DE705376C - Strommesser fuer Hochfrequenz - Google Patents

Strommesser fuer Hochfrequenz

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DE705376C
DE705376C DEST55949D DEST055949D DE705376C DE 705376 C DE705376 C DE 705376C DE ST55949 D DEST55949 D DE ST55949D DE ST055949 D DEST055949 D DE ST055949D DE 705376 C DE705376 C DE 705376C
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DE
Germany
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birefringence
high frequency
frequency
frequency ammeter
ammeter
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DEST55949D
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English (en)
Inventor
Dr Harald Straubel
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HARALD STRAUBEL DR
Original Assignee
HARALD STRAUBEL DR
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/245—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using magneto-optical modulators, e.g. based on the Faraday or Cotton-Mouton effect

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Strommesser für Hochfrequenz Alle direkten Verfahren, den Hochfrequenzstrom eines Schwingungskreises zu messen, haben den Nachteil, daß sie bei Enschaltung in den Kreis die Daten desselben beeinflussen.
  • Teils wird der Widerstand crhöht, teils tritt eine kapazitive oder induktive Rückwirkung ein. Die Vergrößerung des Widerstandes ist besonders bei der Messung sehr großer Ströme störend.
  • Die indirekten Verfahren der Strommessung mit einem Ankopplungskrcis bedürfen einer Eichung, die sich nur schwer erreichen l{ßt, da das Übersetzungsverhältnis zwischen den Kreisen sehr genau bekannt sein nuß. Die Eichung mii Wechselstrom von relativ geringerer Frequenz ist dabei wegen der bei Hochfrequenz geänderten induktiven und kapazitiven Wirkung auf Indikator wie Zuleitungen nicht möglich. Auch der kapazitive Nebenschluß des Thermoclcmentes liefert einen Meßfehler. Iiesonders ungenau werden diese Verfahren, wenn bei sehr kurzen Wellen hercits ein bestimmter Energiebetrag von der Schwingspule sclbst ausgestrahlt wird.
  • Denn dann ist die Annahme eines quasistationären Stromes nicht mehr berechtigt.
  • Die Hochfrequenzstrommessungen beruhen fast alle auf der thermischen Wirkung des Stromes. Dabei wird die erzeugte Temperatu mehr oder weniger direkt @Photoamperemeter @ angezeigt.
  • Das vorliegende Verfahren will die genannteil Nachteile vermeiden. Es bleibt zu ar zunächst die unbekannte Kopplung: doch sind bei der Umeichung mit anderen Frequzen infolge der wesentlich einfacheren geometrisehen Verhältnisse kapazitive und induktive Fehler ohne weiters berechenbar. Erínldungsgemäß wird in das zu untersuchende Hochfrequenzmagnetteld ein durchsichtiger, fester Körper, z. B. Glas, gebracht, der auf einer dünnen, leitenden Fläche befestigt ist.
  • Die Erwärmung der Metallhaut durch den Induktionsstrom ergibt in dem Glasplättchen ein Temperaturgefälle, das eine Spannungs. doppelbrochung (Temperaturspannung@ he -vorrutt. Diese Doppelbrechung ard in bekanmer Weise im polarisierten Licht beobachtet. Z@@@clan@@i. wird man zur besseren Be@@bechung die @l tallhau@ an @lner Stelle durchhrcch@@. s@ @@@ dann d@@. Art leitender King Karzschiu@@@, abrigbi@ibt. Dieg@@z Ahor@@ung bost@@ @@so aus eiher Lichtqu@lie.
  • @@@ Pol@ris@@@. @@ Gi@spiatichen mit a@r @@@@ut King @nd Dinc@@ Analysator.
  • @@@@@ @@@@ @@@ S@@@@@osigkait @@ul Dunk@l-L@i@@@@ @@@@@@ Niools. so wird bci Er-@@@@@ung @@@@@aden Flache des Ringes @@@@@@ @@@@@@ toige Temperaturdi@@ren-Z@@@@@isc@@ @@@@@ Zchcizten und der ung@-@@@@@@ @@@@@@ @@@@@ibrechend. und das Gesidrslold h@@@ sich@@aut. Diese Authellung k@@@@ @@ bu@@@@@@@ W@ise miuels Photozelle.
  • B@@@@@ter. Tlerm@ @@ment oder durch Ver-@@@@@ @@@ clner L@@htquelle variai@ur Intensi-@@@@ g@messen w@@@@n. Das variable Ver= glel@l@hceln kana @@@@ dabei von der B@-leuchtungslicl@quelle abzweigen und miu@l-Di@erentialphotozelle niessen.
  • F@@mer erhmbt auch die Untersucbung der Ellipuzhät da@ Lichtes mit einem Babinet-Kemponsator @ine m@ssung der Stromstarke.
  • N@s Material. bci dem infolge ungleich-@@@iger Erwarmung Doppelbrechung eimritt.
  • @@@@@@ au@er @las @ch andere anorganische d@@ @@@@@@@ch@ darchsichtige Körper ver @@@@@@rd@n. M@@ wird zweekmabig solch@ @@@@@@@@@b@n, die an sich moglichst geringe d@@ darische und magnetische Verluste auf-@@@@is@n.
  • Zur Verstärkung des Eücktes nimmt man @@@@@@llcn mit miglichst schlcchter Warme.
  • @@@@@ und deckt d@@ fecie Fläche des Me-@@@@@@@@ ab, um @ine Abkühlung durch Ko@@@kd@@@sstromung zu vorhindern. Noch @@@sser ist@@, die Icitende Fläche Ring im I@@@@@@ des Glas@@ Körpers anzubringen, so dal@ s@nkrecht zur Beobachtumgsrichtung zwei @@@@k@hlte Flächen vorhanden sind @Teil-K@@@@ @laskörper.
  • Die m@@llschi@ht wird durch Kathoden-@@@@@@@ung oder ch@misch auf dem Glas-@@@@chen @@@d@@@oschlagen. Der niederschlag @@@@@ @@ dunn gehalten werden. daß man @@@@ @hn@@@in@ ausgesparte Fläche durch das Matt@h@n @@indurch I@obachten kann.
  • Dit E@@p@in dlichk@it des meßvertahrens @aßt sich st@@@@. w@nn der Lichtsu@ahl das Plättchen @@ h@t@ch darchs@tz@.
  • @@@ eig@m@i@@@ M@@anordnung. Glasplättch@@ @@@@@@@ N@@lerschlag, braucht nur @@@@ @@@@@hm@@@@@ @@@ wenigen Millimetern bei @@@@@ @mm Diske zu erhalten. Eine Tcmp@@@urd@@@@@@@@ van too mm in dem @@lasplattchen @@@@ ereits eine erhebliche @opp@@br@chuung. D@shalb wird hur die Erwarmung des Plattchens nur ein sehr geringer Energicbcurag benotigt. da die Messung selbst durch Licht orfolgt, triu praktisch k@ine störung darch die B@obachtung Zuleiung@a cin: die Beobachtung @@nn in gr@@ rer @@ne lernung vom Schwingmgskres er@olgen.
  • Die Eichung ertolgt mit Hochfrea@tenz vo@ relativ geringer Period@azahl. d@die Erwar@ mung des plattchens pur propor@o@@ d@@ Wurzei aus der Frequenz wachst. das er@indungsgemabe Vertahr@ b@a d@@.
  • @orzug einer b@li@bigen Beweg@ichken. Weger sciner kl@inheit kann de Melkorper a@ch@@ einzeln@ Stellen @iner Spule gebracht werden.
  • Eine Zerstorung durch Überlastung ist nicht zu befurchten. wenn man bei unbekannt@.
  • Stromstarken die Kopplung zur @hst genugend lose macht.
  • PATENTANSPRÜCHD: 1. hochtrequenzstrommesser amer Verwendung eines von dem me@strom er zeugten Magnetfeldes. gekennzeichnet durd @inen @ das hochfrequente magneffeld ge brachten durchsichtigen, f@s@en K@rper. de@ infolge inhomogener Erwarmung darcl. eine mit ihm verbundene Wirbelstro@@-bildung bzw. indukdon @utw@isende L@@-terriache optische Dippelbre@hung zeigt. deren im durchtallonden pol@risterten Licht beobachtete Gro@e ein Ma@@ @r d@@ zu messonden Strom bildet.

Claims (1)

  1. 2. hochfrequenzstrommesser nach An spruch I. dadurch g@k@nnzeichnet. da@ die Leiter@dche zur Bcopachtung des Doppelbr@@hungs@ffektes @@ einer Stelle d@@ch brochen ist.
    3. hochfrequenzstrommesser @@ch. Anspruch @ und 2, dadurch gek@nnzeichnet. daß die Leiterflache allseits vor Abkuhlung durch konvektionsstromungen geschatzt ist.
    4. Hochfrequenzstrommesser nach Anspruch @ bis 3, dadurch gekennz@ichnet. daß sich die leitende Flache innerhalb des zur Doppelbrechung angeregten Materials be@indet.
    5. hochfrequenzstrommesser nach Anspruch 1 bis 4. dadurch gekennzeichnet. daß das zur Doppelbrechung angeregte Material geringe dicl@ktrische und magnetische Verluste autweist.
    6. Hochfrequenzstrommesser nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das zur Doppelbrechung angeegte Mateial eine geringe Wärmeleitfahigkeit aufweist.
DEST55949D 1937-03-11 1937-03-11 Strommesser fuer Hochfrequenz Expired DE705376C (de)

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DE (1) DE705376C (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2423383A (en) * 1944-06-15 1947-07-01 Rca Corp Absorptive gas microwave measuring system
DE1257275B (de) * 1963-07-26 1967-12-28 Gen Electric Einrichtung zur Messung eines Stromes, der einen auf hoher Spannung liegenden Leiterdurchfliesst
DE1262444B (de) * 1963-07-23 1968-03-07 Gen Electric Logarithmisches Picoamperemeter

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1262444B (de) * 1963-07-23 1968-03-07 Gen Electric Logarithmisches Picoamperemeter
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