DE8600738U1 - Rauheitsprüfer - Google Patents
RauheitsprüferInfo
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/34—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
Die eine Lasche ist vorzugsweise in der Mitte des Hebels angeordnet, während die andere Lasche am Einspannpunkt
angeordnet ist. Hierdurch wird die dem Kristall zugeführte Kraft multipliziert, und gleichzeitig werden unerwünschte
Eigenresonanzen des Kristalls fast vollständig entfernt.
A» «·« · t έ έ
PATENTANWRUtE
EUROPEAN PATENT ATTORNEYS
SIEBERTSfRASSE 4 · BOOO MÜNCHEN Ββ · PHONE! (OBB) 47 XO 78
TELEX B29 4B3 VÖPAT D TEUEFAX (0B8) 47 SO OI (OR1 IUIII)
Ü 2 95 ÖM
Gase: 01. 55950 ^ Jaiiüar
Afctieselskabet Brüel & Kjae r
Ncus rum, Dänemark
Rauheitsprüfer
Die Neuerung betrifft ein elektromechanisches Meßsystem
zum Umformen kleiner Bewegungen in dazu proportionale ,'
elektrische Signale, insbesondere zur Messung von i(
Makro- und Mikröpifofilen von Oberflächen, wobei das |
Meßsystem eine in Verbindung mit dem einen Ende eines 1J
piezoelektrischen Kristalls ste5*onde Nadel Umfaßt, |
und die Signalspannung vom Kristall zu einem Verstärker |
und einem Anzeigeinstrument geführt wird. N
Aufgabe der Neuerung ist es, ein einfaches und dabei 1
sehr flexibles Meßsystem zu schaffen. ,
Diese Aufgabe wird neuerungsgemäß dadurch gelöst, daß die Nadel an einem Hebel befestigt ist, der seiner-
seits an einem federnd aufgehängten Gehäuse, das zum
Schutz der Nadel dient, und das für die Nadelbewegung Referenz
ist, befestigt ist.
Der Hebel oder Arm besteht vorzugsweise aus einer länglichen dünnen Platte mit eingebogenen, sich fast bis
zum Einspannpunkt des Hebels an der Platte erstreckenden Rändern, auf der Laschen zum Unterstützen des piezoelektrischen
Kristalls befestigt sind, z.B. im Plattenmaterial aufgestanzt.
• N 4 fr ( · t
Der1 Hebel kann vorteilhaft mit einem Block oder Klotz
am Gehäuse befestigt werden; wobei der Block an einer aufgestanzten Lasche befestigt ist und mittels einer
Stellschraube justierbar ist. 5
Hierdurch wird eine aus wenigen Teilen bestehende Nadelhängevorrichtung erreicht, die leiaht montierbar
ist.
Die Neuerung wird nachstehend an Hand der Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die Bauteile eines neuerungsgemäßen Raü heitsprüfers
in schematischer Darstellung,
Fig. 2a eine Draufsicht auf das Nadelgehäüse, Fig. 2b das Nadelgehäuse im Schnitt,
Fig. 2c das Nadelgehäuse im Schnitt in montierter und justierter Einbauposition,
Fig. 3a eine Draufsicht auf den im Nadelgehäuse angebrachten Hebel zum Unterstützen der Nadel,
Fig. 3b desgleichen im Schnitt, und
Fig. 4 eine perspektivische. Darstellung des Rauheitsprüfers.
Fig. 1 zeigt die Bauteile eines neuerungsgemäßen Rauheitsprüfers in schematischer Darstellung * Dieser umfaßt
eine am Ende des in Fig. 3 gezeigten Hebels 2 angebrachte Nadel 1. Am Hebel 2 ist ein piezoelektrischer
Kristall 3 befestigt, der Signale erzeugt, die zu Ausschlägen der Nadel 1 in aufwärts- und abwärtsgehender
Richtung während der Verschiebung des Rauheitsprüfers
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über die Fläche, deren Rauheit zu mesäen ist,
tionäl sind. Die Signale des piezoelektrischen Kristalls
werden zu einem Verstärker 4, einem Gleichrichter 5 e Und zu einem Integrator 6 geführt, der ca. alle vier Sekunden
; eine Integration durchführt. Das integrierte Signal wird
\ zu einem Anzeigeinstrument 7 geführt, welches vorzügs-
f weise eine Digitalanzeige aufweist. Bevor mit der Messung
ι angefangen wird, ist der -.Integrator 6 auf Null ZU Stellen
10 Und der piezoelektrische Kristall zu entladen. Während
der Messung selbst wird die Nadel 1 mittels eines kleinen Elektromotors, der im in Fig. 4 gezeigten Rauheitsprüfer
angebracht ist, über die betreffende Oberfläche geführt. Die Nadel 1 ist in einem an einem Ende federnd aufgehängten Gehäuse
.,- aufgehängt. Die Länge des Gehäuses beträgt ungefähr 46 mm. Das Gehäuse
weist nur eine kleine öffnung 8a. auf, aus der die Nadel 1 hervorragt. Die Nadel ist hierdurch vor Hindernissen
während der Verschiebung über die betreffende Fläche geschützt. Das Gehäuse 8 dient ferner ζ ur Befestigung der
Nadel 1 durch einen Hebel 2 mit einer Länge von ungefähr mm. Der Hebel 2 besteht aus einer-mit Löchern versehenen länglichen
Platte mit eingebogenen Rändern, die sich aber nicht ganz ibis zum Einspannpunkt 10 des Hebels am Gehäuse erstrecken. Die
Höhe der Ränder beträgt ungefähr lmm. Auf der Platte sind Laschen lla, 11b zum Unterstützen des piezoelektrischen Kristalls
25
3 befestigt , z.B. durch Nieten, Punkten oder Aufstanzen. Die Laschen
lla, 11b weisen eine Höhe von ungefä.hr 3,3 mm auf, während die Länge
des Kristalls 3 ungefähr 12,5 mm beträgt. Die eine Lasche lla ist in der Mitte des Arms angeordnet, während die andere Lasche 11b sich
am festen Einspannpunkt befindet. Die Ausschläge werden
30
vom Kristall 3 auf diese Weise abgetastet, und eine Multiplikation des der Nadel zugeführten Krafteinflusses
wird erreicht. Ein weiterer Vorteil der Verkürzung des piezoelektrischen Kristalls 3 ist, daß die Empfindlichkeit gegen
unerwünschte Vibrationen herabgesetzt wird. Der Hebel 2 wird am Gehäuse 8 durch einen Block 15 befestigt - vgl.
Fia 2 -, indem der Block 15 an einer Lasche 12 im Gehäuse
* III til
8 befestigt wird. Dei? Block kann danach mittels einer Stellschraube (in der Öffnung 13) zuir Einstellung der
waagerechten Position justiert Werden. Das Nadelgehäuse 8 selbst ist am Fahrgestell mittels Schrauben in den Öffnungen
14 befestigt, indem die eine Schraube vom Gehäuse isoliert
ist Und zur Weiterleitung des Signals vom Kristall 3 dient.
Auf diese Weise ist das Gehäuse durch Stanzen und Prägen
vöii verchromtem Berylliumkupf er einteilig herstellbar.
Der Hebel 2 ist infolge der eingebogenen Ränder imstande?
in der Längsrichtung Kräfte aufzunehmen. Vor der Messung } kann, falls erförderlich, eine Kontrollmessung auf einer
Referenzfläche bekannter Rauheit vorgenommen werden. Bei einer Nadelauf lagekraft von etwa 10~ N ist die Empfindlichkeit in
der beschriebenen Ausführungsform 0,1 Um.
Der Rauheitsprüfer ist ferner so ausgebildet, daß er beliebigen Oberflächen anpaßbar ist. Der Rauheits-
^ 20 prüfer ist mit Gleitschuhen von im Verhältnis zur Wellenlänge
der Oberfläche großem Krümmungsradius versehen, so
j§ daß das Gehäuse sich fast nicht in Abhängigkeit von
der Rauhigkeit der Oberfläche bewegt, und deshalb füi". die
Nadelbewegungen als Referenz dienen kann. 25
Der gesamte Rauheitsprüfer weist die Dimensionen
6 χ 2 χ 14 cm auf und ist deshalb in einer Tasche leicht
unterzubringen.
30
35
Claims (1)
1. Elektromechanisches Me^system zum Umformen kleiner
Bewegungen in dazu proportionale elektrische Signale, ir.sberondere zur Messung von Makro-
und Mikroprof ilen von Oberflächen, wobei das MejSsystem
eine i.n Verbindung mit einem Ende eines piezoelektrischen Kristalls (3) stehende Nadel (1) aufweist,
und die Signalspannung vom Krista3.1 (3) zu einem Verstärker (4) und einem Anzeigeinstrument(71 geführt wird,
dadurch gekennzeichnet, da/3 die Nadel (1) an einem Hebel (2) befestigt ist, der seinerseits
an einem federnd aufgehängten Gehäuse (8), zum Schutz der Nadel (1) befestigt ist.
2· Elektromechanisches Meßsystem nach Anspruch 1, dadurch
*5 ' gekennzeichnet, daß der Hebel (2) aus einer
länglichen dünnen Platte mit eingebogenen, sich fast bis zum Einspannpunkt (10)des Hebels (2) am Gehäuse
(8) erstreckenden Rändern besteht.
^' Elektramechaniäches Meßsystem nachAnspruch 1 oder 2>
dadurch gekennzeichnet, daß Laschen (Ha, lib) zum Unterstützen
des piezoelektrischen Kristalls (3) auf der
Platte befestigt sind«
· Eüektromechaniäches Meßsystem nach Anspruch 3, dadurch ge-
· Eüektromechaniäches Meßsystem nach Anspruch 3, dadurch ge-
kennzeichnet, da£ die erste Lasche (lla)
in der Nähe der Mitte des Hebels (2) angeordnet ist, während die zweite Lasche (lib) am Einspannpunkt (1O)
angeordnet ist.
Elektromechanisches Meßsystem nach den Ansprüchen 1bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Hebel (2) mit einem Block (15) am Gehäuse (8) befestigt ist, wobei der Block an einer Lasche(12)
befestigt und mittels einer Stellschraube (13) justierbar ist.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19868600738 DE8600738U1 (de) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | Rauheitsprüfer |
JP20419786U JPS62115101U (de) | 1986-01-14 | 1986-12-27 | |
FR8700341A FR2592949B3 (fr) | 1986-01-14 | 1987-01-14 | Systeme de mesure electromecanique pour la conversion de faibles deplacements en signaux electriques proportionnels, notamment sous forme d'un rugosimetre |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19868600738 DE8600738U1 (de) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | Rauheitsprüfer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8600738U1 true DE8600738U1 (de) | 1986-02-20 |
Family
ID=6790532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19868600738 Expired DE8600738U1 (de) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | Rauheitsprüfer |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62115101U (de) |
DE (1) | DE8600738U1 (de) |
FR (1) | FR2592949B3 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ITUA20164608A1 (it) * | 2016-06-23 | 2017-12-23 | Marposs Spa | Comparatore elettronico per la misura di dimensioni lineari |
DE10084566B4 (de) | 1999-05-14 | 2019-08-08 | Taylor Hobson Ltd. | Metrologisches Instrument |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2885545B1 (fr) * | 2005-05-13 | 2007-08-10 | Briot Internat Sa | Outil d'etalonnage et machine de meulage comportant un tel outil |
-
1986
- 1986-01-14 DE DE19868600738 patent/DE8600738U1/de not_active Expired
- 1986-12-27 JP JP20419786U patent/JPS62115101U/ja active Pending
-
1987
- 1987-01-14 FR FR8700341A patent/FR2592949B3/fr not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10084566B4 (de) | 1999-05-14 | 2019-08-08 | Taylor Hobson Ltd. | Metrologisches Instrument |
ITUA20164608A1 (it) * | 2016-06-23 | 2017-12-23 | Marposs Spa | Comparatore elettronico per la misura di dimensioni lineari |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62115101U (de) | 1987-07-22 |
FR2592949B3 (fr) | 1988-04-22 |
FR2592949A1 (fr) | 1987-07-17 |
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