DE4330425A1 - Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Frequenz eines zeitvariablen elektronischen Signals - Google Patents
Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Frequenz eines zeitvariablen elektronischen SignalsInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Ein
richtung zur Bestimmung der Frequenz und Phase von kontinuier
lichen oder Stoßsignalen in Echtzeit unter Verwendung der dis
kreten Fourier-Transformation.
Die zuverlässige Erfassung und Verarbeitung von zeitvari
ablen elektronischen Signalen zur Bestimmung ihrer Frequenz und
Phase hat zahlreiche praktische Anwendungsmöglichkeiten. In
speziellen Fällen hat das Signal eine Frequenz, die über dieje
nige Zeit relativ konstant bleibt, während der das Signal abge
fragt wird. In der Regel ändert sich jedoch die Frequenz der
Signale mit der Zeit. In solchen Fällen ist es erwünscht,
sowohl die Signalfrequenz als auch die Änderungsgeschwindigkeit
der Signalfrequenz zu überwachen. Allgemein ist daher eine in
stantane Frequenzmessung erwünscht.
Das zu verarbeitende Signal kann kontinuierlich sein oder
in Form kurzer Stoßsignale am Detektor ankommen. Beispielsweise
finden in der Radartechnik sowohl kontinuierliche als auch ge
pulste Signale Verwendung. Bei auf Interferenz basierenden op
tischen Vibrometern sind die Signale häufig kontinuierlich, än
dern jedoch ihre Frequenz proportional zur Geschwindigkeitsän
derung des schwingenden Elements. Beim Arbeiten mit bekannten
Doppler-Lasergeschwindigkeitsmessern (LDV) erscheinen die Si
gnale als kurze Bursts, wobei jedes Signal eine Einzelfrequenz
hat.
Bei vielen Anwendungsfällen müssen die Signale mit einer
sehr hohen Rate bzw. Geschwindigkeit verarbeitet werden. Vor
teilhaft ist eine Signalverarbeitungseinrichtung, die Signale
mit an Echtzeit angenäherten Geschwindigkeiten verarbeiten
kann. Außerdem können die Signale in einen relativ pegelstarken
Geräuschhintergrund eingebettet sein. Als Folge davon ist das
Signal/Rauschverhältnis (SNR) (Rauschabstand) relativ niedrig
(0 dB oder weniger). Die Signalverarbeitungseinrichtung muß da
her in der Lage sein, die Signale unter diesen schwierigen Be
dingungen zu detektieren und zu messen.
Es gibt zahlreiche Methoden der Frequenzmessung. Einige
dieser Methoden liefern eine nahezu instantane Frequenzmessung,
wobei die Verarbeitungszeit nur durch die zeitliche Dauer des
zu analysierenden Signals und eine sehr kurze Zeit zum Übertra
gen der Information an ein Speichergerät begrenzt ist. Solche
Methoden sind hauptsächlich analoge Methoden, bei denen entwe
der ein analoger Integrator zur Frequenz/Spannungsumsetzung
oder eine phasenstarre Schleife (PLL) zur Frequenzdemodulation
verwendet wird. Andere Methoden basieren generell auf dem Zäh
len der Anzahl von Signalnulldurchgängen innerhalb einer vorge
gebenen Zeitspanne.
Bekannte analoge Methoden liefern zwar ein einfaches Mittel
zur Frequenzmessung, leiden jedoch an einem wesentlichen Man
gel. Wenn das Signal/Rausch-Verhältnis unter 20 dB absinkt,
verschlechtert sich die Leistungsfähigkeit derartiger Techniken
rasch. Dies liegt an zusätzlichen vom Rauschen hervorgerufenen
Nulldurchgängen. Außerdem bieten diese Methoden keine Möglich
keit zur Validisierung der gemessenen Frequenz.
In Anwendungsfällen, die bei einem Rauschabstand von 0 dB
oder sogar weniger eine instantane Frequenzmessung bedingen,
werden generell digitale Signalverarbeitungsmethoden verwendet.
Es wurden einige unterschiedliche digitale Signalverarbeitungs
algorithmen für die Spektralanalyse und Frequenzmessung ent
wickelt. Die meisten dieser Verfahren basieren auf einer Varia
tion der klassischen Fourier-Analyse. Eine generelle Hinter
grunddiskussion der bekannten Verfahren zur digitalen Signal
verarbeitung unter Verwendung der Fourier-Analyse findet sich
in "Probability, Random Variables, and Stochastic Processes"
von A. Papoulis, publiziert von McGraw-Hill, New York, 1984 und
"Spectral Analysis, A Modern Perspective", von S.M. Key und
S.J.R. Marple, publiziert in Proc. IEEE, Bd. 69, Nr. 11, Seiten
1388-1419, Nov. 1981.
Obwohl die Fourier-Analyse die optimale Leistungsfähigkeit
sowohl für die Signaldetektion als auch die Frequenzmessung
bietet, leiden die klassischen Fourier-Transformationstechniken
unter einigen ernsten Nachteilen. Zunächst liefern nur wenige
dieser Methoden eine zuverlässige Frequenzmessung bei niedrigem
Rauschabstand (obwohl sie besser als analoge Methoden sind).
Außerdem sind sie rechnerisch ineffizient, wenn hohe Auflösung
erforderlich ist, und als Folge davon sind die meisten der be
kannten speziellen Implementierungen dieser Methode ziemlich
kompliziert und langsam. Sie sind für Echtzeit-Signalverarbei
tungen selbst dann ungeeignet, wenn sie die bekannte Technolo
gie verwenden. Andererseits geht bei Methoden, die eine
schnelle Signalverarbeitung ermöglichen, diese zu Lasten der
Auflösung und Genauigkeit, da sie in der Transformation nur
eine begrenzte Anzahl von Datenpunkten verwenden.
In der US-Patentanmeldung 07/833,338 vom 10.2.1992 sind ein
alternatives Verfahren und eine Anordnung zum Erfassen eines
kohärenten, zeitvariablen Signals unter Verwendung der Fourier-
Analyse beschrieben. Bei der Implementierung dieses Verfahrens
wird zunächst das Eingangssignal unter Verwendung eines Ana
log/Digital-Hochgeschwindigkeitsumsetzers (ADC) abgetastet. Die
abgetasteten 1-Bit-Daten werden dann zu einem Schieberegister
mit seriellem Eingang und parallelem Ausgang oder einer anderen
geeigneten Einrichtung übertragen. Das parallele Ausgangssignal
des Schieberegisters wird dann an einen Decodierer angelegt.
Dieser Decodierer erzeugt eine N-Bit/M-Bit-Abbildung des abge
tasteten Signals. (Speichermedien, wie ein ROM, ein RAM oder
EPROM können zu diesem Zweck verwendet werden). Mit anderen
Worten, die Folgen von Einsen und Nullen aus dem abgetasteten
Signal werden zum Adressieren spezieller Speicherplätze verwen
det. In jedem Speicherplatz wird die DFT berechnet, und das
DFT-Bin (die DFT-Linie) mit der maximalen Leistung wird gespei
chert. Dieses DFT-Bin entspricht dem ganzzahligen Teil der Si
gnalfrequenz, die mit der Abtastfrequenz fs dimensionslos ge
macht wurde (ganzzahliger Teil von Nf/fs, wobei N die Anzahl
von DFT-Bins ist). Eine in jedem Speicherplatz gespeicherte
zweite Zahl ist die Leistung der DFT, die die maximale Leistung
hatte (andere gültige Größen können ebenso gespeichert werden).
Informationen über die Signalleistung können zur Validisierung
des Signals verwendet werden, um festzustellen, ob das abgeta
stete Muster einem kohärent Signal innerhalb des erwarteten
Frequenzbereichs entspricht.
Obwohl die oben beschriebene Lösung bei einer begrenzten
Zahl von Abtastwerten im Signal ausgezeichnet arbeitet, hat das
Verfahren den Nachteil, daß es auf die Abtastung von N diskre
ten Punkten beschränkt ist. Als Folge davon kann die Frequenz
des Eingangssignals nicht mit einer größeren Genauigkeit als
mit einem Bruchteil von 1/N der Abtastfrequenz bestimmt werden.
So ermöglichen 16 Abtastwerte eine Frequenzabschätzung entspre
chend einer 16-Punkt-DFT, und die Signalfrequenz kann bis zu
einem Bruchteil von 1/16 der Abtastfrequenz aufgelöst werden.
(Dies erfordert eine Speichergröße von 216, d. h. einen 64K
Speicher. Eine größere Anzahl von Abtastpunkten bedingt größere
Speichergeräte, die derzeit noch nicht ohne weiteres verfügbar
sind.) In vielen Fällen ist dies eine unangemessene Be
schränkung. Die begrenzte Anzahl von Abtastpunkten läßt es
nicht zu, daß dieses bekannte Verfahren für viele realistische
Anwendungsfälle benutzt wird. Es ist daher wünschenswert, ein
Verfahren und eine Anordnung zur Verfügung zu stellen, die die
Frequenz eines Signals mit einem beliebigen Genauigkeitsgrad
festzustellen ermöglichen.
Es ist auch bekannt, daß die Frequenzauflösung von der Ab
tastfrequenz abhängig ist. Eine Verringerung der Abtastfrequenz
führt zu einer proportionalen Verbesserung der Auflösung der
Frequenzmessungen. Leider führt die Verringerung der Abtastfre
quenz auf weniger als die doppelte Signalbandbreite zu einer
Mehrdeutigkeit aufgrund eines "Aliasing"-Effekts. "Aliasing"
ist das Falten von Informationen aus einem Frequenzband in ein
anderes. Dies tritt als Folge der Abtastung des Signals mit ei
ner niedrigeren Frequenz als der Nyquist-Rate (die doppelte
Höchstfrequenz des Eingangssignals) auf. Im Stande der Technik
wurde Aliasing wegen dieser scheinbaren Mehrdeutigkeit rigoros
vermieden. Andererseits ist die Signalbandbreite über die Dauer
der Abfragung des Signals wesentlich kleiner als die höchste zu
messende Frequenz. Daher läßt sich das Signal mit einer Rate
abtasten, die niedriger als die doppelte Höchstfrequenz ist,
ohne die dessen Spektrum zugeordneten Informationen einzubüßen.
Dies wiederum erlaubt viel höhere Spektralsignalanalysen. (Die
Auflösung der Spektralanalyse ist umgekehrt proportional zur
Abtastfrequenz.) Die Erfindung begegnet den mit der Mehrdeutig
keit bei der Messung der Signalfrequenz verbundenen Problemen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Frequenz und
Phase eines zeitvariablen Signals für erweiterte Anwendungs
fälle und/oder mit höherer Genauigkeit zu bestimmen. Insbeson
dere soll die Frequenz des Signals mit einem praktisch beliebig
hohen Genauigkeitsgrad gemessen werden können. Die Genauigkeit
der Messung steigt exponentiell, während die Anzahl von Anord
nungskomponenten (und damit deren Komplexität und Kosten) nur
linear zunimmt.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Bestimmung der Frequenz
eines zeitvariablen elektronischen Signals enthält die folgen
den Schritte:
- a) Anlegen eines unbekannten zeitvariablen elektronischen Signals als Eingangssignal;
- b) Zerlegen des Eingangssignals in mehrere gleichzeitige Signale;
- c) Umsetzen jedes der gleichzeitigen Signale in ein co diertes Signal unter Vornahme einer Analog/Digital-Wandlung, wobei jedes der gleichzeitigen Signale mit einer anderen Fre quenz abgetastet wird;
- d) Ausführen einer diskreten Fourier-Transformation (DFT) an jedem der codierten Signale unter Verwendung der codierten Signale zum Zugriff auf ein Decodier- oder Speichergerät, wobei in den einzelnen Speicherplätzen dieses Geräts der Wert der DFT entsprechend der Binärdarstellung der Speicherplatzadresse ge speichert ist; und
- e) Kombinieren der Ergebnisse der einzelnen diskreten Fou rier-Transformationen derart, daß die Frequenz des Eingangssi gnals bestimmt wird.
Weiterbildungen und zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfin
dung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. In der
Zeichnung zeigen:
Fig. 1 ein Ablaufdiagramm zur Veranschaulichung eines be
vorzugten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen
Verfahrens;
Fig. 2 ein generelles Blockschaltbild, das den Aufbau des
bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung ver
anschaulicht;
Fig. 3 eine schematische Darstellung des Leistungsspektrums
für eine N=16-Punkt diskrete Fourier-Transformation,
in der jedes Bin der Kurve den ganzzahligen Wert der
Frequenz mit einer Auflösung von 1/N darstellt;
Fig. 4 eine Kurve zur Darstellung der Zunahme der Fre
quenzauflösung beim Dividieren der Abtastfrequenz
durch r;
Fig. 5 ein Beispiel dafür, wie die Auflösung der Frequenz
messung in nachfolgenden Stufen durch Verwendung des
erfindungsgemäßen Verfahrens erhöht wird,
Fig. 6 ein Schaubild, das zeigt, wie sich die +/-1 Bin-Un
sicherheit an jeder Stufe von Stufe zu Stufe aus
breitet und selbst dann reduziert wird, wenn die
Frequenz Aliasing unterworfen wird.
Fig. 7 ein vereinfachtes Blockschaltbild einer unter Ver
wendung der Erfindung aufgebauten Schaltung zur Be
stimmung der Frequenz eines Eingangssignals; und
Fig. 8 eine mögliche Konstruktion einer Schaltung zur
gleichzeitigen Echtzeitmessung der Signalphase.
Beschrieben wird eine Anordnung und ein Verfahren zum ge
nauen Erfassen und Messen der Frequenz und Phase eines sich
zeitlich ändernden Signals nahezu in Echtzeit. In der folgenden
Beschreibung werden spezielle Konstruktionsdetails, Anordnungen
und Komponentenbeschreibungen zur Erläuterung angegeben, um die
Erfindung besser verständlich zu machen. Es ist jedoch für den
Fachmann klar, daß die Erfindung auch ohne diese besonderen De
tails realisiert werden kann. In anderen Fällen sind bekannte
Komponenten, Strukturen und elektronische Verarbeitungsmittel
nicht im einzelnen beschrieben, um die Erfindung nicht mit un
nötigen Einzelheiten zu belasten.
Wie vorher erwähnt, liefert die kontinuierliche Fourier-
Analyse die theoretisch optimalen Bedingungen zur Frequenzmes
sung. In praktischen Digitalanwendungen wird die diskrete Fou
rier-Transformation (DFT) anstelle der kontinuierlichen Methode
verwendet, da das unbekannte Signal unter Verwendung eines
Hochgeschwindigkeits-Analog/Digital-Wandlers (ADC) abgetastet
wird. Die diskrete Fourier-Transformation (DFT) ist eine mathe
matische Annäherung der kontinuierlichen Fourier-Transformati
onsmethode. Der mathematische Ausdruck für die DFT ist bekannt
und beispielsweise gegeben als:
wobei: 0 n N.
In Gleichung (1) ist F(n) der Wert der Fourier-Transforma
tion bei der Frequenz (n/N)fs und N ist die Anzahl der über das
Signal gewonnenen diskreten Abtastwerte, x(k). (Zu beachten
ist, daß F(n) im generellen Fall eine komplexe Zahl ist.) Wenn
N gegen Unendlich geht, läuft die Genauigkeit der DFT gegen
diejenige der kontinuierlichen Fourier-Transformation.
Im DFT-Verfahren wird das unbekannte Eingangssignal mit N
sinusförmigen Wellen verglichen, die diskrete Frequenzen zwi
schen -fs/2 bis fs/2 haben, wobei fs die Abtastfrequenz ist.
Wenn die abgetastete Signalfrequenz und die Sinusfrequenz na
hezu gleich sind, ist die Summe der Produkte F(n) groß, was
eine nahe Übereinstimmung anzeigt. Diese Sinuswellenfrequenz
wird dann als Signalfrequenz genommen. Etwa vorhandenes Rau
schen trägt zu den Produkten der Leistung bei einem breiten
Frequenzbereich bei, zeigt jedoch keine ausgeprägte Einzel
spitze, wenn das Rauschen nicht kohärent ist (d. h. eine domi
nante Frequenz hat). Wenn der Rauschabstand nicht zu niedrig
ist, ist die Signalfrequenz leicht zu identifizieren, da die
Leistung im Frequenz-Bin deutlich über den Rauschfrequenzen
liegt. Fig. 3 ist eine schematische Darstellung des Leistungs
spektrums für eine N=16-Punkte diskrete Fourier-Transformation,
bei der jedes Bin der Kurve den ganzzahligen Wert der Frequenz
mit einer Auflösung von 1/N darstellt.
Die Phase des unbekannten Eingangssignals kann unter Ver
wendung des folgenden Ausdrucks berechnet werden:
Obwohl die DFT eine gute Annäherung der kontinuierlichen
Fourier-Transformation liefert, ist der Prozeß typischerweise
nicht exakt. Die Verwendung von diskreten Abtastwerten führt zu
einem kleinen, jedoch meßbaren Fehler. Die Leistungsfähigkeit
der DFT wurde ausführlich analysiert. Es ist bekannt, daß bei
Betrachtung von N diskreten Abtastwerten die Frequenzvarianz
Var(f) gegeben ist durch:
Hierbei ist fs die Abtastfrequenz. Wie aus der Gleichung (3) zu
sehen ist, ist der Fehler bei der Frequenzmessung direkt pro
portional zum Quadrat von fs. Daher kann die Frequenzauflösung
einfach dadurch beträchtlich verbessert werden, daß bei einer
niedrigeren Abtastrate abgetastet wird. Andererseits ist es
ebenfalls bekannt, daß für ein bandbegrenztes Signal der Band
breite w das Signal mit einer Geschwindigkeit oberhalb der Ny
quist-Rate (d. h. 2w) abgetastet werden sollte, um das Aliasing-
Problem zu vermeiden.
Im folgenden wird das erfindungsgemäße Verfahren beschrie
ben, wobei auf Fig. 1 Bezug genommen wird. In Fig. 1 ist ein
vereinfachtes Blockschaltbild eines bevorzugten Beispiels mit
den bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendeten Schritten
zur Bestimmung der Frequenz und Phase von zeitlich veränderli
chen Signalen gezeigt. Zunächst wird das zu messende Eingangs
signal angelegt. Im Schritt 10 wird das Eingangssignal in meh
rere gleichzeitige Signale 15 unterteilt, die als Signale S1,
S2, . . . SL bezeichnet sind. Die Anzahl der gleichzeitigen Si
gnale kann sich ändern. Fig. 1 zeigt generell, daß L unter
schiedliche gleichzeitige Signale 15 vorhanden sind.
Im Schritt 20 wird jedes der gleichzeitigen Signale 15 ab
getastet und in einen codierten Strom von Daten 25 umgesetzt.
Jedes der gleichzeitigen Signale 15 wird mit einer unterschied
lichen Frequenz abgetastet und dies ergibt unterschiedliche
Sätze von codierten Daten 25. Die gleichzeitigen Signale werden
an N unterschiedlichen Punkten abgetastet, und N entspricht dem
Wert vom N in Gleichung (1). Die codierten Datensignale sind in
Fig. 1 als E1, E2 . . . EL bezeichnet.
Im Schritt 30 werden alle codierten Datenstromsignale zur
Bestimmung ihrer Frequenzen verarbeitet. Das beschriebene Aus
führungsbeispiel verwendet hierzu die diskrete Fourier-Trans
formation (DFT). Es ist für den Fachmann jedoch klar, daß an
dere Frequenzmeßverfahren verwendet werden können. Im Schritt
40 werden die Ergebnisse der einzelnen DFT′s in neuer Weise
kombiniert, um eine hochgenaue Messung der Frequenz des Ein
gangssignals zu erreichen.
Jeder der bei dem beschriebenen Verfahren verwendeten
Schritte wird im folgenden genauer beschrieben. Es wird wieder
auf Fig. 1 Bezug genommen. Im Schritt 10 wird das Eingangssi
gnal in mehrere gleichzeitige Signale unterteilt. Bei dem be
schriebenen Ausführungsbeispiel wird das Eingangssignal in acht
gleichzeitige Signale unterteilt, und L=8. Bei dem beschriebe
nen Ausführungsbeispiel werden deshalb acht gleichzeitige Si
gnale benutzt, da es sich gezeigt hat, daß diese Zahl zu einer
Frequenzmessung führt, die für die meisten praktischen Anwen
dungsfälle ausreichend genau ist. Es ist jedoch für den Fach
mann klar, daß der für L gewählte Wert in anderen Anwendungs
fällen anders sein kann, bei denen eine größere oder kleinere
Anzahl gleichzeitiger Signale verwendet werden können.
Die gleichzeitigen Signale 15 werden dann mit unterschied
lichen Frequenzen im Schritt 20 abgetastet. Die Abtastfrequenz
für das Signal in der ersten Stufe S1 ist mit fs bezeichnet.
Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel werden die restlichen
Frequenzen mit einer Frequenz abgetastet, die die Hälfte der
Abtastfrequenz der vorhergehenden Stufe ist: d. h. S2 wird mit
fs/2, S3 mit fs/4, S4 mit fs/8 usw. abgetastet. Dieses Schema
ist leicht zu implementieren und dem Fachmann bekannt. Jedes
der gleichzeitigen Signale wird mit derselben Anzahl von Punk
ten N abgetastet. An jeder Stufe wird jedoch das Signal über
die doppelte Zeit des vorhergehenden Schritts abgetastet, und
zwar aufgrund der Verringerung der Abtastfrequenz. Dies verdop
pelt die Auflösung bei der Abtastung gegenüber der vorhergehen
den Stufe und ist in Fig. 4 gezeigt.
Das Abtasten der gleichzeitigen Signale im Schritt 20 wird
bei dem beschriebenen Beispiel mit Hilfe eines Digitalisierers
erreicht. Der Digitalisierer erzeugt als Ausgangssignal eine
logische Eins, wenn der Signalpegel größer als Null ist, und
eine logische Null, wenn der Signalpegel kleiner als Null ist.
Dies erzeugt einen codierten Strom von 1-Bit-Daten für jedes
der gleichzeitigen Signale. Bei dem beschriebenen Ausführungs
beispiel wird eine 16-Bit-Transformation verwendet, und N=16.
Das codierte 16-Bit-Signal jedes der codierten Signale Ei dient
im Schritt 30 zur Berechnung der DFT.
Andere alternative Abtastmethoden können zum Codieren der
gleichzeitigen Signale verwendet werden. Beispielsweise ist es
möglich, ein alternatives Ausführungsbeispiel zu verwenden, bei
dem eine 4-Bit-Abtastung vorgesehen ist. Ferner kann anstelle
der Bestimmung von Nulldurchgängen der Codierer/Abtaster ein
Schema verwenden, das die örtlichen Maxima und Minima des Si
gnals lokalisiert.
Im Schritt 30 werden die Daten von den gleichzeitigen Si
gnalen unter Verwendung der diskreten Fourier-Transformation
verarbeitet. Bei der Erfindung minimiert das zur Berechnung der
DFT verwendete Verfahren den Umfang von mathematischen Rechen
schritten, der zur Gewinnung der letzten Frequenzmessung erfor
derlich ist.
Die N-Bit-Datenpunkte aus den codierten Datensignalen wer
den gespeichert und dienen als Adresse zum Lesen von Daten aus
einem großen Speichergerät. Das Speichergerät hat 2N Speicher
plätze mit Adressen, die durch die N-Bit-Binärdarstellung der
Zahlen von Null bis 2N-1 dargestellt sind. (Zu beachten ist,
daß bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel N=16.) Jeder
Speicherplatz oder jede Zelle enthält den Wert der DFT für die
besonderen Muster aus Einsen und Nullen, die jede Speicher
adresse ausmachen. Der Speicherplatz kann auch die Leistung der
DFT (oder andere Validisierungsmittel) enthalten, um zu verifi
zieren, daß die DFT einem kohärenten Signal entspricht.
Daher kann die DFT für jeden der codierten Datenströme da
durch rasch berechnet werden, daß einfach das Speichergerät
adressiert wird. Dieses Verfahren ermöglicht eine genaue Fre
quenzbestimmung und minimiert die Anzahl von notwendigen Kompo
nenten und damit die Gesamtkosten und Komplexität des Systems.
Obwohl die Erfindung die DFT zur Berechnung der Frequenz
jedes der codierten Datenströme verwendet, ist es für den Fach
mann klar, daß andere Transformations- oder Frequenzmeßverfah
ren verwendet werden können. Die Erfindung verwendet die DFT
nur deshalb, da sie sich als besonders zuverlässige und effizi
ente Methode für die Frequenzbestimmung erwiesen hat.
Schließlich werden im Schritt 40 die Ergebnisse der einzel
nen DFT′s in einer neuartigen Weise kombiniert, um einen Wert
für die Frequenz des unbekannten Eingangssignals zu gewinnen.
Ein bevorzugtes und alternatives Ausführungsbeispiel dieses
Verfahrens wird weiter unten beschrieben.
Im folgenden wird auf Fig. 2 Bezug genommen, in der ein ge
nerelles Blockschaltbild einer Schaltung gezeigt ist, welche
das erfindungsgemäße Verfahren implementiert. Bei diesem Aus
führungsbeispiel wird das Eingangssignal zunächst durch einen
(in Fig. 2 nicht gezeigten) Teiler unterteilt und an L unter
schiedliche Abtast/Codiereinheiten 200 angelegt. Dies ent
spricht dem Schritt 10 bei dem oben beschriebenen Verfahren.
Die Funktion jeder Abtast/Codiereinheit 200 besteht darin,
einen kontinuierlichen oder abgetasteten Datensatz der durch
gi(f) gegebenen Frequenz zu erzeugen. Dies entspricht dem
Schritt 20 in dem oben beschriebenen Verfahren. In Fig. 2 kön
nen die Abtast/Codiereinheiten einfach dadurch implementiert
werden, daß das Eingangssignal mit einer Frequenz fi abgetastet
wird, so daß gi(f) geschrieben werden kann als:
gi(f) = (f) (modfi) (4)
Die Frequenz dieses Signals wird danach unter Verwendung
des Verarbeitungselements 210 gemessen. Die Verarbeitungsele
mente messen die Frequenzen der Ausgangssignale aller Ab
tast/Codiereinheiten. Wie oben gesagt, dient die DFT als wirk
same Methode zur Messung der Frequenz der arithmetischen Ein
heit, obwohl andere Frequenzmeßverfahren mit ähnlichen Ergeb
nissen verwendet werden können.
Die Ausgangssignale 215 der Verarbeitungselemente 210 wer
den danach in neuartiger Weise kombiniert, um einen Endwert für
die Frequenz des Eingangssignals f zu gewinnen, wobei f ge
schrieben werden kann als eine gewisse Funktion G von g1(f),
g2(f), . . . , gL(f). Dies entspricht dem Schritt 40 in dem oben
beschriebenen Verfahren. Daher ist
f = G[g₁(f), g₂(f), . . ., gL(f)] (5)
Ein Element der Erfindung liegt im Auffinden des Satzes von
Funktionen g1(f), . . . , gL(f) und der Funktion G, die die Bezie
hung gemäß Gleichung 5 erfüllt. Zwei unterschiedliche Gruppen
dieser Funktionen werden jetzt beschrieben.
Bei der Erfindung werden Hochauflösungs-Frequenzmessungen
unter Verwendung einer Technik erreicht, die ähnlich derjenigen
ist, die zur Berechnung der Radix-r-Darstellung der Realzahlen
ist. Die Radix-r-Darstellungsmethode ist bekannt, obwohl sie
bisher nicht im vorliegenden Zusammenhang angewandt worden ist.
Die generellen Konzepte der Radix-r-Darstellung werden nachfol
gend als Hintergrund erläutert.
In der Radix-r-Darstellung ist A eine Realzahl mit dem Wert
0 A < rM. Die Zahl A kann unter Verwendung der Radix-r-Darstel
lung wie folgt definiert werden:
Zur Berechnung der Koeffizienten (die ai′s) wird die Zahl A
zunächst durch rM geteilt, wobei M durch die darzustellende Ma
ximalzahl bestimmt ist. Durch Division von A durch rM wird
diese Zahl zur von Gewinnung A0 normiert, wobei 0 A0 < 1. Der
Wert des Terms (J+M) ist eine Ganzzahl, die die Auflösung be
stimmt, mit der die Zahl A dargestellt ist, und M<J<α. Außerdem
ist rJ+M die Zahl der Auflösungsschritte in der Darstellung der
Zahl.
In der ersten Stufe wird der Koeffizient a0 dadurch berech
net, daß der ganzzahlige Teil des Produkts rA0 genommen wird.
Nach dem Berechnen von a0 wird die Zahl R0 durch Subtraktion
von a0 vom Produkt rA0 berechnet (d. h. durch Verwendung des ge
brochenen Teils der Zahl rA0). Für die zweite Iteration wird
der Koeffizient a1 durch Verwendung des ganzzahligen Teils des
Produkts rR0 berechnet. Nach der Berechnung von a1 wird die
Zahl R1 durch Verwendung des gebrochenen Teils von A1 usw. be
rechnet. Dieser Vorgang kann unendlich lange andauern, wenn A0
eine irrationale Zahl oder eine rationale Zahl der Form x/y
ist, wobei x und y ganze Zahlen sind und y nicht die Form rz
hat (wobei z ganzzahlig ist).
Zum Veranschaulichen des vorhergehenden Algorithmus wird im
folgenden die Berechnung der Radix-2(Binär)-Darstellung der
Zahl A0=0,8 als Beispiel angegeben:
Daher ist 0,1100110 . . . die Binär(Radix-2)-Darstellung der Zahl
0,8.
Wie aus diesem Beispiel zu sehen ist, enthält die Berech
nung der Radix-r-Darstellung der Realzahlen ein Mittel zum Mul
tiplizieren des Rests jeder Iteration mit der ganzen Zahl r und
ein Mittel zum Berechnen des ganzzahligen Teils dieses Pro
dukts. Außerdem wird bei jeder Iteration die Genauigkeit in der
Darstellung der Zahl A um einen Faktor r verbessert.
Bei der Erfindung wird die auf den einzelnen DFTs basie
rende Frequenzmessung unter Verwendung einer Technik erreicht,
die analog zu der für die Berechnung der Radix-r-Darstellung
verwendeten ist. Um diese Anwendung zu veranschaulichen, sei
der Fall betrachtet, daß die Frequenz f über den Frequenzbe
reich -fs/2 bis fs/2 gemessen werden soll, wobei die Abtastfre
quenz fs ist. Die normierte Frequenz (die Signalfrequenz f be
zogen auf diese Abtastfrequenz) ist als f/fs definiert. Die
diskreten Frequenz-Bins der DFT entsprechen einer durch fs/N
gegebenen Auflösung. Das DFT-Bin ist der ganzzahlige Teil von
Nf/fs.
Unter Verwendung der DFT kann der die Signalfrequenz dar
stellende ganzzahlige Teil der Zahl dadurch berechnet werden,
daß das DFT-Bin mit der maximalen Leistung bestimmt wird. An
dere Frequenzabschätzungsschemata, welche abgetastete Signale
verwenden, folgen einem ähnlichen Muster. Um die Genauigkeit
zu erhöhen, mit der der Parameter Nf/fs und dementsprechend die
Frequenz gemessen werden, kann der vorher beschriebene itera
tive Algorithmus verwendet werden. Dieser iterative Algorithmus
kann wie folgt angewendet werden. Die Abtastfrequenz für die
Iteration i sei fsi. Für diese Abtastfrequenz ist die normierte
Frequenz durch fi=f/fsi gegeben. Wenn N Abtastungen für die DFT
verwendet werden, so stellt der ganzzahlige Teil von Nfi das
DFT-Bin mit maximaler Leistung dar. Für die Iteration (i+1)
kann eine Multiplikation von Nfi mit dem Faktor r (r ist aus
der Radix-r-Darstellung) durch Abtasten des Signals mit einer
Frequenz fsi/r erreicht werden. Für diese Abtastfrequenz ist
die normierte Frequenz rfi. Außerdem wird bei jeder Iteration i
der ganzzahlige Teil des Produkts rNfi für diese Iteration da
durch berechnet, daß das DFT-Bin maximaler Leistung bestimmt
wird.
Mit anderen Worten, für jede Iteration i+1 ist die nor
mierte Frequenz fi+1 gleich der normierten Frequenz für die
Iteration i, multipliziert mit r (d. h. fi+1=rfi). Der ganzzah
lige Teil der Nfi′s kann dann durch Bestimmen des DFT-Bins mit
der maximalen Leistung berechnet werden. Wie aus der obigen Lö
sung zu sehen ist, kann unter Verwendung dieser Merkmale
(gewonnen durch Abtasten mit verschiedenen Frequenzen) ein ein
facher Algorithmus zur Schaffung hoch auflösender Frequenzmes
sungen entwickelt werden.
Ein Beispiel kann zur Verdeutlichung dieses Vorgangs die
nen. Fig. 5 zeigt den Fall, daß das aktuelle Frequenzverhältnis
Nf/fs=5,123 und eine DFT mit N=16 Punkten berechnet wird.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung wird
die Radix 2 verwendet, da binäre mathematische Operationen be
kannt sind und leicht implementiert werden können. Im Beispiel
gemäß Fig. 5 wird die Frequenz als DFT-Bin 5 mit einem unbe
kannten Rest von 0,123 dargestellt. Bei der nächsten Iteration
wird die Abtastfrequenz durch 2 dividiert, was äquivalent zu
einer Multiplikation der normierten Frequenz mit 2 ist, und die
DFT wird berechnet. Die Frequenz wird dargestellt als DFT-Bin
10 mit einem unbekannten Rest von 0,246. Bei der nächsten Ite
ration wird die Abtastfrequenz wiederum durch 2 geteilt, was zu
einer von der DFT berechneten Frequenz führt, die 20,492 sein
sollte. Frequenzverhältnisse jenseits von 16 werden verfremdet
(aliased). Daher wird die verfremdete Frequenz als 4,492
(20,492-16) dargestellt, so daß sie in Bin 4 mit einem unbe
kannten Rest 0,492 fällt. Die Tatsache, daß Aliasing aufgetre
ten ist, kann dadurch festgestellt werden, daß der aktuelle
Frequenzverhältniswert mit dem vorhergehenden Resultat vergli
chen wird. Dies gibt ausreichende Information zur Identifikation
des Punktes, an dem in jeder Stufe Aliasing auftritt.
Der Algorithmus zeigt, daß der Rest nach jeder Iteration um
einen Faktor von 2 erhöht wird, jedoch solange undefiniert
bleibt, bis er 1 übersteigt. Dieser ganzzahlige Wert trägt dann
zur DFT-Bin-Zahl bei, was anzeigt, daß der Rest in der ersten
Iteration dann bekannt ist und angenähert 1/2i ist. Die Zahl
von Iterationen bis zu diesem Punkt ist bekannt, und daher ist
die Information über den Rest bei der ersten Iteration besser
definiert. Dies ist äquivalent zur Feststellung, daß die Auflö
sung nach jeder Iteration doppelt so hoch ist. Ein anderer Weg
zu dieser Feststellung besteht darin, daß bei der ersten Itera
tion die Frequenz innerhalb von +/-0,5 des DFT-Frequenz-Bins
bekannt ist, bei der zweiten Iteration bekannt ist als +/-0,25
Bin (rückbezogen auf die Anfangsbandbreite) usw. Fig. 6 zeigt,
wie die Erfindung die Genauigkeit der Frequenzmessung bei jeder
Iteration verbessert.
Es wurde in aktueller Praxis gefunden, daß bei der Berech
nung des DFT-Bins mit der maximalen Leistung (für die Berech
nung des ganzzahligen Teils des Verhältnisses Nf/fi) eine Unsi
cherheit von +/-1 in der Zahl des DFT-Bins existieren kann.
Wenn beispielsweise das aktuelle Verhältnis Nf/fi gleich 1,5
ist, so könnte das DFT-Bin mit der maximalen Leistung 1 oder 2
sein. Wenn das aktuelle Verhältnis 0,5 ist, so könnte das DFT-
Bin mit der maximalen Leistung 0 oder 1 sein. Diese Mehrdeutig
keit setzt sich durch die Messung fort, wenn die Abtastfrequenz
verringert wird. Die Erfindung überwindet diese Mehrdeutigkeit
einfach durch Modifizieren der Basis-Radix-r-Formel.
Das bevorzugte Ausführungsbeispiel verwendet daher eine mo
difizierte Wurzel-r-Zahlendarstellung für die Zahl A in der
Form:
wobei die bi′s ganze Zahlen der Art sind, daß -1 bi < r. Zu be
achten ist, daß bei dieser Darstellung die Zahl A mit verschie
denen Sätzen der Koeffizienten der bi′s dargestellt würde
(anders als bei dem zuvor vorgestellten Fall, bei dem eine 1 : 1
Korrespondenz zwischen der Zahl A und ihrer Radix-2-Darstellung
existiert, d. h. der Koeffizienten ai). Bei der modifizierten
Radix-2-Darstellung könnte die Zahl A=0,4 beispielsweise in den
folgenden beiden Darstellungen dargestellt werden:
Daher kann die Zahl A als (1,0, -1,0,1,0 . . . ) oder
(0,1,1,0,0,0,1 . . . ) dargestellt werden. Es läßt sich leicht ve
rifizieren, daß beide Darstellungen derselben Zahl A entspre
chen. Außerdem können viele andere Darstellungen für dieselbe
Zahl A vorgesehen sein. Diese alternative Darstellung dient zur
Lösung der bei der Berechnung des DFT-Bin mit der maximalen
Leistung auftretenden Ungewißheit. Die Ungewißheit von ±1
DFT-Bin an jeder Stufe ändert die Darstellung der Zahl; jedoch
liefert das endgültige Resultat nach einer ausreichenden Anzahl
von Stufen die gleiche Auflösung bei der Definition der Zahl.
Im folgenden wird wiederum auf Fig. 1 Bezug genommen. Die
endgültige Frequenzmessung im Schritt 40 wird bei dem bevorzug
ten Ausführungsbeispiel durch Verwenden der Formel gemäß obiger
Gleichung (7) erreicht. Die Koeffizienten bi in Gleichung (7)
sind einfach die Resultate der individuellen DFT′s. Die indivi
duellen DFT′s werden summiert, und die Endsumme wird als die
Frequenz des unbekannten Eingangssignals genommen.
Zu beachten ist, daß beim Berechnen der Frequenz unter Ver
wendung des Radix-r-Algorithmus die Zahl von für die DFT ver
wendeten Punkten nicht notwendigerweise auf die bei dem be
schriebenen Ausführungsbeispiel verwendete Zahl 16 beschränkt
ist. Tatsächlich ist in gewissen Grenzen eine größere Zahl von
Punkten für die Berechnung der DFT vorzuziehen. Die Verwendung
einer größeren Anzahl von Punkten liefert beispielsweise eine
bessere Rauschimmunität. Es gibt eine praktische Grenze für die
Zahl von Punkten N, die bei der Transformation wirksam verwen
det werden kann. So erhöht eine Vergrößerung der Zahl von Ab
tastpunkten die Komplexität und damit die Gesamtkosten des gan
zen Systems. Mit zunehmender Zahl von Abtastpunkten über einen
gewissen Parameter hinaus dürfte sich auch die Genauigkeit der
Frequenzmessungsergebnisse nicht merklich ändern.
Bei N Abtastwerten für die DFT können die Koeffizienten bi
unter Verwendung der folgenden Gleichung berechnet werden:
bi = (di+1-rdi) mod N (8)
wobei:
-N/2 < α mod N N/2
und
α = di+1 - rdi
Der Ausdruck di stellt das DFT-Frequenz-Bin mit der maximalen
Leistung im i-ten Schritt dar. Als Beispiel sei der Fall be
trachtet, daß die +/-1-Bin-Ungewißheit zu einem DFT-Bin geführt
hat, das bei der Iteration i +1 ist - d. h. di=10, während es an
sich 9 sein sollte. Bei der i+1 Iteration wäre das DFT-Bin 18,
das zurück zu Bin 2, (di+1=2) verfremdet wird. Ein Einsetzen
dieser Werte in Gleichung 8 ergibt:
bi = (2-20) mod N = -2
Dies zeigt, daß das DFT-Bin bei der vorhergehenden Iteration
wegen der Meßunsicherheit um +1 verschoben wird.
Als nächstes wird auf Fig. 7 Bezug genommen, in der ein
vereinfachtes Blockschaltbild einer Schaltung gezeigt ist, wel
che von der Erfindung zur Bestimmung der Frequenz eines Ein
gangssignals Gebrauch macht. Das Eingangssignal wird über eine
Eingangsleitung 100 angelegt. Von dort wird das Signal in L un
terschiedliche gleichzeitige Komponenten aufgeteilt. Jede der
gleichzeitigen Komponenten wird in eine andere Stufe gerichtet
- bezeichnet mit Stufe 1 Stufe 2 usw. bis Stufe L in Fig. 7.
Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel gibt es, wie oben ge
sagt, insgesamt acht Stufen. Es wurde gefunden, daß acht Stufen
zu einem Meßergebnis führen, das für die Mehrzahl der realen
Anwendungsfälle ausreichend genau ist. Es ist für den Fachmann
jedoch klar, daß die Zahl der Stufen in Abhängigkeit von der
für einen besonderen Anwendungsfall gewünschten genauen Auflö
sung geändert werden kann.
Die gleichzeitigen Signale werden jeweils an einen Decodie
rer 102 angelegt. Der Decodierer 102 ist, wie oben gesagt, ein
Digitalisierer, der ein abgetastetes 1-Bit-Signal erzeugt. Je
des der gleichzeitigen Signale wird mit einer anderen Frequenz
abgetastet.
Die Abtastfrequenz für die erste Stufe ist mit 104 bzw. fs1
bezeichnet. Jedes der Signale in den nachfolgenden Stufen wird
mit einem festen Divisor r der Abtastfrequenz der vorhergehen
den Stufe abgetastet. Der Divisor r ist der gleiche wie der
Wert für r, der in der modifizierten Radix-r-Zahlen-Darstellung
gemäß Gleichung (7) verwendet wurde. Bei dem bevorzugten Aus
führungsbeispiel hat r den Wert von 2, und jede Stufe wird mit
der Hälfte der Frequenz der vorhergehenden Stufe abgetastet.
Wie weiter oben gezeigt wurde, erhöht sich die Frequenzauflö
sung mit dem Hinzukommen jeder Stufe daher auch um einen Faktor
2. Die Frequenzauflösung ist dann durch 1/(N2L) gegeben. Daher
wird mit dem Hinzutreten jeder Stufe die Frequenzauflösung ex
ponentiell verbessert, während die Hardware-Implementierung li
near zunimmt. Dies ist ein definitiver Vorteil, da mit Hilfe
dieser Methode eine Frequenzmessung hoher Auflösung mit im Ver
gleich zu konventionellen Methoden viel einfacherer Hardware
erreicht wird. Das beschriebene Verfahren hat den signifikanten
Vorteil, daß es eine billige und zuverlässige Implementierung
einer hoch auflösenden Frequenzmessung unter Verwendung der
Fourier-Analysen-Methode ermöglicht.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel werden 16 Abtast
werte des Eingangssignals verwendet. Dies ist äquivalent zu ei
ner 16-Punkt-DFT, d. h. in der obigen Gleichung (1) ist N=16.
Das Ausgangssignal jedes Decodierers 102 wird danach an ein Se
rielle-Eingabe-Parallele-Ausgabe-Schieberegister 105 angelegt.
Das Schieberegister-Ausgangssignal wird dann an eine Decodier
einrichtung 110 angelegt. Die Decodierschaltung wirkt als N-
Bit/M-Bit-Abbildung. Wie oben beschrieben wurde, können Spei
chermedien, wie ROMs, RAMs und EPROMs für diese Aufgabe verwen
det werden. In diesem Falle kann dann das Schieberegister-Aus
gangssignal als Adresse für einen M2N-Bit-Speicher verwendet
werden. Innerhalb jeder Speicherzelle sind zwei Zahlen gespei
chert. Die erste Zahl gibt das DFT-Bin mit der maximalen Lei
stung (entsprechend dem ganzzahligen Teil des Verhältnisses
Nf/fi mit einer Unsicherheit von +/-1). Diese Zahl entspricht
dem DFT-Bin mit der maximalen Leistung. Die zweite in der
Speicherzelle gespeicherte Zahl gibt die Leistung des DFT-Bins,
das die Maximalleistung hatte (andere Mittel zur Validisierung
des abgetasteten Signals könnten auch für die i-te Stufe ver
wendet werden).
Informationen über die Signalleistung können zur Validisie
rung dieses Signals sowohl für eine Anzeige des Vorhandenseins
eines Signals als auch für eine Validisierung der Frequenzmes
sungen verwendet werden. Die beiden Zahlen für die verschie
denen Stufen werden dann an eine Decodierschaltung 115 ange
legt.
Es ist nicht notwendig, für die Decodierschaltung 110 in
jeder der Stufen einen unterschiedlichen Speicher zu verwenden.
Dies liegt daran, daß die Decodierschaltung identische Daten
unabhängig von der Abtastfrequenz des Eingangssignals spei
chert. Mit anderen Worten, das Ausgangssignal der Decodier
schaltung hängt nur vom Ausgangssignal des Schieberegisters 105
ab. Jedes der Schieberegister 105 kann daher zum Adressieren
einer einzelnen Speicherschaltung verwendet werden, und zwar
unabhängig von der Anzahl der Stufen im Gerät. Diese Ausbildung
reduziert die gesamte Anzahl von Komponenten und damit die Ko
sten des Systems beträchtlich.
Die logische Decodierschaltung 115 nimmt die Ausgangssi
gnale aus den Decodierschaltungen 110 auf und kombiniert jedes
der Ergebnisse der einzelnen DFTs nach dem oben anhand von
Gleichung (7) angegebenen Schema. Die einzelnen bi-Koeffizien
ten werden summiert, um einen Endwert für die Frequenz des Ein
gangssignals zu gewinnen.
Wie aus der obigen Beschreibung zu sehen ist, ist der Pro
zessor gemäß dem beschriebenen Ausführungsbeispiel in der Lage,
fs/8 Messungen pro Sekunde zur Verfügung zu stellen. Bei einer
Abtastfrequenz fs=80 MHz liefert der Prozessor 10 Millionen
Frequenzmessungen pro Sekunde unter Verwendung der Fourier-Ana
lysenmethode - selbst für die 16 realen oder 8 komplexen Ab
tastwerte, die in der Transformation nach der Erfindung verwen
det werden. Dies kann leicht auf Transformationen mit 32, 64,
128, 256 und mehr Abtastpunkte erweitert werden. Dies über
steigt bei weitem die Fähigkeit aktueller Methoden nach dem
Stande der Technik.
Das oben beschriebene Verfahren verwendet die feste Radix-
r-Darstellung. Für das obige Verfahren ist es wünschenswert,
das Signal in der ersten Stufe mit einer höheren Frequenz als
der doppelten maximalen Eingangsfrequenz abzutasten. Diese Lö
sung ermöglicht geeignete Frequenzmessungen über einen Maximal
bereich von Eingangsfrequenzen. Im folgenden wird ein alterna
tives Ausführungsbeispiel des Verfahrens zum Kombinieren der
Ausgangssignale für die einzelnen DFTs zur Gewinnung der End
frequenzmessung beschrieben. Bei diesem alternativen Ausfüh
rungsbeispiel können alle Stufen mit einer Frequenz abgetastet
werden, die viel niedriger als die doppelte maximale Eingangs
frequenz ist.
Bei diesem alternativen Ausführungsbeispiel wird die end
gültige Signalfrequenz unter Verwendung des Verfahrens der ge
mischten Radix-Darstellung gemessen. Bei diesem Lösungsweg wird
der Koeffizient der Zahlendarstellung unter Verwendung modula
rer Arithmetik berechnet. Die Berechnung der Zahl aus der ge
mischten Radix-Darstellung kann unter Verwendung des chinesi
schen Rest-Theorems oder der gemischten Radix-Formel berechnet
werden.
Um dieses alternative Verfahren für Hochauflösungs-Fre
quenzmessungen zu verwenden, wird die Signalfrequenz f bei un
terschiedlichen Abtastfrequenzen fs1, fs2, . . . fsn abgetastet.
Die Abtastfrequenzen werden wie folgt gewählt: Ni (0<i<n)
stelle die Zahl des DFT-Frequenz-Bins für Schritt i dar, bei
dem die maximale Leistung auftritt. Da die Abtastfrequenz für
den Schritt i gleich fsi ist, ist der Auflösungsschritt i gege
ben durch Si=fsi/Ni. Die Abtastfrequenzen fs1, . . . , fsn werden
so gewählt, daß das Verhältnis Si/Sj(für 0<i, j<N) rationale
Zahlen der Form Xi/Xj sind, wobei Xi und Xj (für 0<i, j<N) re
lative Primzahlen sind.
Beispielsweise sei N1=N2=16 und sei fs1=16/13 MHz und
fs2=16/15 MHz dann ist S1=13 und S2=15, und das Verhältnis
S1/S2=13/15 entspricht X1=13 und X2=15, wobei 13 und 15 rela
tive Primzahlen sind. Mit einem Signal der Frequenz f ist das
DFT-Ausgangssignal des Schritts i gegeben durch:
di = int [f/Si] mod Ni
= int [Nif/fsi] mod Ni
= int [Nif/fsi] mod Ni
wobei di das DFT-Frequenz-Bin (für Schritt i) mit der maximalen
Leistung ist.
Wenn beispielsweise f=3,4 MHz ist, so gilt N1=N2=16 und
fs1=16/13 MHz und fs2=16/15 MHz
d1 = int [(3,4/16)(13)(16)] mod 13
= 5
d₂ = int [(3,4/16)(15)(16)] mod 15
= 6
= 5
d₂ = int [(3,4/16)(15)(16)] mod 15
= 6
Um die Frequenz f aus den Werten der di′s wiederzugewinnen,
muß jedes di zunächst mit dem Verhältnis Xi/Ni multipliziert
werden. Die Frequenz wird dann unter Verwendung entweder des
chinesischen Rest-Theorems oder der gemischten Radixformel be
rechnet.
Wie oben unter Bezugnahme auf das bevorzugte Ausführungs
beispiel erwähnt, kann es eine Mehrdeutigkeit von +/-1 bei der
Bestimmung des DFT-Bins mit der maximalen Leistung geben. An
ders als im Falle der festen Radix-r-Darstellung könnte diese
Mehrdeutigkeit zu vollständig fehlerhaften Ergebnissen führen.
Um diese Mehrdeutigkeit zu lösen, wird die Abtastfrequenz so
gewählt, daß für alle Frequenzpaare f1, f2 (im Frequenz-Meßbe
reich), wenn
| di1 - di2 | 1 0 < i < n
die Frequenzen f1 und f2 die Bedingung erfüllen sollten
| f₁-f₂ | < Si 0 < i < n
wobei die di1′s und di2′s die DFT-Darstellungen für f1 bzw. f2
sind. Dieses alternative Ausführungsbeispiel kann durch geeig
nete Auswahl und Programmierung der logischen Decodierschaltung
(Element 220 in Fig. 2 und Element 115 in Fig. 7) leicht imple
mentiert werden. Die Implementierung dieses alternativen Aus
führungsbeispiels ist für den Fachmann ohne weiteres aus der
vorstehenden Beschreibung ableitbar.
Die Erfindung enthält auch ein Mittel zum Messen der Phase
des Eingangssignals. Fig. 8 zeigt eine mögliche Konfiguration
zur Implementierung der Echtzeit-Phasenmessung. Diese Konfigu
ration kann unter Verwendung analoger, digitaler oder Hybrid-
Komponenten implementiert werden.
Bei einer möglichen Konfiguration wird die unter Verwendung
der instanten Frequenzmeßschaltung 152 gemessene Frequenz zur
Erzeugung einer Sinus- und einer Kosinuswelle mit einer Fre
quenz gleich derjenigen des Eingangssignals 150 verwendet.
Nachschlagetabellen, eine Decodierschaltung oder eine spezielle
analoge Schaltung können für diesen Zweck verwendet werden. Die
erzeugten Sinus- und Kosinuswellen werden dann mit dem Ein
gangssignal im Multiplizierer 155 multipliziert. Die Multipli
kation kann unter Verwendung analoger Multiplizierschaltungen
ausgeführt werden, wenn die beiden Signale (d. h. die erzeugten
Sinus- oder Kosinuswellen und das Eingangssignal) in analoger
Form vorliegen, oder es können digitiale Multiplizierschaltun
gen verwendet werden, wenn die beiden Signale in digitaler Form
vorliegen, oder es kann ein multiplizierender Digital/Analog-
Wandler (DAC) verwendet werden, wenn ein Signal in analoger
Form und das zweite Signal in digitaler Form vorliegen. Daher
sind die Ausgangssignale der Multiplizierschaltung gegeben
durch:
sin (ω₀t + Φ) sin ω₀τ = 0,5 cos Φ - 0,5 cos (2ω₀ + Φ) (9)
sin (ω₀t + Φ) cos ω₀τ = 0,5 sin Φ - 0,5 sin (2ω₀ + Φ) (10)
Der Integrator 160 wird dann zum Eliminieren des zweiten
Terms der Gleichungen (9) und (10) verwendet. Analoge Integra
toren können bei Verwendung der analogen Multiplizierschaltun
gen verwendet werden, oder digitale Akkumulatoren können bei
Verwendung digitaler Multiplizierschaltungen zum Einsatz kom
men. Daher sind die Akkumulator-Ausgangssignale durch 0,5cosΦ
und 0,5sinΦ gegeben, und die Phase kann berechnet werden.
Die Phasendifferenz zwischen beiden Signalen kann dann
durch Berechnen der Phase jedes Signals (relativ zu einer ge
meinsamen Referenz) gewonnen werden, und danach kann die Pha
sendifferenz zwischen diesen beiden Signalen genommen werden.
Da die zuvor beschriebenen Methoden die Fourier-Analyse zur
Frequenzmessung verwenden, gewährleisten die Methoden eine zu
verlässige Frequenzmessung selbst bei 0 dB SNR (Rauschabstand).
Es wurde außerdem gefunden, daß die beschriebenen Methoden auch
ein wirksames Mittel zur Signaldetektion bilden. Dies ermög
licht es, die Erfindung auch zur Verarbeitung von Burst- bzw.
Stoßsignalen ebenso wie von kontinuierlichen Signalen zu benut
zen. Außerdem kann eine Validisierungsmöglichkeit vorgesehen
werden, wenn die an der jeweiligen Stufe gemessene Frequenz mit
derjenigen der vorhergehenden Stufe verglichen wird.
Wenn die Erfindung zur Verarbeitung von Burstsignalen ver
wendet wird, kann auch ein Zeitdomänen-Burstdetektor vorgesehen
sein, der eine falsche Detektion und die Verarbeitung von kohä
renten Hintergrundsignalen verhindert. Dadurch wird auch die
Triggerung des Detektors durch ein kohärentes Hintergrundsignal
vermieden. Der Zeitdomänen-Burstdetektor ist daher in Kombina
tion mit dem Frequenzdomänendetektor als Bestandteil eines al
ternativen Ausführungsbeispiels der Erfindung anzusehen. Der
Zeitdomänen-Burstdetektor verwendet einen einstellbaren
Schwellwert, den eine mögliche Signalspannung übersteigen muß,
um die Burstdetektorschaltung freizugeben. Einige Lösungen sind
für dieses Schema möglich, einschließlich einer Ausführung, bei
der ein Hochpaß-gefiltertes Signal sowohl einen positiven als
auch einen negativen Spannungspegel übersteigt; ferner Metho
den, die zunächst die Signalspannung gleichrichten und quadrie
ren und danach die Signalleistung zur Triggerung der Schaltung
verwenden. Daher wurden ein neuartiges Verfahren und eine neu
artige Einrichtung zur verbesserten digitalen Verarbeitung un
ter Verwendung der diskreten Fourier-Transformation beschrie
ben.
Claims (43)
1. Verfahren zum Bestimmen der Frequenz eines zeitvariablen
Signals, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
- a) Anlegen eines Eingangssignals;
- b) Unterteilen des Eingangssignals in mehrere gleichzei tige Signale;
- c) simultanes Abtasten der gleichzeitigen Signale, wobei jedes der Signale mit einer anderen Frequenz abgetastet wird, um mehrere codierte Signale zu erzeugen;
- d) Abbilden jedes der codierten Signale in eine bekannte Darstellung eines Signals, wobei die bekannte Signaldarstellung eine Frequenz der codierten Signale kennzeichnende vorberech nete Werte hat; und
- e) Verwenden der bekannten Darstellungen zur Berechnung der Frequenz des Eingangssignals.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Eingangssignal in acht gleichzeitige Signale aufgeteilt
wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß jedes der gleichzeitigen Signale unter Verwendung ei
nes Digitalisierers 1-Bit-abgetastet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß jedes der gleichzeitigen Signale unter Verwendung der
Multi-Bit-Abtastung abgetastet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß jedes der gleichzeitigen Signale an 16 verschiedenen
Punkten abgetastet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß ein erstes der gleichzeitigen Signale mit ei
ner Frequenz fs abgetastet wird und daß jedes der nachfolgenden
Signale mit einem Vielfachen von fs abgetastet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
fs das Zweifache einer Maximalfrequenz des zu messenden Ein
gangssignals ist.
8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeich
net, daß das Vielfache (der Faktor) einen Wert <1 hat.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Vielfache (der Faktor) gleich 1/2 ist.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch ge
kennzeichnet, daß außerdem eine Phase des Eingangssignals be
stimmt wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch
gekennzeichnet, daß im Schritt (e) die Frequenz des Eingangssi
gnals nach der Radix-r-Darstellung von Zahlen berechnet wird,
um eine Messung der Frequenz des zeitvariablen Signals zu ge
winnen.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch
gekennzeichnet, daß im Schritt (e) das Eingangssignal nach der
gemischten Radix-Darstellung von Zahlen berechnet wird, um eine
Messung der Frequenz des zeitvariablen Signals zu gewinnen.
13. Verfahren zum Bestimmen der Frequenz eines zeitvari
ablen elektronischen Signals, gekennzeichnet durch die folgen
den Schritte:
- a) Anlegen des zeitvariablen elektronischen Signals als Eingangssignal;
- b) Unterteilen eines Eingangssignals in eine Anzahl L von gleichzeitigen Signalen;
- c) Umsetzen jedes der L gleichzeitigen Signale in ein co diertes System durch Ausführung einer eine 1-Bit-Abtastung ver wendenden Analog/Digital-Umsetzung und;
- d) Durchführung einer diskreten Fourier-Transformation (DFT) an jedem der codierten Signale; und
- e) Verwenden der Ergebnisse der diskreten Fourier-Trans formationen zur Bestimmung der Frequenz des zeitvariablen elek tronischen Signals.
14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß
8 gleichzeitige Signale verwendet werden.
15. Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekenn
zeichnet, daß im Schritt (c) das Eingangssignal in ein codier
tes Signal umgesetzt wird, wobei 16 aufeinanderfolgende Abtast
werte des Eingangssignals genommen werden.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch
gekennzeichnet, daß die DFT unter Verwendung der codierten Si
gnale als Adresse zu einem Speicherplatz durchgeführt wird, wo
bei der Speicherplatz einen Wert der DFT entsprechend den co
dierten Signalen enthält.
17. Verfahren zum Bestimmen der Frequenz eines zeitvari
ablen elektronischen Signals, gekennzeichnet durch die folgen
den Schritte:
- a) Anlegen eines zeitvariablen elektronischen Signals als Eingangssignal;
- b) Unterteilen des Eingangssignals in eine Folge aus L gleichzeitigen Signalen;
- c) Umsetzen jedes der L gleichzeitigen Signale in ein co diertes Signal durch Ausführung einer eine 1-Bit-Abtastung ver wendenden Analog/Digitial-Umsetzung, wobei jedes der gleichzei tigen Signale mit einer Frequenz abgetastet wird, die gleich der Hälfte der Abtastfrequenz des in der Folge vorhergehenden gleichzeitigen Signals ist, und wobei insgesamt N unterschied liche Punkte für jedes gleichzeitige Signal abgetastet werden;
- d) Speichern jedes der codierten Signale in einem Schiebe register;
- e) Verwendung jedes der codierten Signale zum Zugriff auf ein Speichermittel, wobei das Speichermittel 2N Speicheradres sen hat und jede der Speicheradressen wenigstens einen Wert ei ner diskreten Fourier-Transformation entsprechend einer Binär darstellung der Speicheradresse enthält; und
- f) Berechnen der Frequenz F(x) des Eingangssignals nach der folgenden Formel: wobei bi gleich dem DFT-Bin mit maximaler Leistung in jeder Stufe i ist.
18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß
nach dem Schritt (f) eine Phase des Eingangssignals bestimmt
wird.
19. Einrichtung zum Bestimmen der Frequenz eines zeitvari
ablen elektronischen Signals, dadurch gekennzeichnet, daß das
zeitvariable Signal als Eingangssignal an eine Eingabeschaltung
(10) anlegbar ist, daß die Eingabeschaltung mit Mitteln zur
Aufspaltung des Eingangssignals in mehrere unterschiedliche
gleichzeitige Signale versehen ist;
daß wenigstens eine Abtast-Codierschaltung (20) mit der Eingabeschaltung gekoppelt und so ausgebildet ist, daß sie je des der gleichzeitigen Signale mit einer anderen Frequenz abta stet, um mehrere codierte Signale (25) zu erzeugen;
daß wenigstens ein Verarbeitungsmittel (30) zur Bestimmung einer Frequenztransformation jedes der codierten Signale der Abtast/Codierschaltung nachgeschaltet ist; und
daß Logikschaltungsmittel (40, 220) mit den Verarbeitungs mitteln gekoppelt und so ausgebildet sind, daß sie die Fre quenztransformationen zur Bestimmung der Frequenz des zeitvari ablen Signals kombinieren.
daß wenigstens eine Abtast-Codierschaltung (20) mit der Eingabeschaltung gekoppelt und so ausgebildet ist, daß sie je des der gleichzeitigen Signale mit einer anderen Frequenz abta stet, um mehrere codierte Signale (25) zu erzeugen;
daß wenigstens ein Verarbeitungsmittel (30) zur Bestimmung einer Frequenztransformation jedes der codierten Signale der Abtast/Codierschaltung nachgeschaltet ist; und
daß Logikschaltungsmittel (40, 220) mit den Verarbeitungs mitteln gekoppelt und so ausgebildet sind, daß sie die Fre quenztransformationen zur Bestimmung der Frequenz des zeitvari ablen Signals kombinieren.
20. Einrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet,
daß die Abtast/Codierschaltung die gleichzeitigen Signale mit
unterschiedlichen Frequenzen abtastet.
21. Einrichtung nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Verarbeitungsmittel (30) eine diskrete Fou
rier-Transformation an jedem der codierten Signale durchführen.
22. Einrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 21, dadurch
gekennzeichnet, daß Phasenbestimmungsmittel mit den Logikschal
tungsmitteln (40; 220) zur Bestimmung einer Phase des zeitvari
ablen Signals gekoppelt sind.
23. Einrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet,
daß die Phasenbestimmungsmittel Eingangsmittel zur Aufnahme ei
nes Ausgangssignals aus den Logikschaltungsmitteln (40; 220),
Sinus/Kosinus-Generatormittel (152) zur Erzeugung von Sinus-
und Kosinuswellen mit einer Frequenz gleich der des zeitvari
ablen Signals, Multipliziermittel (155), die mit den Eingangs
mitteln und den Sinus/Kosinus-Generatormitteln gekoppelt sind,
und Integrator/Akkumulator-Mittel (160) aufweisen, die mit den
Multipliziermitteln (155) gekoppelt sind.
24. Einrichtung zur Messung der Frequenz eines zeitvari
ablen elektronischen Signals, dadurch gekennzeichnet, daß das
zeitvariable Signal als Eingangssignal an Eingabemittel (10)
anlegbar ist, die das Eingangssignal in L unterschiedliche
gleichzeitige Signale S1 . . . SL unterteilen;
daß eine Anzahl L von Abtast/Codier-Einheiten (20; 200) parallel mit den Eingabemitteln gekoppelt und so ausgebildet sind, daß sie jedes der gleichzeitigen Signale mit einer ande ren Frequenz an N verschiedenen Punkten abtasten, um L unter schiedliche codierte Signale (25), E1 . . . EL zu erzeugen;
daß ein Verarbeitungselement (30; 210) mit jeder der Ab tast-Codiereinheiten gekoppelt ist und eine diskrete Fourier- Transformation an jedem der codierten Signale durchführt; und
daß Logikschaltungsmittel (40; 220) mit jedem der Verarbei tungselemente zum Kombinieren der diskreten Fourier-Transforma tion nach der Radix-r-Darstellung von Zahlen gekoppelt ist, so daß eine Messung der Frequenz des zeitvariablen Signals gewon nen wird.
daß eine Anzahl L von Abtast/Codier-Einheiten (20; 200) parallel mit den Eingabemitteln gekoppelt und so ausgebildet sind, daß sie jedes der gleichzeitigen Signale mit einer ande ren Frequenz an N verschiedenen Punkten abtasten, um L unter schiedliche codierte Signale (25), E1 . . . EL zu erzeugen;
daß ein Verarbeitungselement (30; 210) mit jeder der Ab tast-Codiereinheiten gekoppelt ist und eine diskrete Fourier- Transformation an jedem der codierten Signale durchführt; und
daß Logikschaltungsmittel (40; 220) mit jedem der Verarbei tungselemente zum Kombinieren der diskreten Fourier-Transforma tion nach der Radix-r-Darstellung von Zahlen gekoppelt ist, so daß eine Messung der Frequenz des zeitvariablen Signals gewon nen wird.
25. Einrichtung nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet,
daß L = 8 ist.
26. Einrichtung nach Anspruch 24 oder 25, dadurch gekenn
zeichnet, daß N = 16 ist.
27. Einrichtung nach einem der Ansprüche 24 bis 26, dadurch
gekennzeichnet, daß jede der Abtast/Codier-Einheiten einen Di
gitalisierer enthält, der an seinem Ausgang eine digitale "1"
erzeugt, wenn das gleichzeitige Signal einen Pegel <0 hat, und
eine digitale "0", wenn das gleichzeitige Signal einen Pegel <0
hat.
28. Einrichtung nach einem der Ansprüche 24 bis 27, dadurch
gekennzeichnet, daß r = 2 ist und daß jede der Abtast/Codier
einheiten ihr korrespondierendes gleichzeitiges Signal mit ei
ner Frequenz von 1/2 der vorhergehenden Abtastfrequenz abta
stet.
29. Einrichtung nach einem der Ansprüche 24 bis 28, dadurch
gekennzeichnet, daß die Logikschaltungsmittel die Frequenz F(x)
des Eingangssignals nach der folgenden Formel berechnen:
wobei bi gleich dem diskreten Fourier-Transformations-Bin mit
maximaler Leistung in jeder Stufe i ist.
30. Einrichtung zum Messen der Frequenz eines zeitvariablen
elektronischen Signals, dadurch gekennzeichnet, daß das zeitva
riable Signal als Eingangssignal aufnehmende Eingabemittel vor
gesehen und so ausgebildet sind, daß sie das Eingangssignal in
eine Mehrzahl unterschiedlicher gleichzeitiger Signale unter
teilen;
daß ein 1-Bit-Decodierer (102) mit jedem der gleichzeitigen Signale beaufschlagt ist, wobei jeder der 1-Bit-Decodierer die gleichzeitigen Signale mit einer anderen Frequenz an N unter schiedlichen Punkten abtastet;
daß ein N-Bit-Schieberegister (105) mit seriellem Eingang und parallelem Ausgang mit jedem der Decodierer (102) gekoppelt ist;
daß wenigstens eine N-Bit/M-Bit Decodierschaltung (110) mit jedem der Schieberegister (105) gekoppelt ist und ein Ausgangs signal aus dem Schieberegister aufnimmt und selbst einen Wert ausgibt, der einer diskreten Fourier-Transformation des Musters von N Bits aus den Schieberegistern entspricht; und
daß jede der Decodierschaltungen mit einem logischen Deco diermittel (115) gekoppelt ist, das die diskreten Fourier- Transformationen nach der Radix-r-Zahlendarstellung transfor miert, so daß eine Endmessung für die Frequenz des Eingangssi gnals gewonnen wird.
daß ein 1-Bit-Decodierer (102) mit jedem der gleichzeitigen Signale beaufschlagt ist, wobei jeder der 1-Bit-Decodierer die gleichzeitigen Signale mit einer anderen Frequenz an N unter schiedlichen Punkten abtastet;
daß ein N-Bit-Schieberegister (105) mit seriellem Eingang und parallelem Ausgang mit jedem der Decodierer (102) gekoppelt ist;
daß wenigstens eine N-Bit/M-Bit Decodierschaltung (110) mit jedem der Schieberegister (105) gekoppelt ist und ein Ausgangs signal aus dem Schieberegister aufnimmt und selbst einen Wert ausgibt, der einer diskreten Fourier-Transformation des Musters von N Bits aus den Schieberegistern entspricht; und
daß jede der Decodierschaltungen mit einem logischen Deco diermittel (115) gekoppelt ist, das die diskreten Fourier- Transformationen nach der Radix-r-Zahlendarstellung transfor miert, so daß eine Endmessung für die Frequenz des Eingangssi gnals gewonnen wird.
31. Einrichtung nach Anspruch 30, dadurch gekennzeichnet,
daß die Logikschaltungsmittel so ausgebildet sind, daß sie die
Frequenz F(x) des Eingangssignals nach der folgenden Formel be
rechnen:
wobei bi gleich der diskreten Fourier-Transformationslinie mit
maximaler Leistung aus der ersten Stufe i ist.
32. Einrichtung nach Anspruch 30, dadurch gekennzeichnet,
daß die Decodierschaltung (110) einen Speicher enthält.
33. Einrichtung nach einem der Ansprüche 30 bis 32, dadurch
gekennzeichnet, daß die Decodierschaltung (110) zusätzlich ein
Validisierungssignal entsprechend der diskreten Fourier-Trans
formation ausgibt.
34. Einrichtung nach einem der Ansprüche 30 bis 33, dadurch
gekennzeichnet, daß eine einzelne Decodierschaltung (110) vor
gesehen ist und daß jedes der Schieberegister (105) mit der
einzigen Decodierschaltung gekoppelt ist.
35. Einrichtung nach einem der Ansprüche 30 bis 33, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Mehrzahl von Decodierschaltungen (110)
vorgesehen ist und daß jedes der Schieberegister (105) mit ei
ner separaten Decodierschaltung gekoppelt ist.
36. Einrichtung zum Messen der Frequenz eines zeitvariablen
elektronischen Signals, dadurch gekennzeichnet, daß das zeitva
riable Signal als Eingangssignal an ein Eingabemittel anlegbar
ist und daß das Eingabemittel das Eingangssignal in L unter
schiedliche gleichzeitige Signale unterteilt;
daß eine Anzahl L von Abtast/Codier-Einheiten mit dem Ein gabemittel gekoppelt ist, wobei die Ausgangssignale aller Ab tast/Codiereinheiten durch ein abgetastetes oder kontinuierli ches Signal mit einer Frequenz gebildet sind, die eine Funktion einer Frequenz des Eingangssignals ist, wobei die Frequenz des Eingangssignals als ein L-Komponentenvektor darstellbar ist;
daß ein Verarbeitungselement mit jeder der Abtast/Codier- Einheiten zum Messen der Frequenz der Ausgangssignale der Ab tast/Codier-Einheiten gekoppelt ist; und
daß Logikschaltungsmittel mit jedem der Verarbeitungsele mente gekoppelt und so ausgebildet sind, daß sie aus dem L-Kom ponentenvektor die Frequenzen zur Berechnung der Frequenz des Eingangssignals kombinieren.
daß eine Anzahl L von Abtast/Codier-Einheiten mit dem Ein gabemittel gekoppelt ist, wobei die Ausgangssignale aller Ab tast/Codiereinheiten durch ein abgetastetes oder kontinuierli ches Signal mit einer Frequenz gebildet sind, die eine Funktion einer Frequenz des Eingangssignals ist, wobei die Frequenz des Eingangssignals als ein L-Komponentenvektor darstellbar ist;
daß ein Verarbeitungselement mit jeder der Abtast/Codier- Einheiten zum Messen der Frequenz der Ausgangssignale der Ab tast/Codier-Einheiten gekoppelt ist; und
daß Logikschaltungsmittel mit jedem der Verarbeitungsele mente gekoppelt und so ausgebildet sind, daß sie aus dem L-Kom ponentenvektor die Frequenzen zur Berechnung der Frequenz des Eingangssignals kombinieren.
37. Einrichtung nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet,
daß die abgetastete Signalfrequenz gleich der Eingangsfrequenz
modulo der Abtastfrequenz ist.
38. Einrichtung nach Anspruch 36 oder 37, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Verarbeitungselemente die diskrete Fourier-
Transformation zur Messung der Frequenz der Ausgangssignale der
Abtast/Codier-Einheiten verwenden.
39. Einrichtung nach einem der Ansprüche 36 bis 38, dadurch
gekennzeichnet, daß die Verarbeitungselemente Nulldurchgangsme
thoden zur Messung der Frequenz der Ausgangssignale der Ab
tast/Codier-Einheiten verwenden.
40. Einrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 40, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Frequenzdomänen-Burstdetektormittel mit
den Logikschaltungsmitteln gekoppelt ist und daß Validisie
rungsmittel zur Feststellung der Gültigkeit eines Ausgangssi
gnals des Frequenzdomänen-Burstdetektormittels vorgesehen ist.
41. Einrichtung nach Anspruch 40, dadurch gekennzeichnet,
daß das Frequenzdomänen-Burstdetektormittel eine diskrete Fou
rier-Transformation des abgetasteten Signals bei verschiedenen
Abtastfrequenzen berechnet, ein Signal/Rausch-Verhältnis der
abgetasteten Signale bestimmt und das Signal/Rausch-Verhältnis
mit einem vorgegebenen Wert vergleicht.
42. Einrichtung nach Anspruch 40 oder 41, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein Signalleistungs-Detektormittel zur Verhinde
rung einer fehlerhaften Detektion von kohärenten Hintergrund
signalen vorgesehen ist.
43. Einrichtung nach einem der Ansprüche 40 bis 42, dadurch
gekennzeichnet, daß der Frequenzdomänen-Burstdetektor eine Fre
quenz des Eingangssignals gemäß einer adaptiven Zahl von Ab
tastwerten mißt, wobei die Zahl der Abtastwerte an eine Burst
länge des Eingangssignals angepaßt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US94204492A | 1992-09-08 | 1992-09-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4330425A1 true DE4330425A1 (de) | 1994-03-10 |
Family
ID=25477501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934330425 Withdrawn DE4330425A1 (de) | 1992-09-08 | 1993-09-08 | Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Frequenz eines zeitvariablen elektronischen Signals |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0743402A (de) |
DE (1) | DE4330425A1 (de) |
FR (1) | FR2695730B1 (de) |
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- 1993-09-08 JP JP5246095A patent/JPH0743402A/ja active Pending
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Date | Code | Title | Description |
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