DE60208376D1 - Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler Speicherkapazität - Google Patents
Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler SpeicherkapazitätInfo
- Publication number
- DE60208376D1 DE60208376D1 DE60208376T DE60208376T DE60208376D1 DE 60208376 D1 DE60208376 D1 DE 60208376D1 DE 60208376 T DE60208376 T DE 60208376T DE 60208376 T DE60208376 T DE 60208376T DE 60208376 D1 DE60208376 D1 DE 60208376D1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- memory device
- storage capacity
- minimum storage
- diagnostic field
- storing errors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/44—Indication or identification of errors, e.g. for repair
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C2029/1208—Error catch memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP20020022312 EP1408512B1 (de) | 2002-10-07 | 2002-10-07 | Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler Speicherkapazität |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE60208376D1 true DE60208376D1 (de) | 2006-02-02 |
DE60208376T2 DE60208376T2 (de) | 2006-08-03 |
Family
ID=32010933
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2002608376 Expired - Lifetime DE60208376T2 (de) | 2002-10-07 | 2002-10-07 | Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler Speicherkapazität |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1408512B1 (de) |
DE (1) | DE60208376T2 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1408516B1 (de) | 2002-10-07 | 2006-06-21 | Infineon Technologies AG | Interface zum Durchbrennen von Schmelzsicherungen für ein Speicherchip |
US10431265B2 (en) * | 2017-03-23 | 2019-10-01 | Silicon Storage Technology, Inc. | Address fault detection in a flash memory system |
CN111863108A (zh) * | 2019-04-29 | 2020-10-30 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种NOR flash存储器中存储单元修复的方法和装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3728521A1 (de) * | 1987-08-26 | 1989-03-09 | Siemens Ag | Anordnung und verfahren zur feststellung und lokalisierung von fehlerhaften schaltkreisen eines speicherbausteins |
US5910921A (en) * | 1997-04-22 | 1999-06-08 | Micron Technology, Inc. | Self-test of a memory device |
US6185709B1 (en) * | 1998-06-30 | 2001-02-06 | International Business Machines Corporation | Device for indicating the fixability of a logic circuit |
DE19917588A1 (de) * | 1999-04-19 | 2000-11-02 | Siemens Ag | Halbleiterspeicheranordnung mit BIST |
JP2002117697A (ja) * | 2000-10-06 | 2002-04-19 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
-
2002
- 2002-10-07 EP EP20020022312 patent/EP1408512B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-07 DE DE2002608376 patent/DE60208376T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1408512A1 (de) | 2004-04-14 |
EP1408512B1 (de) | 2005-12-28 |
DE60208376T2 (de) | 2006-08-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE602004021187D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur erkennung und korrektur von fehlern in einem magnetowiderstands-direktzugriffsspeicher | |
DE19882853T1 (de) | Verfahren und Einrichtungen zum automatischen Korrigieren von in einem Speichersubsystem erfaßten Fehlern | |
DE602005022512D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Datenverwaltung in einem Flash-Speicher | |
DE60111279D1 (de) | Verfahren zum Lagern eines teilchenförmigen wasserabsorbierenden Harzes | |
DE60307214D1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines resistiven 1T1R Speicherzellenfeldes | |
DE602005025323D1 (de) | Verfahren zum Programmieren von Phasenübergangsspeicherzellen mit mehrfachen Speicherniveaus mithilfe eines Perkolationsalgorithmus | |
ATE400846T1 (de) | Verfahren zur speicherung von daten in einem speicher | |
GB2408825B (en) | Memory storage device with a fingerprint sensor and method for protecting the data therein | |
DE50308830D1 (de) | Verfahren zur Ermittlung der entnehmbaren Ladungsmenge einer Speicherbatterie und Überwachungseinrichtung | |
DE60045073D1 (de) | Verfahren zum Speichern und Lesen von Daten eines nichtflüchtigen Multibitspeichers mit einer nichtbinären Anzahl von Bits pro Zelle | |
DE50202015D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum auslesen einer differentialkapazität mit einer ersten und zweiten teilkapazität | |
DE69831790D1 (de) | Verfahren zum Lesen während des Schreibens in einer Datenspeichervorrichtung | |
DE602004010335D1 (de) | Magnetische Speicherzelle und magnetische Speichervorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE60319052D1 (de) | Verfahren zum betreiben eines Rechners mit einer Mehrzahl von Speicherbussen | |
DE60014482D1 (de) | Methode und Vorrichtung zum Austausch von Datenkassetten in einem Datenspeichersystem vom Typ Jukebox | |
DE602004030986D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Entriegeln eines Kopfes in einem Datenspeichergerät | |
ATE275843T1 (de) | Vorrichtung zum aufbewahren und auftragen mit einem zwischenspeicher | |
DE602004025941D1 (de) | Einrichtung und verfahren zum speichern von fehleradressen eines halbleiterspeichers | |
DE60111124D1 (de) | Kollimatorvorrichtung, Röntgeneinrichtung, Testausrüstung, Verfahren zur Prüfung einer Röntgeneinrichtung, Computerprogramm zur Ausführung dieses Verfahrens und Speichermedium lesbar von einem Lesegerät für diesen Computerprogramm | |
DE602004008240D1 (de) | Verfahren zum Verwalten von defekten Speicherblöcken in einem nicht-flüchtigen Speicher und nicht-flüchtiger Speicher zur Ausführung des Verfahrens | |
DE60208376D1 (de) | Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler Speicherkapazität | |
DE602005013595D1 (de) | Vorrichtung zum Setzen von vorbestimmten Referenzpunkten auf eine Wand eines Lagerungstanks mit einem Körner. | |
DE60312117D1 (de) | Verfahren und Struktur zur Detektion von Fehlern in einer Mehrpegelspeichervorrichtung mit verbesserter Programmierpräzision | |
DE69800432T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Durchführung eines Fehlerkorrekturprozesses mit kleiner Speicherkapazität | |
DE602004017115D1 (de) | Inhaltsadressierbare Speicheranordnung zum Auffinden von Daten inwelchen der Manhattan Abstand minimal ist |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition |