DE60312157T2

DE60312157T2 - Techniken zur vorspannung von lasern

Info

Publication number: DE60312157T2
Application number: DE60312157T
Authority: DE
Inventors: John Cupertino HSIEH
Original assignee: Finisar Corp
Current assignee: Finisar Corp
Priority date: 2002-05-22
Filing date: 2003-04-24
Publication date: 2007-11-29
Anticipated expiration: 2023-04-25
Also published as: EP1509977A1; ATE355641T1; AU2003234219A1; MY141492A; WO2003100927A1; US20030219051A1; EP1509977A4; EP1509977B1; DE60312157D1; US6873632B2

Description

GEBIET DER ERFINDUNG
Diese Offenbarung betrifft das Vorspannen von Lasern.
STAND DER TECHNIK
Laser, wie zum Beispiel flächenstrahlende Laser mit senkrechtem Resonator (VCSEL), Fabry-Perot-Laser (FP-Laser) und Laser mit verteilter Rückkopplung (DFB-Laser), können eine breite Palette von Unterschieden in ihrer Leistungsfähigkeit zeigen. Eine optische Baugruppe, wie ein optischer Sender oder ein optischer Transceiver, kann es notwendig machen, den Laser durch Einstellen des Gleichstrom-(DC)-Vorspannungsstroms oder des Wechselstroms (AC) abzustimmen. Die Eigenschaften des Lasers, die sich ändern können, umfassen den Laserschwellwertstrom (I_th), die Steilheitseffizienz, Wellenlänge und das Übertemperaturverhalten. Die Änderungen in diesen Eigenschaften können je nach der gewünschten Reaktion der Baugruppe einen Vorspannimgsstrom erfordern.
US 5 019 769 offenbart einen Laserdiodencontroller, der einen programmierten Mikrocontroller zum genauen Steuern des Einschaltvorgangs und das Auswählen des Betriebspunktes der Laserdiode verwendet. Die Laserdiode hat eine vordere Schlifffläche zum Übertragen von Licht und eine hintere Schlifffläche zum Überwachen der optischen Ausgangsleistung der Laserdiode. Sobald die hintere Schlifffläche der Laserdiode kalibriert ist, kann der Controller die Betriebseigenschaften der Laserdiode genau überwachen und kann den besten Betriebspunktstrom auf der Grundlage der aktuellen Betriebseigenschaften der Laserdiode auswählen. Während der Kalibrierung der Laserdiode kann der Controller die Linea rität der optischen Ausgangsleistung der Laserdiode als Funktion des Antriebsstroms kontrollieren und dadurch Mängel in der Laserdiode feststellen.
US 5 812 572 offenbart intelligente Glasfaser- und Laserdioden-Sender- und Controller-Module und Verfahren zum Betreiben und Herstellen derselben. Während der Kalibrierungsprozeduren für die Module wird eine Laserdiode über einen festgelegten Betriebstemperaturbereich charakterisiert. Charakteristische Daten und/oder Kurven, die die Betriebseigenschaften der Laserdiode über den Bereich von Betriebsbedingungen (Temperatur, Stromversorgung) bestimmen, sind in einem nichtflüchtigen Speicher, wie zum Beispiel EEPROM, gespeichert. Während des Betriebs steuert ein interner Mikrocontroller, zusammen mit Analog-Digital-Konvertern, Digital-Analog-Konvertern und anderen zugehörigen Schaltungen, dynamisch die Betriebsparameter (z.B. Modulation und Vorspannungsstrom) auf der Basis der aktuellen Betriebsbedingungen (Temperatur, Stromversorgung). Die Betriebsbedingungen werden als Register für den nichtflüchtigen Speicher verwendet, der Betriebsdatentabellen sowie vorhergesagte Daten für das Nutzungsende enthält.
US 2001 046243 offenbart eine Vorrichtung und ein Verfahren zur programmierbaren Steuerung der Laserdiodenmodulation, und der Betriebspunkt sorgt für die Steuerung der Laserdioden, die stark abweichende Eigenschaften haben, wie zum Beispiel Laserdioden von einer Reihe von Herstellern. Die maximalen AC-Antriebswerte der Laserdioden, die AC-Reaktion des Eingangskreises und der DC-Betriebspunkt werden über einen programmierbaren Speicher programmiert, der über die Steuerungsschaltungen mit einem Treiberverstärker und einer Vorspannungsschaltung verbunden ist. Die Laserdiodenmodulationssteuerung kann mit einer Laserdiodevorspannungssteuerung in einem einzigen integrierten Schaltkreis kombiniert sein, was eine Einchiplösung für die Hersteller von Laserdioden-Transceivermodulen bereitstellt.
US 2001 046242 offenbart ein Laseransteuerungsverfahren, das zur Steuerung mehrerer Laseremissionsgeräte ausgelegt ist. Ein erster Strom, der jedem der mehreren Laseremissionsgeräte zugeführt werden soll, wird konstant erzeugt. Mehrere zweite Ströme, die gemäß einem Steuersignal von außen gesteuert werden, werden bei Bedarf erzeugt. Die mehreren zweiten Ströme werden den jeweiligen Laseremissionsgeräte unter Zufuhr der jeweiligen ersten Ströme zugeführt, wodurch bewirkt wird, daß die Laseremissionsgeräte die jeweiligen Laserstrahlen emittieren. Die mehreren Laseremissionsgeräte werden veranlaßt, die Laserstrahlen in Zeitteilung zu festgelegten Zeiten zu emittieren, um jede der emittierten Lichtmengen mit einem Lasermonitor festzustellen.
KURZDARSTELLUNG DER ERFINDUNG
Die Erfindung stellt ein Verfahren bereit, wie in Anspruch 1 definiert.
Das Verfahren kann die Merkmale der Unteransprüche 2 bis 6 umfassen.
Die Erfindung stellt auch ein Verfahren bereit, wie es in Anspruch 7 definiert wird.
Das Verfahren kann die Merkmale der Unteransprüche 8 bis 11 umfassen.
In einer Erscheinungsform wird ein Verfahren zum Vorspannen eines Lasers offenbart, der das Bestimmen eines Schwellwertstroms eines Lasers und das Einstellen eines Vorspannungsstroms für den Laser als Faktor des Schwellwertstroms umfaßt.
Eine zweite Erscheinungsform ist ein Verfahren, das durch eine Menge von computerausführbaren Befehlen implementiert wird, die auf einem computerlesbaren Medium gespeichert sind, wenn diese computerausführbaren Befehle von einem Computersystem ausgeführt werden.
Verschiedene Merkmale und Vorteile werden aus der folgenden detaillierten Beschreibung, den begleitenden Zeichnungen und den Ansprüchen ersichtlich.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 ist ein Blockdiagramm eines Systems einschließlich einer optischen Baugruppe.
2 ist eine Illustration einer Laserkennlinie.
3 ist eine Illustration der Vorspannung einer Schar von Laserkennlinien, um eine Zielausgangsleistung zu erreichen.
4 ist Illustration der Vorspannung der Schar von Laserkennlinien von 3, um eine Zielausgangsleistung in einem festgelegten Bereich zu erreichen.
Ähnliche Bezugszeichen in den verschiedenen Zeichnungen geben ähnliche Elemente an.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
1 ist ein Blockdiagramm einer Laserbaugruppe 100, wie zum Beispiel eines optischen Sende-Empfängers (Transceivers) oder Senders. Eine Stromversorgung 102 ist an eine optische Baugruppe 104 angeschlossen. Die optische Baugruppe umfaßt Schaltungen 106 und einen Laser 108. Die Schaltungen 106 können zum Vorspannen, Steuern oder auf andere Weise Bereitstellen eines Stroms für den Laser 108 verwendet werden. Laser 108 kann veranlaßt werden, Laserlicht 110 zu emittieren. Mit einem Photodetektor 112 kann eine Ausgangsleistung des emittierten Lichts 110 gemessen werden.
2 illustriert eine verallgemeinerte L-I-Kurve 200 für eine optische Baugruppe. Eine L-I-Kurve ist ein Verfahren zum Kennzeichnen der Leistung eines Lasers. In einer L-I-Kurve kann die Laserausgangsleistung (L) als Funktion eines elektrischen Stroms (I), der durch die optische Baugruppe geschickt wird, aufgezeichnet werden. Ein Strom 212 durch einen Laser, der durch die L-I-Kurve 200 gekennzeichnet ist, erzeugt zum Beispiel eine Ausgangsleistung 214. Der erste Bereich 202 der Kurve ist im wesentlichen flach. In diesem Bereich führt der elektrische Strom, der dem Laser zugeführt wird, nicht zu einer beträchtlichen Abgabe von Licht aus der optischen Baugruppe.
Wenn sich der Strom durch den Laser erhöht, wird ein Stromschwellwert I_th erreicht, an dem der Laser beginnt, eine beträchtliche Ausgabelichtleistung zu erzeugen. Der Schwellwertstrom kann zwischen Lasern derselben Art und selbst Lasern aus derselben Herstellungscharge stark schwanken.
Bei Strömen, die größer als I_th sind, gibt es einen linearen Bereich 206 der L-I-Kurve, in dem die abgegebene Lichtleistung im wesentlichen proportional zum Strom ist, der auf den Laser angewendet wird. Die Proportionalitätskonstante kann die Steilheitseffizienz (SE) genannt werden. Im linearen Bereich 206 der L-I-Kurve ist die Lasergeschwindigkeit proportional zu ΔI/I_th, wobei ΔI die Stromstärke oberhalb des Schwellwertstroms I_th ist. Wie beim Schwellwertstrom I_th kann die Steilheitseffizienz von Laser zu Laser stark schwanken.
Die L-I-Kurve kippt im Bereich 208, bei Stromwerten oberhalb des linearen Bereichs 206, über. Im Überkippbereich 208 ist die Lichtabgabe zum angewendeten Strom nicht direkt proportional. Der Überkippbereich kann auch durch unerwünschte Lasereigenschaften gekennzeichnet sein, einschließlich Jitter (kleine Schwankungen in der emittierten Lichtwellenform), kürzerer Lebensdauer, instabiler Leistungsabgabe, langsamerer Reaktion und Verzerrung des Augendiagramms (der Ansicht der mehreren Wellenformen, die einander überlagern und zu einem subjektiven Maß für die Abweichungen in der Wellenform, zum Beispiel Jitter, sorgen können).
3 illustriert drei L-I-Kurven 302, 304, 320, die drei Laser, L1, L2 bzw. L3, repräsentieren, welche aus einer Charge von Lasern, die vom Lieferanten erhalten wurden, ausgesucht sein können. Der Betrieb der Laser kann so festgelegt werden, daß eine Laserausgangsleistung in einem gewünschten Bereich von Werten 324 zwischen einem unteren Grenzwert und einem oberen Grenzwert liegt. Es kann eine Ziellaserleistung innerhalb des Ausgabebereichs bestimmt werden. Laser in der Charge werden so vorgespannt, daß sie die Ziellaserleistung erreichen. Da L1, L2 und L3 viele verschiedene L-I-Kurven haben, können die Vorspannungsanforderungen der Laser unterschiedlich sein, mit denen eine ähnliche Ausgangsleistung erreicht wird. In dem illustrierten Beispiel benötigt Laser L1 einen kleineren Strom I₃₁, um dieselbe Laserausgangsleistung wie Laser L2 zu erreichen, der einen Strom I₃₂ benötigt. Bei Laser L3 ist möglicherweise ein Betrieb im Überkippbereich 322 bei einem Strom I₃₃ erforderlich.
4 illustriert ein Verfahren zum Abstimmen des Laservorspannungsstroms. Der Laservorspannungsstrom kann eingestellt werden, nachdem der Laser in der optischen Baugruppe installiert wurde. Es wird angenommen, daß die Laser nicht dieselben Zielausgangsleistungen zu erreichen brauchen.
Statt dessen wird der Vorspannungsstrom jedes Lasers so eingestellt, daß eine Leistung erreicht wird, die innerhalb der Festlegungen für die optische Baugruppe innerhalb eines ΔI, das ausreichend groß für eine angemessene Lasergeschwindigkeit ist, und innerhalb des Überkippbereichs liegen.
In dem Beispiel, das in 4 illustriert wird, wird die Laserleistung so eingestellt, daß die Ausgangsleistung der optischen Baugruppe innerhalb des gewünschten Ausgangsbereichs 324 liegt, nachdem der Laser in der optischen Baugruppe installiert wurde. In diesem Beispiel wird Laser L1 bei einem Strom I₁ vorgespannt, der um ΔI₁ über dem Schwellwertstrom (Ith) liegt. Der Strom ist groß genug für die verbesserte Lasergeschwindigkeit im Vergleich zu 3.
Mit erneutem Bezug auf 4, kann ein Laser, der die L-I-Kurve von L2 hat, bei einem Strom I₂ vorgespannt werden, der um ΔI₂ oberhalb des Schwellwertstroms (I_th2) liegt, um eine Ausgangsleistung bereitzustellen, die innerhalb des gewünschten Ausgabebereichs liegt. Die optische Baugruppe kann so ausgelegt werden, daß sie weniger Strom erhält, als wenn die Vorspannung so eingestellt wäre, daß die Zielausgangsleistung erreicht, die in 3 illustriert wird. Der Vorspannungsstrom I₂ (4) ist geringer als der Vorspannungsstrom I₂ (3), der der Zielausgangsleistung entspricht.
Ein Laser, der die L-I-Kurve von L3 hat, kann bei einem Strom I₃ vorgespannt werden, der um ΔI₃ größer als der L3-Schwellwertstrom (I_th3) ist, um so eine Ausgangsleistung innerhalb des gewünschten Ausgabebereichs bereitzustellen. Der Laser kann die gewünschte Leistung bei einer angemessenen Geschwindigkeit bereitstellen, ohne im Überkippbereich 322 der L-I-Kurve 320 zu arbeiten.
Der Strom ΔI_x kann aus dem Betrag des Schwellwertstroms (I_thx) eines bestimmten Lasers ermittelt werden, der in einer optischen Baugruppe verwendet wird. Die Glasfasersendeleistung kann durch Schlüsselparameter gekennzeichnet werden, einschließlich, ohne darauf beschränkt zu sein, Jitter, Maskengrenze und Leistungsabgabe. Diese Parameter können von einem DC-Vorspannungsstrom beeinflußt werden, der auf den Laser angewendet wird.
Mit einem bevorzugten DC-Vorspannungsstrom kann ein bevorzugter Jitter, Maskengrenzenverhalten und Leistungsanforderung für einen bestimmten Laser ausgewählt werden. Die bevorzugte DC-Vorspannungseinstellung kann bei jedem Lasertyp – flächenstrahlende Laser mit senkrechtem Resonator (VCSEL), Fabry-Perot-Laser (FP-Laser) und Laser mit verteilter Rückkopplung (DFB-Laser) – anders sein und kann sogar innerhalb desselben Lasertyps schwanken. Die DC-Vorspannungseinstellung kann auch für denselben Lasertyp schwanken, der von verschiedenen Lieferanten kommt. Die bevorzugte DC-Vorspannungseinstellung für einen bestimmten Laser kann als Ableitung des Schwellwertstroms (I_th) des bestimmten Lasers ausgewählt werden.
In einer Ausführungsform kann der Strom ΔI auf einen festen Wert oberhalb des Schwellwertstroms (I_th) eingestellt werden. Dies kann mathematisch beschrieben werden als: Iopt = Ith + x (Gl.1)dabei ist I_opt der bevorzugte Vorspannungsstrom und I_th ist der Schwellwertstrom für einen bestimmten Laser. Gleichung 1 beschreibt eine Beziehung, bei der der bevorzugte Vorspannwert ein konstanter Wert oberhalb des Schwellwertstroms des Lasers ist. Der Wert von "x" kann experimentell bestimmt werden und kann im wesentlichen konstant für Laser eines bestimmten Typs vom selben Händler sein.
In einer weiteren Implementierung kann der Strom ΔI auf einen festgelegten Prozentsatz oberhalb des Schwellwertstroms (I_th) eingestellt werden. Zum Beispiel kann festgelegt werden, daß ein VCSEL, der in einem Sende-Empfänger (Transceiver) verwendet wird, einen Strom ΔI haben sollte, der gleich 200 % des Schwellwertstroms (I_th) ist. Ein Laser mit einem Schwellwertstrom (I_th) von 2 mA würde also bis 4 mA in einer Transceiverbaugruppe vorgespannt werden. Ein FP-Laser kann einen Strom ΔI gleich 250 % des obigen Schwellwertstroms (I_th) erfordern. Daher könnte eine FP-Laserbaugruppe mit 5 mA vorgespannt werden. Dies kann mathematisch beschrieben werden als: Iopt = Ith·k (Gl. 2)
Gleichung 2 beschreibt eine Beziehung, bei der der bevorzugte Vorspannungsstrom ein festes Mehrfaches des Schwellwertstroms des Lasers ist. Der Wert von "k" kann experimentell bestimmt werden und kann für Laser eines bestimmten Typs aus derselben Charge im wesentlichen konstant sein.
In einer weiteren Ausführungsform kann der Strom ΔI aus einer Kombination des Schwellwertstroms (I_th) und der Steilheitseffizienz (SE) des Lasers bestimmt werden. Andere Kombinationen des Schwellwertstroms (I_th) und der Steilheitseffizienz (SE) können ebenfalls verwendet werden. Iopt = (Ith·k) + (SE·y) (Gl. 3a) Iopt = (Ith·k)/(SE·y) (Gl. 3b)
Die Gleichungen 3a und 3b beschreiben Beziehungen, bei denen der bevorzugte Vorspannungsstrom in Beziehung zur Steilheitseffizienz (SE) sowie zum I_th steht. Der Wert von "k" und "y" kann experimentell bestimmt werden und kann für Laser eines bestimmten Typs vom selben Händler im wesentlichen konstant sein.
Es können andere Formeln bestimmt werden, die einen bevorzugten DC-Laservorspannungsstrom beschreiben, der sich aus dem Laser-Schwellwertstrom ableitet. Beispielsweise kann der Strom ΔI aus einer Kombination des Schwellwertstroms (I_th), der Steilheitseffizienz (SE) und des Überkippstroms der L-I-Kurve bestimmt werden.
BEISPIEL 1
In einem Beispiel wurde Gl. 1 auf Honeywell 850 Namometer (nm) Implant-VCSELs angewendet, die bei der Herstellung der FTRJ-85XX-7D-XX-Produktfamilie von Transceivern der Finisar Corporation (Sunnyvale, CA, USA) verwendet wurden. Bei diesem Beispiel wurde der Wert von "x" folgendermaßen bestimmt

(1) Eine Gruppe von Transceiver-Stichproben wurde aus einem Fertigungslos ausgewählt. Die Beispiele wurden so gewählt, daß sie das gesamte Fertigungslos repräsentieren.
(2) I_th des Lasers, der in einer ersten Transceiver-Stichprobe verwendet wird, wurde bestimmt.
(3) Ein DC-Vorspannungsstrom 3 mA oberhalb I_th wurde zum Einstellen des Lasers in der ersten Transceiver-Stichprobe verwendet. Wenn zum Beispiel I_th 4 mA war, so betrug der Gesamtstrom, der auf den Laser abgewendet wurde, 7 mA.
(4) Das Extinktionsverhältnis wurde so eingestellt, daß es die Festlegungen für den Transceiver erfüllt.
(5) Jitter, Maskengrenze und Leistung wurden gemessen und aufgezeichnet.
(6) Die Punkte (3) bis (5) wurden unter Verwendung von zunehmend höheren Vorspannungsstromwerten oberhalb I_th wiederholt (z.B. 4 mA, 5 mA, 6 mA usw.), bis eine bevorzugte Laser-Vorspannungsstromeinstellung überschritten war. Ein übermäßiger Vorspannungsstrom wurde als Erhöhung beim Jitter über einen festgelegten annehmbaren Grenzwert hinaus, eine Verringerung der Maskengrenze unter einen festgelegten annehmbaren Wert oder eine Verschiebung der Ausgangsleistung aus dem festgelegten annehmbaren Band heraus bestimmt.
(7) Die Punkte (3) bis (6) wurden mit den übrigen vorher ausgewählten Stichproben aus dem Fertigungslos wiederholt, und eine bevorzugte Stromeinstellung oberhalb von I_th für jede Probe wurde gemessen und aufgezeichnet.
(8) Der Wert von "x" in Gl. 1, der für die Gesamtzahl der Transceiver verwendet werden soll, wurde als Mittelwert der bevorzugten Vorspannungsströme oberhalb I_th für alle Stichproben, die aus dem Los ausgewählt wurden, bestimmt.

Die Daten, die für Honeywell 850 nm Implant-VCSEL gesammelt wurden, werden in Tabelle 1 gezeigt. In dieser Implementierung wurde der Laser-Vorspannungsstrom unter Verwendung von Gl. 1 mit x = 6,5 mA eingestellt.
Tabelle 1
In einer zweiten Implementierung wurde der Laser-Vorspannungsstrom auf 7,5 mA oberhalb I_th für den Mitsubishi 1310 FP-Laser eingestellt, der in den FTRJ-85XX-7D-XX-Transceiverprodukten der Finisar Corporation verwendet wurde.
BEISPIEL 2
In diesem Beispiel kann Gl. 2 zur Bestimmung der Vorspannungsstromwerte für Honeywell 850 nm Oxid-VCSELs angewendet werden.

(1) Eine Gruppe von Transceiver-Stichproben wurde aus einem Fertigungslos ausgewählt. Die Stichproben wurden so gewählt, daß sie die Gesamtzahl repräsentieren.
(2) I_th des Lasers, der in einer ersten Transceiver-Stichprobe verwendet wurde, wurde bestimmt.
(3) I_th wurde mit einem "k"-Wert von 2,0 multipliziert. Das Ergebnis war der Vorspannungsstrom zum Einstellen des Lasers. Wenn I_th zum Beispiel 3 mA war, betrug der Gesamtstrom, der auf den Laser angewendet wurde, 6 mA.
(4) Das Extinktionsverhältnis wurde so eingestellt, daß die technischen Festlegungen erfüllt wurden.
(5) Jitter, Maskengrenze und Leistung wurden gemessen und aufgezeichnet.
(6) Die Punkte (3) bis (5) wurden unter Verwendung von zunehmend höheren "k"-Werten wiederholt (z.B. 1,3, 1,4, 1,5 usw.), bis eine bevorzugte Laser-Vorspannungsstromeinstellung überschritten wurde.
(7) Die Punkte (3) bis (6) wurden mit den übrigen vorher ausgewählten Stichproben aus der Gesamtzahl wieder holt, und der bevorzugte "k"-Wert für jede solche Stichprobe wurde gemessen und aufgezeichnet.
(8) Der Wert von "k" in Gl. 2 wurde als Mittelwert des optimalen "k" aus den Stichproben bestimmt.

Verschiedene Merkmale des Systems können in Hardware, Software oder einer Kombination von Hardware und Software implementiert werden. Einige Erscheinungsformen des Systems können zum Beispiel in Computerprogrammen implementiert werden, die auf programmierbaren Computern ausgeführt werden. Jedes Programm kann in einer höheren oder objektorientierten Programmiersprache implementiert werden, um mit einem Computersystem zu kommunizieren.
Ferner kann jedes Computerprogramm dieser Art auf einem Speichermedium gespeichert werden, wie zum Beispiel einem Nur-Lese-Speicher (ROM), das von einem Universal- oder Spezialcomputer gelesen werden kann, um den Computer zu konfigurieren und zu betreiben, wenn das Speichermedium vom Computer gelesen wird, um die Funktionen auszuführen, die oben beschrieben werden.
Andere Implementierungen liegen innerhalb des Geltungsbereichs der folgenden Ansprüche.

Claims

Verfahren zum Einstellen eines Vorspannungsstroms für Laser, die in Laserbaugruppen (100) verwendet werden, wobei das Verfahren folgendes umfasst: a. Auswählen einer Gruppe von Stichproben von Sende-Empfängern (Transceivern) aus einem Fertigungslos, wobei die ausgewählte Gruppe repräsentativ für das ganze Fertigungslos ist; b. Bestimmen eines Schwellenstroms I_th eines Lasers, der in der ersten Transceiver-Stichprobe verwendet wird; c. Verwenden eines Vorspannungsgleichstroms zum Einrichten des Lasers in der ersten Transceiver-Stichprobe, wobei der Vorspannungsgleichstrom den Schwellenstrom I_th um einen festgelegten Betrag übersteigt; d. Einstellen eines Extinktionsverhältnisses nach Festlegung für die erste Transceiver-Stichprobe; e. Messen und Aufzeichnen eines Jitters, eines Maskenrandes und einer Leistung für die erste Transceiver-Stichprobe; f. Wiederholen von c. bis e. für die erste Transceiver-Stichprobe unter Verwendung von aufeinander folgenden höheren Vorspannungsströmen größer als I_th, bis eine bevorzugte Laser- Vorspannungsstromeinstellung überschritten ist; g. Wiederholen von c. bis f. für jede der restlichen Transceiver-Stichproben der Gruppe und Messen und Aufzeichnen einer bevorzugten Stromeinstellung oberhalb von I_th für jede übrig bleibende Transceiver-Stichprobe; h. Bestimmen eines Wertes „x" als Durchschnitt der bevorzugten Vorspannungsströme oberhalb von I_th für alle Transceiver-Stichproben der Gruppe; und i. Verwenden der folgenden Gleichung (Eq.1) zum Bestimmen des bevorzugten Vorspannungsstroms für jede Transceiver-Stichprobe des gesamten Fertigungsloses: I_opt = I_th + x, wobei I_opt der bevorzugte Vorspannungsstrom ist und I_th der Schwellenstrom für einen bestimmten Laser ist.
Verfahren nach Anspruch 1, das das Installieren des Lasers in einer Laserbaugruppe umfasst.
Verfahren nach Anspruch 1, das das Installieren des Lasers in einem optischen Empfänger oder optischen Transceiver umfasst.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei ein Satz von computerausführbaren Befehlen, die auf einem computerlesbaren Medium gespeichert sind, das Verfahren ausführt, wenn ein Computersystem nach diesen computerausführbaren Befehlen arbeitet.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Laser im Test aus der Gruppe bestehend aus VCSEL-Lasern, Fabry-Perot (FP)-Lasern oder Distributed Feedback (DFB)-Lasern ausgewählt sind.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei ein Laser-Vorspannungsstrom, der den bevorzugten Laser-Vorspannungsstrom übersteigt, durch eines der folgenden bestimmt wird: ein Anstieg des Jitters über einen festgelegten akzeptablen Grenzwert hinaus; eine Verringerung im Maskenrand unter einen festgelegten akzeptablen Grenzwert; oder eine Veränderung der Laserausgangsleistung aus einem festgelegten akzeptablen Bereich heraus.
Verfahren zum Einstellen eines Vorspannungsstroms für Laser, die in Laserbaugruppen (100) verwendet werden, wobei das Verfahren umfasst: a. Auswählen einer Gruppe von Stichproben von Transceivern aus einem Fertigungslos, wobei die ausgewählte Gruppe repräsentativ für das ganze Fertigungslos ist; b. Bestimmen eines Schwellenstroms I_th eines Lasers, der in einer ersten Transceiver-Stichprobe verwendet wird; c. Multiplizieren von I_th mit einem ersten „k"-Wert, um einen Einrichtungs-Vorspannungsstrom für die erste Transceiver-Stichprobe zu erhalten; d. Einstellen eines Extinktionsverhältnisses nach Festlegung für die erste Transceiver-Stichprobe; e. Messen und Aufzeichnen eines Jitters, eines Maskenrandes und einer Leistung für die erste Transceiver-Stichprobe; f. Wiederholen von c. bis e. unter Verwendung von aufeinander folgenden höheren „k"-Werten, bis eine bevorzugte Laser-Vorspannungsstromeinstellung überschritten ist; g. Wiederholen von c. bis f. für jede restliche Transceiver-Stichprobe und Messen und Aufzeichnen des bevorzugten „k"-Wertes für jede Transceiver-Stichprobe; h. Bestimmen eines „k"-Wertes für das gesamte Fertigungslos durch Mitteln der bevorzugten „k"-Werte aller Transceiver-Stichproben der Gruppe; und i. Verwenden der folgenden Gleichung (Eq.2) zum Bestimmen des bevorzugten Vorspannungsstroms für jede Transceiver-Stichprobe des gesamten Fertigungsloses: I_opt = I_th·k, wobei I_opt der bevorzugte Vorspannungsstrom ist, I_th der Schwellenstrom für einen bestimmten Laser ist und k der „k"-Wert für das gesamte Fertigungslos ist.
Verfahren wie in Anspruch 7 angegeben, wobei ein Satz von computerausführbaren Befehlen, die auf einem computerlesbaren Medium gespeichert sind, das Verfahren ausführt, wenn ein Computersystem nach diesen computerausführbaren Befehlen arbeitet.
Verfahren nach Anspruch 7, wobei die Laser im Test aus der Gruppe bestehend aus VCSEL-Lasern, Fabry-Perot (FP)-Lasern oder Distributed Feedback (DFB)-Lasern ausgewählt sind.
Verfahren nach Anspruch 7, wobei der erste „k"-Wert 2,0 ist.
Verfahren nach Anspruch 7, wobei das Verfahren in Verbindung mit einem Fertigungslos von 850 nm-Oxid-VCSEL-Lasern ausgeführt wird.