 추정하는 시스템 및 그 방법
Funsten et al. Absolute detection efficiency of space-based ion mass spectrometers and neutral atom imagers
DK171779B1 (da) Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil
Piana et al. Dynamic and acoustic properties of a joisted floor
JP2011196753A (ja) 放射線測定方法
Castoldi et al. Experimental qualification of a novel x-ray diffraction imaging setup based on polycapillary x-ray optics
JPH08289886A (ja) X線装置およびkエッジフィルタ
Haugh et al. Measuring the x-ray resolving power of bent potassium acid phthalate diffraction crystals
Mosey et al. Development and implementation of calibration process for Full Matrix Capture
JPS6234051A (ja) 鉄筋又は鉄骨鉄筋コンクリ−ト構造物におけるaeの計測方法
RU2379662C1 (ru) Рентгенофлуоресцентный анализатор компонентного состава и покомпонентного расхода трехкомпонентного потока

Legal Events

Date Code Title Description
PBP Patent lapsed

Effective date: 20180424