DE739039T1 - Pixelstruktur, Bildsensor mit diesem Pixel, Struktur und entsprechende zugehörige Schaltung - Google Patents

Pixelstruktur, Bildsensor mit diesem Pixel, Struktur und entsprechende zugehörige Schaltung

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Publication number
DE739039T1
DE739039T1 DE0739039T DE96870050T DE739039T1 DE 739039 T1 DE739039 T1 DE 739039T1 DE 0739039 T DE0739039 T DE 0739039T DE 96870050 T DE96870050 T DE 96870050T DE 739039 T1 DE739039 T1 DE 739039T1
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DE
Germany
Prior art keywords
image sensor
pixel
pixels
cmos image
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE0739039T
Other languages
English (en)
Inventor
Bart 2640 Mortsel Dierickx
Nico 3001 Heverlee Ricquier
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC
Original Assignee
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC
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Publication date
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Publication of DE739039T1 publication Critical patent/DE739039T1/de
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/571Control of the dynamic range involving a non-linear response
    • H04N25/573Control of the dynamic range involving a non-linear response the logarithmic type

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Claims (13)

a DE/EPO 738039T1 - y. PATENTANS PRÜCHE
1. Struktur von Pixeln (100 oder 5 00), für CMOS-BilderzeugungsanWendungen, aufweisend:
ein lichtempfindliches Element (10 oder 50) ; - einen Lasttransistor (11 oder 51) , der in Serie zu dem lichtempfindlichen Element (10 oder 50) liegt;
- Mittel, die mindestens einen weiteren Transistor (13, 14 oder 22, 23 oder 32 oder 53) , der mit dem lichtempfindlichen Element (10 oder 50) und dem Lasttransistor (11 oder 51) verbunden ist, aufweisen, um die von dem lichtempfindlichen Element (10 oder 50) aufgenommenen Signale auszulesen und in einen Spannungsabfall über dem Lasttransistor (11 oder 51) umzuwandeln;
dadurch gekennzeichnet, daß die Gatelänge von mindestens dem Lasttransistor (11 oder 51) um mindestens 10% vergrößert ist, verglichen mit der Gatelänge der Transistoren, die gemäß den von dem CMOS-Herstellungsprozeß auferlegten Layout-Regeln hergestellt werden, wodurch die Lichtempfindlichkeit der Pixelstruktur erhöht wird.
2. CMOS-Bildfühler, der eine geometrische Konfiguration von Pixeln (100) hat, die aus einer Struktur gemäß Anspruch 1 bestehen, wobei jedes Pixel mindestens eine Photodiode (10) und einen Lasttransistor (11) mit einem auf eine Spannung (12) gelegten Gate aufweist, und bei dem die Auslesemittel mindestens einen zweiten Transistor aufweisen, der ein mit einer Datenausleseleitung (16) verbundener Emitterverstärker (13) ist.
3. CMOS-Bildfühler, der eine geometrische Konfiguration von Pixeln (100) hat, die aus einer Struktur gemäß Anspruch l bestehen, wobei jedes Pixel mindestens eine Photodiode (10) und einen Lasttransistor (11) mit einem nicht auf eine Spannung gelegten Drain hat, und bei dem die Auslesemittel einen zweiten Transistor (22) aufweisen, und einen dritten Transistor (23) aufweisen, der als Schalter wirkt und mit einer Datenausleseleitung (26) verbunden ist.
4. CMOS-Bildfühler, der eine geometrische Konfiguration von Pixeln
(100) hat, die aus einer Struktur gemäß Anspruch 1 bestehen, wobei jedes Pixel mindestens eine Photodiode (10) und einen Lasttransistor (11) , und Auslesemittel mit nur einem weiteren Transistor (32) hat, wobei das Pixel 5 sowohl in dem X-Y-, als auch in dem Y-X-Modus ausgelesen wird.
5. CMOS-Bildfühler, der eine geometrische Konfiguration von Pixeln (500) hat, die eine Struktur gemäß Anspruch l aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Pixel (500) nur eine Photodiode (50) und einen Schalter
(52) umfaßt, wobei der Lasttransistor (51) und die Auslesemittel (53) für eine Einheit aus mehreren einzelnen Pixeln (500) vorgesehen sind.
6. CMOS-Bildfühler gemäß irgendeinem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß er weiterhin mindestens ein Pseudopixel mit einer Stromquelle anstatt einer Photodiode aufweist, um die absolute Lichtintensität der Pixel zu bestimmen.
7. CMOS-Bildfühler gemäß irgendeinem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß er weiterhin festgelegte Gruppen von (&eegr; &khgr; m) Pixeln (70, 71, 72, 73) aufweist, die ein Ausgangsspannungssignal liefern, wobei das Ausgangsspannungssignal eine Art gemittelter oder minimierter Wert der einzelnen Ausgangsspannungssignale von nicht-defekten Pixeln in einer Gruppe ist.
8. CMOS-Bildfühler gemäß irgendeinem der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß er weiterhin ein Mosaikfarbfilter aufweist, das Vorzugs weise die Struktur der Pixelanordnung hat.
9. Vorrichtung, die einen Bildfühler gemäß irgendeinem der Ansprüche 2 bis 8 mit einer entsprechenden peripheren Schaltung aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß sie aufweist:
eine Signalverarbeitungseinheit (83), und - eine Steuerschaltung (84, 85) , um das Ausgangsspannungssignal (80) der Pixel (100) oder der Einheiten aus Pixeln (500) in dem Fühler (800) innerhalb des Bereichs der Eingangsspannung (82) der Signalverarbeitungseinheit (83) einzustellen,
wodurch eine automatische Helligkeitssteuerung des Fühlers erhalten wird.
10. Verfahren zum Erhöhen der Homogenität des Bildes, das bei einem Bildfühler gemäß irgendeinem der Ansprüche 2 bis 6 angetroffen wird, dadurch gekennzeichnet, daß es die Schritte aufweist, bei denen:
ein einzelnes Pixel (100 oder 500) ausgewählt wird, eine hohe Stromdichte während einer gewissen Dauer auf einen der Transistoren (11, 13, 14 oder 53) eines Pixels gegeben wird, wobei
die Dauer so gewählt wird, daß die Schwellenspannung des Transistors (11, 13, 14 oder 53) auf einen vorgegebenen Wert verschoben wird.
11. Verfahren zur Herstellung eines auf einem CMOS-Bildfühler gemäß Anspruch 8 aufzubringenden Farbfilters, wobei das Verfahren die Schritte aufweist, bei denen:
ein Farbgemisch, das mindestens Polyvinylalkohol, Dichromat, und das erforderliche Pigment oder den erforderlichen Farbstoff enthält, in Form einer Suspension, Dispersion oder Lösung hergestellt wird,
DE/EPO 73S039T1
dieses Farbgemisch auf die Pixelstruktur des CMOS-Bildfühlers durch Schleudern aufgebracht wird,
eine Belichtung gemacht wird, wobei vorzugsweise der gleiche Maskensatz wie beim Herstellen der Pixelstruktur des CMOS-Bildfühlers verwendet wird,
der belichtete Teil weggeätzt wird, und ein Spül- und/oder Verbrennungsschritt ausgeführt werden.
12. Verfahren gemäß Anspruch 11, wobei die hier angegebenen Schritte für weitere Farben wiederholt werden.
13. Verwendung von irgendeinem der Vorrichtungen gemäß irgendeinem der Ansprüche 1 bis 9, oder der Verfahren gemäß Anspruch 10, 11 und 12 zum Herstellen einer Bildkamera.
DE0739039T 1995-04-18 1996-04-18 Pixelstruktur, Bildsensor mit diesem Pixel, Struktur und entsprechende zugehörige Schaltung Pending DE739039T1 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP95870037 1995-04-18
EP95870053 1995-05-12
US08/635,035 US5933190A (en) 1995-04-18 1996-04-18 Pixel structure, image sensor using such pixel structure and corresponding peripheral circuitry

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Publication Number Publication Date
DE739039T1 true DE739039T1 (de) 1997-09-11

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DE0739039T Pending DE739039T1 (de) 1995-04-18 1996-04-18 Pixelstruktur, Bildsensor mit diesem Pixel, Struktur und entsprechende zugehörige Schaltung

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JP (1) JPH09298286A (de)
DE (1) DE739039T1 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8063963B2 (en) 1998-02-09 2011-11-22 On Semiconductor Image Sensor Imaging device having a pixel structure with high dynamic range read-out signal
NL1011406C2 (nl) * 1998-02-28 2000-01-07 Hyundai Electronics Ind CMOS beeldsensor met testschakeling voor het verifiëren van de werking daarvan.
JP3410016B2 (ja) * 1998-03-31 2003-05-26 株式会社東芝 増幅型固体撮像装置
JP3725007B2 (ja) 2000-06-06 2005-12-07 シャープ株式会社 対数変換型画素構造およびそれを用いた固体撮像装置

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JPH09298286A (ja) 1997-11-18

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