DE8203300U1 - Halbleiterbauelement mit Keramiksubstrat - Google Patents
Halbleiterbauelement mit KeramiksubstratInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen Berlin und München VPA 82 G 1 O 7 3 OE
Halbleiterbauelement mit Keramlksubs'jrat
Die vorliegende Neuerung bezieht sich auf ein Halbleiterbauelement
mit mindestens einem Halbleiterkörper, der auf einer Seite mit einer auf einem gut wärmeleitenden
Keramiksubstrat angebrachten Metallschicht stoffschlüssig
verbunden ist, dessen andere Seite mit einem ersten Anschlußleiter verbunden ist, mit einem zweiten Anschlußleiter,
der elektrisch mit der Metallschicht verbunden ist.
Ein solches Halbleiterbauelement iat beispielsweise im
11IAS '75 Annual", Seite 50 bis 54 beschrieben worden.
Nach der Montage des Halbleiterkörpers und der Anschlußleiter auf den Metallschichten wird das Halbleiterbauelement
durch Vergießen hermetisch verschlossen. Zum Vergießen wird ein Rahmen oder ein sonstiges Gehäuse benötigt,
das nach dem Vergießen Bestandteil des Halbleiterbauelements bleibt.
Die Neuerung zielt auf eine Vereinfachung des Gehäuses. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß das Keramiksubstrat,
der Halbleiterkörper, die Metallschicht und die Verbindung zwischen Anschlußleiter und Metallschicht bzw. zwischen
Anschlußleiter und Halbleiterkörper mit einer Kunststoffmasse in einer Höhe bedeckt ist, daß diese im
nicht ausgehärteten Zustand den Rand des Keramiksubstrats nicht benetzt und daß die Anschlußleiter mindestens
einen Abstand vom Rand des Keramiksubstrats haben, der dem erforderlichen Kriechweg entspricht.
Hab 1 Dx / 04.02.1982
- 2 - VPA 82 G 1 O 7 3 DE
Weiterbildungen der Neuerung sind Gegenstand der UnteransprUche.
Die Neuerung wird an Hand eines Ausführungsbeispiels in Verbindung mit don Fig. 1 und 2 erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die Aufsicht auf ein noch unvergossenes Halbleiterbauelement
und
Fig. 2 die Seitenansicht eines vergossenen Halbleiterbauelements
nach Fig. 1.
Das Halbleiterbauelement nach Fig. 1 ist auf einem Keramiksubstrat
1 aufgebaut. Es kann beispielsweise aus Berylliumoxid oder Aluminiumoxid bestehen. Beide Keramiken
isolieren elektrisch und haben gute Wärmeleiteigenschaften. Auf dem Substrat sind drei rechteckige Metallschichten
2, 3 und 4 aufgebracht. Diese werden in bekannter Weise durch Metallisierung der Oberfläche des
Keramiksubstrats erzeugt. Diese Schichten sind sehr dünn und haben keine hohe Stromtragfähigkeit. Für höhere Leistungen
werden die Metallschichten 2, 3 und 4 daher mit dickeren Metallplättchen 5, 6 und 7 verstärkt, die z. B.
an die Metallschichten angelötet sind. Die Metallplättchen
haben abgewinkelte Teile 8, 9 und 10, die wenigstens
etwa im rechten Winkel von den Metallplättchen abstehen. Diese Teile werden als Anschlußieiter benutzt.
Auf dem Metallplättchen 6 ist ein Halbleiterkörper 11, z. B. eine Transistor- oder Thyristortablette durch Verlöten
oder mit einem leitenden Kleber befestigt. Aul der anderen Seite wird der Halbleiterkörper 11 durch eine
Steuerleitung 12 und durch eine weitere Leitung 13 kontaktiert,
die ihrerseits mit Anschlußleitern 8, 10 verbunden sind. Ist der Halbleiterkörper z. B. ein MOS-FET,
wird die Drainelektrode mit dem Plättchen 6, die Sourceelektrode mit dem Plättchen 5 und die Gateelektrode mit
dem Plättchen 7 elektrisch verbündet». Die Leitungen 12,
13 können Bonddrähte sein.
. 3 - VPA 82 G 1 O 7 3 DE
Nach Montage des Halbleiterkörpers und der Anschlußleiter
wird das Keramiksubstrat so hoch mit einer Kunststoffmasse 14 (Fig. 2) bedeckt, daß die Oberflächenspannung
am Rand des Keramiksubstrats 1 noch ausreicht, den Rand des Halbleitersubstrats von der Kunststoffmasse 14
freizuhalten. Hierbei müssen der Halbleiterkörper, die Metallschichten und die Fußpunkte der Anschlußleiter von
der Kunststoffmasse bedeckt sein« Die Anschlußleiter sind so weit vom Rand des Keramiksubstrats 1 entfernt
angeordnet, daß der erforderliche Kriechweg, das ist die Entfernung von den Anschlußleitern bis zur Unterkante
des Substratrandes, eingehalten wird. Zur Minimierung der dazu erforderlichen Fläche sollten die Anschlußleiter
8, 9 und 10 die Oberfläche der Kunststoffmasse wenigstens annähernd senkrecht durchstoßen.
Anstelle eines steuerbaren Halbleiterbauelements kann auch ein ungesteuertes, z. B. eine Diode, auf dem Keramiksubstrat
montiert werden. Dazu sind dann lediglich zwei Anschlußleiter notwendig. Es können aber auch mehr
als ein Halbleiterkörper auf das Keramiksubstrat montiert werden, z. B. für Mittelpunktschaltungen, Serienschaltungen
oder komplette Gleichrichterbrücken. Entsprechend sind dazu mehrere Metallschichten und An-Schlußleiter
erforderlich.
Das vergossene, fertige Halbleiterbauelement wird z. B. durch Verkleben auf einem Kühlkörper befestigt.
2 Figuren
6 Schutzansprüche
Claims (6)
1. Halbleiterbauelement mit mindestens einem Halbleiterkörper, der auf einer Seite mit einer auf einem gut warmeleitenden
Keramiksubstrat angebrachten Metallschicht
stoffschlüssig verbunden ist, dessen andere Seite mit
einem ersten Anschlußleiter verbunden ist, mit einem zweiten Anschlußleiter, der elektrisch mit der Metallschicht
verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Keramiksubstrat (1), der
Halbleiterkörper (11), die Metallschicht (2) und die Verbindung zwischen Anschlußleiter (9) und Metallschicht
(2) bzw. zwischen Anschlußleiter und Halbleiterkörper mit einer Kunststoffmasse (14) in einer Höhe bedeckt
ist, daß diese im nicht ausgehärteten Zustand den Rand des Keramiksubstrats (1) nicht benetzt, und daß die An-Schlußleiter
(8, 9, 10) mindestens einen Abstand vom Rand des Keramiksubstrats haben, der dem erforderlichen
Kriechweg entspricht.
2. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußleiter
(8, 9, 10) die Kunststoffmasse (14) im wesentlichen senkrecht durchstoßen.
3. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf der
genannten Fläche mindestens eine weitere Metallschicht (3, 4) aufgebracht ist, mit der der zweite Anschlußleiter
(10) bzw. weitere Anschlußleiter (8) verbunden sind.
4. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet,
daß die Anschlußleiter (8, 91 10) aus Blech bestehen und
wenigstens etwa rechtwinklig abgebogen sind, und daß das abgebogene Teil elektrisch mit der zugeordneten Metallschicht
(4, 2, 3) verbunden ist.
- 5 - VPA 82 G 1 Q 7 3 DE
5. Halbleiterbauelement nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß das abgebogene Teil
den größten Teil der Fläche der Metallschicht (2, 3, 4) bedeckt und daß der Halbleiterkörper (11) auf dem abgebogenen
Teil des genannten zweiten Anschlußleiters (9) angeordnet ist.
6. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
eine Seite des Halbleiterkörpers (11) durch mindestens einen Bonddraht (12, 13) mit dem bzw. den entsprechenden
Anschlußleitern (10, 8) verbunden ist.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8203300U1 true DE8203300U1 (de) | 1982-06-24 |
Family
ID=1329711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8203300U Expired DE8203300U1 (de) | Halbleiterbauelement mit Keramiksubstrat |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE8203300U1 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3241508A1 (de) * | 1982-11-10 | 1984-05-10 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungstransistor-modul |
DE3406537A1 (de) * | 1984-02-23 | 1985-08-29 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Anordnung eines leistungshalbleiterbauelementes auf einem isolierenden und mit leiterbahnen versehenen substrat |
DE3516995A1 (de) * | 1984-05-11 | 1985-11-14 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleitereinrichtung |
DE4222973A1 (de) * | 1992-07-13 | 1994-01-20 | Asea Brown Boveri | Bidirektionaler Halbleiterschalter |
DE4225154A1 (de) * | 1992-07-30 | 1994-02-03 | Meyerhoff Dieter | Chip-Modul |
DE4300516A1 (de) * | 1993-01-12 | 1994-07-14 | Abb Ixys Semiconductor Gmbh | Leistungshalbleitermodul |
-
0
- DE DE8203300U patent/DE8203300U1/de not_active Expired
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3241508A1 (de) * | 1982-11-10 | 1984-05-10 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungstransistor-modul |
DE3406537A1 (de) * | 1984-02-23 | 1985-08-29 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Anordnung eines leistungshalbleiterbauelementes auf einem isolierenden und mit leiterbahnen versehenen substrat |
DE3516995A1 (de) * | 1984-05-11 | 1985-11-14 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleitereinrichtung |
DE4222973A1 (de) * | 1992-07-13 | 1994-01-20 | Asea Brown Boveri | Bidirektionaler Halbleiterschalter |
DE4225154A1 (de) * | 1992-07-30 | 1994-02-03 | Meyerhoff Dieter | Chip-Modul |
DE4300516A1 (de) * | 1993-01-12 | 1994-07-14 | Abb Ixys Semiconductor Gmbh | Leistungshalbleitermodul |
DE4300516C2 (de) * | 1993-01-12 | 2001-05-17 | Ixys Semiconductor Gmbh | Leistungshalbleitermodul |
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