DE69916716T2 - Polarimeter und zugehöriges messverfahren - Google Patents

Polarimeter und zugehöriges messverfahren Download PDF

Info

Publication number
DE69916716T2
DE69916716T2 DE69916716T DE69916716T DE69916716T2 DE 69916716 T2 DE69916716 T2 DE 69916716T2 DE 69916716 T DE69916716 T DE 69916716T DE 69916716 T DE69916716 T DE 69916716T DE 69916716 T2 DE69916716 T2 DE 69916716T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
prism
angle
polarimeter
incidence
reflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69916716T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69916716D1 (de
Inventor
Eric Compain
Bernard Drevillon
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Original Assignee
Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centre National de la Recherche Scientifique CNRS filed Critical Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Publication of DE69916716D1 publication Critical patent/DE69916716D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69916716T2 publication Critical patent/DE69916716T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J4/00Measuring polarisation of light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Polarimeter und ein Messverfahren für Polarisationszustände eines Lichtstrahls.
  • Es sind verschiedene Arten von Polarimetern bekannt, mit denen es möglich ist, alle Polarisationsbestandteile des Lichts zu messen, das heißt die vier Bestandteile des Stokes-Vektors S des Lichts. Insbesondere der Artikel „Multichannel polarization state detectors for time-resolved ellipsometry" von R. M. A. AZZAM, Thin Solid Films, Vol. 234, Seiten 371–374, 1993, präsentiert Techniken, die darin bestehen, einen zu messenden Strahl in mehrere Strahlen zu trennen und danach diese verschiedenen Strahlen parallel zu verarbeiten. Die Anzahl n an Endstrahlen ist mindestens gleich vier, so dass die n gemessenen Stärken der Endstrahlen den Zugang zu den vier Polarisationszuständen des Lichts ermöglichen, das heißt zu den vier Bestandteilen I, Q, U, V des Stokes-Vektors S.
  • So hat AZZAM im Artikel „Division-of-amplitude photopolarimeter (DOAP) for the simultaneous measurement of four Stokes parameters of light", Optica Acta, Vol. 29, Nr. 5, Seiten 685–689, 1982, ein Polarimeter mit Amplitudenteilung beschrieben, das folgendes Prinzip verfolgt: Der einfallende Lichtstrahl wird zuerst durch einen Strahlenteiler in einen reflektierten Strahl und in einen übertragenen Strahl, danach durch zwei Wallaston-Prismen in vier geteilt.
  • Solche Polarimeter ermöglichen dank eines Informationsmultiplexings das Messen der Polarisationsbestandteile des Lichts in Echtzeit. Ferner erfordern sie weder Modulation noch einen mobilen Teil. Da jedoch der Strahlenteiler Interferenzwirkungen hervorruft, hängen die Eigenschaften des Polarimeters stark von der Wellenlänge des Lichts ab. Somit sind spektroskopische Anwendungen ausgeschlossen, und es ist im Allgemeinen notwendig, monochromatische Maßnahmen zu ergreifen.
  • Ein weiterer Nachteil dieser Vorrichtung ist ihre große Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel des Strahls.
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Polarimeter von der Art mit Amplitudenteilung, welches in einem sehr großen spektralen Fenster verwendet werden kann.
  • Das Polarimeter gemäß der Erfindung kann ebenfalls sehr empfindlich gegenüber dem Einfallswinkel sein. Darüber hinaus kann das Polarimeter das Erreichen eines guten Messempfindlichkeitspegels und einer geringen Ausbreitung der relativen Fehler auf die gemessenen Stärken, also eine gute Genauigkeit in Bezug auf den Stokes-Vektor S ermöglichen.
  • Die Erfindung betrifft auch ein Messverfahren für Polarisationszustände eines Lichtstrahls, das die zuvor genannten Vorteile aufweist.
  • Zu diesem Zweck besteht die Aufgabe der Erfindung in der Bereitstellung eines Polarimeters, das Folgendes umfasst:
    • – einen Anfangsseparator, der dazu bestimmt ist, einen zu messenden einfallenden Lichtstrahl, der einen Stokes-Vektor aufweist, in einen reflektierten Strahl und in einen übertragenen Strahl zu trennen, wobei der Separator einen Reflexionskoeffizienten R, ein Paar ellipsometrische Reflexionswinkel (ψr, Δr), einen Übertragungskoeffizienten T und ein Paar ellipsometrische Übertragungswinkel (ψt, Δt) aufweist;
    • – zwei Endseparatoren, die dazu bestimmt sind, jeweils den reflektierten Strahl und den übertragenen Strahl in mindestens zwei Endstrahlen zu teilen,
    • – Mitteln zum Erfassen, die dazu bestimmt sind, die Stärken der Endstrahlen zu messen, und
    • – eine Verarbeitungseinheit, die an die Erfassungsmittel angeschlossen ist und die den Stokes-Vektor des zu messenden Lichts erzeugt.
  • Gemäß der Erfindung umfasst der Anfangsseparator ein Prisma, das keinen Interferenzeffekt induziert und Eigenschaften aufweist, insbesondere einen Brechungsindex np und eine Position, die derart sind, dass der übertragene Strahl im Prisma mindestens einer internen Reflexion gemäß einem internen Reflexionswinkel unterworfen wird.
  • Unter „Prisma" ist ein Feststoff zu verstehen, der erhalten wird, indem eine prismatische Oberfläche durch zwei parallele Ebenen geschnitten wird, wobei die prismatische Oberfläche durch eine fixe Richtungsgerade erzeugt wird, die sich durch konstantes Abstützen auf dem Außenumfang eines flachen Vielecks verschiebt. Die Basis des Prismas wird durch das flache Vieleck begrenzt.
  • Jede interne Reflexion des übertragenen Strahls im Inneren des Prismas erzeugt eine elementare Phasenverschiebung zwischen dem linearen Polarisationsbestandteil in der Einfallebene (Bestandteil p) und dem linearen Bestandteil, der zur Einfallebene senkrecht ist (Bestandteil s). Die Summe dieser elementaren Phasenverschiebungen ist gleich dem ellipsometrischen Winkel Δt.
  • In einer bevorzugten Ausführungsform des Polarimeters wird das Fehlen eines Interferenzeffektes während einer internen Reflexion dadurch er reicht, dass die Reflexion eine Totalreflexion ist. Diese Totalreflexion wird dank des Unterschieds zwischen dem Brechungsindex des Prismas und dem Brechungsindex der Luft und dank des Einfalls des übertragenen Strahls auf das Diopter des Prismas erreicht, auf dem die interne Reflexion erfolgt.
  • In einer anderen bevorzugten Ausführungsform des Polarimeters sind die Diopter des Prismas, auf denen die internen Reflexionen erfolgen, mit einer dicken absorbierenden Schicht überzogen. Unter „dicker absorbierender Schicht" ist eine Schicht zu verstehen, die aus einem nichtdielektrischen Material besteht, mit einer Dicke in der Größenordnung von einigen Längen Penetration (wobei letztere als Kehrwert der Absorption definiert wird).
  • Die Endseparatoren trennen vorteilhafterweise jeweils den reflektierten Strahl und den übertragenen Strahl in zwei Endstrahlen mit unterschiedlichen linearen Polarisationen. Die Mittel zum Erfassen stellen somit vier gemessene Stärken bereit, von denen ausgehend die Verarbeitungseinheit die Bestandteile des Stokes-Vektors S berechnet. Bevorzugterweise sind die linearen Polarisationen orthogonal, wobei es sich bei den Endseparatoren um Wallaston-Prismen handelt. Ferner ist von Interesse, dass die Wallaston-Prismen in Bezug auf die Einfallsebene in 45° ausgerichtet sind. Andere Arten von Polarisatoren, welche zwei orthogonale lineare Polarisationen eines erhaltenen Strahls trennen, eignen sich ebenfalls als Endseparatoren. Solche Elemente ermöglichen es, die Unabhängigkeit in Bezug auf die Wellenlänge zu bewahren.
  • Die Mittel zum Erfassen bestehen zum Beispiel aus einer Anordnung von Photodetektoren, die jeweils den Endstrahlen zugeordnet sind.
  • Im Gegensatz zum Polarimeter mit Amplitudenteilung, das einen Strahlenteiler verwendet, benötigt das Polarimeter gemäß der Erfindung kei nerlei Oberflächenbehandlung, welche Interferenzeffekte erzeugt, und kann somit gegenüber der Wellenlänge sehr unempfindlich sein. Außerdem ermöglicht das Fehlen eines Interferenzüberzugs auch eine relative Unempfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel des Strahls, der auf den Anfangsseparator auftrifft. Der Einfluss des Einfallswinkels wird vorzugsweise durch eine geeignete Wahl des Brechungsindexes np des Prismas, seiner geometrischen Eigenschaften und des Wertes des Einfallswinkels reduziert.
  • Das Polarimeter gemäß der Erfindung bietet auch dahingehend Vorteile, dass das Polarimeter eine kompakte Form aufweisen kann, was für Verwendungen vor Ort sehr wichtig ist, und dass das Polarimeter keine teuren optischen Bestandteile aufweisen muss.
  • In einer ersten Anwendungsgruppe ist das Polarimeter in ein herkömmliches Ellipsometer so eingebaut, dass die Messgenauigkeit verbessert und das Anwendungsgebiet auf depolarisierende Milieus ausgeweitet wird.
  • In einer zweiten Anwendungsgruppe wird das Polarimeter als unabhängiger Bestandteil, zum Beispiel in der Astrophysik, verwendet.
  • In einer dritten Anwendungsgruppe ist das Polarimeter einem Mueller-Ellipsometer zugeordnet. Es ermöglicht es, Messungen auf rauen Oberflächen oder besonderen Systemen durchzuführen, einschließlich vor Ort und in Echtzeit. Unterschiedliche Anwendungsgebiete schließen die Behandlung von beliebigen Oberflächen (Stahl und Metalle...), das Erfassen von Metallobjekten (militärische Anwendungen...), die Untersuchung von anisotropen Milieus (Supraleitern...), das Erfassen und die Charakterisierung von Pulver (Granulometrie), Umweltuntersuchungen (Aerosole...) und verschiedene medizinische Anwendungen ein.
  • Die mathematischen Prinzipien, die dem Polarimeter zugrunde liegen, sind weiter unten dargelegt. Diese Prinzipien stellen insbesondere nützliche Informationen für die Optimierung der Parameter des Polarimeters bereit, so dass eine geringe Abhängigkeit vom Einfallswinkel, ein guter Messempfindlichkeitspegel und/oder eine geringe Ausbreitung der relativen Fehler auf die Stärken während der Berechnung des Stokes-Vektors gewährleistet werden.
  • Da die Anzahl der gemessenen Stärken iK gleich n (n ≥ 4) ist, wird das Polarimeter durch eine Matrix A mit den Abmessungen n × 4 dargestellt, welche folgende Beziehung darstellt (wobei „T" den Transpositionsoperator bezeichnet): (i1 i2 i3 ... in)T = AS
  • Für den Fall, dass die Anzahl n an Endstrahlen gleich 4 ist, ergibt sich somit wie folgt, wobei A eine reale Matrix 4 × 4 ist: S = A–1·(i1 i2 i3 i4)T
  • Vorzugsweise wird die Konditionierung s(A) der Matrix A, die wie folgt gegeben ist, maximiert:
    Figure 00060001
    worin λ1 und λ4 der kleinste und der größte Eigenwert der Matrix ATA sind. Somit wird die Ausbreitung der relativen Fehler auf die Stärken nach der Multiplikation durch die Matrix A–1 minimiert.
  • Ferner wird vorteilhafterweise die Norm der Matrix A auf einem ausreichend großen Wert aufrechterhalten. Somit wird ein guter Empfindlich keitspegel bewahrt, da eine bedeutende Fraktion der Lichtstärke verwendet werden kann.
  • Vorzugsweise wird die Funktion δ(A) minimiert, die gegeben ist durch:
    Figure 00070001
    worin Aij die Bestandteile der Matrix A und Φ1 den Einfallswinkel auf das Prisma des Anfangsseparators bezeichnet.
  • Da die Mittel zum Erfassen aus vier Photodetektoren bestehen, welche die jeweiligen Verstärkungen G1, G2, G3 und G4 aufweisen, hat die Matrix A folgenden Wert:
    Figure 00070002
    mit
  • Figure 00070003
  • Da die Verstärkungen Gk der Photodetektoren zum Beispiel identisch sind, ist die Konditionierung von A optimal, wenn: R = T ≈ 1/2 Ψr = Ψt = π/8 modulo π/4 Δr – Δt = π/2 modulo π
  • In Abwesenheit eines Interferenzeffektes ist Δr gleich null und das Optimum entspricht somit: Δt = π/2 modulo π.
  • Vorzugsweise ist somit die Summe der elementaren Phasenverschiebungen durch interne Reflexionen nahe bei π/2. In einer vorteilhaften Ausführungsform wird die Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel Φ1 auf das Prisma des Anfangsseparators reduziert, indem die Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel auf jedes Diopter, das einer internen Reflexion entspricht, minimiert wird. Somit sind in der ersten Ausführungsform mit internen Totalreflexionen die internen Reflexionswinkel Φ3 optimaler Weise gleich dem Winkel Φm, für welchen die elementaren Phasenverschiebungen Δ ein Maximum Δm, aufweisen:
  • Figure 00080001
  • Im Allgemeinen ist es notwendig, zwischen einer guten Konditionierung s(A) und einer geringen Empfindlichkeit δ(A) der Matrix A zu wählen. Gemäß den mit den Messungen in Zusammenhang stehenden Erfordernissen kann es klug sein, einem dieser beiden Kriterien dem anderen gegenüber den Vorzug zu geben. Vorteilhafterweise ist s(A) größer als 0,3 (gute Konditionierung) und/oder δ(A) ist kleiner als 1 (geringe Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel).
  • In einer bevorzugten Ausführungsform ist mindestens eine der internen Reflexionen im Prisma des Anfangsseparators eine Totalreflexion. Es ist somit von Interesse, dass die internen Reflexionswinkel Φ3, die den Totalreflexionen entsprechen, näherungsweise folgende Beziehung erfüllen:
  • Figure 00090001
  • In einer anderen bevorzugten Ausführungsform ist mindestens eine der internen Reflexionen im Prisma des Anfangsseparators eine Reflexion auf einer dicken absorbierenden Schicht.
  • Gemäß einer ersten vorteilhaften Ausführungsform des Prismas weist dieses eine Dreiecksbasis auf, die eine erste Seite, eine zweite Seite, die einen ersten Öffnungswinkel mit der ersten Seite bildet, und eine dritte Seite aufweist, die mit der zweiten Seite einen zweiten Öffnungswinkel bildet, wobei die erste, zweite und dritte Seite der Basis jeweils der ersten, zweiten und dritten Fläche des Prismas zugeordnet sind. Da der einfallende Strahl auf die erste Fläche gemäß einem Einfallswinkel parallel zur Basis auftrifft und auf der ersten Fläche in den reflektierten Strahl und den übertragenen Strahl getrennt wird, erfährt der übertragene Strahl die interne Reflexion auf der zweiten Fläche und tritt über die dritte Fläche aus.
  • In bevorzugten Beispielen, welche der Ausführungsform entsprechen, bei der das Prisma eine Dreiecksbasis aufweist, ist die interne Reflexion eine Totalreflexion, liegt der Brechungsindex des Prismas zwischen 2,5 und 2,0 auf einem Wellenlängenbereich zwischen 0,4 μm und 14 μm und betragen der Einfallswinkel und der erste und der zweite Öffnungswinkel jeweils auf einen Grad genau:
    • – in einem ersten bevorzugten Beispiel: 81°, 57° und 33°, und
    • – in einem zweiten bevorzugten Beispiel: 48°, 51° und 33°.
  • In einer zweiten vorteilhaften Ausführungsform des Prismas weist dieses eine Vieleckbasis auf, die mindestens eine erste Seite, wobei eine zwei te Seite mit der ersten Seite einen Öffnungswinkel bildet, eine dritte Seite parallel zur ersten Seite und eine vierte Seite parallel zur zweiten Seite aufweist, wobei die erste, zweite, dritte und vierte Seite der Basis jeweils der ersten, zweiten, dritten und vierten Fläche des Prismas zugeordnet sind. Der einfallende Strahl trifft auf die erste Fläche mit einem Einfallswinkel parallel zur Basis auf und wird auf der ersten Fläche in den reflektierten Strahl und den übertragenen Strahl getrennt, wobei der übertragene Strahl jeweils einer ersten und einer zweiten der internen Reflexionen auf der zweiten und auf der vierten Fläche unterworfen wird und über die dritte Fläche austritt.
  • Gemäß einem bevorzugten Beispiel dieser Ausführungsform mit Vieleckbasis, liegt der Brechungsindex des Prismas zwischen 1,85 und 1,75 auf einem Wellenlängenbereich zwischen 0,4 und 2 μm und der Einfallswinkel und der Öffnungswinkel betragen jeweils bis auf einen Grad genau 78,5° und 68°.
  • Die Erfindung betrifft auch ein Messverfahren für Polarisationszustände eines Lichtstrahls, der einen Stokes-Vektor aufweist, bei dem:
    • – man den zu messenden Lichtstrahl in einen reflektierten Strahl und einen übertragenen Strahl trennt,
    • – man den reflektierten Strahl und den übertragenen Strahl in mindestens zwei Endstrahlen trennt,
    • – man die Stärken der Endstrahlen misst und
    • – den Stokes-Vektor des zu messenden Lichts ausgehend von den Stärken erzeugt.
  • Gemäß der Erfindung wird der übertragene Strahl mindestens einer internen Reflexion im Prisma unterworfen, ohne einen Interferenzeffekt zu induzieren.
  • Die Erfindung wird nachstehend unter Bezugnahme auf besondere Ausführungsformen und Formen der Umsetzung, die beispielhaft angeführt und in den beiliegenden Zeichnungen dargestellt sind, besser verstanden werden. Darin zeigen:
  • 1 eine erste Ausführungsform eines Polarimeters gemäß der Erfindung und
  • 2 eine zweite Ausführungsform eines Polarimeters gemäß der Erfindung.
  • In den 1 und 2 sind gleiche Elemente mit den gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet.
  • Ein Polarimeter 1, das in 1 dargestellt ist, umfasst ein Prisma 2 mit einer Dreiecksbasis 16. Das Prisma 2 umfasst drei Flächen 11, 12 und 13 (senkrecht zur Ebene des Zeichnungsblatts), welche jeweils Seiten der Dreiecksbasis 16 entsprechen. Die Flächen 11 und 12 bilden untereinander einen Winkel Φ2, während die Flächen 12 und 13 untereinander einen Winkel Φ5 bilden. Das Prisma 2 umfasst keine Behandlungsoberfläche und weist einen Brechungsindex np auf. Es ist dazu bestimmt, auf seiner Fläche 11 einen einfallenden Strahl 21 in einem Einfallswinkel Φ1 zu empfangen und diesen einfallenden Strahl in einen reflektierten Strahl 22 und einen übertragenen Strahl 23 zu trennen. Die Winkel Φ1, Φ2 und Φ5 und der Brechungsindex np werden so gewählt, dass der übertragene Strahl 23 auf die Fläche 12 des Prismas 2 in einem Einfallswinkel Φ3 auftrifft, vollständig von dieser Fläche 12 reflektiert wird und über die Fläche 13 senkrecht zur Fläche 13 austritt.
  • Das Polarimeter 1 umfasst auch zwei Wallaston-Prismen 3 und 4, die in 45° zur Einfallsebene ausgerichtet und dazu bestimmt sind, jeweils den reflektierten Strahl 22 und den übertragenen Strahl 23 aufzunehmen und diese jeweils in zwei Endstrahlen zu trennen, die jeweils mit 25 und 26 für den reflektierten Strahl 22 und mit 27 und 28 für den übertragenen Strahl 23 gekennzeichnet sind.
  • Photodetektoren 5 bis 8 sind so angeordnet, dass sie jeweils die Stärken i1–i4 der Endstrahlen 25 bis 28 messen. Sie sind mit einer Verarbeitungseinheit 9 verbunden, welche den Stokes-Vektor S des Lichts des einfallenden Strahls 21 ausgehend von seinen Stärken erzeugt. Die Photodetektoren 5 bis 8 sind zum Beispiel Photomultiplikatorröhren.
  • In einer vorteilhaften Ausführungsform besteht das Prisma 2 aus ZnS, optimiert für Anwendungen im sichtbaren Bereich und im Infrarotbereich, von 0,4 μm (np = 2,41) bis 14 μm (np = 2,15).
  • Gemäß einem ersten Beispiel dieser vorteilhaften Ausführungsform gilt Folgendes:
    Φ1 = 81,2°, Φ2 = 56,9°, Φ5 = 32,8°.
  • Dieses Beispiel mit streifendem Einfall ist von sehr großer Effizienz (Konditionierung s(A) = 0,57) und von einer mittleren Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel (Empfindlichkeit δ(A) = 2,74).
  • Gemäß einem zweiten Beispiel dieser vorteilhaften Ausführungsform gilt Folgendes:
    Φ1 = 48,4°, Φ2 = 50,8°, Φ5 = 32,8°.
  • Dieses Beispiel ergibt eine relativ korrekte Effizienz (Konditionierung S(A) = 0,2) und eine sehr geringe Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel δ(A) = 0,33). Ferner ist diese Konfiguration vom geometrischen Standpunkt aus betrachtet sehr praktisch.
  • Ein anderes Polarimeter 31 umfasst ein Prisma 32 mit einer Vieleckbasis 46. Das Prisma 32 umfasst fünf Flächen 41 bis 45, welche sich auf Seiten der Basis 46 senkrecht zur Basis 46 stützen. Die Flächen 41 und 43 sind parallel zueinander, genau so wie die Flächen 42 und 44. Die Fläche 43 bildet mit der Fläche 44 einen Winkel Φ2. Die Fläche 41 und die Fläche 42 bilden somit auch diesen Winkel Φ2, wobei die Kante, die von den Flächen 41 und 42 gebildet wird, abgeschnitten ist und so die fünfte Fläche 45 bildet.
  • Im Betrieb empfängt die Fläche 41 den einfallenden Strahl 21 und trennt diesen in einen reflektierten Strahl 22 und einen übertragenen Strahl 23. Der übertragene Strahl 23 trifft in einem Einfallswinkel Φ3 auf die Fläche 42 auf und wird dort vollständig reflektiert, danach trifft er im selben Einfallswinkel Φ3 auf die Fläche 44, auf der er vollständig reflektiert wird. Im Anschluss daran tritt er über die Fläche 43 aus. Die Fläche 45 ist eventuell matt oder geschwärzt, um den von der Fläche 43 kommenden Störstrahl aufzuhalten.
  • Die anderen Elemente des Polarimeters 31 ähneln jenen des Polarimeters 1 und funktionieren in identischer Weise.
  • In einem vorteilhaften Ausführungsbeispiel, das für Anwendungen im Sichtbereich und im Nahinfrarotbereich bestimmt ist, besteht das Prisma 32 aus einem Glasmaterial, zum Beispiel von der Art, wie es unter der Bezeichnung FBS E00-46 von CORNING S. A. vertrieben wird. Sein Brechungsindex np sinkt somit um 1,83 für 0,4 μm auf 1,76 für 2 μm. Bei einer Wellenlänge von 0,488 μm, wobei 10% des übertragenen Strahls 23 im Prisma 32 absorbiert werden, gestaltet sich das Prisma 32 des Beispiels wie folgt:
    np = 1,812, Φ1 = 78,5°, Φ2 = 68°.
  • Die Matrix Aexp, die experimentell gemessen wird, beträgt somit:
  • Figure 00140001
  • Sie ist ihrem theoretischen Wert sehr nahe. Ferner beträgt der Winkel Φ3 annähernd 35°. Es wird eine sehr gute Effizienz erhalten (gemessene Konditionierung s(Aexp) = 0,5 und theoretische Konditionierung s(A) = 0,56). Ferner ist die theoretische Empfindlichkeit δ(Aexp) gegenüber dem Einfallswinkel gleich 2,6. Die Verringerung des Einfallswinkels Φ1 ermöglicht die Reduktion der Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel, wobei die Effizienz verringert wird.
  • Ferner führt die Streuung des Brechungsindexes von 0,4 μm auf 2 μm zu einer Schwankung von einigen Prozent bei der Matrix A. Daher muss die Kalibrierung mit unterschiedlichen Wellenlängen erfolgen. Der übertragene Strahl 23 weist eine kleine räumliche Streuung auf, die mit dem Großteil der optischen Fenster von Polarisatoren und Photodetektoren kompatibel ist, die in einem angemessenen Abstand vom Prisma 32 angeordnet sind.
  • Zum Vergleich entspricht ein Polarimeter mit Amplitudenteilung, der einen Strahlenteiler umfasst, der mit einem Dielektrikum oder einem Halbleiter überzogen ist (K. Brudzewski, Journal of Modern Optics, Vol. 38, Seite 889, 1991), jeweils einer Konditionierung in der Größenordnung von 0,1 bis 0,2 und der Größenordnung von 0,3 bis 0,4 und einer Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel in der Größenordnung von 2,6. Das Polarimeter gemäß der Erfindung ermöglicht somit eine deutliche Verbesserung dieser Leistungen.

Claims (10)

  1. Polarimeter (1, 31) mit – einem Anfangsseparator, der dazu bestimmt ist, einen zu messenden einfallenden Lichtstrahl (21), der einen Stokes-Vektor (S) hat, in einen reflektierten Strahl (22) und in einen übertragenen Strahl (23) zu trennen, wobei der Separator einen Reflexionskoeffizienten (R), ein Paar ellipsometrische Reflexionswinkel (ψr, Δr), einen Übertragungskoeffizienten (T) und ein Paar ellipsometrische Übertragungswinkel (ψt, Δt) hat, – zwei Endseparatoren (3, 4), die dazu bestimmt sind, jeweils den reflektierten Strahl (22) und den übertragenen Strahl (23) in mindestens zwei Endstrahlen (2528) zu teilen, – Mitteln zum Erfassen (58), die dazu bestimmt sind, die Stärken (i1–i4) der Endstrahlen zu messen, und – einer Verarbeitungseinheit (9), die an die Erfassungsmittel angeschlossen ist, die den Stokes-Vektor (S) des zu messenden Lichts erzeugt, dadurch gekennzeichnet, dass der Anfangsseparator ein Prisma (2, 32) umfasst, das keinen Interferenzeffekt induziert und Eigenschaften hat, insbesondere einen Brechungsindex (np), und eine Position hat, die derart sind, dass der übertragene Strahl (23) im Prisma (2, 32) mindestens einer internen Reflexion gemäß einem internen Reflexionswinkel (ϕ3) unterworfen wird.
  2. Polarimeter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der im Prisma (2, 32) des Anfangsseparators erzeugten internen Reflexionen eine Totalreflexion ist.
  3. Polarimeter nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Winkel der internen Reflexion (ϕ3), die den Totalreflexionen entsprechen, näherungsweise folgende Beziehung erfüllen:
    Figure 00170001
  4. Polarimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der im Prisma des Anfangsseparators auftretenden internen Reflexionen eine Reflexion auf einer dicken absorbierenden Schicht ist.
  5. Polarimeter nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Prisma (2) eine Dreiecksbasis (16) hat, die eine erste Seite, eine zweite Seite, die einen ersten Öffnungswinkel (ϕ2) mit der ersten Seite bildet, und eine dritte Seite hat, die mit der zweiten Seite einen zweiten Öffnungswinkel (ϕ5) bildet, wobei die erste, zweite und dritte Seite der Basis (16) jeweils der ersten, zweiten und dritten Fläche (1113) des Prismas (2) zugeordnet sind, wobei der einfallende Strahl (21) auf der ersten Fläche (11) mit einem Einfallswinkel (ϕ1) parallel zur Basis (16) auftrifft und auf der ersten Fläche (11) in den reflektierten Strahl (22) und den übertragenen Strahl (23) getrennt wird und wobei der übertragene Strahl die interne Reflexion auf der zweiten Fläche (12) erfährt und über die dritte Fläche (13) austritt.
  6. Polarimeter nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die interne Reflexion total ist, wobei der Brechungsindex (np) des Prismas zwischen 2,5 und 2,0 auf einem Wellenlängenbereich zwischen 0,4 μm und 14 μm liegt, und der Einfallswinkel (ϕ1) und der erste und der zweite Öffnungswinkel (ϕ2, ϕ5) jeweils auf einen Grad genau 81°, 57° und 33° betragen.
  7. Polarimeter nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die interne Reflexion komplett ist, wobei der Brechungsindex (np) des Prismas zwischen 2,5 und 2,0 auf einem Wellenlängenbereich zwischen 0,4 μm und 14 μm liegt, und der Einfallswinkel (ϕ1) und der erste und der zweite Öffnungswinkel (ϕ2, ϕ5) jeweils auf einen Grad genau 48°, 51° und 33° betragen.
  8. Polarimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Prisma (32) eine Vieleckbasis (46) hat, die mindestens eine erste Seite umfasst, wobei eine zweite Seite mit der ersten Seite einen Öffnungswinkel (ϕ2) bildet, und eine dritte Seite parallel zur ersten Seite und eine vierte Seite parallel zur zweiten Seite hat, wobei die erste, zweite, dritte und vierte Seite der Basis (46) jeweils der ersten, zweiten, dritten und vierten Fläche (4144) des Prismas (32) zugeordnet sind, wobei der einfallende Strahl (21) auf der ersten Fläche (41) mit einem Einfallswinkel (ϕ1) parallel zur Basis (46) auftrifft und auf der ersten Fläche in den reflektierten Strahl (22) und den übertragenen Strahl (23) getrennt wird, und wobei der übertragene Strahl jeweils einer ersten und einer zweiten der internen Reflexionen auf der zweiten und vierten Fläche (42, 44) unterworfen wird und über die dritte Fläche (43) austritt.
  9. Polarimeter nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die internen Reflexionen total sind, wobei der Brechungsindex (np) des Prismas (32) zwischen 1,85 und 1,75 auf einem Wellenlängenbereich zwischen 0,4 und 2 μm liegt, und dass der Einfallswinkel (ϕ1) und der Öffnungswinkel (ϕ2) jeweils bis auf einen Grad genau 78,5° und 68° betragen.
  10. Messverfahren für Polarisationszustände eines Lichtstrahls (21), der einen Stokes-Vektor (S) hat, bei dem: – man den zu messenden Lichtstrahl in einen reflektierten Strahl (22) und einen übertragenen Strahl (23) trennt, – man den reflektierten Strahl (22) und den übertragenen Strahl (23) in mindestens zwei Endstrahlen (2528) trennt, – man die Stärken (i1–i4) der Endstrahlen (2528) misst und – den Stokes-Vektor (S) des zu messenden Lichts ausgehend von den Stärken erzeugt, dadurch gekennzeichnet, dass man den übertragenen Strahl (23) mindestens einer internen Reflexion an einem Prisma (2, 32) unterwirft, ohne einen Interferenzeffekt zu induzieren,
DE69916716T 1998-02-09 1999-02-01 Polarimeter und zugehöriges messverfahren Expired - Fee Related DE69916716T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9801498 1998-02-09
FR9801498A FR2774766B1 (fr) 1998-02-09 1998-02-09 Polarimetre et procede de mesure correspondant
PCT/FR1999/000200 WO1999040399A1 (fr) 1998-02-09 1999-02-01 Polarimetre et procede de mesure correspondant

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69916716D1 DE69916716D1 (de) 2004-06-03
DE69916716T2 true DE69916716T2 (de) 2005-04-14

Family

ID=9522747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69916716T Expired - Fee Related DE69916716T2 (de) 1998-02-09 1999-02-01 Polarimeter und zugehöriges messverfahren

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6177995B1 (de)
EP (1) EP0974042B1 (de)
JP (1) JP2001520754A (de)
AU (1) AU2169599A (de)
DE (1) DE69916716T2 (de)
FR (1) FR2774766B1 (de)
WO (1) WO1999040399A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016117326A1 (de) 2016-09-06 2018-03-08 Novoptel GmbH Polarimeter für polarisationsmodulierte Signale

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6836327B1 (en) * 2001-03-16 2004-12-28 General Photonics Corporation In-line optical polarimeter based on integration of free-space optical elements
US6456434B1 (en) * 2001-06-05 2002-09-24 Solid Optics Inc. Single crystal two-beam polarizing prism without angular dispersion and method of manufacturing thereof
US6909506B2 (en) * 2002-01-17 2005-06-21 The Furukawa Electric Co., Ltd. Stokes parameter measurement device and method
US7369232B2 (en) * 2002-01-17 2008-05-06 The Furukawa Electric Co., Ltd. Stokes parameter measurement device and method
US7034939B2 (en) * 2002-03-11 2006-04-25 Spectir Corporation Calibration system and method for calibration of various types of polarimeters
US6744509B2 (en) 2002-08-20 2004-06-01 Meadowlark Optics, Inc. Retardance sweep polarimeter and method
US6906800B2 (en) 2003-03-14 2005-06-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Polarimeter using quantum well stacks separated by gratings
JP2005140585A (ja) * 2003-11-05 2005-06-02 Fujitsu Ltd 偏光状態測定装置
JP2005321328A (ja) 2004-05-11 2005-11-17 Fujitsu Ltd 偏光状態測定装置
US7349079B2 (en) * 2004-05-14 2008-03-25 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods for measurement or analysis of a nitrogen concentration of a specimen
US7067819B2 (en) * 2004-05-14 2006-06-27 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems and methods for measurement or analysis of a specimen using separated spectral peaks in light
US7359052B2 (en) * 2004-05-14 2008-04-15 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems and methods for measurement of a specimen with vacuum ultraviolet light
US7564552B2 (en) * 2004-05-14 2009-07-21 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems and methods for measurement of a specimen with vacuum ultraviolet light
US20060012788A1 (en) 2004-07-19 2006-01-19 Asml Netherlands B.V. Ellipsometer, measurement device and method, and lithographic apparatus and method
CA2496235C (en) * 2005-02-04 2011-11-15 James Plant Polarization filter utilizing brewster's angle
US7408641B1 (en) 2005-02-14 2008-08-05 Kla-Tencor Technologies Corp. Measurement systems configured to perform measurements of a specimen and illumination subsystems configured to provide illumination for a measurement system
US7557918B1 (en) 2006-04-05 2009-07-07 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Spectral polarimetric image detection and analysis methods and apparatus
US7945130B2 (en) * 2007-11-15 2011-05-17 General Photonics Corporation Mode scrambling apparatus for multimode fiber
US8780433B2 (en) 2011-09-28 2014-07-15 General Photonics Corporation Polarization scrambling based on cascaded optical polarization devices having modulated optical retardation
US8988674B2 (en) 2013-07-29 2015-03-24 Ultratech, Inc. Systems and methods for measuring high-intensity light beams
US9354118B2 (en) 2014-02-06 2016-05-31 Film Sense, LLC Multiple wavelength ellipsometer system and related method
CN103776445B (zh) * 2014-02-24 2017-01-04 北京理工大学 分振幅偏振导航角度传感设计方法及装置
FR3018914B1 (fr) 2014-03-18 2016-05-06 Centre Nat Rech Scient Dispositif et methode de caracterisation polarimetrique deportee
CN115219034A (zh) * 2021-04-15 2022-10-21 华为技术有限公司 偏振态测量装置和偏振态测量方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3564450A (en) * 1967-10-11 1971-02-16 Kollsman Instr Corp Electro-optic q-switch using brewstek angle cut pockels cell
DE3206040A1 (de) * 1982-02-19 1983-09-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Reflexionsfreier optischer polarisator mit einem prisma
US5337146A (en) * 1992-03-30 1994-08-09 University Of New Orleans Diffraction-grating photopolarimeters and spectrophotopolarimeters
DE4319036A1 (de) * 1993-05-29 1994-12-01 Duennschicht Technik Prof Dr H Stokesanalysator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016117326A1 (de) 2016-09-06 2018-03-08 Novoptel GmbH Polarimeter für polarisationsmodulierte Signale

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001520754A (ja) 2001-10-30
EP0974042A1 (de) 2000-01-26
US6177995B1 (en) 2001-01-23
AU2169599A (en) 1999-08-23
DE69916716D1 (de) 2004-06-03
FR2774766A1 (fr) 1999-08-13
WO1999040399A1 (fr) 1999-08-12
FR2774766B1 (fr) 2000-04-28
EP0974042B1 (de) 2004-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69916716T2 (de) Polarimeter und zugehöriges messverfahren
DE69938134T2 (de) Spektroskopisches ellipsometer
DE2014531A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Konzentration suspendierter Festteilchen unter Verwendung von zirku larpolarisiertem Licht
DE10154008C1 (de) Verfahren und Anordnung zur spannungsoptischen Analyse von Festkörpern
DE60118871T2 (de) Lichtwellenlängenmessvorrichtung und Verfahren unter Verwendung eines Zweistrahlinterferometers
DE60210431T2 (de) Achromatisches Spektralellipsometer mit hoher räumlicher Auflösung
DE4301889A1 (de) Verfahren zum Bestimmen charakteristischer Größen transparenter Schichten mit Hilfe der Ellipsometrie
DE102009036383B3 (de) Vorrichtung und Verfahren zur winkelaufgelösten Streulichtmessung
EP1995576A1 (de) Anordnung für die Detektion von Stoffen und/oder Stoffkonzentrationen mit durchstimmbarem Fabry-Perot-Interferometer
DE3825683C1 (de)
DE10335806A1 (de) Depolarisator, Spektroskop und Polychromator
EP0017822B1 (de) Vorrichtung zur Analyse des Polarisationszustandes einer Strahlung
DE102012214019B3 (de) Messsystem zur Bestimmung von Reflexionscharakteristiken von Solarspiegelmaterialien und Verfahren zur Qualitätsbestimmung einer Spiegelmaterialprobe
EP3055682A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum vermessen von scheiben, insbesondere von windschutzscheiben von fahrzeugen
DE3737426C2 (de) Interferometer
EP2981809B1 (de) Vorrichtung zur messung der streuung einer probe
DE19611037C2 (de) Polarisierender Strahlteiler auf der Basis von Wollaston-Prismen
WO2017207751A1 (de) Vorrichtung zur bestimmung des polarisationszustands durch messung von mindestens drei stokes-parametern
DE3814742A1 (de) Achromatischer phasenretarder
DE10227376B4 (de) Verfahren zur Bestimmung von Schichtdickenbereichen
DE60104629T2 (de) Polarisationskorrigierte optische Messeinheit
DE1648748A1 (de) Verfahren und Geraet zum Pruefen von Sicherheitsglas
DE10341322A1 (de) Optisches Messsystem und Verfahren
US4944579A (en) Detection system for circularly polarized radiation
WO2017207681A2 (de) Konfigurierbares retroreflex-sensorsystem zur verbesserten charakterisierung der eigenschaften einer probe, entsprechendes verfahren und entsprechende verwendung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee