DE69923440T2 - Verbesserungen von und in bezug auf teilchendetektoren - Google Patents

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Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, und ein Verfahren zum Detektieren von Verunreinigungen auf dem Teilchendetektor.
  • Das Leistungsvermögen eines triboelektrischen Teilchendetektors kann beeinträchtigt werden, wenn man zulässt, dass sich Teilchen aus dem Strom auf seiner Oberfläche ansammeln. Eine Weise, um das Ansammeln von Teilchen zu vermeiden, besteht darin, die Sonde regelmäßig zu reinigen. Jedoch beinhaltet ein Reinigen, dass der Teilchendetektor offline genommen wird, und es kann zeitraubed sein und die Demontage von komplizierter Ausrüstung erfordern. Es ist deshalb wünschenswert, den Verunreinigungspegel des Detektors zu überwachen.
  • Das US-Patent No. 5,287,061 beschreibt ein Online-Verfahren zum Überwachen eines Detektors auf Verunreinigung. In dem in diesem Patent beschriebenen Verfahren wird ein Detektor in der Form einer Sonde durch Teilchen in einem Strom triboelektrisch aufgeladen. Das durch dieses Aufladen erzeugte Signal läuft durch eine Überwachungsschaltungsanordnung hindurch, die einen Verstärker umfasst, dessen Verstärkungsfaktor abhängig von der Impedanz der Sonde ist. Unter normalen Betriebsbedingungen ist die Impedanz der Sonde im Wesentlichen unendlich. Jedoch, wenn die Sonde verunreinigt wird, kann die Impedanz signifikant abfallen, und dieser Abfall führt zu einer Änderung im Verstärkungsfaktor des Verstärkers. Um das Auftreten von jeglicher solcher Änderung im Verstärkungsfaktor zu detektieren, wird ein zweites Signal von bekannter Amplitude durch den Verstärker hindurchgeschickt. Eine Änderung in der Größe des verstärkten zweiten Signals zeigt an, dass sich der Verstärkungsfaktor des Verstärkers geändert hat und dass ein Reinigen der Sonde erforderlich sein kann.
  • Eine niedrige Sondenimpedanz kann auch bewirken, dass der Verstärkungsfaktor des Verstärkers in Bezug zum Eigenrauschen des Verstärkers ansteigt; d.h. der durch das Eingangssignal erfahrene Verstärkungsfaktor ist unverändert, aber der durch das Eigenrauschen erfahrene Verstärkungsfaktor ist erhöht. Dies bewirkt einen Anstieg im Hintergrundrauschpegel des Instruments, und dieser Anstieg kann ausreichend sein, um Niedrigpegelsignale zu verdecken.
  • Jedoch ruft eine endliche Sondenimpedanz nicht immer ein Problem in einem Teilchendetektionssystem hervor. Insbesondere weist in einem Detektor, in dem eine Wechselstromkopplung verwendet wird, wie z.B. diejenigen, die im britischen Patent No. 2266772 und im britischen Patent No. 2277154 beschrieben sind, eine endliche Sondenimpedanz normalerweise nur einen signifikanten Effekt auf, wenn sie so niedrig ist, dass der Verstärker gesättigt wird, oder wenn sie in der Größe mit der Zeit variiert. Jeder von diesen Effekten würde ein Fehlersignal mit einer Wechselstromkomponente erzeugen, das durch die Wechselstromüberwachungsvorrichtung detektiert würde. Unter den meisten anderen Umständen würde eine endliche Impedanz normalerweise nur zu einem Gleichstromsignal führen, das durch die Offset-Fehlerspannung des Verstärkers hervorgerufen ist. Die Wechselstromkopplungsschaltungsanordnung würde ein solches Gleichstromsignal herausfiltern.
  • Ein signifikanteres Problem für sowohl Wechselstrom- als auch Gleichstromgekoppelte Detektoren tritt auf, wenn Verunreinigungen auf dem Detektor als eine Signalquelle wirken. Teilchen, die am Detektor vorbeiströmen, können mit den Verunreinigungen wechselwirken und die Erzeugung von Wechselstrom- oder Gleichstrom-Fehlersignalen hervorrufen. Die impedanzabhängige Verunreinigungsüberwachungstechnik, die oben beschrieben ist, würde eine signalerzeugende Verunreinigung nicht detektieren, außer wenn die Verunreinigung auch zu einer niedrigen Sondenimpedanz führt.
  • Das US-Patent No. 4,179,934 lehrt ein Verfahren zur und eine Vorrichtung zur Verwendung in Verbindung mit einem Kontrollieren der Teilchengröße eines Pulvers, das in einem Gasstrom mitgeschleppt wird. Eine Probe des Pulvers wird in Bruchstücke von relativ unterschiedlichen Teilchengrößen zerteilt, und die elektrostatischen oder ähnlichen Rauschstörungen der Bruchstücke werden verglichen.
  • Es ist ein Ziel der Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, und zum Detektieren von Verunreinigung, die wie ein Signal wirkt, auf dem Teilchendetektor bereitzustellen.
  • Gemäß der Erfindung wird ein Teilchendetektor zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, bereitgestellt, umfasend eine erste triboelektrische Sonde zum Detektieren der Teilchen und eine zweite triboelektrische Sonde zum Detektieren eines Fehlersignals, das durch Verunreinigungen auf dem Teilchendetektor erzeugt wird, wobei die zweite Sonde so angeordnet ist, so dass sie ein signifikant kleineres dem Teilchenstrom zuschreibbares Signal erzeugt, als das Signal, das durch die erste Sonde erzeugt wird; wobei, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt ist, das Fehlersignal auf beiden Sonden erzeugt wird, so dass die Anwesenheit des Fehlersignals auf der zweiten Sonde anzeigt, dass das auf der ersten Sonde erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst.
  • Die erste Sonde kann zum Überwachen des Teilchenstroms auf die gewöhnliche Weise verwendet werden. Die Anwesenheit von signalerzeugenden Verunreinigungen auf dem Teilchendetektor führt zu einem Fehlersignal auf der ersten Sonde. Das Fehlersignal wird auch auf der zweiten Sonde detektiert, weil die zweite Sonde zwischen der ersten Sonde und der Struktur lokalisiert ist. Deshalb zeigt die Anwesenheit eines Signals auf der zweiten Sonde an, dass das auf der ersten Sonde erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst. Der Grad, bis zu welchen eine Verunreinigung ein Problem ist, kann bestimmt werden, indem das Verhältnis der Größe des auf der zweiten Sonde erzeugten Signals zu der Größe des auf der ersten Sonde erzeugten Signals betrachtet wird. Wenn dieses Verhältnis eine gewisse vorbestimmte Grenze überschreitet, dann wird ein Reinigen des Detektors erfordert.
  • Vorteilhafterweise umgibt die zweite Sonde im Wesentlichen die erste Sonde. Jede der ersten und zweiten Sonde kann irgendeine von mehreren Formen annehmen; z.B. kann mindestens eine von den Sonden in der Form eines Stabs (der von kreisförmigem Querschnitt sein kann), eines Rings oder einer Säule vorliegen.
  • Der Teilchendetektor kann so angeordnet sein, dass, wenn der Detektor auf einem Kanal montiert ist, beide Sonden in einen Strom von Teilchen, die im Kanal strömen, vorstehen. Alternativ kann der Teilchendetektor so angeordnet sein, dass, wenn der Detektor auf einem Kanal montiert ist, keine Sonde in einen Strom von Teilchen, die im Kanal strömen, vorsteht. Vorzugsweise ist der Teilchendetektor so angeordnet, dass, wenn der Detektor auf einem Kanal montiert ist, die zweite Sonde nicht in einen Strom von Teilchen, die im Kanal strömen, vorsteht. Wenn beide Sonden in den Teilchenstrom vorstehen, sollte die zweite Sonde so angeordnet sein, dass sie ein signifikant kleineres Signal erzeugt, das dem Teilchenstrom zuschreibbar ist, als das Signal, das durch die erste Sonde erzeugt wird. Das Verhältnis der Signale von den zwei Sonden würde ungefähr konstant bleiben, wenn der Detektor nicht verunreinigt wurde, aber ein Verhältnis, das signifikant von diesem konstanten Wert verschieden ist, würde anzeigen, dass der Detektor verunreinigt wurde. Selbst wenn sich die zweite Sonde außerhalb des Luftstroms befindet, ist es möglich, dass die zweite Sonde ein Niedrigpegelsignal detektiert, das dem Strom von Teilchen zuschreibbar ist.
  • Auch gemäß der Erfindung wird eine Vorrichtung zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, bereitgestellt, wobei die Vorrichtung umfasst: einen Teilchendetektor, der eine erste Sonde und eine zweite Sonde umfasst, eine Einrichtung zum Überwachen eines Fehlersignals, das auf der ersten Sonde erzeugt wird, und eine Einrichtung zum Überwachen eines Fehlersignals, das auf der zweiten Sonde erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und zweite Sonde in Bezug zueinander so angeordnet sind, dass, wenn der Teilchendetektor auf einer Struktur montiert ist, die zweite Sonde zwischen der ersten Sonde und der Struktur positioniert ist, die erste und zweite Sonde im Wesentlichen voneinander und von der Struktur elektrisch isoliert sind und die zweite Sonde ein signifikant kleineres dem Teilchenstrom zuschreibbares Signal erzeugt, als das Signal, das durch die erste Sonde erzeugt wird, so dass, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt ist, das Fehlersignal auf beiden Sonden erzeugt wird, so dass die Anwesenheit des Fehlersignals auf der zweiten Sonde anzeigt, dass das auf der ersten Sonde erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst.
  • Die Einrichtung zum Überwachen des Signals, das auf der zweiten Sonde erzeugt wird, kann eine elektronische Schaltungsanordnung sein, die im Wesentlichen identisch in der Konstruktion mit derjenigen ist, die verwendet wird, um das Signal zu überwachen, das auf der ersten Sonde erzeugt wird. Die Einrichtung zum Überwachen des Signals, das auf der zweiten Sonde erzeugt wird, kann von der Einrichtung zum Überwachen des Signals, das auf der ersten Sonde erzeugt wird, im Wesentlichen unabhängig sein. Alternativ kann die Einrichtung zum Überwachen des Signals, das auf der zweiten Sonde erzeugt wird, die Einrichtung zum Überwachen des Signals, das auf der ersten Sonde erzeugt wird, verwenden.
  • Die Überwachungseinrichtungen können Einrichtungen umfassen, um Wechselstromkomponenten der Signale zu überwachen, und können weiter eine Filterschaltungsanordnung umfassen, die Gleichstromkomponenten von den Signalen entfernt. Alternativ können die Überwachungseinrichtungen Einrichtungen zum Überwachen von Gleichstromkomponenten der Signale umfassen.
  • Auch wird gemäß der Erfindung eine Teilchendetektionsanlage bereitgestellt, umfassend einen Kanal und einen Teilchendetektor, wie oben beschrieben. Auch wird gemäß der Erfindung eine Teilchendetektionsanlage bereitgestellt, umfassend eine Vorrichtung zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, wie oben beschrieben. Beide Sonden können in den Strom von Teilchen vorstehen. Alternativ steht keine Sonde in den Strom von Teilchen vor. Vorzugsweise steht die zweite Sonde nicht in den Strom von Teilchen vor. Der Kanal kann ein Kamin sein.
  • Auch wird gemäß der Erfindung ein Verfahren zum Detektieren von Verunreinigungen auf einem Teilchendetektor bereitgestellt, umfassend: Bereitstellen eines Teilchendetektors, der eine erste triboelektrische Sonde zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, und eine zweite triboelektrische Sonde zum Detektieren eines Fehlersignals, das durch Verunreinigungen auf dem Teilchendetektor erzeugt wird, umfasst, wobei die zweite Sonde so angeordnet ist, dass sie ein signifikant kleineres dem Teilchenstrom zuschreibbares Signal erzeugt, als das Signal, das durch die erste Sonde erzeugt wird, und, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt wird, das Fehlersignal auf beiden Sonden erzeugt wird; und Überwachen der Signale, die auf der ersten und zweiten Sonde erzeugt werden, so dass die Anwesenheit des Fehlersignals auf der zweiten Sonde anzeigt, dass das auf der ersten Sonde erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst.
  • Das Signal von der zweiten Sonde kann fortlaufend über eine Überwachungsschaltungsanordnung überwacht werden, die von einer Überwachungsschaltungsanordnung, die verwendet wird, um das Signal von der ersten Sonde zu überwachen, im Wesentlichen unabhängig ist. Alternativ wird das Signal von der zweiten Sonde über eine Überwachungsschaltungsanordnung intermittierend überwacht, die verwendet wird, um das Signal von der ersten Sonde zu überwachen, wobei die Überwachungsschaltungsanordnung zwischen den zwei Sonden geschaltet wird. Das letztgenannte Verfahren erfordert weniger Schaltungsanordnung aber das erstgenannte ermöglicht, dass ein Überwachen häufiger durchgeführt wird, ohne dass die erste Sonde offline genommen wird.
  • Vorzugsweise werden Wechselstromkomponenten der Signale, die auf der ersten und zweiten Sonde erzeugt werden, überwacht. Alternativ können die Gleichstromkomponenten der Signale, die auf der ersten und zweiten Sonde erzeugt werden, überwacht werden. Alternativ können die Signale einschließlich sowohl Wechselstom- als auch Gleichstromkomponenten überwacht werden.
  • Die vorliegende Erfindung liefert auch ein Verfahren zum Detektieren von Verunreinigungen auf einem Teilchendetektor, wobei das Verfahren umfasst: Bereitstellen eines Teilchendetektors, der auf einer Struktur montiert ist und eine erste triboelektrische Sonde und eine zweite Sonde umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Sonde zwischen der ersten Sonde und der Struktur positioniert ist, die erste und zweite Sonde von einander und von der Struktur im Wesentlichen elektrisch isoliert sind und relativ zueinander so angeordnet sind, dass, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen, die ein Signal auf der ersten Sonde erzeugen, verunreinigt wird, die Verunreinigungen auch ein Signal auf der zweiten Sonde erzeugen; wobei das Verfahren den Schritt eines Überwachens des Signals umfasst, das auf der zweiten Sonde durch die Verunreinigungen erzeugt wird.
  • Eine Vorrichtung zum Detektieren von Verunreinigungen auf einem Teilchendetektor gemäß der Erfindung wird nun nur als Beispiel mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben.
  • 1 ist eine Querschnittsansicht eines Teilchendetektors gemäß der Erfindung.
  • 2 ist eine schematische Darstellung der Signalverarbeitungsschaltungsanordnung, die verwendet wird, um die Detektorverunreinigungskontrolle auszuführen.
  • Der in 1 dargestellte Teilchendetektor besteht aus einer ersten Sonde 5 und einer zweiten Sonde 3, die in der Wand eines Kamins 1 montiert sind, so dass sie in einen Strom von Teilchen in den Kamin vorstehen. Die erste 5 und zweite 3 Sonde sind durch eine erste Isolierschicht 4 voneinander elektrisch isoliert, und die zweite Sonde 3 ist von der Kaminwand 1 durch eine zweite Isolierschicht 2 elektrisch isoliert. Die Wand des Kamins wird als elektrisches Nullpotenzial betrachtet; d.h. sie ist das elektrische Bezugspotenzial.
  • Wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt ist, die als eine Signalquelle wirken, dienen die Verunreinigungen als eine Spannungs- oder Stromquelle mit einer Verbindung an der ersten Sonde 5 und der anderen an der Kaminwand 1 (und folglich Erde). Die Spannungs- oder Stromquelle erzeugt auch ein Signal auf der zweiten Sonde 3, da die zweite Sonde 3 zwischen der ersten Sonde 5 und der Kaminwand 1 lokalisiert ist. Die zweite Sonde 3 erzeugt deshalb ein Signal, wenn ein Fehlersignal, das einer Verunreinigung des Detektors zuschreibbar ist, auf der ersten Sonde 5 erzeugt wird.
  • Die Signale vom Detektor werden durch die in 2 dargestellte Vorrichtung überwacht. Signale von der ersten Sonde 5 werden im Hauptverstärkerkanal 6 gefiltert und verstärkt, und Signale von der zweiten Sonde 3 werden durch den Kontrollsondenverstärkerkanal 7 gefiltert und verstärkt. Eine Mikroprozessoreinheit 10 steuert die Kanäle so, dass derselbe Pegel von Verstärkungsfaktor und Empfindlichkeit in jedem aufrechterhalten wird.
  • In dieser beschriebenen Ausführungsform der Erfindung wird in jedem der Verstärkerkanäle dieselbe Elektronik verwendet. Die Signale von den Sonden 3, 5 laufen zuerst zu Eingangsverstärkern 11, 12, die Ausgangsspannungen von den Eingangssignalen liefern. Die Empfindlichkeit der Eingangsverstärker 11, 12 kann eingestellt werden, und diese Einstellung wird durch die Mikroprozessoreinheit 10 gesteuert. Eine Empfindlichkeitseinstellung ermöglicht, dass die Vorrichtung in Prozessen verwendet wird, die einen sehr breiten Bereich von Teilchenstrompegeln abdecken, wobei die Empfindlichkeit gemäß dem Teilchenstrompegel des Prozesses eingestellt wird. Die Empfindlichkeit wird typischerweise während einer Instrumentenmontage festgelegt.
  • Die Signale treten als Nächstes durch Hochpassfilter 13, 14 hindurch, die die Gleichstromkomponente der Signale zusammen mit Wechselstromkomponenten bei Frequenzen von bis zu einer gewissen oberen Frequenzgrenze herausfiltern. In einem speziellen Beispiel der Erfindung kann diese Grenze etwa 0,1 Hz sein, aber der Wert der Grenze sollte so gewählt werden, dass er für den Prozess geeignet ist, in dem die Vorrichtung verwendet wird.
  • Die Signale treten dann durch Tiefpassfilter 15, 16 hindurch, die Hochfrequenzkomponenten der Signale entfernen, einschließlich Hochfrequenzstörsignale. Ein Tiefpassfiltern hilft, die Vorrichtung in Industrieumgebungen robuster zu machen.
  • Die Signale laufen dann zu Verstärkern mit geschaltetem Verstärkungsfaktor 17, 18, die verwendet werden, um das Vermögen der Vorrichtung zu verbessern, sich den stark variierenden Teilchenstrompegeln anzupassen, die in einigen Prozessen erfahren werden; z.B. in Beutelfilteranwendungen, die Reverse-Air-Jet-Reinigen verwenden, wo Teilchenimpulse sehr hoher Amplitude während des Reinigungszyklus erfahren werden können. Jeder Komponentenverstärker (drei sind in jedem der zwei Verstärkerblöcke in 2 dargestellt) ist ein Wechselstromverstärker mit einem Verstärkungsfaktor, der unabhängig von 1 bis 16 geschaltet werden kann. Die Verstärker-Verstärkungsfaktoren werden durch die Mikroprozessoreinheit 10 während eines normalen Systembetriebs dynamisch eingestellt: die Mikroprozessoreinheit 10 ändert den Verstärkungsfaktor der Verstärker 17, 18 als Antwort auf Variationen im Staubpegel.
  • Die Signale von den Verstärkern 17, 18 laufen zu der Mikroprozessoreinheit 10. In dieser Einheit werden die Signale verglichen, und wenn das Signal von den Kontrollsondenverstärkern 18, verglichen mit dem Signal von den Hauptverstärkern 17, signifikant ist, wird der Benutzer gewarnt, dass die Sonde verunreinigt ist. Es mag sein, dass der Fehlersignalverhältnisschwellenwert, bei dem die Bedienperson gewarnt wird, gemäß dem Signalpegel eingestellt werden muss, da bei niedrigen Pegeln Hintergrundrauschen signifikant genug werden kann, um zu bewirken, dass die zwei Signalpegel ungefähr gleich sind, wohingegen bei höheren Pegeln im Wesentlichen die Gesamtheit jedes Signals einem Teilchenstrom oder einer Detektorverunreinigung zuschreibbar ist.
  • Obwohl die spezielle Ausführungsform, die oben beschrieben worden ist, eine Schaltungsanordnung verwendet, die die Wechselstromkomponenten der Signale von den Sonden überwacht, könnte die Erfindung auch in einem System verwirklicht werden, in dem die Gleichstromkomponente von jedem der Signale überwacht wird.

Claims (22)

  1. Teilchendetektor zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, umfassend eine erste triboelektrische Sonde (5) zum Detektieren der Teilchen und eine zweite triboelektrische Sonde (3) zum Detektieren eines Fehlersignals, das durch Verunreinigungen auf dem Teilchendetektor erzeugt wird, wobei die zweite Sonde (3) so angeordnet ist, so dass sie ein signifikant kleineres dem Teilchenstrom zuschreibbares Signal erzeugt, als das Signal, das durch die erste Sonde (5) erzeugt wird; wobei, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt ist, das Fehlersignal auf beiden Sonden (3, 5) erzeugt wird, so dass die Anwesenheit des Fehlersignals auf der zweiten Sonde (3) anzeigt, dass das auf der ersten Sonde (5) erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst.
  2. Teilchendetektor nach Anspruch 1, bei dem die zweite Sonde (3) im Wesentlichen die erste Sonde (5) umgibt.
  3. Teilchendetektor nach Anspruch 1 oder 2, bei dem mindestens eine der Sonden in der Form eines Stabs (5) vorliegt.
  4. Teilchendetektor nach Anspruch 3, bei dem der Stab (5) von kreisförmigem Querschnitt ist.
  5. Teilchendetektor nach Anspruch 1 oder 2, bei dem mindestens eine der Sonden in der Form eines Rings vorliegt.
  6. Teilchendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der Teilchendetektor Montageeinrichtungen umfasst, die so angeordnet sind, dass, wenn der Detektor auf einem Kanal (1) montiert ist, beide Sonden (5, 3) in einen Strom von Teilchen vorstehen, die im Kanal strömen.
  7. Teilchendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der Teilchendetektor Montageeinrichtungen umfasst, die so angeordnet sind, dass, wenn der Detektor auf einem Kanal (1) montiert ist, die zweite Sonde (3) nicht in einen Strom von Teilchen vorsteht, die im Kanal strömen.
  8. Vorrichtung zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, wobei die Vorrichtung umfasst: einen Teilchendetektor, der eine erste Sonde (5) und eine zweite Sonde (3) umfasst, eine Einrichtung (6, 10) zum Überwachen eines Fehlersignals, das auf der ersten Sonde (5) erzeugt wird, und eine Einrichtung (7) zum Überwachen eines Fehlersignals, das auf der zweiten Sonde (3) erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und zweite Sonde (5, 3) in Bezug zueinander so angeordnet sind, dass, wenn der Teilchendetektor auf einer Struktur (1) montiert ist, die zweite Sonde (3) zwischen der ersten Sonde (5) und der Struktur (1) positioniert ist, die erste und zweite Sonde (5, 3) voneinander und von der Struktur (1) im Wesentlichen elektrisch isoliert sind und die zweite Sonde (3) ein signifikant kleineres dem Teilchenstrom zuschreibbares Signal erzeugt, als das Signal, das durch die erste Sonde (5) erzeugt wird, so dass, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt ist, das Fehlersignal auf beiden Sonden (3, 5) erzeugt wird, so dass die Anwesenheit des Fehlersignals auf der zweiten Sonde (3) anzeigt, dass das auf der ersten Sonde (5) erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst.
  9. Vorrichtung nach Anspruch 8, bei der die Einrichtung (7, 10) zum Überwachen des Signals, das auf der zweiten Sonde (3) erzeugt wird, eine elektronische Schaltungsanordnung ist, die im Wesentlichen identisch in der Konstruktion mit derjenigen (6, 10) ist, die verwendet wird, um das Signal zu überwachen, das auf der ersten Sonde erzeugt wird.
  10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, bei der die Einrichtung (7, 10) zum Überwachen des Signals, das auf der zweiten Sonde (3) erzeugt wird, von der Einrichtung (6, 10) zum Überwachen des Signals, das auf der ersten Sonde (5) erzeugt wird, im Wesentlichen unabhängig ist.
  11. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, bei der die Einrichtung zum Überwachen des Signals, das auf der zweiten Sonde (3) erzeugt wird, die Einrichtung zum Überwachen des Signals verwendet, das auf der ersten Sonde (5) erzeugt wird.
  12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, bei der die Überwachungseinrichtungen (6, 7, 10) Einrichtungen (13, 14, 17, 18, 10) umfassen, um Wechselstromkomponenten der Signale zu überwachen.
  13. Teilchendetektionsanlage, umfassend einen Kanal (1) und einen Teilchendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 7.
  14. 4. Teilchendetektionsanlage, umfassend eine Vorrichtung zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal (1) strömen, gemäß einem der Ansprüche 8 bis 12.
  15. Teilchendetektionsanlage nach Anspruch 13 oder Anspruch 14, bei der beide Sonden (5, 3) in den Strom von Teilchen vorstehen.
  16. Teilchendetektionsanlage nach Anspruch 13 oder Anspruch 14, bei der die zweite Sonde (3) nicht in den Strom von Teilchen vorsteht.
  17. Teilchendetektionsanlage nach einem der Ansprüche 13 bis 16, bei der der Kanal (1) ein Kamin ist.
  18. Verfahren zum Detektieren von Verunreinigungen auf einem Teilchendetektor, umfassend: Bereitstellen eines Teilchendetektors, der eine erste triboelektrische Sonde (5) zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal (1) strömen, und eine zweite Sonde (3) umfasst; Überwachen eines Signals, das auf der ersten Sonde (5) erzeugt wird; und Überwachen eines Signals, das auf der zweiten Sonde (3) erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und zweite Sonde (5, 3) in Bezug zueinander so angeordnet sind, dass, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen, die ein Signal auf der ersten Sonde (5) erzeugen, verunreinigt wird, die Verunreinigungen auch ein Signal auf der zweiten Sonde (3) erzeugen, und das Verfahren den Schritt eines Überwachens des Signals umfasst, das auf der zweiten Sonde (3) durch die Verunreinigungen erzeugt wird.
  19. Verfahren nach Anspruch 18, bei dem das Signal von der zweiten Sonde (3) fortlaufend über eine Überwachungsschaltungsanordnung (7, 10) überwacht wird, die von einer Überwachungsschaltungsanordnung (6, 10), die verwendet wird, um das Signal von der ersten Sonde (5) zu überwachen, im Wesentlichen unabhängig ist.
  20. Verfahren nach Anspruch 18, bei dem das Signal von der zweiten Sonde (3) über eine Überwachungsschaltungsanordnung intermittierend überwacht wird, die verwendet wird, um das Signal von der ersten Sonde (5) zu überwachen.
  21. Verfahren nach einem der Ansprüche 18 bis 20, bei dem Wechselstromkomponenten der Signale, die auf der ersten und zweiten Sonde (5, 3) erzeugt werden, überwacht werden.
  22. Verfahren zum Detektieren von Verunreinigungen auf einem Teilchendetektor, umfassend: Bereitstellen eines Teilchendetektors, der eine erste triboelektrische Sonde (5) zum Detektieren von Teilchen, die in einem Kanal strömen, und eine zweite triboelektrische Sonde (3) zum Detektieren eines Fehlersignals, das durch Verunreinigungen auf dem Teilchendetektor erzeugt wird, umfasst, wobei die zweite Sonde (3) so angeordnet ist, dass sie ein signifikant kleineres dem Teilchenstrom zuschreibbares Signal erzeugt, als das Signal, das durch die erste Sonde (5) erzeugt wird, und, wenn der Teilchendetektor durch Verunreinigungen verunreinigt wird, das Fehlersignal auf beiden Sonden (3, 5) erzeugt wird; und Überwachen der Signale, die auf der ersten und zweiten Sonde (5, 3) erzeugt werden, so dass die Anwesenheit des Fehlersignals auf der zweiten Sonde (3) anzeigt, dass das auf der ersten Sonde (5) erscheinende Signal ein Fehlersignal umfasst.
DE69923440T 1998-03-27 1999-03-26 Verbesserungen von und in bezug auf teilchendetektoren Expired - Lifetime DE69923440T2 (de)

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