DE684132C - Mehrfachmessgeraet - Google Patents

Mehrfachmessgeraet

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Publication number
DE684132C
DE684132C DEM137720D DEM0137720D DE684132C DE 684132 C DE684132 C DE 684132C DE M137720 D DEM137720 D DE M137720D DE M0137720 D DEM0137720 D DE M0137720D DE 684132 C DE684132 C DE 684132C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
measuring device
multiple measuring
offset
arrangement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEM137720D
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Ing Albrecht Bernhard
Guido Beyrich
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Metrawatt AG
Original Assignee
Metrawatt AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Metrawatt AG filed Critical Metrawatt AG
Priority to DEM137720D priority Critical patent/DE684132C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE684132C publication Critical patent/DE684132C/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/30Supports specially adapted for an instrument; Supports specially adapted for a set of instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D7/00Indicating measured values
    • G01D7/02Indicating value of two or more variables simultaneously
    • G01D7/04Indicating value of two or more variables simultaneously using a separate indicating element for each variable
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description

  • Mehrfachmeßgerät Für tragbare Mehrfachrneßgeräte sowie für den Einbau von Mehrfachmeßgeräten in Schaltanlagen werden Instrumente benötigt, die bei möglichst kleinen äußeren Abmessungen eine möglichst große skalenlänge besitzen.
  • Die bekannten Mehrfachmeßgeräte mitmehreren selbständigen, in einem gemeinsamen Gehäuse untergebrachten Meßwerken sind in dieser Hinsicht nicht befriedigend. Bei einem bekannten Meßgerät mit vier selbständigen Meßwerken sind diese kreuzweise gegenüberliegend angeordnet, so daß die von den einzelnen Meßwerken beanspruchten sektorförtonigen Grundflächen in Form eines vierzacken Sternes zusammengefügt sind. In der Mitte dieser Anordnung sowie zwischen den Meßwerken verbleiben dabei erhebliche Räume, die unausgenutzt sind. Weiterhin ist bei dieser Anordnung nachteilig, daß die Skalen teils waagerecht, teils senkrecht liegen und die Ablesung dadurch erschwert wird.
  • Auch bei anderen bekannten Mehrfachmeßgeräten) bei denen die von den einzelnen Meßwerken eingenommenen Sektorflächen paarweise gegeneinander um r8o0 versetzt sind, ist der Raum des Gehäuses. schlecht ausgenutzt.
  • Dieser Mangel wird gemäß der Erfindung dadurch vermieden, daß bei einem Mehrfachmeßgerät mit mehreren selbständigen, in einem gemeinsamen Gehäuse untergebrachten Meßwerden, von denen einzelne um 180° gegeneinander versetzt sind, jedes zweite der nebeneinander angeordneten Meßwerke gegen das vorhergehende um 1800 derart versetzt ist, daß sich die Ausschlagbereiche möglichst lückenlos aneinanderfügen.
  • In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand in einigen Ausführungsbeispielen schematisch dargestellt, und zwar zeigen die Abb. 1 bis 3 Mehrfachmeßgeräte mit drei bzw. fünf bzw. sechs Meßsystemen und die Abb. 4 eine Draufsicht auf ein der Abb. 1 entsprechendes Mehrfachmeßgerät.
  • In den schematischen Zeichnungen nach den Abb. 1 bis 3 sind als Ausführungsbeispiel Drehspulmeßgeräte dargestellt> deren Drehachsen bei I liegen und deren Skalen mit 2 bezeichnet sind. Wie die Abb. 1 bis 3 erkennen lassen, ist die Anordnung so getroffen, daß jedes zweite Meßsystem gegenüber dem vorhergehenden um 1800 versetzt liegt, so daß sich die Ausschlagbereiche der einzelnen Systeme möglichst lückenlos aneinanderfügen.
  • Würde man in der bekannten Weise drei Meßgeräte, von denen jedes eine Fläche a, x, b (vgl. hierzu die Abb. 1) beansprucht, nebeneinander anordnen, so würde diese Anordnung eine Gesamtfläche von 3 a, x, b einnehmen.
  • Bei der neuen Anordnung wird hingegen nur eine Gesamtfläche von 2 a, z, b benötigt, die sogar noch weiter vermindert werden kann, wenn an Stelle eines sektorförmigen ein trapezförmiger Querschnitt für die einzelnen Meßsysteme gewählt wird.
  • Bei der Anordnung nach Abb. 2 sind die Meßsysteme nebeneinander, bei der Anordnung nach Abb. 3 in zwei Gruppen zu je drei Systemen übereinander angeordnet.
  • In der Abb. 4, deren Anordnung der Abb. 1 entspricht, sind 3, 4, 5 die durch je ein Skalenfenster sichtbaren Skalen der einzelnen Meßgeräte, vor denen sich die in der Nullstellung gezeigten Zeiger 6, 7, 8 bewegen.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Mehrfachmeßgerät mit mehreren selbständigen, in einem gemeinsamen Gehäuse untergebrachten Meßwerken, von denen einzelne um r80t gegeneinander versetzt sind, dadurch gekennzeichnet, daß jedes zweite der nebeneinander angeordneten Meßwerke gegen das vorhergehende um x800 derart versetzt ist, daß sich die Ausschlagbereiche möglichst lückenlos aneinanderfügen.
DEM137720D 1937-04-07 1937-04-07 Mehrfachmessgeraet Expired DE684132C (de)

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DEM137720D DE684132C (de) 1937-04-07 1937-04-07 Mehrfachmessgeraet

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DEM137720D DE684132C (de) 1937-04-07 1937-04-07 Mehrfachmessgeraet

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DE684132C true DE684132C (de) 1939-11-23

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