DE69918904D1 - Verfahren und vorrichtung zur massenbestimmungskorrektur in einem fulgzeitmassenspektrometer - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur massenbestimmungskorrektur in einem fulgzeitmassenspektrometer

Info

Publication number
DE69918904D1
DE69918904D1 DE69918904T DE69918904T DE69918904D1 DE 69918904 D1 DE69918904 D1 DE 69918904D1 DE 69918904 T DE69918904 T DE 69918904T DE 69918904 T DE69918904 T DE 69918904T DE 69918904 D1 DE69918904 D1 DE 69918904D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
correcting
following time
mass
determination
mass spectrometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69918904T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69918904T2 (de
Inventor
John Brian Hoyes
Jonathan Charles Cottrell
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micromass UK Ltd
Original Assignee
Micromass UK Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micromass UK Ltd filed Critical Micromass UK Ltd
Application granted granted Critical
Publication of DE69918904D1 publication Critical patent/DE69918904D1/de
Publication of DE69918904T2 publication Critical patent/DE69918904T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/025—Detectors specially adapted to particle spectrometers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
DE69918904T 1998-01-23 1999-01-25 Verfahren und Vorrichtung zur Massenbestimmungskorrektur in einem Flug- zeitmassenspektrometer Expired - Lifetime DE69918904T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9801565 1998-01-23
GBGB9801565.4A GB9801565D0 (en) 1998-01-23 1998-01-23 Method and apparatus for the correction of mass errors in time-of-flight mass spectrometry
PCT/GB1999/000251 WO1999038192A2 (en) 1998-01-23 1999-01-25 Method and apparatus for the correction of mass errors in time-of-flight mass spectrometry

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69918904D1 true DE69918904D1 (de) 2004-09-02
DE69918904T2 DE69918904T2 (de) 2005-01-05

Family

ID=10825857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69918904T Expired - Lifetime DE69918904T2 (de) 1998-01-23 1999-01-25 Verfahren und Vorrichtung zur Massenbestimmungskorrektur in einem Flug- zeitmassenspektrometer

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6373052B1 (de)
EP (1) EP0970506B1 (de)
JP (1) JP3430250B2 (de)
CA (1) CA2283139C (de)
DE (1) DE69918904T2 (de)
GB (1) GB9801565D0 (de)
WO (1) WO1999038192A2 (de)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6646252B1 (en) 1998-06-22 2003-11-11 Marc Gonin Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition
US7060973B2 (en) 1999-06-21 2006-06-13 Ionwerks, Inc. Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition
DE10005698B4 (de) * 2000-02-09 2007-03-01 Bruker Daltonik Gmbh Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss
US6747271B2 (en) 2001-12-19 2004-06-08 Ionwerks Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition
DE10247895B4 (de) * 2002-10-14 2004-08-26 Bruker Daltonik Gmbh Hoher Nutzgrad für hochauflösende Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss
EP1569741A4 (de) * 2002-11-27 2008-07-23 Ionwerks Inc Flugzeitmassenspektrometermit verbessertem datenerfassungssystem
US7202473B2 (en) * 2003-04-10 2007-04-10 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
GB0308278D0 (en) * 2003-04-10 2003-05-14 Micromass Ltd Mass spectrometer
US6983213B2 (en) * 2003-10-20 2006-01-03 Cerno Bioscience Llc Methods for operating mass spectrometry (MS) instrument systems
JP4284167B2 (ja) * 2003-12-24 2009-06-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ／飛行時間型質量分析計による精密質量測定方法
WO2006090138A2 (en) * 2005-02-25 2006-08-31 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7109475B1 (en) 2005-04-28 2006-09-19 Thermo Finnigan Llc Leading edge/trailing edge TOF detection
JP2009522557A (ja) * 2006-01-05 2009-06-11 エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ， ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド， ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン 質量分析器内のイオン流束を計算するためのシステムおよび方法
US7453059B2 (en) * 2006-03-10 2008-11-18 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Technique for monitoring and controlling a plasma process
US7476849B2 (en) * 2006-03-10 2009-01-13 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Technique for monitoring and controlling a plasma process
US7863556B2 (en) * 2006-04-27 2011-01-04 Agilent Technologies, Inc. Enhanced resolution mass spectrometer and mass spectrometry method
US7412334B2 (en) * 2006-04-27 2008-08-12 Agilent Technologies, Inc Mass spectrometer and method for enhancing resolution of mass spectra
US8299427B2 (en) 2007-01-23 2012-10-30 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
CA2689417C (en) * 2007-06-02 2017-07-11 Cerno Bioscience Llc A self calibration approach for mass spectrometry
GB0813777D0 (en) 2008-07-28 2008-09-03 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB0908210D0 (en) * 2009-05-13 2009-06-24 Micromass Ltd ToF acquisition system with reduced timing incertainty
WO2012080443A1 (en) 2010-12-17 2012-06-21 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Data acquisition system and method for mass spectrometry
GB201100302D0 (en) * 2011-01-10 2011-02-23 Micromass Ltd A method of correction of data impaired by hardware limitions in mass spectrometry
WO2013171555A1 (en) * 2012-05-18 2013-11-21 Dh Technologies Development Pte. Ltd. High dynamic range detector correction algorithm
US8723108B1 (en) 2012-10-19 2014-05-13 Agilent Technologies, Inc. Transient level data acquisition and peak correction for time-of-flight mass spectrometry
WO2015056066A1 (en) * 2013-10-16 2015-04-23 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Systems and methods for identifying precursor ions from product ions using arbitrary transmission windowing
US10580636B2 (en) * 2015-08-12 2020-03-03 California Institute Of Technology Ultrahigh resolution mass spectrometry using an electrostatic ion bottle with coupling to a quadrupole ion trap
GB201817145D0 (en) * 2018-10-22 2018-12-05 Micromass Ltd ION Detector
GB2620442A (en) * 2022-07-08 2024-01-10 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Processing ion peak areas in mass spectrometry

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9525507D0 (en) 1995-12-14 1996-02-14 Fisons Plc Electrospray and atmospheric pressure chemical ionization mass spectrometer and ion source
WO1998021742A1 (en) 1996-11-15 1998-05-22 Sensar Corporation Multi-anode time to digital converter
CA2284763C (en) * 1998-01-23 2003-01-07 Micromass Limited Time of flight mass spectrometer and dual gain detector therefor

Also Published As

Publication number Publication date
DE69918904T2 (de) 2005-01-05
US6373052B1 (en) 2002-04-16
WO1999038192A3 (en) 1999-10-14
CA2283139A1 (en) 1999-07-29
WO1999038192A2 (en) 1999-07-29
GB9801565D0 (en) 1998-03-25
CA2283139C (en) 2003-03-25
EP0970506A2 (de) 2000-01-12
JP2000513494A (ja) 2000-10-10
EP0970506B1 (de) 2004-07-28
JP3430250B2 (ja) 2003-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69918904D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur massenbestimmungskorrektur in einem fulgzeitmassenspektrometer
DE69929032D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur schätzung der mehrstreckenübertragungszeit in einem direktsequenzspreizspektrumübertragungssystem
DE60040530D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur elektrosprüh-massenspektrometrie
DE69940825D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur belastungsverteilung in einem netzwerk
DE69931257D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur spektralanalyse und kodierer
DE69832721D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kommunikation in einem bündelfunksystem
DE69810592D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur zeitmessung in einem satellitenpositionierungssystem
DE60032481D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur threadumschaltung in einem multithreadprozessor
DE69520858T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Seitenaufprall-Prüfung
DE69832670D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Tandem-Massenspektrometrie
DE69827769D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Aberrationskorrektur
DE69935464D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Betrachtung von Rundfunkprogrammen
DE69426142D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Banknotenauthentifizierung
DE69830730D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des endpunktes in einem kammerreinigungsprozess
DE69722587D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Plasmavorbereitung
DE59913456D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur stabilisierung eines fahrzeuges
DE69736399D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung des spitzen durchsatzes in datenpacket-netzwerken
ATE232215T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur gasphasenpolymerisation
DE59912621D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur stabilisierung eines fahrzeuges
DE69940804D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur unterdrückung von abklingartefakten
DE69935789D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur abwärtsneigung des antennendiagramms
DE19581833T1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Plasmamassenanalyse mit verringerten Raumladungseffekten
DE19983717T1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Ausrichtung
DE69522327D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur richtungsbestimmung
DE69916407D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Durchscheinkorrektur

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition