DE69503352T2 - Verfahren zum Messen und Kompensieren von Streulicht in einem Spektrometer - Google Patents
Verfahren zum Messen und Kompensieren von Streulicht in einem SpektrometerInfo
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP95102729A EP0729017B1 (de) | 1995-02-25 | 1995-02-25 | Verfahren zum Messen und Kompensieren von Streulicht in einem Spektrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69503352D1 DE69503352D1 (de) | 1998-08-13 |
DE69503352T2 true DE69503352T2 (de) | 1998-10-29 |
Family
ID=8219016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69503352T Expired - Fee Related DE69503352T2 (de) | 1995-02-25 | 1995-02-25 | Verfahren zum Messen und Kompensieren von Streulicht in einem Spektrometer |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5801829A (de) |
EP (1) | EP0729017B1 (de) |
JP (1) | JPH08261825A (de) |
DE (1) | DE69503352T2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005037842A1 (de) * | 2005-08-04 | 2007-02-08 | Hach Lange Gmbh | Spektralphotometer |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6646248B2 (en) * | 2001-04-24 | 2003-11-11 | Xerox Corporation | Photosensitive imaging apparatus sensitive to orange light |
JP5012323B2 (ja) * | 2007-08-27 | 2012-08-29 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | ポリクロメータおよびその迷光の補正方法 |
CN101452200B (zh) * | 2007-11-30 | 2010-11-10 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头杂散光检测系统 |
WO2009128338A1 (ja) * | 2008-04-15 | 2009-10-22 | 株式会社トプコン | 測光装置 |
DE102008063464A1 (de) | 2008-12-17 | 2010-07-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Erkennung von Streulichteffekten bei der Erfassung eines Intensitätsspektrums und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
JP5630091B2 (ja) * | 2010-06-22 | 2014-11-26 | セイコーエプソン株式会社 | 分光測定装置 |
JP5769453B2 (ja) * | 2011-03-10 | 2015-08-26 | 大塚電子株式会社 | 分光特性測定方法および分光特性測定装置 |
JP5484537B2 (ja) | 2012-09-03 | 2014-05-07 | 大塚電子株式会社 | 分光特性測定装置および分光特性測定方法 |
JP5987573B2 (ja) | 2012-09-12 | 2016-09-07 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール、電子機器、及び駆動方法 |
JP6686797B2 (ja) * | 2016-08-26 | 2020-04-22 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計における検出信号値の補正方法及び検出信号値の補正機能を備えた分光光度計 |
NL2017729B1 (en) * | 2016-11-07 | 2018-05-23 | Univ Twente | Method, apparatus and computer program for measuring and processing a spectrum of an xuv light source from soft x-rays to infrared wavelengths |
EP4352472A1 (de) | 2021-06-08 | 2024-04-17 | trinamiX GmbH | Stabilisierte und modulierte 2-kanal-breitband-lichtquelle |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS585669A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-13 | Shimadzu Corp | ベ−スライン補正方法 |
US4526470A (en) * | 1982-03-05 | 1985-07-02 | Beckman Instruments, Inc. | Stray light measurement and compensation |
DE3215367A1 (de) * | 1982-04-24 | 1983-11-03 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Vorrichtung zur reduzierung falschlichtbedingter messfehler bei spektralphotometern |
JPS6079248A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-07 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
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JPH07128144A (ja) * | 1993-11-04 | 1995-05-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分光測定装置 |
-
1995
- 1995-02-25 DE DE69503352T patent/DE69503352T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-25 EP EP95102729A patent/EP0729017B1/de not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-02-08 US US08/598,363 patent/US5801829A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-02-26 JP JP8038504A patent/JPH08261825A/ja active Pending
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---|---|---|---|---|
DE102005037842A1 (de) * | 2005-08-04 | 2007-02-08 | Hach Lange Gmbh | Spektralphotometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69503352D1 (de) | 1998-08-13 |
JPH08261825A (ja) | 1996-10-11 |
US5801829A (en) | 1998-09-01 |
EP0729017A1 (de) | 1996-08-28 |
EP0729017B1 (de) | 1998-07-08 |
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