DE4338390C2 - Szenensimulator, insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in Zielsuchköpfen - Google Patents
Szenensimulator, insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in ZielsuchköpfenInfo
- Publication number
- DE4338390C2 DE4338390C2 DE4338390A DE4338390A DE4338390C2 DE 4338390 C2 DE4338390 C2 DE 4338390C2 DE 4338390 A DE4338390 A DE 4338390A DE 4338390 A DE4338390 A DE 4338390A DE 4338390 C2 DE4338390 C2 DE 4338390C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mirror
- elements
- sensor
- radiation
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 38
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 13
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 15
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F42—AMMUNITION; BLASTING
- F42C—AMMUNITION FUZES; ARMING OR SAFETY MEANS THEREFOR
- F42C21/00—Checking fuzes; Testing fuzes
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G7/00—Direction control systems for self-propelled missiles
- F41G7/001—Devices or systems for testing or checking
- F41G7/002—Devices or systems for testing or checking target simulators
- F41G7/004—Devices or systems for testing or checking target simulators for infrared seekers
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41J—TARGETS; TARGET RANGES; BULLET CATCHERS
- F41J2/00—Reflecting targets, e.g. radar-reflector targets; Active targets transmitting electromagnetic or acoustic waves
- F41J2/02—Active targets transmitting infrared radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S3/00—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received
- G01S3/78—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received using electromagnetic waves other than radio waves
- G01S3/781—Details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Erzeugung von Bildinformationen in Echtzeit
für den Test von bildauflösenden Sensoren, insbesondere zum Testen von Infrarot-
Sensoren in Zielsuchköpfen.
Eine solche Vorrichtung ist aus der US 5 012 112 bekannt.
Es ist bekannt, bildauflösende Infrarot-Sensoren, insbesondere in Infrarot-
Zielsuchköpfen, anhand von simulierten Objektszenen unter dynamischen Bedingungen
zu testen. Das geschieht in sog. HIL-Anlagen (Hardware-in-the Loop). Dabei wird der
Flug eines Lenkflugkörpers vom Start bis zur Annäherung an das Ziel simuliert. Vom
Suchkopf aus wird das als eine "Bildexplosion" gesehen: Ein simuliertes Objekt wird
vom Suchkopf aus gesehen bei der Annäherung immer größer. Die während des Fluges
auftretende Szenenfolge muß in Echtzeit simuliert werden, d. h. mit Bildfolgefrequenzen,
die eine quasi-kontinuierliche Darstellung erlauben.
Bei der Darstellung der Objekt- oder Zielszene im infraroten Spektralbereich, wie sie für
Infrarot-Zielsuchköpfe erforderlich ist, wird eine hohe Auflösung verlangt. Die
Simulation muß die Darstellung einer hohen Dynamik der Strahlungspegel in den
einzelnen Bildelementen (Pixeln) gestatten. Die Strahlungspegel müssen in einem großen
Bereich variieren können. Typischerweise sollte der maximale in einer Objektszene
darstellbare Strahlungspegel um einen Faktor 2000
höher sein als der darstellbare minimale Strahlungspegel. Die
Strahlungspegel, und zwar auch die hohen Strahlungspegel,
müssen innerhalb weniger Millisekunden aufgebaut und wieder
abgebaut werden können. Dabei kann durchaus der maximale
Strahlungspegel in unmittelbarer Nachbarschaft des minimalen
Strahlungspegels zu liegen kommen. Der Vermeidung von
Übersprechen kommt daher besondere Bedeutung zu. Solche
starken Änderungen des Strahlungspegels sind insbesondere zur
Darstellung von Störstrahlern (Flares) erforderlich.
Die Darstellung von schnell veränderlichen oder beweglichen
Objekten wie modulierten Störstrahlern (Jammers) oder
Rotorblättern von Hubschraubern erfordert außerdem eine hohe
zeitliche Dynamik, d. h. geringe Zeitkonstanten beim Anstieg
und Abklingen der Strahlung.
Es ist bekannt, bei Infrarot-Szenensimulatoren die
Bildinformation im infraroten Spektralbereich durch
punktuelles Aufheizen von Widerständen und Folien zu erzeugen.
Die auf diese Weise darstellbare Dynamik in den Signalpegeln
und den Zeitkonstanten erreicht jedoch bei den bekannten
Anordnungen dieser Art keinesfalls die geforderten Werte. Es
tritt auch ein unerwünscht starkes Übersprechen auf. Die
Wärmeenergie zur Erzeugung der infraroten Strahlung tritt
innerhalb der die Objektszene darstellenden Bildmatrix auf.
Diese Wärmeenergie verteilt sich über die Bildmatrix hinweg.
Das führt zu störenden Übersprechsignalen. Diese
Übersprechsignale müssen bei den bekannten Infrarot-
Szenensimulatoren durch aufwendige und schwere
Kühlvorrichtungen gedämpft werden. Das erschwert die Montage
des Infrarot-Szenensimulators auf einem Zielbewegungsrahmen,
wie er bei HIL-Anlagen üblicherweise vorgesehen ist.
Es ist weiterhin bekannt, die Bildinformation durch einen
Laser zu erzeugen, dessen Lichtbündel eine zweidimensionale
Abtastbewegung ausführt. Zu diesem Zweck wird das Lichtbündel
über ein Spiegelsystem geleitet. Ein solches Spiegelsystem muß
sehr schnell sein. Das Spiegelsystem ist daher recht
aufwendig. Auch hier ist die darstellbare Dynamik der
Strahlungspegel begrenzt. Die Synchronisation der Bewegung des
von dem Lichtbündel erzeugten Lichtflecks mit dem zu testenden
Zielsuchkopf bietet Probleme.
Durch die EP 0 469 293 B1 ist ein bistabiles, verformbares
Spiegelarray bekannt, das von einzelnen, pixelartigen
Spiegelelementen gebildet ist. Die einzelnen Spiegelelemente
sind jeweils schwenkbar angelenkt und durch Steuersignale in
eine erste oder eine zweite Stellung verschwenkbar.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem im
infraroten Spektralbereich arbeitenden Szenensimulator eine
hohe Dynamik der Strahlungspegel und geringe Zeitkonstanten zu
erreichen. Das Übersprechen zwischen benachbarten
Bildelementen soll weitgehend gedämpft werden. Das Gewicht des
Szenensimulators soll vermindert werden, so daß der
Szenensimulator in einer HIL-Anlage mit hoher Dynamik
verschwenkt werden kann.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch
- a) ein mikromechanisches Spiegelarray, das aus einer zweidimensionalen Anordnung von Spiegelelementen besteht, welche ansteuerbar zwischen einer ersten und einer zweiten Schaltstellung beweglich sind,
- b) eine Beleuchtungseinrichtung
- - durch welche das Spiegelarray gleichmäßig ausleuchtbar ist und
- - deren Licht in der ersten Schaltstellung eines Spiegelelements an einem zu testenden Sensor vorbeigeleitet wird und in der zweiten Schaltstellung von dem Spiegelelement in den Strahlengang des Sensors reflektiert wird,
- - Ansteuermittel zum Ansteuern der Spiegelelemente in die erste oder zweite Schaltstellung derart, daß der zu testende Sensor eine simulierte Objektszene beobachtet.
Es ist dabei eine ständig strahlende Lichtquelle vorgesehen,
die z. B. infrarote Strahlung aussendet. Das Bild wird dadurch
erzeugt, daß mittels der Ansteuermittel verschiedene
Spiegelelemente des Spiegelarrays aus der ersten in die zweite
Schaltstellung geschwenkt werden. In der ersten Schaltstellung
leiten die Spiegelelemente die Strahlung an dem zu prüfenden,
bildauflösenden Sensor vorbei. Diese Spiegelelemente "sieht"
der Sensor als "kalt". In der zweiten Schaltstellung wird die
von der Lichtquelle auf das Spiegelelement fallende Licht auf
ein zugeordnetes Detektorelement des bildauflösenden Sensors
geleitet. Dann sieht der Sensor das Spiegelelement als "heiß".
Bei einer solchen Anordnung erfolgt praktisch kein
Übersprechen. Das Spiegelarray gestattet eine hohe Auflösung.
Mikromechanische Spiegelarrays können beispielsweise mit 2048
× 2048 Spiegelelementen aufgebaut sein, wobei die Kantenlänge
jedes Spiegelelements 20 µm beträgt. Die Umschaltung der
Spiegelelemente kann mit einer sehr kleinen Zeitkonstante
erfolgen. Eine solche Anordnung gestattet weiterhin durch
geeignete Ansteuerung der Spiegelelemente auch eine Änderung
des Strahlungspegels in sehr weiten Grenzen.
Die Änderung des Strahlungspegels eines simulierten Objekts
kann dadurch erfolgen, daß der zu testende bildauflösende
Sensor Detektorelemente aufweist, welche die darauffallende
Strahlungsenergie jeweils über eine Integrationszeit
aufsummieren und im Takt dieser Integrationszeit ausgelesen
werden, die Spiegelelemente im Takt mit einer Taktzeit
ansteuerbar sind, die wesentlich kürzer als die
Integrationszeit der Detektorelemente des Sensors ist und die
Anzahl der Takte, in welcher während jeder Integrationszeit
Spiegelelemente durch die Ansteuermittel in den zweiten
Schaltzustand geschaltet sind, zur Variation der simulierten
Objektintensität veränderbar ist.
Stattdessen oder zusätzlich dazu ist es möglich, daß der zu
testende bildauflösende Sensor Detektorelemente aufweist, die
von der Strahlung der Beleuchtungseinrichtung über eine
Mehrzahl von Spiegelelementen des Spiegelarrays beaufschlagbar
sind, und die Anzahl der einem Detektorelement zugeordneten
Spiegelelemente, welche durch die Ansteuermittel in den
zweiten Schaltzustand geschaltet sind, zur Variation der
simulierten Objektintensität veränderbar ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist nachstehend unter
Bezugnahme auf die zugehörigen Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisch einen Infrarot-Szenensimulator mit
einem zu testenden Zielsuchkopf eines Lenkflugkörpers.
Fig. 2 zeigt einen Teil eines Spiegelarrays, der auf ein
Detektorelement eines in dem Zielsuchkopf sitzenden
bildauflösenden Sensors abgebildet wird, also einem
Pixel entspricht, bei der Simulation eines Objekts mit
minimalem Strahlungspegel.
Fig. 3 zeigt die Ansteuersignale für eine Zeile des
Spiegelarrays, in welcher ein einziges Spiegelelement
Licht auf den Sensor des zu testenden Zielsuchkopfs
reflektiert und für die anderen Zeilen, in denen alle
Spiegelelemente das einfallende Licht an dem
Zielsuchkopf vorbeireflektieren.
Fig. 4 zeigt den Teil des Spiegelarrays von Fig. 2 bei der
Simulation eines Objekts mit maximalem Strahlungspegel.
Fig. 5 zeigt die Ansteuersignale für die Zeilen des
Spiegelarrays, wenn sich dieses im Zustand von Fig. 4
befindet.
In Fig. 1 ist mit 10 eine Strahlungsquelle zur Erzeugung einer
intensiven infraroten Strahlung bezeichnet. Die Strahlung der
Strahlungsquelle 10 wird mittels einer Kollimatorlinse 12
parallelgerichtet. In dem so gebildeten parallelen Lichtbündel
14 sitzt hinter der Kollimatorlinse 12 ein Spektralfilter 16.
Das Spektralfilter 16 begrenzt die Strahlung des Lichtbündels
14 auf die spektrale Bandbreite eines zu testenden
Zielsuchkopfes 18.
Das parallele Lichtbündel 14 fällt unter einem Winkel auf ein
mikromechanisches Spiegelarray 20. Das mikromechanische
Spiegelarray ist nach Art der EP-A-0 469 293 ausgebildet.
Solche mikromechanischen Spiegelarrays sind von der Texas
Instruments Incorporated, Dallas, Texas unter der Bezeichnung
"Digital Micromirror Device" oder DMD handelsüblich
erhältlich. Das mikromechanische Spiegelarray 20 ist eine
zweidimensionale Anordnung von Spiegelelementen 22 (Fig. 2).
Jedes der Spiegelelemente 22 kann durch ein binäres
Ansteuersignal zwischen einer ersten und einer zweiten
Schaltstellung geschaltet werden. Das Spiegelarray enthält
2048 × 2048 Spiegelelemente 22. Jedes Spiegelelement 22 ist
quadratisch mit einer Kantenlänge von 20 µm. Durch ein
Ansteuersignal "0" wird das Spiegelelement 22 in seine erste
Schaltstellung gebracht, in welcher es das von der
Strahlungsquelle 10 einfallende Licht in Richtung des in Fig. 1
gestrichelt dargestellten Strahlenbündels 24 reflektiert.
Durch ein Ansteuersignal "1" wird das Spiegelelement 22 in
seine zweite Schaltstellung gebracht, in welcher es das von
der Strahlungsquelle 10 einfallende Licht in Richtung auf den
zu testenden Suchkopf 18 reflektiert. Das Licht wird in
Richtung des parallelen Strahlenbündels 26 gelenkt.
Das Strahlenbündel 26 wird durch eine Zwischenoptik 28 das
abbildende optische System 30 des Zielsuchkopfes 18 geleitet.
Das abbildende optische System erzeugt ein Bild des
Spiegelarrays 20 auf einem bildauflösenden Sensor 32. Das
abbildende optische System des Zielsuchkopfes 18 ist so
ausgelegt, daß es im normalen Betrieb eine im Unendlichen
liegende Objektszene auf dem bildauflösenden Sensor 32
abbildet. Die Zwischenoptik 28 sorgt dafür, daß der Sensor 32
das im Endlichen liegende Spiegelarray 20 im Unendlichen
"sieht".
Die Ansteuersignale für die verschiedenen Spiegelelemente 22
werden von einem Bildrechner 34 bestimmt. Über eine Treiber-
Elektronik 36 werden die Spiegelelemente 22 entsprechend
angesteuert.
Der bildauflösende Sensor 32 ist ein Matrixdetektor mit einer
zweidimensionalen Anordnung von 64 × 64 Detektorelementen.
Solche Matrixdetektoren sind an sich bekannt und daher hier
nicht im einzelnen beschrieben. Für einen solchen Sensor 32
reicht in der Signalverarbeitung ein Zielsimulator mit 128 ×
128 Bildelementen aus. In einem mikromechanischen Spiegelarray
20 mit 2048 × 2048 Spiegelelementen 22 können dann jeweils 16
× 16 solche Spiegelelemente zu einem Pixel zusammengefaßt
werden. Diese 16 × 16 "Sub-Matrix" wird auf ein zugeordnetes
Detektorelement abgebildet. Jedes Pixel enthält somit 256
Spiegelelemente 22.
Anhand von Fig. 2 bis 5 ist erläutert, wie durch die räumliche
Ansteuerung der Spiegelelemente 22 der Strahlungspegel eines
Pixels verändert werden kann.
In Fig. 3 und 4 ist eine Sub-Matrix 38 des Spiegelarrays 20
dargestellt. Die Sub-Matrix 38 enthält 16 × 16 Spiegelelemente
des Spiegelarrays 20. Die Sub-Matrix 38 ist vollständig auf
ein zugeordnetes Detektorelement des bildauflösenden Sensors
32 abgebildet. Andere Sub-Matrizen sind in nicht dargestellter
Weise auf andere Detektorelemente des Spiegelarrays
abgebildet. Die Sub-Matrix 38 entspricht daher einem von dem
Detektorelement erfaßten Bildelement (Pixel).
Diese Sub-Matrix 38 kann nun so angesteuert werden, daß sich
nur ein einziges Spiegelelement 22A in dem zweiten
Schaltzustand befindet. Dann fällt auf das Detektorelement nur
diejenige infrarote Strahlung von der Strahlungsquelle 10, die
über dieses Spiegelelement 22A geleitet wird. Alle anderen
Spiegelelemente 22 der Sub-Matrix 38 sind im ersten
Schaltzustand und reflektieren keine Strahlung von der
Strahlungsquelle 10 auf den Sensor 32. In Fig. 3 ist
schematisch das Ansteuersignal 40 dargestellt, das auf die
Spiegelelemente der das Spiegelelement 22A enthaltenden Zeile
der Sub-Matrix 38 aufgeschaltet ist, im Gegensatz zu den
Ansteuersignalen 42 einer anderen Zeile, in welcher alle
Spiegelelemente 22 sich im ersten Schaltzustand befinden. Die
Kurve 40 entspricht dem untersten auf diese Weise
darstellbaren Signalpegel.
Die Sub-Matrix 38 kann - als anderes Extrem - so angesteuert
werden, daß sich alle 256 Spiegelelemente 22 im zweiten
Schaltzustand befinden. Das ist in Fig. 4 dargestellt. Jede der
sechzehn Zeilen erhält Ansteuersignale 44 (Fig. 5). Das
entspricht dem maximalen auf diese Weise darstellbaren
Signalpegel. Dazwischen können 256 Stufen des Signalpegels für
das betreffende Pixel dargestellt werden.
Die einzelnen Spiegelelemente 22 können typischerweise
innerhalb von 10 Mikrosekunden geschaltet werden. Die
darstellbare Vollbildfrequenz beträgt daher etwa 100
Kilohertz.
Bei bildauflösenden Sensoren in Zielsuchköpfen werden in der
Regel integrierende Detektorelemente verwendet. Die
Detektorelemente integrieren die durch die einfallende
Strahlung erzeugten Signale (Stöme) über eine vorgegebene
Integrationsperiode auf und werden dann ausgelesen. Diese
Integrationsperiode beträgt typischerweise zwischen 80
Mikrosekunden und einer Millisekunde. Innerhalb einer
Integrationsperiode des Detektorelements liegen somit 8 bis
100 Schaltzyklen des mikromechanischen Spiegelarrays 20. Die
auf ein Detektorelement während jeder Integrationsperiode
fallende Strahlung kann daher auch dadurch variiert werden,
daß die einzelnen Spiegelelemente 22 der Sub-Matrix 38 für
unterschiedlich viele Schaltzyklen des mikromechanischen
Spiegelarrays 20 in den zweiten Schaltzustand gebracht werden.
Es können auf diese Weise zu den 256 Stufen, die sich aus der
Anzahl der aktivierten Spiegelelemente der Sub-Matrix ergeben
bis zu einhundert zusätzliche Zwischenstufen erzeugt werden.
Damit kann eine Signaldynamik von bis zu 25600 erreicht
werden. Das niedrigste Signal wird erhalten, wenn ein einziges
Spiegelelement 22 für nur einen Schaltzyklus von hundert
Schaltzyklen des Spiegelarrays 20 in den zweiten Zustand
gebracht wird. Das maximale Signal des Detektorarrays wird
erhalten, wenn nach Art von Fig. 4 alle Spiegelelemente 22 für
alle einhundert Schaltzyklen des Spiegelarrays 20 im zweiten
Schaltzustand sind. Die dabei während jeder
Integrationsperiode auf das Detektorelement fallenden
Strahlungsmengen und dementsprechend die ausgelesenen Signale
verhalten sich wie 1 : 25600.
Da das mikromechanische Spiegelarray die auftreffende
Strahlung reflektiert, tritt keine unerwünschte Aufheizung des
mikromechanischen Spiegelarrays 20 auf. Aufwendige und schwere
Kühlsysteme sind nicht erforderlich. Das System ist daher mit
geringem Gewicht realisierbar.
Claims (3)
1. Vorrichtung zur Erzeugung von Bildinformationen in
Echtzeit für den Test von bildauflösenden Sensoren,
insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in
Zielsuchköpfen, gekennzeichnet durch
- a) ein mikromechanisches Spiegelarray (20), das aus einer zweidimensionalen Anordnung von Spiegelelementen (22) besteht, welche ansteuerbar zwischen einer ersten und einer zweiten Schaltstellung beweglich sind,
- b) eine Beleuchtungseinrichtung (10)
- - durch welche das Spiegelarray (20) gleichmäßig ausleuchtbar ist und
- - deren Licht in der ersten Schaltstellung eines
Spiegelelements (22) an einem zu testenden Sensor
(32) vorbeigeleitet wird und in der zweiten
Schaltstellung von dem Spiegelelement (22A) in den
Strahlengang (26) des Sensors (32) reflektiert
wird,
- a) Ansteuermittel (34, 36) zum Ansteuern der Spiegelelemente (22) in die erste oder zweite Schaltstellung derart, daß der zu testende Sensor eine simulierte Objektszene beobachtet.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) der zu testende bildauflösende Sensor (32) Detektorelemente aufweist, welche die darauffallende Strahlungsenergie jeweils über eine Integrationszeit aufsummieren und im Takt dieser Integrationszeit ausgelesen werden,
- b) die Spiegelelemente (22) im Takt mit einer Taktzeit ansteuerbar sind, die wesentlich kürzer als die Integrationszeit der Detektorelemente des Sensors ist und
- c) die Anzahl der Takte, in welcher während jeder Integrationszeit Spiegelelemente (22) durch die Ansteuermittel (34, 36) in den zweiten Schaltzustand geschaltet sind, zur Variation der simulierten Objektintensität veränderbar ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß
- a) der zu testende bildauflösende Sensor (32) Detektorelemente aufweist, die von der Strahlung der Beleuchtungseinrichtung (10) über eine Mehrzahl (38) von Spiegelelementen (22) des Spiegelarrays (20) beaufschlagbar sind, und
- b) die Anzahl der einem Detektorelement zugeordneten Spiegelelemente (22), welche durch die Ansteuermittel (34, 36) in den zweiten Schaltzustand geschaltet sind, zur Variation der simulierten Objektintensität veränderbar ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4338390A DE4338390C2 (de) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | Szenensimulator, insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in Zielsuchköpfen |
GB9422064A GB2284272B (en) | 1993-11-10 | 1994-11-02 | Scene stimulator |
FR9413596A FR2712394B1 (fr) | 1993-11-10 | 1994-11-08 | Simulateur de scène, en particulier pour examiner des détecteurs infrarouges dans des têtes chercheuses de cibles. |
US08/337,171 US5596185A (en) | 1993-11-10 | 1994-11-10 | Device for generating picture information in real time for testing picture resolving sensors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4338390A DE4338390C2 (de) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | Szenensimulator, insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in Zielsuchköpfen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4338390A1 DE4338390A1 (de) | 1995-05-24 |
DE4338390C2 true DE4338390C2 (de) | 2001-06-13 |
Family
ID=6502261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4338390A Expired - Fee Related DE4338390C2 (de) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | Szenensimulator, insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in Zielsuchköpfen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5596185A (de) |
DE (1) | DE4338390C2 (de) |
FR (1) | FR2712394B1 (de) |
GB (1) | GB2284272B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE20307956U1 (de) | 2003-05-20 | 2003-07-24 | biostep Labor- und Systemtechnik GmbH, 09387 Jahnsdorf | Imagertestgerät |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19633686C2 (de) * | 1996-08-12 | 1998-08-20 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Entfernungen und/oder räumlichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung |
DE19707432A1 (de) * | 1997-02-25 | 1998-08-27 | Bodenseewerk Geraetetech | Vorrichtung zur Umschaltung von optischen Bildern zwischen verschiedenen Kanälen |
DE19712201A1 (de) * | 1997-03-24 | 1998-10-01 | Bodenseewerk Geraetetech | Mikromechanische Spiegel-Anordnung |
US6201230B1 (en) * | 1997-10-02 | 2001-03-13 | Raytheon Company | Sensor system with dynamic optical corrector |
US6018163A (en) * | 1998-04-03 | 2000-01-25 | Raytheon Co | Lab devices to simulate infrared scenes with hot point targets against given temperature backgrounds |
JP2001016622A (ja) | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Agilent Technologies Japan Ltd | 撮像素子のデバッグ装置と試験方法 |
JP2001215620A (ja) * | 2000-02-07 | 2001-08-10 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線プロジェクタ |
WO2001074529A2 (en) | 2000-03-30 | 2001-10-11 | Electro Scientific Industries, Inc. | Laser system and method for single pass micromachining of multilayer workpieces |
US6765220B2 (en) | 2001-01-10 | 2004-07-20 | Lockheed Martin Corporation | Infrared scene generator using fluorescent conversion material |
FR2842384B1 (fr) * | 2002-07-15 | 2005-01-14 | Cit Alcatel | Imageur optique non refroidi |
SE0301137D0 (sv) | 2003-04-16 | 2003-04-16 | Saab Ab | Optiskt system samt ett målsökande system innefattande ett optiskt system |
IL156124A (en) * | 2003-05-26 | 2010-04-15 | Rafael Advanced Defense Sys | A method for detecting incorrect pixels against a non-uniform background |
IL157339A0 (en) * | 2003-08-11 | 2004-06-20 | Rafael Armament Dev Authority | Optical projection of a thermal target |
US7136157B2 (en) * | 2003-08-22 | 2006-11-14 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for testing image sensors |
US7047801B2 (en) * | 2004-04-30 | 2006-05-23 | Raytheon Company | Portable guidance assembly test station |
US7238957B2 (en) * | 2005-05-02 | 2007-07-03 | Raytheon Company | Methods and apparatus for presenting images |
CN100498806C (zh) * | 2007-09-19 | 2009-06-10 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 仿真红外探测器输出信号的装置及方法 |
CN101738145B (zh) * | 2009-11-23 | 2012-07-25 | 凯迈(洛阳)测控有限公司 | 头罩式目标模拟器 |
DE102009047198A1 (de) * | 2009-11-26 | 2011-06-01 | Universität Rostock | Mikroarraybasiertes Ortsfilter |
US8564879B1 (en) | 2010-03-26 | 2013-10-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Multispectral infrared simulation target array |
CN102168988B (zh) * | 2010-12-28 | 2012-06-27 | 哈尔滨工业大学 | 双波段平行光管目标模拟器 |
US8860800B2 (en) * | 2011-03-31 | 2014-10-14 | Flir Systems, Inc. | Boresight alignment station |
CN104036080A (zh) * | 2014-06-09 | 2014-09-10 | 西安电子科技大学 | 一种多光谱红外探测模拟器装置 |
CN104197784A (zh) * | 2014-09-19 | 2014-12-10 | 北京仿真中心 | 一种红外目标和干扰仿真装置 |
CN104677406B (zh) * | 2015-01-21 | 2016-12-21 | 哈尔滨工业大学 | 多波段运动目标模拟器 |
DE102016202344A1 (de) * | 2016-02-16 | 2017-08-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung mit einem Bildsensor zum Erfassen von Bilddaten sowie Verfahren zum Prüfen eines solchen Bildsensors |
CN108204888B (zh) * | 2016-12-19 | 2020-04-28 | 北京振兴计量测试研究所 | 一种仿真用红外动态场景模拟器现场校准装置 |
CN108168842A (zh) * | 2017-12-13 | 2018-06-15 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种可控红外目标发生装置 |
CN112268519B (zh) * | 2020-09-27 | 2022-04-19 | 西北工业大学宁波研究院 | 基于dmd的光谱成像目标检测方法及系统 |
CN113701575B (zh) * | 2021-08-17 | 2023-01-24 | 上海机电工程研究所 | 射频/红外复合导引头的多目标半实物仿真方法和系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4530010A (en) * | 1982-09-30 | 1985-07-16 | Ltv Aerospace And Defense Company | Dynamic infrared scene projector |
US5012112A (en) * | 1989-02-21 | 1991-04-30 | Martin Marietta Corporation | Infrared scene projector |
EP0469293B1 (de) * | 1990-06-29 | 1996-11-27 | Texas Instruments Incorporated | Mehrschichtige verformbare Spiegelstruktur |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5245369A (en) * | 1989-11-01 | 1993-09-14 | Aura Systems, Inc. | Scene projector |
US5144149A (en) * | 1991-01-22 | 1992-09-01 | Frosch Henry A | Electrical signal to thermal image converter |
CA2081753C (en) * | 1991-11-22 | 2002-08-06 | Jeffrey B. Sampsell | Dmd scanner |
EP0562424B1 (de) * | 1992-03-25 | 1997-05-28 | Texas Instruments Incorporated | Eingebautes optisches Eichsystem |
US5319214A (en) * | 1992-04-06 | 1994-06-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Infrared image projector utilizing a deformable mirror device spatial light modulator |
US5325116A (en) * | 1992-09-18 | 1994-06-28 | Texas Instruments Incorporated | Device for writing to and reading from optical storage media |
US5457493A (en) * | 1993-09-15 | 1995-10-10 | Texas Instruments Incorporated | Digital micro-mirror based image simulation system |
EP0657760A1 (de) * | 1993-09-15 | 1995-06-14 | Texas Instruments Incorporated | Bildsimulations- und Projektionssystem |
US5467146A (en) * | 1994-03-31 | 1995-11-14 | Texas Instruments Incorporated | Illumination control unit for display system with spatial light modulator |
US7863908B2 (en) * | 2007-11-16 | 2011-01-04 | Infineon Technologies Ag | Current measurement based on a charge in a capacitor |
-
1993
- 1993-11-10 DE DE4338390A patent/DE4338390C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-11-02 GB GB9422064A patent/GB2284272B/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-11-08 FR FR9413596A patent/FR2712394B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1994-11-10 US US08/337,171 patent/US5596185A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4530010A (en) * | 1982-09-30 | 1985-07-16 | Ltv Aerospace And Defense Company | Dynamic infrared scene projector |
US5012112A (en) * | 1989-02-21 | 1991-04-30 | Martin Marietta Corporation | Infrared scene projector |
EP0469293B1 (de) * | 1990-06-29 | 1996-11-27 | Texas Instruments Incorporated | Mehrschichtige verformbare Spiegelstruktur |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE20307956U1 (de) | 2003-05-20 | 2003-07-24 | biostep Labor- und Systemtechnik GmbH, 09387 Jahnsdorf | Imagertestgerät |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2284272B (en) | 1997-10-22 |
DE4338390A1 (de) | 1995-05-24 |
GB9422064D0 (en) | 1994-12-21 |
FR2712394A1 (fr) | 1995-05-19 |
FR2712394B1 (fr) | 1997-08-29 |
GB2284272A (en) | 1995-05-31 |
US5596185A (en) | 1997-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4338390C2 (de) | Szenensimulator, insbesondere zum Testen von Infrarot-Sensoren in Zielsuchköpfen | |
DE3318331C2 (de) | Einrichtung zur Erzeugung einer Scharfeinstellungsinformation | |
DE69922706T2 (de) | 3d- bilderzeugungssystem | |
WO1998015127A1 (de) | Vorrichtung zur darstellung von bildern | |
EP0892280A2 (de) | Verfahren zum Betrieb einer opto-elektronischen Sensoranordnung | |
EP0860727B1 (de) | Vorrichtung zur Umschaltung von optischen Bildern zwischen verschiedenen Kanälen | |
DE69325202T2 (de) | Optische Vermittlungseinrichtung im freien Raum | |
DE4300829C2 (de) | Röntgendiagnostikeinrichtung | |
EP1269762A1 (de) | Schutzvorrichtung zum absichern eines gefahrenbereichs sowie verfahren zum überprüfen der funktionssicherheit einer solchen | |
DE3007893C2 (de) | Wärmebildgerät | |
DE102016115277A1 (de) | Optische Vorrichtung | |
WO2015154891A1 (de) | Inspektionsanordnung | |
DE102008058798A1 (de) | Stereokameraeinrichtungen, Verfahren zur fortlaufenden automatischen Kalibrierung einer Stereokameraeinrichtung, Computerprogramm, Computerprogrammprodukt und Überwachungsvorrichtung für Windkraftanlagen, Gebäude mit transparenten Bereichen, Start- und Landebahnen und/oder Flugkorridore von Flughäfen | |
DE69315575T2 (de) | Detektor kalibrierung | |
DE4337047A1 (de) | Passive bildauflösende Detektoranordnung | |
EP0907902A1 (de) | Verfahren zur dreidimensionalen bilddarstellung auf einer grossbildprojektionsfläche mittels eines laser-projektors | |
DE69316724T2 (de) | Head-up Anzeige mit örtlicher Bestimmung des Bildes | |
DE60213777T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur optischen erfassung der bewegung von objekten | |
DE19835159A1 (de) | Vorrichtung zum Belichten von fotografischem Aufzeichnungsmaterial | |
DE102017218587A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung eines scannenden Lasersystems sowie eine Laservorrichtung zur Ausführung einer Überwachung eines scannenden Lasersystems | |
EP2110699A2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Beleuchten einer Objektszene | |
DE10017333C2 (de) | Schutzvorrichtung zum Absichern eines Gefahrenbereichs sowie Verfahren zum Überprüfen der Funktionssicherheit einer solchen | |
DE60205735T2 (de) | Trainierbares laser-optisches sensorsystem zur objekterkennung | |
EP0483388B1 (de) | Optischer Speicher mit wahlfreiem Zugriff | |
DE3708923C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01M 11/00 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |