DE480832T1 - Optische verfahren und vorrichtung fuer hochakkurate topographie. - Google Patents
Optische verfahren und vorrichtung fuer hochakkurate topographie.Info
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Claims (33)
1. Verfahren zur Bestimmung von räumlichen Koordinaten von
Punkten (A) unter Verwendung einer optischen Vorrichtung, die einerseits durch eine optische Anordnung, bestehend
aus einer gepulsten Laserquelle (14) und einem für die von der genannten Laserquelle (14) ausgesandten Strahlung
empfindlichen Detektor (16), und andererseits durch Reflektoren (10) gebildet ist, bei dem die Laufzeit (^t1)
der von der Laserquelle (14) ausgesandten, von einem Reflektor (10) reflektierten und von dem Detektor (16)
detektierten Impulse gemessen wird, um Relationen zwischen den genannten räumlichen Koordinaten zu
bestimmen, dadurch gekennzeichnet, daß die von der Laserquelle (14) ausgesandte Laserstrahlung aufgeweitet wird,
um den Strahlwinkel zu vergrößern, und daß die von den Reflektoren (10) reflektierte Strahlung unter einem
großen Blickwinkel empfangen wird, um sie auf den Detektor (16) weiterzuleiten.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlwinkel (8) der ausgesandten divergenten Laserstrahlung
am Scheitel einen Halbwinkel (&agr;) zwischen 5° und 35° aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß vorab die angenäherten räumlichen Koordinaten der
optischen Anordnung mit einem Hilfs-Navigationssystem,
wie einem radio-elektrischen System (6, 40, 42) bestimmt werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil des von der Laserquelle (14)
ausgesandten Laserimpulses vor dessen Aufweitung abgenommen und auf den Detektor (16) als Referenzzeitpunkt
(t0) für die Laufdauer geleitet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal des Detektors
. (16)/ das der vom Detektor (16) empfangenen Lichtintensität
entspricht, verstärkt und daß das verstärkte .&phgr; Signal numerisch abgetastet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die numerische Abtastfrequenz des verstärkten Ausgangssignals
des Detektors (16) über 1 GHz liegt.
7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein Anteil des von der Laserquelle (14) ausgesandten
Laserimpulses vor dessen Aufweitung abgezweigt und auf den Detektor (16) als Referenzzeitpunkt (to) für die Laufzeit
geleitet wird, daß das verstärkte und abgetastete Ausgangssignal des Detektors (16) ausgewertet wird, um
die zu einer Reflektion des Laserimpulses an einem Reflektor (10) gehörenden Peaks (P1) des genannten
Ausgangssignals zu ermitteln und um die zu den Zeit-Intervallen (ti-t0) zwischen dem genannten Referenzzeitpunkt
(to) für die Laufzeit und dem Zeitpunkt (t£) des
Auftretens der genannten Peaks (P1) gehörenden Laufzeiten
(At1) zu bestimmen, und daß eine Wertegesamtheit, die den
genannten Laufzeiten (At1) entspricht, in einem Speicher
(66) abgespeichert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Auswertungsschritt für das verstärkte und abgetastete
Signal und der Schritt der Abspeicherung in dem 0 Speicher (66) während des zwei nacheinander folgende
Aussendungen von Impulsen durch die Laserquelle (14) ";, trennenden Zeitintervalls vorgenommen werden.
9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt der Auswertung des verstärkten und abgetasteten
Signals eine Validierungsschritt für die Peaks (P1) des verstärkten und abgetasteten Ausgangssignals
enthält, um Peaks mit einer zeitlichen Breite zu eliminieren, die einen in Abhängigkeit von der Zeitdauer
der von der Laserquelle (14) ausgesandten Impulse bestimmten Grenzwert überschreiten.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Anordnung (13) an Bord
eines Luftfahrzeugs (2) installiert ist.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß jeder Reflektor (10) an einer im Boden (4) verankerten Struktur (46) befestigt ist.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die gemessenen Laufzeiten (&tL) der
Laserimpulse benutzt werden, um die räumlichen Koordinaten von Punkten (A), an denen die Reflektoren (10)
angeordnet sind, präzise zu bestimmen.
13. Anwendung des Verfahrens nach Anspruch 12 für die hochpräzise Topografie, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reflektoren (10) in der Nähe einer Entnahmezone für geologische Resourcen installiert sind und daß die
festgestellten räumlichen Koordinaten von über die genannte Zone verteilten Punkten (A) Informationen über
Absenkungen in der genannten Zone liefern.
14. System zur Bestimmung von räumlichen Koordinaten von Punkten nach dem Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis
12, mit einer optischen Anordnung (13), die eine gepulste Laserquelle (14) und einen für die von der Laserquelle
(14) ausgesandte Strahlung empfindlichen Detektor (16) aufweist, und mit Reflektoren (10) und Mitteln (34, 36,
68) zur Behandlung des Ausgangssignals des Detektors (16), dadurch gekennzeichnet, daß die optische Anordnung
(13) unter anderem eine optische AufWeitungseinrichtung
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(26, 28) zur Aufweitung der von der Laserquelle ausgesandten Strahlung und einen Lichtsammler mit einem großen
Bildwinkel (30) aufweist, der vor dem Detektor (16) angeordnet ist, um diesem die mit großem Blickwinkel aufge-5
nommene Strahlung weiterzuleiten.
15. System nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Aufweitungseinrichtung (26, 28) wenigstens eine
plankonkave Linse (26, 28) aufweist.
16. System nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Aufweitungseinrichtung (26, 28) einen
Strahl mit einem vergrößerten Strahlwinkel (8) produziert, der am Scheitel einen Halbwinkel (&agr;) zwischen
5° und 35° aufweist.
17. System nach einem der Ansprüche 14 bis 16, dadurch
gekennzeichnet, daß die Laserquelle (14) Impulse mit einer Dauer von unter 50 ns aussendet.
18. System nach einem der Ansprüche 14 bis 17, dadurch
gekennzeichnet, daß der Lichtsammler (30) mit einem großen Bildwinkel eine sphärische Linse (30) aufweist.
19. System nach einem der Ansprüche 14 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor (16) eine PIN-Photodiode
(16) aufweist.
20. System nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die PIN-Photodiode (16) eine empfindliche Oberfläche (17) mit
einer Größe von über 10 mm2 aufweist.
21. System nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die empfindliche Oberfläche (17) des Detektors (16) im
wesentlichen tangential zur sphärischen Vokalebene (C) der sphärischen Linse (30) angeordnet ist.
22. System nach einem der Ansprüche 14 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Anordnung (13) unter
anderem einen dielektrischen Spiegel (22) aufweist, der die von der Laserquelle (14) ausgesandte Strahlung auf
die optische Aufweitungseinrichtung (26, 28) und auf ein optisches Fasersegment leitet, das sich zwischen der
rückseitigen Fläche des dielektrischen Spiegels (22) und dem Detektor (16) erstreckt, um ein Teil der von der
Laserquelle (14) ausgesandten Strahlung abzuzweigen und auf den Detektor (16) zu leiten, wobei der genannte Teil
dem Transmissionsverlust des dielektrischen Spiegels (22) entnommen wird.
23. System nach einem der Ansprüche 14 bis 22, dadurch
gekennzeichnet, daß die optische Anordnung (13) an Bord eines Luftfahrzeugs (2) angeordnet ist.
24. System nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß es ferner eine Einrichtung zur ungefähren Errechnung der
räumlichen Koordinaten des Luftfahrzeugs (2) aufweist, wie beispielsweise ein radio-elektrisches Navigationssystem (6, 40, 42).
25. System nach einem der Ansprüche 14 bis 24, dadurch
gekennzeichnet, daß jeder Reflektor (10) ein Reflektor vom Typ eines kubischen Keils ist, dessen Scheitelpunkt
einen Punkt (A) definiert, dessen räumliche Koordinaten bestimmt werden.
26. System nach einem der Ansprüche 14 bis 25, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Reflektor (10) an einer im
Boden (4) verankerten Struktur (46) befestigt ist.
27. System nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß die
im Boden (4) verankerte Struktur (46) einen im wesentlichen vertikalen Pfeiler (52) aufweist, auf dessen
Spitze der Reflektor (10) angeordnet ist.
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28. System nach Anspruch 26 oder 27, dadurch gekennzeichnet, daß eine Fensterscheibe (54) mit parallelen Flächen über
jedem Reflektor (10) angeordnet ist und daß die Fensterscheibe (54) gegenüber einer horizontalen Ebene (Ph)
f) geneigt ist.
29. System nach einem der Ansprüche 14 bis 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungseinrichtung für die
Ausgangssignale des Detektors (16) einen Verstärker (34),
LO eine numerische Abtasteinrichtung (36), die das durch den Verstärker (34) verstärkte Signal abtastet und in Daten
eines Histogramms, die in einem Pufferspeicher (37) abgespeichert werden, umwandelt, und einen Mikroprozessor
(68) aufweist, der die im Pufferspeicher (37) abge-
L5 speicherten Daten des Histogramms ausliest, eine Berechnung der Laufzeit (^t1) reflektierten Impulse
vornimmt und in einen Speicher (66) eine Gesamtheit von Werten ablegt, die den genannten Laufzeiten (At1)
entsprechen.
30. System nach Anspruch 29 dadurch gekennzeichnet, daß der Verstärker (34) ein Durchlaßband aufweist, dessen obere
Bandgrenze unterhalb von 50 MHz liegt.
31. System nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die PIN-Photodiode (16) mit einer inversen Polarität aus
einer elektrischen Versorgung (62) gespeist wird und daß ein Belastungswiderstand (64) parallel zu dem Schaltungszweig angeordnet ist, der die Versorgung (62) und die
PIN-Photodiode (16) aufweist.
- 32. System nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, daß der
numerische Abtaster (36) eine Abtastfrequenz von über 1 GHz aufweist.
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:5
33. Optische Anordnung (13) zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 12 mit einer Laserquelle
(14) und einem für die Strahlung der genannten Laserquelle (14) empfindlichen Detektor (16), dadurch gekennzeichnet,
daß sie ferner eine optische Aufweitungseinrichtung (26, 28) zur Aufweitung der von der Laserquelle
(24) emittierten Strahlung und einen Lichtsammler (30)
mit einem großen Bildfeld aufweist, der vor dem Detektor (16) angeordnet ist und auf diese mit dem großen Bildfeld
empfangene Strahlung weiterleitet.
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