DE976013C - Halbleiteranordnung - Google Patents

Halbleiteranordnung

Info

Publication number
DE976013C
DE976013C DES38793A DES0038793A DE976013C DE 976013 C DE976013 C DE 976013C DE S38793 A DES38793 A DE S38793A DE S0038793 A DES0038793 A DE S0038793A DE 976013 C DE976013 C DE 976013C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement according
semiconductor arrangement
semiconductor
voltage
elements
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES38793A
Other languages
English (en)
Inventor
Walter Dr Schottky
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DES38793A priority Critical patent/DE976013C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE976013C publication Critical patent/DE976013C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/10Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material voltage responsive, i.e. varistors
    • H01C7/12Overvoltage protection resistors; Arresters
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Thyristors (AREA)

Description

  • Halbleiteranordnung Es ist bekannt, elektrische Geräte gegen Hochspannungsstöße oder Wanderwellen u. dgl. durch eine Gle chrichteranordnung zu schützen, die aus einer Gegeneinanderschaltung einer Anzahl von Gleichrichterelemen.ten, insbesondere Selenzellen, besteht. Dazu ist jedoch wegen der verhältnismäßig geringen Sperrspannung eines Selengleichrichters bei mittleren und höheren Betriebsspannungen eine verhältnismäßig große Anzahl von Gleichrichterelementen erforderlich.
  • Demgegenüber wird erfindungsgemäß eine Vereinfachung und Verbesserung dadurch erzielt, daß die Gleichrichterano#rdnung aus Halbleitern mit innerhalb ein und desselben Stoffes, z. B. Germanitnn oder Silizium, vorhandenen Übergang von nnach p-Leitung besteht und in Reihe mit einer an sich bei überspannungsablei.tern bekannten Löschfunkenstrecke liegt. Der Vorteil liegt hierbei nicht nur darin, daß wegen der höheren Sperrspannung eine geringere Anzahl Gleichrich.terelemente erforderlich ist, sondern auch in dem für den vorliegenden Zweck günstigeren Kennlinienverlauf solcher Gleichrichter mit p-n- bzw. p-i-n-Übergang, zumal dadurch die Reihenschaltung einer Löschfunkenstrecke während des -Normalbetriebes jede Spannungsbeanspruchung von der Gleichrichteranordnung ferngehalten wird.
  • Für die Festlegung der Anzahl hintereinandergeschalteter Übergänge wird vorteilhaft von folgenden Erwägungen ausgegangen: Die Kennlinie einer Reihenschaltung von Gle:ichrichterelemen.ten, die in Sperrichtung beansprucht werden, ist außer in der unmittelbaren Umgebung des Spannungsnullwertes durch eine T, U-Beziehung zwischen Strom und Spannung gegeben, die sich von der Sperrlinie J, U, eines elementarem Gleichrichters nur dadurch unterscheidet, daß U = n.Ue an Stelle von U, einzusetzen ist, wobei n die Zahl der in gleicher Richtung hintereinandergeschalteten Gleichrichterelemente bedeutet. Da sich die an einen überspannungsableiter zu stellenden Forderungen durch Aussagen darstellen lassen, welche sich auf die relative Stromerhöhung bei einer relativen Spannungserhöhung beziehen, lassen sich diese Forderungen dann. erfüllen, wenn die einzelne Sperrkennlinie denselben relativen Anforderungen genügt. Durch geeignete Wahl von n kann man dann jeden gewünschten absoluten Spannungsbereich überdecken. Bezüglich der absoluten Stromstärken könnte man durch passende Wahl des Leitungsquerschnitts ebenfalls grundsätzlich alle Forderungen erfüllen. Praktisch -sind aber zu große Querschnitte aus Raum- und Preisgründen, zu kleine Querschnitte wegen zu höher Selbsterhitzung zu vermeiden, so daß für die absoluten Stromdichten besondere Bedingungen zu erfüllen sind, die auf etwa 3 A/cm2 für den schwach spannungsbelasteten Zustand hinauslaufen, während bei Verdoppelung dieser Spannung etwa i5o A/cm2 kurzzeitig die Anordnung durchfließen müssen, so daß sich der Leitwert J/U in diesem Bereich bei Verdoppelung von U auf etwa den 25fachen Wert erhöhen muß. Das gleiche gilt dann auch für die Einzelkennlinie: Bei Verdoppelung der zu 3 A/cm2 führenden Einzelspannung U, muß TIU, auf den 25fachen Wert steigen; erwünscht ist natürlich ein solcher Anstieg für eine noch kleinere relative Vergrößerung von U, Allgemein zeigen die Sperrkesmlinien der bekannten Gleichrichter zwischen 9", = o und einer kritischen Spannung Uk, die bei den verschiedenen Typen zwischen io-1 und io3 V variiert, einen Abfall von JIUe statt des verlangten Anstiegs. Darüber hinaus beginnt aber ein sich zunehmend steigernder Anstieg des Leitwertes, und der wesentliche erfinderische Gedanke besteht demgemäß darin, durch geeignete Wahl von n und dem Gleichrichtertyp dafür zu sorgen, daß für den jeweils nach einem Blitzdurchschlag gegebenen Fall der Schwachbelastung durch die Betriebswechselspannung deren Scheitelwert Uem ;. Uk wird, während bei Hochbelastung durch die Überspannung deren Maximalwert U, ' 2 Ue o auftritt und hierbei der Leitwert auf das mindestens 25fache gestiegen sein müßte. Günstig ist hierbei, wenn Uk.- : U, o in der Größenordnung von log V liegt, weil dann einerseits die Zahl der verlangten Einzelgleichrichter nicht zu groß und anderseits die Belastung der einzelnen Gleichrichter nicht zu hoch ist. Der oberhalb Uk auftretende Leitwertanstieg ist hierbei bei Randschichtgleichrichtern (Kontakt Halbleiter/Metall) wahrscheinlich durch erhöhte Feldemission des Metalls zu erklären, während bei Invers.ionsgleichrichtern (p, n-Typ) die im Feld auftretende Paarbildung (Zehnereffekt oder Sekundärionisierung) für den Anstieg verantwortlich gemacht wird. Beide Effekte ergeben, für die Gleichrichterschicht selbst, einen sich immer weiter steigernden Steilanstieg von JIUe; dieser kann nur dadurch verlangsamt werden, daß sich -schließlich der Bahnwiderstand bemerkbar macht, der deshalb möglichst gering zu halten ist.
  • In Fig. i ist der relative Gang des Leitwertes für einen Gleichrichter mittlerer Sperrspannungsfestigkeit schematisch dargestellt; Ul, ist hierbei gleich etwa 2o V angenommen, U, o etwas größer, und der 25fache Leitwert ist bei einer um etwa 30% höheren Spannung U" erreicht.
  • Die Verwirklichung derartiger Kennlinien ist z. B. durch Germaniumgleichrichter vom p, n-Typ möglich, wo Ulz Werte bis iooo eV realisierbar sind Gewisse Schwierigkeiten treten hier noch hinsichtlich der Erwärmung auf. Völlige Sicherheit in dieser, Beziehung besteht jedoch, wenn p, n-Gleichrichter - benutzt werden, deren Uk-Wert in oder -einige hundert Volt beträgt, was durch Versteilcrung des Ganges der p- und n-Störstellen gegenüber dem genannten Fall zu erreichen wäre. Hierbei werden zugleich die absoluten Stromdichten größer. so daß das Erreichen von i5oA/cm2 möglich ist.
  • Ein weiterer wesentlicher Schritt zur Erzielung größerer Absolutstromdichte bei nur wenig verminderter Spannungsfestigkeit besteht darin, daß an Stelle des Germanium-p, n-Gleichrichters andere p, n-Gleichrichter verwendet werden, deren Substanz eine geringere Paarbildungsarbeit (Breite des verbotenen Bandes) als Ge besitzen. Hier wäre erfindungsgemäß an die halbleitenden Verbindungen von Elementen der III. und V. Gruppe des Periodischen Systems zu denken, die eine Paarbildungsarbeit E unterhalb des Germaniumwertes (0,76 eV) besitzen. Optimal scheinen etwa E-Werte von o,5 bis o,6 eV in Frage zu kommen.
  • Um den aus solchen Elementen bestehende Überspannungsableiter beim Einsatz in Wechselstromnetzen für beide möglichen Stromrichtungen im Gebiet der Sperrspannung arbeiten zu lassen, hat mass gleich viele Elemente entgegengesetzter Polarität hintereinanderzuschalten; die jeweils in Flußrichtung beanspruchten Elemente tragen hierbei zu der effektiven Gesanitkenilinie praktisch nichts bei.
  • Bei der Hintereinanderschaltung von Gleichr ichterelemeiten der erwähnten Art kann weiter erfindungsgemäß von der bekannten besonders raumsparenden Anordnung Gebrauch gemacht werden, bei der, nach einem neueren Vorschlage, mit Störstellen dotierbare Kristalle, wie Ge, Si oder die AIII-BV-Verbindungen, in einer dünnen besonders störstellenarmen Schicht hergestellt werden und auf beiden Seiten dünne Schichten zweier in entgegengesetztem Sinne dotierender Metalle, wie z. B. Sb und In bei Ge-Gleichrichtern, aufgeschmolzen werden. Indem man in Wechselstromnetzen derartige Schichten mit der gleichen Metallseite, z. B. Sb auf Sb, In auf In, aufeinanderpackt, werden. besondere Verbindungen zwischen den einzelnen Elementen unnötig.
  • Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung besteht darin, daß die bei U0@ ioo V noch notwendige Vielfach-Hintereinanderschaltung der einzelnen Sperrkenilinien, zugleich mit der Erzeugung von Sperrschichten entgegengesetzter Strompolarität, dadurch verwirklicht wird, daß innerhalb desselben Kristalls p- und n-Schichten einander in regelmäßigen Abständen von etwa ioo #t aufeinanderfolgen. Die Störstellendichten sind hierbei in den jeweili-g e n Maxima so hoch zu wählen, daß ihre Raumladungen innerhalb von Schichtdicken von etwa io #t Spannungsänderungen von der Größenordnung ioo V hervorzurufen vermögen. Dazu ist eine Störstellendichte isst von etwa io17/cm2 erforderlich, die durchaus im üblichen Rahmen liegt. Damit würde sich etwa eine Störstellenverteilung gemäß Fig. 2 ergeben, in der die Kurve für die NSt Störstellen mit einer ausgezogenen und die Kurve für die Pst Störstellen mit einer gestrichelten Linie beispielsweise dargestellt ist.
  • Der Vorteil dieser Anordnung gegenüber der Zusammenschaltung von einzelnen p-n-Gleichrichtern besteht noch darin, daß die Strombelastung auch im hochbeanspruchten Zustand annähernd gleichmäßig über das ganze Volumen verteilt ist, so daß keine lokalen Überhitzungen auftreten; ferner sind die bei Einzelgleichrichtern hinzukommenden Bahn- und Elektrodenwiderstände, deren Eigenschaften die Sperrkennlinie verschlechtern würden, auf ein Minimum reduziert.
  • Ferner ist die angegebene Periodenlänge (etwa Zoo u) und Absolutdichte der Störstellenverteilung auch ausreichend, um einen aus der Wirkungsweise der n-p-n-Transistoren bekannten Effekt zu vermeiden, der in der vorgeschlagenen Anordnung als Überschwemmung der in Sperrichtung betriebenen Teilschichten durch, die aus der vorangehenden, in Flußrichtung betriebenen Teilschichten eingeschwemmten Ladungsträger in Erscheinung treten würde. Dieser Effekt würde: die Sperrfähigkeit der sperrenden Schichten beeinträchtigen und ist daher erfindungsgemäß dadurch zu vermeiden, daß die Periodenlänge groß gegen die in den Gebieten maximaler Störstellendichte maßgebenden Diffusionslängen derjenigen Ladungsträger gemacht wird, deren Einschweinmung in die sperrenden Schichten vermieden werden muß.
  • Bei Verwendung in Gleichstromhetzen ist statt einer Gegeneinanderschaltung von yt Gleichr ichterelementen in jeder Richtung lediglich eine Reihenschaltung von n Gleichrichterelementen in einer Richtung erforderlich, die so geschaltet werden, daß sie beim Ansprechen der Löschfunkenstrecke in Sperrichtung beansprucht werden.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Halbleiteranordnung, bestehend aus Halbleitern mit innerhalb ein und desselben Stoffes, z. B. Germanium oder Silizium, vorhandenem Übergang von n- nach p-Leitung, dadurch gekennzeichnet, daß eine Gegeneinanderschaltung einer Anzahl derartiger Halbleiterelemente nach Art einer für Überspannungsab@leiter an sich. bekannten Gegeneinanderschaltung von Gleichrichterelementen mit einer Löschfunkenstrecke in Reihe geschaltet und diese Reihenschaltung zwecks Verwendung als überspannungsableiter einer vor Überspannungen zu schützenden.elektrischen Einrichtung oder Anlage parallel geschaltet ist.
  2. 2. Halbleiteranordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils in einer Richtung so viele (n) Übergänge von n- nach p-Leitung hintereinandergeschaltet sind, daß der entsprechende (n-te) Anteil (U,0) jedes einzelnen in Sperrichtung beanspruchten Überganges an der normalen Betriebswechselspannung (Scheitelwert) über seiner kritischen Spannung (U1") liegt.
  3. 3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Sperrkennlinie so ausgestaltet ist und daß jeweils in einer Richtung so viele in Sperrichtung beanspruchte Übergänge hintereina.ndergeschaltet sind, da.ß unter höchstens dem doppelten Wert (2 U,0) der beanspruchenden Spannung eines Überganges der Leitwert mindestens 25mal so groß ist wie unter dem einfachen Wert (Ueo).
  4. 4.. Halbleiteranordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die kritische Sperrspannung der Halbleiterelemente in d:er Gr ößenordnung von io2 V je Element liegt.
  5. 5. Halbleiteranordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die p-n-Gleichrichter aus einer Verbindung von Elementen der III. und V. Gruppe des Periodischen Systems bestehen.
  6. 6. Halbleiteranordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die. Gleichrichtereleinente aus dünncii Kristallschichten geringen Stör stellengehalts bestehen, die auf beiden Seiten mit aufgeschmolzenen dünnen Metallelektroden versehen sind, welche den ihnen benachbarten Zonen der Kristallschicht beim Herütellungspro7eß einen auf beiden Seiten der Kristallschicht entgegengesetzt wirkenden Störstellengehalt zugeführt haben.
  7. 7. Halbleiteranordnung nach Anspruch i, gekennzeichnet durch Verwendung eines einheitlichen Halbleiterkristalls mit in regelmäßigen Abständen aufeina.nderfolgenden p- und n-Schichten. B. Halbleiteranordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der gegenseitige Abstand der p- und; n-Schichten jeweils etwa Zoo lt beträgt. g. Halbleiteranordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Störstellendichte im jeweiligen Maximum der Schichten so hoch ist, daß ihre Raumladungen bei Schichtdicken von etwa ro u Spannungen von der Größenordnung ioo @' aufzubauen vermögen. io. Halbleiteranordnung nach Anspruch und 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Störstellendichte im jeweiligen Maximum etwa io17/cm2 beträgt.
DES38793A 1954-04-22 1954-04-22 Halbleiteranordnung Expired DE976013C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES38793A DE976013C (de) 1954-04-22 1954-04-22 Halbleiteranordnung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES38793A DE976013C (de) 1954-04-22 1954-04-22 Halbleiteranordnung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE976013C true DE976013C (de) 1963-01-10

Family

ID=7483061

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES38793A Expired DE976013C (de) 1954-04-22 1954-04-22 Halbleiteranordnung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE976013C (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69418409T2 (de) Vierschicht-Überspannungsschutzdiode
DE69230362T2 (de) Konstantspannungsdiode, diese enthaltender Leistungswandler und Verfahren zur Herstellung einer Konstantspannungsdiode
DE2932152C2 (de)
DE1639052A1 (de) MOS-Halbleiteranordnung mit Durchschlagschutz
EP0992069B1 (de) Halbleiter-strombegrenzer
DE2506021A1 (de) Ueberspannungs-schutzschaltung fuer hochleistungsthyristoren
EP0978145B1 (de) Halbleiter strombegrenzer und deren verwendung
EP1252656B1 (de) Schutzanordnung für schottky-diode
DE2644654A1 (de) Halbleiterbauelement
DE1464983C2 (de) in zwei Richtungen schaltbares und steuerbares Halbleiterbauelement
WO1998049762A1 (de) Vorrichtung zum begrenzen elektrischer wechselströme, insbesondere im kurzschlussfall
DE1216435B (de) Schaltbares Halbleiterbauelement mit vier Zonen
DE3540433A1 (de) Integriertes mosfet-bauelement
DE2238564A1 (de) Thyristor
DE1539070A1 (de) Halbleiteranordnungen mit kleinen Oberflaechenstroemen
DE976013C (de) Halbleiteranordnung
DE69324952T2 (de) Wechselspannungsschalter
DE2104726A1 (de) Halbleiterbauelement
DE69308910T2 (de) Selbsttätig geschütztes Halbleiterschutzelement
DE1514061A1 (de) Unipolarhalbleiterbauelement
DE1539877A1 (de) Schaltbares Halbleiterbauelement
DE2128304A1 (de) Halbleiterbauelement
DE1197986B (de) Halbleiterbauelement mit mindestens vier Zonen abwechselnden Leitungstyps im Halbleiterkoerper
DES0038793MA (de)
EP0389942A1 (de) Hochsperrendes Halbleiterbauelement