DE8703044U1 - Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Leiterplatten - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 15
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 5
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 1
- 244000309464 bull Species 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R1/02—General constructional details
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- G01R1/073—Multiple probes
-
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- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
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Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE8703044U DE8703044U1 (de) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Leiterplatten |
DE19873739705 DE3739705A1 (de) | 1987-02-27 | 1987-11-24 | Vorrichtung zum pruefen elektronischer leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE8703044U DE8703044U1 (de) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Leiterplatten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8703044U1 true DE8703044U1 (de) | 1988-03-31 |
Family
ID=6805294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8703044U Expired DE8703044U1 (de) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Leiterplatten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE8703044U1 (fr) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1987
- 1987-02-27 DE DE8703044U patent/DE8703044U1/de not_active Expired
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