DE4425331A1 - Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung - Google Patents
Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten und Verfahren zur Herstellung der VorrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum magnetfeldge
steuerten Schalten sowie ein Verfahren zur Herstellung einer
derartigen Schaltvorrichtung.
Gegenstand der nicht-vorveröffentlichten deutschen Patentan
meldung P 43 26 999.0 ist eine besondere Vorrichtung zum ma
gnetfeldgesteuerten Schalten. Diese Vorrichtung soll folgende
Merkmale aufweisen:
- a) Es ist eine Schaltfeldquelle zum Erzeugen eines Schalt magnetfeldes S in einem vorgegebenen Schaltoperationsbe reich vorgesehen;
- b) es sind wenigstens ein Schichtpaket mit
- b1) wenigstens einer Biasschicht mit einer zum Schaltmagnetfeld S kollinearen und von dessen Feldstärke HS in dem Schaltoperationsbereich zumindest weitgehend unabhängigen Magnetisierungs B und
- b2) wenigstens eine Schaltschicht mit einer Magnetisierung S, die zumindest mit einer Komponente in einem ersten Feldbereich unterhalb eines ersten Grenzwertes H₁ parallel oder antiparallel und in einem zweiten Feldbereich oberhalb eines zweiten Grenzwertes H₂ antiparallel bzw. parallel zur Magnetisierung B der Biasschicht gerichtet ist, wobei diese beiden Feldbereiche innerhalb des Schaltoperationsbereiches liegen;
- c) es sind Schalterkontakte an dem Schichtpaket vorgesehen zum Erfassen eines Schaltsignals mit zwei logischen Zu ständen, die durch das Schaltfeld S in dem ersten bzw. dem zweiten Feldbereich eingestellt sind.
Vorteilhaft kann an die Biasschicht auf der von der Schalt
schicht abgewandten Seite eine Magnetschicht mit einer Magne
tisierung ₁ magnetisch austauschgekoppelt sein, wobei ins
besondere zwischen der Biasschicht und der Magnetschicht eine
Kopplungsschicht angeordnet ist. Außerdem kann vorteilhaft an
die Magnetschicht eine weitere Biasschicht mit einer Magneti
sierung B′ magnetisch austauschgekoppelt sein, wobei insbe
sondere zwischen der Magnetschicht und der weiteren Bias
schicht ebenfalls eine Kopplungsschicht angeordnet ist.
Bei einer solchen Vorrichtung wird vorzugsweise zum Einstel
len der beiden Grenzwerte H₁ und H₂ die vektorielle Summe der
Produkte aus den Dicken und den Magnetisierungen in einem die
Biasschicht und die benachbarte Magnetschicht bzw. die Ma
gnetschicht und die beiden benachbarten Biasschichten enthal
tenden Schichtsystem ungleich Null gewählt. Die beiden Grenz
werte H₁ und H₂ können auch durch die Wahl der Dicke der
Schaltschicht eingestellt werden. Darüber hinaus läßt sich
ein äußeres Stützfeld B zum Einstellen der Grenzwerte H₁
und H₂ vorsehen.
Ferner kann vorteilhaft das so gebildete Schichtpaket der
Vorrichtung mehrere Schaltschichten und mehrere Biasschichten
enthalten, wobei die Magnetisierungen der Biasschichten alle
wenigstens annähernd gleichgerichtet sind.
Gemäß einer speziellen Ausführungsform dieser Vorrichtung
können wenigstens zwei Schichtpakete vorgesehen sein, die zu
einem Mehrfachschichtpaket zusammengefaßt sind. Bei einem
solchen Mehrfachschichtpaket können die Magnetisierungen al
ler Biasschichten des ersten Schichtpaketes parallel oder an
tiparallel zu den Magnetisierungen aller Biasschichten des
zweiten Schichtpaketes gewählt werden.
Bei der vorgeschlagenen Vorrichtung mit mehreren Schichtpake
ten wird davon ausgegangen, daß alle Schichten der Schichtpa
kete stapelförmig zu dem gemeinsamen Mehrfachschichtpaket zu
sammengefaßt werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine weitere Aus
führungsform einer Schaltvorrichtung anzugeben, die minde
stens zwei Schichtpakete enthält, welche jeweils zumindest
die eingangs genannten Merkmale aufweisen. Ferner soll ein
Verfahren angegeben werden, mit dem sich eine derartige Vor
richtung verhältnismäßig einfach realisieren läßt.
Zur Lösung dieser Aufgabe sollen erfindungsgemäß die minde
stens zwei Schichtpakete auf einem gemeinsamen Trägerkörper
nebeneinander und gegenseitig beabstandet angeordnet sein.
Die mit dieser Ausgestaltung der Vorrichtung verbundenen Vor
teile sind zum einen darin zu sehen, daß die mindestens zwei
Schichtpakete direkt thermisch und mechanisch an dem Träger
körper angekoppelt sind. Ferner wird gegenüber einer gesta
pelten Version mit mehreren Schichtpaketen die Schwierigkeit
vermieden, daß die Qualität des Stapels mit wachsender Dicke
abnimmt, so daß häufig die Sensorelemente, die durch ein vom
Trägerkörper weiter entfernten Schichtpaket gebildet werden,
eine verminderte Empfindlichkeit aufweisen. Bei der erfin
dungsgemäßen Ausgestaltung treten entsprechende Schwierigkei
ten nicht auf. Unter Berücksichtigung dieses Vorteils kann
man außerdem leichter komplexere Schaltvorrichtungen, in de
nen sich mehr als zwei Kennlinien überlagern, realisieren.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Vorrichtung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
Ein einfach ausführbares Verfahren zur Herstellung einer ent
sprechenden Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß unter
Zuhilfenahme von an sich bekannten Mikrostruktur-Techniken
auf dem Trägerkörper zunächst in einem ersten Bereich das er
ste Schichtpaket ausgebildet wird und daß anschließend auf
dem so gewonnenen Aufbau aus Trägerkörper und erstem Schicht
paket in entsprechender Weise in einem zweiten Bereich das
zweite Schichtpaket ausgebildet wird.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird auf die Zeichnung
Bezug genommen, in deren
Fig. 1 eine Ausführungsform einer Vorrichtung nach der
Erfindung
und in deren
und in deren
Fig. 2 bis 7 und 8 bis 12 verschiedene Schritte zweier
Verfahren zur Herstellung einer solchen Vorrichtung
jeweils im Querschnitt schematisch veranschaulicht sind. Da
bei sind sich entsprechende Teile mit denselben Bezugszeichen
versehen.
Bei der in Fig. 1 gezeigten, allgemein mit SV bezeichneten
Vorrichtung nach der Erfindung wird von Ausführungsformen zum
magnetfeldgesteuerten Schalten ausgegangen, wie sie mit der
eingangs genannten Patentanmeldung vorgeschlagen sind. Nicht
näher ausgeführte Teile der erfindungsgemäßen Vorrichtung
entsprechen diesen vorgeschlagenen Ausführungsformen.
Die Vorrichtung SV enthält eine Schaltmagnetfeldquelle 20 zum
Erzeugen eines Schaltmagnetfeldes S. Ferner ist ein erster
Schaltsensor S′ vorgesehen, der ein (erstes) Giant-MR-
Schichtpaket ML′ mit wenigstens einer Schaltschicht 2′ und
wenigstens einer Biasschicht 6′ sowie an dem Schichtpaket an
gebrachte Schalterkontakte 11A′ und 11B′ enthält. Die Bias
schicht 6′ weist eine Magnetisierung B′ auf, die zum
Schaltmagnetfeld S parallel oder antiparallel gerichtet ist
und in einem Schaltoperationsbereich von dessen Feldstärke HS
zumindest weitgehend unabhängig ist. Die Schaltschicht 2′ ist
dagegen mit einer vom Schaltmagnetfeld S beeinflußbaren Ma
gnetisierung S′ versehen. Diese Magnetisierung ist in einem
ersten Feldbereich unterhalb eines ersten Grenzwertes Ha ent
weder parallel oder antiparallel zur Magnetisierung B′ der
Biasschicht 6′ gerichtet und in einem zweiten Feldbereich
oberhalb eines zweiten Grenzwertes Hb mit Hb < Ha dann anti
parallel bzw. parallel zu B gerichtet. Als Feldbereich wird
dabei der Bereich aller entsprechenden Feldstärkewerte ver
standen.
Diese Eigenschaften der magnetischen Schichten des Schichtpa
ketes ML′ können auf mehrere Arten erreicht werden. In einer
Ausführungsform sind eine magnetisch härtere Biasschicht und
eine magnetisch weichere Schaltschicht vorgesehen. Vorzugs
weise ist die Biasschicht mit einer magnetischen Vorzugsachse
versehen und entlang dieser Vorzugsachse magnetisiert. In
einer weiteren Ausführungsform ist auch in die Schaltschicht
eine vorzugsweise zur Magnetisierung der Biasschicht senk
rechte Vorzugsachse eingeprägt. In dieser Ausführungsform ist
die Magnetisierung der Schaltschicht im Übergangsbereich re
versibel vom Schaltmagnetfeld S abhängig. Diese verschiede
nen Ausführungsformen können auch kombiniert werden.
Um nun, ausgehend von diesen grundlegenden Ausführungsformen,
die Grenzwerte Ha und Hb innerhalb eines Schaltoperationsbe
reiches verschieben zu können, kann die Vorrichtung auf fol
gende Arten ausgebildet werden.
- (i) Es ist ein äußeres Stützfeld B für die wenigstens eine Schaltschicht vorgesehen, das kollinear zum Schaltmagnetfeld S gerichtet ist.
- (ii) Es ist ein in dem Schichtpaket erzeugtes internes Stützfeld B für die wenigstens eine Schaltschicht vorgesehen, das kolinear zum Schaltmagnetfeld S ist.
- (iii) Die Schaltschicht und die Biasschicht sind magnetisch austauschgekoppelt.
Diese prinzipiellen Ausführungsformen können auch miteinander
kombiniert werden.
Eine Möglichkeit zum Erzeugen eines internen Stützfeldes B
und zugleich zur Stabilisierung der Magnetisierung B einer
Biasschicht ist in Fig. 1 jeweils für das Schichtpaket ML′
sowie für ein weiteres Schichtpaket ML′′ eines zweiten Schalt
sensors S′′ dargestellt. Nachfolgend sei zunächst nur auf das
Schichtpaket ML′ eingegangen. In diesem Paket ist an die
Biasschicht 6′ vorzugsweise über eine Kopplungsschicht 8′
eine weitere Magnetschicht 10′ antiferromagnetisch angekop
pelt. Die Magnetisierung ₁′ der Magnetschicht 10′ und die
Magnetisierung B′ der Biasschicht 6′ sind deshalb antipa
rallel zueinander ausgerichtet. Zum Einstellen des internen
Stützfeldes B′ für die Schaltschicht 2′ ist die vektorielle
Summe aus den Produkten dB′* B′ und d₁′*₁ aus den Schich
ten dB′ und d₁′ mit den Magnetisierungen B′ bzw. ₁′ der
Biasschicht 6′ bzw. der Magnetschicht 10′ so gewählt, daß ein
entsprechend gerichteter Netto-Magnetfluß außerhalb des aus
der Biasschicht 6′ und der Magnetschicht 10′ gebildeten
Schichtsystems entsteht. Die Schaltschicht 2′ ist vorzugs
weise über eine Zwischenschicht 4′ von der Biasschicht 6′ ma
gnetisch weitgehend austauschentkoppelt. Es sind Schalterkon
takte 11A′ und 11B′ auf der obersten Schicht des Schichtpa
kets ML′ angeordnet, so daß der Strom im Mittel parallel zu
den Schichtebenen fließt. Das Schichtpaket ML′ ist auf einem
bekannten Trägerkörper 13, z. B. einem Si-Substrat, in bekann
ter Weise ausgebildet.
Erfindungsgemäß befindet sich auf diesem Trägerkörper 13 ne
ben dem Schaltsensor S′ mit dem Schichtpaket ML′ mindestens
ein weiterer Schaltsensor S′′ mit einem (weiteren) Schichtpa
ket ML′′. Dieses weitere Schichtpaket kann entsprechend dem
Schichtpaket ML′ aufgebaut sein. Seine einzelnen Teile sind
gegenüber den entsprechenden Teilen des Schichtpaketes ML′
jeweils durch einen Doppelstrich als oberer Index unterschie
den. Zumindest einzelne Schichten des Schichtpaktes ML′′ kön
nen hinsichtlich ihrer Magnetisierungsverhältnisse und/oder
ihrer Dicken gegenüber den entsprechenden Schichten des
Schichtpaktes ML′ verschieden sein, so daß dann die Schalt
kennlinien der beiden Sensoren S′ und S′′ verschieden sind. In
der Figur sei angenommen, daß die Magnetisierungen B′′ und
₁′′ sowie das Biasfeld B′′ entgegengesetzt gerichtet sind zu
B′ bzw. ₁′ bzw. B′. Die beiden Schichtpakete ML′ und ML′′
sind gegeneinander um einen solchen Abstand a beabstandet,
daß eine gegenseitige magnetische Beeinflussung zumindest
weitgehend ausgeschlossen ist.
Bei der erfindungsgemäßen Schaltvorrichtung SV wird davon
ausgegangen, daß mindestens zwei mit Schichtpaketen ML′ und
ML′′ gebildete Schaltsensoren S′ und S′′ vorgesehen sind. Diese
Schaltsensoren sollen vorzugsweise unterschiedliche, im Prin
zip stufenförmige Kennlinien einer Leitwertfunktion G′ bzw.
G′′ haben, wobei im Idealfall gilt:
G′(HS) = G′₀ + ΔG′ε(HS-H′′) (1a)
und
G′′(HS) = G′′₀ + ΔG′′ε(HS-H′′) (1b)
und
G′′(HS) = G′′₀ + ΔG′′ε(HS-H′′) (1b)
Dabei sind HS das magnetische Schaltfeld sowie H′ und H′′ die
magnetischen Schaltfeldgrenzwerte der Sensoren S′ und S′′.
Ferner ist
ε(HS-H′) = 0 für HS < H′
und = 1 für HS < H′ (1c)
und = 1 für HS < H′ (1c)
ε(HS-H′′) ist analog zur Gleichung (1c) zu bilden.
Geht man nun davon aus, daß die beiden Schichtpakete ML′ und
ML′′ gemäß einer mit der eingangs genannten Patentanmeldung
vorgeschlagenen Ausführungsform aufeinandergestapelt bzw.
verschachtelt sind, dann ergibt sich als Antwortfunktion G
des kompletten Schalters:
G(HS) = G′₀ + G′′₀ + ΔG′ε(HS-H′) + ΔG′′ε(HS-H′′) (2)
Bei der erfindungsgemäßen Ausführungsform werden die Schalt
sensoren S′ und S′′ nicht aufeinander, sondern nebeneinander
auf einem gemeinsamen Trägerkörper angebracht und entweder
parallel oder in Serie geschaltet. Bei einer Parallelschal
tung ergibt sich die Gleichung (2) für die Antwortfunktion G
der gesamten Schaltvorrichtung SV, während im zweiten Fall
der Serienschaltung für den Gesamtwiderstand R der Vorrich
tung gilt:
R(HS) = R′₀ + R′′₀ + ΔR′ε(HS-H′) + ΔR′′ε(HS-H′′) (3)
mit Ri₀ = 1/Gi₀ und ΔRi = 1/(G₀i + ΔGi) 1/Gi 0,
wobei i = ′ oder ′′. Hierbei muß beachtet werden, daß ΔRi und ΔGi (mit i = ′, ′′) entgegengesetzte Vorzeichen besitzen. Des sen ungeachtet ist die Schaltkennlinie in den beiden Fällen gleich.
wobei i = ′ oder ′′. Hierbei muß beachtet werden, daß ΔRi und ΔGi (mit i = ′, ′′) entgegengesetzte Vorzeichen besitzen. Des sen ungeachtet ist die Schaltkennlinie in den beiden Fällen gleich.
Nachfolgend werden zwei Verfahren zur Herstellung von erfin
dungsgemäßen Schaltvorrichtungen anhand der Fig. 2 bis 7
bzw. 8 bis 12 erläutert, wobei an sich bekannte Mikrostruk
tur-Techniken zum Einsatz kommen:
Mit bekannten fotolithographischen Techniken wird in einem
ersten Schritt auf einem Substrat (Trägerkörper) 13 zu
nächst eine Fotolackschicht 14 aufgebracht. Mittels einer
Lift-Off-Technik wird dann in einem Bereich B′, in dem ein
Schaltsensor S′ ausgebildet werden soll, der Fotolack wie
der entfernt (Fig. 2). Anschließend wird in einem zweiten
Schritt auf dem so gewonnenen Aufbau mit der strukturierten
Fotolackschicht 14 eine Schichtenfolge 15 abgeschieden, die
dem auszubildenden Schichtpaket des Sensors S′ entspricht
(Fig. 3). In einem dritten Schritt wird der überflüssige
Teil dieser Schichtenfolge einschließlich des darunterlie
genden Fotolacks entfernt, so daß nur das Schichtpaket ML′
des Schaltsensors S′ übrigbleibt (Fig. 4). In einem vier
ten Schritt wird dann der Aufbau aus Substrat 13 mit dem
Schichtpaket ML′ mit einer Fotolackschicht 16 bedeckt.
Diese Lackschicht wird in einem Bereich B′′ wieder entfernt,
wo ein weiterer Schaltsensor S′′ angebracht werden soll
(Fig. 5). In einem fünften Schritt wird entsprechend dem
zweiten Schritt eine Schichtenfolge 17 gemäß dem Aufbau des
weiteren Sensors S′′ abgeschieden (Fig. 6). Schließlich
wird in einem sechsten Schritt entsprechend dem dritten
Schritt der überflüssige Teil der Schichtenfolge 17 und der
Fotolackschicht 16 entfernt, so daß sich nun auf dem
Substrat 13 nur noch das zweite Schichtpaket ML′′ des weite
ren Sensors S′′ zusammen mit dem Schichtpaket ML′ des ersten
Sensors S′ befindet (Fig. 7).
In einem ersten Schritt wird auf einem Substrat 13 eine
Schichtenfolge 18 abgeschieden, die der des auszubildenden
Schichtpakets eines Schaltsensors S′ entspricht. Diese
Schichtenfolge wird mit einer Ätzstoppschicht 19 abgedeckt
(Fig. 8). In einem zweiten Schritt wird dann die Ätzstopp
schicht sowie die darunterliegende Schichtenfolge 18 bis
auf einem Bereich B′, in dem sich der Sensor S′ befinden
soll, entfernt. Es verbleibt so im Bereich B′ ein Schicht
paket ML′ des Sensors S′ mit einer Abdeckung durch den ent
sprechenden Rest 19′ der Ätzstoppschicht (Fig. 9). In
einem dritten Schritt wird auf diesem Aufbau entsprechend
dem ersten Schritt eine Schichtenfolge 28 eines weiteren
auszubildenden Schaltsensors S′′ aufgebracht (Fig. 10). An
schließend wird in einem vierten Schritt auf dieser Schich
tenfolge 28 eine Fotolackschicht abgeschieden, die dann bis
auf einen Rest 29 in einem Bereich B′′, indem sich der Sen
sor S′′ befinden soll, wieder entfernt wird (Fig. 11) . In
einem fünften Schritt wird schließlich das überflüssige Ma
terial der Schichtenfolge 28 (außerhalb des Bereichs B′′),
gegebenenfalls auch die Abdeckungsreste 19′ und 29 der Ätz
stoppschicht (vgl. Fig. 9) bzw. der Fotolackschicht (vgl.
Fig. 11), weggeätzt. Der so zu gewinnende Aufbau mit den
beiden Schichtpaketen ML′ und ML′′ der Sensoren S′ und S′′
ist aus Fig. 12 ersichtlich, wobei angenommen ist, daß der
Abdeckungsrest 19′ der Ätzstoppschicht auf dem Schichtpaket
ML′ noch vorhanden ist.
Abweichend von der in den Figuren dargestellten Ausfüh
rungsform der Schaltsensoren S′ und S′′ können für diese
Sensoren selbstverständlich auch andere, mit der eingangs
genannten Patentanmeldung vorgeschlagene Ausführungsformen
vorgesehen werden.
Claims (8)
1. Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten mit folgen
den Merkmalen:
- a) Es ist eine Schaltfeldquelle (20) zum Erzeugen eines Schaltmagnetfeldes (S) in einem vorgegebenen Schaltope rationsbereich vorgesehen;
- b) es sind wenigstens zwei Schichtpakete (ML′, ML′′) mit je
weils
- b1) wenigstens einer Biasschicht (6′, 6′′) mit einer zum Schaltmagnetfeld (S) kollinearen und von dessen Feldstärke (HS) in dem Schaltoperationsbereich zumindest weitgehend unabhängigen Magnetisierung (S′, S′′), die zumindest mit einer Komponente in einem ersten Feldbereich unterhalb eines ersten Grenzwertes (H₁) parallel oder antiparallel und in einem zweiten Feldbereich oberhalb eines zweiten Grenzwertes (H₂) antiparallel bzw. parallel zur Magnetisierung (B, B′′) der Biasschicht (6′, 6′′) gerichtet ist, wobei diese beiden Feldbereiche innerhalb des Schaltoperationsbereiches liegen;
- c) es sind Schalterkontakte (11A′, 11B′, 11A′′, 11B′′) vorgese hen zum Erfassung eines Schaltsignals mit zwei logischen Zuständen, die durch das Schaltfeld (S) in dem ersten bzw. dem zweiten Feldbereich eingestellt sind,
nach Patent . . . (Patentanmeldung P 43 26 999.0),
dadurch gekennzeichnet, daß die min
destens zwei Schichtpakete (ML′, ML′′) auf einem gemeinsamen
Trägerkörper (13) nebeneinander und gegenseitig beabstandet
angeordnet sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Schichtpakete (ML′, ML′′)
unterschiedliche Schaltkennlinien haben.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß jedes Schichtpaket (ML′,
ML′′) zwei Schalterkontakte (11A′, 11B′ bzw. 11A′′, 11B′′) ent
hält.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Schichtpakete (ML′, ML′′)
an ihren Schalterkontakten (11A′, 11B′ bzw. 11A′′, 11B′′) hin
tereinandergeschaltet sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Schichtpakete (ML′, ML′′)
an ihren Schalterkontakten (11A′, 11B′ bzw. 11A′′, 11B′′) pa
rallelgeschaltet sind.
6. Verfahren zur Herstellung einer Schaltvorrichtung gemäß
einer der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß unter Zuhilfenahme von Mikro
struktur-Techniken auf dem Trägerkörper (13) zunächst in
einem ersten Bereich (B′) ein erstes Schichtpaket (ML′) aus
gebildet wird und daß anschließend auf dem so gewonnenen Auf
bau aus Trägerkörper (13) und erstem Schichtpaket (ML′) in
entsprechender Weise in einem zweiten Bereich (B′′) ein weite
res Schichtpaket (ML′′) ausgebildet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß zur Ausbildung jedes der Schichtpa
kete (ML′, ML′′) die jeweilige Unterlage mit einer Schichten
folge (15, 17, 18, 28) versehen wird, deren Aufbau dem des
auszubildenden Schichtpaketes entspricht, und daß dann diese
Schichtenfolge bis auf den Bereich (B′ oder B′′), in dem das
Schichtpaket anzuordnen ist, wieder entfernt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4425331A DE4425331A1 (de) | 1993-08-11 | 1994-07-18 | Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4326999A DE4326999A1 (de) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten |
DE4425331A DE4425331A1 (de) | 1993-08-11 | 1994-07-18 | Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4425331A1 true DE4425331A1 (de) | 1996-01-25 |
Family
ID=25928531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4425331A Withdrawn DE4425331A1 (de) | 1993-08-11 | 1994-07-18 | Vorrichtung zum magnetfeldgesteuerten Schalten und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4425331A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10019697A1 (de) * | 2000-04-20 | 2001-11-15 | Sebastian T B Goennenwein | Verfahren zur Erzeugung und Charakterisierung von spinpolarisierten Ladungsträgersystemen und darauf beruhende Bauelemente |
US6914003B2 (en) | 2002-05-29 | 2005-07-05 | Hynix Semiconductor Inc. | Method for manufacturing magnetic random access memory |
-
1994
- 1994-07-18 DE DE4425331A patent/DE4425331A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10019697A1 (de) * | 2000-04-20 | 2001-11-15 | Sebastian T B Goennenwein | Verfahren zur Erzeugung und Charakterisierung von spinpolarisierten Ladungsträgersystemen und darauf beruhende Bauelemente |
US6914003B2 (en) | 2002-05-29 | 2005-07-05 | Hynix Semiconductor Inc. | Method for manufacturing magnetic random access memory |
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Legal Events
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