DE4442636C2 - System und Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf das Testen elektronischer Schaltungsplatinen und insbesondere bezieht sich diese Er­ findung auf ein System und ein Ver­ fahren zum Steuern des Zugriffs auf eine Schaltungsplati­ nen-Testvorrichtung.

Im allgemeinen besteht eine gegebene Schaltungsplatine aus zahlreichen miteinander verbundenen Halbleiterchips, wie z. B. einem Mikroprozessor, Speicherchips, Zählerchips, Steu­ erchips, analogen Komponenten usw. Nachdem Schaltungsplati­ nen zusammengesetzt sind, jedoch bevor sie verwendet oder in zusammengebauten Produkten plaziert werden können, müssen dieselben getestet werden, um zu verifizieren, daß alle ge­ forderten elektrischen Verbindung ordnungsgemäß durchgeführt wurden und daß alle notwendigen elektrischen Komponenten an der richtigen Position und mit der richtigen Ausrichtung auf der Platine befestigt wurden. Weitere Gründe für das Testen bestehen darin, zu bestimmen und zu verifizieren, ob die richtigen Komponenten verwendet wurden. Es ist ferner not­ wendig zu bestimmen, ob jede Komponente ordnungsgemäß arbei­ tet (d. h. gemäß der Spezifikation). Einige elektrische Kom­ ponenten können ferner nach dem Einbau eine Einstellung er­ fordern.

Automatisches Testen von Schaltungsplatinen wird mit Hilfe eines Schaltungsplatinen-Testgeräts durchgeführt. Schal­ tungsplatinen-Testgeräte sind in der Technik gut bekannt. Die "Hewlett-Packard Company Model HP-3070 Family of Circuit Board Testers" ist z. B. eine gut bekannte Reihe von Schal­ tungsplatinen-Testgeräten. Testvorrichtungen der Familie HP 3070 besitzen z. B. Anschlußstifte (die Anzahl der verwendeten Anschlußstifte hängt von der zu testenden Pla­ tine ab), die gleichzeitig selektiv mit verschiedenen An­ schlußstiften einer gegebenen Schaltungsplatine zum Messen der Komponenten auf der Platine verbunden werden können. Die Platinentestvorrichtungen der Familie HP 3070 sind in den "HP 3070 Family Operating and Service Manuals", die von der Hewlett-Packard Company erhältlich sind, vollständig be­ schrieben.

Es gibt eine Vielfalt weiterer Schaltungsplatinen-Testvor­ richtungen, die kommerziell erhältlich sind. Der Typ der Schaltungsplatinen-Testvorrichtung und die Testvorrich­ tungs-Konfiguration, die verwendet wird, hängt vom Typ des Tests, der auf der Schaltungsplatine durchgeführt werden muß, und von der Größe der Schaltungsplatine ab. Z.B. wird eine Schaltungsplatinen-Testvorrichtung HP-3072U verwendet, um einen einzelnen analogen Test auf einer analogen Schal­ tungsplatine oder einen SMT-Leerlauftest unter Verwendung von HP-TestJet-Software durchzuführen. Ein Test, der ein standardmäßiges schaltungsintegriertes analoges Testen, ein einfaches digitales schaltungsintegriertes Testen oder ein analoges Funktionstesten zur Folge hat, erfordert eine Schaltungsplatinen-Testvorrichtung HP-3072P. Wenn ein kom­ plexeres digitales schaltungsintegriertes Testen erforder­ lich ist, ist eine Schaltungsplatinen-Testvorrichtung HP 3073 mit zusätzlichen HybridPlus-6-Karten und zusätzli­ cher schaltungsintegrierter Software erforderlich. Schließ­ lich wird eine Schaltungsplatinen-Testvorrichtung HP 3075 mit HybridPlus-6-Karten und kombinatorischer Software ver­ wendet, wenn ein standardmäßiges schaltungsintegriertes di­ gitales und analoges Testen, ein analoges Funktionstesten, ein digitales Zurückverfolgen, ein Fehlerverzeichnis-Testen und ein Ablaufeinstellungs-Testen gefordert ist. Jede der obigen Schaltungsplatinen-Testvorrichtungen kann mit zwi­ schen einem und vier Anschlußstiftkarten-Modulen, mit bis zu neun Anschlußstiftkarten pro Modul, erworben werden, wodurch eine unterschiedliche Gesamtknotenkapazität für das System geliefert wird. Die Konfiguration der Schaltungsplatinen- Testvorrichtung (Anzahl der Module und Anschlußstiftkarten) hängt von der Größe der größten Platine ab, die getestet werden muß. Z.B. erfordert eine Platine mit einer hohen Kno­ tenzahl eine Testvorrichtung der Familie HP 3070 mit drei oder vier Modulen, während eine kleinere Platine mit einer geringeren Knotenzahl nur eine Testvorrichtung der Familie HP 3070 mit einem oder zwei Modulen erfordern könnte. Alle oben genannten Schaltungsplatinen-Testvorrichtungen sind von der Hewlett-Packard Co., Palo Alto, Kalifornien, erhält­ lich.

Die Kosten einer bestimmten Schaltungsplatinen-Testvorrich­ tung sind eine Funktion der Art der Tests, die durchgeführt werden können, sowie der Größe der größten Platine, die ge­ testet werden kann. Unterschiedliche Platinentypen erfordern unterschiedliche Fähigkeiten und Testvorrichtungs-Betriebs­ mittel. Ein Hersteller, der mit dem Aufbauen und Testen vie­ ler unterschiedlicher Platinentypen beschäftigt ist, benö­ tigt eine viel größere Anzahl von Fähigkeiten und Betriebs­ mitteln der Schaltungsplatinen-Testvorrichtung als bei einer beliebigen speziellen Platine benötigt werden. Es ist als solches nicht kostensparend, einen Bestand von Schaltungs­ platinen-Testvorrichtungen zu halten, von denen alle in der Lage sind, die komplexesten Tests auf den größten Platinen durchzuführen.

Das Geschäft der Herstellung und des Testens von Schaltungs­ platinen ist stark konkurrierend. Testbetriebsmittel müssen auf die effizientest mögliche Art und Weise verwendet wer­ den, damit eine Firma wettbewerbsfähig ist. Das Bezahlen für Ausrüstung, die sich an der Produktionsstätte befindet, je­ doch nicht häufig verwendet wird, ist keine effiziente Ver­ wendung von Betriebsmitteln. Jedoch führt das Zurückschrau­ ben von Geschäftsgelegenheiten aufgrund des Fehlens von Testfähigkeiten oder Testvorrichtungs-Betriebsmitteln nicht zu neuen Gelegenheiten.

Dies bringt viele Hersteller in eine schwierige Position, wenn es um die Platinentest-Hardware geht. Sie würden gerne eine vollständige kombinatorische Testvorrichtungs-Funktio­ nalität (d. h. HP 3075-Funktionalität) auf einem System be­ sitzen, mit einer ausreichenden Anzahl von Modulen und An­ schlußstiftkarten, um zu einer beliebigen gegebenen Zeit komplexe Tests auf einer Vielzahl von Platinengrößen durch­ zuführen oder um den größten Kundenbereich anzusprechen. Zur gleichen Zeit können sie häufig die Kapitalinvestition für eine vollständige kombinatorische Testvorrichtung mit der Knotenkapazität für ihre größten Platinen nicht bieten. Z.B. ist es möglich, daß ein Vertragshersteller nur einen Kunden unter zehn besitzt, der kombinatorische Testfähigkeiten be­ nötigt oder eine Platine mit einer hohen Knotenzahl testen muß. Es ist möglich, daß die verbleibenden neun Kunden nur eine schaltungsinterne Funktionalität benötigen, um ihre Platinen zu testen, wobei ihre Platinen ohne weiteres auf eine Ein- oder Zwei-Modultestvorrichtung passen können. Der Vertragshersteller würde gerne alle zehn Kunden in Einklang bringen, kann jedoch die Kosten einer Drei- oder Vier-Modul­ testvorrichtung nicht rechtfertigen, wenn der komplexere Testpegel und die höhere Knotenzahl nur in zehn Prozent der Zeit erforderlich ist.

Herkömmliche Lösungen richteten sich auf Preis/Leistungs-Lö­ sungen relativ zu spezifischen Schaltungsplatinen-Testsy­ stemen. Bei diesen Lösungen wird entweder die Leistung oder der Preis des Schaltungsplatinen-Testsystems angepaßt, um die spezifischen Bedürfnisse des Marktes zu befriedigen. Dies stellt eine gute "Punkt"-Lösung dar. Jedoch stehen Elektronikhersteller heutzutage einem breiten Spektrum von Fehlern gegenüber, die über einem breiten Spektrum von Schaltungsplatinen-Komplexitäten unter Verwendung eines breiten Spektrums von Herstellungstechnologien auf einem breiten Spektrum von Platinengrößen erzeugt werden. Eine Punktlösung ist zum Befriedigen dieser Bedürfnisse unzuläng­ lich. Punktlösungen haben die Vervielfältigung ähnlicher je­ doch nicht gleicher Testausrüstung, Testlösungen für mehrere Kunden, eine Vielzahl von Unterweisungsanforderungen und eine Vielzahl von Wartungs- und Versorgungs-Aufwendungen und -Verträgen zur Folge, wobei jeder dieser Punkte zu höheren Testkosten führt.

Aus der DE 38 27 959 C2 ist bereits ein Testgerät für die Funktionsprüfung von elektronischen Bauteilen bekannt, wel­ ches Testpins, den Pins zugeordnete Schaltungen mit einem Speicher, einem Pinprozessor und einer Pinelektronik zur An­ steuerung und Auswertung der Signale an den Testpins, einen Testerbus zum Verbinden aller Schaltungen miteinander und einen Zeitrastergenerator aufweist, der ein einheitliches Zeitraster für die Ausführung von Prüfbefehlen durch die jeweiligen Schaltungen liefert.

Aus der Fachzeitschrift "Electronics, 8. September 1983, Heft 18, Seiten 101 bis 106" ist bereits ein Mehrzweck- Testgerät bekannt, bei dem die hautsächlichen Testmittel oder Testquellen einem jeden Pin in dem System zugeordnet sind. Hierdurch ist es im Gegensatz zu üblichen Testgeräten nicht erforderlich, eine matrixartige Vernetzung vorzuneh­ men. Hierdurch kann sich der Anwender auf den durchzuführen­ den Test konzentrieren, ohne sich mit der Struktur des Test­ geräts zu stark auseinandersetzen zu müssen.

Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein System sowie ein Verfahren zu schaffen, die es ermöglichen, einen Zugriff auf vielfache elektronische Testfähigkeiten einer Schaltungsplatinen-Testvorrichtung und die notwendigen Testvorrichtungs-Betriebsmittel zu haben, ohne daß dem An­ wender die für den Erwerb von von ihm nicht benötigten auf­ wendigen Schaltungsplatinen-Testvorrichtungen gehörenden Ko­ sten belastet werden müssen.

Diese Aufgabe wird durch ein System zum Testen einer elek­ tronischen Schaltung gemäß Anspruch 1 und durch ein rechner­ implementiertes Verfahren gemäß Anspruch 15 gelöst.

Die Erfindung liefert ein Schal­ tungsplatinen-Testsystem, das angepaßt ist, um den Zugriff auf vielfache Testfähigkeiten und Hardwarebetriebsmittel einer einzigen Schaltungsplatinen-Testvorrichtung zu steu­ ern. Ein Bezahlung-pro-Anwendung-Zugriffsmodul ist mit einem Schaltungstestsystem gekoppelt. Das Bezahlung-pro-Anwen­ dung-Zugriffsmodul ermöglicht eine Softwaresteuerung der Hardware-Benutzung und -Funktionalität des Schaltungs-Test­ systems.

Das Bezahlung-pro-Anwendung-Zugriffsmodul führt zum Zeit­ punkt der Schaltungsplatinen-Initialisierung mehrere Über­ prüfungen durch. Diese Überprüfungen bestimmen, ob der Schaltungsplatinen-Testsystem-Testkopf in einem Bezahlung- pro-Anwendung-Modus betrieben werden soll und ob die gesamte erforderliche Hardware auf der Schaltungsplatinen-Testvor­ richtung vorliegt. Wenn eine Schaltungsplatine eingelegt ist, wird der Belastungssatz sowohl für die Platinen-Testfä­ higkeiten, die verwendet werden, als auch die erforderlichen Testvorrichtungs-Betriebsmittel bestimmt. Wenn nur die ele­ mentaren Systemfähigkeiten verwendet werden, wird der Bela­ stungssatz Null sein. Wenn der Beginn des Schaltungsplati­ nen-Testsegments erfaßt ist und bestimmt worden ist, daß noch Benutzungskreditposten in einem Benutzungskreditposten­ speicher verfügbar sind, wird ein Zeitgeber gestartet. Wenn das Ende des Schaltungsplatinen-Testsegments erfaßt ist, wird der Zeitgeber gestoppt und der verfügbare Benutzungs­ kreditposten-Speicher wird entsprechend erniedrigt. Der Zeitgeber wird außerdem gestoppt, wenn bestimmt wird, daß die Testvorrichtung nicht tatsächlich Tests durchführt (d. h. zum Platinenaustausch oder zum manuellen Bedienereingriff angehalten ist).

Der Benutzer ist in der Lage, drei Alarmzeichenpegel einzu­ stellen, um vor einem geringen Benutzerkreditpostenrest zu warnen. Die Alarmzeichen werden mit einem anwachsenden Dringlichkeitspegel gegeben (Zustand, Warnung, kritischer Punkt). Der Benutzer bestimmt die Kreditpostenreste (oder die verbleibenden Testzeiten) entsprechend jedem Alarmpegel. Wenn der Speicher der verfügbaren Benutzerkreditposten leer ist, wird ein viertes Alarmzeichen mit dem kritischen Pegel gegeben, und es ist nicht möglich, mit dem Testen weiterer Platinen zu beginnen.

Während der Durchführung des Platinentests werden Statisti­ ken gespeichert, die den Belastungspegel der Tests, die aus­ geführt werden, und die verbrauchten Benutzerkreditposten betreffen. Diese Informationen sind dem Benutzer in Be­ richtsform verfügbar.

Bezahlung-pro-Anwendung-Zugriffe ermöglichen es den Elek­ tronikherstellern, Hochleistungstesthardware mit einer hohen Knotenzahl für Niederleistungs-Eintrittspreise mit geringer Knotenzahl zu kaufen. Nur wenn ein zusätzliches Verhalten und zusätzliche Testvorrichtungs-Betriebsmittel erforderlich sind, wird der Hersteller für die Fähigkeit belastet. Dies wird auf einer Platine-für-Platine-Basis gesteuert. Wenn nur eine Testplattform erhalten werden muß, können die Elektro­ nikhersteller durch Reduzieren ihrer Hardware- und Softwa­ re-Vertragspassiva ihre Gesamttestkosten senken, wobei gleichbleibende Unterweisungsanforderungen für jeden Testin­ genieur und eine Standardisierung der Testbedienerprozeduren vorliegen, um einige Vorteile zu nennen.

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeich­ nungen näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 ein wenig detailliertes schematisches Diagramm eines Schaltungsplatinen-Testsystems;

Fig. 2 ein Blockdiagramm eines Bezahlung-pro-Anwendung- Testsystems 100, das mit der Schaltungsplatinen- Testhardware gekoppelt ist;

Fig. 3 eine schematisches Diagramm eines Berechtigungs­ knopfes.

Gemäß Fig. 1 liefert die Erfindung ein Bezahlung-pro-Anwen­ dung-Schaltungsplatinen-Testsystem 100, das angepaßt ist, um einen Zugriff auf eine Vielzahl von Testfähigkeiten, eine Vielzahl von Hardwarebetriebsmitteln und eine Vielzahl von Strukturgeschwindigkeiten einer einzelnen Schaltungsplati­ nen-Testvorrichtung zu steuern. Die Schaltungsplatinen-Test­ vorrichtungen, die bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel verwendet sind, sind die Schaltungsplatinen-Testvorrichtun­ gen HP 3075 und HP 3175.

Beispiele der vielfachen Testfähigkeiten der Schaltungspla­ tinen-Testvorrichtungen HP 3075 und HP 3175 sind standard­ mäßiges schaltungsintegriertes digitales und analoges Te­ stes, analoges Funktionstesten, Oberflächenbefestigungstech­ nologie-Leerlauftesten (SMT; SMT = Surface Mount Technolo­ gy), digitales Zurückverfolgen, Fehlerverzeichnis-Testen und Ablaufeinstellungs-Testen. Testvorrichtungen, die diese Fä­ higkeiten aufweisen, werden als kombinatorische Testvorrich­ tungen bezeichnet.

Allgemein gesprochen besitzt eine Schaltungsplatinen-Test­ vorrichtung eine Vielzahl von Verbinder-Anschlußstiften, die wirksam sind, um Leiter an vorbestimmten Orten zu kontak­ tieren, um Testsignale anzulegen, und Antworten an spezifi­ schen Knoten auf einer gedruckten Schaltungsplatine zu er­ fassen. Ein Knoten ist ein Punkt in einer Schaltung, an dem zwei oder mehr Teile verbunden sind. Die Schaltungsplati­ nen-Testvorrichtung umfaßt ferner die notwendigen Signalge­ neratoren und die Signalverarbeitungseinrichtungen, um die Testoperationen und die Analyse durchzuführen.

Der Ausdruck Knotenzahl wird verwendet, um die Anzahl von spezifischen Knoten auf einer Schaltungsplatine, die gete­ stet werden müssen, zu beschreiben. Platinen mit einer hö­ heren Knotenzahl erfordern eine Testvorrichtung mit einer größeren Anzahl von Verbinder-Anschlußstiften. Der Ausdruck "Anschlußstiftkarte" wird hierin als eine allgemeine Be­ schreibung eines Hardwarebauteils verwendet, das während eines Schaltungsplatinentests Testsignale zuführt und Ant­ worten erfaßt. Nicht alle Anschlußstiftkarten besitzen die gleiche Anzahl von Verbinder-Anschlußstiften. Eine Testvor­ richtung besitzt ferner einen Prozessor, der die Aktivitäten der Anschlußstiftkarten koordiniert. Der Ausdruck "Modul" wird hierin als eine allgemeine Beschreibung einer oder meh­ rerer Anschlußstiftkarten verwendet, die unter einem einzel­ nen Prozessor arbeiten. Module auf den Testvorrichtungen HP 3070 und HP 3175 können bis zu neun Anschlußstiftkarten ent­ halten. Die Schaltungsplatinen-Testvorrichtung HP 3075 kann bis zu vier Module enthalten. Die Schaltungsplatinen-Test­ vorrichtung HP 3175 kann bis zu zwei Module enthalten. Die Anzahl der Module und Anschlußstiftkarten, die eine Testvor­ richtung besitzt, bestimmt die maximale Anzahl von Knoten, 411rdie auf einer Schaltungsplatine getestet werden kann. Die Kosten für eine Testvorrichtung wachsen mit der Anzahl der Module und Anschlußstiftkarten, die sie enthält, weshalb die Hersteller versuchen, die Anzahl von Modulen und Anschluß­ stiftkarten auf das Minimum zu begrenzen, das erforderlich ist, um ihre größten Platinen zu testen.

Während des Testens einer Schaltungsplatine werden nicht alle Knoten getestet. Die Knoten, die tatsächlich getestet werden, werden als "Prüfknoten" bezeichnet. Außerdem werden während des Testens einer Schaltungsplatine nicht alle An­ schlußstifte einer Anschlußstiftkarte während der Testphase verwendet. Der Ausdruck "verdrahtete Anschlußstifte" wird verwendet, um die Anschlußstifte zu bezeichnen, die tatsäch­ lich während des Testens verwendet werden. Wie nachfolgend ausführlicher erörtert wird, kann die Bezahlung-pro-Anwen­ dung basierend auf der Anzahl der Prüfknoten, der Anzahl der verdrahteten Anschlußstifte oder beidem bestimmt werden.

In dieser Offenbarung bezieht sich der Ausdruck Testfähig­ keiten auf allgemeine Softwarefähigkeiten der Testvorrich­ tung. Für Fachleute ist es offensichtlich, daß die vorlie­ gende Erfindung Softwarefähigkeiten betrachtet, und nicht die Software für Testschaltungsplatinen. Überdies bezieht sich der Ausdruck Hardwarebetriebsmittel auf die Hardware­ komponenten oder die Betriebsmittel, die an der Testvorrich­ tung angebracht sind (z. B. Module, Anschlußstiftkarten, usw.). Für Fachleute ist es offensichtlich, daß die vorlie­ gende Erfindung das Anwenden des Bezahlung-pro-Anwendung- Konzepts auf Hardwarekomponenten behandelt, und nicht Modu­ le, Anschlußstiftkarten und Testvorrichtungs-Geschwindig­ keitsfähigkeiten.

Es gibt mehrere Herstellertypen, die von der Verwendung der vorliegenden Erfindung profitieren können. Ein Typ davon ist ein Platinenhersteller, der seine eigenen Schaltungsplatinen aufbaut und testet. Ein weiterer ist ein Vertragstestbe­ trieb, der Schaltungsplatinen für andere Betriebe, die Schaltungsplatinen herstellen, testet. Noch ein weiterer ist ein Vertragshersteller, der Schaltungsplatinen für andere Betriebe aufbaut und testet. Diese Typen von Herstellern werden nachfolgend allgemein durch den Ausdruck Hersteller bezeichnet.

Die Erfindung liefert eine Softwareschnittstelle, die mit der kombinatorischen Testvorrichtungs-Hardware kombiniert ist. D.h., das Bezahlung-pro-Anwendung-System der vorliegen­ den Erfindung läßt sich mit einer einzelnen Testplattform kombinieren. Es steuert den Zugriff auf vielfache Testfähig­ keiten und Betriebsmittel der einzelnen Testplattform, indem ein Speicher von Benutzerkreditposten verwaltet wird. Das Bezahlung-pro-Anwendung-System ist angepaßt, um die Benut­ zung der vielfachen Testfähigkeiten und Testvorrichtungs- Betriebsmittel zu überwachen und eine Anzahl von Benutzungs­ kreditposten von einem Benutzungskreditpostenspeicher basie­ rend auf der Benutzung der vielfachen elektronischen Testfä­ higkeiten und Testvorrichtungs-Betriebsmittel (Hardware) ab­ zuziehen.

Z.B. erwirbt ein Hersteller eine kombinatorische Schaltungs­ platinen-Testvorrichtung (d. h. eine Testvorrichtung mit vielfachen Fähigkeiten) mit 4 vollständigen Modulen von An­ schlußstiftkarten und einem Speicher von Benutzungskredit­ posten. Die kombinatorische Schaltungsplatinen-Testvorrich­ tung wurde jedoch angepaßt, um ausschließlich einen Zugriff auf Fähigkeiten mit niedrigem Pegel (z. B. standardmäßige leistungslose Tests und SMT-Leerlauftests) ohne zusätzliche Belastungen zu liefern. D.h. der Hersteller ist auf die Testfähigkeiten eines geringeren Pegels der kombinatorischen Testvorrichtung begrenzt. Über das Abziehen von Benutzungs­ kreditposten in dem Kreditpostenspeicher ist dem Benutzer ein Zugriff auf die Fähigkeiten eines höheren Pegels (z. B. kann der Hersteller Zugriff zu mit begrenzter Leistung ver­ sorgten Tests, schaltungsintegrierten Tests und kombinatori­ schen Testfähigkeiten erhalten) und die Hardwarebetriebsmit­ tel verfügbar. Der Benutzungskreditpostenspeicher wird mit einem Satz belastet, der dem höchsten Pegel an Testfunktio­ nalität und Testvorrichtungs-Betriebsmittelbenutzung (Hard­ ware), die durch den Platinentest verwendet wird, ent­ spricht. Die Benutzungskreditposten werden abgezogen, wäh­ rend die Tests von der Schaltungsplatinen-Testvorrichtung durchgeführt werden.

Es sei zu bemerken, daß, obwohl das bevorzugte Ausführungs­ beispiel eine Schaltungsplatinen-Testausrüstung verwendet, die von Hewlett-Packard hergestellt und verkauft wird, es für Fachleute offensichtlich ist, daß die vorliegende Er­ findung mit einem beliebigen Schaltungsplatinen-Testvorrich­ tungstyp verwendet werden kann. Außerdem kann die vorliegen­ de Erfindung mit einem beliebigen Hardware/Plattform-Softwa­ repaket verwendet werden, das mehr als einen Funktionali­ tätspegel besitzt.

Fig. 1 zeigt eine wenig detaillierte schematische Ansicht einer Schaltungsplatinen-Testvorrichtung 100, die gemäß der vorliegenden Erfindung arbeitet. Die gedruckte Schaltungs­ platine 110 besitzt eine Mehrzahl sowohl analoger als auch digitaler Komponenten 120, die durch ihre Komponentenan­ schlußleitungen mit einer Mehrzahl von Leitern 140 verbunden sind, um eine Schaltung auf der gedruckten Schaltungsplatine 110 zu bilden. Die Testaufnahme 160 besitzt eine Mehrzahl von Verbinder-Anschlußstiften 180, die wirksam sind, um die Leitungen 140 an vorbestimmten Stellen zu kontaktieren, um Testsignale zuzuführen und Antworten an vorbestimmten Orten auf der gedruckten Schaltungsplatine 110 zu erfassen. Leiter 130 verbinden die Verbinder-Anschlußstifte 180 mit dem Test­ system 170. Das Testsystem 170 umfaßt die nötigen Signal­ generatoren und die Signalverarbeitungseinrichtungen, um die Testoperationen und die Analyse durchzuführen, und liefert die Informationen dem Benutzer 190. Die Informationen zeigen die Testergebnisse für die gedruckte Schaltungsplatine 110 an.

Das Testsystem 170 wird mit einem Testplan beladen, der wäh­ rend des Testens eine Aufsichtssteuerung liefert. Diese schließt z. B. die Abfolgesteuerung der Tests, das Notieren der Ergebnisse, das Steuern des Platinen/Vorrichtungs-An­ schließens, das Steuern der Testleistungszuführungen, usw. ein. D.h., der Testplan ist ein Programm, das die Ausführung der Tests in der Schaltungsplatinen-Testvorrichtung 100 steuert.

Ein Bezahlung-pro-Anwendung-Zugriffsmodul 150 ist mit dem Testsystem 170 gekoppelt. Das Bezahlung-pro-Anwendung-Zu­ griffsmodul 150 führt zum Zeitpunkt der Initialisierung der Schaltungsplatine mehrere Überprüfungen durch. Diese Über­ prüfungen bestimmen, ob die Schaltungsplatinen-Testvorrich­ tung 100 im Bezahlung-pro-Anwendung-Modus betrieben werden soll und ob die gesamte erforderliche Hardware in der Schal­ tungsplatinen-Testvorrichtung 100 vorliegt. Wenn die Schal­ tungsplatineninformationen in den Testkopf 100 geladen wer­ den, wird der Belastungssatz (d. h. die Anzahl von Kreditpo­ sten pro Zeiteinheit) aus den Platinen-Testfähigkeiten, die verwendet werden, und der Menge an Testvorrichtungs-Be­ triebsmitteln, die erforderlich sind, um die Platine aufzu­ nehmen, bestimmt. Wenn der Beginn eines Schaltungsplatinen- Testsegments über eine Testbeginn-Funktion erfaßt wird und bestimmt wurde, daß noch verfügbare Benutzungskreditposten in einem Benutzungskreditpostenspeicher sind, wird ein Zeit­ geber gestartet. Wenn das Ende eines Schaltungsplatinen- Testsegments über eine Testende-Funktion erfaßt wird, wird der Zeitgeber gestoppt und der Speicher der verfügbaren Be­ nutzungskreditposten wird entsprechend erniedrigt. Der Zeit­ geber wird ferner gestoppt, wenn bestimmt wird, daß die Testvorrichtung nicht tatsächlich Tests ausführt (z. B. wenn er zum Platinenaustausch oder zur Dateneingabe angehalten ist). Diese Funktionalität wird nachfolgend ausführlicher beschrieben.

Gemäß Fig. 3 wird ein Berechtigungsknopf 300 zum Zählen der Kreditposten verwendet (d. h. zum Bezahlung-pro-Anwendung- Zugriff des Testsystems 170), ebenso wie für weitere Aspekte der Systemsicherheit. Der Berechtigungsknopf 300 ist ein si­ cherer Mikrochip, der die Durchführungsrechte für das Test­ system 170 steuert. D.h., der Berechtigungsknopf 300 steuert das Recht, etwas durchzuführen, und nicht das Recht, die Software zu kopieren.

Im allgemeinen sind Berechtigungsknöpfe billige kommerzielle Geräte, die in einen Knopfhalter (nicht gezeigt) eingefügt sind, der an einem seriellen oder einem parallelen Eingang angebracht ist, durch den von den Softwareanwendungen auf dieselben zugegriffen wird. Der I/O-Eingang (I/O = Input/- Output) kann für andere Anwendungen und das Betriebssystem brauchbar bleiben. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der Berechtigungsknopf 300 mit dem minimalen Kreditpo­ sten-Kaufbetrag (z. B. 50 000 Einheiten) beladen. Der Berech­ tigungsknopf 300 ist für einen beliebigen speziellen Kunden oder eine beliebige spezielle Hardware nicht gesperrt. D.h., die Kunden können diesen ohne Nachteil von Testkopf zu Test­ kopf wechseln.

Testpläne, die mehr als die minimalen Testfähigkeiten oder Hardwarebetriebsmittel der Testvorrichtung erfordern, laufen nur, wenn der Berechtigungsknopf 300 zumindest einige ver­ bleibende Kreditposten besitzt. Wenn ein Testplansegment ab­ geschlossen wird (d. h. ein Ablaufende-Zeitpunkt wurde er­ reicht), wird die entsprechende Anzahl von Kreditposten von dem Berechtigungsknopf 300 abgezogen.

Einige Knopfhalter sind in der Lage, mehr als einen Knopf aufzunehmen. Wenn mehrere Kreditpostenknöpfe eingelegt sind, erscheint in dem Fall, daß einer derselben leer ist, eine Meldung auf dem Bildschirm, die anzeigt, daß auf den näch­ sten Knopf umgeschaltet wird und daß der Benutzer sicher­ stellen sollte, daß der leere Knopf ersetzt wird. Solange Kreditposten übrig bleiben, ist es möglich, einen Schal­ tungsplatinentest zu beginnen. Wenn alle verbleibenden Kre­ ditposten (in allen Knöpfen) während eines Tests verbraucht sind, sind keine weiteren Schaltungsplatinentests erlaubt, bis ein neuer Knopf in den Knopfhalter eingelegt wird. Die Testvorrichtung arbeitet nur auf dem minimalen Funktionali­ tätspegel (z. B. als leistungslose Testvorrichtung), wenn kein Berechtigungsknopf 300 vorgefunden wird oder keine Kre­ ditposten in dem Berechtigungsknopf 300 enthalten sind.

Knopfzugriffsroutinen liefern die Fähigkeit, den gegenwärti­ gen Kreditpostenrest auf dem Knopf abzulesen und einen neuen Restbestand auf den Knopf zu schreiben, ebenso wie die Sy­ stemsicherheit zu verifizieren.

Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist ein Berechti­ gungsknopf, der von Dallas Semiconductor of Dallas, Texas, hergestellt ist, verwendet. Der Berechtigungsknopf 300 ist in einem gegen Eingriffe gesicherten 16 mm-Behälter aus rostfreiem Stahl verpackt. Physikalische Eingriffe in den Berechtigungsknopf 300 zerstören seinen Inhalt, was ihn un­ brauchbar macht. Der Berechtigungsknopf 300, der bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel verwendet wird, enthält ei­ nen Paßwort-geschützten nicht flüchtigen Lese/Schreib-Spei­ cher. Dies liefert die Fähigkeit, Informationen zu aktuali­ sieren (d. h. Kreditposteninformationen), wenn der Knopf sich beim Endverbraucher (d. h. dem Chiphersteller oder dem Ver­ tragshersteller) befindet.

Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der Berechti­ gungsknopf 300 über einen Knopfhalter (nicht gezeigt) DS141, ebenfalls erhältlich von Dallas Semiconductor, an die Testvorrichtung angeschlossen.

Eine Kommunikation mit dem Berechtigungsknopf 300 findet über eine beständige Eindraht-Schnittstelle statt. Der Knopf 310 des Berechtigungsknopfes 300 ist der Datenanschlußstift und der Flansch 320 ist die Masse. Ein Dialog mit dem Be­ rechtigungsknopf 300 findet über ein Pulsbreitenmodulations­ protokoll statt. Eine Anwendungsprogrammierschnittstelle (nicht gezeigt), erhältlich von Dallas Semiconductor, lie­ fert die Verbindung zwischen dem Bezahlung-pro-Anwendung-Sy­ stemzugriffsmodul 150 und dem Berechtigungsknopf 300. Die Zugriffssoftware verwaltet die Eindraht-Schnittstelle und identifiziert alle Berechtigungsknöpfe, die an dem Eingang vorliegen. Zusätzliche Informationen, die die Zugriffssoft­ ware betreffen, können im "Button Developer′s Kit" DS141xK, erhältlich von Dallas Semiconductor, gefunden werden. Eine zusätzliche Dokumentation des Berechtigungsknopfes 300 ist ebenfalls von Dallas Semiconductor erhältlich.

Das Anwenden des Bezahlen-pro-Anwendung-Modells auf eine Vielzahl von Hardware-Betriebsmitteln umfaßt das Belasten des Benutzers, basierend auf der Hardware, die zum Testen einer speziellen Schaltungsplatine erforderlich ist. Es gibt mehrere Möglichkeiten, auf die die Hardware-Betriebsmittel gezählt werden können. Bei einem Ausführungsbeispiel wird die Anzahl der Anschlußstiftkarten, die für eine spezielle Platine verwendet werden, gezählt. Bei einem weiteren Aus­ führungsbeispiel wird die Gesamtzahl der Anschlußstifte auf den Karten, die verwendet werden, gezählt. Wieder bei einem weiteren Ausführungsbeispiel wird nur die Anzahl der ver­ drahteten Verbinder-Anschlußstifte auf der Karte, die ver­ wendet werden, gezählt. Bei einem weiteren Ausführungsbei­ spiel wird die Gesamtzahl der Knoten auf der Schaltungs­ platine gezählt. Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel wird nur die Anzahl der getesteten Knoten auf der Schaltungspla­ tine gezählt. Wiederum bei einem anderen Ausführungsbeispiel wird die Anzahl der Module, die erforderlich ist, um eine spezielle Schaltungsplatine zu testen, gezählt. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird die Anzahl (die unter Verwendung einer der vorher beschriebenen Verfahren bestimmt wird) entweder allein oder in Verbindung mit weiteren Test­ vorrichtungs-Merkmalen verwendet, um einen Belastungssatz in einem Bezahlen-pro-Verwendung-Betriebsmodell zu bestimmen.

Schaltungsplatinen-Testvorrichtungen können die Fähigkeit besitzen, Vektoren (oder Strukturen) mit unterschiedlichen Geschwindigkeiten in einem digitalen Test anzuwenden. Die Testvorrichtungen HP 3075 und HP 3175 können z. B. Strukturen mit 6 MHz, 12 MHz oder 20 MHz anwenden. Bei einem alternati­ ven Ausführungsbeispiel wird diese Strukturgeschwindigkeit entweder allein oder in Verbindung mit weiteren Testvorrich­ tungsmerkmalen verwendet, um einen Belastungssatz in einem Bezahlung-pro-Anwendung-Betriebsmodell zu bestimmen.

Das Bezahlung-pro-Anwendung-Schaltungsplatinen-Testsystem 100 kann auf zwei Arten implementiert sein. Die erste be­ steht darin, von dem Hersteller eine Vorauszahlung für einen Block von Benutzungskreditposten zu fordern, die einen spe­ zifischen Testzeitbetrag ausgleichen, der in jedem der drei inkrementalen Belastungsmodi verfügbar ist. Es sei bemerkt, daß, obwohl drei Sätze von inkrementalen Belastungsmodi bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel verwendet werden, die vorliegende Erfindung nicht auf irgendeine Anzahl oder An­ zahl von Sätzen von inkrementalen Belastungsmodi begrenzt ist. Die zweite Möglichkeit besteht darin, die Benutzung der Testvorrichtung in jedem der vier Sätze der inkrementalen Belastungsmodi zu messen und dem Kunden periodisch in Rech­ nung zu stellen. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der Vorauszahlungsplan, der nachfolgend detailliert be­ schrieben wird, implementiert.

Das Bezahlung-pro-Anwendung-Schaltungsplatinen-Testsystem 100 kann ferner unter Verwendung eines Schemas des Zählens der Anzahl, mit der ausgewählte Tests ausgeführt werden (und nicht der Zeit der Testvorrichtungsbenutzung) und des Her­ leitens von Kreditposten basierend auf der Anzahl der Tests und dem Pegel der Fähigkeiten und Hardware-Betriebsmittel, die bei den Tests verwendet werden, implementiert sein. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der Zeitgeberplan, der nachfolgend detailliert beschrieben ist, implementiert.

Fig. 2 zeigt ein detailliertes Blockdiagramm des Bezahlung- pro-Anwendung-Zugriffssystems 150. Der Benutzer 190 besitzt Zugriff auf die verschiedenen Fähigkeiten des Bezahlung­ pro-Anwendung-Systems 150 und greift über einen definierten Satz von Befehlen (definiert im Testplan) auf diese Fähig­ keiten zu.

Der Benutzer lädt Platineninformationen und einen Testplan in das Testsystem 170, wenn er/sie einen Test einer Schal­ tungsplatine vorbereiten. Sobald die Platineninformationen geladen sind, bestimmt das Bezahlung-pro-Anwendung-System 150, welche Fähigkeiten und Betriebsmittel der Testvorrich­ tung erforderlich sind, um die Schaltungsplatine zu testen.

Jedes Hardware-Betriebsmittel (oder jede Gruppe von Hardwa­ re-Betriebsmitteln) besitzt einen dazugehörigen Belastungs­ satz. Jeder Belastungssatz ist in verschiedene Belastungs­ pegel, abhängig vom Pegel des verwendeten Tests, aufgeteilt. Die vorliegende Erfindung liefert vier Testpegel: (1) lei­ stungslose Tests, (2) einfache leistungsbegrenzte Tests, (3) volle schaltungsintegrierte Tests und (4) kombinatorische Tests, sowie vier Satzeinstellungen basierend auf der Anzahl der verwendeten Testvorrichtungs-Betriebsmittel. (Es sei be­ merkt, daß es bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel in Verbindung mit einem leistungslosen Test keine Belastung gibt). Der Belastungspegel für die gesamte Platine basiert auf den höchsten Fähigkeiten, die verwendet werden (die durch die Platinenbeschreibungsinformationen bestimmt sind) und die Anzahl der verwendeten Testvorrichtungs-Betriebsmit­ tel. In anderen Worten heißt das, das Bezahlung-pro-Anwen­ dung-System 150 bestimmt die Anzahl von Testvorrichtungs- Betriebsmitteln, die bei dem Platinentest verwendet werden, und bestimmt aus diesen Informationen, welcher Belastungs­ satz verwendet wird. Danach betrachtet es die Testfähigkei­ ten, die verwendet werden, und stellt den Belastungspegel entsprechend aus dem ausgewählten Belastungssatz ein. Dieser Belastungspegel wird in einem Bezahlung-pro-Anwendung-Sy­ steminitialisierungsmodul 215 gespeichert. Ein Benutzungs- Kreditpostenrest-Aktualisierungsmodul 245 (nachfolgend Rest­ modul 245) wird über eine Verbindung 217 während der Bezah­ lung-pro-Anwendung-Softwareinitialisierung aktualisiert.

Sobald der Belastungspegel bestimmt wurde und die Schal­ tungsplatine eingelegt worden ist, initiiert der Benutzer den Schaltungsplatinentest durch Ausführen (über eine Lei­ tung 212) eines "Testbeginn"-Befehls 210. Dieser Befehl löst (über eine Leitung 214) den Start eines Zeitgebers aus, wie in einem Modul 220 gezeigt ist.

Das Startmodul 220 besitzt über eine Leitung 202 Zugriff auf einen Benutzungskreditpostenspeicher 240. Der Benutzungskre­ ditpostenspeicher speichert die verfügbaren Benutzungskre­ ditposten. Das Startmodul 220 ist konfiguriert, um den Be­ ginn eines zu belastenden Schaltungsplatinentests zu ver­ hindern, wenn in dem Benutzungskreditpostenspeicher 240 nicht ausreichend Benutzungskreditposten verfügbar sind. Der gegenwärtige Inhalt des Benutzungskreditpostenspeichers 240 kann über eine Leitung 204 zu einem Anzeigeberichtmodul 270 geliefert werden. Der Benutzer kann dann auf diese Informa­ tionen zugreifen.

Der Zeitgeber hält eine Aufzeichnung des Zeitbetrags, der während des Testens der Schaltungsplatine verstrichen ist. Der Zeitgeber kann vom Benutzer durch Ausführen (über eine Leitung 216) eines "Testende"-Befehls 225, wie z. B. eines "Pause"- oder "Unterbrechungs"- oder "Ausstiegs"-Befehls, wie in einem Modul 230 gezeigt ist, gestoppt (über eine Leitung 218) werden. Sobald einer der Testende-Befehle 225 ausgeführt wurde, ist die Testvorrichtung im Leerlauf und der Zeitgeber beendet die Zeitmessung des Testens. D.h. das Bezahlen-pro-Anwendung-System 150 zieht keine Kreditposten von dem Benutzungskreditpostenspeicher 240 ab.

Der Testende-Befehl stoppt den Zeitgeber, wie in dem Block 230 angezeigt ist. Sobald der Zeitgeber gestoppt ist, wird auf das Restmodul 245 zugegriffen (über eine Leitung 244) und die Benutzungskreditposten des Benutzers werden aktuali­ siert. Wie oben erörtert wurde, wurde das Restmodul 245 vor­ her während der Systeminitialisierung durch das Modul 215 auf den gegenwärtigen Belastungspegel aktualisiert. Das Restmodul 245 greift über die bidirektionale Leitung 244 auf den Benutzungskreditpostenspeicher 240 zu, um den aktuali­ sierte Benutzungskreditpostenrest zu berechnen.

Insbesondere berechnet das Restmodul 245 den aktualisierten Reststand durch Multiplizieren des Belastungspegels mit der verstrichenen Gesamtzeit in dem Zeitgeber. Diese Zahl wird von den Benutzungskreditposten, die insgesamt in dem Benut­ zungskreditpostenspeicher 240 gespeichert sind, subtrahiert, wobei der aktualisierte Reststand das Ergebnis ist. Der ak­ tualisierte Reststand wird dann wieder in den Benutzungskre­ ditpostenspeicher 240 gespeichert. Außerdem wird der aktua­ lisierte Reststand über eine Leitung 267 einem Platinensta­ tistikmodul 280 zugeführt. Wenn nachfolgend ein Testbeginn- Befehl 210 durchgeführt wird, wird der Zeitgeber wiederum gestartet und das Testen der Schaltungsplatine kann fort­ gesetzt werden. Das Bezahlung-pro-Anwendung-System 150 be­ lastet nur für Zeiten, während denen die Testvorrichtung ak­ tiv die Schaltungsplatine testet. Für Leerlaufzeiten zum Wechseln der Platinen oder zur Dateneingabe wird der Benut­ zer nicht belastet.

Das Bezahlen-pro-Anwendung-System 150 liefert ferner einen Zustandsalarm 250. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der Alarm programmiert, um drei vorgegebene Alarmpegel zu liefern. Der Benutzer kann die vorgegebenen Alarmpegel über ein Anwendungsprogramm 260 ändern. Dies wird mittels einer Leitung 262 angezeigt. Die Änderungen können dann über eine Leitung 256 in einer Alarmdatendatei 255 gespeichert werden.

Ungeachtet dessen, wie die Alarmpegel eingestellt sind, (d. h. vorgegeben oder Benutzer-definiert) sind die Alarm­ pegel in der Alarmdatendatei 255 gespeichert. Die Alarmdatei 255 liefert diese Informationen über eine Leitung 259 zum Restkreditpostenmodul 245, über eine Leitung 261 zum Be­ richtsmodul 270 und über eine Leitung 263 zum Initialisie­ rungsmodul 215.

Der erste Alarmpegel wird als ein Zustandsalarm bezeichnet.

Der Zustandsalarm zeigt an, daß die Anzahl der Kreditposten einen ersten Alarmpegel erreicht hat (z. B. wenn 40 Stunden in Form von Benutzungskreditposten übrig sind). Somit sollte die Anzahl der Benutzungskreditposten schnellstmöglich er­ höht werden. Der zweite Alarmpegel wird als Warnalarm be­ zeichnet. Der Warnalarm signalisiert, wenn die Anzahl an Kreditposten einen zweiten Alarmpegel erreicht hat (zum Bei­ spiel wenn noch 20 Stunden in Form von Benutzerkreditposten übrig sind). Der dritte und letzte Alarmpegel wird als kri­ tischer Alarm bezeichnet. Bei einem bevorzugten Ausführungs­ beispiel signalisiert der kritische Alarm, wenn die Anzahl an Kreditposten etwas höher ist, als die Anzahl an Kreditpo­ sten, die benötigt wird, um die Testvorrichtung für eine Schicht zu betreiben (z. B. etwas größer als 8 Stunden).

Die Anzahl von Kreditposten, die dem Wert einer Benutzungs­ stunde entspricht, wird durch den Belastungspegel der Schal­ tungsplatine, die zu dem Zeitpunkt getestet wird, zu dem der Alarm ausgelöst wird, bestimmt.

Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist das Bezahlen­ pro-Anwendung-System 150 programmiert, um den Benutzer zu alarmieren (über eine Leitung 211) wenn Alarmpegel erreicht werden. Der spezielle Warnpegel wird dem Benutzer 190 mit einer eindeutigen Farbe angezeigt. Das Bezahlen-pro-Anwen­ dung-Testsystem 150 überprüft auf Alarmbedingungen nachdem entweder die Bezahlen-pro-Anwendung-Systemsoftware initia­ lisiert ist, oder nachdem eine Restaktualisierung durchge­ führt wurde. Während einer Initialisierung wird die Alarm­ datei über Leitung 206 überprüft. Während einer Restaktuali­ sierung wird sie über Leitung 208 überprüft.

Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ermöglicht das System die Installation eines Kreditposten-"Reservetanks". Dies macht es möglich, das Testen mit dem "Reservetank"- Knopf (nicht gezeigt) fortzusetzen, während der Ersatz für den leeren Knopf erworben oder installiert wird. Jedoch muß stets ein positiver Kreditpostenrest existieren, um ein Te­ sten bei inkrementalen Pegeln zu beginnen oder fortzusetzen.

Ferner empfängt bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel das Laufzeitsystem 170 Informationen über den Berechti­ gungs-Kreditpostenknopf 300. Die Laufzeitsoftware (nicht ge­ zeigt) hält mit einer Ablaufunterbrechung an, wenn das Be­ zahlen-pro-Anwendung-Zugriffssystem 115 von dem Berechti­ gungs-Kreditpostenknopf 300 getrennt wird, wenn der Adapter, in dem der Berechtigungsknopf 300 steckt, fehlt oder wenn der Berechtigungsknopf 300 leer ist. Es sei bemerkt, daß es bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel des Bezahlen-pro- Anwendung-Systems 150 nicht erforderlich ist, daß ein Be­ rechtigungsknopf an dem Testsystem 170 befestigt ist, wenn ein "ausschließlich leistungsloser" Testplan durchgeführt wird (d. h. keine Tests verwendet werden, die den Kreditpo­ stenspeicher belasten).

Um Versuche eines Herstellers abzuwehren, den Zugriff zu dem Berechtigungsknopf 300 während einer Restaktualisierung lahm zu legen oder abzutrennen, ist bei der vorliegenden Erfin­ dung ein "anhängiges Aktualisierungs"-Schema zu Sicherheits­ zwecken implementiert. Die anhängige Aktualisierung ist im­ plementiert, falls eine Restaktualisierung versucht wird und das Bezahlung-pro-Anwendung-System 150 nicht erkennt, daß ein Berechtigungsknopf mit dem Testsystem 170 verbunden ist. Das Bezahlung-pro-Anwendung-System 150 speichert die Aktua­ lisierungsinformationen, bis ein neuer Startbefehl gegeben wird, wobei das Bezahlung-pro-Anwendung-System den Kredit­ postenrest zu diesem Zeitpunkt in dem wieder angebrachten Berechtigungsknopf 300 aktualisieren wird, bevor eine Wie­ deraufnahme des Testens ermöglicht wird.

Der letzte Modulsatz in dem Bezahlung-pro-Anwendung-Testsy­ stem 150 zentriert sich um die Schaltungsplatinen-Teststa­ tistiken. Alle Schaltungsplatinen-Teststatistiken werden in der Datendatei 280 gespeichert. Beispiele von Platinentest­ statistiken umfassen die Identifikation (ID) für eine Schal­ tungsplatine, das erste Datum, an dem eine Platine mit die­ ser ID getestet wurde, das jüngste Datum, an dem eine Plati­ ne mit dieser ID getestet wurde, den Testpegel, mit dem die Schaltungsplatine belastet ist, und die Gesamtzahl der Kre­ ditposten, die verwendet wurden, um Schaltungsplatinen mit dieser ID zu testen. Alle diese Informationen werden über eine Leitung 272 zum Modul 270 weitergeleitet, das alle In­ formationen kompiliert und einen Bericht auf dem Bezahlung­ pro-Anwendung-Zugriffssystem 150 bietet. Der Bericht ist für den Benutzer 190 verfügbar.

Für den Benutzer 190 ist ein Platinenstatistik-Löschen-Pro­ gramm 285 vorgesehen, wie durch eine Leitung 288 gezeigt ist. Das Programm 285 ermöglicht es dem Benutzer, die Plati­ nenstatistik-Datendatei 280 entweder gesamt oder bezüglich einer Platinen-ID auf einer Platinen-ID-Basis über eine Lei­ tung 286 zu löschen.

Das Berichtsprogramm 270 liefert Daten über alle Aspekte des Bezahlung-pro-Anwendung-Zugriffssystems 150. Das Berichts­ programm 270 liefert das gegenwärtige Datum, den gegenwärti­ gen Benutzungskreditpostenrest in allen gefundenen Kredit­ knöpfen und die Gesamttestzeit, der für jeden Kreditposten­ knopf verbleibt, basierend auf dem gegenwärtigen Benutzungs­ kreditpostenrest des Kreditpostenknopfs. Diese Testzeitdaten werden für jeden der möglichen Belastungssätze berechnet. Das Berichtsprogramm 270 druckt ferner die gegenwärtigen Werte der Benutzer-definierten Alarmeinstellungen und der Platinenstatistiken. Das Berichtsprogramm 270 liefert dem Benutzer 190 diese Informationen über eine Leitung 274.

Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel werden Benutzer des Bezahlung-pro-Anwendung-Systems nur für die tatsächliche Testzeit belastet. Mit anderen Worten heißt das, es erfolgt keine Belastung für Programmentwicklung, Pausen für Daten­ eingaben während der Tests, Systemdiagnosen usw.

Die Sicherheit und/oder die Integrität des Systems sind wichtig. Wenn der Kreditpostenknopf verfälscht wird, wird eine Warnung gegeben und ein neuer Knopf muß eingelegt wer­ den, um das Testen fortzusetzen. Die vorliegende Erfindung schützt vor Kreditpostenknöpfen, die vom Kunden hergestellt sind, indem ein geschütztes Zugriffspaßwort vorgesehen ist. Ohne Kenntnis des Paßworts kann der Hersteller keinen Kre­ ditpostenknopf herstellen, den das Bezahlen-pro-Anwendung- System 115 erkennen wird. Folglich wird der Hersteller nicht in der Lage sein, einen Zugriff auf die inkrementalen Test­ fähigkeiten der Schaltungsplatinen-Testvorrichtung zu erlan­ gen. Es ist ebenfalls wichtig, daß die Bezahlen-pro-Anwen­ dung-Software nicht durch den Kunden ausgeschaltet werden kann. Überdies kann die Kreditpostenknopfsicherheit nicht durch Unterbrechen der Übertragungen zu und von dem Eingang, an dem der Berechtigungsknopf 300 angebracht ist, durchbro­ chen werden.

Die Kunden können ihren Belastungspegel nicht durch Modi­ fizieren ihrer Platinenkonfiguration modifizieren, um eine geringere Testfähigkeit oder geringere Hardware-Anforderun­ gen als die tatsächlich programmierten zu implizieren. Test­ objekte werden zur Durchführungszeit überprüft, um eine Übereinstimmung zwischen den Fähigkeiten und den Hardware- Betriebsmitteln der Platinenkonfiguration zur Laufzeit ge­ genüber denen, die spezifiziert wurden, als das Testobjekt erzeugt wurde, sicherzustellen.

Es ist ein eindeutiges Merkmal des Bezahlung-pro-Anwendung- Testsystems 150, daß sich die Art ändert, auf die Elektro­ nikhersteller Testzeit erwerben. In erster Linie reduziert das Bezahlen-pro-Anwendung die anfängliche Kapitalinvesti­ tion und erhöht die weitergehenden Ausgaben. Dieses finan­ zielle Modell steht im Einklang mit der Art und Weise, mit der die Hersteller Testvorrichtungen verwenden. Eine leichte Reduzierung der Kapitalkosten von Testvorrichtungen (Nach­ laß, Preisreduzierungen) ist ungenügend, da der Betrag der Reduzierungen durch den Verlust der Einnahmen des Testgerät­ verkäufers begrenzt ist. Bezahlen-pro-Anwendung erzeugt ei­ nen jährlichen Einkommensfluß, der es ermöglicht, die an­ fänglichen Kapitalkosten der Testausrüstung stark zu redu­ zieren und den Einnahmeverlust des Testgerätverkäufers über die Zeit mit den jährlichen "Aufwands"-Zahlungen, die mit der tatsächlichen Verwendung des Testsystems verknüpft sind, zu ersetzen. Ein Bezahlung-pro-Anwendung-Zugriff ermöglicht es den Elektronikherstellern Hochleistungstesthardware für eine hohe Knotenzahl zu Eintrittspreisen für niedriges Ver­ halten und eine geringe Knotenzahl zu kaufen. Nur wenn ein inkrementales Verhalten/eine inkrementale Knotenkapazität erforderlich ist, wird der Hersteller für die Fähigkeit be­ lastet. Dies wird auf einer Platine-für-Platine-Basis ver­ waltet. Da sie nur eine Testplattform erhalten müssen, kön­ nen die Elektronikhersteller ihre Gesamttestkosten durch Reduzieren der Hardware- und Software-Vertragspassiva sen­ ken, wobei gleichbleibende Unterweisungsanforderungen für jeden Testingenieur und eine Standardisierung von Testbedie­ nerprozeduren vorliegen, um einige Vorteile zu nennen.

Während das bevorzugte Ausführungsbeispiel die Verwendung von Testvorrichtungs-Betriebsmitteln zusammen mit den erfor­ derlichen Testvorrichtungs-Fähigkeiten beschreibt, um den Belastungspegel für eine spezielle Platine zu bestimmen, ist es ohne weiters offensichtlich, daß Testvorrichtungs-Be­ triebsmittel auch als alleiniger Bestimmungsfaktor zum Ein­ stellen des Belastungspegels verwendet werden könnten, wobei ein unbeschränkter Zugriff auf die anderen mannigfaltigen elektronischen Testfähigkeiten der Schaltungsplatinen-Test­ vorrichtung geliefert würde.

Claims (18)

1. System zum Testen einer elektronischen Schaltung (110), das folgende Merkmale aufweist:

• (a) eine Schaltungsplatinen-Testplattform (160) mit einem oder mehreren Hardwaremodulen, die eine oder mehrere Anschlußstiftkarten enthalten; und
• (b) ein Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150), das mit der Schaltungsplatinen-Testplattform (160) gekop­ pelt ist, zum Überwachen der Verwendung der An­ schlußstiftkarten in den Hardwaremodulen der Schaltungsplatinen-Testplattform (160) und zum Ab­ ziehen einer Anzahl von Benutzerkreditposten aus einem Benutzerkreditpostenspeicher (240) basierend auf der Verwendung der Anschlußstiftkarten in den Hardwaremodulen.

2. System gemäß Anspruch 1, bei dem das Bezahlen-pro-An­ wendung-Modul (150) auf einem Basispegel funktionsfähig ist, der es nicht erfordert, den Benutzerkreditposten­ speicher (240) zu belasten, und der es nicht ermög­ licht, andere Tests auf der Schaltungsplatinen-Test­ plattform (160) durchzuführen als auf dem Basispegel, wenn in dem Benutzerkreditpostenspeicher nicht ausrei­ chend Kreditposten sind.

3. System gemäß Anspruch 1 oder 2, das ferner einen oder mehrere Berechtigungsknöpfe (300) aufweist, die den Be­ nutzerkreditpostenspeicher (240) enthalten, wobei der eine oder die mehreren Berechtigungsknöpfe (300) mit einer vorbestimmten Anzahl von Kreditposten geladen sind und der Benutzerkreditpostenspeicher (240) gegen Eingriffe und/oder unautorisierte Benutzermodifika­ tionen gesichert ist.

4. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) einen Zeitgeber um­ faßt, der durch Initiieren einer Schaltungsplatinen- Testbeginn-Funktion aktiviert wird (214) und durch Initiieren einer Schaltungsplatinen-Testende-Funktion gestoppt wird (218), wobei der Zeitgeber eine Aufzeich­ nung der verstrichenen Zeit, um einen Schaltungsplati­ nentest durchzuführen, aufrechthält.

5. System gemäß Anspruch 4, bei dem das Bezahlen-pro-An­ wendung-Modul (150) ferner folgende Merkmale aufweist:
eine Berechtigungseinrichtung zum Speichern des Benut­ zerkreditpostenspeichers (240);
ein Restmodul (245), das mit dem Zeitgeber und der Be­ rechtigungseinrichtung verbunden ist, zum Berechnen eines Abzugs von Benutzerkreditposten basierend auf einem Belastungspegel und dem Zeitbetrag, der durch den Zeitgeber aufgezeichnet ist, wobei der Benutzerkredit­ postenspeicher (240) durch den Abzug reduziert wird; und
einen Zustandsalarm (255), der mit dem Restmodul (245) verbunden ist, um anzuzeigen, wenn die Anzahl der ver­ bleibenden Benutzerkreditposten einen Alarmpegel er­ reicht hat.

6. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) ferner ein Stati­ stikmodul (280) zum Speichern von Informationen auf­ weist, die sich auf einen Schaltungsplatinentest bezie­ hen, und ein Berichtsmodul (270), das mit dem Stati­ stikmodul (280) verbunden ist, das die gesamten Infor­ mationen kompiliert und einen Bericht erzeugt.

7. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) eine Einrichtung zum Erfassen der Anzahl der Anschlußstiftkarten, die beim Testen der elektronischen Schaltung (110) verwendet werden, aufweist.

8. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) eine Einrichtung zum Erfassen der Anzahl der Hardwaremodule, die beim Testen der elektronischen Schaltung (110) verwendet werden, umfaßt.

9. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) eine Einrichtung zum Erfassen der Anzahl der verdrahteten Anschlußstifte, die beim Testen der elektronischen Schaltung (110) ver­ wendet werden, umfaßt.

10. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) eine Einrichtung zum Erfassen der Anzahl der Knoten, die in der elektroni­ schen Schaltung (110) existieren, umfaßt.

11. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) eine Einrichtung zum Erfassen der Anzahl von Prüfknoten, die in der elektro­ nischen Schaltung (110) existieren, umfaßt.

12. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11, bei dem das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) eine Einrichtung zum Erfassen der Anzahl aller Anschlußstifte auf den An­ schlußstiftkarten, die beim Testen der elektronischen Schaltung (110) verwendet werden, umfaßt.

13. System gemäß Anspruch 12, bei dem das Bezahlen-pro-An­ wendung-Modul folgende Merkmale aufweist:
einen Zähler, der durch Initiieren ausgewählter Schal­ tungsplatinentests erhöht wird, wobei der Zähler eine Aufzeichnung der Anzahl der ausgewählten Schaltungspla­ tinentests, die durch die Schaltungsplatinen-Testplatt­ form (160) durchgeführt werden, aufrechthält;
eine Berechtigungseinrichtung zum Speichern des Benut­ zungskreditpostenspeichers (240); und
ein Restmodul (245), das mit dem Zähler und der Be­ rechtigungseinrichtung verbunden ist, zum Berechnen eines Abzugs von Benutzerkreditposten basierend auf einem Belastungspegel und der Anzahl der ausgewählten Schaltungsplatinentests, die durch den Zähler aufge­ zeichnet werden.

14. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 13, bei dem die Schaltungsplatinen-Testplattform (160) die Fähigkeit besitzt, auf die elektronische Schaltung (110) Vektoren mit einer Vielzahl von Geschwindigkeiten anzuwenden, wobei das Bezahlen-pro-Anwendung-Modul (150) die Schal­ tungsplatinen-Testplattform (160) überwacht und eine Anzahl von Benutzungskreditposten aus dem Benutzungs­ kreditpostenspeicher (240) basierend auf der Geschwin­ digkeit, mit der die Schaltungsplatinen-Testplattform (160) die Vektoren anwendet, abzieht.

15. Rechnerimplementiertes Verfahren zum Steuern des Zu­ griffs auf eine Vielzahl von Fähigkeiten und ein oder mehrere Module einer oder mehrerer Anschlußstiftkarten einer Schaltungsplatinen-Testvorrichtung (100), wobei ein Kreditpostenspeicher (240), der mit einem Speicher von Benutzungskreditposten beladen ist, mit der Schal­ tungsplatinen-Testvorrichtung (100) gekoppelt ist, wo­ bei das Verfahren folgende Schritte aufweist:

• (1) Initiieren (214) eines Schaltungsplatinen-Test­ segments gemäß einem Testplan;
• (2) Bestimmen aus dem Testplan, welche Fähigkeiten der Schaltungsplatinen-Testvorrichtung (100) erforder­ lich sind, um den Schaltungsplatinentest durchzu­ führen;
• (3) Bestimmen aus dem Testplan, welche Anschlußstift­ karten in welchen Modulen der Schaltungsplatinen- Testvorrichtung erforderlich sind, um den Schal­ tungsplatinentest durchzuführen;
• (4) Bestimmen eines Belastungspegels basierend auf den erforderlichen Fähigkeiten und den erforderlichen Anschlußstiftkarten;
• (5) Bestimmen einer Zeit, die verstrichen ist, um das Schaltungsplatinen-Testsegment durchzuführen, wo­ bei das Testsegment durch eine Schaltungsplatinen- Testbeginn-Funktion und eine Schaltungsplatinen- Testende-Funktion bestimmt wird;
• (6) Berechnen einer Anzahl von Benutzerkreditposten, die von dem Speicher der Benutzerkreditposten (240) zum Durchführen des Schaltungsplatinen-Test­ segments abgezogen werden sollen, basierend auf der verstrichenen Zeit und dem Belastungspegel;
• (7) Abziehen der Anzahl von Benutzerkreditposten aus dem Benutzerkreditpostenspeicher (240); und
• (8) Liefern eines Zustandalarms, wenn die Anzahl der Benutzerkreditposten in dem Speicher der Benut­ zerkreditposten unter einen Alarmwert fällt.

16. Verfahren gemäß Anspruch 15, das ferner den Schritt des Lieferns eines Berichts bezüglich unterschiedlicher As­ pekte der Schaltungsplatinentests umfaßt.

17. Verfahren gemäß Anspruch 15 oder 16, das ferner den Schritt des Zerstörens des Inhalts des Kreditposten­ speichers umfaßt, wenn ein unbefugter Eingriff erfaßt wird.

18. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 15 bis 17, das fer­ ner den Schritt des Begrenzens des Testens auf zumin­ dest eine der Vielzahl der Testfähigkeiten einschließt, wenn nicht ausreichend Kreditposten in dem Kreditpo­ stenspeicher (240) sind.