DE8501493U1 - Prüfadapter - Google Patents

Prüfadapter

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DE8501493U1
DE8501493U1 DE19858501493 DE8501493U DE8501493U1 DE 8501493 U1 DE8501493 U1 DE 8501493U1 DE 19858501493 DE19858501493 DE 19858501493 DE 8501493 U DE8501493 U DE 8501493U DE 8501493 U1 DE8501493 U1 DE 8501493U1
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housing
spring
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DE19858501493
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Description

I I ■ ■ I « · *
t I I
5647 - 7 -
Feinmetall GmbH Zeppelinstr.
7033 Herrenberg
Prüfadapter 15
Die Erfindung betrifft einen Prüfadapter gemäß dem Oberbegriff des Anspruches
Derartige Prüfadapter dienen in Verbindung mit einem an ihre Kontaktstifte angeschlossenen Auswerter dem elektrischen Prüfen von elektrischen, insbesondere
elektronischen Prüflingen, wie elektrischen und 25
elektronischen Bauteilen, Schaltungen, Schaltkreisen, Leiterplatten, integrierten Schaltungen, festen Verdrahtungen oder dergl., auf elektrische Fehlerfreiheit.
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Bei einer einzelnen Prüfung dienen alle oder ausge- |
wählte Kontaktstifte des Prüfadapters dem |
elektrischen Kontaktieren von Prüfstellen des 1
Prüflinges. Der Kontaktstift bildet in seiner |
Gesamtheit einen "elektrischen Leiter" zum Leiten §
eines Prüfstromes bzw. einer Prüfspannung bei jeder |
Prüfung einer von ihm kontaktierten Prüfstelle eines |
Prüflinges. ξ
Derartige Prüfadapter haben im allgemeinen eine sehr f
große Anzahl von Kontaktstiften, um eine große §
Anzahl von Prüfstellen eines Prüflinges gleichzeitig |
kontaktieren zu können. Oft wird, insbesondere bei |
sogenannten Universaladaptern, jeweils auch nur eine |
mehr oder weniger große Teilanzahl der im Prüfadapter ί
befindlichen Kontaktstifte für die Prüfung von '}
Prüfstellen des jeweiligen Prüflinges eingesetzt, \
indem nur sie an den Auswerter angeschlossen oder nur \
die von ihnen geleiteten Prüfströme bzw. -spannungen ? im Auswerter ausgewertet werden. Dabei handelt es
sich jedoch stets auch um relativ große Anzahlen
von Kontaktstiften, die an der Prüfung eines
Prüflinges als "elektrische Leiter" mitwirken.
Infolge der zunehmenden Miniaturisierung bzw. zu-
3C nehmender Funktionsvergrößerung von durch solche
Prüfadapter zu prüfenden Prüflingen werden solche
Prüfadapter mit immer mehr Kontaktstiften bestückt
bzw. werden die Mittenabstände zwischen benachbarten
Kontaktstiften oder das Rastermaß, falls die Kontakt-
stifte gemäß einem Raster gesteckt sind, immer kleiner.
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Es gibt heute schon Prüfadapter, die mit mehr als 100 000 Kontaktstiften bestückt werden. Jeder Kontaktstift muß im Prüfadapter po gehalten sein, daß dieser sowohl alle vom Kontaktstift ausgeübten Kräfte als auch die vom Prüfling auf die Kontaktspitze des einzelnen Kontaktstiftes ausgeübte axiale Kotitaktkraft aufnehmen kann. Bei großen Anzahlen von Kontaktstiften muß dann der Prüfadapter ohne Verlust an Prüfgenauigkeit sehr große Kräfte aushalten können. So kann die Kontaktkraft eines einzelnen Kontaktstiftes, mit der er an eine Prüfstelle eines Prüflinges angedrückt wird, im allgemeinen 0,3 bis 3 N betragen.Auch das Eigengewicht der Runtaktstifte ist zu beachten. So können z. B. 1Γ0 000 Kontaktstifte zusammen beispielsweise 50 bis 100 kg wiegen. Die auf eine so große Anzahl von Kontaktstiften beim Prüfen eines Prüflinges ausgeübten axialen Kräfte können dabei bspw. 3 bis 30 t betragen. Die Außendurchmesser der Gehäuse der Kontaktstifte sind ferner wegen des notwendigen geringen Mittenabstandes zwischen benachbarten Kontaktstiften in ihrem Durchmesser sehr klein und liegen meist etwa zwischen 0,2 und 1,4 mm, besonders zweckmäßig etwa zwischen 0,4 und 0, 8 mm.
Die Erfindung bezieht sich insbesondere auf Prüfadapter, deren normale Kontaktstifte Rückstellfedern aufweisen, die insbesondere sogenannte Federkontaktstifte mit gesonderten Rückstellfedern sein können, und deren Gehäuse im Bereich der von ihnen durchdrungenen Frontgesamtplatte Durchmesser von höchstens 1,4 mm aufweisen. Außer solchen normalen Kontaktstiften
5647 -ΙΟkönnen ggfs. auch noch in kleinerer Anzahl elektrisch leitende Sonderkontaktstifte vorhanden sein, die in manchen Fällen auch größere Außendurchmesser haben können, insbesondere sogenannte pneumatische Kontaktstifte. Solche Sonderkontaktstifte, deren Anzahl, falls überhaupt vorhanden, kleiner als die Anzahl der normalen Kontaktstifte ist, können am Prüfadapter auf gleiche oder auch änderet Weise angeordnet und gehalten werden, als nachfolgend die im Oberbegriff des Anspruches ] angesprochenen, nichtpneumatischen Kontaktstifte. Bei Prüfadaptern, auf die sich die Erfindung bezieht, sind alle Kontaktstifte oder die überwiegende Anzahl der Kontaktstifte solche, wie sie im Oberbegriff des Anspruches 1 angesprochen sind.
Die Kontaktstifte bedürfen sehr genauer radialer Positionierung im Prüfadapter, und es ist sehr schwierig und teuer, in die solche Kontaktstifte positionierenden dicken Frontgesamtplatten der Prüfadapter die der Aufnahme der Gehäuse der Kontaktstifte dienenden Durchgangsbohrungen wegen der geringen Durchmesser dieser Durchgangsbohrungen mit der erforderlichen Genauigkeit zu bohren, wenn die betreffende Platte oder Platten große Dicken haben müssen. Große Dicken solcher Frontgecamtplatten sind aber erforderlich, wenn sie sehr große Anzahlen, bεpv». zehntausende oder hunderttausende solcher Kontaktstifte tragen und hierdurch große Kräfte aufnehmen müssen, damit sie die für eine Prüfung von Prüflingen erforderliche Starrheit im Betrieb haben.
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Es ist zu diesem Zweck ein Prüfadapter bekannt (US-PS 4,183,609), dessen Federkontaktstifte tragendes Gestell folgende Bauart hat: Es ist ein umlaufender dicker Rahmen vorhanden, auf dessen beiden zueinander parallelen Stirnseiten je eine relativ dünne Platte befestigt ist/ die Durchgangsbohrungen aufweist, in die die noch leeren Gehäuse der Federkontaktstifte zu ihrer genauen Positionierung im Preßsitz eingesetzt werden. Danach werden die Positionierplatten auf ihren einander zugewendeten Innenseiten durch Aufgießen von je einer dickeren Kunstharzschicht zu einer Frontgesamtplatte und zu einer rückwärtigen Gesamtplatte, wobei diese dickeren Kunstharzschichten die Gehäuse der Federkontaktstifte festkleben, verdickt. Anschließend werden in die Gehäuse die die Kontaktspitzen tragenden Kolben und die sie belastenden Federn eingesetzt. Das spätere Auswechseln der die Kontaktspitzen tragenden Kolben und Federn ohne die Gehäuse ist dann zwar möglich, ergibt jedoch wegen der bis dahin unterschiedlichen Abnutzung der stehengebliebenen Gehäuse meist keine guten elektrischen Ergebnisse mehr. Darüber hinaus können bei diesem Prüfadapter die Gehäuse der Kontaktstifte wegen der dickeren angegossenen Kunstharzschichten nachträglieh nicht mehr ohne weiteres ausgewechselt werden. Wenn also ein Gehäuse wegen Verschleißes oder Beschädigung unbrauchbar wird, kann es nicht herausgezogen und ausgewechselt werden. Zumindest sind seine nur unter Zerstörung mögliche Entfernung und das Einsetzen eines neuen Gehäuses mit sehr hohen Kosten verbunden, wenn dies überhaupt möglich ist.
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Dagegen ist es bei solchen Prüfadaptern erwünscht, die Kontaktstifte trotz der großen Dicke zumindest der Frontgesamtplatte im Ganzen, d. h. als komplette Baueinheiten in die sie aufnehmende Platte oder Platten des Prüfadapters einzusetzen und sie jederzeit leicht und mit geringem Kostenaufwand im Ganzen auswecheln zu können. Eine Möglichkeit hierfür wäre, die betreffende dicke Platte oder Platten des Prüfadapters mittels Bohrern mit Durchgangslöchern mit über ihre Länge konstanten Durchmessern zu versehen, die den Durchmesseinder in sie einzusetzenden Kontaktstiftgehäuse ungefähr entsprechen, so daß man nachträglich die Kontaktstifte in diese Durchgangslöcher einssetzen und jederzeit wieder auswechseln kann. Dabei tritt jedoch das Problem auf, daß im Hinblick auf die geringen Durchmesser dieser Durchgangslöcher ihr Bohren bei dicken Platten sehr teuer ist wegen der Feinheit des Bohrers und auch die erforderliche Bohrgenauigkeit schwierig einzuhalten ist.
Es ist deshalb eine Aufgabe der Erfindung, einen Prüfadapter der im Oberbegriff des Anspruches 1 genannten Art zu schaffen, bei welchem die betreffenden Kontaktstifte jederzeit leicht ausgewechselt werden können und dennoch die Herstellung trotz der dicken Frontgesamtplatte kostengünstig möglich ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Prüfadapter gemäß Anspruch 1 gelöst.
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Die Erfindung ermöglicht es, trotz der großen Dicke der Frontgesamtplatte ihre Durchgangslöcher für die Kontaktstifte kostengünstig und genau herzustellen. Die Kontaktstifte können leicht ausgewechselt werden, wobei dennoch die Kosten für die Herstellung dieser
. Durchgangsbohrungen nicht sehr hoch sind, weil jede Durchgangsbohrung der Frontgesamtplatte für einen solchen normalen Kontaktstift in zwei Längsabschnitte unterteilt ist, von denen nur der eine Abschnitt der genauen radialen und/oder axialen Positionierung des
,„ betreffenden Abschnittes des Gehäuses oder der Führungshülse des KontaktStiftes dient. Der restliche, im Durchmesser größere und vorzugsweise auch längere Bereich dieser Durchgangsbohrung kann kostengünstig mit größerem Durchmesser gebohrt werden, so daß das
. Gehäuse des Kontaktstiftes die ümfangswandung dieses restlichen Längsabschnittes der Durchgangsbohrung der Frontgesamtplatte nicht berührt. Für diesen im Durchmesser größeren Längsabschnitt der Frontgesamtplatte kann also ein dickerer Bohrer mit entsprechend kosten-
»5 günstigem Bohraufwand eingesetzt und auch weniger präzise gebohrt werden, wogegen der andere Längsabschnitt dieser Durchgangsbohrung wegen seiner Kürze und/oder wegen der möglichen Verringerung der Festigkeit des ihn aufweisenden Bereiches der Frontgesamtplatte kostengünstig genau hergestellt werden kann. Der Längsabschnitt des kleineren Durchmessers der Durchgangsbohrung kann vorzugsweise kürzer, besonders zweckmäßig viel kürzer als der restliche Längsabschnitt des größeren Durchmessers sein.
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Die Frontgesamtplatte kann bevorzugt aus zwei geson-5
derten, aneinander anliegenden ebenen Scheiben gebildet sein, von denen die eine Scheibe als Positionierscheibe und die andere Scheibe als starre Stützplatte dient. Die Positionierscheibe kann dabei zweckmäßig die den Kontaktspitzen der Kontaktstifte benachbarte Scheibe und ferner vorzugsweise dünner, besonders zweckmäßig
viel dünner als die Stützplatte sein und weist die Längsabschnitte der kleineren Durchmesser der Durchgangsbohrungen der Frontgesamtplatte auf.
Es ist jedoch in manchen Fällen auch zweckmäßig, die
Frontgesamtplatte aus einem Stück als starre Platte 15
herzustellen und die beiden Längsabschnitte der einzelnen Durchgangsbohrung, die unterschiedliche Durchmesser haben, mit Bohrern entsprechend unterschiedlicher Durchmesser zu bohren. Die Bohrungsabschnitte
der kleineren Durchmesser können in manchen Fällen 20
auch gestanzt oder auf sonstige Weise genau hergestellt werden.
In manchen Fällen ist es ausreichend, daß die betreffenden Kontaktstifte nur in der Frontgesamtplatte gehalten sind. Der Prüfadapter benötigt dann nicht unbedingt noch eine oder mehrere rückwärtige Platten, sondern die von den Kontaktstiften zum Auswerter führenden Leitungen können einfach an die Anschlußenden
der Kontaktstifte angeschlossen, bspw. angelötet oder 30
angeschweißt, werden. Da solche Kontaktstifte jedoch meist recht große Länge haben und sehr dünn sind, ist es besonders zweckmäßig, vorzusehen, daß der Prüfadapter
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im Abstand von der Frontgesamtplatte eine ebene, zu dieser Frontgesamtplatte vorzugsweise parallele, rückwärtige Gesamtplatte aufweist, die der rückwärtigen radialen Positionierung der Kontaktstifte und/oder deren Abstützung dienen und/oder dem elektrischen Anschluß der Kontaktstifte dienende Anschlußkontakte tragen kann.
Die rückwärtige Gesamtplatte kann aus einer einzigen einstückigen, vorzugsweise starren Platte bestehen oder wiederum aus zwei zueinander parallelen und aneinander anliegenden ebenen Scheiben zusammengesetzt sein. Im letzteren Falle kann dabei wiederum zweckmäßig eine dieser beiden Scheiben eine der Positionierung des Gehäuses des Kontaktstiftes dienende Positionierscheibe und die andere Scheibe eine starre Stützplatte sein. Dabei kann die Stützplatte dann zweckmäßig dem elektrischen Anschluß der Kontaktstifte dienende Kontakte aufweisen. Dabei kann wiederum die Positionierscheibe, vorzugsweise dünner, insbesondere viel dünner als die Stützplatte sein.
Die Dicke der Positionierscheibe der Frontgesamtplatte bzw. der rückwärtigen Gesamtplatte bzw.
bei einteiliger Frontgesamtplatte oder rückwärtiger Gesamtplatte die Länge der der radialen Positionierung der Kontaktstifte dienenden Längsabschnitte von deren Durchgangsbohrungen kann zweckmäßig so klein wie möglich gemacht werden, vorzugsweise 0,1 bis 5 mm betragen. Die Positionierscheibe kann
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ggfs. sogar eine Folie oder ein Blatt sein, jedoch je nach Erfordernis auch größere Dicke bis zu 5 nun oder in Sonderfällen noch mehr aufweisen.
In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 einen ausschnittsweisen Längsschnitt durch einen Prüfadapter gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung, 15
Fig. 2 einen vergrößerten, gebrochenen Ausschnitt aus Fig. 1,
Fig. 3 einen Prüfadapter in ausschnittsweiser, geschnittener Darstellung gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung, wobei von diesem Prüfadapter lediglich ein einziger Federkontaktstift dargestellt ist.
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Die in der Zeichnung ausschnittsweise dargestellten Prüfadapter 10 bzw. 10* weisen außer den dargestellten, in allen Teilen metallischen Federkontaktstiften 11 bzw. 11' im allgemeinen noch eine sehr große Anzahl entsprechender Federkontaktstifte 11 bzw. 11f auf. Zusätzlich können sie noch außer diesen "normalen" Federkontaktstiften 13 bzw. 11' noch elektrisch leitfähige Sonderkontaktstifte, bspw.
ί pneumatische, metallische Kontaktstifte, aufweisen,
ß falls dies erwünscht oder notwendig ist, die auch
k 1^ anders als die dargestellten "normalen" Kontaktstifte 11 bzw.111 befestigt sein können. Alle Kentaktstifte 11 bzw. 11' bilden "elektrische Leiter", diu im Prüfadapter 10 bzw. 10' gegeneinander elektrisch ifoliert lösbar angeordnet sind, so daß jeder Federkontaktstift 11 bzw. 11' im ganzen auswechselbar ist.
Bei den dargestellten Prüfadaptern 10 bzw. 10' kann es sich vorzugsweise um sogenannte Universaladapter handeln, bei denen jeder einzelne Punkt eines einheitlichen Rasters mit einem Federkontaktstift 11 bzw. 11' besetzt ist, von denen beim Prüfen einer Sorte von Prüflingen nur jeweils die für die Prüfung auf deren Fehlerfreiheit benötigten
30
35
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Kont.aktst.ifte vom Auswerter berücksichtigt werden. Die Erfindung ist jedoch auch bei anderen Prüfadaptern vorteilhaft anwendbar, deren Kontaktstifte jeweils entsprechend dem Muster der Prüfstellen nur einer Sorte von Prüflingen zugeordnet sind, so daß dann jeweils alle Kontaktstifte an der Prüfung dieser Prüflinge mitwirken. Auch andere Möglichkeiten gestehen .
In jedem Fall ist die Anzahl der Federkontaktstifte, wie 11 bzw.111, pro Prüfadapter 10 bzw. 10' sehr groß und beträgt im allgemeinen mindestens einige tausend, vorzugsweise einige zehntausend oder in manchen Fällen sogar mehr als hunderttausend Federkontaktstifte 11 bzw. 11'.
Der Prüfadapter 10 nach Fig. 1 und 2 weist einen nicht näher dargestellten Rahmen auf, an welchem insgesamt vier ebene, zueinander parallele Scheiben 12, 13, 14 und 15 befestigt sind, die paarweise zwei Gesamtplatten 16 bzw. 17 bilden, von denen jede aus den zwei aneinander anliegenden Einzelscheiben 12, 13 bzw. 14, 15 gebildet ist. Die einem jeweils zu prüfenden elektrischen oder elektronischen Prüfling, wie 18, bei dem es sich bspw. um eine Leiterplatte, um eine sonstige Schaltung oder dergl.
handeln kann, benachbarte Gesamtplatte 16 sei als Frontgesamtplatte 16 bezeichnet und besteht aus der aus elektrisch isolierendem Kunststoff bestehenden Positionierscheibe 12 und der an deren Rückseite anliegenden und diese Über ihre Breite und ihre Länge
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abstützenden viel dickeren starren Stützplatte 13. Diese dicke Stützplatte 13 kann zweckmäßig aus hochfestem, starren Kunststoff oder auch aus anderen starren, hochfesten Materialien, wie Metall, Keramik oder dergl. bestehen. Falls sie aus Metall besteht, kann iü sie vorzugsweise einen elektrisch isolierenden Oberzug aufweisen, bspw. zweckmäßig aus hartem Aluminium bestehen, das an der Oberfläche anodisch oxidiert ist.
Die beiden Scheiben 14, 15 der rückwärtigen Gesamtplatte 17 bestehen aus elektrisch isolierendem Kunststoff, von denen die dünnere eine Positionierscheibe 14 und die viel dickere eine starre Stützplatte 15 ist. Jeder metallische Federkontaktstift 11 (wie auch 11') bildet einen "elektrischen Leiter" geringen ohm1sehen Durchgangswiderstandes. Der einzelne Federkontaktstift 11 besteht im Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 und 2 aus einem dünnen, langen kreiszylindrischen metallischen Gehäuse 19, dessen obere Stirnseite mit einem Ringbund 20 auf der dem jeweiligen Prüfling 18 zugewendeten Außenoberfläche der oberen Positionierscheibe 12 zur axialen Abstützung dieses Gehäuses 19 aufliegt. Im metallischen Gehäuse 19 ist ein metallischer Kolben 21 gleitbar gelagert, dessen aus dem Gehäuse 19 nach oben überstehende metallische Kolbenstange 22 eine metallische Kontaktspitze 23 aufweist, die dem Kontaktieren der ihr jeweils zugeordneten Prüfstelle von zu prüfenden Prüflingen 18 dient. Der Kolben 21 wird durch eine sich am Boden des Gehäuses 19 abstützende metallische
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c Druckfeder 24 in aufwärtiger Richtung federbelastet. Der untere Endbereich des Gehäuses 19 ist in einer Durchgangsbohrung 30 der unteren Positionierscheibe 14 zu seiner rückwärtigen radialen Positionierung mit geringem Gleitlagerspiel gelagert. An den Boden des Gehäuses
,„ ist ein dünner stabförmiger Metallstab 25 einstückig mit angeformt, der an dem Kopf 26' eines in die dicke Stützplatte 15 , die aus hochfestem,starren, elektrisch isolierenden Kunststoff besteht, der rückwärtigen Gesamtplatte 17 eingesetzten metallischen
,,. Kontaktes 26 mit für guten elektrischen Kontakt ausreichender Kraft anliegt, indem dieser Kopf 26' durch eine ihn aufwärts belastende Biegefeder 27 an den Stab 25 angedrückt ist. Es ist auch möglich, diese Stäbe 25 des Gehäuses 19 durch die rückwärtige
n Gesamtplatte 17 unter Weglassung der Kontakte 2 6 hindurchzuführen und sie an die zum Auswerter weiterführenden elektrischen Leitungsdrähte 33 direkt anzuschließen bwsp. anzulöten oder sonstige elektrische Anschlüsse hierfür vorzusehen. In Fig. 1 sind
„c die zum nicht dargestellten Auswerter weiterführenden Leitungsdrähte 33 an die Kontakte 26 angeschlossen. Jeder der beiden dünnen und hierdurch vorzugsweise biegsamen Positionierscheiben 12 und 14 der Frontgesamtplatte 16 und der rückwärtigen Gesamtplatte 17 sind für jeden Federkontaktstift 11 mit je einer gebohrten Durchgangsbohrung 29, 3 0 versehen, deren Durchmesser dem Außendurchmesser des zylindrischen Gehäuses 19 des jeweiligen Federkontaktstiftes 11 ungefähr entspricht, so daß hierdurch das Gehäuse 19 jedes
oc Federkontaktstiftes 11 sowohl an seinem oberen Ende
I t * ·
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1
als auch an seinem unteren Ende genau positioniert und damit jeder Federkontaktstift 11 genau radial und axial positioniert ist und auch genau rechtwinklig zu den Ebenen der zueinander parallelen Gesamtplatten 16, 17 steht. Die Durchgangslöcher 29 für die Federkontaktstifte 11 der oberen Positionier scheibe 12 können dabei so dimensioniert sein, daß sie die Gehäuse 19 reibungsschlüssig lösbar halten, d. h. daß sie durch die von den Kontakten 26 ausgeübten axialen Kräfte nicht gegen den Reibungsschluß verschoben werden können, jedoch sich mittels eines an der Kolbenstange 22 oder dem Bund 20 angreifenden Werkzeuges axial aus den Gesamtplatten 16, 17 zum Auswechseln oder sonstigem Abnehmen herausziehen lassen. Da diese Positionierscheiben 12 und 14 relativ dünn sind, vorzugsweise ihre Dicken jeweils 2 bis 5 mm betragen können, sind diese Durchgangsbohrungen 29, 30 in ihnen leicht und kostengünstig trotz ihrer geringen Durchmesser von vorzugsweise 0,2 bis 1,4 mm, inbesondere von etwa 0,3 bis 1,0 mm zu bohren. Die infolge ihrer geringen Dicke relativ geringe Steifigkeit dieser Positionierscheiben 12, wird ausgeglichen durch die Starrheit der sie jeweils ungefähr über ihre Breiten und Längen stützenden, viel dickeren starren Stü-tzplatten 13, 15.
Die untere Stützplatte 15 kann aus hochfestem Kunststoff oder aus Metall mit einem es elektrisch isolierenden Überzug oder dergl. hergestellt sein. Die Dicken der Stützplatten 13, 15 können bspw.
zweckmäßig 15 bis 40 mm betragen. Die in ihnen be-
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findlichen Durchgangslöcher, wie 40 und 41, die von den Federkontaktstiften 11 nicht kontaktiert werden und gleichachsig zu den mit ihnen fluchtenden Durchgangslöchern 29, 30 der Positioniergicheiben 12, 14 sind, sind in ihren Durchmessern soviel größer als die Durchgangsbohrungen 29, 30 der Positionierscheiben 12. 14,- daß sie trotz der wesentlich größeren Dicke dieser Stutzplatten 13, 15 ebenfalls kostengünstig gebohrt werden können.
In dem Aasführungsbeispiel nach Fig. 1 und 2 ist es nicht oder nicht ininer notwendig ,die Scheiben 12 und 13-bzw.die Scheiben 14 bzw. 15 - so
miteinander zu verbinden, daß ihre einander benachbarten Flächen 42,43 bzw. 44,45 über ihre Breiten und Längen fest zusamnengehalten sind.Doch
dies
kann /erforderlichenfalls vorgesehen sein, vorzugsweise durch Zusammenkleben ihrer einander gegenüberliegenden Flächen, bspw. wenn die von den Kontakten 26 auf die Gehäuse 19 ausgeübten Kräfte relativ groß sind.
Als Kleber können vorzugsweise Haftkleber vorgesehen sein.
In Fig. 3 ist eine Ausfuhrungsform eines Prüfadapters 10' ausschnittsweise dargestellt, welche sich von der nach Fig. 1 und 2 insbesondere in der Ausbildung der Federkontaktstifte, wie 11', und der rückwärtigen Gesamtplatte 17· unterscheidet. Die rückwärtige Gesamtplatte 17' besteht in diesem Ausführungsbeispiel aus einer einzigen einstückigen starren Platte 17', in die metallische elektrische Kontakte 26", wie dargestellt, vorzugsweise fest,eingesetzt sind. Jeder Kontakt 26" weist dabei einen zylindrischen Kopf 26 '" größeren Durchmessers auf, an den ein zylindrischer Schaft 2 6a etwas kleineren Durchmessers anschließt, der über diese rückwärtige Gesamtplatte 17' nach unten etwas übersteht, und hier kann dann ein zum Auswerter weiterführende Leitungsdraht 33 angelötet oder auf
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sonstige Weise elektrisch angeschlossen sein. Dieser Kontakt 26" dient gleichzeitig dem rückwärtigen genauen Positionieren des dargestellten Federkontaktstiftes 11', indem im rückwärtigen Längsendbereich des kreiszylindrischen Gehäuses 19 ein
!0 zweiter Kolben 21' gleitbar geradegeführt gelagert ist, der mit einer Kolbenstange 22" nach unten durch eine Bohrung des Gehäusebodens aus dem Gehäuse 19 herausragt. Auf diesen zweiten Kolben 21' stützt sich eine Druckfeder 24 ab, die auch den im oberen
j5 Längsendbereich des Gehäuses 19 gleitbar geradegeführt gelagerten ersten Kolben 21 belastet, welcher die Kolbenstange 22 und die an der Kolbenstange befindliche Kontaktspitze 23 dieses Federkontaktstiftes 11' trägt. Die Druckfeder 24 belastet also beide Kolben 21, 21' gleichzeitig und drückt sie in voneinander wegführender Richtung. Die in einer Spitze auslaufende Kolbenstange 22' des unteren Kolbens 21· wird durch die Feder 24 in eine kegelförmige Pfanne des Kopfes 26 '" des Kontaktes 26" zu ihrer Justierung gedrückt. Durch diese Justierung ist es nicht erforderlich, eine gesonderte Positionierscheibe auf dieser unteren Platte 17' anzuordnen. Auch wirkt hierdurch die auf die Kontaktspitze 2 3 beim Prüfen eines Prüflinges von diesem axial ausgeübte Kraft (Pfeil P), durch die der obere Kolben 21 zusammen mit der Kontaktspitze etwas nach unten gegen die Kraft der Feder 24 gedrückt wird, nicht über das Gehäuse 19, sondern über den unteren Kolben 21* und die untere Kolbenstange 22' auf den in der unteren Platte 17' verankerten
»ι r · ι » ι · · « , ail
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Kontakt 26", so daß die untere Gesamtplatte 171 f
diese axiale Belastungskraft P der Kontaktspitze 23 |
im Betrieb ganz oder im wesentlichen aufnimmt und §
hiervon die ebene Gesamtfrontplatte 1 6 entlastet '\
ist. Die wie bei Fig. 1 und 2 ausgebildete, aus einer ddn- \
nen Positionierscheibe 12 und einer diese stützenden dicken |
Stützplatte 13 bestehende Frontgesamtplatte 16 I
ist ebenfalls durch die Kontaktstifte 11· und die sie bei der Prüfung in Richtung der Pfeile P belastenden Kräfte mit belastet. Es können hier besonders zweckmäßig die Flächen 42 und 43 der Positionierscheibe 12 und der Stützplatte 13 fest zusammengehalten sein, bspw. durch Kleben oder durch insgesamt einstückige Ausbildung dieser Gesamtfrontplatte 16 verbunden sein. Der Kolben 21 ist in seiner oberen Stellung, in der
er an der Decke des Gehäuses 19 anliegt, durch die Druckfeder 24 gegen diese Decke gedrückt, was sich in einer auf das Gehäuse 19 axial nach oben wirkenden Belastung auswirkt. Das Gehäuse 19 muß gegen Verschieben hierdurch gehalten werden.
Dies kann vorzugsweise dadurch erfolgen, indem der Durchmesser der Durchgangsbohrung 29 der oberen Positionierscheibe 12 so auf den Durchmesser des in ihr befindlichen Gehäuseabschnittes abgestimmt ist, daß dieses Gehäuse 19 in dieser Positionierscheibe 12 durch Haftreibung ausreichend fest gehalten ist, um sich nicht durch den Druck der Feder 24 nach oben verschieben zu lassen, wobei dieser Reibungssitz jedoch nur so fest ist, daß er nicht das Auswechseln des Federkontaktstiftes 11' im ganzen behindert. Die Stützplatte 13 bewirkt hier also, daß sie bei unbelasteter Kontaktspitze 23 im Falle fest zusammengehaltener Flächen 42,43
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Auswölben der Positionierscheibe 12 durch die Kräfte der Federn 24 nach oben verhindert, und bei nach
unten gedrückten Kontaktspitzen 23 stützt sie die Posio
tionier scheibe 12 gegen Auswölben nach unten ab. Auch das Verhindern des Auswölbens der Scheibe 12 nach oben durch die Stützplatte 13 kann als Stützung der Scheibe 12 durch die Platte 13 bezeichnet werden.
Obwohl in den Ausführungsbeispxelen die Positionieischeiben 12 der Frontgesamtplatten 16 die jeweils den Kontaktspitzen 23 der Kontaktstifte 11, 11' benachbarten Scheiben sind, was meist besonders vorteilhaft ist, kann in manchen Fällen es auch zweckmäßig sein, die Stützplatte 13 der Frontge-
1^ samtplatte 16 benachbart den Kontaktspitzen 23 der Kontaktstifte 11 bzw. 11' anzuordnen. So ist im Ausführungsbeispiel nac'i: Fig. 3 bei unbelasteten Kontaktspitzen 23 das an der oberen Positionierscheibe 12 reibungsschlüssig gehaltene Gehäuse 19 durvh die Feder 24 mit deren Vorspannung in auf-
wärtiger Richtung belastet und es kann dann oft vorteilhaft sein, die Positionierscheibe 12 unter der Stützplatte 13,d.h. auf ihrer der rückwärtigen Gesamtplatte 17' zugewendeten Seite, anstatt, wie dargestellt, über ihr anzuordnen.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 und 2 ist insbesondere dann keine feste Verbindung, bspw. kein Verkleben, der aneinander anliegenden Flächen der Positionierscheibe 12 und der Stützplatte 13 erforderlich, wenn die Drähte 33 direkt unter Weglassung der Kontakte 26 an die Anschlußenden 25 der Federkontaktstifte 11 angeschlossen sind, und es kann dann oft auch die Stützplatte 15 und in manchen Fällen auch die Positionierscheibe 14 weggelassen werden.
• I II··
I I >
Il 111
_ 2b _
In den beschriebenen Ausführungsbeispielen nach den Fig. 1 bis 3 dient die jeweils als Platte ausgebildete Positionierscheibe 12 aer Frontgesamtplatte 16 sowohl der axialen als auch der radialen Positionierung des Gehäuses 19 in ihrem Bereich und auch dem Halten des Gehäuses gegen die von der Feder 24 ausgeübten und sonstigen im Betrieb auf-
XO tretenden Kräfte. Es ist jedoch auch möglich, vorzusehen, daß das Gehäuse 19 des Federkontaktstiftes 11 bzw. 11' in der zugeordneten Bohrung 29 der Positionierscheibe 12 mit geringem Gleitlagerspiel axial beweglich angeordnet ist, was das Einsetzen und Herausnehmen des FederkontaktStiftes noch weiter erheblich erleichtert und vereinfacht. Diese Positionierscheibe 12 dient dann zwar weiterhin dem ständigen radialen Positionieren des Gehäuses 19 in ihr. Sie braucht jedoch nicht mehr dem ständigen axialen Halten des Federkontaktstiftes zu dienen. Bevorzugt kann sie dabei jedoch noch dem axialen Abstützen des Gehäuses 19 in Abwärtsrichtung dienen, sei es ständig oder nur während Prüfvorgängen, bei denen die Kontaktspitze 23 mit dem Kolben 21 durch Prüflinge nach unten gedrückt wird. Dies sei anhand von nicht dargestellten Abwandlungen der Fig. 2 und 3 an einigen Ausführungsbeispielen noch näher erläutert.
In solchen Fällen ist vorgesehen, daß der Prüfadapter 10,10' nur in solcher Stellung oder Stellungen eingesetzt wird, bei der oder denen die Kontaktspitzen 23 der Federkontaktstifte 11 bzw. 11· vertikal oder schräg nach aufwärts gerichtet sind, so daß die Federkontaktstifte, wenn ihre Gehäuse 19 in den zugeordneten Durchgangslöchern der Positionierscheiben der Frontgesamtplatten mit geringem Gleitlagerspiel
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geführt sind und sie auch nicht an anderen Stellen, bspw. an der rückwärtigen Gesamtplatte 17 gegen Abnehmen von ihr gesichert sind, nicht aus dem Prüfadapter 10,10' herausfallen können, sondern sich infolge ihres Eigengewichtes im Prüfadapter halten, sei es durch Abstützung an der Frontgesamtplatte 16 mittels ihrer Gehäuseringbunde 20 oder sonstiger Verbreiterungen der Gehäuse 19 an dieser Stelle und/oder durch Abstützung an der unteren Gesamtplatte 17 bzw. auf oder an elektrischen Kontakten od. dergl., die an der Gesamtplatte 17 oder auf sonstige WeiUe gehalten sein können.
Beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 und 2 ist also dann das Gehäuse 13 reicht nur in der Durchgangsbohrung 3C der unteren Positionierscheibe 14 mit geringem Gleitlagerspiel geführt, sondern auch in der Durchgangsbohrung 29 der oberen Positionierscheibe 12. Die Feder 27 kann dann bei unbelasteter Kontaktspitze 23 den Federkontaktstift 11 unter Abheben des Ringbundes 20 seines Gehäuses 19 von der Positioni<*rscheibe 12 nach oben drücken. Wenn ein Prüfling bei einer Prüfung die Kontaktspitze 23 mit dem Kolben 21 jedoch nach unten drückt, wird hierdurch der Kolben 21 relativ zum Gehäuse axial nach unten unter stärkerem Zusammendrücken der Feder 24 gedrückt, und diese Feder 24 drückt das Gehäuse 19 und damit den Metallstab 25 axial nach unten gegen den Kontakt 26', welcher so unter stärkerem Zusammendrücken der Feder 27 mit entsprechend großer Kraft durch den Metallstab 2 5 belastet wird, so daß hier guter elektrischer Kontakt während jedes PrüfVorganges besteht. Dabei ist auch zu
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berücksichtigen, daß der den Federkontaktstift 11 durchströmende Prüfstrom bei solchen Prüfungen in der Regel immer erst dann eingeschaltet wird, wenn der zu prüfende Prüfling seine die Kontaktspitze des Federkontaktstiftes 11 am weitesten nach unten drückende Endstellüng erreicht hat, in der die Prüfung durchgeführt wird.
Es ist bei der Ausführungsform nach Fig 1 und 2 jedoch oft auch eine Abwandlung zweckmäßig, bei der der elektrische Kontakt 26 nicht durch die Feder 27 etwas nach oben federnd gedrückt ist, sondern in der unteren Stützplatte 15 unbeweglich gehalten oder zumindest gegen axiale Relativverschiebung nach unten gehalten ist, zu welchem Zweck die Feder 27 weggelassen wird und der Kopf 26' mit seinem unteren Bund auf der Ringschulter der Durchgangsbohrung 41 der Stützplatte 15 aufsitzen kann. Man kann dann vorsehen, den Ringbund 20 ganz wegzulassen oder das Gehäuse 19 so lang auszubilden, daß der Ringbund 20 sich ständig in geringem Abstand oberhalb der Positionierscheibe 12 befindet. Dann liegt der Federkontaktstift 11, solange die Kontaktspitze 23 nicht axial in Abwärtsrichtung belastet wird, nur mit seinem Eigengewicht auf dem Kontakt 26 auf und erst dann, wenn die Kontaktspitze 23 und damit der Kolben 21 in Abwärtsrichtung durch einen Prüfling gedrückt werden, wirkt die axial nach unten auf den Gehäuseboden ausgeübte Kraft der Feder 24 sich in das Gehäuse 19 in abwärtiger Richtung drückender Kraft aus, so daß das Gehäuse 19 mit seinem am Gehäuseboden ange-
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ordneten Metallstab 25 auf den Kontakt 2 6 entsprechend stärker drückt, wodurch während der Prüfung voll ausreichender guter elektrischer Kontakt zwischen dem Anschlußende 25 des Gehäuses und dem Kontakt 26 besteht. Dabei kann auch vorgesehen sein, die Feder 24 kürzer als dargestellt zu treffen, derart, daß der Kolben 21 nicht an die den Ringbund 20 aufweisende obere Stirnwand des Gehäuses gedrückt wird, sondern sich der Kolben 21 ständig im Abstand unterhalb der oberen Stirnwand des Gehäuses 19 befindet.
Ähnliche Abwandlungen können auch bei der Ausführungsform nach Fig. 3 vorgesehen sein. So kann hier ebenfalls die Feder 24 so kurz sein, daß der Kolben 21 bei nach oben gerichteter Kontaktspitze 23 nicht an der den Ringbund 20 aufweisenden oberen Stirnwand des Gehäuses 19 zur Anlage kommt, sondern sich im Abstand von ihr befindet, bspw. in der unbelasteten Stellung der Kontaktspitze 23 im Abstand von 1 bis 2 mm.
Das Gehäuse 19 kann ebenfalls in der zugeordneten Durchgangsbohrung 29 der Positionierscheibe 12 mit Gleitlagerspiel gelagert sein, so daß diese Durchgangsbohrung 29 dann nur der radialen Positonierung des Gehäuses 19 an der Frontgesamtplatte 16 dient. Der Ringbund 20 liegt dann ständig infolge des Eigengewichtes des Gehäuses 19 auf der Oberseite der Positionierscheibe 12 auf. Das Anschlußende 22' liegt bei unbelasteter Kontaktspitze 23 dann nur mit dem Eigengewicht des Federkontaktstiftes 11 ' abzüglich des Gewichtes seines Gehäuses 19 auf dem Kontakt 26" auf. Wenn jedoch bei
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Durchführung einer Prüfung der Federkontaktstift 23 durch den Prüfling mit der Kraft P nach unten unter Zusammendrücken der Feder 24 gedrückt wird, wird hierdurch das Anschlußende 22' mit entsprechend großer Kraft auf den Anschlußkontakt 26" axial angedrückt und hierdurch ebenfalls wieder guter elektrischer Kontakt während der einzelnen Prüfvorgänge von Prüflingen sichergestellt.
Das Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 kann auch noch in anderer Weise abgewandelt werden, wobei ebenfalls die Kontaktspitze 23 nach oben gerichtet ist und das Gehäuse 19 in der Durchgangsbohrung der Positionierscheibe 12 mit engem Gleitlagerspiel geführt ist. Bei dieser Abwandlung ist die Feder 24 so lang, daß sie bei unbelasteter Kontaktspitze 23 den oberen Kolben bis zum Anliegen an die den Ringbund 20 aufweisende obere Stirnwand des Gehäuses 19 drückt, wodurch das Gehäuse 19 nach oben bewegt wird, bis der Kolben 21' an dem Boden des Gehäuses 19 zur Anlage kommt. Hierdurch wird der Ringbund 20 von der Positionierscheibe 12 nach oben entsprechend weit abgehoben. Die Feder 24 ist ständig vorgespannt. Wenn nun die Kontaktspitze 23 durch einen Prüfling mit dem Kolben 21 nach unten bewegt wird, dann kann das Gehäuse 19 axial nach unten wandern, bis sein Ringbund 20 auf der Positionierscheibe 12 aufliegt. Der Boden des Gehäuses 19 befindet sich dann, wie in Fig. 3, im Abstand unterhalb des Kolbens 21·, und dieser Kolben 21' wird mit einer der axialen Belastungskraft P der Kontaktspitze 23 ungefähr entsprechenden Kraft nach unten und damit das Anschlußende 22' mit ent-
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sprechender Kraft an den Anschlußkontakt 26" gedrückt. Diese starke Anpreßkraft tritt also ebenfalls nur während jeder einzelnen Prüfung auf und, solange die Kontaktspitze 23 nicht belastet ist, ist die Kraft, mit der das Anschlußende 22' an den Anschlußkontakt26" axial angedrückt wird, nur gering, nämlich etwa entsprechend dem Eigengewicht des Federkontaktstiftes 11'.
Die Lagerung des Gehäuses 19 in der Durchgangsbohrung der Positionierscheibe 12 mit geringem Gleitlagerspiel hat u. a. den Vorteil, daß bei weiterhin guter radialer Positionierung dieses Gehäuses 19 in der Positionier scheibe 12 das Auswechseln des Federkontaktstiftes 11,11' noch einfacher und rascher erfolgen kann, weil beim Herausziehen des Federkontaktstiftes 11 bzw. 11' aus dem Prüfadapter praktisch nur das Eigengewicht und keine größere Haftreibung des Federkontaktstiftes 11 bzw. 11' im Prüfadapter 10 bzw. 10' zu überwinden ist. Die Frontgesamtplatte 16 ist dann auch durch die Federkontaktstifte 11 bzw. 11* geringer belastet und die Stützplatte 13 und die Positionierscheibe 12 können hierdurch dünner ausgeführt werden, was ihre Herstellung verbilligt. Diese Stützplatte 13 ist jedoch weiterhin vorzusehen, weil sie für die genaue Positionierung und ggfs. Abstützung der Scheibe 12 weiterhin notwendig oder zweckmäßig ist. Auch genügt es bei den vorbeschriebenen Abwandlungen der Fig. 1 bis 3f wenn die Positionierscheibe 12 nur auf der Stützplatte 13 aufliegt, ihre einander benachbarten Flächen also nicht durch Kleben oder auf sonstige Weise über ihre Flächenerstreckungen zusammengehalten sind. Es
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genügt also, wenn die beiden Scheiben 12 und 13 nur |
an ihren Randbereichen a.m Gestell des Prüfadapters ®
gehalten und keine sonstigen Verbindungsmittel zwischen fi
ihnen vorgesehen sind. Oder es genügt, sie nur an ihren |
Randbereichen so miteinander zu verbinden, daß sie |
eine in das Gestell des Prüfadapters einsetzbare Bau- g
einheit bilden. Es kann also bevorzugt vorgesehen sein, |
daß die Positionierscheibe 12 und die Stützplatte 13 |
der Frontgesamtplatte 16 nur außerhalb ihrer der I
Aufnahme der Kontaktstifte 11 bzw. 11' dienenden Jj
Bereiche zusammengehalten sind, sei es direkt zur j
Bildung einer in das Gestell des Prüfadapters |
einsetzbaren Baueinheit oder indirekt mittels des |
Gestells des Prüf adapters oder auf sonstige Weise. jj
Wenn die Positionierscheibe 12 im wesentlichen nur J
mit dem Eigengewicht der Kontaktstifte 11 oder ihrer
Gehäuse ggfs. zuzüglich Reibungskräften des oder der
Kolben belastet ist oder gar nur der radialen Positionierung der Kontaktstifte in ihrem Bereich dient,
kann sie besonders dünn ausgebildet werden, so daß
sie dann keine Platte mehr ist, sondern nur noch
eine dünne bis extrem dünne Scheibe, oft zweckmäßig
nur noch ein Blatt oder eine Folie sein kann, was
ihre Herstellung noch weiter verbilligen kann.
Anstelle der Federkontaktstifte 11, 11· mit langen
Gehäusen 19 können auch Kontaktstifte anderer Bauarten vorgesehen werden. Bspw. kann die Kontaktspitze oft die Spitze einer langen, starren oder in
sich axial federnden Kontaktnadel sein, die im Bereich
der Positionierscheibe 12 in einer in die zugeordnete
, ι til
I ■ ·
5647
- 33 -
Durchgangsbohrung dieser Positionierscheibe eingesetzten, kurzen metallischen oder nichtmetallischen Führungshülse mit geringem Gleitlagerspiel geradegeführt ist. Diese Kontaktnadel kann, wenn sie starr ist, bspw. sich an einer an der rückwärtigen Gesamtplatte abstützenden, freiliegenden Rückstellfeder federnd abgestützt sein.
Anstatt die Positionierscheibe 12 bzw. 14 dünner als die Stützplatte 13 bzw. 15 auszubilden, kann in manchen Fällen auch vorgesehen sein, die Stützplatte dicker oder gleich dick wie die zugeordnete Positionierscheibe zu machen, was insbesondere dann zweckmäßig sein kann, wenn die starre Stützplatte aus gröbere Festigkeit aufweisendem Material als die Positionierscheibe besteht. Die Positionierscheibe kann in solchen Fällen bspw. vorteilhaft aus elektrisch isolierendem, leicht und genau i;u bohrendem polymerem Methacrylsäuremethylester, wie er von Firma Röhra & Haas, Darmstadt, unter dem Handelsnämen Plexiglas vertrieben wird, und die Stützplatte aus hochfestem, glasfaserverstärktem Epoxidharz bestehen, das zwar schwerer als Plexiglas zu bohren ist, was jedoch wegen der größeren Bohrungsdurchmesser und der hier dann vorzugsweise geringeren Bohrungstiefe und der geringeren erforderlichen Bohrungsgenauigkeit ebenfalls kostengünstig möglich ist.

Claims (15)

  1. feflnsprüche
    % 1. Prüfadapter für eine Prüfeinrichtung zum elektrischen
    Prüfen von elektrischen, vorzugsweise elektronischen £ jo Prüflingen, wie elektrischen oder elektronischen •f Schaltungen und Schaltkreisen, Leiterplatten, festen
    p Verdrahtungen oder dergl., auf elektrische Fehler-
    freiheit, welcher Prüfadapter eine ebene, dicke
    Frontgesamtplatte aufweist, welche eine sehr große
    ί! 2 5 Anzahl Durchgangslöcher aufweist, welche von ;.; elektrisch leitenden, im Prüf adapter gegeneinander
    elektrisch isolierten Kontaktstiften, vorzugsweise
    FederkOJritak:-stiften durchdrungen sind, die im Bereich der rirchgangslöcher der Frontgesamtplatte maximal 1,4 mm Außendurchmesser aufweisen, welche Kontaktstifte je eine Kontaktspitze aufweisen, die gegen Rückstellkräfte, vorzugsweise gegen Federwirkung axial in Richtung auf die Frontgesamtplatte zu beweglich sind, dadurch gekenn- zeichnet, daß die Gehäuse oder Führungshülsen der Kontaktstifte (11; 11') im Prüfadapter lösbar angeordnet sind, daß die Durchgangslöcher (29,40) der Frontgesamtplatte (16) für diese Kontaktstifte (11; 11') je einen Längsabschnitt (29), dessen Durchmesser dan Außendurchmesser des in diesem Lochabschnitt befindlichen Abschnittes des Kontaktstiftes zur radialen und/oder axialen Positionierung des in ihm befindlichen Bereiches des Gehäuses oder der Führungshülse des Kontaktstiftes ungefähr entspricht, und je einen restlichen Längsabschnitt (40), dessen Durchmesser
    größer als der des anderen Längsabschnittes (29) ist, so daß dieser restliche Längsabschnitt (40) außer Kontakt mit dem Kontaktstift ist, aufweisen.
    - 2 -
  2. 2. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Frontgesamtplatte (16) aus zwei gesonderten ebenen Scheiben (12, 13) zusammengesetzt ist, die aneinander anliegen und von denen die eine Scheibe eine der radialen und vorzugsweise auch der axialen Positionierung oder Stützung der Kontaktstifte (11, 311I dienende, die Längsabschnitte der kleineren Durchmesser der Durchgangslöcher der Frontgesamtplatte aufweisende Positionierscheibe (12) für die Kontaktstifte ist, und daß die andere Scheibe der Frontgesamtplatte (16) als starre Stützplatte (13) für die an ihr anliegende Positionierscheibe (12) dient, welche Stützplatte die Längsabschnitte (40) der größeren Durchmesser der Durchgangslöcher der Frontgesamtplatte aufweist, die von den betreffenden Kontaktstiften (11; 1]·) berührungslos durchdrungen werden.
  3. 3. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Frontgesamtplatte einstückig und starr ist.
  4. 4. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfadapter (10; 10') im Abstand von der Frontgesamtplatte (16) eine ebene, zu dieser Frontgesamtplatte vorzugsweise parallele,
    g0 rückwärtige Gesamtplatte (17; 17') aufweist, die der rückwärtigen radialen und/oder axialen Positionierung der Kontaktstifte (11, 11') und/oder deren axialer Stützung dient und/oder dem elektrischen Anschluß der Kontaktstifte dienende Anschlußkontakte (26; 26") trägt und ebenfalls vorzugsweise Durchgangsbohrungen aufweisen kann, die jeweils einen Längsabschnitt zur radialen und/oder axialen Positionierung des Kontakt-
    - 3 -
    Stiftes und einen restlichen Längsabschnitt, dessen Durchmesser größer als der des anderen Längsabschnittes ist, aufweisen können.
  5. 5. Prüfadapter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet JO daß die rückwärtige Gesamtplatte (17) des Prüfadapters zwei ebene, gesonderte Scheiben (14, 15) aufweist, von denen die eine Scheibe eine Positionierscheibe (14) für die Kontaktstifte (11) und die andere Scheibe (151 eine an der Positionierscheibe anliegende starre Stützplatte (J5) für diese Positionierscheibe (14) ist, wobei diese Positionierscheibe (3 4) Durchgangsbohrungen aufweist, deren Durchmesser dem Durchmesser von in ihnen befindlichen Bereichen der Kontaktstifte ungefähr entsprechen und die diejenigen Längsabschnitte der Durchgangsbohrungen der rückwärtigen Gesamtplatte sind, die der radialen und/oder axialen Positionierung der Kontaktstifte dienen, und daß die rückwärtige Stützplatte vorzugsweise Anschlußkontakte (26 für den elektrischen Anschluß der Kontaktstifte (11) trägt.
  6. 6. Prüfadapter nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Anschlußkontakte (26") der rückwärtigen Gesamtplatte (17') dem Zentrieren der in sie eingreifenden und mit ihnen in elektrischem Kontakt stehenden rückwärtigen Anschlußenden (22") der Kontaktstifte(11') dienen.
    - 4 -
  7. 7. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Gehäuse oder ■
    Führungshülsen der Kontaktstifte in den die
    kleineren Durchmesser aufweisenden Längsabschnitten (29) der zugeordneten Durchgangslöcher (29, 40) '
    ritar Prnnfnocamfniatfo I Λ f> ^ rOiVinnrteorihlnaoin lÖsija1" --
    gehalten oder mit geringem Gleitlagerspiel geführt
    sind.
  8. 8. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (19) oder '
    die Führungshülse des Kontaktstiftes (11; 11') ober- ί
    halb der Positionierscheibe (12) der Frontgesamt- !:
    platte (16) einen Ringbund (20) oder dergl. auf- |
    weist, der der axialen Abstützung des Gehäuses ;
    (19) bzw. der Führungshülse an ihr dient ;
    oder dienen kann. i;
  9. 9. Prüfadapter nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, |
    daß die Positionierscheibe (12) der Frontgesamt- H
    platte (16) den Kontaktspitzen (23) der Kontakt- '{
    stifte (11; 11') benachbart angeordnet ist. (;
  10. 10. Prüf adapter nach Anspruch 2 oder 9, dadurch gekennzeichnet, ;-daß die Positionierscheibe (12) und die Stützplatte |
    on (13) der Frontgesamtplatte (16) nur außerhalb ihrer
    der Aufnahme der Kontaktstifte (11; 11') dienenden
    Bereiche zusammengehalten sind.
  11. 11. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
    35
    5647
    dadurch gekennzeichnet, daß die betreffenden Kontaktstifte lösbar gehaltene Federkontaktstifte ο
    (11 ; 11') sind, wobei der einzelne Federkontaktstift einen mit seiner Kontaktspitze (23) fest verbundenen Kolben (21) aufweist, der im geraden Gehäuse (19) dieses Federkontaktstiftes axial beweglich geführt und durch eine im Gehäuse angeordnete, sich vorzugsweise am Gehäuse abstützende Feder (24) axial federbelastbar oder federbelastet ist.
  12. 12. Prüfadapter nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, 15
    daß der Federkontaktstift (11') an dem vom die Kontaktspitze (23) tragenden Kolben (21) abgewendeten Endbereich des Gehäuses (19) einen weiteren im Gehäuse axial gleitbar gelagerten Kolben
    (21') aufweist, der durch dieselbe Feder (24) wie 20
    der andere Kolben (21) federbelastet oder -belastbar ist und an dem ein dem elektrischen Anschluß des Federkontaktstiftes dienendes Anschlußglied (22") angeordnet ist, das vorzugsweise stangen-
    förmige Gestalt aufweist.
    25
  13. 13. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Länge desjenigen Längsabschnittes (29) der Durchgangsbohrung der
    Frontgesamtplatte und/oder der Durchgangsbohrung 30
    der rückwärtigen Gesamtplatte, dessen Durchmesser dem Außendurchmesser des in ihm befindlichen Bereiches des Kontaktstiftes ungefähr entspricht, ungefähr 0,1 bis 5 mm beträgt.
    - 6 -
  14. 14. Prüfadapter nach einem der Ansprüche 2 bis 13, 5
    dadurch gekennzeichnet, daß die Positionierscheibe (12; 14) der Frontgesamtplatte und/oder der rückwärtigen Gesamtplatte eine Platte, ein Blatt oder eine Folie ist.
  15. 15. Prüfadapter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Länge des Längsabschnittes (29; 30) der Durchgangsbohrung der Frontgesamtplatte (16) bzw. der rückwärtigen Gesamtplatte (17), dessen Durchmesser
    dem Durchmesser des in ihm befindlichen Bereiches des Kontaktstiftes zu dessen radialer und/oder axialer Positionierung ungefähr entspricht, weniger als die halbe Dicke der Frontgesamtplatte (16)
    bzw. der rückwärtigen Gesamtplatte (17) beträgt. 20
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4323276A1 (de) * 1993-07-12 1995-01-19 Mania Gmbh Vollmaterialadapter
US5977786A (en) * 1993-07-12 1999-11-02 Mania Gmbh & Co. Adapter including solid body

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