DE69129140T2 - Supraleitende Übergangsstruktur und Verfahren zu deren Herstellung - Google Patents

Supraleitende Übergangsstruktur und Verfahren zu deren Herstellung

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    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/10Junction-based devices
    • H10N60/12Josephson-effect devices
    • H10N60/124Josephson-effect devices comprising high-Tc ceramic materials
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    • H10N60/0912Manufacture or treatment of Josephson-effect devices
    • H10N60/0941Manufacture or treatment of Josephson-effect devices comprising high-Tc ceramic materials

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Description

    Detaillierte Beschreibung der Erfindung (Gebiet der Erfindung)
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine supraleitende Übergangsstruktur. Speziell betrifft die vorliegende Erfindung eine neue supraleitende Übergangsstruktur unter Verwendung eines supraleitenden Oxids.
  • (Verwandter Stand der Technik)
  • Es gibt verschiedene Strukturen für die Realisierung von supraleitenden Übergängen, welche durch den Josephson- Übergang dargestellt werden, und die am meisten bevorzugte Struktur ist der Tunnel-Übergang, der einen dünnen Nichtsupraleiter (welcher keine supraleitende Eigenschaften aufweist), der durch ein Paar von Supraleitern sandwichartig überschichtet wird, umfaßt. Der Josephson-Effekt weist Supraleiterübergänge auf, wie Punktkontakt-Übergänge, Mikrobrücken-Übergänge usw., in denen Paare von Supraleitern schwach verbunden sind, obwohl ihre Eigenschaften verschieden sind. Allgemein haben diese Supraleiterübergänge sehr feine Strukturen, und diese Supraleiter und Nichtsupraleiter werden aus den sogenannten Filmen gebildet.
  • Beispielsweise werden bei der Realisierung eines Tunnel-Übergangs unter Verwendung eines supraleitenden Oxids als Supraleiter ein erster Film eines supraleitenden Oxids, ein Film eines Nichtsupraleiters und ein zweiter Film eines supraleitenden Oxids in der angegebenen Reihenfolge laminiert.
  • Als Nichtsupraleiter werden, abhängig von den Anwendungen, ein Isolator, z.B. MgO oder andere, ein Halbleiter, z.B. Si oder andere, oder ein Metall, z.B. Au oder andere verwendet. Tunnel-Supraleiterübergänge, die solche Strukturen aufweisen, weisen voneinander verschiedene Eigenschaften auf.
  • Die Dicke des Nichtsupraleiters eines Tunnel- Supraleiterübergangs wird durch eine Kohärenzlänge des Supraleiters bestimmt. Die supraleitenden Oxide weisen so kurze Kohärenzlängen auf, daß die Tunnel-Supraleiterübergänge, welche supraleitende Oxide verwenden, die Nichtsupraleiter in einer Dicke von ungefähr einigen Nanometern enthalten müssen.
  • Der Punktkontakt-Supraleiterübergang und der Mikrobrücken-Supraleiterübergang benötigen eine sehr präzise Arbeitsweise, um eine schwache Verbindung zwischen den Paaren des Supraleiters zu realisieren.
  • Andererseits müssen jedoch im Hinblick auf die betrieblichen Eigenschaften der Supraleiterübergänge die betreffenden Schichten Einkristalle sein oder Polykristalle, die Orientierungen aufweisen, welche denen der Einkristalle sehr ähnlich sind.
  • In dem oben beschriebenen Tunnel-Supraleiterübergang müssen ein erster Film eines supraleitenden Oxids, ein Film eines Nichtsupraleiters und ein zweiter Film eines supraleitenden Oxids, die laminiert werden sollen, eine gute Kristallinität aufweisen. Es ist schwierig, einen Film eines supraleitenden Oxids mit guter Kristallinität auf einen Film eines supraleitenden Oxids aufzutragen, und es ist im Hinblick auf die Eigenschaften des supraleitenden Oxids sehr schwierig, einen Film eines supraleitenden Oxids von guter Kristallinität auf dem Film des Nichtsupraleiters zu bilden.
  • Selbst wenn diese laminare Struktur realisiert wurde, konnten die gewünschten guten Eigenschaften wegen der nicht zufriedenstellenden Bedingungen der Grenzfläche zwischen dem supraleitenden Oxid und dem Nichtsupraleiter nicht erhalten werden.
  • Ferner ist die präzise Arbeitsweise für die Realisierung der Punktkontakt-Supraleiterübergänge und der Mikrobrücken-Supraleiterübergänge sehr schwierig und als Resultat ist es schwierig, diese Supraleiterübergänge mit stabilen Eigenschaften mit hoher Reproduzierbarkeit herzustellen.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Es ist das Ziel der Erfindung, eine Supraleiterübergangsstruktur und ein Verfahren zu deren Produktion zur Verfügung zu stellen, welche ein supraleitendes Oxid mit einem neuen Konstitution verwenden, wobei das oben beschriebene konventionelle Problem ergfolgreich gelöst werden kann.
  • Dementsprechend stellt die vorliegende Erfindung eine supraleitende Übergangsstruktur zur Verfügung, umfassend eine zweischichtige Struktur, worin die erste Schicht aus einem Kristall eines supraleitenden Oxids auf einem Substrat gebildet ist und einen nach einer c-Kristallachse orientierten kristallinen Film darstellt; und die zweite Schicht aus einem Kristall eines supraleitenden Oxids auf der ersten Schicht gebildet ist und einen nach einer a-Kristallachse orientierten kristallinen Film darstellt, und eine supraleitende Übergangsregion an der Grenzfläche zwischen der genannten ersten Schicht und der genannten zweiten Schicht gebildet ist.
  • Ferner stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur Produktion einer supraleitenden Übergangsstruktur zur Verfügung, umfassend
  • eine erste Stufe zur Bildung eines Kristalls eines supraleitenden Oxids auf einem Substrat bei einer Temperatur, die erforderlich ist, um eine c-kristallographische Orientierung hiervon herbeizuführen; und
  • ein zweite Stufe zur Züchtung eines Kristalls eines supraleitenden Oxids auf der ersten Schicht, wobei das Substrat auf eine Temperatur eingestellt wird, die niedriger ist als diejenige bei der ersten Stufe, um eine zweite Schicht mit einer a-kristallographischen Orientierung zu bilden, wobei ein supraleitender Zonenübergang an der Grenzfläche zwischen der ersten Schicht und der zweiten Schicht gebildet wird.
  • Die vorliegende Erfindung wird aus der weiter unten angegebenen detaillierten Beschreibung und den beigefügten Zeichnungen, die nur zur Erläuterung angeführt sind und somit nicht als Begrenzung der vorliegenden Erfindung anzusehen sind, besser verstanden werden.
  • Der weitere Umfang der Anwendbarkeit der vorliegenden Erfindung wird aus der nachstehend angeführten detaillierten Beschreibung ersichllich werden. Man sollte jedoch verstehen, daß die detaillierte Beschreibung und die speziellen Beispiele, welche die bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung angeben, nur zur Erläuterung angeführt sind, da verschiedene Änderungen und Modifikationen innerhalb des Schutzumfangs der Erfindung, wie er in den beigefügten Patentansprüchen beansprucht wird, den Fachleuten aus dieser detaillierten Beschreibung offensichtlich werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die Figur 1 ist ein Schnittbild der supraleitenden Übergangsstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • Beschreibung der bevorzugten Ausführungsform
  • Die supraleitende Übergangsstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung umfaßt eine erste Kristallschicht und eine zweite Kristallschicht, welche aus dem gleichen supraleitenden Oxid gebildet sind, die auf ein Substrat aus beispielsweise einem Metalloxid laminiert sind. Die kristallographischen Achsen der ersten und der zweiten Kristallschicht stehen orthogonal zueinander.
  • Die Figur 1 zeigt eine Schnittstruktur einer supraleitenden Übergangsstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung. Die nach der a-Kristallachse orientierte kristalline Schicht 1a des supraleitenden Oxids und das nach der c-Kristallachse orientierte Kristall 1c des supraleitenden
  • Oxids sind auf dem Substrat 4 aus beispielsweise einem Metalloxid laminiert.
  • Die supraleitenden Eigenschaften ändern sich stark an einer Grenzfläche (einer Korngrenze) zwischen dem akristallographisch orientierten supraleitenden Oxidkristall 1a und dem c-kristallographisch orientierten supraleitenden Oxidkristall 1c, und beide supraleitenden Oxidkristalle sind an der Grenzfläche schwach verbunden. Wenn der nach der a- Kristallachse orientierte Film des supraleitenden Oxids auf den nach der c-Kristallachse orientierten Film des supraleitenden Oxids laminiert wird, wächst der nach der a- Kristallachse orientierte Film des supraleitenden Oxids nicht auf dem nach der c-Kristallachse orientierten Film des supraleitenden Oxids, wenn nicht die Herstellungsbedingungen des Films sehr genau eingehalten werden. Es ist daher erforderlich, bei dem Herstellungsverfahren die präzise Kontrolle zu beachten.
  • Die supraleitende Übergangsstrukturgemäß der vorliegenden Erfindung kann mittels Aufsprühen, MBE, Vakuumverdampfung oder Laserstrahlabrieb hergestellt werden. Das heißt, die supraleitende Übergangsstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung wird beispeilsweise mit dem folgenden Verfahren produziert.
  • In dem supraleitenden Übergang der vorliegenden Erfindung wird ein Film 1c eines supraleitenden Oxids auf einem Substrat 4, das auf 560 bis 580ºC erhitzt wird, gebildet. Der bei dieser Substrattemperatur gebildete Film ist ein supraleitender Oxidfilm mit einem nach der a- Kristallachse orientierten Kristall. Dann wird das Substrat 4 auf eine Temperatur von 590 bis 650ºC eingestellt und ein supraleitender Oxidfilm 2a wird gebildet. Der bei dieser Substrattemperatur gebildete Film ist ein supraleitender Oxidfilm mit einem nach der a-Kristallachse orientierten Kristall, und die supraleitende Übergangsstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung ist fertiggestellt.
  • Die einzelnen Schichten der supraleitenden Übergangsstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung werden aus dem gleichen Ausgangsmaterial mit dem im Grunde gleichen Verfahren hergestellt. Die einzelnen Schichten werden kontinuierlich mit dem gleichen Apparat hergestellt, und dementsprechend kommt es nicht vor, daß die Grenzflächen zwischen den einzelnen Schichten während der einzelnen Stufen der Herstellung des supraleitenden Übergangs exponiert werden und folglich die Grenzfläche verschlechtert wird. In der supraleitenden Übergangsstruktur der vorliegenden Erfindung sind die supraleitenden Schichten lediglich in der Kristallisationsrichtung voneinander verschieden, aber sie werden grundsätzlich aus dem gleichep Oxid gebildet. Dementsprechend werden, selbst wenn die Atome ihrer Komponenten in einer der supraleitenden Schichten in die andere Schicht diffundieren, keine nachteilige Einflüsse durch die Diffusion verursacht.
  • In dem supraleitenden Übergang gemäß der vorliegenden Erfindung kann das supraleitende Oxid wahlweise aus verschiedenen Verbindungen ausgewählt werden, aber supraleitende Y-Ba-Cu-O Oxide werden bevorzugt, da sie stabil Filme mit Kristallen von hoher Qualität bilden. Supraleitende Bi-Sr-Ca-Cu-O Oxide werden insbesondere aufgrund ihrer hohen kritischen Supraleitungstemperatur Tc bevorzugt.
  • Vorzugsweise wird der supraleitende Übergang gemäß der vorliegenden Erfindung auf einem Oxidsubstrat, wie MgO, SrTiO&sub3;, YSZ oder dergleichen hergestellt.
  • Die vorliegende Erfindung wird wird nachstehend detaillierter unter Bezugnahme auf Beispiele erklärt werden. die folgende Offenbarung betrifft lediglich Beispiele der vorliegenden Erfindung und begrenzt nicht den technischen Schutzumfang der vorliegenden Erfindung.
  • Beispiel 1
  • Der supraleitende Übergang der Figur 1 gemäß der vorliegenden Erfindung wurde hergestellt. Zuerst wurde ein nach der c-Kristallachse orientierter supraleitender Film von Y&sub1;Ba&sub2;Cu&sub3;O7-x als erste supraleitende Schicht 1c auf der (100)Fläche eines MgO-Substrats mittels Aufsprühen gebildet.
  • Die wichtigsten Bedingungen für die Filmbildung sind folgende.
  • Dann wurde ein nach der a-Kristallachse orientierte Film von Y&sub1;Ba&sub2;Cu&sub3;O7-x 2a als zweite supraleitende Schicht auf der ersten supraleitenden Schicht durch Aufsprühem gebildet. Die wichtigsten Bedingungen für die Filmbildung sind folgende.
  • Der so hergestellte supraleitende Übergang gemäß der vorliegenden Erfindung wurde mit Anschlüssen versehen und seine Eigenschaften wurden gemessen. Der Übergang wurde auf 85 K hinunter gekühlt und eine Frequenz von 15 GHz und eine 0,2 mW Mikrowelle wurden zugeführt. Shapirostufen wurden bei Spannungspunkten von Vielfachen von 31 uV beobachtet und es wurde bestätigt, daß ein Josephson-Übergang realisiert wurde.
  • Beispiel 2
  • Der supraleitende Übergang der Figur 1 gemäß der vorliegenden Erfindung wurde unter Verwendung des supraleitenden Oxids Bi-Sr-Ca-CuO hergestellt. Ein nach der c-Kristallachse orientierter supraleitender Film von Bi&sub2;Sr&sub2;Ca&sub2;Cu&sub3;Ox wurde als erste supraleitende Schicht 1c auf der (100)Fläche eines MgO-Substrats gebildet. Die wichtigsten Bedingungen für die Filmbildung sind folgende.
  • Dann wurde ein nach der a-Kristallachse orientierter Film von Bi&sub2;Sr&sub2;Ca&sub2;Cu&sub3;Ox 2a als zweite supraleitende Schicht auf der ersten supraleitenden Schicht durch Aufsprühem gebildet. Die wichtigsten Bedingungen für die Filmbildung sind folgende.
  • Der so hergestellte supraleitende Übergang gemäß der vorliegenden Erfindung wurden mit Anschlüßen versehen und seine Eigenschaften wurden gemessen. Der Übergang wurde auf 90 K hinunter gekühlt und eine Frequenz von 11 GHz und eine 0,1 W Ausgangsmikrowelle wurde zugeführt. Shapirostufen wurden bei Spannungspunkten von Vielfachen von 22,7 uV beobachtet und es wurde bestätigt, daß ein Josephson-Übergang realisiert wurde.

Claims (5)

1. Supraleitende Übergangsstruktur, umfassend eine zweischichtige Struktur, worin die erste Schicht aus einem Kristall eines supraleitenden Oxids auf einem Substrat gebildet ist und einen nach einer c-Kristallachse orientierten kristallinen Film darstellt; und die zweite Schicht aus einem Kristall eines supraleitenden Oxids auf der ersten Schicht gebildet ist und einen nach einer a-Kristallachse orientierten kristallinen Film darstellt, und eine supraleitende Übergangsregion an der Grenzfläche zwischen der genannten ersten Schicht und der genannten zweiten Schicht gebildet ist.
2. Supraleitende Übergangstruktur gemäß Anspruch 1, worin das Substrat aus einem Metalloxid gebildet ist.
3. Supraleitende Übergangsstruktur gemäß Anspruch 1, worin das supraleitende Oxid aus Y-Ba-Cu-O oder aus Bi-Sr-Ca-Cu-O ausgewählt ist.
4. Verfahren zur Produktion einer supraleitenden Übergangsstruktur, umfassend
eine erste Stufe zur Bildung eines Kristalls eines supraleitenden Oxids auf einem Substrat bei einer Temperatur, die erforderlich ist, um eine c-kristallographische Orientierung hiervon herbeizuführen; und
ein zweite Stufe zur Züchtung eines Kristalls eines supraleitenden Oxids auf der ersten Schicht, wobei das Substrat auf eine Temperatur eingestellt wird, die niedriger ist als diejenige bei der ersten Stufe, um eine zweite Schicht mit einer a-kristallographischen Orientierung zu bilden, wobei ein supraleitender Zonenübergang an der Grenzfläche zwischen der ersten Schicht und der zweiten Schicht gebildet wird.
5. Verfahren gemäß Anspruch 4, worin die Temperatur in der ersten Stufe um 10 bis 90 K höher liegt als diejenige der zweiten Stufe.
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