DK165074B - Proeve med gennempletterede huller, til brug ved mikroskopundersoegelse, samt fremgangsmaade ved tilvirkning af en saadan proeve - Google Patents
Proeve med gennempletterede huller, til brug ved mikroskopundersoegelse, samt fremgangsmaade ved tilvirkning af en saadan proeve Download PDFInfo
- Publication number
- DK165074B DK165074B DK632887A DK632887A DK165074B DK 165074 B DK165074 B DK 165074B DK 632887 A DK632887 A DK 632887A DK 632887 A DK632887 A DK 632887A DK 165074 B DK165074 B DK 165074B
- Authority
- DK
- Denmark
- Prior art keywords
- diameter
- rod
- hole
- sample
- holes
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/36—Embedding or analogous mounting of samples
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Medicinal Preparation (AREA)
- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
- Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)
Description
UIV IbOU/^B
Opfindelsen angår prøver, der skal underkastes en mikroskropundersøgelse, navnlig printpladeprøver.
Sådanne prøver består af en plade med gennempletterede huller. Opfindelsen angår også en fremgangsmåde ved til-5 virkning af sådanne prøver.
Printpladerne og især metaltykkelsen i de gennempletterede huller kontrolleres ved mikroskopundersøgelse af en snitflade, der indeholder diameteren i det hul, der skal kontrolleres. Med henblik herpå må 10 snitfladen falde nøjagtigt sammen med hullets akse.
Struers' publikation "Structure 10", april 1985, fig. 4, forklarer matematisk den meget høje præcision, der kræves, og angiver, hvorledes den kan opnås ved en prøvetilvirkningsmetode, som går ud på på forhånd at bore 15 referencehuller i pladerne, at anbringe to stave i disse huller, at hænge pladerne gennem stavene op over en støbeform, at fylde støbeformen med støbeharpiks op til et niveau under stavene, at bringe harpiksen til at hærde, at fjerne prøven fra støbeformen, at fjerne 20 stavene, og at foretage afslibning og polering af prøven ind til hullerne.
For at lykkes, kræver denne metode stor præcision i placeringen og diameteren af disse referencehuller, som ikke har anden funktion. Positionerings-25 stavene skal have meget snævre tolerancer således, at prøverne kan placeres korrekt i støbeformen. De er så vanskelige at fjerne efter indstøbningen, at man har måttet udvikle et specielt udstyr, såkaldt "stav-extraktor". Udover disse vanskeligheder under prøvetil-30 virkningen støder man også på den alvorlige ulempe, at operatøren ingen mulighed har for at se, om operationerne foregår korrekt. Han må derfor stole blindt på sin færdighed og på udstyret. Det kan derfor hænde, at han må kassere gode plader, simpelthen fordi præ-35 parationen ikke har været korrekt, eller sjældnere tro, at fejlbehæftede plader er gode, medens snitfladen ikke 2
DK 165074 B
er den korrekte.
Opfindelsen afhjælper disse ulemper ved en prøve, der præpareres ved en enklere metode, som er hurtigere og sikrere end den hidtil anvendte metode. Især 5 kan operatøren straks, med det blotte øje, se at en prøve ikke er blevet korrekt præpareret og navnlig se, at den snitflade, der skal undersøges i mikroskop ikke er den korrekte.
Opfindelsen angår således en prøve til mikro-10 skopundersøgelse, hvilken prøve omfatter en harpiksindstøbt plade udformet med et gennempletteret hul. I henhold til opfindelsen er en ligeledes harpiksindstøbt kontroldorn, hvis cylindriske stav har en diameter en smule mindre end diameteren af hullet, indsat i dette 15 hul.
Ved at se på snitfladen, kan operatøren straks konstatere om staven er til stede over hele den aksiale længden af hullet. Hvis dette ikke er tilfældet, er snitfladen ikke vinkelret på prøvens symmetriakse.
20 Der er begået en fejl og der må præpareres en ny prøve.
I henhold til en hensigtsmæssig udførelsesform er kontroldornen udformet med et cylindrisk hoved af diameter større end diameteren af staven og med længdeakse sammenfaldende med stavens akse. Nu kan operatøren 25 i snitfladen ikke alene se staven men også snitfladen i selve hovedet. Når snit formen er som trapez i stedet for at være rektangulær, indikerer dette, at prøven af samme grund som ovenfor ikke er korrekt præpareret.
Hvis bredden af hovedets snitflade, dvs. dimensionen 30 vinkelret på stavens akse, er mindre end hovedets oprindelige diameter, indikerer dette, at .snitplanet er parallelt med det ønskede plan og der må præpareres en ny prøve.
I henhold til endnu en udførelsesform for op-35 findelsen, kan kontroldornen være udformet med et
DK 165074B
3 hoved, hvoraf i det mindste det bort fra staven vendende endeparti er kegleformet. Nu kræver afkontrolleringen ikke længere en sammenligning af dimensionerne af snitfladen i hovedet, men kun en formmæssig sammen-5 ligning. Snitfladen er ikke den korrekte, hvis toppen af keglen ikke ses.
Kontroldornen, som her er en éngangsdorn, og som forbliver i indstøbningen, afslibes sammen med prøven og giver således mulighed for at kontrollere opera-10 tioneme. Til endnu bedre afkontrollering af prøven er det yderligere hensigtsmæssigt at indsætte to kontroldorne i nærved hinanden beliggende huller således, at deres hoveder befinder sig på samme side af pladen. Snitfladen i de to hoveder skal da have samme størrelse og/eller må top-15 pen på begge kegler kunne ses. Hvis ikke dette er tilfældet, indikerer det at snitplanet ikke er vinkelret på symmetriaksen og der må præpareres en ny prøve.
Opfindelsen angår også en fremgangsmåde, hvor pladen anbringes i en støbeform, som har en symmetri-20 akse således, at hulaksen ligger vandret, og hvor støbeformen fyldes med støbeharpiks, som bringes til at hærde med henblik på opnåelse af en indstøbt prøve, hvorpå prøven afslibes frem til det plan, der strækker sig vinkelret på symmetriaksen og indeholder det ene huls 25 diameter, hvilken fremgangsmåde er ejendommelig ved, at der forud for anbringelsen af pladen i støbeformen indsættes permanent i hullet staven på en kontroldorn bestående af nævnte stav med diameter en smule mindre end huldiameteren, og at et hoved, der har samme 30 akse som staven og en diameter større end diameteren af staven.
Ved at indsætte to kontroldorne i hver sin retning i to huller får man sikkerhed for, at pladen bæres vandret i bunden af støbeformen ved hjælp af 35 kontroldornene, hvis hoveder har ens diameter.
Ved at indsætte to kontroldorne i samme retning udelukker man enhver mulighed for, at et forkert 4
DK 165074B
snitplan kan betragtes som værende korrekt.
Kontroldornene kan hensigtsmæssigt bestå af messing eller aluminium, og være farvet forskelligt alt efter stavdiametrene. På denne måde er det nemmere 5 at identificere kontroldorne til forskellige huller.
Man kan kontrollere flere plader på én gang, når de anbringes på de samme kontroldorne.
Indstøbningsharpiksen er fortrinsvis en transparent harpiks, f.eks. metakrylatharpiks.
10 Opfindelsen forklares nærmere i det følgende under henvisning til den skematiske tegning, hvor fig. 1 illustrerer perspektivisk det første trin i fremgangsmåden ifølge opfindelsen, fig. 2 viser den i støbeformen indstøbte prøve, 15 idet støbeformens frontplade her er fjernet, fig. 3 prøven efter afslibning ind til et plan, der indeholder hullernes diametre, fig. 4 et billede af kontroldornen med angivelse af tre snitplaner svarende til fig. 5,6 og 7, og 20 fig. 5-7 snitbilleder af prøven afslebet i de forskellige i fig. 4 angivne planer.
I henhold til fig. 1 undersøger man printpladerne 1 og 2 simultant. Hver printplade har elleve huller 3, der er gennempletterede. Der indsættes kontroldor-25 ne i tre af disse huller 3. Hver kontroldorn består af en stav 4 af diameter en smule mindre end den diameter et hul 3 bør have, når det er gennempletteret i den korrekte metaltykkeIse. Den ene ende af staven har et cylindrisk hoved 5 af væsentlig større diameter end 30 hullet og dette hoved afsluttes af et kegleformet parti 6. Kontroldornene er ensformede. Da de cylindriske hoveder 5's radius er større end afstanden fra hullernes centerlinie til kanten af den pågældende printplade vil printpladen 1 og 2 35 holdesi perfekt vertikal stilling ved hjælp af disse kontroldorne. Hvis den ene dorn ikke kan føres i et hul, må pladen kasseres. Hvis der er for stort et spillerum mellem staven 4 og huldiameteren således, at 5 pladen hælder fra vertikalen, må pladen også kasseres.
Det næste trin i fremgangsmåden går ud på at anbringe det i fig. 1 viste arrangement i bunden af 5 en vandret liggende støbeform 7. Denne støbeform har en symmetriakse X,X', der kan være omdrejningsakse. Støbeformen fyldes med støbeharpiks 8, der f.eks. kan være transparent. Harpiksen bringes til at hærde med henblik på indstøbning af prøven, der der-10 efter tages ud fra støbeformen.
Det sidste trin i fremgangsmåden går ud på at foretage afslibning af den indstøbte prøve ind til det plan, der indeholder huldiameteren og strækker sig vinkelret på symmetriaksen X,X'. Da opnår man den i 15 fig. 3 viste prøve, som kan undersøges i mikroskop.
I fig. 5 er snitplanet ikke det korrekte plan. Staven 4 træder ikke frem i hullet 3. Det cylindriske hoved 5 har meget mindre diameter end hvad det bør have, og toppen af det kegleformede parti 20 mangler.
I fig. 6 er snitplanet heller ikke korrekt.
Det cylindriske hoved 5 har stadigvæk ikke de fornødne dimensioner og toppen af det kegleformede parti 6 mangler stadigvæk.
25 I fig. 2 er snitplanet korrekt.
Af det foregående fremgår det således, at hvis snitplanet ikke er korrekt, men indeholder dog aksen i den ene dorn, vil det ikke indeholde aksen i en anden dorn, således at en af kontroldornene vil bevise, at 30 planet ikke er det korrekte plan, eller staven vil blive afskåret, således at planet også i dette tilfælde er det forkerte plan.
35
Claims (9)
1. Prøve til mikroskopundersøgelse og af den art, der omfatter en harpiksindstøbt plade (1) udformet med et gennempletteret hul (3), kendetegnet 5 ved en ligeledes harpiksindstøbt kontroldorn, hvis cylindriske stav (4) af diameter en smule mindre end diameteren af hullet (3) er indsat i dette hul.
2. Prøve ifølge krav 1, kendetegnet ved, at kontroldornen er udformet med et cylindrisk 10 hoved (5) af diameter større end diameteren af staven (4) og med længdeakse sammenfaldende med stavens akse.
3. Prøve ifølge krav 1 eller 2, kendetegnet ved, at kontroldornen er udformet med et hoved, hvoraf i det mindste det bort fra staven ven- 15 dende endeparti (6) er kegleformet.
4. Prøve ifølge krav 1 eller 3, og hvor pladen har mindst to huller, kendetegnet ved to ligeledes harpiksindstøbte kontroldorne, der er indsat i to huller således, at deres hoveder befinder sig 20 på hver sin side af pladen.
5. Prøve ifølge et eller flere af kravene 1-4, og hvor pladen har mindst to huller, kendetegnet ved to i hver sit hul indsatte kontroldorne således, at deres hoveder befinder sig på den samme side af 25 pladen.
6. Prøve ifølge krav 4 eller 5, kendetegnet ved, at den er skåret eller snittet i det plan, der indeholder de to kontroldornes akser.
7. Fremgangsmåde ved tilvirkning af en prøve 30 ifølge ethvert af kravene 1-6, og hvor pladen anbringes i en støbeform, som har en symmetriakse således, at hulaksen ligger vandret, og hvor støbeformen fyldes med støbeharpiks, som bringes til at hærde med henblik på opnåelse af en indstøbt prøve, hvorpå prøven 35 afslibes frem til det plan, der strækker sig vinkelret DK 165074 B på symmetriaksen og indeholder det ene huls diameter, kendetegnet ved, at der forud for anbringelsen af pladen i støbeformen indsættes permanent i hullet staven på en kontroldorn bestående af nævnte stav 5 med diameter en smule mindre end huldiameteren, og af et hoved, der har samme akse som staven og en diameter større end diameteren af staven.
8. Fremgangsmåde ifølge krav 7, kendetegnet ved, at der indsættes mindst to kontroldorne 10. samme retning i mindst to huller.
9. Fremgangsmåde ifølge krav 7, kendetegnet ved, at der indsættes mindst to kontroldorne i hver sin retning i mindst to huller.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8617062A FR2607928B1 (fr) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | Echantillon a percage muni d'un revetement destine a etre examine au microscope et son procede de preparation |
FR8617062 | 1986-12-05 |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DK632887D0 DK632887D0 (da) | 1987-12-02 |
DK632887A DK632887A (da) | 1988-06-06 |
DK165074B true DK165074B (da) | 1992-10-05 |
DK165074C DK165074C (da) | 1993-02-15 |
Family
ID=9341620
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DK632887A DK165074C (da) | 1986-12-05 | 1987-12-02 | Proeve med gennempletterede huller, til brug ved mikroskopundersoegelse, samt fremgangsmaade ved tilvirkning af en saadan proeve |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4833913A (da) |
EP (1) | EP0280822B1 (da) |
JP (1) | JPS63149538A (da) |
AT (1) | ATE58597T1 (da) |
DE (1) | DE3766361D1 (da) |
DK (1) | DK165074C (da) |
ES (1) | ES2018563B3 (da) |
FR (1) | FR2607928B1 (da) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110774351B (zh) * | 2019-09-24 | 2021-10-12 | 惠州市金百泽电路科技有限公司 | 一种厚型无内定位光模多模组件连接器的加工方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2494834A (en) * | 1945-07-10 | 1950-01-17 | Richard S Ringheim | Mounted specimen |
US2776596A (en) * | 1952-07-28 | 1957-01-08 | Eigen Morris | Preparation and mounting of specimen sections |
JPS5335163A (en) * | 1976-09-14 | 1978-04-01 | Hitachi Chemical Co Ltd | Method of producing printed circuit board substrate having through hole from metallic material |
-
1986
- 1986-12-05 FR FR8617062A patent/FR2607928B1/fr not_active Expired
-
1987
- 1987-10-13 ES ES87402284T patent/ES2018563B3/es not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-13 AT AT87402284T patent/ATE58597T1/de not_active IP Right Cessation
- 1987-10-13 EP EP87402284A patent/EP0280822B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-13 DE DE8787402284T patent/DE3766361D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-11-16 US US07/120,850 patent/US4833913A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-02 JP JP62303461A patent/JPS63149538A/ja active Pending
- 1987-12-02 DK DK632887A patent/DK165074C/da not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3766361D1 (de) | 1991-01-03 |
DK632887D0 (da) | 1987-12-02 |
FR2607928A1 (fr) | 1988-06-10 |
FR2607928B1 (fr) | 1989-02-17 |
US4833913A (en) | 1989-05-30 |
EP0280822B1 (fr) | 1990-11-22 |
JPS63149538A (ja) | 1988-06-22 |
ATE58597T1 (de) | 1990-12-15 |
DK632887A (da) | 1988-06-06 |
ES2018563B3 (es) | 1991-04-16 |
EP0280822A1 (fr) | 1988-09-07 |
DK165074C (da) | 1993-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4082421A (en) | Device for coupling two light conducting fiber cables | |
KR900002494B1 (ko) | 인쇄회로기판의 단면분석 방법 및 장치 | |
US2776596A (en) | Preparation and mounting of specimen sections | |
DK165074B (da) | Proeve med gennempletterede huller, til brug ved mikroskopundersoegelse, samt fremgangsmaade ved tilvirkning af en saadan proeve | |
US4809609A (en) | Method of directly mounting a printing plate on plate cylinder and the plate cylinder and register pins used in said method | |
US4005651A (en) | Apparatus for orienting patterns provided on masks for serigraphy | |
US2603922A (en) | Lens blocking device | |
CN207807862U (zh) | 用于保持待加工的注塑样板的夹具 | |
US5887350A (en) | Trimming and shaping tool for billiard cue sticks | |
US3110141A (en) | Method for making articles | |
US10518395B2 (en) | Cuff-blade attachment bushing removal | |
US20220214151A1 (en) | Projectile alignment and securement device | |
US2317925A (en) | Gauge | |
CN108766394B (zh) | 一种吉他的智能调音装置及智能调音方法 | |
CN108080565B (zh) | 三轴雕刻机雕刻挡板槽帮消失模模型拆分系统 | |
KR200180302Y1 (ko) | 샘플링 조직의 미세 배열장치 | |
CN221044970U (zh) | 取样拭子及取样组件 | |
US1857968A (en) | Pallet holder | |
US1902180A (en) | Gauge for determining pitch of propeller blades | |
CN215847133U (zh) | 一种加工内机匣叶片槽找正角向定位的工装 | |
CN117921116A (zh) | 一种零件线切割的装夹装置及加工方法 | |
CN115008340A (zh) | 一种pcb板的切片研磨方法 | |
NO840265L (no) | Apparat for innbyrdes sentrering av endene av to optiske fibre som skal forbindes | |
US1364196A (en) | Apparatus for making propellers | |
US2933829A (en) | Scale model assembly jig |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PBP | Patent lapsed |