DE60015555T2 - Abbildungsmethode mittels thermischer Resonanz - Google Patents

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Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung betrifft thermographische, nichtzerstörende Techniken zum Ermitteln der Dicke eines Objektes. Insbesondere betrifft die vorliegende Erfindung ein transientes thermographisches IR Verfahren zum Analysieren von Stapeln von Bildrahmen mit thermischen Daten, das eine thermische Resonanzfunktion einer schnellen Fourier-Transformierten verwendet, um die Dicke zu ermitteln.
  • HINTERGRUND
  • Über die Jahre wurden verschiedene, nichtzerstörende Ultraschallmeßtechniken eingesetzt, um die Querschnittsdicke von Gußmetall und anderen festen Objekten zu ermitteln. Herkömmlicherweise wird das Objekt mit Ultraschallwellen geprüft, welche in die Oberfläche eindringen und intern an der gegenüberliegenden Seite oder Oberfläche des Objektes reflektiert werden. Auf der Basis der erforderlichen Zeit für den Empfang einer reflektierten Welle kann die Strecke zu der gegenüberliegenden (Rück-) Seite ermittelt werden, was die Dicke des Objektes an diesem Punkt ergibt. Leider würde die Durchführung von Ultraschallmessungen dieser Art zum Überprüfen der Querschnittsdicke für den größten Teil eines Objektes üblicherweise ein mühsames und zeitaufwendiges mechanisches Abtasten der gesamten Oberfläche mit einem Meßwertaufnehmer erfordern. Zusätzlich muß zur Ermöglichung eines engen Schallkontaktes zwischen dem Meßwertaufnehmer und der Objektoberfläche ein Strom eines flüssigen Kopplungsmittels auf die Oberfläche aufgebracht werden, oder alternativ eine vollständige Eintauchung des Objektes in das Kopplungsmittel angewendet werden. Derartige Anpassungen sind jedoch nicht sehr praktisch oder leicht aus zahlreichen strukturellen und Materialgesichtspunkten durchführbar. Beispielsweise sind Ultraschallsysteme, die in der Lage sind, komplexe Teile abzutasten und geometrisch zu analysieren, typischerweise sehr teuer und kompliziert. Zusätzlich kann ein mechanisches Abtasten des Meßwertaufnehmers über der Oberfläche eines großen Objektes buchstäblich Stunden dauern.
  • Ferner kann bei der Durchführung von Ultraschallmessungen auf bestimmten Metallobjekten die interne Kristallorientierung und Struktur des Metalls unerwünschte Störungs- und Richtungseffekte erzeugen, die zu Ungenauigkeiten in den erfaßten Daten beitragen. Diese inhärente Einschränkung von Ultraschallmessungen erweist sich als ein ernster Nachteil, wenn Komponenten geprüft werden, die aus kristallinen oder "richtungsorientierten" Metallen aufgebaut sind, wie sie oft in derzeitigen Turbinenschaufeln verwendet werden.
  • Im Gegensatz dazu ist die transiente Infrarot(IR)-Thermographie eine etwas vielseitigere, nichtzerstörende Prüftechnik, welche auf zeitlichen Messungen des Wärmedurchtrittes durch ein Objekt beruht, um Information bezüglich der Struktur und Integrität des Objektes zu liefern. Da der Wärmefluß durch ein Objekt im wesentlichen durch die Mikrostruktur und die Einkristallorientierungen des Materials des Objektes unbeeinflußt bleibt, ist eine transiente Infrarot-Thermographieanalyse im wesentlichen frei von den Einschränkungen, welche diese bei Ultraschallmessungen erzeugen. Im Gegensatz zu den meisten Ultraschalltechniken ist ein transienter Thermographieanalyse-Lösungsweg nicht wesentlich durch die Größe, Kontur oder Form des zu prüfenden Objektes beeinträchtigt und kann ferner 10 bis 100-mal schneller als die meisten herkömmlichen Ultraschallverfahren durchgeführt werden, wenn Objekte mit einem großen Oberflächenbereich geprüft werden.
  • Eine bekannte derzeitige Anwendung transienter Thermographie, welche die Fähigkeit der Ermittlung der Größe und "relativen" Lage (Tiefe) von Defekten innerhalb fester, nicht-metallischer Verbundstoffe ermöglicht, ist in dem U.S. Patent 5,711,603 für Ringermacher et al., mit dem Titel "Nondestructive Testing: Transient Depth Thermography" offenbart. Im wesentlichen beinhaltet diese Technik die Erwärmung der Oberfläche eines interessierenden Objektes und die Aufzeichnung der Temperaturveränderungen über der Zeit über sehr kleinen Bereichen oder "Auflösungselementen" auf der Oberfläche des Objektes. Diese Oberflächentemperaturänderungen stehen in Beziehung zu der charakteristischen Dynamik des Wärmeflusses durch das Objekt, welcher durch das Vorhandensein von Defekten beeinflußt wird. Demzufolge kann die Größe und ein Wert, der eine "relative" Tiefe eines Defektes (das heißt, relativ zu anderen Defekten innerhalb des Objektes) auf der Basis einer sorgfältigen Analyse der Temperaturänderungen ermittelt werden, die an jedem Auflösungselement über der Oberfläche des Objektes verteilt auftreten. Obwohl es nicht explizit in dem vorstehend angesprochenen Ringermacher-Patent offenbart ist, kann die "tatsächliche" Tiefe eines Defektes (das heißt die Tiefe eines Defektes von der Oberfläche des Objektes) nicht ermittelt werden, sofern kein "Standardblock" mit Hohlräumen bei bekannten Tiefen oder ein thermisch dicker ("unendlicher Halbraum")-Bezugsbereich des Objektes, als ein Teil der thermographischen Datenerfassung und Analyse zum Vergleich gegenüber den relativen Tiefenwerten mit einbezogen wird.
  • Um genaue thermische Messungen unter Verwendung der transienten Thermographie zu erhalten, muß die Oberfläche eines Objektes auf eine spezielle Temperatur innerhalb einer ausreichend kurzen Zeitdauer erwärmt werden, um so jede signifikante Erwärmung des Restes des Objektes auszuschließen. Abhängig von der Dicke und den Materialeigenschaften des zu prüfenden Objektes wird eine Quarzlampe oder eine Blitzlampe hoher Intensität in herkömmlicher Weise verwendet, um einen Wärmepuls mit geeigneter Größe und Dauer zu erzeugen. Jedoch könnte der zum Erwärmen der Objektoberfläche verwendete spezifische Mechanismus jede Einrichtung sein, die in der Lage ist, schnell die Oberfläche auf eine Temperatur zu erwärmen, die ausreicht, eine thermographische Überwachung durchzuführen, wie z.B. gepulstes Laserlicht. Sobald die Oberfläche des Objektes erwärmt ist, wird eine graphische Aufzeichnung der Wärmeveränderungen über der Oberfläche erfaßt und analysiert.
  • WO98/0529 offenbart eine derartige Technik für die Ermittlung der Dicke eines Objektes.
  • Herkömmlicherweise wurde eine Infrarot (IR) Videokamera verwendet, um aufeinanderfolgenden thermische Bilder (Rahmen) einer Objektoberfläche nach deren Erwärmung aufzuzeichnen und zu speichern. Jedes Videobild ist aus einer festen Anzahl von Pixeln zusammengesetzt. In diesem Zusammenhang ist Pixel ein kleines Bildelement in einer Bildanordnung oder einem Rahmen, welches einem als ein "Auflösungselement" bezeichneten rechteckigen Bereich auf der Oberfläche des abgebildeten Objektes entspricht. Da die Temperatur bei jedem Auflösungselement direkt zu der Intensität des entsprechenden Pixels in Bezug steht, können Temperaturänderungen bei jedem Auflösungselement auf der Objektoberfläche in Form von Änderungen in Pixelkontrast analysiert werden. Die gespeicherten IR Videobilder werden dann dazu verwendet, den Kontrast jedes Pixels in einem Bildrahmen zu bestimmen, indem die mittlere Pixelintensität für einen einen bekannten Zeitpunkt darstel lenden speziellen Bildrahmen von der individuellen Pixelintensität an diesen gleichen Zeitpunkt subtrahiert wird.
  • Die Kontrastdaten für jedes Pixel werden dann im Zeitbereich (das heißt über viele Bildrahmen hinweg) analysiert, um den Zeitpunkt des Auftretens eines "Wendepunktes" der Kontrastkurvendaten zu identifizieren, welcher mathematisch auf eine relative Tiefe eines Defektes innerhalb des Objektes bezogen ist. Im Grunde benötigt bei einer Anwendung auf ein exemplarisches "plattenähnliches" Objekt aus konsistentem Material und einer Dicke L ein auf ein Objekt auftreffender Migrationswärmeflußpuls eine "charakteristische Zeit" TC, um das Objekt bis zu der gegenüberliegenden Seite (Rückwand) zu durchdringen und zu der abgebildeten Vorderseite zurückzukehren. Diese charakteristische Zeit TC ist auf die Dicke des Objektes bezogen, wenn das thermische Diffusionsverfahren des Materials durch die nachstehende Gleichung gegeben ist: Tc = 4L2/ π2☐ Gl. 1wobei L die Dicke (cm) des Objektes und α das thermische Diffusionsvermögen (cm2/s) des Materials ist. (Ein Objekt kann auch thermisch von einer der Wärmeflußquelle gegenüberliegenden Seite des Objektes aus abgebildet werden. Dieses führt lediglich zu einem Wert von Tc, der sich um einen Faktor von Vier unterscheidet).
  • Aus empirischen Beobachtungen ist bekannt, daß, nachdem ein Wärmepuls auf ein plattenartiges Objekt auftrifft, die von derselben Seite des Objektes (das heißt der Vorderseite) aus beobachtete Oberflächentemperatur in einer Art ansteigt, die auch von der Dicke und dem thermischen Diffusionsvermögen des Materials abhängt. Ferner kann man aus einer graphischen Darstellung der Zeit über der Temperatur (T-t) Verlauf der Oberfläche die charakteristische Zeit TC in Form eines eindeutigen Punktes auf der T-t Kurve, bezeichnet als der "Wendepunkt", ermitteln. Dieser Wendepunkt tinfl wird durch den Punkt der maximalen Steigung auf der T-t Kurve (das heißt der Spitzensteigungszeit) angezeigt und steht zu der charakteristischen Zeit Tc über die nachstehende Gleichung in Beziehung tinfl = 0,9055 Tc Gl. 2Diese Beziehung zwischen dem Wendepunkt und der charakteristischen Zeit, ausgedrückt durch die Gleichung 2, ist genau etwa 1% für eine eindimensionale (1- D), sowie für eine zweidimensionale (2-G) Wärmeflußanalyse. Sobald ein Wendepunkt tinfl aus der T-t Antwort ermittelt ist, kann eine relative Dicke L des Objektes aus der GL. 1 unter Verwendung des bekannten thermischen Diffusionsvermögens α des Materials und des tatsächlichen Wertes TC aus Gl. 2 ermittelt werden.
  • Diesbezüglich kann man eine detailliertere Diskussion der wärmeflußinvarianten Beziehung zwischen der Spitzensteigungszeit (Wendepunkt) und der "charakteristischen Zeit" des Materials gemäß vorstehender Definition in Review Of Progress In Quantitative Nondestructive Evaluation in einem Artikel von Ringermacher et al., mit dem Titel "Towards A Flat-Bottom Hole Standard For Thermal Imaging", published May 1998 by Prenum Press, New York finden.
  • Leider erzeugt die vorstehend erwähnte Vorrichtung und das Verfahren des U.S. Patents 5,711,603 für Ringermacher et al. nur "relative" Tiefenmessungen. Es kann nicht dazu genutzt werden, einen quantitativen Wert für die tatsächliche Dicke eines Metallobjektes an einem gewünschten Punkt zu erzielen. Demzufolge war ein verbessertes Verfahren zur Durchführung einer transienten IR Thermographie und Verarbeitung der erfaßten Daten erforderlich, welche eine Ermittlung der tatsächlichen Dicke von Metallobjekten ermöglichen. Ein derartiges Verfahren und eine Vorrichtung ist in WO 00/63642 offenbart. Im wesentlichen verwendet die darin offenbarte Anordnung eine Fokalebenen-Array-Kamera für eine IR Bilddatenerfassung und Hochleistungs-Blitzlampen, um rasch die Oberfläche eines gewünschten Prüfobjektes zusammen mit einem Barrenstandard-Bezugsobjekt, das aus einem ähnlichen Material besteht und Abschnitte bekannter Dicke besitzt (ein "thermisch dicker" Abschnitt des geprüften Objektes kann optional als ein "unendlicher Halbraum"-Wärmebezug verwendet werden) zu erwärmen. Die Blitzlampen sind mit spektral abgestimmten optischen Filtern versehen, die langwellige IR „Nachglüh-" Emissionen minimieren und Hintergrundstrahlungseffekte reduzieren, welche die Genauigkeit der thermischen Messungen reduzieren. Eine vorbestimmte Anzahl von IR Bildrahmen wird erfaßt und über eine vorbestimmte Zeitdauer nach dem Zünden der Blitzlampen aufgezeichnet, um einen Temperatur/Zeit (T-t) Verlauf der Objektoberfläche (und des Bezugsstandards) zu entwickeln. Die Kontrast/Zeit-Daten werden dann für jedes Pixel in dem Bild entwickelt, um die Objektdicke an einer Stelle zu ermitteln, die der Pixelposition entspricht.
  • In dem vorstehend beschriebenen Verfahren werden Kontrast/Zeit-Daten entwickelt, indem Temperatur/Zeit-Daten des Barrenbezugsstandards (oder Temperatur/Zeit-Daten eines thermisch dicken "Halbraum"-Bezugsbereiches des Objektes) von den Temperatur/Zeit-Daten jedes Pixels subtrahiert werden. Leider leidet dieses Verfahren unter dem Nachteil, daß es einen bestimmten Fehlergrad einführen kann, wenn Objekte abgebildet werden, welche eine variierende Oberflächengleichmäßigkeit besitzen. Ferner erfordert es das Vorhandensein eines Barrenstandards in dem Bild oder die Verwendung von Temperatur/Zeit Daten aus einem tiefen Bezugsbereich des Objektes – unter der Annahme, daß ein derartiger Bezugsbereich zur Verfügung steht. Zusätzlich muß eine spezielle Beschichtung üblicherweise auf die Oberfläche des Objektes aufgebracht werden (und auf den Barrenstandard), bevor die IR Abbildung stattfindet, um die optische Absorption und Oberflächengleichmäßigkeit zu verbessern.
  • OFFENBARUNG DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein nichtzerstörendes Prüfverfahren und eine Vorrichtung zum Ermitteln und Darstellen der tatsächlichen Dicke eines Objektes durch die Verwendung einer schnellen transienten Infrarot(IR) Thermographie. Ein verbesserter Lösungsweg einer schnellen transienten IR Thermographieanalyse wird verwendet, um genau die Dicke eines Objektes zu messen und eine visuell codierte Anzeige bereitzustellen, welche die Querschnittsdicke über einen gewünschten Bereich des Objektes darstellt. Ein wesentliches Merkmal dieses verbesserten Lösungsweges besteht in der Verwendung einer Resonanzfunktion einer schneller Fourier-Transformierten, um die Dicke zu ermitteln. Ein nützlicher Aspekt besteht darin, daß das transiente Thermographieverfahren der vorliegenden Erfindung kein Vorhandensein eines Referenzstandards in dem Bild oder einen nutzbaren Referenzbereich auf dem geprüften Objekt erfordert. Zusätzlich gibt es keine Notwendigkeit einer speziellen Oberflächenvorbereitung oder spezieller Oberflächenbeschichtungen, um die optische Absorption zu steigern oder die Oberflächengleichmäßigkeit des Prüfobjektes zu verbessern.
  • Im wesentlichen stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Analysieren der Real- und Imaginär-Komponenten der schnellen Fourier- Transformierten (FFT) der Temperatur/Zeit (T-t) Antwortkurve eines rasch erwärmten Objektes bereit, um einen Frequenzwert zu erhalten, der direkt auf die spezielle charakteristische Zeit TC des Durchtritts für einen thermischen Puls durch das Objekt bezogen ist. Sobald die charakteristische Zeit bekannt ist, kann sie zum Berechnen eines quantitativen Wertes für die Dicke L zwischen zwei Oberflächen des Objektes an einen gewünschten Punkt gemäß der vorstehenden Gleichung 1 verwendet werden. Die T-t Antwort wird anfänglich aus den thermischen Daten ermittelt, welche aus auseinanderfolgenden IR Kamerabildrahmen über eine vorbestimmte Beobachtungsdauer erfaßt werden – bevorzugt den, die von Beobachtungen derselben Seite („Vorderseite") des Objektes erhalten werden. (Idealerweise ist diese Beobachtungsdauer mindestens etwas länger, als eine angenommene charakteristische Zeit laut Ermittlung aus der vorstehenden Gl. 1 und einer Ermittlung der Dicke des bewerteten Objektes).
  • Im wesentlichen werden die gewonnenen thermischen Daten assembliert, um eine individuelle T-t Antwortkurve für jedes Pixel in dem Bild zu erzeugen. Die jedem Pixel zugeordneten T-t Antwortkurvendaten werden dann normiert und es wird eine schnelle Fourier-Transformation (FFT) durchgeführt, um die Daten in den Frequenzbereich umzusetzen. Die Real-Komponente (oder alternativ die Imaginär-Komponente) der komplexen FFT wird dann analysiert, um den Wendepunkt der T-t Antwort in dem Frequenzbereich zu lokalisieren. Der Frequenzwert an diesem Wendepunkt steht zu der thermischen charakteristischen Zeit TC gemäß der durch die nachstehenden Gleichung 3 und 4 gegebenen Beziehungen in Bezug. TCfRe = 0,372 Gl.3 TCfIm = 0,748 Gl.4wobei fRe die Real-Komponente der schnellen Fourier-Transformierten an dem Wendepunkt und fIm die Imaginär-Komponente der schnellen Fourier-Transformierten an dem Wendepunkt der jedem Pixel zugeordneten T-t Antwortdaten ist.
  • Die Real-Komponente der FFT der T-t Antwortdaten ist eine "Resonanzfunktion" – welche in etwa wie eine "thermische Absorptions"-Funktion in dem Frequenzbereich arbeitet – deren Frequenzhalbwertsbreite an dem Wendepunkt direkt auf die charakteristische Zeit TC bezogen ist. In ähnlicher Weise ist die Imaginär-Komponente der FFT der T-t Antwortdaten eine "Spitzenfunktion" – welche in etwa wie eine "thermische Dispersion"-Funktion in dem Frequenzbereich wirkt -, deren Spitzenbereich fIm ebenfalls in Bezug zu der charakteristischen Zeit TC steht. Demzufolge wird die Lage des Wendepunktes in dem Frequenzbereich und somit die Ermittlung der charakteristischen Zeit entweder durch Identifizieren der Spitze der Ableitungsfunktion der Real-Komponente der FFT oder Identifizieren des Spitzenwertes der Imaginär-Komponente der FFT erhalten.
  • Gemäß Darstellung in 1 enthält die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung ein Bildgebungssystem, welches eine oder mehrere Hochleistungs-Blitzlampen, ausgestattet mit speziellen optischen Filtern, eine IR-empfindliche Fokalebenen-Array-Kamera zur Datenerfassung und einen Anzeigemonitor umfaßt. Ein Computersystem steuert das Bildgebungssystem, zeichnet die über die IR Kamera erfaßten Oberflächendaten auf und analysiert diese und liefert ein Farb- oder Grauskalen- codiertes Bild auf dem Anzeigemonitor, das genau der Dicke des Objektes entspricht.
  • Die Erfassung der Oberflächentemperaturdaten wird durch Zünden der Blitzlampen ausgelöst, um die Oberfläche des Objektes zu beleuchten. Spektral abgestimmte optische Filter werden dazu verwendet, um die gesamte 3–5 μm IR Strahlung zu absorbieren und/oder zurück in die Blitzlampen reflektieren. Dieses verhindert, daß unerwünschte langwellige IR "Nachglüh" Emissionen – welche typischerweise durch überhitzte metallische Elemente in den Blitzlampen erzeugt werden, nachdem die Lampen gelöscht sind – das Objektes oder die Kamera erreichen.
  • Eine vorbestimmte Anzahl von Bildrahmen wird dann über einer Zeitperiode aufgezeichnet, nachdem die Blitzlampen gezündet sind. Jeder aufgezeichnete Bildrahmen besteht aus einem m × m Array von Bildpixeln, deren Intensität mit der Oberflächentemperatur des Objektes zu dem Zeitpunkt, an dem die Rahmendaten erfaßt wurde, korreliert – wobei jedes Pixel eine (x, y) Lagenbezeichnung innerhalb des Bildrahmens besitzt, der einem speziellen Auflösungselement entspricht. Die aufgezeichneten IR Bilddaten werden dann zum Entwickeln eines Temperaturzeit (T-t) Verlaufs für jeden elementaren Bereich oder "Auflösungselement" über dem interessierenden Bereich der Objektoberfläche verwendet. Anschließend wird ein "Knie"-Punkt in der charakteristischen Kurve identifiziert, die von dem Verlauf von T-t Daten für jedes der Pixel erzeugt wird. Um die Daten für alle Pixel zu normieren, wird die T-t Datenkurve geklippt und wird dann unmittelbar dahinter konstant aufgefüllt, um einen kontinuierlichen "flachen" Kurvenabschnitt mit konstanten Temperaturwert gleich dem Kurvenwert an dem Klippunkt zu erzeugen.
  • Eine mathematische Ableitungskurve der Real-Komponente der FFT wird dann berechnet, um den Wendepunkt fRe der T-t Antwortdaten in dem Frequenzbereich zu identifizieren. Die Ableitungskurve kann beispielsweise unter Verwendung einer Dreipunkt-Datenabtastung mit einer Trennung des ersten und dritten Abtastpunktes, die proportional zu dem Wert des Bildrahmenelementes an dem zweiten Abtastpunkt in Beziehung steht, berechnet werden. Bevorzugt werden alle lokalen "Spitzen" in der Ableitungsberechnung identifiziert und gefiltert (beispielsweise kann eine Gewichtungspunktion verwendet werden, um die Signifikanz aller derartig lokalisierten Spitzen anzupassen, um am besten die tatsächliche Wendepunktfrequenz zu identifizieren). Zum Schluß werden die charakteristische Zeit TC und die Dicke L des Objektes an einer jedem Pixel entsprechenden Stelle quantitativ anhand von Gl. 1 und Gl. 3 ermittelt.
  • Alternativ kann die Spitze in der Imaginär-Komponente der FFT verwendet werden, um den Wendepunkt fIm der T-t Antwortdaten in dem Frequenzbereich zu identifizieren. In diesem Falle kann die Spitze leicht durch irgendein herkömmliches Berechnungsverfahren bestimmt werden. Die charakteristische Zeit Tc und die Dicke L des Objektes an einer jedem Pi xel entsprechenden Stelle werden quantitativ anhand der Gl. 1 und der Gl. 4 ermittelt.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Der Zweck und die durch die vorliegenden Erfindung gewonnenen Vorteile werden am besten durch ein sorgfältiges Studium der nachstehenden detaillierten Beschreibung der momentan bevorzugten Ausführungsform unter spezieller Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen verständlich.
  • 1 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel einer Anordnung eines transienten Infrarot Thermographiesystems zum Ermitteln und Darstellen der tatsächlichen Dicke eines Objektes gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 2 ist ein Flußdiagramm, welches den Ablauf der Erfassung der Infrarotbilddaten und der durch das System von 1 gemäß der vorliegenden Erfindung ausgeführten Analyse darstellt; und
  • 3 ist eine Darstellung eines Beispiels einer Bilddarstellung einer transienten IR Thermographie eines mehrschichtigen Objektes.
  • BESTE AUSFÜHRUNGSART DER ERFINDUNG
  • 1 stellt ein Beispiel eines transienten IR Thermographiesystems 10 zum Ermitteln und Darstellen der Dicke eines Objektes, wie z. B. einer Metallturbinenluftschaufel 1 mit absichtlichen Hohlräumen 4 dar. Für die Zwecke der nachstehenden Diskussion bezieht sich die "Dicke" eines Objektes auf eine Vorderwand oder Oberflächendicke im Zusammenhang eines hohlen oder halbhohlen Objektes (das heißt eines Objektes mit einem gewollten Hohlraum).
  • Gemäß Darstellung in 1 wird eine Blitzlampen-Wärmepulsquelle 11 verwendet, um rasch die Oberfläche des zu messenden Objektes zu erwärmen. Eine geeignete Anordnung für eine Blitzlampen-Wärmepulsquelle 11 wäre beispielsweise ein Satz von vier oder acht Hochgeschwindigkeits-Hochleistungs-Blitzlampen für Photographie, welche jeweils etwa 4,8 KJ Ausgangsleistung liefern können und jeweils eine eigene Stromversorgung besitzen (wie z. B. Blitzlampen, hergestellt von Speedotron Corp. in Chicago, II).
  • Da Metalle eine signifikant schnellere Wärmeleitungsgeschwindigkeit als Nichtmetalle besitzen, sind die charakteristischen Zeiten für den Wärmefluß in Metallen wesentlich schneller als beispielsweise diejenigen in Kunststoff oder Verbundmaterialien. Demzufolge ist bei dem Versuch der Anpassung der herkömmlichen IR Thermographie – welche normalerweise auch Nichtmetalle beschränkt ist – auf Metalle, ein steiles Abschalten in der aufgebrachten Wärme erforderlich. Um dieses zu erreichen, wird ein 3–5 μm Reflexionsfilter 18 (abdeckend) zwischen den Blitzlampen 11 und dem interessierenden Objekt 1 verwendet, um so zu verhindern, daß das Objekt Restwärme ausgesetzt wird, wenn die Blitzlampen nach der Belichtung abkühlen.
  • In der Praxis können ein oder mehrere Filter verwendet werden (z. B. eines pro Blitzlampe). Diese Filter dienen dazu, eine direkte langwellige Strahlung – die typischerweise durch das "Nachglühen" überhitzter metallischer Elemente in den Blitzlampen erzeugt wird – daran zu hindern, ständig die Blitzlampen zu verlassen und auf das Ziel aufzutreffen oder auf andere Weise in die Fokalebenen-Array-Kamera 13 reflektiert zu werden. Eine derartige primäre Nachglühstrahlung aus den Blitzlampen 11 konkurriert mit und kann sich mit den langwelligen IR-Emissionen aus dem Zielobjekt während der frühen Thermodatenerfassung überlagern, und somit die tatsächliche Ziel-erzeugte IR-Strahlung überdecken und letztlich Bildkontrast und -qualität verringern. Somit erzeugt die Verwendung dieser speziellen Filter einen ausreichend scharfen Wärmepuls, um die Detektion der kürzeren Wärmelaufzeit in dem Metall zu ermöglichen.
  • In der in 1 dargestellten Ausführungsform besteht ein Bitzlampenfilter 18 aus PyrexTM, geschmolzenem Quarz, BK7TM oder anderem optischen Material, das für sichtbares und UV-Licht transparent ist, und auf der der Blitzlampe zugewandten Seite mit einer Infrarot reflektierenden Beschichtung beschichtet ist, um die gesamte Strahlung in dem 3–5 μm Bereich zurück in die Blitzlampen zu reflektieren (Optisches Glas und beschichtete Filter können von einem Hersteller für allgemeine wissenschaftliche Optik und optisches Glas, wie z. B. Oriel in Stratford, CT bezogen oder speziell hergestellt werden).
  • Oberflächentemperaturmessungen eines mit einem Wärmepuls beleuchteten Objektes 1 werden unter Verwendung eines Infrarot (IR) empfindlichen Bildgebungssystems, bestehend aus einer IR empfindlichen Fokalebenen-Array-Kamera 13 (beispielsweise kann eine Radiance HS Infrarotkamera von Amber Engineering – a Raytheon Company – in Goleta, Ca bezogen werden), einer Steuerelektronik 14, einem Rahmendatenspeicher 15, einer Steuercomputer/Bildverarbeitungseinrichtung 16 und einem Anzeigemonitor 17 erfaßt.
  • Die Erfassung der thermischen Daten wird bevorzugt zum Zeitpunkt der Blitzlampenzündung, entweder durch optische Auslösung oder durch eine andere geeignete Einrichtung, gestartet. Die Blitzlampenzündung wird über eine herkömmliche Blitzlampenelektronik 14 gesteuert, welche von einer herkömmlichen Videorahmen-Erfassungssoftware verwaltet wird, die auf einem Systemcomputer 16 läuft (wie z. B. dem von dem ImageDeskTM Rahmenerfassungssystem von Amber Corp. bereitgestellten, oder durch andere herkömmlicher Rahmenerfassungs- und Blitzlampensteuerungssoftware, wie sie beispielsweise im Handel von Thermal Wave Imaging Inc. in Lathrup Village, MI erhältlich ist).
  • Die Systemsteuerungscomputer/Bildverarbeitungseinrichtung 16 ist ein speziell programmierter digitaler Allzweck-Computer, der zur Peripheriegerätesteuerung und für Kommunikationsfunktionen zusätzlich zu digitaler Bildverarbeitung und Darstellung in Abhängigkeit von dem Verfahren der vorliegenden Erfindung in der Lage ist. Der Systemcomputer 16 steuert die Kamera und Lampenelektronik 14 und die Rahmendatenerfassung 15, um eine vorbestimmte Anzahl von aufeinanderfolgender thermischen Bildrahmen der Objektoberfläche zu erfassen, welche im Speicher 15 für eine zukünftige Analyse gespeichert werden.
  • Bevorzugt wird die IR Kamera 13 vor dem Beginn des thermischen Bildgebungsprozesses unter Verwendung einer "Vollfeld" Doppelbildkalibrierungstechnik, wie sie nun beschrieben wird, kalibriert. Diese Kalibrierungstechnik verwendet im wesentlichen zwei "Schwarzkörper" (BB) Bildkalibrierungsreferenzen: (1) eine BB "Kalt"-Quelle unter Verwendung einer flachen schwarzen Platte auf Raumtemperatur und (2) eine BB "Heiß"-Quelle unter Verwendung einer erwärmten schwarzen, flachen Platte. Beispielsweise wird zum Erfassen der BB "Kalt"-Quellenkalibrierungsbildes ein die flache schwarze Platte bei Raumtemperatur enthaltender flacher schwarz gestrichener Kasten, die in einem Winkel von 45° zu dem Kameraobjektiv angeordnet ist, direkt vor dem Objektiv angeordnet. Zum Erfassen des BB "Heiß"-Quellenkalibrierungsbildes wird das Kameraobjektiv in denselben flachen schwarz gestrichenen Kasten nach dem Erwärmen der flachen schwarzen Platte – normalerweise auf etwa 10°C über der Umgebungstemperatur – so gerichtet, daß die Kamera die erwärmte Platte über ihr vollständiges Feld abbildet. Obwohl die vorstehend beschriebene Doppelbildkalibrierungstechnik bevorzugt wird, kann jede andere Kalibrierungstechnik, welche die Gleichmäßigkeit innerhalb des Bildfeldes maximiert, – was wichtig für eine Bildgebung mit hohem Kontrast und zum Erzielen einer verbesserten Genauigkeit ist- verwendet werden.
  • Jeder während des Abbildungsprozesses erfaßte Bildrahmen besteht aus N × N Pixeln – wobei jedes Pixel einem Auflösungselement auf der Objektoberfläche ent spricht – wobei N typischerweise entweder 128 oder 256, abhängig von der gewünschten Auflösung und Genauigkeit, ist. Jedes Pixel belegt etwa 2 Bytes an Speicherplatz und kann beispielsweise durch eine binäre Zahl von 12 Bit oder eine größere Binärzahl dargestellt werden. Die gespeicherte Bildrahmen werden sequentiell mit zunehmenden Rahmennummernwerten identifiziert, welche zusammengenommen dazu dienen, eine Verlaufsaufzeichnung der Temperatur über der Zeit (T-t Charakteristik der Vorderfläche des Objektes 1 für eine vorbestimmte Dauer nach dem Auftreffen des von der Blitzlampe 11 abgegebenen Wärmepulses zu erzeugen.
  • Während der Bewertung eines metallischen Objektes werden, nachdem der Steuercomputer 16 das Zünden der Blitzlampe(n) (11) auslöst, Bildrahmendaten von der Kamera 13 erfaßt und die IR Intensität bei jedem Auflösungselement auf dem Bild digital aufgezeichnet und im Rahmendatenrekorder 15 gespeichert. Die Datenerfassung setzt sich über eine vorbestimmte Anzahl von aufeinander folgenden Bildrahmen fort, die ausreichen, um eine sinnvolle T-t Verlauf über eine Dauer von wenigstens einer geschätzten "charakteristischen Zeit" für das Material des Objektes zu erfassen. Die Gesamtanzahl erfaßter Bildrahmen kann abhängig von der gewünschten Genauigkeit und Bildauflösung variieren und kann bis zu 550 Rahmen pro Sekunde der Datenerfassung betragen.
  • Der Rahmendatenrekorder 15 kann ein herkömmlicher digitaler Speicher innerhalb des Prozessors 16 oder irgendein geeignetes Videorahmendaten-Speichergerät sein, auf das der Prozessor 16 zugreifen kann. Jedem erfaßten aufeinanderfolgenden thermischen Bildrahmen wird eine Rahmennummer Z mit zunehmendem Wert zugewiesen, welcher dem realen Zeitverlauf entspricht. Der sich ergebende Datenrahmen-"Stapel" wird dann unter Verwendung eines Lösungswegs einer eindimensionalen Wärmeflußanalyse, wie vorstehend skizziert analysiert. Gemäß diesem Lösungsweg nutzt das Verfahren der vorliegenden Erfindung den Vorteil einer bekannten thermischen Invarianzeigenschaft – verdeutlicht in dem Temperatur/Zeit (T-t) Verlauf jedes Bildpixels über aufeinanderfolgenden IR Bildrahmen – die auf einer Identifikation der Lage eines "Wendepunktes" oder eines Spitzensteigungspunktes, das heißt des Zeitpunktes der maximalen Steigung der T-t Datenkurve, beruht.
  • Unter Bezugnahme auf 2 wird nun ein Flußdiagramm dargestellt, das beispielhafte Verarbeitungsschritte zur Durchführung einer transienten IR Thermogra phie unter Verwendung von thermischen Reaktionsbildgebungstechniken der vorliegenden Erfindung darstellt. Diese Schritte können beispielsweise durch geeignetes Programmieren eines Computers 16 (1) unter Verwendung bekannter herkömmlicher Programmiersprachen/Techniken implementiert werden.
  • Zu Beginn wird gemäß Darstellung bei dem Block 20 ein interessierender Bereich des Objektes 1 identifiziert (das heißt, die IR Kamera wird fokussiert, um den interessierenden Bereich zu erfassen) und ein Systembediener wählt Information bezüglich der relevanten Parameter zur Überprüfung des Objektes, wie z. B. einen thermischen Diffusionskoeffizienten für das Objekt aus und gibt diesen ein. Anschließend weist gemäß Darstellung beim Block 20 in 2 der Systemsteuercomputer die Blitzlampenelektronik an, die Blitzlampen 11 zu zünden und die Bildrahmendatenerfassung aus der Fokalebenen-Array-Kamera 13 zu starten. Die Datenerfassung schreitet über eine vorbestimmte Anzahl aufeinanderfolgender Bildrahmen fort und dann wird, wie bei 21 dargestellt, die Bildfolge im Rahmenspeicher 15 gespeichert, nachdem jeder erfaßte Bilddatenrahmen mit einer aufeinanderfolgenden Rahmennummer Z identifiziert ist.
  • Anschließend werden, wie es bei 22 dargestellt ist, die thermischen Daten für jedes Pixel in dem thermischen Bild, das jeder Auflösungselementlage über dem interessierenden Bereich auf der Oberfläche des Objektes für alle von den aufeinander folgenden Rahmen entspricht, identifiziert. Ein Pixel wird dann, wie es bei 23 dargestellt ist, zur Bewertung ausgewählt. Anschließend werden, wie es bei 24 dargestellt ist, T-t Kurvendaten für jedes Pixel unter Verwendung der Rahmennummer als temporäre Ordinate entwickelt. Ferner wird eine Zeit (Rahmennummer) des anfänglichen IR Erwärmungs"Blitzes" identifiziert und als ein erster ungesättigter Datenrahmen identifiziert.
  • Anschließend wird, wie es bei 25 dargestellt ist, ein "Knie"-Abschnitt in jeder charakteristischen T-t Datenkurve für jedes von den Pixeln identifiziert. Die T-t Datenkurve jedes Pixels wird dann geklippt und konstant unmittelbar hinter diesem "Knieabschnitt" ausgefüllt, um einen kontinuierlichen "flachen" Kurvenabschnitt mit einem konstanten Temperaturwert gleich dem T-t Datenwert an dem Klipp-Punkt zu erzeugen. Bevorzugt wird ein Daten-Klipp-Punkt TCpt gewählt, der etwas größer als der Bereich von Zeitwerten ist, welche normalerweise dem Knieabschnitt der Kurve entsprechen und wenigstens etwas größer als eine Zeit t = L22α. Der genaue Wert oder Zeitpunkt des ausgewählten Klipp-Punktes TCpt ist nicht kritisch, jedoch beeinflußt dessen Auswahl die endgültige Qualität der erzeugten Bilder. Demzufolge wird die Auswahl eines geeigneten Klipp-Punktes an besten durch einen empirischen Vergleich von Bildern festgelegt, die unter Verwendung einer Vielzahl von nahegelegenen Klipp-Punkten entwickelt wurden, die aus einem Bereich entlang der charakteristischen T-t Datenkurve in der Nähe des Endes des identifizierten Knieabschnittes ausgewählt wurden, jedoch wenigstens ein Wert größer als eine Zeit t = L22α. Zusätzlich wird zur Normierung der Daten für alle Pixel in dem Bild die T-t Kurve für jedes Pixel um einen ausgewählten Vorspann so verschoben, daß der den konstanten Temperaturwert entsprechende "flache" Abschnitt gleich Null ist.
  • Anschließend wird, wie es bei 26 dargestellt ist, eine schnelle Fourier-Transformation (FFT) an den normierten Kurvendaten durchgeführt und es kann dann entweder der Real- oder Imaginär-Komponententeil der sich ergebenden Transformationsdaten analysiert werden, um den Wendepunkt in dem Frequenzbereich zu identifizieren. Wenn der Real-Komponententeil verwendet wird, wie es bei den Blöcken 27 und 28 dargestellt ist, wird zuerst eine mathematische Ableitung der Real-Komponente der FFT ermittelt. Zum Berechnen der Ableitungsdaten kann ein Intervall mit variabler Breitenbasis verwendet werden. Beispielsweise wird für jeden ausgewählten Punkt entlang der Real-Komponentendatenkurve das Basisintervall zum Berechnen der Ableitung proportional zu der Quadratwurzel der IR-Bildrahmennummer Z gemacht.
  • Anschließend werden bei dem Schritt 28 alle lokalen Spitzen in der Ableitungskurve identifiziert und ein Signifikanz/Gewichtungs-Filter verwendet, um die geeignete Spitze zur Interpretation als den Wendepunkt zu bewerten. Beispielsweise kann eine Liste aller Spitzenrahmen und Amplituden in dem Computerspeicher aufbewahrt werden. Durch Anwenden einer vorbestimmten, geeigneten Gewichtungsfunktion auf diese Liste ist es möglich, die Signifikanz jeder lokalen Spitze so einzustellen, daß beispielsweise Störungseffekte, welche früh in der Datenerfassungszeit auftreten, effektiv vernachlässigt werden können. Die Spitzen werden dann nach abnehmender Signifikanz/Gewicht sortiert und die Spitze mit dem größten Gewichtungswert (d.h., die signifikanteste) wird als eine Anzeige des Wendepunktes ausgewählt. Wie es bei dem Schritt 30 dargestellt ist, wird die Frequenz fRe an dieser Spitze dann verwendet, um quantitativ die charakteristische Zeit TC und die Dicke L des Objektes an einer jedem Pixel entsprechenden Stelle anhand der (vorstehenden) Gl. 1 und Gl. 3 zu ermitteln.
  • Alternativ kann anstelle der Schritte 27 und 28 eine Spitze in dem Imaginär-Komponentenabschnitt der FFT der T-t Antwortdaten ebenfalls verwendet werden, um den Wendepunkt in dem Frequenzbereich zu identifizieren, wie es bei dem Schritt 29 dargestellt ist. In diesem Falle kann die Spitze in der Imaginär-Komponente mittels normaler herkömmlicher Berechnungsmethoden erfaßt werden. Wie es bei dem Schritt 30 dargestellt ist, wird die Frequenz fIm an dieser Spitze dann verwendet zum Ermitteln der charakteristischen Zeit Tc und der Dicke L des Objektes an einer jedem Pixel entsprechenden Stelle anhand der (vorstehenden) Gl. 1 und Gl. 4.
  • Zum Schluß wird bei dem Schritt 31 der berechnete Dickenwert L im Speicher gespeichert und zum Aufbau eines einer spezifischen Dicke entsprechenden Farbzuordnungs- oder Grauskalen-Bildes des interessierenden Bereiches auf der Objektoberfläche zum Anzeigen oder Drucken verwendet – wobei jede Farbe oder Grauschattierung einer speziellen Dicke entspricht. Das nächste Pixel wird dann gemäß Darstellung durch den Pfeil zu dem Schritt 23 hin ausgewählt und die vorstehenden Schritte werden für jedes das IR Bild umfassende wiederholt. Durch Durchführen einer transienten thermographischen Analyse unter Verwendung der vorstehend beschriebenen Schritte für die thermische Datenerfassung und Analyse in Verbindung mit der vorstehend beschriebenen Vorrichtung können Wanddickenwerte genau, sogar für nah beabstandete Rückwand- oder Innenstrukturen, die einen Teil des geprüften Objekt bilden oder damit verbunden sind, erhalten werden – wie zum Beispiel bei den rippenartigen Strukturen, die man oft in Turbinenluftschaufeln wie der in 1 dargestellten findet. Falls gewünscht, kann die Eingabe und Ausgabe verschiedener Parameterwerte, wie z. B. der Diffusionskonstante, des Datenanalysestartpunktes und des Farbzuordnungsbereiches ebenfalls mittels herkömmlicher Programmierung des Systemsteuercomputers automatisiert werden.
  • Bezugnehmend auf 3 wird nun zum Schluß eine Darstellung eines Anzeigebildes einer transienten IR Thermographie für einen mehrschichtigen Objektblock gezeigt. Der in 3 dargestellte Objektblock 32 weist sechs quadratische Abschnit te unterschiedlicher Dicke auf. Die Dicke von jedem der sechs Abschnitte wird durch eine unterschiedliche Farbe oder Grautonschattierung in dem erzeugten Bild (hier als unterschiedliche Kreuzschattierungen) angezeigt, welche einer entsprechenden Farbe oder Schattierung in einer rechts auf dem Bild dargestellten Balkendickenskala entsprechen. In diesem Beispiel enthält die Balkenskala Anzeigen für Dicken, welche von 0,013 bis 0,056 inches reichen, wobei jedoch der Fachmann auf diesem Gebiet erkennen wird, daß eine dargestellte Balkenskala mit einem anderen Bereich von Dickenwerten ebenfalls in der vorliegenden Erfindung implementiert werden könnte.
  • Obwohl die Erfindung in Verbindung mit dem beschrieben wurde, was derzeit für die praktischste und bevorzugteste Ausführungsform gehalten wird, dürfte es sich verstehen, daß die Erfindung nicht auf die offenbarte Ausführungsform beschränkt ist, sondern im Gegenteil verschiedene Modifikationen und äquivalente Anordnungen gemäß Definition durch den Schutzumfang der beigefügten Ansprüche mit abdecken soll.

Claims (10)

  1. Verfahren zum Ermitteln einer Dicke von einem Objekt mit einer Oberfläche, die als ein Feld von Pixeln sichtbar gemacht werden kann, enthaltend die Schritte: a) Erwärmen der Oberfläche von einem Objekt, b) Aufzeichnen der Pixelintensität in einer Folge von IR Bildern, wobei jedem Bild eine aufeinanderfolgende Rahmenzahl zugeordnet wird, die mit der vergangenen Zeit seit der Erwärmung der Objektoberfläche in Schritt (a) in Beziehung steht, c) Entwickeln von Temperatur/Zeit (T-t) Daten, die einem Pixel in der Folge von Bildrahmen auf der Basis des Rahmenzahlwertes entsprechen, d) Transformieren der T-t Daten, die im Schritt (c) entwickelt sind, in komplexe Frequenzbereichs-Daten, die reale und imaginäre Komponenten haben, und e) Ermitteln eines Dickenwertes für einen Punkt auf dem Objekt entsprechend einem Pixel auf der Basis von wenigstens den komplexen Frequenzbereichs-Daten und einer charakteristischen Wärmeflusspuls-Migratuionszeit für das Objekt.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Objekt unter Verwendung einer Blitzlampenvorrichtung erwärmt wird.
  3. Transientes thermographisches IR Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Entwickelns von Temperatur/Zeit (T-t) Daten, die einem Pixel entsprechen, ferner den Schritt enthält, dass die T-t Daten normiert werden durch: i) Identifizieren eines Knieabschnittes in den T-t Daten und Wählen eine Daten-Klipp-Zeitpunktes, der grösser als ein Bereich von Zeitpunkten ist, der dem Knieabschnitt entspricht, ii) Klippen der T-t Daten an dem Daten-Klipp-Punkt, der im Schritt (i) identifiziert ist, und konstantes Füllen der T-t Daten für Zeitwerte, die grösser als der Daten-Klipp-Punkt sind, mit T-t Datenwerten, die gleich einem Temperaturwert an dem Daten-Klipp-Punkt ist, und iii) Versetzen der T-t Daten um einen Vorspannwert derart, dass die T-t Daten für Zeitwerte, die grösser als der Daten-Klipp-Punkt sind, gleich Null sind.
  4. Transientes Infrarot (IR)-Thermographie-Verfahren zum Ermitteln einer Dicke von einem Objekt unter Verwendung einer IR-empfindlichen Fokalebenen-Array-Kamera, enthaltend die Schritte: a) Gewinnen von Pixelintensitätsdaten aus einer Folge von IR Bildrahmen des Objektes, wobei jeder Bildrahmen mehrere Pixel aufweist und eine zugeordnete sequentielle Rahmenzahl hat, die mit der verbrauchten Zeit in Beziehung steht, b) Entwickeln von Temperatur/Zeit (T-t) Daten entsprechend einem Pixel aus Pixelintensitätsdaten, die im Schritt (a) gewonnen werden, auf der Basis des Rahmenzahlwertes für eine Folge von Bildrahmen, c) Ausführen einer Schnellen Fourier-Transformation an den Temperatur/Zeitdaten, die im Schritt (b) entwickelt werden, um Frequenzbereichs-Daten zu erzeugen, die reale und imaginäre Komponenten haben, d) Ermitteln von Ableitungsdaten eines realen Komponentenabschnittes der Frequenzbereichsdaten, die im Schritt (c) erhalten werden, e) Identifizieren eines Frequenz-Spitzenwertes fRe in den Ableitungsdaten und f) Ermitteln eines Dickenwertes L auf der Basis des im Schritt (e) ermittelten Frequenz-Spitzenwertes fRe.
  5. Transientes Infrarot (IR)-Thermographie-Verfahren nach Anspruch 4, wobei ein Dickenwert L aus einem quantitativen Wert für fm gemäss der folgenden Beziehung ermittelt wird: (L22α)fm = 0.093wobei L die Dicke (cm) von dem Objekt ist und α das thermische Diffusionsvermögen (cm2/sek.) von dem Material ist.
  6. Transientes Infrarot (IR)-Thermographie-Verfahren nach Anspruch 4, wobei ein Dickenwert L aus einem quantitativen Wert für fRe gemäss den folgenden Beziehungen ermittelt wird: Tc = 4L22α und TcfRe = 0,372wobei Tc ein charakteristischer Wärmeflusspuls-Migrationszeitwert für das Objekt ist und α das thermische Diffusionsvermögen des Objektes ist.
  7. Transientes Infrarot (IR)-Thermographie-Verfahren zum Ermitteln einer Dicke von einem Objekt unter Verwendung einer IR-empfindlichen Fokalebenen-Array-Kamera, enthaltend die Schritte: a) Gewinnen von Pixelintensitätsdaten aus einer Folge von IR Bildrahmen des Objektes, wobei jeder Bildrahmen mehrere Pixel aufweist und eine zugeordnete sequentielle Rahmenzahl hat, die mit der verbrauchten Zeit in Beziehung steht, b) Entwickeln von Temperatur/Zeit (T-t) Daten entsprechend einem Pixel aus Pixelintensitätsdaten, die im Schritt (a) gewonnen werden, auf der Basis des Rahmenzahlwertes für eine Folge von Bildrahmen, c) Ausführen einer Schnellen Fourier-Transformation an den Temperatur/Zeitdaten, die im Schritt (b) entwickelt werden, um Frequenzbereichs-Daten zu erzeugen, die reale und imaginäre Komponenten haben, d) Ermitteln eines Frequenz-Spitzenwertes fm von einem imaginären Komponentenabschnitt der im Schritt (c) erhaltenen Frequenzbereichs-Daten und f) Ermitteln eines Dickenwertes L auf der Basis des Frequenz-Spitzenwertes fm, der im Schritt (d) identifiziert wird.
  8. Transientes Infrarot (IR)-Thermographie-Verfahren nach Anspruch 7, wobei ein Dickenwert L aus einem quantitativen Wert für fm gemäss der folgenden Beziehung ermittelt wird: (L22α) fIm = 0.187wobei L die Dicke (cm) von dem Objekt ist und α das thermische Diffusionsvermögen (cm2/sek.) von dem Material ist.
  9. Transientes Infrarot (IR)-Thermographie-Verfahren nach Anspruch 7, wobei ein Dickenwert L aus einem quantitativen Wert für fRe gemäss den folgenden Beziehungen ermittelt wird: Tc = 4L22α und TcfIm = 0,748wobei Tc ein charakteristischer Wärmeflusspuls-Migrationszeitwert für das Objekt ist und α das thermische Diffusionsvermögen des Objektes ist.
  10. Einrichtung (10) zum Ermitteln einer Dicke von einem Objekt mit einer Oberfläche, die als ein Feld von Pixeln sichtbar gemacht werden kann, enthaltend: eine Wärmequelle (11) zum Erwärmen der Oberfläche von einem Objekt, eine Einrichtung (13) zum Aufzeichnen der Pixelintensität in einer Folge von IR Bildern, eine Einrichtung zum Ermitteln von Temperatur/Zeit-Daten aus aufgezeichneter Pixelintensität auf der Basis eines Rahmenzahlwertes, der einem IR Bild zugeordnet ist, eine Einrichtung (16) zum Transformieren der Temperatur/Zeit-Daten in komplexe Frequenzbereichs-Daten und eine Einrichtung (16) zum Ermitteln einer Dicke von einem Objekt auf der Basis der komplexen Frequenzbereichs-Daten und einer transienten thermischen charakteristischen Pulszeit für das Objekt.
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Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7690840B2 (en) * 1999-12-22 2010-04-06 Siemens Energy, Inc. Method and apparatus for measuring on-line failure of turbine thermal barrier coatings
US6517238B2 (en) * 2001-01-18 2003-02-11 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Thermal imaging measurement of lateral diffusivity and non-invasive material defect detection
EP1262765A1 (de) * 2001-05-28 2002-12-04 Solectron GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von defekten Leiterplattenrohlingen
US6712502B2 (en) * 2002-04-10 2004-03-30 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Synchronized electronic shutter system and method for thermal nondestructive evaluation
US20050018748A1 (en) * 2003-07-24 2005-01-27 Ringermacher Harry Israel Actively quenched lamp, infrared thermography imaging system, and method for actively controlling flash duration
AU2003279935A1 (en) * 2003-08-29 2005-04-14 Nielsen Media Research, Inc. Methods and apparatus for embedding and recovering an image for use with video content
US7419298B2 (en) 2005-05-24 2008-09-02 United Technologies Corporation Thermal imaging method and apparatus
US7388204B2 (en) * 2005-12-07 2008-06-17 Meyer Tool, Inc. Apparatus and method for analyzing relative outward flow characterizations of fabricated features
FR2895688B1 (fr) * 2005-12-30 2010-08-27 Pellenc Selective Technologies Procede et machine automatiques d'inspection et de tri d'objets non metalliques
US7432505B2 (en) * 2006-05-04 2008-10-07 Siemens Power Generation, Inc. Infrared-based method and apparatus for online detection of cracks in steam turbine components
US7671338B2 (en) * 2006-06-14 2010-03-02 Meyer Tool, Inc. Apparatus and method for analyzing relative outward flow characterizations of fabricated features
DE102006043339B4 (de) * 2006-09-15 2010-11-11 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Bauteilwandstärken mittels Thermographie
DE102006044443A1 (de) * 2006-09-21 2008-04-03 Robert Bosch Gmbh Automatische Erkennung von Beschichtungsfehlern
GB2442744B (en) * 2006-10-12 2009-07-08 Rolls Royce Plc A test apparatus and method
US7516663B2 (en) * 2006-11-03 2009-04-14 General Electric Company Systems and method for locating failure events in samples under load
US7549789B2 (en) * 2007-06-20 2009-06-23 General Electric Company Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object
US8393784B2 (en) * 2008-03-31 2013-03-12 General Electric Company Characterization of flaws in composites identified by thermography
US8629400B2 (en) 2008-12-16 2014-01-14 Sabanci Universitesi 3D scanner
US8577120B1 (en) 2009-11-05 2013-11-05 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Methods and systems for characterization of an anomaly using infrared flash thermography
US9066028B1 (en) 2010-01-08 2015-06-23 The United States Of America As Represented By The Administator Of The National Aeronautics And Space Administration Methods and systems for measurement and estimation of normalized contrast in infrared thermography
DE102010020874B4 (de) * 2010-05-18 2014-04-03 Dcg Systems, Inc. Verfahren zur Messzeitreduktion bei der thermografischen Prüfung eines Bauteils
US8692887B2 (en) * 2010-08-27 2014-04-08 General Electric Company Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings
US9007466B2 (en) * 2011-04-27 2015-04-14 General Electric Company System and method for thermographic inspection
EP2828834B1 (de) * 2012-03-19 2019-11-06 Fittingbox Modell und verfahren zur herstellung fotorealistischer 3d-modelle
US10343211B2 (en) 2016-08-25 2019-07-09 Honda Motor Co., Ltd. Thermal camera system for die-cast machine
CN110741136B (zh) * 2017-06-20 2022-04-12 西门子能源全球两合公司 暴露至使用中的腐蚀损伤的动力涡轮盘的寿命延长
KR101877480B1 (ko) 2017-11-24 2018-08-07 한국과학기술원 도막 두께 분포 시각화 방법 및 이를 위한 능동형 열화상 장치
JP7308577B2 (ja) * 2020-06-01 2023-07-14 ヤマハロボティクスホールディングス株式会社 音響式不良検出装置及び不良検出方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4854724A (en) 1984-07-09 1989-08-08 Lockheed Corporation Method of and apparatus for thermographic evaluation of spot welds
GB8431928D0 (en) 1984-12-18 1985-01-30 Stevenson G M Non-destructively testing heat shrinkable sleeves
JPS62172249A (ja) 1986-01-25 1987-07-29 Kajima Corp 煙突の劣化診断方法及び装置
US4792683A (en) 1987-01-16 1988-12-20 Hughes Aircraft Company Thermal technique for simultaneous testing of circuit board solder joints
US4872762A (en) 1987-08-25 1989-10-10 Nkk Corporation Method and apparatus for detecting defective portion on inner surface of pipe
GB8813423D0 (en) 1988-06-07 1988-07-13 Atomic Energy Authority Uk Coating inspection
US5032727A (en) 1990-09-14 1991-07-16 Digital Equipment Corporation Product defect detection using thermal ratio analysis
US5250809A (en) 1992-01-24 1993-10-05 Shuji Nakata Method and device for checking joint of electronic component
US5201582A (en) * 1992-05-15 1993-04-13 Stress Photonics, Inc. Differential temperature stress measurement employing array sensor with local offset
US5246291A (en) 1992-06-01 1993-09-21 Motorola, Inc. Bond inspection technique for a semiconductor chip
US5292195A (en) 1992-09-09 1994-03-08 Martin Marietta Corporation Thermographic evaluation technique
US5376793A (en) 1993-09-15 1994-12-27 Stress Photonics, Inc. Forced-diffusion thermal imaging apparatus and method
US5539656A (en) 1994-10-11 1996-07-23 United Technologies Corporation Crack monitoring apparatus
US5683181A (en) 1995-05-12 1997-11-04 Thermal Wave Imaging, Inc. Method and apparatus for enhancing thermal wave imaging of reflective low-emissivity solids
US5631465A (en) 1996-02-29 1997-05-20 Shepard; Steven M. Method of interpreting thermographic data for non-destructive evaluation
WO1998005921A1 (de) 1996-07-31 1998-02-12 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur wanddickenbestimmung an einer turbinenschaufel und vorrichtung zur durchführung des verfahrens
WO1998005949A1 (de) 1996-07-31 1998-02-12 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und vorrichtung zur delaminationsprüfung bei beschichtungen auf substraten, insbesondere bei vps-beschichtungen auf gasturbinenschaufeln
US5711603A (en) 1996-10-30 1998-01-27 United Technologies Corporation Nondestructive testing: transient depth thermography
JPH10274675A (ja) 1997-03-31 1998-10-13 Shimadzu Corp 放射線検出器

Also Published As

Publication number Publication date
TR200200140T2 (tr) 2002-06-21
BR0012644A (pt) 2002-04-09
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US6367968B1 (en) 2002-04-09
EP1203199A1 (de) 2002-05-08
JP2003505683A (ja) 2003-02-12
TW463047B (en) 2001-11-11
KR20020035105A (ko) 2002-05-09
KR100697477B1 (ko) 2007-03-20
EP1203199B1 (de) 2004-11-03
WO2001007867A1 (en) 2001-02-01

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Flath et al. Thermal-wave methods for nondestructive inspection and process control

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