DE4439759C1 - Photodiodenarray - Google Patents

Photodiodenarray

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G—PHYSICS
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    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2921—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
    • G01T1/2928—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras using solid state detectors

Description

In der Röntgencomputertomographie werden Festkörperdetektoren verwendet, die ein Photodiodenarray aufweisen, wobei vor den einzelnen Photodioden Szintillatoren liegen, die die Röntgen­ strahlung in sichtbares Licht umwandeln, welches von den Pho­ todetektoren in ein entsprechendes elektrisches Signal gewan­ delt wird. Zur Signalverbesserung kann dabei zwischen jeweils zwei Photodioden eine Absaugdiode angeordnet werden. Der Dun­ kelstrom der Photodioden ist dabei von der Temperatur und der Spannung an den Absaugdioden abhängig. Die Spannung für die Absaugdioden, die die Auswirkungen der Direktkonversion von Röntgenstrahlung in den Photodioden und das optische Über­ sprechen kompensieren, wird für alle Absaugdioden fest vorge­ geben.
Durch IBM Techn. Discl. Bull., Vol. 22, No. 8B, 1980, S. 3735, US 4 714 827 und DE 36 04 971 A1 sind Photodioden­ schaltungen bzw. -arrays bekannt, bei denen Maßnahmen zur Dunkelstromkompensation getroffen sind. Durch US 5 296 697 ist ferner eine Photodiodenschaltung bekannt, bei der die Signaltransfercharakteristik konstant gehalten wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Photodioden­ array so auszubilden, daß der Dunkelstrom vollständig kompen­ siert wird, so daß sich dieses Array für die Anwendung in der Röntgencomputertomographie besonders eignet.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Patentanspruches.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.
In der Zeichnung ist die Schaltung für einen Detektor eines Photodiodenarrays dargestellt. Die Photodiode ist mit 1 und die ihr zugeordnete Absaugdiode mit 2 bezeichnet. An die Ab­ saugdiode 2, die bei dem Beispiel aus der Parallelschaltung von zwei einzelnen Dioden besteht, schließt sich eine weitere Photodiode an, die auf dem selben Substrat wie die Photodiode 1 und die Absaugdiode 2 aufgebaut ist. Die Absaugdiode 2 liegt an einer Absaugspannungsquelle 3. Das von der Photo­ diode 1 gelieferte elektrische Signal wird über einen Ver­ stärker 4 einem Datenverarbeitungssystem zugeführt.
Für die Kompensation des Dunkelstroms ist ein Regler 5 vorge­ sehen, dem ein Meßwertumformer 6 sowie eine einstellbare Spannungsquelle 7 zugeordnet ist.
Der Strom im Dunkelfall läßt sich durch das Anlegen der Span­ nung Uph der Spannungsquelle 7 an die Photodiode 1 vollstän­ dig kompensieren. Dazu sind die einzelnen Photodioden 1 mit der Spannungsquelle 7 beschaltet. Der Meßwertumformer 6 er­ zeugt ein dem Dunkelstrom proportionales Signal, das dem elektronischen Regler 5 zugeführt wird, der über ein Stell­ glied die Spannung Uph einstellt und den Dunkelstrom kompen­ siert. Der Regler 5 verfügt über eine Hold-Funktion (Zeit t < 2 min). Während Röntgenstrahlung auf den Szintillator trifft und das dadurch erzeugte Licht die Photodiode 1 be­ strahlt, muß die Spannung Uph konstant gehalten werden. Ein entsprechendes Hold-Signal liegt am Eingang 8.
Diese automatische Einzel-Kanal-Regelung bei einem Szintilla­ tor-Photodioden-Detektor bewirkt, daß
der Dunkelstrom kompensiert wird und damit der volle Dynamik­ bereich der Photodiode 1 genutzt wird,
der Detektor gegenüber Arbeitstemperaturschwankungen unemp­ findlich wird,
Temperaturdifferenzen einzelner Detektorbereiche ausgeregelt werden,
Schwankungen in der Absaugspannung Uabs im Prozentbereich ohne Einfluß bleiben,
Streuungen der Photodioden 1 innerhalb eines Arrays und Exem­ plarstreuungen von Arrays geringste Auswirkungen zeigen,
durch Reduzierung der Offsetmessung Zeit eingespart wird (keine Meßzeit für mehrmaliges Offsetmessen).
Die automatische Einzel-Kanal-Regelung gewährleistet damit
eine stabile elektrische Trennung der Kanäle,
eine optimale Reduzierung der Direktkonversion,
eine stabile Offsetmessung, die deshalb nur selten durchge­ führt werden muß (nicht vor jeder Messung).

Claims (1)

  1. Photodiodenarray, bei dem den einzelnen Photodioden (1) eine einstellbare Spannungsquelle (7) zugeordnet ist, deren Span­ nung (Uph) von einem Regler (5) eingestellt wird, der von ei­ nem Meßwertumformer (6) ein dem Dunkelstrom proportionales Signal erhält, wobei die Spannung (Uph) während der Bestrah­ lung einer Photodiode (1) konstant gehalten wird.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19740212A1 (de) * 1997-09-12 1999-03-25 Siemens Ag Halbleiter-Strahlungsdetektor mit Temperaturkompensation

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6256404B1 (en) 1997-10-10 2001-07-03 Analogic Corporation Computed tomography scanning apparatus and method using adaptive reconstruction window
US5949842A (en) * 1997-10-10 1999-09-07 Analogic Corporation Air calibration scan for computed tomography scanner with obstructing objects
CN1276870A (zh) * 1997-10-10 2000-12-13 模拟技术公司 利用表面法线探测ct目标
US5970113A (en) * 1997-10-10 1999-10-19 Analogic Corporation Computed tomography scanning apparatus and method with temperature compensation for dark current offsets
JP3740315B2 (ja) * 1999-03-12 2006-02-01 株式会社日立製作所 Ｘ線センサ信号処理回路及びそれを用いたｘ線ｃｔ装置並びにｘ線センサ信号処理方法
US6859511B2 (en) * 1999-03-12 2005-02-22 Hitachi, Ltd. X-ray sensor signal processor and x-ray computed tomography system using the same
ES2252261T3 (es) * 2000-06-28 2006-05-16 Glycofi, Inc. Metodos para producir glicoproteinas modificadas.
ATE556537T1 (de) * 2006-09-25 2012-05-15 Koninkl Philips Electronics Nv Kompensation von leckagestrom und restsignalen zur integration eines detektors auf basis direkter röntgenstahlumwandlung
JP4793397B2 (ja) * 2008-03-14 2011-10-12 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線画像検出器
CN108169791B (zh) * 2018-03-23 2024-03-08 京东方科技集团股份有限公司 用于x射线探测器的读取装置及其方法、x射线探测器

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3604971A1 (de) * 1986-02-17 1987-08-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Photosensoreinrichtung mit dunkelstromkompensation
US4714827A (en) * 1985-01-18 1987-12-22 Nippon Soken, Inc. Photo-electric conversion device with dark current compensation
US5296697A (en) * 1992-08-10 1994-03-22 Parkervision, Inc. Detection circuit for maintaining constant signal transfer characteristics of a light-sensitive detector

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE371009B (de) * 1973-03-09 1974-11-04 Aga Ab
US4341956A (en) * 1979-09-24 1982-07-27 Pfizer, Inc. Apparatus and method for compensating the dark current photoelectric transducers
US4933543A (en) * 1987-09-25 1990-06-12 Chesley F. Carlson Dark signal compensation for diode arrays
US4916307A (en) * 1987-12-15 1990-04-10 Fuji Electric Co., Ltd. Light intensity detecting circuit with dark current compensation

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4714827A (en) * 1985-01-18 1987-12-22 Nippon Soken, Inc. Photo-electric conversion device with dark current compensation
DE3604971A1 (de) * 1986-02-17 1987-08-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Photosensoreinrichtung mit dunkelstromkompensation
US5296697A (en) * 1992-08-10 1994-03-22 Parkervision, Inc. Detection circuit for maintaining constant signal transfer characteristics of a light-sensitive detector

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IBM Techn.Discl.Bull., Vol. 22, No. 8B, 1980, S. 3735 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19740212A1 (de) * 1997-09-12 1999-03-25 Siemens Ag Halbleiter-Strahlungsdetektor mit Temperaturkompensation

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Publication number Publication date
JPH08226974A (ja) 1996-09-03
CN1128357A (zh) 1996-08-07
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