DE4328464A1 - Verfahren und Einrichtung zum Einkoppeln von Licht in mindestens einen zu messenden Lichtwellenleiter - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zum Einkoppeln von Licht in mindestens einen zu messenden LichtwellenleiterInfo
- Publication number
- DE4328464A1 DE4328464A1 DE19934328464 DE4328464A DE4328464A1 DE 4328464 A1 DE4328464 A1 DE 4328464A1 DE 19934328464 DE19934328464 DE 19934328464 DE 4328464 A DE4328464 A DE 4328464A DE 4328464 A1 DE4328464 A1 DE 4328464A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- coupling
- light
- radiation field
- focusing
- plane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/35—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is transversely coupled into or out of the fibre or waveguide, e.g. using integrating spheres
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Einkoppeln von Licht
eines Sende-Strahlungsfeldes in den Einkoppel-Abschnitt min
destens eines zu messenden Lichtwellenleiters nach dem Biege
kopplerprinzip.
Die Erfindung geht vom Patent . . . . . . . . (P 42 35 313.0) aus.
Dort kann es in der Praxis gegebenenfalls erschwert sein,
Licht eines Sende-Strahlungsfeldes nach dem Biegekopplerprin
zip in den Kern mindestens eines zu messenden Lichtwellenlei
ters entlang eines gekrümmt verlaufenden Einkoppel-Abschnitts
einzukoppeln.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde,
einen Weg auf zuzeigen, wie die Einkopplung entlang eines
gekrümmt verlaufenden Einkoppel-Abschnitts des zu messenden
Lichtwellenleiters besser den praktischen Gegebenheiten ange
paßt werden kann. Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe bei
einem Verfahren der eingangs genannten Art dadurch gelöst,
daß die Fokussierungsfläche des Sende-Strahlungsfeldes gegen
über einer senkrecht zur Strahlungsrichtung gedachten Ebene
in Richtung auf die Einkoppelfläche des Einkoppel-Abschnitts
geneigt wird.
Indem die Fokussierungsfläche des Sende-Strahlungsfeldes ge
genüber einer senkrecht zur Strahlungsrichtung gedachten
Ebene in Richtung auf die Einkoppelfläche des Einkoppel -Ab
schnitts schräg gestellt wird, wird das Licht des Sende-
Strahlungsfeldes nahezu entlang des gesamten Einkoppel-Ab
schnitts des zu messenden Lichtwellenleiters im wesentlichen
scharf abgebildet. Ein Überstrahlen des Lichtwellenleiter-
Kerns ist dort weitgehend vermieden, so daß der Einkoppel-
Wirkungsgrad wesentlich verbessert ist.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Einrichtung zum Einkop
peln von Licht eines Sende-Strahlungsfeldes in den Einkoppel-
Abschnitt mindestens eines zu messenden Lichtwellenleiters
nach dem Biegekopplerprinzip, welche dadurch gekennzeichnet
ist, daß mindestens ein Abbildungsmittel vorgesehen ist, das
die Fokussierungsfläche des Sende-Strahlungsfeldes gegenüber
einer senkrecht zur Strahlungsrichtung gedachten Ebene in
Richtung auf die Einkoppelfläche des Einkoppel-Abschnitts
neigt.
Die Erfindung betrifft zudem auch ein Verfahren zum Einkop
peln von Licht eines Sende-Strahlungsfeldes in den Einkoppel-
Abschnitt mindestens eines zu messenden Lichtwellenleiters
nach dem Biegekopplerprinzip, welches dadurch gekennzeichnet
ist, daß der Lichtfleck des Sende-Strahlungsfeldes entlang
der Längsachse des zu messenden Lichtwellenleiters hin- und
herbewegt wird.
In diesem Zusammenhang betrifft die Erfindung auch eine Ein
richtung, welche dadurch gekennzeichnet ist, daß eine Ablenk
einrichtung vorgesehen ist, die den Lichtfleck des Sende-
Strahlungsfeldes entlang der Längsachse des zu messenden
Lichtwellenleiters hin- und herbewegt.
Sonstige Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteran
sprüchen wiedergegeben.
Die Erfindung und ihre Weiterbildungen werden nachfolgend an
hand von Zeichnungen näher erläutert. Unverändert übernommene
Elemente aus den Fig. 1 mit 10 des Hauptpatents
(Aktenzeichen P 42 35 313.0) sind dabei jeweils mit den glei
chen Bezugszeichen versehen.
Es zeigen:
Fig. 1 schematisch in teilweise perspektivischer Darstel
lung eine sendeseitige Einkoppeleinrichtung zur
Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 2 in schematischer Darstellung eine Einkoppelebene
x, z nach Fig. 1, in der der Einkoppel-Abschnitt
eines zu messenden Lichtwellenleiters mit einer zu
geordneten Fokussierungslinie verläuft,
Fig. 3 in vergrößerter Darstellung schematisch einen
Lichtwellenleiter-Kern mit optimiert eingestellter
Fokussierungsfläche,
Fig. 4 schematisch in perspektivischer Darstellung zwei
durch Astigmatismus erzeugte Fokussierungsflächen
zur sendeseitigen Lichteinkopplung gemäß Fig. 1,
Fig. 5 eine ortsabhängige Abstrahlcharakteristik des
Sende-Strahlungsfeldes am Einkoppelort bei einer
sendeseitigen Einkoppeleinrichtung nach Fig. 1,
und
Fig. 6 schematisch einen unscharfen Lichtfleck entlang des
jeweiligen Einkoppel-Abschnitts bei einer sendesei
tigen Lichteinkopplung ohne Glaskeil nach Fig. 1,
Fig. 7 schematisch einen scharf auf den jeweiligen Einkop
pel-Abschnitt abgebildeten Lichtfleck bei einer
sendeseitigen Lichteinkopplung mit Glaskeil nach
Fig. 1, und
Fig. 8 schematisch in perspektivischer Darstellung eine
für zwei unterschiedliche Kernlagen zu messender
Lichtwellenleiter eingestellte Fokussierungsfläche
nach Fig. 2.
Fig. 1 zeigt eine erfindungsgemäße Sende-/Koppeleinrichtung
SK, die als Hauptkomponenten einen optischen Sender OT1, eine
Einkoppeloptik EO sowie eine zugehörige Koppelvorrichtung KV1
aufweist.
Um sendeseitig Licht in einen oder mehrere zu messende Licht
wellenleiter LW1 bis LWn einkoppeln zu können, werden diese
in Fig. 1 mittels der Koppelvorrichtung KV1 entlang eines
beliebig vorgebbaren Streckenabschnitts ihrer Längser
streckung nach dem Biegekopplerprinzip angekoppelt. Bei meh
reren zu messenden Lichtwellenleitern LW1 bis LWn wie in Fig. 1
können diese zweckmäßigerweise zu einer etwa rechteck
förmigen Bandleitung BL1 mechanisch zusammengefaßt sein. De
ren äußere Umhüllung ist im rechten Teil von Fig. 1 strich
punktiert angedeutet und im übrigen Figurenteil zu Gunsten
der Übersichtlichkeit weggelassen worden. Der Einfachheit
halber sind auch die Lichtwellenleiter LW1 bis LWn in Fig. 1
nur im Bereich der Koppelvorrichtung KV1 gezeichnet und sonst
weggelassen werden. Zur Lichteinkopplung werden die in der
Bandleitung BL1 etwa parallel nebeneinander liegenden Licht
wellenleiter LW1 bis LWn in der Koppelvorrichtung KV1 etwa
bogenförmig bzw. gekrümmt geführt. Hierzu ist im vorliegenden
Ausführungsbeispiel ein etwa zylinderförmiger Biegedorn eines
Biegekopplers BK1 vorgesehen. Der Biegekoppler BK1 weist zur
seitlichen Lagesicherung bzw. zur Führung der Bandleitung BL1
am Umfang seines Zylinders ZT1 eine Führungsnut FN1 auf, de
ren Führungsbreite etwa der Breite der in sie eingelegten
Bandleitung bzw. dem Lichtwellenleiter-Bändchen BL1 ent
spricht.
Der optische Sender OT1 weist mindestens ein Sendeelement TE1
auf, beispielsweise eine Laserdiode oder einen Laser, das im
gezeichneten Ausführungsbeispiel vorzugsweise ein nahezu pa
ralleles Lichtbündel bzw. einen Parallelstrahl LB in Richtung
auf einen als Ablenkvorrichtung vorgesehenen drehbaren bzw.
schwenkbaren Spiegel BS mit einer Sendeleistung TP abstrahlt.
In Fig. 1 sind der Übersichtlichkeit halber nur drei von k
Lichtstrahlen LS1 bis LSk des Lichtbündels LB eingezeichnet.
Das Lichtbündel LB trifft im optischen Sender OT1 auf den zur
Hauptabstrahlungsrichtung quergestellten bzw. gekippten,
drehbaren Spiegel BS auf. Von dessen verspiegelter Oberfläche
VO werden die Lichtstrahlen LS1 bis LSk reflektiert und nahe
zu parallel nebeneinander auf eine Einkoppeloptik EO, insbe
sondere ein Linsensystem, zwischen dem optischen Sender OT1
und der Koppelvorrichtung KV1 gelenkt. Die Einkoppeloptik EO
bündelt, d. h. fokussiert, die Lichtstrahlen LS1 bis LSk zu
einem Sende-Strahlungsfeld SF, das in einen Koppelbereich
bzw. Krümmungsbereich KB1 des Biegekopplers BK1 mit einem
Lichtfleck LF abgebildet wird. Der Koppelbereich KB1, in dem
die Lichtwellenleiter LW1 bis LWn gekrümmt geführt sind, ist
in Fig. 1 strichpunktiert eingerahmt angedeutet.
Eine Einkoppelebene ist in diesem Koppelbereich KB1 mit einem
y,z-Koordinatensystem definiert. Die von der y- und z-Achse
aufgespannte Einkoppel ebene liegt etwa senkrecht zur Zeichen
ebene und damit senkrecht zur Ausbreitungsrichtung x des
Sende-Strahlungsfeldes SF. Die y-Achse kennzeichnet dabei
eine Abtastrichtung für den Lichtfleck bzw. Leuchtfleck LF
quer zur Längsrichtung (axialen Erstreckung) der Bandleitung
BL1. Der Lichtfleck LF zeigt in der Einkoppelebene y, z be
vorzugt eine nahezu streifenförmige bzw. linienförmige oder
schlank ovale Gestalt (vgl. dazu die Fig. 9 und 10 des
Hauptpatents (P 42 35 313.0) sowie die zugehörige Beschrei
bung). Zur Erzeugung des Lichtflecks LF können im Strahlen
gang des Lichtbündels LB zweckmäßigerweise Spiegel oder ge
eignete Blenden (z. B. eine Schlitzblende) als Abbildungs-Mit
tel für das Sende-Strahlungsfeld SF vorgesehen sein. Hier
durch können in zuverlässiger Weise Toleranzen in der Lage
der Lichtwellenleiter, vorzugsweise in z-Richtung, wie sie
beispielsweise durch eine variierende Bändchendicke oder Un
terschiede in den Lichtwellenleiter-Durchmessern- hervorgeru
fen werden können, ausgeglichen werden. Dazu wird für den
Lichtfleck LF in z-Richtung am Einkoppelort bzw. in der Ein
koppelebene eine räumliche Ausdehnung gewählt, die vorteil
haft mindestens gleich der halben Dicke des Lichtwellenlei
ter-Bändchens BL1 ist, insbesondere zwischen 100 µm und 200
µm. Es genügt im allgemeinen eine Ausdehnung des Lichtflecks
LF in z-Richtung am Einkoppelort in der Größenordnung der
Dicke des jeweiligen Lichtwellenleiters bzw. der Dicke des
Lichtwellenleiter-Bändchens BL1. Die Beleuchtungsfeldbreite
des Lichtflecks LF in Abtastrichtung y ist vorzugsweise am
Einkoppelort gleich oder kleiner gewählt als der Lichtwellen
leiter-Außendurchmesser (insbesondere unter etwa 250 µm), so
daß mit hoher Lichtleistung Licht in den jeweiligen Lichtwel
lenleiter-Kern eingekoppelt werden kann. Die Strahlbreite des
Lichtflecks LF in y-Richtung sollte am Einkoppelort zweckmä
ßigerweise mindestens gleich dem Kerndurchmesser des jeweili
gen Lichtwellenleiters gewählt werden, insbesondere falls be
reits eine Ausrichtung des Sende-Strahlungsfeldes auf den je
weiligen Lichtwellenleiterkern am Einkoppelort erfolgt ist
und das Sende-Strahlungsfeld am jeweiligen Einkoppelort fest
steht. Für den Fall eines stetig wandernden Sende-Strahlungs
feldes über den jeweiligen Einkoppelort ist die Strahlbreite
des Lichtflecks LF in y-Richtung vorteilhaft gleich oder be
sonders bevorzugt auch kleiner als der Kerndurchmesser des
jeweiligen Lichtwellenleiters gewählt, so daß der vorzugs
weise linienförmige Lichtfleck LF während der Strahlbewegung
über den Einkoppelort den Kern des jeweiligen Lichtwellenlei
ters kontinuierlich überstreicht und diesen scharffokussiert
beleuchtet. Damit können Abstrahlverluste in die Zwischen
räume von Lichtwellenleiter-Kern zu Lichtwellenleiter-Kern
weitgehend vermieden werden. Das Sende-Strahlungsfeld SF
weist zweckmäßigerweise am Einkoppelort im Dreidimensionalen
ein etwa längliches Beleuchtungsfeld auf, dessen räumliche
Ausdehnung in z-Richtung größer als in Abtast-Richtung y ge
wählt ist. Nähere Einzelheiten zur räumlichen Gestalt einer
bevorzugten Ausführungsform des Lichtflecks LF sind zu den
Fig. 9 und 10 des Hauptpatents (Aktenzeichen: P 42 35
313.0) beschrieben.
Fig. 1 zeigt eine Schrägstellung des drehbaren Spiegels bzw.
Ablenkspiegels BS, bei der das Sende-Strahlungsfeld SF mit
seinem Lichtfleck bzw. Leuchtfleck LF beispielsweise einen
Einkoppel-Abschnitt TC1 entlang des gekrümmt geführten Licht
wellenleiter LW1 beleuchtet und nahezu tangential in dessen
Kern eingekoppelt wird. Der jeweilige Einkoppelabschnitt z. B.
TC1 und damit der tatsächliche Einkoppelort in den Kern des
jeweiligen Lichtwellenleiters z. B. LW1 wird dabei zweckmäßi
gerweise im Endbereich der Krümmung des jeweils bogenförmig
geführten Lichtwellenleiters z. B. LW1 am Übergang zu dessen
geradlinigen Streckenabschnitt beleuchtet, so daß Abstrahl
verluste bzw. eine unerwünschte Lichtauskopplung aufgrund des
weiteren gekrümmten Verlaufs des Lichtwellenleiters weitge
hend vermieden sind. Der tatsächliche Einkoppelort für die
Lichteinkopplung ist zweckmäßigerweise etwa einem Krümmungs
winkel zwischen 6° und 12°, vorzugsweise um etwa 8°, abwei
chend von der derjenigen Stelle entlang des gekrümmt geführ
ten Lichtwellenleiters z. B. LW1 zugeordnet, an der der Licht
wellenleiter z. B. LW1 vom zylinderförmigen Biegedorn ZT1 des
Biegekopplers BK1 abhebt und diesen geradlinig verläßt. Dabei
ist der Krümmungsradius vorzugsweise etwa um 3 mm gewählt.
Zweckmäßigerweise erstreckt sich dabei der jeweils vom Licht
fleck LF getroffene Einkoppel-Abschnitt z. B. TC1 bis zu einer
Länge von etwa 1 mm entlang des jeweilig gekrümmt geführten
Lichtwellenleiters z. B. LW1. Der beleuchtete Einkoppelab
schnitt TC1 ist mit einer etwa ovalen, strichpunktiert einge
zeichneten Umrahmung angedeutet. In dieser Koppelposition des
Sende-Strahlungsfeldes SF mit seinem Lichtfleck LF wird nur
dem Lichtwellenleiter LW1 in eindeutiger Weise ein Sende-
Strahlungsfeld SF1 mit seinem Lichtfleck LF1 individuell zu
geordnet.
Der schräg gestellte Ablenkspiegel BS wird nun im Strahlen
gang des Lichtbündels mittels einer Betätigungsvorrichtung BV
um seinen Drehpunkt DP verdreht bzw. gekippt, d. h. sein Win
kel zu dessen Lichtstrahlen LS1 bis LS3 verändert. Die Betä
tigungsvorrichtung BV wird dabei von einer in Fig. 1 nicht
eingezeichneten Ansteuervorrichtung mittels eines Steuersi
gnals AS2 über eine Steuerleitung AL2 bedient. Die Ansteue
rung der Betätigungsvorrichtung BV erfolgt beispielhaft in
der Weise, daß der Ablenkspiegel BS ausgehend von seiner Kop
pelposition für den Lichtwellenleiter LW1 kontinuierlich bzw.
stetig mindestens bis in eine strichpunktiert dargestellte
Einkoppelposition BS* für den Lichtwellenleiter LWn verdreht
bzw. gekippt wird. Die Drehbewegung des Spiegels BS um den
Drehpunkt DP im Strahlengang des Lichtbündels LB ist durch
einen Pfeil v symbolisch angedeutet. Durch die stetige Dreh
bewegung des Spiegels BS werden die Lichtstrahlen LS1 bis LSk
abgelenkt, bzw. geschwenkt und von der Einkoppeloptik EO der
art abgebildet, daß ihr zugehöriges Sende-Strahlungsfeld SF
den Koppel- bzw. Krümmungsbereich KB1 zeitlich nacheinander
linear überstreift bzw. beleuchtet. Zweckmäßig kann ebenfalls
eine gerasterte, d. h. schrittweise Verdrehung des Ablenkspie
gels BS sein, so daß das Sende-Strahlungsfeld SF mit seinem
Lichtfleck LF schrittweise, d. h. stufenweise, den Koppelbe
reich KB1 abtastet. Bei einer schrittweisen Abtastung mit dem
Lichtfleck LF sind die Abtastschritte zweckmäßigerweise
gleich oder kleiner dem Abstand zweier benachbarter Lichtwel
lenleiter-Kerne gewählt. Das Sende-Strahlungsfeld SF bewegt
sich translatorisch parallel zur Ebene, in der die Lichtwel
lenleiter LW1 bis LWn liegen, d. h. es durchfährt bzw. durch
scannt mit seinem Lichtfleck LF zeitlich nacheinander den ge
samten Koppelbereich KB1 in Abtast-Richtung y. Die durch den
drehbaren Spiegel BS bewirkte Winkeländerung wird also in
eine lineare Verschiebung des Sende-Strahlungsfeldes SF und
damit seines Lichtflecks LF in y-Richtung umgesetzt. Das
Sende-Strahlungsfeld SF wandert mit seinem Lichtfleck LF bei
spielsweise beim Lichtwellenleiter LW1 beginnend stetig oder
schrittweise über den Koppelbereich KB1 in y-Richtung auf den
Lichtwellenleiter LWn zu, d. h. anschaulich in Fig. 1: Das
Sende-Strahlungsfeld SF tastet aufgrund der Drehbewegung des
Ablenkspiegels BS quer zur axialen Erstreckung der gekrümmt
geführten Lichtwellenleiter LW1 bis LWn von unten nach oben
über den Koppelbereich KB1. Die obere Koppelposition des
Sende-Strahlungsfeldes SF ist der Einfachheit halber mittels
dreier strichpunktiert gezeichneter Lichtstrahlen von k
Lichtstrahlen LS1* bis LSk* veranschaulicht, die dem verdreh
ten Ablenkspiegel BS* zugeordnet sind. Deren zugehöriges
Sende-Strahlungsfeld ist mit SF* sowie dessen Lichtfleck mit
LF* bezeichnet. Das Sende-Strahlungsfeld SF* wird dabei mit
seinem Lichtfleck LF* als ein dem Lichtwellenleiter LWn indi
viduell zugeordnet es Sende-Strahlungsfeld SFn mit zugehörigem
Lichtfleck LFn in dessen Kern annähernd tangential eingekop
pelt.
Um in die zu messenden Lichtwellenleiter LW1 bis LWn unter
scheidbare Meßsignale möglichst großer Intensität bzw. Licht
leistung einkoppeln zu können, wird der Lichtfleck LF des
Sende-Strahlungsfeldes SF während seiner Bewegung in Abtast-
Richtung y sequentiell vorzugsweise nur in einen der Licht
wellenleiter-Kerne eingekoppelt und nicht in mehrere. Jedem
Lichtwellenleiter LW1 bis LWn ist somit in eindeutiger Weise
ein Sende-Stahlungsfeld SF1 bis SFn mit jeweils einem indivi
duellen Lichtfleck LF1 bis LFn zugeordnet, der die gekrümmt
geführten Lichtwellenleiter LW1 bis LWn entlang zugehöriger
Einkoppel-Abschnitte TC1 bis TCn beleuchtet.
Gegebenenfalls kann die Tastung mit dem Lichtfleck LF auch so
durchgeführt werden, daß er jeweils zumindest im Bereich des
jeweiligen Einkoppelortes, d. h. bei Überstreichen des jewei
ligen Lichtwellenleiter-Kerns, in y-Richtung etwas hin- und
herbewegt wird, d. h. in der Art einer "Iitter" Bewegung ge
wobbelt wird. Vorzugsweise bei einer stufenweisen Abtastbewe
gung in y-Richtung kann dieser eine derartige zusätzliche,
ihr gegenüber schnellere Rotationsbewegung während der Be
leuchtung des jeweiligen Lichtwellenleiters überlagert sein.
Zweckmäßigerweise wird der Lichtfleck zwischen 4- und 10mal,
bevorzugt 5 mal, hin- und herverfahren, während er auf den
Kern des jeweiligen Lichtwellenleiters ausgerichtet ist.
Die Drehachse des Spiegels BS einerseits und die Einkoppelbe
reiche TC1 bis TCn andererseits sind dabei zweckmäßigerweise
jeweils etwa in den Brennpunkten der Einkoppeloptik EO ange
ordnet, um eine möglichst fokussierte Lichteinkopplung hoher
Leistung zu erreichen.
Insgesamt betrachtet wird aufgrund der selektiven Einkopplung
durch die Schwenkbewegung des Sende-Strahlungsfeldes SF auf
der Sendeseite eine zeitliche Auflösung bzw. selektive Akti
vierung der einzelnen zu messenden Lichtwellenleiter LW1 bis
LWn erreicht. Dabei spielt die tatsächliche räumliche Lage
der zu messenden Lichtwellenleiter keine Rolle.
Anstelle des drehbaren Ablenkspiegels BS kann auch ein rotie
render Spiegel verwendet werden. Weiterhin kommt ein
Strahlablenksystem mit einem linear beweglichen Spiegel oder
eine Bewegung des Sendeelements selber in Betracht, was eine
entsprechend angepaßte Ankoppeloptik EO erfordert. Ebenso
könnte anstelle der Strahlablenkvorrichtung eine Strahlaus
blendvorrichtung, z. B. eine in x-Richtung durchlaufende
Schlitzblende, verwendet werden. Als Antriebselemente für die
Betätigung der Strahlablenkvorrichtung eignen sich z. B. Ei
genresonanzscanner (Torsionsstabscanner, Torsionsbandscan
ner), und Galvanometerscanner, piezoelektrische Scanner,
usw . . Während Eigenresonanzscanner eine feste Frequenz auf
weisen, ist bei Galvanometerscannern und piezoelektrischen
Scannern die Frequenz variabel einstellbar. Die Antriebsele
mente unterscheiden sich weiterhin in den Wellenbildern, mit
denen eine Abtastung möglich ist. Vorteilhaft können eventu
elle Störungen der mechanischen Strahlablenkvorrichtung auch
durch Verwendung eines akusto-optischen Ablenkelementes ver
mieden werden.
Im optischen Sender OT1 können vorteilhaft zur selektiven,
unterscheidbaren Einkopplung von Sendesignalen in die zu mes
senden Lichtwellenleiter LW1 bis LWn auch mehrere Sendeele
mente vorgesehen sein, die vorzugsweise in Form einer Zeile
bzw. eines Arrays (Senderfeld) zusammengefaßt sind. Eine se
lektive Meßsignal-Einkopplung kann dann vorteilhaft durch
eine Ansteuerung dieser Sendeelemente im Multiplexbetrieb er
reicht werden. In diesem Fall gilt für die Anzahl der Sende
elemente in Bezug auf die Zahl der zu messenden Lichtwellen
leiter LW1 bis LWn: je größer die Zahl der Sendeelemente ge
wählt wird, desto größer ist die erreichbare zeitliche Auflö
sung, d. h. desto größer ist die Annäherung an die dort be
schriebenen kontinuierliche bzw. stetige Lichteinkopplung von
Fig. 1. Dazu sind zweckmäßigerweise mindestens so viele Sen
delemente vorgesehen wie Lichtwellenleiter zu messen sind. Im
allgemeinen genügen etwa 2 bis 4 mal so viele Sendeelemente.
Gegebenenfalls kann die Leistung des Sendeelements TE über
eine Steuerleitung AL1 mittels eines Steuersignals AS1 einer
in Fig. 1 nicht gezeichneten Ansteuervorrichtung individuell
für jeden zu messenden Lichtwellenleiter LW1 bis LWn einge
stellt werden.
Geht man bei der sendeseitigen Lichteinkopplung nach Fig. 1
beispielsweise davon aus, daß das Strahlungsfeld SF in einem
Brenn- bzw. Fokussierpunkt FP fokussiert, würden die Licht
strahlen LS1-LSk des Strahlungsfeldes SF bei Abwesenheit
der Koppelvorrichtung KV1 in der Spitze eines Strahlenkegels
zusammenlaufen und dann nach diesem Brennpunkt wieder sich
strahlenförmig verbreiternd auseinander laufen.
In Fig. 1 wird das Strahlungsfeld SF mit seinem Fokussier
punkt FP jeweils möglichst auf den Krümmungsabschnitt des je
weiligen Lichtwellenleiters wie z. B. LW1 projiziert.
Aufgrund der Krümmung des Lichtwellenleiters LW1 wird dieser
jedoch nicht punktuell scharf beleuchtet, sondern es treffen
Lichtstrahlen des Strahlenkegels auch an Orten vor und nach
dem Fokussierpunkt FP auf den Lichtwellenleiter LW1 entlang
dessen Längsachse. An diesen Stellen ist das Strahlungsfeld
SF insbesondere gegenüber dem Kerndurchmesser des Lichtwel
lenleiters LW1 verbreitert, d. h. nicht fokussiert, so daß es
dort unscharf abgebildet wird, und Lichtanteile durch
"Überstrahlen" des Lichtwellenleiter-Kerns verlorengehen.
Verlaufen z. B. die Lichtstrahlen LS1-LSk in Fig. 1 in der
x,z-Einkoppelebene, so legt z. B. der Lichtstrahl LSk aufgrund
der Lichtwellenleiterkrümmung einen kürzeren Weg von der Ein
koppeloptik EO bis zu seinem Auftreffpunkt beim Lichtwellen
leiter LW1 als z. B. der Lichtstrahl LS1 zurück. Dadurch wird
der Lichtwellenleiter LW1 auch vor und nach dem eigentlichen
Fokussierpunkt FP entlang seiner Krümmung vom Strahlungskegel
getroffen und aufgrund der dort vorliegenden Unschärfe mit
einer weitaus geringeren Licht- bzw. Leuchtdichte beleuchtet.
Auf diese Weise wird ein sich entlang der Längsachse des
Lichtwellenleiters LW1 erstreckender Einkoppel-Abschnitt z. B.
mit einem Lichtfleck LFV beleuchtet, wie er in Fig. 6 sche
matisch schraffiert dargestellt ist. Der Lichtfleck LFV weist
dort entlang der Längsachse des strichpunktiert angedeuteten
Lichtwellenleiters LW1 etwa die Form einer "Acht" auf. Wäh
rend er etwa in seiner Mitte weitgehend fokussiert auf den
Lichtwellenleiter LW1 abgebildet ist, verbreitert er sich vor
und nach dieser Schärfezone entlang der Krümmung des Licht
wellenleiters LW1 betrachtet keulenartig, d. h. in y-Richtung,
so daß dort der Lichtwellenleiter LW1 mit weitaus geringerer
Lichtdichte als in der Mitte des Lichtflecks LFV bestrahlt
wird. Im Bereich seiner beiden Verbreitungszonen ist der
Lichtfleck LFV also unscharf auf den Lichtwellenleiter LW1
abgebildet. Es werden dort weniger Lichtstrahlen auf den Kern
des Lichtwellenleiters projiziert und in diesen eingekoppelt.
Der größte Teil der Lichtstrahlen trifft nicht auf den Licht
wellenleiter, sondern daneben. Insgesamt betrachtet ergibt
sich entlang der Längsachse des Lichtwellenleiters LW1 also
ein ungleichmäßig verbreiteter Lichtfleck LFV.
Dieses Unschärfeproblem kann insbesondere auch bei einem
Lichtfleck gemäß den Fig. 9 und 10 des Hauptpatents
(Aktenzeichen P 42 35 313.0) auftreten, der eine größere
räumliche Ausdehnung in z-Richtung als in Abtastrichtung y
aufweist.
Um in den jeweils zu messenden Lichtwellenleiter wie z. B. LW1
von Fig. 1 möglichst viel Lichtanteile des zur Verfügung
stehenden Sende-Strahlungsfeldes einkoppeln zu können, d. h.
den Koppelwirkungsgrad verbessern zu können, wird für das
Sende-Strahlungsfeld SF von Fig. 1 eine Fokussierungsfläche
erzeugt, die gegenüber einer senkrecht zur Strahlungsrichtung
x gedachten Ebene y, z in Richtung auf die Einkoppelfläche des
Einkoppelabschnitts geneigt ist. Fig. 2 zeigt beispielhaft
eine derartig geneigte Fokussierungsfläche, die mit dem Be
zugszeichen FC1 versehen ist.
In Fig. 2 ist ein Ausschnitt der x,z-Einkoppelebene gezeich
net, in der der Krümmungsabschnitt des Lichtwellenleiters LW1
verläuft. Die x,z-Ebene entspricht somit einer Schnittebene
quer zur Längserstreckung des zylinderförmigen Biegedorns ZT1
(vergleiche Fig. 1) beim Lichtwellenleiter LW1, so daß die
Fokussierungsfläche FC1 in einer zur Abtatsrichtung y des
Sende-Strahlungsfeldes SF senkrechten Ebene betrachtet wird.
Der Lichtwellenleiter LW1 liegt in Fig. 2 am Außenumfang des
Zylinders ZT1 an. Im linken Teil von Fig. 2 ist er mit sei
ner Beschichtungshülle (primäres und sekundäres Coating) ge
zeichnet, die im übrigen Figurenteil der Übersichtlichkeit
halber weggelassen worden ist. Die Lage seiner Kernmitte ist
strichpunktiert angedeutet und mit dem Bezugszeichen C1 ver
sehen. Das Strahlungsfeld SF wird nun derart abgebildet, daß
seine Fokussierungsfläche FC1 in der x,z-Einkoppelebene als
geradlinige Bild- bzw. Fokussierungslinie erscheint. Diese
Fokussierungslinie ist gegenüber einer gedachten, strichpunk
tierten angedeuteten, senkrechten Hilfslinie S, die parallel
zur z-Achse verläuft, in Richtung auf die Kernlage C1 des
Lichtwellenleiters LW1 schräg gestellt. Die Fokussierungsflä
che FC1 erstreckt sich in der x,z-Ebene mit ihrer Bildlinie
(Fokussierungslinie) etwa parallel zur Sehne SH eines vom
Licht getroffenen Einkoppel-Abschnitts, dessen Anfang und En
de durch zwei Markierungen M1 und M2 gekennzeichnet ist. Vor
zugsweise etwa in der Mitte dieses Einkoppel-Abschnitts ist
die Fokussierungslinie (der Fokussierungsfläche FC1) mög
lichst tangential an die Kernlage C1 angelegt.
Zweckmäßigerweise entspricht die Längserstreckung der Fokus
sierungsfläche FC1 etwa der Sehnenlänge von SH. Zweckmäßiger
weise weist die Fokussierungslinie eine Längserstreckung zwi
schen 600 und 2000 µm, insbesondere zwischen 800 und 1600 µm,
bevorzugt etwa von 800 µm auf. Derjenige Punkt, bei dem die
Fokussierungslinie eine Tangente an die Kernlage C1 bildet,
ist vorzugsweise einem Krümmungswinkel KW zugeordnet. Der
Krümmungswinkel KW ergibt sich zwischen dem Tangentenpunkt
und derjenigen Stelle TAS des Lichtwellenleiters LW1, an der
dieser vom Zylinderförmigen Biegedorn ZT1 abhebt und diesen
geradlinig verläßt. Der Lichtwellenleiter LW1 wird bevorzugt
im Endbereich seiner Krümmung am Übergang zu seinem geradli
nigen Streckenabschnitt beleuchtet, so daß Abstrahlverluste
bzw. eine unerwünschte Lichtauskopplung aufgrund des weiteren
gekrümmten Verlaufs des Lichtwellenleiters weitgehend vermie
den sind. Bei einem Krümmungsradius RA von etwa 3 mm ist der
Krümmungswinkel KW zweckmäßigerweise zwischen 6 und 12°,
vorzugsweise um etwa 8°, gewählt.
Die schräg gestellte Fokussierungsfläche FC1 von Fig. 2
weist vorzugsweise eine größere räumliche Ausdehnung entlang
der Längsachse des gekrümmten Lichtwellenleiter-Abschnitts
als in Abtastrichtung y des Strahlungsfelds SF auf. Sie bil
det im Projektionsraum insbesondere eine geneigte Fokussie
rungs-Ebene mit etwa linien-bzw. streifenförmiger oder
schlank ovaler Form bzw. Gestalt.
Insbesondere ist bei einer feststehenden Ausrichtung des
Strahlungsfelds SF auf den Kern des jeweils zu messenden
Lichtwellenleiters wie z. B. LW1 die Fokussierungs-Feldbreite
der geneigten Fokussierungsfläche FC1 in Abtastrichtung y
kleiner als der Kernabstand zweier benachbarter Lichtwellen
leiter wie z. B. LW1, LW2 gewählt, was einer allgemein gülti
gen Obergrenze für die Feldbreite entspricht. Die Feldbreite
wird bevorzugt höchstens gleich dem Lichtwellenleiter-Außen
durchmesser (insbesondere z. B. unter etwa 250 µm) und minde
stens gleich dem Kerndurchmesser (z. B. zwischen 10 und 50 µm)
gewählt, um den jeweiligen Kern möglichst zuverlässig treffen
und in diesen möglichst viel Licht einkoppeln zu können.
Bei einem stetig in Abtastrichtung y wandernden Strahlungs
feld SF wird der Kern des jeweiligen Lichtwellenleiters wie
z. B. LW1 vorzugsweise mit einem möglichst in y-Richtung dün
nen, linienförmigen Lichtfleck konzentriert beleuchtet. Die
Feldbreite der Fokussierungsfläche FC1 in y-Richtung wird da
bei vorteilhaft gleich dem oder kleiner als der Kerndurchmes
ser des jeweiligen Lichtwellenleiters wie z. B. LW1 gewählt.
Bevorzugt weist die Fokussierungsfläche FC1 bei Monomode-
Lichtwellenleitern eine Strahlbreite in y-Richtung zwischen
10 und 80 µm, bevorzugt zwischen 10 und 20 µm auf.
Da in Fig. 2 die Fokussierungsfläche FC1 möglichst tangen
tial etwa in der Mitte des gekrümmt verlaufenden Einkoppel-
Abschnitts dem Kernverlauf C1 angenähert ist, gelangt vor
teilhaft der größte Teil der Lichtstrahlen des Strahlungs
felds SF auf die Einkoppelfläche EF des Einkoppel-Abschnitts
zwischen den beiden Markierungen M1 und M2. Dabei ist die zur
Verfügung stehende Einkoppelfläche EF des Einkoppel-Ab
schnitts insbesondere durch seine Längserstreckung zwischen
den beiden Markierungen M1 und M2 sowie durch den Kerndurch
messer bestimmt. Es ergibt sich somit als Einkoppelfläche EF
eine streifenförmige Krümmungsfläche als Ausschnitt einer ge
dachten Kugeloberfläche. Dadurch, daß in der y,z-Ebene von
Fig. 2 die Fokussierungslinie der Fokussierungsfläche FC1
vorzugsweise im Nahbereich der Kernlage C1 eingestellt ist,
wird das Licht des Strahlungsfelds SF weit mehr oder nahezu
vollständig auf die Einkoppelfläche EF des Einkoppel-Ab
schnitts konzentriert abgebildet, d. h. bündelprojiziert. Es
ergibt sich somit ein optimierter Einkoppel-Wirkungsgrad und
damit eine hohe Lichtausbeute der durch das Sende-Element (TE
von Fig. 1) bereit gestellten Lichtmenge. Durch die schräg
gestellte Fokussierungsfläche FC1 wird etwa der gesamte Ein
koppel-Abschnitt mit einem im wesentlichen scharfen Licht
fleck entlang seiner Krümmung zwischen den beiden Markierun
gen M1 und M2 beleuchtet, so daß Lichtleistungsverluste durch
"Überstrahlen" des Lichtwellenleiter-Kerns weitgehend vermie
den sind. Es werden also gegenüber den Einkoppelverhältnissen
von Fig. 6 weit mehr Lichtstrahlen in den Kern des Lichtwel
lenleiters LW1 eingekoppelt.
Fig. 7 zeigt entlang der Längsachse des gekrümmt geführten,
strichpunktiert angedeuteten Lichtwellenleiters LW1 betrach
tet einen Lichtfleck LFn, wie er sich im wesentlichen bei
einer erfindungsgemäßen, geneigt eingestellten Fokussierungs
fläche wie z. B. FC1 gemäß Fig. 2 ergibt. Der Lichtfleck FLn
weist in Längsrichtung des Lichtwellenleiters LW1 betrachtet
eine etwa schlank ovale bzw. streifenförmige Form auf. Seine
Beleuchtungsfeldbreite (in y-Richtung) ist entlang der Krüm
mung des Lichtwellenleiters LW1 bevorzugt etwa konstant. Da
durch wird die Einkoppelfläche des Einkoppel-Abschnitts in
Längsrichtung mit etwa gleicher Beleuchtungsfeldstärke, d. h.
mit etwa konstanter Leucht- bzw. Leuchtdichte, ausgeleuchtet.
Im Unterschied zum ungleichförmigen, unscharfen Lichtfleck
LFV von Fig. 6 ist beim erfindungsgemäßen Lichtfleck LFN von
Fig. 7 das Licht des Strahlungsfelds SF entlang der Krümmung
des Einkoppel-Abschnitts homogen bzw. gleichmäßig verteilt,
so daß sich ein verbesserter Einkoppelfaktor ergibt. Da die
Lichtfleckform an die Form des Einkoppel-Abschnitts weitge
hend angepaßt ist, trifft weit weniger Licht an den Lichtwel
lenleiter LW1. Der Lichtwellenleiter LW1 wird also mit einem
auf einen vorgebbaren Einkoppel-Abschnitt im wesentlichen
scharf eingestellten Lichtfleck LFn beleuchtet. In Fig. 1
ist diese gewünschte schlank ovale Form für den Lichtfleck
LF1 strichpunktiert angedeutet, der den gekrümmt verlaufenden
Einkoppel-Abschnitt TC1 mit hoher Tiefenschärfe beleuchtet.
Eine weitere Verbesserung der sendeseitigen Lichteinkopplung,
insbesondere bezüglich des Einkoppelwirkungsgrades, kann da
durch erreicht erreicht, daß die Fokussierungsfläche hin
sichtlich ihrer Form im wesentlichen der gekrümmt verlaufen
den Einkoppelfläche EF des Einkoppel-Abschnitts von Fig. 2
angepaßt wird. Die Fokussierungsfläche wird vorzugsweise als
streifenförmige Krümmungsfläche ausgebildet, die in ihrer Di
mensionierung etwa der Einkoppelfläche EF entspricht. In
Fig. 2 ist diese der Krümmung der Kernlage C1 nachfolgende Fo
kussierungsfläche mit dem Bezugszeichen FC2 versehen und in
der x,z-Ebene durch eine ausgezogene Linie zwischen den bei
den Markierungen M1 und M2 angedeutet. Die Fokussierungsflä
che FC2 bildet dann in der x,z-Ebene von Fig. 2 betrachtet
eine gekrümmt verlaufende Bildlinie, wobei deren Krümmung der
Bildlinie der Einkoppelfläche EF nachfolgt. Sie ist besonders
bevorzugt möglichst exakt mit der Einkoppelfläche EF des Ein
koppelabschnitts zur Deckung gebracht, so daß sie möglichst
mit der Einkoppelfläche EF zusammenfällt und ihr Abstand zur
Kernmitte C1 minimal wird. Gegenüber der tangentialen Annähe
rung der Fokussierungsfläche FC1 an die Einkoppelfläche EF
ist somit eine weiter verbesserte Lichteinkopplung erreicht,
da der Lichtfleck entlang dem gekrümmten Verlauf der Kernlage
C1 besonders scharf abgebildet wird.
Fig. 3 zeigt eine Fokussierungsfläche FC3 in der x,z-Ebene
betrachtet, die möglichst im Kern CO des Lichtwellenleiters
LW1 verläuft. Im Unterschied zu Fig. 2, wo die Bildlinie der
Fokussierungsfläche FC1 tangential an die gekrümmt verlau
fende Kernmitte C1 angelegt ist, bildet hier die Bildlinie
der Fokussierungsfläche FC3 eine Tangente an den gekrümmt
verlaufenden Innendurchmesser ID des Kerns CO. Die beiden
Schnittpunkte dieser Bildlinie mit dem Außendurchmesser des
Kerns CO definieren vorzugsweise die Grenzen des beleuchteten
Einkoppel-Abschnitts. Auf diese Weise werden die Lichtstrah
len des Strahlungsfelds SF direkt in den Kern CO projiziert,
so daß sich vorteilhaft eine fokussierte Lichteinkopplung mit
weiter optimierten Einkoppel-Wirkungsgrad entlang der Krüm
mung des Einkoppel-Abschnitts ergibt.
In Fig. 8 ist zusätzlich zur ersten, inneren Kernlage C1 von
Fig. 2 eine zweite, am Außenumfang des zylinderförmigen Bie
gedorns ZT1 von Fig. 1 radial weiter außen liegende Kernlage
C1* strichpunktiert in der x,z-Ebene eingezeichnet. Der Kern
lage C1 ist also ein kleinerer Krümmungsradius als der Kern
lage C1* zugeordnet, so daß die beiden Kernlagen C1 und C1*
einen Abstand a voneinander aufweisen. Die beiden Kernlagen
C1 und C2 können dabei eine innere und eine äußere Grenze für
den Bereich möglicher Kernverläufe aufgrund von Lagetoleran
zen zu messender Lichtwellenleiter am Außenumfang des Biege
zylinders ZT1 (vgl. Fig. 1) darstellen. Das Licht des Strah
lungsfeldes SF wird auf eine Fokussierungslinie einer Fokus
sierungsfläche FC4 konzentriert, die etwa in der Mitte zwi
schen den beiden Kernlagen C1 und C1* verläuft. Die Fokussie
rungsfläche FC4 ergibt sich vorzugsweise aus der Fokussie
rungsfläche FC2 von Fig. 2 dadurch, daß deren Fokuslinie um
etwa a/2 radial nach außen auf die Kernlage C1* zu parallel
verschoben wird. Dadurch wird eine weitgehend gleichmäßige
Fokussierung des Strahlungsfelds FS auf beide möglichen Kern
lagen C1 und C1* erreicht. Es ergibt sich somit vorzugsweise
eine symmetrische Strahlungsfeldverteilung bezüglich der Fo
kuslinie der Fokussierungsfläche FC4.
Diese Feldverteilung ist in Fig. 8 zusätzlich schematisch in
perspektivischer Darstellung bei Blickrichtung senkrecht zur
schräg gestellten Fokussierungsfläche FC4 angedeutet. Die
Lichtstrahlen des Sende-Strahlungsfelds SF verlaufen V-förmig
auf die Fokuslinie der Fokussierungsfläche FC4 zu. Dabei wer
den sie im Bereich der Kernlage C1 in Form der Fokussierungs
fläche FC2 von Fig. 2 konzentriert abgebildet, die in Fig.
8 geschnitten dargestellt ist. Entsprechend dazu wird die
Einkoppelfläche der Kernlage C1* einer Fokussierungsfläche
FC2* zugeordnet, die analog zur Fokussierungsfläche FC2 als
streifenförmige, der Krümmung der Kernlage C1* folgende Krüm
mungsfläche ausgebildet ist. Dabei verläuft die Fokuslinie
von FC4 bezüglich der Ausbreitungsrichtung x zweckmäßiger je
weils "hinter" den Kernlagen C1 und C1*.
Auf diese Weise ist weitgehend sichergestellt, daß für jede
Kernlage wie z. B. C1, C1* Licht mit etwa der gleichen Leucht
stärke fokussiert in den jeweiligen Lichtwellenleiter-Kern
eingekoppelt werden kann und trotzdem mindestens zwei mögli
chen, verschiedenen Kernlage kann der jeweilige Einkoppel-Ab
schnitt jeweils von einem scharf eingestellten Lichtfleck,
vorzugsweise entsprechend LFn von Fig. 7, beleuchtet werden.
Zur Erzeugung der erfindungsgemäß schräg gestellten Fokussie
rungsfläche wie z. B. FC1 mit FC4 gemäß den Fig. 2, 3 sowie
Fig. 8 ist in der Sende-Koppeleinrichtung SK von Fig. 1
mindestens ein Abbildungsmittel, insbesondere ein Glaskeil
GKE, vorgesehen. Dieser Glaskeil GKE ist in Fig. 1 vorzugs
weise zwischen der Einkoppeloptik EO und der Koppelvorrich
tung KV1 positioniert, wo er strichpunktiert angedeutet ist.
Der Glaskeil GKE ist quer zu den Lichtstrahlen LS1 bis LSk
des Sende-Strahlungsfelds SF ausgerichtet, wobei sich sein
verjüngendes Ende in die negative z-Richtung zeigt. Dadurch
durchlaufen die Lichtstrahlen LS1 bis LSK des Strahlungsfelds
SF im Glaskeil GKE unterschiedliche optische Wege. In der
x,z-Ebene von Fig. 1 betrachtet, werden diejenigen Licht
strahlen wie z. B. LSk, die einen kürzeren Weg von der Einkop
peloptik EO zum Einkoppel-Abschnitt TC1 zurücklegen, im Glas
keil GKE entlang eines optisch kürzeren Wegs wie z. B. KW ge
führt. Diejenigen Lichtstrahlen hingegen wie z. B. LS1, die
einen längeren Weg von der Einkoppeloptik EO bis zum Einkop
pel-Abschnitt TC1 zurücklegen, werden im Glaskeil GKE auch
entlang eines längeren optischen Wegs wie z. B. LW geführt.
Durch den Glaskeil GKE läßt sich somit überhaupt erst die
Schräglage einer erfindungsgemäßen Fokussierungsfläche wie
z. B. FC1 von Fig. 2 auf optischem Wege hervorrufen und ganz
gezielt einstellen. Es ergibt sich dann entlang der Krümmung
des jeweiligen Einkoppel-Abschnitts ein scharf eingestellter,
ovaler Lichtfleck, wie er bereits in Fig. 1 strichpunktiert
angedeutet ist.
Gleichzeitig können mit Hilfe des Glaskeils GKE gegebenen
falls auch zwei sogenannte astigmatische Bildflächen erzeugt
werden, die vorteilhaft als Fokussierflächen zur Lichtein
kopplung herangezogen werden können. Fig. 4 zeigt in per
spektivischer Darstellung eine durch eine etwaigen Astigma
tismus des Glaskeils GKE hervorgerufene meridionale Fokus
sierfläche MBL, die sich etwa parallel zur Abtastrichtung y
erstreckt sowie eine sich in z-Richtung ausdehnende saggitale
Fokussierungsfläche SBL. Beide astigmatischen Fokussierungs
flächen MBL und SBL stehen somit aufeinander senkrecht. Die
Fokussierungsfläche SBL ist in der y,z-Ebene sowie die Fokus
sierungsfläche MBL in der z,y-Ebene linien- bzw. streifenför
mig oder schlank oval ausgebildet. Das Licht des Sende-Strah
lungsfelds SF konzentriert sich somit entlang seines Ausbrei
tungswegs in x-Richtung in Form der meridionalen Bildlinie
MBL und geht ausgehend von dieser schließlich kontinuierlich
in die Form der saggitalen Bildlinie SBL über. Etwa in der
Mitte zwischen den beiden Bildlinien MBL und SBL nimmt dabei
das Sende-Strahlungsfeld SF von Fig. 1 eine örtliche Feld
verteilung an, die in der y,z-Ebene etwa kreisflächig ausge
bildet ist, was in Fig. 4 strichpunktiert angedeutet ist. Da
nun den Lichtstrahlen LS1 bis LSk zum Beispiel in der x,z-
Ebene von Fig. 1 unterschiedliche optische Wege im Glaskeil
GKE zugeordnet sind, wird die saggitale Bildlinie SBL in der
x,z-Ebene in Richtung auf die x-Achse zu um den Winkel NW ge
neigt, d. h. die saggitale Bildlinie SBL wird um die y-Achse
um den Winkel NW gedreht, so daß sich besonders einfach die
gewünschte Fokussierungsfläche FC1 von Fig. 2 unter gleich
zeitiger Ausnutzung eines etwaigen Astigmatismuses des Glas
keils GKE praktisch erzeugen läßt.
Mit Hilfe des Glaskeils GKE kann gegebenenfalls z. B. auch die
unabhängig davon erzeugte Fokuslinie einer Fokussierungsflä
che FC0, die entsprechend den Fig. 9 und 10 des Hauptpa
tents vorzugsweise eine größere räumliche Ausdehnung in z-
Richtung als in Abtastrichtung y aufweist, in der x,z-Ebene
um den Neigungswinkel NW in Richtung auf die Einkoppelfläche
des Einkoppel-Abschnitts zu geneigt bzw. schräg gestellt wer
den (vgl. Fig. 2). Es ergibt sich so z. B. die schräg ge
stellte Fokussierungsfläche FC1 von Fig. 2. Die Fokussie
rungsfläche FC1 weist dann vorteilhaft eine Steigungshöhe in
z-Richtung auf, die etwa der Längserstreckung der Fokuslinie
der Fokussierungsfläche FC0 entlang der z-Achse entspricht.
Die Längsausdehnung der Fokuslinie der Fokussierungsfläche
FC0 und damit die Steigungshöhe der Fokussierungsfläche FC1
ist dabei zweckmäßigerweise gleich oder größer der maximal
möglichen Kernlagetoleranz der jeweils zu messenden Lichtwel
lenleiter gewählt, um Lagetoleranzen der Lichtwellenleiter-
Kerne ausgleichen zu können. Bevorzugt ist die Steigungshöhe
von FC1 etwa der zweifachen Kernlagetoleranz gewählt.
Beispielsweise sind folgende Dimensionierungen zweckmäßig, um
Licht möglichst fokussiert in den Kern des Lichtwellenleiters
mit z. B. 230 µm-Außendurchmesser und zugleich den Kern eines
Lichtwellenleiters z. B. 400 µm-Außendurchmesser einkoppeln zu
können (vgl. dazu die Bezugsgrößen in Fig. 2):
Krümmungswinkel KW: 6°bis 12°, vorzugsweise etwa 8°
Krümmungsradius RA für die Kernachse der 230 µm-Faser: ca. 2,43 mm
Krümmungsradius RA für die Kernachse der 400 µm-Faser: ca. 2,885 mm
Steigungshöhe der Fokussierungsfläche FC1: 170 bis 200 µm Neigungswinkel NW: ca. 83°
Längserstreckung der Fokussierungsfläche FC1: ca. 1400 µm.
Krümmungswinkel KW: 6°bis 12°, vorzugsweise etwa 8°
Krümmungsradius RA für die Kernachse der 230 µm-Faser: ca. 2,43 mm
Krümmungsradius RA für die Kernachse der 400 µm-Faser: ca. 2,885 mm
Steigungshöhe der Fokussierungsfläche FC1: 170 bis 200 µm Neigungswinkel NW: ca. 83°
Längserstreckung der Fokussierungsfläche FC1: ca. 1400 µm.
Durch die erfindungsgemäße, geneigte Fokussierungsfläche ist
es vorteilhaft ermöglicht, das Licht des Sende-Strahlungs
felds entlang der Krümmung des Lichtwellenleiter-Kerns auf
die Einkoppel-Fläche eines definierten Einkoppel-Abschnitts
zu fokussieren bzw. zu bündeln. Die Einkoppelfläche des Ein
koppelabschnitts ist somit entlang dessen Längsachse betrach
tet mit einem scharf eingestellten Lichtfleck weitgehend ho
mogener Lichtfeldstärke, d. h. etwa konstanter Lichtdichte,
gleichmäßig beleuchtet. Dadurch können die Abstrahlverluste
aufgrund nicht in den Kern eingekoppelter Lichtstrahlen mini
miert, d. h. der Einkoppelfaktor optimiert werden. Weiterhin
ist die sendeseitige Einkopplung durch die Schrägstellung der
Fokussierungsfläche relativ unempfindlich gegenüber Schwan
kungen und Toleranzen, die sich zwischen der Zuordnung des
Sende-Strahlungsfelds und dem jeweiligen Einkoppelort beim
Lichtwellenleiter-Kern ergeben. Insbesondere wird die Licht
einkopplung weitgehend unabhängig von Lagetoleranzen der
Lichtwellenleiter-Kerne, wie z. B. durch unterschiedliche Bän
dchendicken oder unterschiedlich große Lichtwellenleiter
durchmesser vorgegeben sein können. Dies spielt insbesondere
bereits auch dann eine Rolle, wenn die Beschichtung des je
weils in den Biegekoppler eingelegten Lichtwellenleiters auf
grund eines auf ihn ausgeübten Haltedrucks zu fließen beginnt
und sich dadurch die Lage seines Kerns ändert. Durch die
Steigungshöhe der schräg gestellten Fokussierungsfläche ist
jedoch sichergestellt, daß auch noch Kerne in verschiedenen
z-"Höhenlagen" der x,z-Einkoppelebene mit einem scharf einge
stellten Lichtfleck beleuchtet werden können. Durch die ver
gleichmäßigte Beleuchtung der Einkoppel-Fläche des Einkoppel-
Abschnitts ist zudem eine wesentlich bessere Ausnutzung der
durch das Sendeelement des optischen Senders bereit gestell
ten Lichtmenge ermöglicht. Messungen an Lichtwellenleitern
können somit besonders exakt sowie reproduzierbar durchge
führt werden.
Die erfindungsgemäße, sendeseitige Lichteinkopplung läßt sich
zwar besonders bevorzugt zusammen mit den Aussagen zu den Fi
guren 1 mit 10 des Hauptpatents (P 42 35 313.0) verwerten.
Sie kann jedoch auch völlig unabhängig hiervon eingesetzt
werden.
Zusätzlich oder unabhängig hiervon kann schließlich auch eine
Verbesserung der sendeseitigen Lichteinkopplung dadurch er
reicht werden, daß in Fig. 1 vorzugsweise ein möglichst
punktförmig fokussierter (Fokussierpunkt FP) oder sonstig lo
kal auf den Kern des Lichtwellenleiters begrenzter Lichtfleck
LF des Strahlungsfeld SF entlang der Längsachse des jeweils
zu messenden Lichtwellenleiter wie z. B. LW1 hin- und herbe
wegt wird. Um den Lichtfleck LF des Strahlungsfelds SF ent
lang der gekrümmten Längsachse des zu messenden Lichtwellen
leiters LW1 in Fig. 1 hin- und herzuverfahren, ist in Fig. 1
als Ablenkeinrichtung ein kippbarer bzw. drehbarer Spiegel
ULS vorgesehen. Er ist um eine Drehachse DL drehbar, die
strichpunktiert angedeutet ist und sich vorzugsweise in y-
Richtung erstreckt. Dadurch erfahren die Lichtstrahlen LS1
bis LSk des Strahlungsfelds SF zusätzlich zu ihrer Abtastbe
wegung in y-Richtung durch den Ablenkspiegel BS auch eine Ab
lenkbewegung vorzugsweise in z-Richtung, d. h. das Strahlungs
feld SF wird entlang einer Verschiebelinie in z-Richtung
senkrecht zur Ausbreitungsrichtung x des Strahlungsfelds SF
sowie senkrecht zu dessen Abtastrichtung Y hin und herbewegt.
Dabei erfolgt die Hin- und Herbewegung des Strahlungsfelds SF
zweckmäßigerweise kontinuierlich sowie stetig, so daß es un
terschiedliche z-"Höhenlagen" gleichmäßig durchfährt. Durch
den Abtasthub des Strahlungsfelds in z-Richtung wandert des
sen Lichtfleck LF entlang der Krümmung des Lichtwellenleiters
LW1 hin und her. Mit Hilfe der Ablenkeinrichtung durchscannt
der Lichtfleck LF einen vorgebbaren, gekrümmten Einkoppel -Ab
schnitt des zu messenden Lichtwellenleiters in der Art einer
"Jitterbewegung", d. h. der Lichtfleck LF wird entlang der
Krümmung des Einkoppel-Abschnitts gewobbelt. Durch die Hin-
und Herbewegung (Oszillationsbewegung) des Strahlungsfelds SF
in Fig. 1 im wesentlichen in z-Richtung wird bei einem
Durchlauf in der y,z-Ebene betrachtet insgesamt ein Licht
fleck mit einer größeren räumlichen Ausdehnung in z-Richtung
als in Abtastrichtung y erzeugt. Die "Jitter"-Bewegung be
wirkt eine Vergleichmäßigung bzw. "Verschmierung" des vor
zugsweise punktförmig fokussierten Lichtflecks in z-Richtung,
so daß sich insgesamt betrachtet ein etwa linien- bzw. strei
fenförmiges oder schlank ovales Beleuchtungsfeld in der y,z-
Ebene mit Vorzugsrichtung in z-Richtung ergibt. Durch die
Längsbewegung des Strahlungsfelds in z-Richtung wird die von
seinem Lichtfleck jeweils beleuchtete Einkoppelfläche entlang
deren Krümmung "künstlich" verlängert. Den während eines
Durchlaufs entsteht in der y,z-Ebene gesehen ein Beleuch
tungsfeld mit Vorzugsrichtung in z-Richtung. Dadurch kann die
Lichteinkopplung vorteilhaft weitgehend unabhängig von
Schwankungen bzw. Toleranzen in z-Richtung in der Einkoppel
einrichtung gemacht werden. Dies können beispielsweise Lage
toleranzen der Faserkerne sein, die z. B. auf ungleichmäßig
dicke bzw. inhomogene Auftragsstärken der Lichtwellenleiter
beschichtung, Kernexzentrizitäten, unterschiedliche Lichtwel
lenleiterdurchmessern, usw. zurückzuführen sind, oder z. B.
auch Schwankungen in der Geometrie des Strahlungsfelds sein.
Eine eindeutige Zuordnung zwischen dem Strahlungsfeld und dem
jeweiligen Einkoppelort beim Lichtwellenleiter-Kern ist somit
in z-Richtung nicht mehr erforderlich.
Bei einer Abtastbewegung des Strahlungsfeldes SF in y-Rich
tung wird sein Lichtfleck LF entlang der Längsachse des je
weiligen Lichtwellenleiters wie z. B. LW1 zweckmäßigerweise
schneller hin und herbewegt als er in Abtastrichtung y ver
fahren wird. Solange der Lichtfleck LF der beiden Kerne des
jeweils zu messenden Lichtwellenleiters wie z. B. LW1 beleuch
tet, wird er vorzugsweise zwischen 5 und 10 hin- und herbe
wegt. Vorzugsweise ergibt sich somit ein etwa schlank ovales
Beleuchtungsfeld, wie es in Fig. 1 für den Lichtfleck LF1
strichpunktiert angedeutet ist.
Zweckmäßigerweise wird der Lichtfleck entlang einer Scann-
Strecke in z-Richtung verfahren, die mindestens der Lagetole
ranz der Lichtwellenleiter-Kerne entspricht. Insbesondere
durchläuft der Lichtfleck einer Scann-Strecke in z-Richtung
vom 2-fachen der maximal möglichen Kernelagetoleranz. Durch
die Scann-Bewegung des Strahlungsfelds SF in z-Richtung sind
somit vorteilhaft Lichtflecke einer vorgebbaren, beliebigen
Längserstreckung in z-Richtung (in der z,y-Ebene betrachtet)
erzeugbar. Gegenüber der astigmatisch erzeugten Bildlinie SBL
von Fig. 4 oder auch FC0 von Fig. 2 sind insbesondere
Lichtflecke einer vorgebbaren, beliebigen Längserstreckung in
z-Richtung (in der z,y-Ebene betrachtet) erzeugbar. Gegenüber
der astigmatisch erzeugten Bildlinie SBL von Fig. 4 oder
auch FC0 von Fig. 2 sind insbesondere Lichtflecke ermög
licht, die ihr gegenüber in der z,y-Ebene betrachtet eine we
sentlich größere Ausdehnung in z-Richtung aufweisen.
Vorzugsweise mit Hilfe des Glaskeils GKE von Fig. 1 ist dann
wiederum auf optischem Wege eine erfindungsgemäße Neigung der
so erzeugten in der y,z-Ebene verlaufenden Fokussierungsflä
che besonders einfach ermöglicht. Die schräg gestellte Fokus
sierungsfläche (wie z. B. FC1 von Fig. 1) wird dadurch er
zeugt, daß das Strahlungsfeld SF mit seinem vorzugsweise
punktförmig fokussierten Lichtfleck entlang einer Verschiebe
linie verfahren wird, die durch den Glaskeil GKE gegenüber
einer senkrecht zur Strahlungsrichtung x gedachten Ebene y,z
in Richtung auf die Einkoppelfläche EF des Einkoppelab
schnitts TC1 geneigt ist.
Gegebenenfalls kann eine erfindungsgemäß geneigte Fokussie
rungsfläche wie z. B. FC1 von Fig. 2 auch ohne Glaskeil da
durch erreicht werden, daß das Strahlungsfeld SF auf mechani
schem Weg mit einem vorzugsweise punktförmig fokussierten
oder sonstig lokal begrenzten Lichtfleck entlang einer schräg
gestellten Verschiebelinie bewegt wird, wie sie z. B. für die
Fokussierungsfläche FC1 in Fig. 2 gezeichnet ist. Dies kann
beispielsweise durch die entsprechend positionierte Ablenk
spiegel im Strahlungsfeld des Sendeelements erfolgen.
Durch die Scann-Bewegung des Lichtflecks wie z. B. LF entlang
der Längserstreckung des jeweils gekrümmt geführten Lichtwel
lenleiters wie z. B. LW1 kann zudem gegebenenfalls die Licht
einkopplung auch unabhängig von der Lichtdichte-Verteilung
innerhalb des Beleuchtungsfeld des Lichtflecks am Einkoppe
lort entlang der Längsachse des jeweiligen Lichtwellenleiters
gemacht werden.
Fig. 5 zeigt beispielhaft eine ortsabhängige Leistungsver
teilung P des Lichtflecks LF von Fig. 1 in der y,z-Ebene ge
messen in z-Richtung. Die z-ortsabhängige Leistungsverteilung
P weist in Fig. 5 z. B. etwa Gausform auf. Würde nun bei
spielsweise der Kern C1 des Lichtwellenleiters LW1 am z-Ort
des Leistungsmaximums liegen, so würde dort mehr Licht in ihn
eingekoppelt werden wie z. B. bei einer z-Position des Kerns
C1, die unterhalb der absteigenden Flanke der Gauskurve
liegt. Es würde somit je nach Kernlage unterschiedlich viel
Licht in den Lichtwellenleiter-Kern während der Zeitdauer
einer Messung eingekoppelt werden. Um nun zu erreichen, daß
jeweils in kontrollierbarer Weise eine bestimmte, vorgebbare
Lichtmenge in den jeweils zu messenden Lichtwellenleiter ein
gekoppelt und in dessen Kern somit jeweils ein über eine be
stimmte Meßdauer etwa konstanter Leistungspegel erzeugt wer
den kann, wird die erfindungsgemäße "Jitter"-Bewegung des
Lichtflecks LF entlang der Krümmung des jeweiligen Einkoppel-
Abschnitts durchgeführt. Dazu führt das Strahlungsfeld SF von
Fig. 1 vorzugsweise eine Scann-Bewegung in z-Richtung mit
mindestens einem Durchlauf aus. Wichtig dabei ist, daß eine
Relativbewegung zwischen dem Kern C1 und der Leistungsvertei
lung P durchgeführt wird. Dadurch kann nahezu der größte Teil
der durch das Sendelement des optischen Senders zur Verfügung
gestellten Lichtmenge in den Kern wie z. B. C1 des jeweiligen
Lichtwellenleiters wie z. B. LW1 eingekoppelt werden. Beim
Durchfahren der z. B. gausförmigen Intensitätsverteilung P
entlang der Gausbreite GB in z-Richtung wird in den Kern C1
insgesamt eine Lichtmenge eingekoppelt, die etwa dem Integral
der Leistungskurve P, d. h. der Fläche IF unter der Gauskurve
von Fig. 5, entspricht.
Auf diese Weise kann nahezu die gesamte bereitgestellte
Lichtmenge in den jeweils zu messenden Lichtwellenleiter ein
gekoppelt werden. Die Lichteinkopplung wird dadurch vorteil
haft unabhängig von der speziellen, ortsabhängigen Ab
strahlcharakteristik des Sendeelementes bzw. seines zugehöri
gen Strahlungsfelds. Weiterhin ist die Lichteinkopplung weit
weniger empfindlich gegenüber mechanischen und temperaturab
hängigen Veränderungen in der Einkoppeleinrichtung, insbeson
dere hinsichtlich der Zuordnung zwischen dem Strahlungsfeld
und dem jeweiligen Einkoppelort beim Lichtwellenleiterkern.
Besonders geeignet ist die z-Scannbewegung des Lichtflecks in
Kombination mit der y-Abtastbewegung nach dem erfindungsgemä
ßen Meßverfahren entsprechend den Fig. 1 mit 10, da
Schwankungen des eingekoppelten Lichtleistungspegels weitge
hend vermieden sind und somit ein Pulsbetrieb besonders zu
verlässig ermöglicht ist.
Zusätzlich oder unabhängig hiervon kann die Lichteinkopplung
gegebenenfalls von der ortsabhängigen Abstrahlcharakteristik
innerhalb einer vorgegebenen Lichtfleckausdehnung auch da
durch unabhängig gemacht werden, daß im Strahlungsfeld spezi
elle Filter vorgesehen sind, die die ortsabhängige Intensi
tätsverteilung wie z. B. die z-abhängige Gauskurve in eine
etwa rechteckförmige Intensitätsverteilung transformieren, so
daß die Lichtleistung unabhängig vom Ort, insbesondere vom z-
Ort, konstant ist. In Fig. 1 ist solch ein Filter strichpun
ktiert im Strahlengang des Strahlungsfelds SF angedeutet und
mit den Bezugszeichen F1 versehen.
Claims (21)
1. Verfahren zum Einkoppeln von Licht (LW) eines Sende-Strah
lungsfeldes (SF) in den Einkoppel-Abschnitt (TC1) mindestens
eines zu messenden Lichtwellenleiters (LW1) nach dem Biege
kopplerprinzip, nach Patent . . . . . . .(Aktenzeichen:
P 42 35 313.0),
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fokussierungsfläche (FC1) des Sende-Strahlungsfeldes
(SF) gegenüber einer senkrecht zur Strahlungsrichtung (x) ge
dachten Ebene (y, z) in Richtung auf die Einkoppelfläche (EF)
des Einkoppel-Abschnitts (TC1) geneigt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fokussierungsfläche (FC1) in einer Ebene (x, z) be
trachtet, in der der Einkoppel-Abschnitt (TC1) des Lichtwel
lenleiters (LW1) verläuft, als Fokussierungslinie etwa paral
lel zur Sehne (SH) des Einkoppel-Abschnitts (TC1) geneigt ab
gebildet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß in dieser Ebene (x, z) für die geneigte Fokussierungsflä
che (FC1) eine Steigungshöhe eingestellt wird, die etwa
gleich oder größer der maximal möglichen Kernlagetoleranz des
jeweils zu messenden Lichtwellenleiters (LW1) gewählt wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 oder 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß in dieser Ebene (x, z) die Fokussierungslinie im Nahbe
reich der Kernlage (C1) des jeweils zu messenden Lichtwellen
leiters (LW1) erzeugt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 mit 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß in dieser Ebene (x, z) die Fokussierungslinie etwa in der
Mitte des Einkoppel-Abschnitts (TC1) möglichst tangential an
gelegt wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fokussierungsfläche (FC2) bezüglich ihrer Form der
Einkoppelfläche (EF) des Einkoppel-Abschnitts (TC1) angepaßt
wird.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fokussierungsfläche (FC2) mit der Einkoppelfläche
(EF) des Einkoppel-Abschnitts (TC1) zur Deckung gebracht
wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Sende-Strahlungsfeld (SF) derart räumlich abgebildet
wird, daß seine Fokussierungsfläche (FC1) mit einer größeren
räumlichen Ausdehnung in Längsrichtung des gekrümmten Licht
wellenleiter-Abschnitts (TC1) als in seine Abtastrichtung (y)
erzeugt wird.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fokussierungsfläche (FC1) mit einer etwa streifenför
migen Gestalt abgebildet wird.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fokussierungsfläche (FC1, FC2) mit einer Längser
streckung zwischen 600 und 2000 µm, insbesondere zwischen
800 und 1600 µm, bevorzugt mit etwa 800 µm, abgebildet wird.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß in einer zur Strahlungsrichtung (x) senkrechten Ebene (y,
z) betrachtet die Fokussierungsfläche (FC1) mit einer Strahl
breite in Abtastrichtung (y) abgebildet wird, die kleiner als
der Abstand zweier benachbarter Lichtwellenleiterkerne
gewählt wird.
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß für die Fokussierungsfläche (FC1) in eine zur Strahlungs
richtung (x) senkrechten Ebene (x, z) betrachtet eine Strahl
breite kleiner 225 µm, insbesondere zwischen 10 und 80 µm,
gewählt wird.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Licht (LB) des Sende-Strahlungsfeldes (SF) entlang
seines Strahlenweges zu zwei astigmatischen Bildflächen (MBL,
SBL) konzentriert wird.
14. Einrichtung zum Einkoppeln von Licht (LB) eines Sende
strahlungsfeldes (SF) in den Einkoppel-Abschnitt (TC1) minde
stens eines zu messenden Lichtwellenleiters (LW1) nach dem
Biegekopplerprinzip, insbesondere nach einem der vorhergehen
den Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß mindestens ein Abbildungsmittel (z. B. GKE) vorgesehen
ist, das die Fokussierungsfläche (FC1) des Sende-Strahlungs
feldes (SF) gegenüber einer senkrecht zur Strahlungsrichtung
(x) gedachten Ebene (y, z) in Richtung auf die Einkoppelflä
che (EF) des Einkoppel-Abschnitts (TC1) neigt.
15. Einrichtung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß im Sende-Strahlungsfeld (SF) als Abbildungsmittel ein
Glaskeil (GKE) vorgesehen ist.
16. Einrichtung nach einem der Anspruche 14 oder 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Abbildungsmittel (z. B. GKE) derart ausgebildet und im
Sende-Strahlungsfeld (SF) positioniert ist, daß diejenigen
Lichtstrahlen (z. B. LSk) die einen kürzeren Weg zum Einkop
pel-Abschnitt (TC1) durchlaufen, durch einen optisch kürzeren
Weg (KW) des Abbildungsmittels (z. B. GKE) geführt sind als
diejenigen Lichtstrahlen (z. B. LS1), die einen längeren Weg
zum Einkoppel-Abschnitt (TC1) durchlaufen.
17. Verfahren zum Einkoppeln von Licht (LB) eines Sende
strahlungsfeldes (SF) in den Einkoppel-Abschnitt (TC1) minde
stens eines zu messenden Lichtwellenleiters (LW1) nach dem
Biegekopplerprinzip, insbesondere nach einem der vorhergehen
den Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Lichtfleck (LF) des Sende-Strahlungsfeldes (SF) ent
lang der Längsachse des zu messenden Lichtwellenleiters (LW1)
hin- und herbewegt wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Sende-Strahlungsfeldes (SF) entlang einer Verschiebe
linie (z) senkrecht zur Ausbreitungsrichtung (x) des Sende-
Strahlungsfeldes (SF) sowie senkrecht zu dessen Abtastrichtung
(y) hin- und herbewegt wird.
19. Verfahren nach Anspruch 17 oder 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Lichtfleck (LF) entlang der Längsachse des Lichtwel
lenleiters (LW1) schneller hin- und herbewegt wird als er in
seine Abtastrichtung (y) verfahren wird.
20. Einrichtung nach einem der Ansprüche 17 mit 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Ablenkeinrichtung (z. B. ULS) vorgesehen ist, die den
Lichtfleck (LF) des Sende-Strahlungsfeldes (SF) entlang der
Längsachse des zu messenden Lichtwellenleiters (LW1) hin- und
herbewegt.
21. Einrichtung nach Anspruch 20,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Ablenkeinrichtung ein schwenkbarer Spiegel (ULS) vor
gesehen ist.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934328464 DE4328464A1 (de) | 1992-10-20 | 1993-08-24 | Verfahren und Einrichtung zum Einkoppeln von Licht in mindestens einen zu messenden Lichtwellenleiter |
AT93116175T ATE161950T1 (de) | 1992-10-20 | 1993-10-06 | Verfahren und einrichtung für messungen an mehreren lichtwellenleitern |
DE59307929T DE59307929D1 (de) | 1992-10-20 | 1993-10-06 | Verfahren und Einrichtung für Messungen an mehreren Lichtwellenleitern |
EP93116175A EP0593980B1 (de) | 1992-10-20 | 1993-10-06 | Verfahren und Einrichtung für Messungen an mehreren Lichtwellenleitern |
JP5262329A JPH06201518A (ja) | 1992-10-20 | 1993-10-20 | 複数の光導波体における測定方法及び装置並びに当該光の入力結合方法及び装置 |
US08/138,436 US5473423A (en) | 1992-10-20 | 1993-10-20 | Method and apparatus for obtaining measurements in a plurality of light waveguides |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924235313 DE4235313A1 (de) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | Verfahren und Einrichtung für Messungen an mehreren Lichtwellenleitern |
DE19934328464 DE4328464A1 (de) | 1992-10-20 | 1993-08-24 | Verfahren und Einrichtung zum Einkoppeln von Licht in mindestens einen zu messenden Lichtwellenleiter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4328464A1 true DE4328464A1 (de) | 1995-03-02 |
Family
ID=25919636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934328464 Ceased DE4328464A1 (de) | 1992-10-20 | 1993-08-24 | Verfahren und Einrichtung zum Einkoppeln von Licht in mindestens einen zu messenden Lichtwellenleiter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4328464A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10039825A1 (de) * | 2000-08-16 | 2002-03-21 | Highyag Lasertechnologie Gmbh | Übertragungseinrichtung zur Einkopplung von Laserstrahlung aus einer ersten Lichtleitfaser in eine zweite Lichtleitfaser |
-
1993
- 1993-08-24 DE DE19934328464 patent/DE4328464A1/de not_active Ceased
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10039825A1 (de) * | 2000-08-16 | 2002-03-21 | Highyag Lasertechnologie Gmbh | Übertragungseinrichtung zur Einkopplung von Laserstrahlung aus einer ersten Lichtleitfaser in eine zweite Lichtleitfaser |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2852203C3 (de) | Lichtleiteinrichtung für eine mit Auflicht betriebene Abbildungsvorrichtung | |
EP2556397B1 (de) | Verfahren und anordnung zum erzeugen eines laserstrahls mit unterschiedlicher strahlprofilcharakteristik mittels einer mehrfachclad-faser | |
DE3212698C2 (de) | ||
DE3137031C2 (de) | Mehrfachstrahlenbündel-Abtastoptiksystem | |
DE2918283C2 (de) | Gerät zur Substratbehandlung mit einem Drehspiegel od. dgl. | |
DE4031633C2 (de) | ||
DE3314963C2 (de) | ||
EP3497502B1 (de) | Lichtblattmikroskop | |
EP0898783A2 (de) | Rastermikroskop, bei dem eine probe in mehreren probenpunkten gkeichzeitig optisch angeregt wird | |
DE10341548A1 (de) | Optoelektronische Erfassungseinrichtung | |
CH697509B1 (de) | Laserschweisseinrichtung, bestehend aus einem Lichtleiter oder einem Lichtwellenleiter mit einem optischen Trichter. | |
EP2591875B1 (de) | Laser mit Strahltransformationslinse | |
DE2550815B2 (de) | Optisches Abtastsystem | |
DE2550814C3 (de) | Zeilentastvorrichtung für Materialbahnen zur Fehlstellenermittlung | |
DE10240645B4 (de) | Laserstrahl-Übertragungsvorrichtung | |
DE10010154C2 (de) | Doppelkonfokales Rastermikroskop | |
DE10058761B4 (de) | Abbildungsvorrichtung | |
EP1617272A1 (de) | Beleuchtungsvorrichtung für ein Lichtrastermikroskop mit Einheit zur Transformation der Beleuchtungsintensitätsverteilung | |
DE4328464A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Einkoppeln von Licht in mindestens einen zu messenden Lichtwellenleiter | |
EP2056144A1 (de) | Endstück für Lichtleitfaser | |
EP0593980B1 (de) | Verfahren und Einrichtung für Messungen an mehreren Lichtwellenleitern | |
DE3409043A1 (de) | Anordnung zum sichtbarmachen der kerne von lichtwellenleitern | |
DE102010052675A1 (de) | Phasenmischeinrichtung, Beleuchtungseinrichtung und Verfahren zum Verringern der räumlichen Kohärenz elektromagnetischer Strahlung | |
DE102013108066A1 (de) | Vorrichtung zur Ablenkung eines Lichtstrahls | |
EP2880485B1 (de) | Achromatische scaneinrichtung mit monochromatischem f-theta objektiv |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
AF | Is addition to no. |
Ref country code: DE Ref document number: 4235313 Format of ref document f/p: P |
|
8131 | Rejection |