DE8306628U1 - Vorrichtung zur Wärmbehandlung von Halbleitersubstraten u. dgl. - Google Patents
Vorrichtung zur Wärmbehandlung von Halbleitersubstraten u. dgl.Info
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 7
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 9
- 210000001772 Blood Platelets Anatomy 0.000 description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229910052904 quartz Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 230000001464 adherent Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 235000015067 sauces Nutrition 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
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-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B17/00—Furnaces of a kind not covered by any preceding group
- F27B17/0016—Chamber type furnaces
- F27B17/0025—Especially adapted for treating semiconductor wafers
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
GLAWE, DELFS, MOLL & PARTJNER :. : '
Helmut Seiter GmbH Kasernenstraße 91
7760 Radolfszell
Vorrichtung zur Wärmebehandlung von Halbleitersubstraten u.dgl.
PATENTANWÄLTE EUROPEAN PATENTATTORNEYS
RICHARD GLAWE
DR-ING. |
KLAUS OELFS
DIPLHNG. |
WALTER MOLL
DIPL-PHYS. DR. HER. NAT. ÖFR BEST. DOLMETSCHER |
ULRICH MENGDEHL
DIPL-CHEM. DR. RER. NAT. HEINRICH NIEBUHR DIPL-PHYS. DR. PHIL HABIL |
8000 MÜNCHEN 26
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MÜNCHEN | |
A 05 |
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Wärmebehandlung
von HalbleiterSubstraten, wie z.B. Siliziumplättchen, bestehend aus einem von einer rohrförmigen Wand umgrenzten
Behandlungsgefäß, das durch eine Heizvorrichtung
5 heizbar ist und Anschlüsse zum Ein- oder Durchleiten eines gasförmigen Behandlungsmediums aufweist, und einem Halter
für eine Vielzahl von Halbleiterscheiben, der im Betrieb innerhalb des Behandlungsgefäßes angeordnet ist.
Herkömmliche Vorrichtungen dieser Art wiesen üblicherweise einen Hochteraparaturofen auf, der ein
horizontal angeordnetes Rohr aus hochreinem Quarz aufweist, in welches auf der einen Seite ein Prozeßgas,
weiches den Behandlungsdampf mit sich führt, eingeführt wird-und am anderen Ende wieder abgesaugt wird.
Dieses Quarzrohr kann betrieben werden bei Atmospärendruck oder unter Unterdruck, typischerweise 200 - 800
Millitorr. Die Siliziumplattchen sind auf Trägern aus
Quarz angeordnet, die üblicherweise Boote oder
Schlitten genannt werden, und diese Träger werden durch Schieben in die Heizzone des Rohres eingeführt. Es ist
wohl bekannt, daß bei den herkömmlichen Hitzebehandlungsvorrichtungen
die Verluste sehr hoch sind und die Ausbeute von hochqualitativen, fehlerlosen Plättchen sehr
gering, typischerweise unter 20 %, ist. Einander Hauptgründe
für diese Verluste ist, daß kleine zusammenge- !- backene oder feste Teilchen durch die Schicht ausgebil-
det werden können und von dieser Schicht abfallen können,
welche durch Dampfablagerung auf der Oberfläche des Rohres und des Trägers entstanden ist, und daß
solche Teilchen, auf den Siliziumplattchen haftenbleiben. Ein anhaftendes Teilchen von der Größe nur eines Microns
kann ausreichend sein, um das Plättchen für die weitere Benutzung unbrauchbar zu machen, speziel wenn das Plätt-
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chen vorgesehen ist für eine Halbleitervorrichtung mit hochintegrierten MOS Schaltkreisen. Ein weiterer Grund
für Ausfälle und Verluste kann resultieren aus übermäßigen, ungesteuerten Abweichungen der Temperaturverteilung
im Rohr von einem gewünschten Temperaturprofil.
Der Neuerung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, durch
welche bzw. in welcher Halbleitersubstrate u.dgl. behandelt werden können ohne hohe Ausfallquoten, d.h. in welcher
die Ursachen für die oben genannten Verluste wesentlich herabgesetzt und somit die Ausbeute brauchbarer Halbleitersubstrate
erheblich erhöht ist.
Diese Aufgabe wird bei einer Vorrichtung der angegebenen Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die rohrförmige
Wand des Behandlungsgefäßes lotrecht angeordnet ist und den Halter berühxungsfrel umgibt, und daß das Behandlungsgefäß
mittels einer Hubvorrichtung heb- und senkbar ist.
Durch die neuerungsgemäß Ausgestaltung und Anordnung des Heizrohres und der Vorschubvorrichtung ist gewährleistet,
daß ein mechanischer Kontakt zwischen dem Substratträger und
der Rohrwandung, durch welchen durch Dampfablagerung ent-
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entstandene Teilchen oder Flocken von der Wand oder dem Träger abgeschabt werden könnten, völlig vermieden ist.
Auf diese Weise bleibt die oben erwähnte Verunreinigung der Siliziumplättchen u.dgl. völlig aus, wodurch die Ausbeute
an brauchbaren Plättchen erheblich erhöht wird, ohne daß nach dem Aufdampfen komplizierte chemische Waschvorgänge
od.dgl. notwendig wären.
Vorteilhafterweise wird bei einem derartigen vertikal angeordneten Heizrohr auch der Prozeßgasstrom in vertikaler
Richtung aufwärts oder abwärts durch das Heizrohr geleitet. Dies hat den zusätzlichen Vorteil, daß überraschenderweise
das Temperaturprofil im Heizrohr mit viel größerer Genauigkeit gesteuert und aufrechterhalten werden kann, als in einem
Horizontalrohr, und daß so ungesteuerte Abweichungen vom gewünschten Temper aturproJEil, die eine ungleichmäßige Dampfab-
ziert werden kann.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind
in den Unteransprüchen angegeben.
Eine Ausfühxungsform der Erfindung wird im folgenden
beschrieben unter Bezugnahme auf die beigefügten Figuren.
Es zeigen :
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Trägers oder
Boots für Halbleiterplättchen gemäß der Erfindung.
Fig. 2 in vergrößertem Maßstab eine Endansicht und Seiten- und 3
ansieht des Trägers von Fig. 1.
Fig. 4 eine schematische Seitenansicht der Hitzebehand-
und 5
lungsvorrichtung in einer bevorzugten Ausführungsform in zwei Stellungen.
Der Träger oder das Boot 1 von Fig. 1 bis 3 ist ganz aus Quarz hergestellt und weist zwei Endstücke 2, 3 auf,
die im wesentlichen fünfeckig ausgestaltet sind, und die an vier von ihren fünf Ecken miteinander verbunden sind
durch vier parallele Längsstäbe 4 um so eine starre trogförmige Struktur zu bilden, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist,
I III III ft · ·
die zur Oberseite hin geöffnet ist, so daß im wesentlichen
kreisscheibenförmige Plättchen 5 eingeführt werden können. Die Längsstäbe 4 sind mit Schlitzen oder Kerben 6 versehen,
in die die Kanten der Plättchen 5 eingreifen können um die
Plättchen 5 in im wesentlichen paralleler äquidistanter Anordnung festzulegen. Die Oberecke eines jeden Endstücks 2,
3 ist mit einer Öffnung 7 versehenf in welche ein Sperrstab
8 eingeführt werden kann, so daß er sich parallel zu den Längsstäben 4 erstreckt und im Eingriff steht mit den
normalerweise abgeplatteten oberen Kanten 9 der Plättchen 5, um diese in ihrer Stellung im Träger 1 festzulegen.
Eines der Endstücke 2, 3 ist mit einem Querstab 10 versehen, in den ein-Aufhängehaken eingreifen kann, um den
Träger 1 in einer Stellung aufzuhängen, in welcher seine Achse im wesentlichen vertikal verläuft und die Plättchen
5 im wesentlichen horizontal angeordnet sind mit vertikalem Abstand voneinander.
Der Träger 1, der, wie in Fig. 1 bis 3 dargestellt, mit den Siliziumplättchen 5 beladen ist, kann in einer
der Heizbehandlungsvorrlchtungen Verwendung finden, die
im folgenden unter Bezugnahme auf Fig. 4 und 5 beschrieben werden.
;
I 411
I 411
Ii ι ι
Gemäß Fig. 4 steht ein Halter 1 mit den Siliziumplättchen 5, der mittels einer in Fig. 1 bis 3 nicht
dargestellten Standplatte 17 zur Erhöhung der Standfestigkeit versehen ist, auf einer Unterlage 15, bei
der es sich um einen stationären Tisch oder auch um ein Förderband zum Transportieren einer Vielzahl von
Haltern 1 handeln kann. Darüber ist mittels einer Hubvorrichtung 19 heb- und senkbar ein Ofen 11 mit einer
Heizwicklung 13 und einem rohrförmigen Behandlungsgefaß
12 angeordnet. Ein Behandlungsgas kann mittels einer Zuleitung 14 und eines Absauganschlusses 18 durch das Behandlungsgefäß
12 hindurchgeleitet werden. Fig. 4 zeigt die obere Stellung des Behandlungsgefäßes 12, in der sich
dieses oberhalb des Halters 1 befindet, so daß der HaI-ter 1 heran- bzw. wegtransportiert werden kann.
Fig. 5 zeigt die gleiche Vorrichtung in der Betriebsstellung, in welcher die aus Ofen 11 und Behandlungsgefäß
12 bestehende Einheit mittels der Hubvorrichtung abgesenkt ist, so daß sie auf der Unterlage 1 aufsteht und den KaI-ter
1 berührungsfrei zentrisch umgibt. Der untere Abschluß 16 des Behandlungsgefäßes 12 bzw. Ofens 11 kann mit Dichtelementen
für einen gasdichten Anschluß an die Unterlage ausgebildet sein.
Gemäß einer anderen, nicht dargestellten Ausführungsform
der Erfindung kann die Anordnung umgedreht
werden, so daß der Halter 1 an einer Halterung aufgehängt ist und das Behandlungsgefäß 12 mit dem Ofen 11 mittels der Hubvorrichtung von unten her tuber den Halter bewegt wird.
werden, so daß der Halter 1 an einer Halterung aufgehängt ist und das Behandlungsgefäß 12 mit dem Ofen 11 mittels der Hubvorrichtung von unten her tuber den Halter bewegt wird.
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Claims (5)
1. Vorrichtung zur Wärmebehandlung von Halbleitersubstraten,
wie z.B. Siliziumplättchen, bestehend aus
einem von einer rohrförmigen Wand umgrenzten Behandlungsgefäß, das durch eine Heizvorrichtung heizbar ist und Anschlüsse zum Ein- oder Durchleiten eines gasförmigen Behandlungsmediums aufweist, und einem Halter für eine Vielzahl von Halbleiterscheiben, dadurch g e k e η η-zeichnet , daß die rohrförmige Wandung des Behandlungsgefäßes (12) lotrecht angeordnet ist und den Halter (1) berührungsfrei umgibt, und daß das Behandlungsgefäß mittels einer Hubvorrichtung (19) heb- und senkbar ist.
einem von einer rohrförmigen Wand umgrenzten Behandlungsgefäß, das durch eine Heizvorrichtung heizbar ist und Anschlüsse zum Ein- oder Durchleiten eines gasförmigen Behandlungsmediums aufweist, und einem Halter für eine Vielzahl von Halbleiterscheiben, dadurch g e k e η η-zeichnet , daß die rohrförmige Wandung des Behandlungsgefäßes (12) lotrecht angeordnet ist und den Halter (1) berührungsfrei umgibt, und daß das Behandlungsgefäß mittels einer Hubvorrichtung (19) heb- und senkbar ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch. 1 , dadurch g e k e η nzeichnet
, daß der Halter (1} auf einer unterlage stehend angeordnet ist und das Behandlungsgefäß (12) mittels
der Hubvorrichtung (19) zwischen einer oberen Stellung oberhalb des Halters (1) und einer unteren Stellung, in der es
auf der unterlage aufsitzt und den Halter (1) berührungsfrei umgibt, bewegbar ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2 , dadurch gekennzeichnet, daß das Behandlungsgefäß (12) an seinem
unteren Abschluß eine Dichtungsanordnung (16) für den gasdichten Anschluß an die Unterlage (15) aufweist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 , dadurch gekennzeichnet , daß.die Unterlage (15) als Transportband
ausgebildet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet , daß der Halter (1) an einer Tragvorrichtung
hängend ausgebildet ist und das Behandlungsgefäß (12) mittels der Hubvorrichtung (19) zwischen einer unteren Stellung unterhalb
des Halters und einer oberen Stellung, in der es den HaI-ter berührungsfrei umgibt, bewegbar ist.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8306628U1 true DE8306628U1 (de) | 1984-08-16 |
Family
ID=1331644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8306628U Expired DE8306628U1 (de) | Vorrichtung zur Wärmbehandlung von Halbleitersubstraten u. dgl. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE8306628U1 (de) |
-
0
- DE DE8306628U patent/DE8306628U1/de not_active Expired
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