DE69407656T2 - Verfahren zum kontaktlosen Messen der Oberflächentemperatur oder des Emissionsvermögens von Objekten - Google Patents

Verfahren zum kontaktlosen Messen der Oberflächentemperatur oder des Emissionsvermögens von Objekten

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Description

    Anwendungsgebiet der Erfindung
  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum kontaktiosen Messen der Oberflächentemperatur und/oder des Strahlungsvermögens von Objekten nach dem Prinzip der Zerlegung der durch das zu messende Objekt emittierten infraroten Strahlung mit Hilfe von wenigstens zwei Detektoren der infraroten Strahlung.
  • Charakteristik der bekannten technischen Lösungen
  • Kontaktoses Messen der Temperatur, besonders von Objekten in Bewegung, wird häufig verlangt zum Beispiel bei vielen Vorgängen in den Textil-, Papier und Zellulosen- und Plaststoffindustriezweigen. Ohne die Lösung dieses Problems kann man viele solche Vorgänge weder steuern noch regulieren oder optimieren. Zu diesem Zweck werden oft übliche kontaktiose Thermometere oder Strahlungsthermometer benutzt.
  • Die erstgenannten von diesen Thermometern sind billiger, müssen aber ganz nahe am zu messenden Objekt angeordnet sein, was nicht immer möglich ist.
  • Die Strahlungsthermometer, d.h. Pyrometer, beruhend auf der Zerlegung der aus dem Objekt hinausgehenden Infrarotstrahlung, sind wesentlich abhängig von den Strahlungseigenschaften, das heißt vom Strahlungsvermögen oder vom Grad der Schwärze des zu messenden Objektes. Darüber hinaus wird der Meßfehler durch die Absorption der infraroten Strahlung im Raum zwischen dem zu messenden Objekt und dem mit einem Detektor der infraroten Strahlung ausgestatteten Pyrometer erhöht.
  • Der durch die Unkenntnis der Veränderlichkeit des Strahlungsvermögens und der Absorption der infraroten Strahlung verursachte Meßfehler wird durch den Einsatz der sogenannten Zweibandoder Vielbandpyrometer vermindert, mit denen die aus dem Objekt hinausgehende Strahlung durch optische Filter in Bänder mit unterschiedlichen Wellenlängen zerlegt wird.
  • Die auf derselben Temperatur gehaltenen Detektoren zerlegen gleichzeitig die Strahlung nur in die vorbestimmten Bänder. Auf diese Weise wird ein Satz unabhängiger Signale gebildet, der es unter bestimmten Bedingungen ermöglicht, den Einfluß des Strahlungsvermögens des zu messenden Objektes in der resultierenden Relation für die Berechnung der Temperatur des zu messenden Objektes zu eliminieren.
  • Die wichtigsten Voraussetzungen für diese Anwendung sind die Unabhängigkeit des Strahlungsvermögens des zu messenden Objektes von seiner Temperatur oder eine mit der Temperatur parallele Erhöhung des spektralen Strahlungsvermögens des Objekts. Gleichsam muß auch die Absorption der Infrarotstrahlung in der Atmosphäre in allen zu messenden Bändern des Infrarotspektrums indentisch sein.
  • In der Praxis ist es fast unmöglich, solche Bedingungen bei niedrigeren zu messenden Temperaturen zu erfüllen. Deshalb werden die Bandpyrometer ausschließlich bei höheren Temperaturen eingesetzt. Jedoch auch in diesem Fall entsteht eine Reihe von Problemen, zum Beispiel die spektralabhängige Oxydation von Metallen, die die Autoren der Mehrbandpyrometer mit Einsatz von bis zu sechs Kanälen zu lösen versuchen.
  • Da jedoch der Preis eines bis zu zehn dünne Halbleiterschichten enthaltenden Infrarot-Bandfilters den Preis eines kompletten Pyrometeres ohne Filter übersteigt, steht fest, daß auch ein Zweibandpyrometer, ausgestattet mit diesen Filtern, dreimal kostspieliger als ein übliches Pyrometer ist.
  • Darum werden gegenwärtig andere Verfahren benutzt, die die Ermittlung des Strahlungsvermögens des zu messenden Objektes auf unterschiedliche Weise ermöglichen. Das letzte von diesen Verfahren enthält die Anwendung der Laserstrahlung, die nach der Reflexion vom Objekt mit der ursprüngliche Strahlung verglichen wird und auf diese Weise eine geeignee Angabe über die Strahlung des Objektes gewonnen wird. Dieses Verfahren ist jedoch beträchtlich kritisch von der Kostenseite her. Die Anlage is angemessen groß und verlangt nach komplizierter Installierung und qualifizierter Bedienung. Daher wurde keines der beschriebenen Verfahren bis jetzt praktisch oder geschäftlich erfolgreich angewandt.
  • Darlegung des Wesens der Erfindung
  • Die Nachteile der bisherigen Verfahren des kontaktlosen Messens der Oberflächentemperatur der Objekte, die auf dem Prinzip der Zerlegung der durch das zu messende Objekt emittierten Strahlung mit Hilfe von wenigstens zwei Detektoren der infraroten Strahlung (Radiation) beruhen, werden durch das Verfahren nach der vorliegenden Erfindung beseitigt, dessen Prinzip darin besteht, daß wenigstens zwei Detektoren der infraroten Strahlung durch eine Wärmezufuhr auf unterschiedlichen Durchschnittstemperaturen gehalten werden, so daß von diesen Detektoren unterschiedliche und unabhängige Ausgangssignale zur Ermittlung der Oberflächentemperatur und/oder des Strahlungsvermögens des zu messenden Objektes gewonnen werden.
  • Besonders vorteilhaft ist der Bereich der zu messenden Temperaturen zwischen 0º und 250ºC, der in den Technologien der Textil-, Papier- und Plaststoffbearbeitung am häufigsten vorkommt, vorausgesetzt, daß die Differenz zwischen den Durchschnittstemperaturen der Detektoren der Infrarotstrahlung genügend groß ist, zum Beispiel 3000.
  • Der Begriff der "Durchschnittstemperatur" wird hier eingeführt, weil jeder Detektor bis zu einem gewissen Grad durch die ihn beeinflussende Infrarotstrahlung erwärmt wird, so daß sie in der Größenordnung von Zehntelgraden steigt. Dieser kleine Temperaturanstieg hängt jedoch von der Ebene des ihn beeinflussenden Strahlungsstroms ab, so daß die Temperatur des Detektors schwankt.
  • Als Durchschnittstemperatur des Detektors bezeichnet man also die Summe der durch die beeinflussende Infrarotstrahlung nicht beeinflußten Grundtemperaturen des Detektors mit dem durchschnittlichen, durch den Austausch der Infrarotstrahlung zwischen dem zu messenden Objekt und dem Detektor verursachten Anstieg oder Abfall der Temperatur des Detektors (für die gewählte Zeitperiode) herbeigeführt wurde.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnung
  • Die Konstruktion des Apparats zur Durchführung des Verfahrens zum kontaktlosen Messen der Oberflächentemperatur und/oder des Strahlungsvermögens nach der Erfindung ist zur Erklärung des Verfahrens in der Zeichnung schematisch dargestellt.
  • Ausführungsbeispiele der Erfindung
  • Die durch ein zu messendes Objekt 1 emittierte Infrarotstrahlung wird durch eine Linse 2 auf einen ersten Detektor 3 der Infrarotstrahlung mit einer Durchschnittstemperatur T&sub1; konzentriert. Der Ausgang dieses ersten Detektors 3 der Infrarotstrahlung ist mit einem ersten Verstärker 4 verbunden, der auch andere Funktionen haben kann. Das verstärkte Signal U&sub1; des Detektors 3 der Infrarotstrahlung steht zur Verfügung am Ausgang des im wesentlichen linearen ersten Verstärkers 4. Die Infrarotstrahlung wird zu einem zweiten Detektor der Infrarotstrahlung 5 mit einer Durchschnittstemperatur T&sub2; geführt, entweder kontinuierlich durch einen halbdurchlässigen Spiegel 6, der zwischen der Linse 2 und dem ersten Detektor 3 der Infrarotstrahlung untergebracht ist, wie in der Zeichnung dargestellt, oder intermittierend durch die Bewegung eines rotierenden Teiles (Unterbrechers), der in einer ersten Grenzlage die gesamte durch die Linse 2 gesammelte Strahlung auf den zweiten Detektor 5 der Infrarotstrahlung, und in einer zweiten Grenziage auf den ersten Detektor 3 der Infrarotstrahlung richtet. Der Ausgang des zweiten Detektors 5 der Infrarotstrahlung ist mit einem zweiten Verstärker 10 verbunden. Das verstärkte Signal U&sub2; des zweiten Detektors 5 der Infrarotstrahlung ist auch am Ausgang des zweiten Verstärkers 10 vorhanden.
  • Da die Detektoren der Infrarotstrahlung 3 und 5 durch einen Regler 7 und durch die in der Nähe der Detektoren 3,5 untergebrachten Erwärmungslkühlungsvorrichtungen 8,9 auf unterschiedlichen Temperaturen gehalten werden, werden an den Verstärkern 4 und 10 zwei unterschiedliche und unabhängige Signale gewonnen und einer EDV-Anlage 11 zugeführt, mit der die Verstärker verbunden sind. In der EDV-Anlage 11 werden die beiden Signale, die zum Beispiel in ihren Amplituden unterschiedlich sind, in eine resultierende Beziehung gebracht, die es ermöglicht, die resultierende Temperatur T des Objektes unabhängig vom Strahlungsvermögen des Objektes und von der Absorption der Infrarotstrahlung in der Atmosphäre zwischen dem Objekt 1 und der Linse 2 des Pyrometers zu ermitteln.
  • Das Verfahren zum kontaktlosen Messen der Oberflächentemperatur und/oder des Strahlungsvermögens der Objekte wird dann so durchgeführt, daß mit Hilfe der Erwärmungs/Kühlungsvorrichtung 8 und des Reglers 4 die Durchschnittstemperatur T&sub1; des ersten Detektors 3 der Infrarotstrahlung auf einem im Vergleich mit der Durchschnittstemperatur T&sub2; des zweiten Detektors 5 der Infrarotstrahlung&sub1; die durch die Erwärmungslkühlungsvorrichtung 9 aufrechthalten wird, höheren Niveau aufrechterhalten wird. Ein anderes Ausführungsbeispiel kann zwei Temperaturregler enthalten, je einen für die Detektoren 3,5, oder können die Erwärmungslkühlungsvorrichtungen 8,9 auf eine andere bekannte Weise für die Erwärmung und Kühlung der Detektoren der Infrarotstrahlung angeordnet sein.
  • Dank der Differenz zwischen den Temperaturen T&sub1;, T&sub2;, werden an den Detektoren der Infrarotstrahlung 3, 5 zwei wesentlich unterschiedliche und unabhängige Ausgangssignale generiert, die es ermöglichen, sowohl die Temperatur als auch das Strahlungsvermögen zu errechnen und auf diese Weise auch den Einfluß des Strahlungsvermögens des Objektes und der Absorption der Infrarotstrahlung des Objektes zu eliminieren.
  • Die Nachteile der bisherigen Verfahren zum kontaktlosen Messen der Oberflächentemperatur nach dem Prinzip des Empfangs der Infrarotstrahlung mit Hilfe von wenigstens zwei Detektoren der Infrarotstrahlung werden auf diese Weise behoben durch das neue Verfahren nach der neuen Erfindung, deren Prinzip darauf beruht, daß die Durchschnittstemperaturen dieser Detektoren mit Hilfe wenigstens einer Erwärmungslkühlungsvorrichtung auf voneinander unterschiedlichen Ebenen aufrechterhalten werden, wobei diese Differenz so groß ist, daß sie von diesen Detektoren zwei genügend unterschiedliche und unabhängige Ausgangssignale liefert und dadurch die Errechnung des Strahlungsvermögens und der Temperatur des Objektes ermöglicht und den Einfluß des Strahlungsvermögens des Objektes und der Absorption der Infrarotstrahlung im Raum zwischen dem Objekt und dem Detektor von der resultierenden Gleichung, nach der die Temperatur des Objektes errechnet wird, eliminiert.
  • Dieses Verfahren beruht auf der Tatsache, daß das Ausgangssignal U1 jedes (hier: des ersten) Detektors nach dem Stephan-Boltzmann Gesetz proportional ist der Differenz zwischen den vierten Potenzen der absoluten Temperatur T&sub0; des Objektes und T&sub1; des Detektors (die realen Bedingungen vermindern manchmal diese Potenzen), wie folgt:
  • U&sub1; = C(T&sub0;&sup4;-T&sub1;&sup4;)
  • Die Konstante C beinhaltet hier die Kapazität der Oberflächenstrahlung, das heißt das Strahlungsvermögen des Objektes, die Absorptionskapazität des Detektors, die geometrische Auslegung des Objektes und des Pyrometers (Detektors), optische Aspekte, Strahlungsabsorption im Raum zwischen dem Objekt und dem Pyrometer, und auch die elektrische Verstärkung der Vorrichtung. Es kann als Vorteil angesehen werden, wenn die Ausgangssignale der zwei Detektoren spektral unabhängig sind, weil es bedeutet, daß ihre Ausgangssignale nur vom Wärmestrom der zerlegten Strahlung abhängig sind. Diese Bedingung wird mit den sogenannten thermischen Detektoren erfüllt, deren Strahlungsvermögen in gesamtem Bereich der zerlegten infraroten Wellenlängen konstant ist.
  • Für das gleiche Spektralband der erhaltenen (eintreffenden) Infrarotstrahlung kann die Gleichung für den anderen (zweiten) Detektor geschrieben werden:
  • U&sub2; = C(T&sub0;&sup4;-T&sub2;&sup4;)
  • die sich von der Gleichung (1) durch die unterschiedliche Temperatur T&sub2; des anderen (zweiten) Detektors unterscheidet.
  • Durch Lösen der beiden Gleichungen erhält man.
  • Wie erwartet, enthält diese Gleichung keine Abhängigkeit von irgend einem Parameter, der die Genauigkeit der Temperaturmessung beeinflussen könnte.
  • Vom Gesichtspunkt der Konstruktion erscheint es günstig, die beiden Temperaturen 11, 12 nahe beieinander zu halten, aber eine solche Lösung beeinträchtigt die Fähigkeit, die einzelnen Signale voneinander zu unterscheiden, und erhöht den negativen Einfluß des elektrischen (thermischen) Geräusches der Genauigkeit, mit der das Ergebnis der Temperaturmessung des Objektes ermittelt wird.
  • Wenn man in die Gleichung (3) alle Grenzwerte der geeigneten Temperaturen und die Ihnen entsprechenden U-Signale einlegt und den (theoretisch bewerteten) Wert C kennt, ist es einfach, die minimale Temperaturdifferenz T&sub1; - T&sub2; zu ermitteln, die zum Erreichen der gewünschten Genauigkeit der Temperturmessung erforderlich ist. Für den mittleren Temperaturbereich von bis zu 250ºC, der den üblichsten Technologieverfahren bei der Bearbeitung der Textil-, Papier- und Plaststoffe entspricht, ist die empfohlene minimale Temperaturdifferenz 30ºC.
  • Die unabhängigen, aus den beiden Detektoren 3,5 hinausgehen den Signale U&sub1;, U&sub2; können dann gleichzeitig oder alternierend erscheinen, je nach der Bauart der Vorrichtung zur Durchführung des erfundungsgemäßen Verfahrens. Die gewünschte Temperatur T&sub0; kann dann vorzugsweise durch einen im Pyrometer eingebauten Mikrocomputer im Prinzip nach der Beziehung (3) leicht errechnet werden, allerdings mit etwaiger Modifikation auf der Basis der Kalibrierungskurve.
  • Anwendungsgebiet der Erfindung
  • Das Verfahren zum kontaktlosen Messen nach der Erfindung kann mit Vorteil zum kontaktiosere Messen niedriger und mittlerer Temperaturen der Objekte hauptsächlich in den Textil-, Papierund Zellulosenindustriezweigen, der Temperaturen, die bei der Wärmebehandlung von Nichteisenmetallen, usw. vorkommen, verwenden.
  • Der Hauptvorteil besteht in der Möglichkeit, die Temperatur der Objekte auch dann genau zu messen, wenn das Strahlungsvermögen sich während der Wärmebehandlung ändert, oder wenn die Ermittlung schwierig ist, wie es bei Objekten in Bewegung der Fall ist.
  • Das erfindungsgsgemäße Verfahren kann in den obigen Fällen sogar zum Messen des Strahlungsvermögens des Objektes benutzt werden.

Claims (2)

1. Verfahren zum kontaktlosen Messen der Oberflächentemperatur und/oder des Strahlungsvermögens von Objekten nach dem Prinzip der Zerlegung der durch das zu messende Objekt emittierten infraroten Radiation mit Hilfe von wenigstens zwei Detektoren der infraroten Radiation, dadurch gekennzeichnet, daß die genannten Detektoren (3,5) für wenigstens eine kurze Zeit auf unterschiedlichen Durchschnittstemperaturen (T1, T2) gehalten werden, so daß von diesen Detektoren unterschiedliche und unabhängige Ausgangssignale (U1, U2) zur Ermittlung der Oberflächentemperatur (T) und/oder des Strahlungsvermögens des zu messen den Objekts (1) gewonnen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenz der Durchschnittstemperaturen (T1, T2) der Detektoren (3, 5) der infraroten Radiation wenigstens 30ºC beträgt.
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