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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Aufzeichnungsmedium,
wie z.B. eine optische Scheibe und ein Verfahren zum Herstellen
des optischen Aufzeichnungsmediums. Genauer gesagt betrifft die
vorliegende Erfindung eine einmal beschreibbare optische Scheibe,
auf welcher Daten aufgezeichnet werden können unter Verwendung eines
organischen Farbstoffes oder dergleichen.
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Compact
Discs (CD) haben gemeinhin Verwendung gefunden und optische Scheiben
haben bereits eine Position als bedeutendes Aufzeichnungsmedium
gewonnen. Zusätzlich
zu einer CD von einem Typ, der nur lesbar ist, ist die Verwendung gemeinhin
einer CD-R als eine Scheibe vom Typ, der einmal beschreibbar ist,
auf welchem Information aufgezeichnet wird, merklich. In den letzten
Jahren wird Forschung und Entwicklung auf hochdichte optische Scheiben
intensiv durchgeführt
und eine DVD von höherer
Dichte im Vergleich zu einer CD wird vorgeschlagen und praktisch
verwendet. Unter den Standards der DVD erwartet man eine DVD-R,
welche ein einmal beschreibbarer Typus einer optischen Scheibe ist
als ein Medium, welches relativ billig ist und auf welchem Information
geschrieben werden kann. Darüber
hinaus wird die Entwicklung von optischen Scheiben höherer Dichte
zum Aufzeichnen von Signalen mit weiter erhöhter Dichte für hoch auflösendes Fernsehen
in der Zukunft oder für ähnliche Anwendungen,
welche eine größere Kapazität benötigen, anvisiert.
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Herkömmlicherweise
verwendet die optische Scheibe vom Typus, der einmal beschreibbar
ist, typifiziert durch CD-R, in erster Linie ein Aufzeichnungsmaterial,
welches einen organischen Farbstoff einschließt, als primäre Komponente.
In dem Fall von DVD-R wird substantiell das gleiche Aufzeichnungsmaterial
verwendet.
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Im
folgenden wird eine konventionelle Konfiguration einer Scheibe vom
einmal beschreibbaren Typus beschrieben werden unter Verwendung
eines Beispiels einer DVD-R.
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2 ist
illustriert eine Querschnittskonfiguration einer konventionellen
DVD-R-Scheibe. Die
gezeigte DVD-R-Scheibe weist eine Konfiguration auf, in welcher
eine erste Basisplatte 201 und eine zweite Basisplatte 204 zusammengebunden
sind mit Hilfe einer Klebeschicht 205. In der ersten Basisplatte 201 wird
eine Führungsspurrille 201a ausgebildet,
in einer ersten Oberfläche 201c und
eine zweite Oberfläche 201d stellt
eine Spiegelgrenzfläche
dar. 2 illustriert eine Vielzahl von Querschnitten
in einer einzelnen spiralen Form der Rille 201a. Die erste
Basisplatte 201 wird ausgebildet durch Spritzgussverfahren.
Die Form der ersten Oberfläche 201c wird
von einem Stanzgerät übertragen.
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Auf
der ersten Oberfläche 201c der
ersten Basisplatte 201 wird eine Aufzeichnungsschicht 202, welche
einen organischen Farbstoff enthält
und eine Reflexionsschicht 203 gestapelt. Die Aufzeichnungsschicht 202 wird
aufgebracht durch Spin Coaten und die Reflexionsschrift 203 wird
abgeschieden auf der Aufzeichnungsschicht 202 durch ein
Verfahren, wie z.B. Sputtern. Das Innere der Rille 201a der
ersten Basisplatte 201 wird gefüllt mit der aufgebrachten Aufzeichnungsschicht 202,
so dass eine Oberfläche der
Aufzeichnungsschicht 202 substantiell flach ist unabhängig von
der Unebenheit der ersten Oberfläche 201c der
darunter liegenden Aufzeichnungssicht 202. Dementsprechend
ist eine Oberfläche
der Reflexionsschicht 203, abgeschieden auf der Aufzeichnungsschicht 202 substantiell
flach.
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Die
zweite Basisplatte 204 wird ausgebildet durch Spritzgussverfahren, ähnlich wie
bei der ersten Basisplatte 201. Die zweite Basisplatte 204 wird über eine
Klebeschicht 205 angebunden an die erste Basisplatte 201,
in welcher die Aufzeichnungsschicht 203 und die Reflexionsschicht 203 gestapelt
werden.
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Schreibe-/Lese-Strahlen
oder -Licht wird durch ein Objektiv 206 auf einem optischen
Kopf konvergiert und auf die optische Scheibe eingestrahlt von der
Seite der zweiten Oberfläche 201d der
ersten Basisplatte 201. Genauer gesagt, wird die Rille 201a bestrahlt
mit der Schreibe-/Lese-Strahlung, welche durch die erste Basisplatte 201 übertragen
wird.
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Als
nächstes
wird unter Verweis auf 3 ein weiteres Beispiel einer
optischen Scheibe beschrieben werden.
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Die
optische Scheibe von 3 schließt eine Aufzeichnungsschicht
vom Typ organischer Farbstoff 302 ein, welche ausgebildet
ist durch Abscheiden anstelle von Spin Coaten. In der optischen
Scheibe weist, da die Aufzeichnungsschicht 302 abgeschieden
wird, eine Oberfläche
der Aufzeichnungsschicht 302 eine Form auf, welche eine
Form reflektiert einer Rille oder einer Vertiefung (eines Pits),
ausgebildet auf einer ersten Oberfläche 301c der ersten
Basisplatte 301. Die Form wird in einer Grenzfläche einer Reflexionsschicht 303 reflektiert.
Auf die optische Scheibe wird Schreib-/Lese-Strahlung angewandt von
der Seite einer zweiten Oberfläche 301d der
ersten Basisplatte 301.
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In
beiden der oben beschriebenen optischen Scheibe wird Spurkontrolle
so durchgeführt,
dass die Schreib-/Lese-Strahlung die Rille nachfährt. Üblicherweise wird der Nachweis
der Spurabweichung durchgeführt
durch ein Gegentakt (Push-Pull)-Verfahren. In dem Gegentakt-Verfahren
wird die reflektierte Strahlung von einer Scheibe konvergiert auf zwei
Detektoren, unterteilt entlang einer Linie, welche parallel zu einer
Rillenrichtung ist und ein Unterschied in den Intensitäten der
Strahlung, nachgewiesen durch die rechten und linken Detektoren
wird als ein Spursignal nachgewiesen. Aufgrund der Phasendifferenz
zwischen der reflektierten Strahlung von einer Rille und der reflektierten
Strahlung von einer Fläche
zwischen den Rillen ist das Signal 0, wenn ein konvergierter Strahlungslicht-Spot
der Schreib-/Lese-Strahlung in einer zentralen Position der Rille
oder der dazwischenliegenden Fläche
ist. Wenn der konvergierte Strahlungslicht-Spot zwischen dem Zentrum
der Rillen und dem Zentrum der dazwischenliegenden Fläche positioniert
ist, ist das Signal ein positiver Wert oder ein negativer Wert.
Wenn eine Wellenlänge
der Schreib-/Lese-Strahlung λ ist
und k gleich 0 oder eine natürliche
Zahl ist, ist eine Amplitude des Spursignals das Maximum in einem
Fall, wo ein absoluter Wert (Einheit: Bogenmaß, rad) einer Phasendifferenz
zwischen der reflektierten Strahlung von einer Rille und einer dazwischenliegenden
Fläche
gleich π(2k
+ 1)/λ ist.
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In
der konventionellen optischen Scheibe, gezeigt in 2 wird
die Aufzeichnungsschicht 202 ausgebildet durch Spin Coaten,
so dass es einen Vorteil dahingehend gibt, dass der Zeitraum, benötigt für den Schritt
zum Ausbilden der Aufzeichnungsschicht 202 verkürzt werden
kann. Da jedoch die Oberfläche
der Reflexionsschicht 203 so ausgebildet wird, dass sie
substantiell eben ist, treten die folgenden Nachteile auf. Das heißt, eine
Phasendifferenz δ von
reflektierter Strahlung durch einen Rillenabschnitt und einer reflektierten
Strahlung durch einen dazwischenliegenden Flächenabschnitt wird durch eine
Gleichung repräsentiert
von δ =
4π × ((n1 – n2) × d1 + n2 × d2)/λ, wobei ein
Diffraktionsindex der ersten Basisplatte 201 gleich n1
ist, ein Diffraktionsindex der Aufzeichnungsschicht 202 =
n2 ist, eine Tiefe einer Rille gleich d1 ist und ein Oberflächenschritt
der Aufzeichnungsschicht 202 zwischen einem Rillenabschnitt
und einem Nicht-Rillenabschnitt d2 ist.
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Wenn
d2 klein ist, und ein Unterschied zwischen dem Diffraktionsindex
n1 der ersten Basisplatte 201 in dem Diffraktionsindex
n2 der Aufzeichnungsschicht 202 klein ist, wird es, um
eine hinreichende Amplitude des Spursignals zu erhalten, notwendig,
die Rillentiefe d1 zum Erzeugen einer Phasendifferenz zu erhöhen. Als
ein Ergebnis wird für den
Zweck des Transferrierens einer tiefen Rille oder eines tiefen Pits
der Zeitraum verlängert,
da eine Temperatur von Harz und Guss hoch gesetzt wird, wenn die
Basisplatte durch Spritzgussverfahren ausgebildet wird. Darüber hinaus
ist es schwierig, für eine
gegossene Basisplatte von dem Stanzgerät freigesetzt zu werden und
eine Gußfreisetzungs-Nichtuniformität und eine
Fehlstelle können
leicht auftreten. Daher ist es schwierig, die Produktivität zu verbessern.
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In
dem Fall der optischen Scheibe von 3 wird die
Aufzeichnungsschicht 302 ausgebildet durch Abscheiden,
so dass die Reflexionsschicht 303 ausgebildet wird in Übereinstimmung
mit der Form der Rille der Basisplatte 301. Als ein Ergebnis
wird die Phasendifferenz δ repräsentiert
durch eine Gleichung δ =
4π × n1 × d1/λ. Folglich
kann eine hinreichende Phasendifferenz erzielt werden und eine gute Spursignalamplitude
kann erhalten werden, ohne die Rillentiefe d1 zu erhöhen.
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Jedoch
ist die Ausbildung eines Films durch Abscheiden eines Aufzeichnungsmaterials,
enthaltend einen organischen Farbstoff langsam und es ist schwierig,
die Produktivität
zu verbessern.
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Darüber hinaus
ist es für
die beiden optischen Scheiben, da die Schreib-/Lese-Strahlung durch
die Basisplatte angewandt wird, in welche Rillen oder Pits ausgebildet
werden, bedeutsam die Basisplatten 201 und 301,
in welchen Rillen oder Pits ausgebildet werden, mit hoher Präzision und
guter Reproduzierbarkeit zu erzeugen.
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Die
Dicke der entsprechenden Basisplatten 201 und 301 betrifft
die Aufzeichnungsdichte. Im allgemeinen ist es zur Verbesserung
der Aufzeichnungsdichte einer optischen Scheibe notwendig, einen
Strahlspot-Durchmesser eines Laserstrahls, verwendet zum Schreiben/Lesen
zu reduzieren. Aus diesem Grund ist es notwendig, die Wellenlänge der Laserbestrahlung
zu verkürzen
und ein optisches System einzusetzen, mit einem hohen NA (numerischer
Aperture)-Wert. Jedoch wird, wenn der NA-Wert groß ist, eine
Aberration aufgrund des Tilts (der Neigung) der Scheibe verstärkt und
das Reproduktionssignal wird verschlechtert. Um eine solche Aberration
zu vermindern, ist es bevorzugt, dass die Dicke der entsprechenden
Basisplatten 201 und 301 reduziert wird. Da jedoch
die Basisplatten 201 und 301 durch Spritzgussverfahren
ausgebildet werden, ist es schwierig, präzise die Form von Rillen und
Pits auszubilden, und gleichzeitig die Dicke davon zu reduzieren.
Folglich ist es in den optischen Scheiben von 2 und 3 schwierig,
weiter die Aufzeichnungsdichte zu verbessern.
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EP 0 874 362 A2 offenbart
ein Aufzeichnungsmedium für
eine optische Scheibe, welches eine Basisplatte umfasst mit einer
Oberfläche
mit Führungsrillen,
eine Reflexionsfilmschicht, angeordnet oberhalb der Oberfläche der
Basisplatte, eine Phasenveränderungs-Aufzeichnungsschicht
einer einheitlichen Dicke, welche ausgebildet wird auf einer Führungsrille
sowie eine Lichtübertragungsschicht
mit einer variablen Dicke, welche die Aufzeichnungsschicht bedeckt.
Die Basisplatte wird typischerweise hergestellt als ein gestanztes
Substrat, der Reflexionsfilm durch Sputtern, die Aufzeichnungsschicht
durch Abscheiden und die Lichttransmissionsschicht durch Spin Coaten.
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US 4,359,750 offenbart eine
optische Scheibe mit einer thermisch deformierbaren Aufzeichnungsschicht,
welche eine reflektive Oberfläche
einer Basisplatte, welche Führungsrillen
aufweist, überlagert.
Die obere Aufzeichnungsschicht-Oberfläche ist substantiell planar
und ihre Dicke variiert in erster Linie im Vergleich zum Rillen-
und dazwischen liegenden Flächenmuster
der Basisplatte der Scheibe. Durch ein geeignetes Design der Rillentiefe
und der Aufzeichnungsschichtdicke im Vergleich zu einer ausgewählten Leselichtwellenlänge ist
die Phasenrelation des reflektierten Lichts so, dass die Pit-Abschnitte
der Aufzeichnungsschicht keine Probleme beim Detektieren der Spuren
verursachen, d.h. das dazwischen liegende Rillenflächenmuster
stellt stabile Spurführung
zum Aufzeichnen und Lesen zur Verfügung.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Die
Erfindung stellt eine optische Scheibe zur Verfügung, in welcher ein hinreichend
gutes Signal erhalten werden kann, selbst wenn die Tiefe einer Rille
zur Spurführung
vermindert wird, und welche geeignet ist, zum Verbessern der Aufzeichnungsdichte,
sowie ein Verfahren zum Herstellen der optischen Scheibe. Diese
Aufgaben werden gelöst
durch die Merkmale von Anspruch 1, Anspruch 18 und Anspruch 23.
Bevorzugte Ausführungsformen
werden in den Unteransprüchen
adressiert.
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KURZE BESCHREIBUNG
VERSCHIEDENER ANSICHTEN DER ZEICHNUNGEN
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Die
oben dargelegte Zusammenfassung, wie auch die folgende detaillierte
Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung
werden besser verstanden werden, wenn sie im Zusammenhang mit den
beigefügten
Zeichnungen gelesen werden. Zum Zwecke der Illustrierung der Erfindung
wird in den Zeichnungen eine Ausführungsform gezeigt, welche
derzeit bevorzugt ist. Es sollte sich jedoch verstehen, dass die
Erfindung nicht auf die präzisen Anordnungen
und instrumenteller Details, wie dargestellt sind, limitiert ist.
In den Zeichnungen ist folgendes dargestellt:
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1A ist
eine Querschnittsansicht, welche eine erste Ausführungsform einer optischen
Scheibe illustriert entsprechend der vorliegenden Erfindung;
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1B ist
eine vergrößerte Ansicht,
welche eine Spurführungsrille
der optischen Scheibe der optischen Scheibe entsprechend der ersten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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2 ist
eine Querschnittsansicht, welche eine Konfiguration einer konventionellen
optischen Scheibe zeigt;
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3 ist
eine Querschnittsansicht, welche eine Konfiguration einer weiteren
konventionellen optischen Scheibe zeigt;
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4 ist
ein Flussdiagramm, welches die Schritte (a) bis (i) einschließt, welche
die Herstellungsschritte der optischen Scheibe entsprechend der
ersten Ausführungsform
der Erfindung zeigen;
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5 ist
eine Querschnittsansicht, welche eine zweite Ausführungsform
der optischen Scheibe entsprechend der vorliegenden Erfindung illustriert;
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6 ist
ein Flussdiagramm, welches die Schritte (a) bis (i) einschließt, welche
die Herstellungsschritte der optischen Scheibe entsprechend einer
zweiten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung illustrieren; und
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7 ist
eine ebene Ansicht, welche die Schritte (a) bis (c) einschließt, welche
eine inselartige Struktur einer Reflexionsschicht der optischen
Scheibe zeigt entsprechend der vorliegenden Erfindung.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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Im
folgenden werden die bevorzugten Ausführungsformen der erfindungsgemäßen optischen Scheibe
beschrieben werden unter Verweis auf die beigefügten Zeichnungen.
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(Ausführungsform 1)
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1A ist
eine Querschnittsansicht, welche eine erste Ausführungsform einer optischen
Scheibe entsprechend der vorliegenden Erfindung illustriert. 1A zeigt
nur einen Abschnitt auf der rechten Seite einer Rotationszentrumsachse
(angegeben durch eine unterbrochene Linie) der optischen Scheibe.
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Die
optische Scheibe dieser Ausführungsform
schließt
eine erste Basisplatte 101 ein mit einer ersten Oberflächen 101c,
in welcher eine Spirale oder konzentrische Spurrille (Vertiefung) 101a zum Führen der
Spurkontrolle ausgebildet wird sowie eine Vielschichtstruktur, abgeschieden
auf der ersten Oberfläche 101c der
ersten Basisplatte 101. In dem Beispiel, gezeigt in der
Figur wird eine Rille ausgebildet in der ersten Oberfläche 101c der
ersten Basisplatte 101, jedoch eine zweite Oberfläche (eine
Oberfläche
gegenüberliegend
der ersten Oberfläche) 101d ist,
eben. In der ersten Oberfläche 101c kann anstelle
der Rille ein Pit ausgebildet werden.
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Die
erste Basisplatte 101 ist ein scheibenartiges Substrat,
ausgebildet durch Spritzgussverfahren aus einem Polymermaterial.
Die Rille 101a der ersten Basisplatte 101 wird
von einem Stanzgerät
in dem Spritzgussverfahren transferriert.
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Da
es unnötig
ist, für
die erste Basisplatte 101 die Schreib-/Lese-Strahlung zu übertragen, muss
die erste Basisplatte 101 nicht notwendigerweise transparent
sein. Sogar in dem Fall, wo ein optischer Scheibenapparat ein optisches
System einsetzt mit einem hohen Na-Wert (0,8 oder mehr beispielsweise),
ist es unnötig,
die Dicke der ersten Basisplatte 101 zu reduzieren. Die
Dicke der ersten Basisplatte 101 in dieser Ausführungsform
wird zufällig ausgewählt, beispielsweise
0,6 bis 1,2 mm.
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Die
Vielschichtstruktur umfasst eine Reflexionsschrift 102,
eine Aufzeichnungsschicht (oder eine beschreibbare Informationsschicht) 103,
ausgebildet auf der Reflexionsschicht 102 und ein transparentes Element 110,
so angeordnet, dass es die Aufzeichnungsschicht 103 bedeckt.
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Die
Reflexionsschicht 102 wird aus einem Metall ausgebildet.
Die Dicke der Reflexionsschicht 102 ist 5 bis 60 nm, beispielsweise,
und ist substantiell einheitlich innerhalb oder außerhalb
der Rille 101a. Die Reflexionsschicht 102 im Abschnitt
der optischen Scheibe weist eine Form auf, welche eine unebene Form
der ersten Oberfläche 101c der
ersten Basisplatte 101 reflektiert. Wie im Detail beschrieben,
muss die Reflexionsschicht 102 nicht notwendigerweise aus
einem Film bestehen, der einheitlich und perfekt kontinuierlich
verläuft.
In einer bevorzugten Ausführungsform
wird die Reflexionsschicht 102 aus einem Aggregat von Metall
bestehen und kann porös
sein.
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Die
Aufzeichnungsschicht 103 wird durch einen Film aus einem
Aufzeichnungsmaterial konfiguriert mit einem organischen Farbstoff
und wird so ausgebildet, dass sie substantiell die Innenseite der Rille 101a der
ersten Basisplatte 101 ausfüllt. Das Aufzeichnungsmaterial
ist beispielsweise ein Material mit einem Cyanin-Farbstoff oder
einem Farbstoff des Phthalocyanin-Typs. Wenn die Aufzeichnungsschicht 103 auf
die erste Oberfläche 101c der
ersten Basisplatte 101 aufgebracht wird durch ein Verfahren,
wie z.B. Spin-Coaten, wird die Aufzeichnungsschicht 103 so
ausgebildet, dass sie substantiell die Innenseite der Rille 101a füllt. Darüber hinaus
wird die Aufzeichnungsschicht 103 auch dünn auf einem Abschnitt
(einem flachen Abschnitt) 101b zwischen den Rillen ausgebildet.
Vorzugsweise ist die Dicke der Aufzeichnungsschicht 103 in
dem ebenen Abschnitt 101b so dünn als möglich.
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1B ist
eine vergrößerte Ansicht,
welche den Querschnitt der Aufzeichnungsschicht 103 in größerem Detail
zeigt. In 1B wird die Dicke der Aufzeichnungsschicht 103 in
der Rille 101a repräsentiert
durch "t1" und die Dicke davon
im flachen Abschnitt 101b wird repräsentiert durch "t2". In dieser Ausführungsform
ist, da das Innere der Rille 101a substantiell gefüllt ist,
mit der Aufzeichnungsschicht 103, die Dicke t1 1,5fach
größer als
die Dicke t2. Wenn beispielsweise die Dicke d1 der Rille ungefähr 32 nm
ist, ist t1 ungefähr
40 nm und t2 ist ungefähr 10
nm. Die tatsächliche
Rillenbreite ist ungefähr
0,1 bis 0,3 μm,
so dass die Beziehung zwischen der Rillentiefe und der Rillenbreite,
die in den entsprechenden Figuren dieser Beschreibung gezeigt ist,
nicht tatsächlich
die aktuelle Beziehung widerspiegelt.
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Es
wird nun erneut auf 1A Bezug genommen. Das transparente
Element 110 besteht aus einem transparenten Material, welches
die Schreib-/Lese-Strahlung transmittieren kann. In dem Beispiel,
das in 1A gezeigt ist, wird das transparente
Element 110 durch eine transparente Basisplatte 104 konfiguriert
und eine transparente Klebeschicht 105. Die transparente
Klebeschicht 105 bindet die transparente Basisplatte 104 an
die erste Basisplatte 101, so dass die Basisplatten aneinander gebunden
werden. Die transparente Klebeschicht 105 ist nicht auf
eine Schicht limitiert. Alternativ kann die transparente Klebeschicht 105 eine
Vielschichtstruktur aufweisen, falls sie ein transparentes Medium
darstellt. Anstelle einer transparenten Basisplatte 105,
welche durch Spritzgussverfahren oder andere Verfahren ausgebildet
wird, kann eine Harzschicht, die durch Bestrahlung aushärtbar ist,
dick auf der Basisplatte 101 ausgebildet werden, wodurch das
transparente Element 110 konstituiert wird.
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Die
Dicke der transparenten Klebeschicht 105 ist ungefähr 5 bis
50 μm, um
ein Beispiel zu nennen. Die Dicke der transparenten Basisplatte 104 ist ungefähr 0,1 bis
0,3 mm, um ein Beispiel zu nennen. Mit Blick auf diese Zahlenwerte,
kann man sehen, dass die Tiefe und die Breite der Rille 101a,
gezeigt in 1A übertrieben sind in ihrer Größe mit Blick auf
die Größen der
anderen zusammensetzenden Elemente.
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In
dem Fall, wo ein Benutzer Information auf die optische Scheibe dieser
Ausführungsform
aufzeichnet, wird Schreib-Strahlung auf de Aufzeichnungsschicht 103 über ein
Objektiv 106 eines optischen Scheibenapparates angewandt.
Die Schreib-Strahlung
führt thermische
Energie auf die Aufzeichnungsschicht 103 zu, so dass die
optischen Eigenschaften (Strahlungsabsorption durch organischen
Farbstoff, um ein Beispiel zu nennen) der Aufzeichnungsschicht 103 verändert werden.
Auf der anderen Seite wird in dem Fall, wo ein Benutzer die Information
liest, die auf der optischen Scheibe aufgezeichnet oder gespeichert
wird, die Lesestrahlung auf die Aufzeichnungsschicht 103 aufgebracht über das
Objektiv 106 des optischen Scheibenapparates. Die Lesestrahlung
mit kleinerer optischer Ausgabeleistung, verglichen mit derjenigen
der Schreibstrahlung, wird benutzt zum Nachweis eines Unterschiedes
in den optischen Eigenschaften, variiert abhängend von den Positionen der
Aufzeichnungsschicht 103. Durch Detektion der Reflexivität der Lesestrahlung
kann die Information gelesen werden.
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In
der optischen Scheibe dieser Ausführungsform wird, wenn die Schreib-/Lese-Strahlung auf die
Aufzeichnungsschicht 103 angewandt wird, die Schreib-/Lese-Strahlung nicht auf
die Aufzeichnungsschicht 103 über die erste Basisplatte 101 zugeführt, in
welcher Rillen oder Pits in der Oberfläche davon ausgebildet werden,
sondern über
die transparente Basisplatte 104, gebunden an die erste
Basisplatte 101. Eine "Rille" und ein "dazwischen liegendes
Gebiet" werden üblicherweise
durch die relative Platzierung mit Blick auf den optischen Kopf
(ein Objektiv) beim Schreiben/Lesen definiert. In der optischen
Scheibe von 1A wird ein Abschnitt, welcher
relativ enger an dem Objektiv 106 liegt, als eine "Rille" bezeichnet und ein
Abschnitt welcher relativ weiter von dem Objektiv 106 entfernt
ist, wird als ein "dazwischen
liegendes Gebiet" („Land") bezeichnet. Genauer
gesagt, sind in der optischen Scheibe von 1A im
Vergleich zu den optischen Scheiben von 2 und 3 die
Rillen und das dazwischen liegende Gebiet invertiert. Mit solch
einer Definition ist die optische Scheibe dieser Ausführungsform
eine optische Scheibe eines so genannten "dazwischen liegenden Gebietes-Aufzeichnungs-Typs". Jedoch wird im
Rahmen dieser Beschreibung im Sinne der Einfachheit eine Vertiefung,
welche strikt als ein "dazwischen
liegendes Gebiet" bezeichnet
werden soll, als eine Rille bezeichnet. Um Verwirrung zu vermeiden,
wird die Rille 101a, welche mit der Aufzeichnungsschicht 103 gefüllt ist,
manchmal als eine "Vertiefung" bezeichnet.
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Die
Tiefe d1 der Rille 101a der ersten Basisplatte 101 ist
am besten in der Beziehung von d1 = λ/(8 × n2), wenn die Wellenlänge der
Schreib-/Lesestrahlung gleich λ ist
und der refrektive Index der Aufzeichnungsschicht 103 gleich
n2 ist. Genauer gesagt kann für
einen roten Laser mit einer Wellenlänge von 650 nm ein hinreichendes
Gegentakt-Spursignal
erhalten werden, unter einer Bedingung, wo d1 substantiell gleich
50 nm ist. Für
einen blauen Laser mit einer Wellenlänge von 405 nm kann ein hinreichendes
Gegentakt-Spursignal erhalten werden bei einer Bedingung, wo d1
substantiell gleich 35 nm ist.
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Nicht
nur unter dem Gesichtspunkt der Eigenschaften der Spursignale ist
es notwendig, die Tiefe d1 der Rille so zu setzen, um Aufzeichnungssignale
mit guter Qualität
bei der Reproduktion zu erhalten. Folglich ist es wünschenswert,
dass die Tiefe d1 so gesetzt wird, dass sie tiefer ist, als die
oben genannten Werte. Jedoch ist das Gegentakt-Spursignal minimal unter der Bedingung
von d1 = λ/(4 × n2), so dass
es wünschenswert
ist, dass d1 so gesetzt wird, dass sie kleiner sein soll als λ/(4 × n2).
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In
dieser Ausführungsform
werden, wenn Information auf die Aufzeichnungsschicht 103 aufgezeichnet
wird, die Eigenschaften der Aufzeichnungsschicht 103, welche
optische Energie aufnimmt, durch die chemische Reaktion mit dem
Material der Basisplatte 101 verändert. Um eine solche chemische
Reaktion auszulösen,
anstelle der Existenz der Reflexionsschicht 102 als ein
einheitlicher Film, ist es bevorzugt, dass Öffnungsabschnitte partiell
in der Reflexionsschicht 102 ausgebildet werden und dass die
Basisplatte 101 und die Aufzeichnungsschicht 103 in
Kontakt stehen miteinander über
die Öffnungsabschnitte.
In dieser Ausführungsform
wird die Reflexionsschicht 102 mit einer inselartigen Struktur
ausgebildet. Die Reflexionsschicht 102 mit solch einer
inselartigen Struktur wird in dem Fall erhalten, wo ein Metallfilm
dünn aufgewachsen
wird unter Verwendung einer dünnen
Filmabscheidungstechnik, wie z.B. Gasphasenabscheidung. Jedoch ist
es, falls der Film zu dünn
ist, nicht bevorzugt, da die Reflexion der Schreib-/Lesestrahlung
unterhalb ein gewünschtes Niveau
fällt und
die Intensität
der Lesestrahlung abgesenkt wird. Eine bevorzugte Durchschnittsdicke der
Reflexionsschicht 102 ist 5 bis 40 nm.
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In 7(a) bis (c) werden verschiedene Morphologien
gezeigt der Wachstumsschritte einer Goldschicht, ausgebildet durch
Gasphasenabscheidung und (a) bis (c) sind ebene Ansichten erzeugt
basierend auf der Beobachtung mit Hilfe eines Transmissionselektronen-Mikroskop-Fotoapparates.
Wie in (a) bis (c) von 7 gezeigt, wird, ist, wenn die
Metallschicht dünn
ist (25 nm oder weniger, um ein Beispiel zu nennen), die Metallschicht
nicht einheitlich und weist eine inselartige Struktur auf, in welchem
Metallpartikel oder Abscheidungen aggregiert sind. Da die Dicke
der Metallschicht vergrößert ist,
wird die Größe eines
jeden Metallpartikels vergrößert und
benachbarte Metallpartikel werden aneinander gekoppelt. Die Metallpartikel
konstituieren eventuell einen durchgehend einheitlichen Film (siehe
(c) von 7).
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Selbst
in dem Fall, wo die Reflexionsschicht 102 aus einer Metallschicht
besteht, welche die oben erwähnten
inselartigen Strukturen aufweist, ist es, falls die durchschnittliche
Dicke der Reflexionsschicht 102 in einem geeigneten Bereich
reguliert wird, möglich,
eine gewünschte
Reflexion zu erhalten. In dieser Ausführungsform wird ein Metall
solch einer inselartigen Struktur auch als eine "Metallschicht" oder eine "Reflexionsschicht" bezeichnet.
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In
dieser Ausführungsform
wird eine Reflexionsschicht solch einer inselartigen Struktur verwendet,
so dass ein teilweiser Kontakt zwischen der Basisplatte 101 und
der Aufzeichnungsschicht 103 realisiert wird. Aufgrund
des teilweisen Kontaktes kann die Hitze, erzeugt bei der Bestrahlung
durch Schreibstrahlung die chemische Reaktion zwischen der Basisplatte 101 und
der Aufzeichnungsschicht 103 verstärken. Es gibt eine Vorteil
dahingehend, dass die chemische Reaktion die Veränderung in der Rillenbreite- und -tiefe erzeugt
(die Veränderung
in der Form der Rille), so dass die Qualität des reproduzierten Signals
verbessert wird.
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Wenn
die Reflexionsschicht 102 die inselartige Struktur aufweist,
wird die Struktur der Reflexionsschicht 102 verändert durch
die Hitze, erzeugt in der Bestrahlung durch die Schreibstrahlung,
so dass die Reflexion des bestrahlten Abschnittes der Reflexionsschicht 102 verändert wird.
Als ein Ergebnis wird bei dem Einfallabschnitt der Schreibstrahlung
nicht nur eine Markierung auf der Aufzeichnungsschicht 103 ausgebildet,
sondern auch eine Veränderung
der Reflexion durch die Reflexionsschicht 102 zu erwarten
sein. Dies trägt
zur Verbesserung der Detektionssensitivität der Aufzeichnungsmarkierung
bei.
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In
dieser Ausführungsform
wird Au verwendet als Material für
die Reflexionsschicht 102. Alternativ kann ein weiteres
Metall oder eine Legierung verwendet werden. Beispielsweise kann
eine Silberlegierung, wie z.B. AgPdCu verwendet werden, ein Metall,
wie z.B. Al, Ti, Cr oder eine Legierung aus diesen Metallen kann
für das
Material der Reflexionsschicht verwendet werden.
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In
dieser Ausführungsform
wird transparentes Polycarbonat für das Material der Basisplatte 101 verwendet.
Jedoch muss die Basisplatte 101 nicht notwendigerweise
so beschaffen sein, dass sie die Lesestrahlung transmittiert. Aus
diesem Grund kann ein opaques Material verwendet werden zum Ausbilden
der Basisplatte 102, falls gewünschte Rillen oder Pits leicht
in dem opaquen Material erzeugt werden können. Auf der anderen Seite
kann für
die transparente Basisplatte 104, positioniert auf der
einfallenden Seite der Schreib-/Lese-Strahlung ein Material, verschieden
von Polycarbonat verwendet werden, falls das Material die Schreib-/Lese-Strahlung
transmittieren kann.
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In
dieser Ausführungsform
wird ein durch Bestrahlung aushärtendes
Harz verwendet für
die transparente Klebeschicht 105. Alternativ kann ein
thermohärtendes
Harz oder ein weiteres Harz verwendet werden, falls das Material
die Eigenschaften der Aufzeichnungsschicht verschlechtert.
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Als
nächstes
wird mit Blick auf 4 ein Verfahren zum Herstellen
der optischen Scheibe dieser Ausführungsform beschrieben werden.
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Ein
Stanzgerät,
welcher eine Form von Rillen oder Pits definiert, wird verwendet
und eine scheibenartige Basisplatte 401 wird ausgebildet
durch Spritzgussverfahren ((a) von 4). Anschließend wird
auf eine Oberfläche
der Basisplatte 401, auf welche die Rollen oder Pits transferriert
werden, ein dünner
Metallfilm abgeschieden durch Sputtern, wodurch eine Reflexionsschicht 402 ((b)
von 4) ausgebildet wird. Wie in (c) von 4 gezeigt,
wird, nachdem ein Aufzeichnungsmaterial 403 auf einen inneren
umlaufenden Abschnitt der Basisplatte 401 verteilt worden
ist, die Basisplatte 401 bei einer hohen Geschwindigkeit
rotiert (300 bis 2000 rpm um, ein Beispiel zu nennen), wodurch eine
Aufzeichnungsschicht 404 ausgebildet wird ((d) von 4). Die
aufgebrachte Aufzeichnungsschicht 404 füllt die Innenseiten der Rillen,
ausgebildet auf der Oberfläche
der Basisplatte 401, so dass die Oberfläche der Aufzeichnungsschicht 404 substantiell
eben ist.
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Ein
erstes Substrat wird in den oben erwähnten Schritten ausgebildet.
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Auf
der anderen Seite wird, wie in (e) von 4 gezeigt,
ein zweites Substrat (eine zweite Basisplatte) 405 mit
zumindest einer Spiegelgrenzfläche
erzeugt durch Spritzgussverfahren. Zu dieser Zeit ist die Dicke
der zweiten Basisplatte 405 vorzugsweise dünn, da die
Dicke die Apparation der Lesestrahlung reduziert. Es ist bevorzugt,
dass die Dicke der zweiten Basisplatte 405 so gesetzt wird,
dass sie 0,3 mm ist oder weniger (0,1 mm, um ein Beispiel zu nennen).
Solch eine dünne
zweite Basisplatte 405 mit der Dicke von 0,3 mm oder weniger,
kann leicht durch ein Verfahren ausgebildet werden, welches sich
vom Spritzgussverfahren unterscheidet. Beispielsweise kann die zweite
Basisplatte 405 aus einer transparenten Schicht bestehen,
welche eine gewünschte
Dicke von 0,3 mm oder weniger aufweist.
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Eine
bevorzugte Dicke der zweiten Basisplatte 405 wird variiert,
abhängend
von einem NA-Wert eines optischen Systems, eingesetzt in einem optischen
Scheibeapparat. In dem Fall, wo die Wellenlänge der Schreib-/Lese-Strahlung
ungefähr 0,5
mm ist, um ein Beispiel zu nennen, und der NA-Wert des optischen
Systems ungefähr
0,85 ist, ist es bevorzugt, dass die Dicke der zweiten Basisplatte 405 so
gesetzt wird, dass sie 0,2 mm oder weniger beträgt, was dazu dient, die Aberration,
verursacht, durch die Neigung einer Scheibe, zu verringern. Mehr bevorzugt
wird die Dicke auf ungefähr
0,1 mm gesetzt. In dieser Ausführungsform
kann, da irgendwelche Rillen oder Pits nicht in der zweiten Basisplatte 405 ausgebildet
werden, die zweite Basisplatte 405 mit hoher Präzision durch
Spritzgussverfahren erzeugt werden, oder mit Hilfe anderer Verfahren.
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Wie
in (f) von 4 gezeigt, wird ein Harz von
Acryltyp, welches durch Bestrahlung aushärtbar ist, als durch Bestrahlung
aushärtbares
Harz 406 in den inneren umlaufenden Abschnitt einer Oberfläche des
ersten Substrates verteilt, in welchen die Aufzeichnungsschicht 404 ausgebildet
wird, das zweite Substrat 405 wird auf das durch Bestrahlung
aushärtbare
Harz 406 überlagert.
Zu dieser Zeit wird, falls eine der Oberfläche des zweiten Substrates 405 nicht eine
Spiegelgrenzfläche
ist, die Überlagerung
so durchgeführt,
dass eine Nicht-Spiegel-Gränzfläche dem
ersten Substrat gegenüberliegt.
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Danach
wird, wie in (g) von 4 gezeigt, die erste Basisplatte 401 bei
einer hohen Geschwindigkeit rotiert, wodurch eine einheitliche Schicht
aus dem durch Bestrahlung aushärtbaren
Harz 406 ausgebildet wird. Als nächstes wird, wie in (h) von 4 gezeigt,
das durch Bestrahlung aushärtbare
Harz 406 mit Hilfe einer ultravioletten Lampe ausgehärtet, wodurch
eine transparente Klebeschicht 407 besteht. Dementsprechend
kann, wie in (i) von 4 gezeigt ist, eine optische
Scheibe, auf welcher Information gespeichert und von welcher Information
reproduziert werden kann, von der Seite der zweiten Basisplatte 405,
erzeugt werden.
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Wenn
die zweite Basisplatte 405 erzeugt wird, kann eine Informationsaufzeichnungsschicht (eine
Informationsschicht, die nur gelesen werden), auf welche Pits und
dergleichen transferriert werden, ausgebildet werden auf einer Grenzfläche der
zweiten Basisplatte 405. In diesem Fall kann eine semitransparente
Reflexionsschicht aus AgPdCu-Legierung od. dgl. angeordnet werden,
eine optische Scheibe eines Zweischichttyps, welche zwei Aufteilungsschichten
aufweist, d.h. eine Informationsaufzeichnungsschicht vom einmal
beschreibbaren Typus und eine Informationsschicht, die nur gelesen werden
kann, können
erhalten werden.
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Alternativ
wird, nachdem ein Harz, das durch Bestrahlung aushärtbar ist,
einheitlich durch Spincoaten od. dgl. auf das erste Substrat aufgebracht
worden ist, in welchem die Aufzeichnungsschicht 404 ausgebildet
wird, das Harz ausgehärtet durch
Bestrahlen durch ultraviolette Strahlung, wodurch eine Schutzschicht
ausgebildet wird. Anschließend
wird das erste Substrat an die zweite Basisplatte 405 gebunden.
Falls solch eine Schutzschicht dick ausgebildet wird, kann eine
gewünschte
optische Scheibe erhalten werden, ohne die zweite Basisplatte 405 anzukleben.
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(Ausführungsform 2)
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Unter
Verweis auf 5 wird eine optische Scheibe
in einer zweiten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung beschrieben werden.
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Die
optische Scheibe in dieser Ausführungsform
umfasst eine erste Basisplatte 501 mit einer ersten Oberfläche, in
welcher eine Rille ausgebildet wird und (eine Vielschichtstruktur,
angeordnet auf der ersten Oberfläche)
der ersten Basisplatte 501.
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In
dem gezeigten Beispiel wird keine Rille bzw. kein Pit in einer zweiten
Oberfläche
(eine Grenzfläche
auf der gegenüberliegenden
Seite der ersten Oberfläche)
bezogen auf die erste Basisplatte 501 ausgebildet.
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Die
erste Basisplatte 501 ist ein scheibenartiges Substrat,
welches aus Polycarbonatmaterial erzeugt wird durch Spritzgussverfahren.
Es ist nicht notwendig, dass die erste Basisplatte 501 transparent
ist.
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Die
Vielschichtstruktur schließt
eine Reflexionsschicht 502 ein, eine Aufzeichnungsschicht 503, ausgebildet
auf der Reflexionsschicht 502 und ein transparentes Element,
angeordnet, so dass es die Aufzeichnungsschicht 503 bedeckt.
Die Basisplatte 501, die Reflexionsschicht 502 und
die Aufzeichnungsschicht 503 weisen die gleichen Konfigurationen,
wie diejenigen der Basisplatte 101 auf, der Reflexionsschicht 102 und
der Aufzeichnungsschicht 103 in der oben beschriebenen
ersten Ausführungsform.
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Das
transparente Element in dieser Ausführungsform besteht aus einem
transparenten Material, welches Schreib-/Lese-Strahlung transmittieren kann.
In dem Beispiel von 5 weist das transparente Element
eine Vielschichtstruktur auf, welches eine durch Strahlung aushärtbare Harzschicht 504 einschließt, eine
halbtransparente Reflexionsschicht 505, in welcher Information
aufgezeichnet wird, in der Form von Pits sowie eine transparente
Abdeckungsschicht 506 zum Transmittieren der Schreib-/Lese-Strahlung durch diese.
Beispielsweise ist die Dicke der Schicht aus durch Bestrahlung aushärtbarem Harz 504 10
bis 30 μm,
die Dicke der halbtransparenten Reflexionsschicht 505 ist
5 bis 20 μm
und die Dicke der transparenten Abdeckungsschicht 506 ist
0,1 bis 0,2 mm. Um die Lesepräzision
in der Reproduktion zu verbessern, ist die transparente Abdeckungsschicht 506 vorzugsweise
so dünn
als möglich.
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Mit
der oben beschriebenen Konfiguration kann Information einmal in
der Aufzeichnungsschicht 503 über ein Objektiv 507 geschrieben
werden. Darüber
hinaus kann die nur zum Lesen gedachte Information in der halbtransparenten
Reflexionsschicht 505 und die Information, aufgezeichnet
in der Aufzeichnungsschicht 503 reproduziert werden.
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Die
Schicht aus durch Bestrahlung aushärtbarem Harz 504 und
die transparente Bedeckungsschicht 506 können ausgebildet
werden aus einem Harz, welches verschieden ist von dem Harz, das durch
Bestrahlung aushärtbar
ist, falls das als Material verwendet Harz transparent für die Schreib-/Lese-Strahlung
ist. Alternativ kann die Schicht einen Vielschichtfilm darstellen.
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Als
nächstes
wird unter Verweis auf 6 ein Verfahren beschrieben
zum Herstellen einer optischen Scheibe dieser Ausführungsform.
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Zunächst wird
ein Stanzgerät
mit einer uneinheitlichen Form von Rillen verwendet, um damit eine
scheibenähnliche,
erste Basisplatte 601 durch Spritzgussverfahren zu erzeugen
((a) von 6)). Anschließend wird
auf eine Oberfläche
der ersten Basisplatte 601, auf welche Rillen oder Pits
transferriert werden, ein Metallfilm durch Sputtern abgeschieden,
wodurch eine Reflexionsschicht 602 ((b) von 6)
ausgebildet wird. Wie in (c) von 6 gezeigt,
wird, nachdem ein Aufzeichnungsmaterial 603 in einem inneren
umlaufenden Abschnitt der ersten Basisplatte 601 abgeschieden
worden ist, die erste Basisplatte 601 bei einer hohen Geschwindigkeit
rotiert, wodurch eine Aufzeichnungsschicht 604 (b) von 6 ausgebildet
wird.
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Ein
erstes Substrat wird in den oben erwähnten Schritten erzeugt. Auf
der anderen Seite wird, wie in (e) von 6 gezeigt,
ein zweites Substrat (eine zweite Basisplatte) 605, auf
welche Information auf einer Oberfläche in der Form von Pits aufgezeichnet ist,
erzeugt durch Spritzgussverfahren. Die Anordnung von Pits reflektiert
die nur zum Lesen gedachte Information.
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Als
nächstes
wird, wie in (f) von 6 gezeigt, ein Harz vom Acryltyp,
welches im Ultravioletten aushärtbar
ist, als ein durch Bestrahlung aushärtbares Harz 606 auf
eine innere umlaufende Fläche der
Oberfläche
der ersten Basisplatte 601 verteilt, auf welcher eine Aufzeichnungsschicht 604 ausgebildet wird.
Anschließend
werden die Substrate so überlagert,
dass die Oberfläche
der zweiten Basisplatte 605, auf welche Pits transferriert
werden, gegenüber der
Aufzeichnungsschicht 604 liegen. Nachdem eine einheitliche
durch Bestrahlung aushärtbare
Harzschicht ausgebildet wird durch Rotieren der ersten Basisplatte 601 bei
einer hohen Geschwindigkeit, wird die Schicht ausgehärtet durch
eine ultraviolette Lampe, wodurch eine transparente Klebeschicht
(g) von 6 ausgebildet wird.
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Als
nächstes
werden, wie in (h) von 6 gezeigt, durch Entfernen der
zweiten Basisplatte 605 Pits der zweiten Basisplatte 605 auf
eine Oberfläche der
transparenten Klebeschicht transferiert. Um leicht die zweite Basisplatte 605 abzublättern, ist
es gewünscht,
dass die Oberfläche
der zweiten Basisplatte 605 zuvor mit einem Material gecoatet
werden kann, welches leicht abgeblättert werden kann.
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Auf
der transparenten Klebeschicht wird eine halbtransparente Reflexionsschicht 607 aus
AgPdCu-Legierung um ein Beispiel zu nennen, durch Sputtern ((i)
von 6) ausgebildet. Anschließend wird, nachdem das durch
Bestrahlung aushärtbare Harz
durch Spin Coaten aufgebracht worden ist, das Harz ausgehärtet, so
dass eine transparente Bedeckungsschicht (Dicke von 0,05 bis 0,2 μm) 608 ausgebildet
wird ((j) von 6). Die transparente Abdeckungsschicht 608 kann
aus einer Basisplatte bestehen, welche substantiell transparent
ist, wie z.B. Polycarbonat. Die substantiell transparente Basisplatte wird
an das erste Substrat gebunden mit einem durch Bestrahlung aushärtbaren
Harz.
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Anstelle
des oben erwähnten
Verfahrens wird, nachdem ein durch Bestrahlung aushärtbares Harz
einheitlich auf das erste Substrat 601 aufgebracht worden
ist, in welchem die Aufzeichnungsschicht 604 durch Spin
Coaten oder andere Verfahren ausgebildet worden ist, und das Harz
durch Bestrahlung von ultravioletter Strahlung ausgehärtet worden
ist, wodurch eine Schutzschicht ausgebildet worden ist, das erste
Substrat 601 an die zweite Basisplatte 605 gebunden.
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In
den entsprechenden Ausführungsformen wird
die Form der Rille, ausgebildet in der ersten Basisplatte, nicht
erwähnt.
Die Rille kann so ausgebildet werden, dass sie sich auf einer Scheibe
erstreckt. In diesem Fall kann, basierend auf dem Wobbeln der Rille
ein Uhrensignal, Adressinformation und dergleichen, reproduziert
werden. Da die Wobble-Häufigkeit vorzugsweise
konstant entlang der Spurrille gesetzt wird, wird die Adressinformation
vorzugsweise aufgezeichnet durch Variieren des Musters oder einer spezifischen
Form des Wobbelns.
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Entsprechend
der optischen Scheibe der vorliegenden Erfindung kann, selbst in
dem Fall, wo eine Rille in einer Basisplatte für die Spurführung eng ist, ein gutes Gegentakt-Spursignal erhalten
werden. Darüber
hinaus kann, da die Rille eng sein kann und die Aufzeichnungsdichte
verbessert werden kann, selbst, wenn die Basisplatte, welche eine
Rille aufweist, mit einer erhöhten
Dicke, eingesetzt wird, eine Scheibe, geeignet zum Verbessern der
Aufzeichnungsdichte, leicht erzeugt werden.
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Während die
vorliegende Erfindung in einer bevorzugten Ausführungsform beschrieben wurde, wird
es den Fachleuten auf dem Gebiet offensichtlich sein, dass die offenbarte
Erfindung modifiziert werden kann auf verschiedenen Wegen und man
kann annehmen, dass es viele Ausführungsformen gibt, welche verschieden
sind von denjenigen, die speziell oben dargestellt und beschrieben
wurden. Dementsprechend ist es beabsichtigt, durch die beigefügten Ansprüche, alle
Modifikationen der Erfindung abzudecken, welche in den wahren Geist
und Umfang der Erfindung fallen.