DE60203037T2 - Endstück für einen optischen Wellenleiter - Google Patents
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Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG
- Die vorliegende Erfindung betrifft das Bereitstellen eines optischen Kontakts zwischen einem Lichtwellenleiter und einer zu testenden Einheit.
- In der japanischen Patentanmeldung JP-A-57 084 187 wird eine optische Halbleitereinheit beschrieben, bei welcher ein Lichtwellenleiter mit einer Siliconhalbkugel gegen eine lichtempfindliche Halbleiterfläche gedrückt wird.
- In der US-Patentschrift US-A-4 771 609 wird die Ankopplung eines Monomode-Lichtwellenleiters mit einem verjüngten Endstück beschrieben.
- In der US-Patentschrift US-A-5 926 594 wird das Ausrichten von Lichtwellenleiterkabeln auf optische Wellenleiter und das Befestigen n der Lichtwellenleiterkabel an den optischen Wellenleitern mittels eines Klebstoffs beschrieben.
- ÜBERBLICK ÜBER DIE ERFINDUNG
- Eine Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine verbesserte Leitung optischer Signale von einem Lichtwellenleiter mit einem Endstück zur Verfügung zu stellen. Die Aufgabe wird durch den beiliegenden Hauptanspruch gelöst. Weitere bevorzugten Ausführungsarten werden durch die Unteransprüche dargelegt.
- Durch das Bereitstellen einer eindeutigen, beispielsweise Brechungsindexabgestimmten und betriebssicheren Schnittstelle zwischen dem Lichtwellenleiter und der zu testenden Einheit (Device Under Test, DUT) kann z. B. beim Testen und Messen (zum Beispiel von Lichtwellenleitern oder Chipkomponenten-PLCs oder Hybridkomponenten) eine höhere Genauigkeit und eine größere Leistungsfähigkeit erzielt werden.
- Daher ist es von Vorteil, Reflexionen am Verbindungspunkt/Übergang zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT zu verringern bzw. auf einen Minimalwert zu bringen, um die Verbindungsqualität zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT bei größtmöglicher Reproduzierbarkeit und mit möglichst geringer Toleranz zu verbessern bzw. auf einen Maximalwert zu bringen, wobei gleichzeitig die Polarisationsabhängigkeit oder die Störung des Polarisationszustandes zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT verringert oder gleich null ist. Ausführungsarten der vorliegenden Erfindung bieten deshalb diese Vorteile zumindest teilweise und/oder beseitigen die Nachteile der folgenden möglichen Lösungen:
- • Physikalischer Kontakt, d. h. eine extrem genau gefertigte Übergangsstelle zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT sowie äußerst genaue Verschiebungen des Lichtwellenleiters oder der DUT, um zwischen den beiden miteinander verbundenen Flächen einen eindeutigen physikalischen Kontakt herzustellen. Die Nachteile dieser Lösung können in hohen Kosten, geringer Zuverlässigkeit aufgrund mechanischer Toleranzen und möglichen Oberflächenbeschädigungen bestehen.
- • Indexanpassung durch Flüssigkeiten, d. h. zur Anpassung der Brechungsindizes durch Verhinderung von Indexsprüngen wird eine Flüssigkeit zwischen den Lichtwellenleiter und die DUT eingebracht, was zu Reflexionen und Interferenzmustern im optischen Pfad führen kann. Die Nachteile dieser Lösung können in hohen Kosten, geringer Zuverlässigkeit und der Tatsache bestehen, dass bei einer Verunreinigung durch Flüssigkeiten zusätzliche Reinigungsprozeduren erforderlich sind.
- • Sonde ohne angepasste Brechungsindizes, d. h. die Brechungsindizes des Lichtwellenleiters und der DUT-Fläche sind wegen eines Luftspalts zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT nicht aufeinander angepasst, sodass sich der Lichtwellenleiter und die DUT-Fläche in einem Abstand voneinander befinden. Die Nachteile dieser Lösung können darin bestehen, dass es zu einem großen Indexsprung zwischen dem Material des Lichtwellenleiters, der Luft und dem Material der DUT, zu starken Reflexionen, starken Interferenzeffekten und einer instabilen Verbindung zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT kommt.
- Die Erfindung ermöglicht folgende bevorzugte Ausführungsarten:
- • Eine Lichtwellenleiterspitze, die ein elastisches Material umfasst, wird als gekrümmte Fläche aufgebracht, z. B. ein Tropfen auf dem Lichtwellenleiter mit Fokussierungs- oder Defokussierungseigenschaften, der die DUT nicht berührt. Beim Zusammendrücken wirkt dieser Tropfen als Film oder als elastischer Streifen bzw. als elastisches Band zwischen dem Lichtwellenleiter und der DUT.
- • Insbesondere, wenn sich der Brechungsindex des Lichtwellenleitermaterials vom Brechungsindex des DUT-Materials unterscheidet, wird eine Endfläche des Lichtwellenleiters mit einem reflexionsmindernden Material beschichtet, sodass der Brechungsindex der elastischen Lichtwellenleiterspitze an den Brechungsindex der DUT angepasst ist.
- Das auf die Spitze aufgebrachte oder mit ihr verbundene Material selbst kann bezüglich seiner optischen Eigenschaften als reflexionsmindernde Beschichtung wirken.
- Vorzugsweise sollte das elastische Material der Ausführungsarten der vorliegenden Erfindung elastischer als das Material des Lichtwellenleiters der Sonde und/oder der DUT sein. Noch stärker bevorzugt ist, dass das elastische Material mindestens um eine Größenordnung elastischer ist als der Lichtwellenleiter einer Sonde und/oder eine DUT.
- Lichtwellenleiter gemäß den bevorzugten Ausführungsarten der vorliegenden Erfindung können zum Aussenden und/oder Empfangen optischer Signale verwendet werden.
- Die Spitzen gemäß den bevorzugten Ausführungsarten der vorliegenden Erfindung sind als das Ende eines Lichtwellenleiters einer Sonde und/oder einer DUT definiert.
- Bevorzugte Verfahren der vorliegenden Erfindung können durch ein oder mehrere geeignete Softwareprogramme realisiert oder unterstützt werden, die durch einen beliebigen Datenträger gespeichert oder anderweitig bereitgestellt und in bzw. durch eine geeignete Datenverarbeitungseinheit ausgeführt werden können.
- Zur Ausführung des Verfahrens der Erfindung werden vorzugsweise Softwareprogramme oder -routinen eingesetzt.
- KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Weitere Aufgaben und viele der mit der vorliegenden Erfindung verbundenen Vorteile werden aus der folgenden detaillierten Beschreibung in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen problemlos verständlich. Die Komponenten in den Zeichnungen sind nicht unbedingt maßstabsgerecht dargestellt, vielmehr wurde Wert darauf gelegt, die Prinzipien der vorliegenden Erfindung deutlich zu veranschaulichen. Merkmale, die im Wesentlichen oder funktionsmäßig gleich oder ähnlich sind, werden durch dieselben Bezugsnummern bezeichnet.
- Die
1 bis9 zeigen schematische Darstellungen von Ausführungsarten der vorliegenden Erfindung. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSARTEN DER ERFINDUNG
-
1 zeigt genauer ein Vergleichsbeispiel100 der vorliegenden Erfindung. Das Vergleichsbeispiel100 umfasst einen Lichtwellenleiter102 zum Leiten eines optischen Signals. Der Lichtwellenleiter102 ist in einen Mantel104 eingebettet und bildet so eine optische Sonde106 . Der Lichtwellenleiter102 weist ein Ende108 auf, dass durch eine dünne Siliconschicht110 bedeckt ist, welche nicht nur das Ende108 , sondern auch die Frontfläche112 des Mantels104 bedeckt. Das Silicon110 stellt ein transparentes elastisches Material dar und bildet eine Spitze des Lichtwellenleiters102 . Das Silicon110 weist im Wesentlichen dieselben optischen Eigenschaften, z. B. Brechungsindex und Ausbreitungseigenschaften, auf wie der Lichtwellenleiter102 . Dadurch wirkt das auf die Frontfläche108 ,112 der Sonde106 aufgebrachte Silicon110 durch seine optischen Eigenschaften auf die Frontfläche108 ,112 der Sonde106 wie eine reflexionsmindernde Schicht. - Entsprechend
2 kann die optische Sonde106 zum Herstellen eines optischen Kontakts zum Leiten eines optischen Signals zwischen dem Lichtwellenleiter102 und einem optischen Pfad114 in einer DUT116 verwendet werden. Zur Herstellung dieses optischen Kontakts wird die Spitze110 gegen eine Frontfläche118 der DUT116 gedrückt, damit es zu einem mechanischen Kontakt zwischen der Oberfläche120 der Spitze110 und der Frontfläche118 kommt. Da die Spitze110 im Wesentlichen aus transparentem und elastischen Silicon besteht, wird ohne Beschädigung der Oberfläche118 ein enger mechanischer Kontakt zur DUT116 hergestellt. Dadurch wird verhindert, dass zwischen der Sonde106 und der DUT116 ein Luftspalt entsteht. Das führt dazu, dass ein optisches Signal auf dem Weg von dem Lichtwellenleiter102 durch die Spitze110 und weiter entlang des optischen Pfades114 keinen Brechzahlsprung erleidet. Der Brechungsindex ändert sich entlang des oben erwähnten Pfades vielmehr allmählich. - Wenn sich die Brechungsindizes des optischen Pfades
114 und dem Lichtwellenleiter102 stark voneinander unterscheiden, kann die Frontfläche108 ,112 der Sonde106 vor dem Aufbringen des Silicons110 auf die Frontfläche108 ,112 eine reflexionsmindernde Schicht erhalten. Außerdem kann die Spitze110 mit einem Brechungsindex versehen werden, der an den Brechungsindex des optischen Pfades114 der DUT116 angepasst ist. - Auf die Sonde
106 gemäß Beispiel100 wird durch Tauchen der Frontfläche108 ,112 in eine kleine Menge niedrigviskosen Silicons die Spitze110 aufgebracht. Dadurch entsteht eine flache Beschichtung der Frontfläche108 ,112 mit Silicon110 . - Das elastische Material der Spitze gemäß der vorliegenden Erfindung wird durch Tauchen der Frontfläche
108 ,112 in eine große Menge hochviskosen Silicons auf die Frontfläche108 ,112 aufgebracht. Durch diesen Fertigungsprozess entsteht eine Spitze202 der Ausführungsart200 von3 . Die Spitze202 hat die Form einer Linse. Dadurch kann die Spitze202 zum Ausrichten der Längsrichtung des Lichtwellenleiters102 auf die Längsrichtung des optischen Pfades114 der DUT116 verwendet werden. Die Ausführungsart200 kann in einer Anordnung verwendet werden, die einen (nicht dargestellten) Sensor zum Erkennen einer deutlichen Ausrichtung zwischen Lichtwellenleiter102 und optischem Pfad114 enthält sowie eine (nicht dargestellte) Verschiebungseinheit zum seitlichen Verschieben des Lichtwellenleiters102 bezüglich einer Längsrichtung des Lichtwellenleiters102 und der DUT116 , bis der Detektor im Wesentlichen die Ausrichtung erkennt. Das ist dadurch möglich, dass das Licht204 entsprechend der schematischen Darstellung des Lichtpfades203 so lange auf einen Brennpunkt206 auf der Fläche116 fokussiert werden kann, bis dieser auf den optischen Pfad114 der DUT116 trifft, und somit ein mit dem optischen Pfad114 verbundener Detektor das Licht204 empfangen kann. - Dann kann gemäß
4 eine (nicht dargestellte) zweite Verschiebungseinheit den Abstand208 zwischen der Spitze202 und der DUT116 so lange verringern, bis die Spitze202 die DUT116 berührt. Während der Längsverschiebung der Sonde106 in Richtung der DUT116 kann der (nicht dargestellte) Detektor ständig sie seitliche Position des Lichtwellenleiters102 kontrollieren und Gegenreaktionen einleiten, wenn die Ausrichtung des Lichtwellenleiters102 auf den optischen Pfad114 verloren geht. Durch die Verringerung des Abstands208 verformt sich die Spitze202 elastisch, sodass die ursprünglich linsenförmige Oberfläche210 der Spitze202 gemäß4 die Form einer ebenen Schicht annimmt, sodass die Defokussierungs- und Fokussierungseigenschaften der Spitze202 verloren gehen. Dadurch kann die Spitze202 die Anpassung der Brechungsindizes zwischen der Sonde106 und der DUT116 bewirken. - Die
5 und9 zeigen weitere Ausführungsarten300 und700 der vorliegenden Erfindung. Die6 bis8 zeigen Vergleichsbeispiele. Die Ausführungsarten300 und700 zeigen bevorzugte Spitzenformen und bevorzugte Fertigungsverfahren zur Herstellung der Sonde106 . - Gemäß Ausführungsart
300 von5 enthält die Sonde106 eine tropfenförmige Spitze302 . Die Spitze302 befindet sich an der Frontfläche108 des Lichtwellenleiters102 . Die Spitze302 wird durch Aufbringen von Silicon auf die Frontfläche108 der Sonde106 hergestellt. - Gemäß einer Ausführungsart
700 von9 kann eine Spitze702 hergestellt werden, deren Form der Spitze110 der Ausführungsart100 von1 ähnlich ist, indem mittels eines Werkzeugs701 Silicon durch eine Einspritzöffnung704 und einen Einspritzkanal705 eingespritzt wird. Nach dem Aushärten des Silicons kann das Werkzeug701 wieder entfernt werden.
Claims (1)
- Verfahren zum Bereitstellen eines optischen Kontaktes, der zum Leiten eines optischen Signals zwischen einem Lichtwellenleiter (
102 ) und einer zu testenden Einheit (116 ) geeignet ist, wobei der Lichtwellenleiter (102 ) an einem seiner Enden (108 ) eine Spitze (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ) umfasst und die Spitze ein das Ende (108 ) bedeckendes lichtdurchlässiges elastisches Material (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ) umfasst, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: Erkennen einer deutlichen Ausrichtung zwischen dem Lichtwellenleiter (102 ) und einem optischen Pfad (114 ) in der zu testenden Einheit (116 ) durch Fokussieren des Lichts (204 ), welches die Spitze verlässt, auf eine Oberfläche (118 ) der zu testenden Einheit (106 ) und indem der Lichtwellenleiter (102 ), bezüglich einer Längsrichtung des Lichtwellenleiters (102 ) und der zu testenden Einheit (116 ) so lange seitlich verschoben wird, bis der Brennpunkt (206 ) auf den optischen Pfad (114 ) trifft, und Verringern des Abstands (208 ) zwischen der Spitze (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ) und der zu testenden Einheit (116 ) so lange, bis die Spitze (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ) die zu testende Einheit (116 ) körperlich berührt und das Licht über eine Fläche (118 ) der zu testenden Einheit (116 ) aus der Spitze austritt und die Fokussierungs- oder Defokussierungseigenschaften der Spitze (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ) im Wesentlichen verschwunden sind. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem die Spitze (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ) mindestens eines der folgenden Merkmale umfasst: ein elastisches Material (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ), welches elastischer ist als ein Material des Wellenleiters (102 ); ein elastisches Material (110 ,202 ,302 ,420 ,502 ,602 ,702 ), welches um mindestens eine Größenordnung elastischer ist als ein Material des Lichtwellenleiters (102 ); mindestens eines der folgenden Materialien (110 ,202 ,302 ,402 ,502 ,602 ,702 ): Silicon, Polyamid; ein Material (110 ,202 ,302 ,420 ,502 ,602 ,702 ), welches bezüglich des Signals reflexionsmindernde Eigenschaften aufweist; ein Material (110 ,202 ,302 ,420 ,502 ,602 ,702 ), welches einen ähnlichen Brechungsindex wie der Lichtwellenleiter (102 ) aufweist. Verfahren nach Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, in welchem die Spitze (110 ,202 ,302 ,420 ,502 ,602 ,702 ) Folgendes umfasst: ein Material (110 ,202 ,302 ,420 ,502 ,602 ,702 ), welches einen Brechungsindex aufweist, der zumindest im Wesentlichen gegenüber einer Deformation des Materials (110 ,202 ,302 ,420 ,502 ,602 ,702 ) in der Längsrichtung des Lichtwellenleiters (102 ) unempfindlich ist.
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