DE69324929T2 - Mikroprozessoroperationsprüfverfahren und system dafür - Google Patents

Mikroprozessoroperationsprüfverfahren und system dafür

Info

Publication number
DE69324929T2
DE69324929T2 DE69324929T DE69324929T DE69324929T2 DE 69324929 T2 DE69324929 T2 DE 69324929T2 DE 69324929 T DE69324929 T DE 69324929T DE 69324929 T DE69324929 T DE 69324929T DE 69324929 T2 DE69324929 T2 DE 69324929T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microprocessor
registers
data
status data
data bus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69324929T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69324929D1 (de
Inventor
Jarmo Loukusa
Mikko Rieppo
Sari Saeynaejaekangas
Antti Takaluoma
Kauko Varanka
Ilari Veki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nokia Oyj
Original Assignee
Nokia Telecommunications Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nokia Telecommunications Oy filed Critical Nokia Telecommunications Oy
Publication of DE69324929D1 publication Critical patent/DE69324929D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69324929T2 publication Critical patent/DE69324929T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2201/00Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
    • G06F2201/88Monitoring involving counting

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum überprüfen der Operation eines Mikroprozessors und ein System zum Implementieren dieses Verfahrens.
  • In einer Lösung gemäß dem Stand der Technik wird die Logik eines Mikroprozessors durch direktes Verbinden von Meßgeräten mit den Anschlüssen des Mikroprozessors getestet. Dies ist sehr umständlich und zeitaufwendig; teure Meßgeräte sind für diese Tests erforderlich, die nicht immer sehr abdeckend sind.
  • Es ist Aufgabe dieser Erfindung, ein Verfahren und ein System bereitzustellen, durch die die vorgenannten Nachteile vermieden werden können.
  • In der US-A-5,121,393 ist ein als integrierter Teil des Prozessorchips ausgebildetes System zum Testen von Mikroprozessoren beschrieben. Der Prozessor enthält ein Befehlsregister, das während der Testsequenz in einen Zähler umgewandelt wird. Der Zähler stellt während der Testsequenz aufeinanderfolgend Codes für Testanweisungen an eine integrierte Operationvorrichtung bereit. Die Ergebnisse der durch die Operationsvorrichtung durchgeführten Operationen werden zu einem polynomischen Zähler übertragen. Am Ende der Testsequenz wird das Ergebnis in dem polynomischen Zähler decodiert, um automatisch festzustellen, ob der Mikroprozessor korrekt arbeitet oder defekt ist.
  • Ein Verfahren zum Überprüfen der Operation eines Mikroprozessors gemäß der vorliegenden Erfindung ist im Patentanspruch 1 angegeben. Durch die vorliegende Erfindung wird auch ein System zum Überprüfen der Operation eines Mikroprozessors gemäß Patentanspruch 2 bereitgestellt.
  • Durch die erfindungsgemäße Lösung ist es möglich, ohne umständliches Anschließen von Testausrüstungen direkt auf einen Adreß- und Datenbus des Mikroprozessors zuzugreifen.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens und des erfindungsgemäßen Systems sind durch die Merkmale der beiliegenden Patentansprüche gekennzeichnet.
  • Es folgt eine nähere Beschreibung der Erfindung unter Bezugnahme auf die das System gemäß der Erfindung darstellende beiliegende Zeichnung.
  • Die erfindungsgemäße Lösung ist in der beiliegenden Figur gezeigt. Durch diese Lösung ist es möglich, direkt auf Adreß- und Datenbusse 2 bzw. 3 des Mikroprozessors 1 unter Verwendung einfacher und kostengünstiger Schaltungslösungen zuzugreifen.
  • Unkomplizierte und schnelle Testfunktionen sind in der Software des Mikroprozessors enthalten, wobei durch einen Benutzer ausgewählte Zustände mittels kurzer Schreiboperationen in eine Testschnittstelle des erfindungsgemäßen Systems geschrieben werden können (rechte Seite der Figur ausgehend von der vertikalen gestrichelten Linie). Diese Zustandsdaten können durch einfache Verfahren schnell und flexibel aus der erfindungsgemäßen Testschnittstelle gelesen werden, zum Beispiel mittels eines getrennten mit der Schnittstelle verbundenen Anzeigegeräts oder durch Weiterleiten der Zustandsdaten in ein Anzeige- oder Ausgabegerät eines anderen Systems.
  • In der erfindungsgemäßen Lösung werden Testdaten aufeinanderfolgend auf den Datenbus 3 geschrieben. Nachdem eine Testfunktion aktiviert wurde, erzeugt eine Adreßdecodierschaltung 4 einen Schaltungsauswahlimpuls für die Testschnittstelle in Übereinstimmung mit der Adresse der Schaltung. Durch diesen Impuls wird ein Zähler 5 gestartet, wobei während seines Zählbetriebs eine BIN/LIN-Umwandlungsschaltung 6 einen Schaltungsauswahlimpuls abwechselnd für jedes Register 7a bis 7n erzeugt. Die aufeinanderfolgend von dem Datenbus 3 kommenden Testdaten können dann jeweils in getrennte Register eingelesen werden, so daß sie an Registerausgängen a bis n parallel auslesbar sind.
  • Der Zähler 5 kann gemäß der Figur unter Verwendung eines monostabilen Multivibrators, der beispielsweise entsprechend dem ersten Schreibimpuls in den aktiven Zustand getriggert wird, in seinen Anfangszustand versetzt werden. Der monostabile Multivibrator setzt den Zähler nach einer vorbestimmten Zeitdauer auf Null, wenn die zu einem Zeitpunkt (während eines Aktualisierungsbetriebs) zu übertragenden Datenbytes in das Register geschrieben wurde. Diese Funktion ermöglich eine flexible Änderung der Anzahl zu schreibender Datenbytes, ohne das Erfordernis einer Änderung der Testschnittstelle. Das Schreiben der Datenbytes beginnt immer mit dem ersten Register.
  • Der Zähler 5 kann auch durch andere Verfahren auf Null gesetzt werden. Der Zähler kann eine getrennte Rücksetzschaltung aufweisen zum Nullsetzen des Zählers nach dem Schreiben der maximalen Zahl von Datenbytes. Danach ist die Zahl der zu schreibenden Bytes bei jedem Aktualisierungsbetrieb der Register konstant.
  • Die erfindungsgemäße Lösung kann zum Testen aller Mikroprozessoren eingesetzt werden. Es ist somit für den Fachmann ersichtlich, daß die Erfindung nicht auf das vorgenannte Beispiel beschränkt ist, sondern ihre verschiedenen Ausführungsbeispiele innerhalb des Umfangs der nachstehend angegebenen Patentansprüche frei veränderbar sind.

Claims (3)

1. Verfahren zum Überprüfen der Operation eines Mikroprozessors, umfassend die Schritte:
Aufnehmen von Funktionen zum Durchführen gewünschter Tests in die Software des Mikroprozessors (1);
Aufeinanderfolgendes Schreiben von durch die Tests erzeugten Mikroprozessorzustandsdaten auf einen Datenbus (3) des Mikroprozessors,
dadurch gekennzeichnet, daß
die aufeinanderfolgenden Zustandsdaten von dem Datenbus (3) jeweils in ein getrenntes Register (7a bis 7n) eingelesen werden, und die die Ergebnisse der Tests repräsentierenden Zustandsdaten an Ausgängen (a bis n) der Register (7a bis 7n) parallel bereitgestellt werden, wobei die Register (7a bis 7n) beim Einschreiben der Zustandsdaten durch Adressierschaltungen (4 bis 6) über einen Adressbus (2) des Mikroprozessors (1) adressiert werden, wobei die Adressierschaltungen die Lesefunktionen der Register mit den von den Datenbus (3) kommenden Zustandsdaten synchronisieren.
2. System zum Überprüfen der Operation eines Mikroprozessors, wobei das System mit einem Datenbus (3) des Mikroprozessors (1) verbundene Register (7a bis 7n) umfaßt, in die durch in der Software des Mikroprozessors enthaltene und gewünschte Tests durchführende Funktionen erzeugte Zustandsdaten über den Datenbus (3) beschrieben werden können, dadurch gekennzeichnet, daß das System weiterhin umfaßt Adressierschaltungen (4 bis 6), die mit einem Adreßbus (2) des Mikroprozessors verbunden sind, durch die das Schreiben der Zustandsdaten in die Register (7a bis 7n) und ein paralleles Bereitstellen an Ausgän gen (a bis n) der Register gesteuert wird, und durch die die Lesefunktionen der Register mit den von dem Datenbus (3) kommenden Statusdaten synchronisiert werden.
3. System nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Adressierschaltungen der zu dem System gehörenden Register (7a bis 7n) umfassen eine Adreßdecodierschaltung (4), einen Zähler (5), der durch einen durch diese Schaltung erzeugten Impuls gestartet wird, und eine Umwandlungsschaltung (6) zum Erzeugen eines Schaltungsauswahlimpulses abwechselnd für jedes Register (7a bis 7n), wenn der Zähler fortschreitet.
DE69324929T 1992-12-03 1993-12-02 Mikroprozessoroperationsprüfverfahren und system dafür Expired - Fee Related DE69324929T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI925503A FI92261C (fi) 1992-12-03 1992-12-03 Menetelmä mikroprosessorin toiminnan tarkastamiseksi ja järjestelmä menetelmän toteuttamiseksi
PCT/FI1993/000520 WO1994012933A1 (en) 1992-12-03 1993-12-02 Method of checking the operation of a microprocessor and system for implementing the method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69324929D1 DE69324929D1 (de) 1999-06-17
DE69324929T2 true DE69324929T2 (de) 1999-10-21

Family

ID=8536328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69324929T Expired - Fee Related DE69324929T2 (de) 1992-12-03 1993-12-02 Mikroprozessoroperationsprüfverfahren und system dafür

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP0672279B1 (de)
AU (1) AU5651294A (de)
DE (1) DE69324929T2 (de)
DK (1) DK0672279T3 (de)
FI (1) FI92261C (de)
WO (1) WO1994012933A1 (de)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5968065A (ja) * 1982-10-13 1984-04-17 Fanuc Ltd 診断結果表示方式
US4641308A (en) * 1984-01-03 1987-02-03 Texas Instruments Incorporated Method of internal self-test of microprocessor using microcode
FR2653913B1 (fr) * 1989-10-31 1992-01-03 Sgs Thomson Microelectronics Systeme de test d'un microprocesseur.

Also Published As

Publication number Publication date
FI92261B (fi) 1994-06-30
FI92261C (fi) 1994-10-10
AU5651294A (en) 1994-06-22
DE69324929D1 (de) 1999-06-17
FI925503A0 (fi) 1992-12-03
EP0672279A1 (de) 1995-09-20
WO1994012933A1 (en) 1994-06-09
EP0672279B1 (de) 1999-05-12
DK0672279T3 (da) 1999-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69204364T2 (de) Anordnung zur Bestimmung der Eigenschaften von steckbaren Speichern.
DE69225750T2 (de) Datenverarbeitungssystem mit internem Befehlspufferspeicher
EP1097460B1 (de) Integrierte schaltung mit einer selbsttesteinrichtung zur durchführung eines selbsttests der integrierten schaltung
DE69124170T2 (de) Automatisches Prüfausrüstungssystem, das eine Stiftscheibenarchitektur verwendet
DE2806024C2 (de)
DE69019402T2 (de) Prüfverfahren und -gerät für integrierte Schaltungen.
DE69028190T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Softwareüberwachung und -entwicklung
DE3851247T2 (de) An Ort und Stelle diagnostizierbare elektronische Leiterplatte.
DE1524175C3 (de) Prüfeinrichtung in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen
DE69720158T2 (de) Speicherschaltungen mit eingebautem Selbsttest
DE69502827T2 (de) Elektronischer Schaltungs- oder Kartenprüfer und Verfahren zur Prüfung einer elektronischen Vorrichtung
DE3239221A1 (de) Integrierte vorrichtung und verfahren zum pruefen eines mikroprozessor-systems
DE2400010A1 (de) Mikroprogrammierte verarbeitungsanordnung und mikro-fehlerdiagnoseanordnung fuer ein datenverarbeitungssystem
DE19604251C2 (de) Emulationsvorrichtung für Microcomputer, Verfahren zur Erfassung einer Vielzahl von Statusdaten und Fehlerbeseitigungssystem
DE69414960T2 (de) Halbleiterspeichergerät zur Ausführung einer Speicherprüfung
DE2715029C3 (de) Schaltungsanordnung zur Diagnose oder Prüfung von funktionellen Hardware-Fehlern in einer digitalen EDV-Anlage
DE3382655T2 (de) Signaturanalysator mit eigentakt.
DE3938826C2 (de)
DE3587620T2 (de) Logikanalysator.
DE3855314T2 (de) Dateneingangsschaltung mit Signalspeicherschaltung
DE19960574A1 (de) PCI-Fehlerbehebungsvorrichtung,-Verfahren und -System
DE102004026521A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Speichern
DE69324929T2 (de) Mikroprozessoroperationsprüfverfahren und system dafür
DE3818097C2 (de)
DE2918777C2 (de) Schaltungsanordnung zum Messen der Häufigkeit und Dauer des einen von zumindest einer Leitung eines Digitalrechners angenommenen Binärzustandes

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee