DE602006009343D1 - Verfahren zum Testen eines elektronischen Schaltkreises, das einen mittels Verwendung einer Signatur gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriger elektronischer Schaltkreis - Google Patents
Verfahren zum Testen eines elektronischen Schaltkreises, das einen mittels Verwendung einer Signatur gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriger elektronischer SchaltkreisInfo
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0507282 | 2005-07-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE602006009343D1 true DE602006009343D1 (de) | 2009-11-05 |
Family
ID=36127452
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200660009343 Active DE602006009343D1 (de) | 2005-07-08 | 2006-07-07 | Verfahren zum Testen eines elektronischen Schaltkreises, das einen mittels Verwendung einer Signatur gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriger elektronischer Schaltkreis |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1742075B1 (de) |
DE (1) | DE602006009343D1 (de) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5357572A (en) * | 1992-09-22 | 1994-10-18 | Hughes Aircraft Company | Apparatus and method for sensitive circuit protection with set-scan testing |
US7672452B2 (en) * | 2002-05-03 | 2010-03-02 | General Instrument Corporation | Secure scan |
US7228474B2 (en) | 2003-01-07 | 2007-06-05 | Sun Microsystems, Inc. | Semiconductor device and method and apparatus for testing such a device |
EP1439398A1 (de) * | 2003-01-16 | 2004-07-21 | STMicroelectronics Limited | Scan Test Anordnung |
EP1443338A1 (de) | 2003-02-03 | 2004-08-04 | STMicroelectronics Limited | Gesicherte Testanordnung |
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2006
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- 2006-07-07 DE DE200660009343 patent/DE602006009343D1/de active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
EP1742075B1 (de) | 2009-09-23 |
EP1742075A1 (de) | 2007-01-10 |
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