DE4326144C1 - Anordnung zur Erfassung und Vermessung des Abstandes von Schichten und Strukturen - Google Patents
Anordnung zur Erfassung und Vermessung des Abstandes von Schichten und StrukturenInfo
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Description
Es ist bereits bekannt (WO 92/19930), Proben mit Strahlung geringer Kohärenzlänge zu
beaufschlagen. Die von der Probe reflektierte Strahlung wird über eine interferometrische
Meßanordnung mit einer Referenzstrahlung, die von einem im Referenzstrahlengang
angeordneten Reflektor stammt, zur Interferenz gebracht.
Die bei Variation des zu untersuchenden Probenabschnitts in mehreren Koordinaten
entstehende Intensitätsverteilung wird über eine Detektoranordnung in elektrische Signale
umgewandelt und aufgezeichnet.
Die aufgezeichneten Informationen dienen der berührungslosen, hochauflösenden
Erfassung der Struktur von Schichten oder Abschnitten oder anderer
Materialien.
Bei der Untersuchung von lebendem biologischen Gewebe des
menschlichen Auges, ist es dabei von Nachteil, daß eine Referenzfläche
Verwendung
findet, die außerhalb des Auges liegt, weil durch unwillkürliche Bewegungen des
Patienten und damit verbundene Abstandsänderungen zum Meßgerät der gewünschte
Fokalbereich verlassen wird. Dadurch wird die Empfindlichkeit des Meßsystems
herabgesetzt.
Aus der DE-PS 32 01 801 ist es in diesem Zusammenhang bekannt, das von einer ersten
Grenzfläche des Auges reflektierte Licht einer Lichtquelle kurzer Kohärenzlänge mit dem
von einer weiteren Grenzfläche reflektierten Licht über eine interferometrische
Anordnung in einem Beobachtungsstrahlengang zu vereinigen, wobei über einen
verschiebbaren Spiegel die optischen Wegstreckendifferenz zwischen den reflektierten
Lichtanteilen kompensiert wird.
Die Verschiebung des Spiegels ist hierbei das Maß für den Abstand der untersuchten
Grenzflächen.
Es wird jeweils nur ein Punkt auf der Netzhaut betrachtet, für den eine Abstandsmessung
erfolgt.
In "Investigative ophthalmology & visual science vol. 32, 3/1991 S. 616-624 wird für dieses Verfahren
ein elektronisches Auswertesystem beschrieben.
In DE 42 10 38 A1 ist ein Meßstrahlengang im Auge vorgesehen, der auf den Augenhintergrund fällt,
wobei die Amplitude der Phasenmodulation eines Interferenzbildes gemessen wird, das aus der
Überlagerung der Reflexe von intraokularen Strukturen entsteht, deren relative Position zueinander
bestimmt werden soll.
Unterschiedliche Punkte am Augenhintergrund werden durch Abtastung, z. B. mit Hilfe eines
Taumelspiegels, bestimmt.
Um sämtliche zu erwartenden Augenlängen abdecken zu können, ist eine ausreichende, große
Kohärenzlänge erforderlich. Die Referenzfläche liegt außerhalb des Auges. Eine Vorrichtung zur
Einstellung der Armlängendifferenz des Interferometers, wie in DE 3201801, ist nicht vorgesehen.
Der vorliegenden Erfindung lag nunmehr die Aufgabe zugrunde, eine interferometrische Meßanordnung zu
realisieren, deren Ergebnisse in erster Näherung unempfindlich gegen Patientenbewegungen im Meßbereich
sind, wobei die Meßzeit möglichst gering zu halten ist, und dennoch ein Maximum von verfügbaren
Informationen zu erzielen.
Die Erfindung wird bei einer gattungsgemäßen Anordnung durch die kennzeichnenden Merkmale des ersten
Anspruchs gelöst. Bevorzugte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Durch die Erfindung wird bewirkt, daß durch mehrfache Bestimmung der Abstände zwischen
verschiedenen Grenzflächen oder Strukturen im Auge in mehreren Teilstrahlengängen eine deutliche
Meßzeitverkürzung auftritt, um z. B. zu vermeiden, daß der Patient während der Meßdauer blinzelt. Die
Auswertung der jeweils gewonnenen Intensitätsverläufe erfolgt dabei automatisch über den Meßkanälen
zugeordnete fotoelektrische Empfänger, die mit ihrer Auswerteeinheit verbunden sind.
Für den Verschiebebereich des die optische Weglängendifferenz kompensierenden Elementes wird für jeden
Teilstrahlengang die zugehörige Intensitätsverteilung aufgezeichnet, wobei durch Wahl der entsprechend
geringen Kohärenzlänge die Meßgenauigkeit festgelegt wird.
Durch Verwendung eines Abtastsystems mit telezentrischen Strahlengang wird die Abtastung größerer und
frei wählbarer Bereiche des Auges ermöglicht.
Das Abtastsystem kann hierbei zwischen der Beleuchtungsoptik und dem Strahlteiler angeordnet sein, aber
auch für sich allein Verwendung finden.
Es ist auch denkbar, das Abtastsystem nur auf bestimmte Teilstrahlengänge wirken zu lassen.
Für die Abtastung größerer Bereiche des Auges können einzelne Elemente als schnell
verschwenkbare Spiegel oder drehbare Prismen ausgebildet sein und so ein - oder
zweidimensionales scanning ermöglichen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der schematischen Zeichnungen näher erläutert
werden.
Es zeigt
Fig. 1 Den schematischen Grundaufbau einer erfindungsgemäßen Anordnung.
Fig. 2 Die Seitenansicht einer Mikrooptik zur Übertragung der Teilstrahlengänge
Fig. 3 Die Rückseite der Mikrooptik mit einer Ausführungsform der
Lichtdurchtrittsöffnungen
Fig. 4 Den schematischen Strahlenverlauf eines auf der Hornhaut auftreffenden und
vom Augenhintergrund reflektierten Teilstrahlenbündels
Fig. 5 Einen Querschnitt durch das Lichtbündel entlang der Schnittebene A-B
Fig. 6 Eine andere Ausführungsform des Strahlquerschnittes entlang der Schnittlinie
A-B
Fig. 7 Eine erfindungsgemäße Anordnung mit einem durch einen Spiegelscanner
erzeugten verschiebbaren Strahlengang.
Das Licht einer Lichtquelle 1 gelangt über einen Kollimator 1a, einen Teilerspiegel 2,
einen verschiebbaren Reflektor 3 und einen Polteiler 4 sowie eine unter 45° gedrehte
λ/₄-Platte 5 auf eine Mikrooptik 6 erzeugt mehrere in sich parallele
Beleuchtungsstrahlenbündel 9′, 9′′, 9′′′, die vom Auge auf den Augenhintergrund 10 an
verschiedenen Stellen fokussiert werden. Das Licht der Lichtquelle gelangt gleichzeitig
über einen Reflektor 8, den Strahlenteiler 2 und Polteiler 4, g/₄-Platte 5 sowie die
Mikrooptik 6 auf das Auge 7.
Die lineare Polarisation der Lichtquelle 1 ist so gewählt, daß sie möglichst vollständig vom
Polteiler 4 auf das Auge reflektiert wird. Das vom Auge zurückgeworfene Licht hat
aufgrund des zweimaligen Durchlaufes der λ/₄-Platte 5 eine um 90° gedrehte
Polarisationsrichtung, so daß es den Polteiler 4 in Richtung der Detektoren 12 nahezu
ungeschwächt durchläuft.
Bei Vertauschen der Position von Interferometeranordnung und Detektoranordnung muß
die Polarisation der Lichtquelle 1 um 90° verändert werden.
Die Strahlenbündel 9′, 9′′, 9′′′ werden teilweise an der Hornhaut und teilweise am
Augenhintergrund reflektiert. Die reflektierte Strahlung gelangt über die Mikrooptik 6, die
λ/₄-Platte 5, den Polteiler 4 sowie eine Relaisoptik 11 auf Detektoren 12, die über eine
Auswerteeinheit 13 mit einem Rechner PC14 verbunden sind.
Die Reflektoren 8 und 3 bilden mit dem Strahlteiler 2 die Arme eines Interferometers I.
Der Reflektor 3 ist zur Veränderung der optischen Weglänge zwischen den
Interferometerarmen entlang der optischen Achse verschiebbar ausgebildet, wobei der
Verschiebeweg und die momentane Stellung von der Auswerteeinheit 13 erfaßt werden.
In einer ersten Arbeitsstellung, die in etwa der dargestellten Stellung des Reflektors 3
entspricht, ist zwischen den Armen des Interferometers I eine Weglängendifferenz
eingestellt, die der kleinste zu messende optischen Weglängendifferenz zwischen den
von der Augenhornhaut und den vom Augenhintergrund in Richtung der Detektoren 12
reflektierte Teilstrahlenbündel 9 entspricht.
Der Reflektor 3 wird nunmehr in eine zweite Meßstellung verschoben, die der größten
zu messenden optischen Weglängendifferenz entspricht.
Während der Verschiebung des Reflektors verändert sich die Intensität der von den
Detektoren 12 erfaßten Teilstrahlenbündel 9.
Für eine reflektierende Einzelschicht am Augenhintergrund ergibt sich ein maximales
Signal, wenn die Weglängendifferenz zwischen den interferierenden Strahlen, die an der
Hornhaut sowie der Einzelschicht reflektiert werden, gleich der momentan eingestellten
Weglängendifferenz am Interferometer ist.
In der Umgebung der entsprechenden Stellung des Reflektors 3 oszilliert das Signal am
zugehörigen Detektor 12 aufgrund des Durchfahrens von Interferenzmaxima und
Minima. Dabei klingt die Amplitude dieser Oszillation aufgrund der kurzen
Kohärenzlänge der Lichtquelle 1 rasch ab.
Die zum Maximum der Amplitude gehörige Stellung des Reflektors 3 wird der optischen
Weglänge von der Einzelschicht zur Hornhaut zugeordnet.
Wird Licht von mehreren benachbarten Schichten zurückgeworfen, so interferieren
sämtliche Reflexionsbeiträge aus den verschiedenen Tiefen des Augenhintergrundes.
Die Unterscheidbarkeit benachbarter Schichten ist gegeben, wenn die Kohärenzlänge der
Lichtquelle 1 kleiner als der doppelte Abstand zwischen diesen Schichten ist.
Aus den von den einzelnen Detektoren 12 aufgenommenen Intensitätsverlauf wird die
Amplitude der Interferenzsignale für jeden Teilstrahlengang 9′, 9′′, 9′′′ als Funktion der
Verschiebung des Reflektors 3 ermittelt und aufgezeichnet bzw. im PC14 angezeigt.
Prinzipiell kann die Reihenfolge, in der das Licht die Interferometeranordnung I und das
Auge 7 durchläuft, auch vertauscht werden (z. B. gemäß der Anordnung des Patentes
DE 3201801). Licht wird hierbei zunächst an den verschiedenen Augenabschnitten
reflektiert und durchläuft dann die Interferometerarme, wobei die verschiedenen
Reflektionsanteile miteinander zur Referenz gebracht werden.
Der hier beschriebene Aufbau hat jedoch den Vorteil, daß der Strahlengang so lange wie
möglich kollimiert ist, so daß beispielsweise auch ein größerer Abstand zwischen
Interferometer I und Polteiler 4 ohne zusätzliche Optik ermöglicht wird.
In Fig. 2 ist in einer Seitenansicht die Mikrooptik 6 dargestellt. Sie besteht beispielsweise
aus einer transparenten Planplatte 15, auf die Prismen 16, welche eine Strahlenablenkung
der Teilstrahlen 9′, 9′′ bewirken, sowie eine weitere Planplatte 17 aufgesetzt sind.
In Fig. 3 ist eine Draufsicht auf die Rückseite der Mikrooptik 6 dargestellt. Diese ist bis
auf Öffnungen 18 für die Teilstrahlenbündel lichtdurchlässig ausgebildet.
Zur Erfassung weiterer retinaler Bereiche können die Beleuchtungsstrahlengänge in ihrer
Lage und Richtung verändert werden, beispielsweise durch eine Relativbewegung
zwischen Auge und Meßanordnung, aber auch durch drehbare Anordnung mindestens
eines Einzelprismas in der optischen Achse des Auges.
Die interferierenden Teilstrahlen, die an der Hornhaut und am Augenhintergrund
reflektiert werden, erzeugen ein Interferenzringsystem, das um den einfallenden
Einzelstrahl zentriert ist, der senkrecht auf die Hornhaut einfällt. Für die Detektion der
Interferenz ist es vorteilhaft, das Zentrum des Interferenzringsystems auszuwerten. Dieses
muß zu diesem Zweck jedoch sowohl von Licht, das von der Hornhaut, als auch von
Licht, das von der Netzhaut reflektiert wird, ausgeleuchtet werden.
Die Tatsache, daß der Krümmungsmittelpunkt der Hornhaut und der Pupillenmittelpunkt
PM nicht zusammenfallen, hat zur Folge, daß bei geneigtem Einfall eines
Teilstrahlenbündels dessen Mittelstrahl senkrecht auf die Hornhaut fällt, das am
Augenhintergrund reflektierte Licht jedoch seitlich versetzt aus dem Auge austritt. Die
einfallenden und austretenden Strahlen sind schematisch in den Fig. 4, 5 und 6
dargestellt. Daher wird unter Umständen nicht mehr die Mitte des Interferenzmusters
ausgeleuchtet. Um diese zu vermeiden, muß entweder der Querschnitt des
Beleuchtungsstrahlenbündels, wie in Fig. 5 gezeigt, entsprechend groß gewählt werden,
oder es werden, wie in Fig. 6 gezeigt, zwei gegeneinander versetzte Beleuchtungsstrahlen
verwendet.
Dies wird beispielsweise durch entsprechende Ausbildung der Öffnungen 18 auf der
Rückseite der Mikrooptik 6 realisiert.
In Fig. 7 ist vereinfacht das Interferometer I gemäß Fig. 1 dargestellt, das die Lichtquelle
1 enthalten soll. Das Licht gelangt über den Polteiler 4 auf einen Scanspiegel 19, der in
einer oder zwei Richtungen, über eine Antriebseinheit 20 angesteuert, schwenkbar
ausgebildet ist. Ein telezentrisches Abbildungssystem sowie die λ/₄-Platte 5 bilden den
Auftreffpunkt der vom Interferometer I kommenden Strahlung auf dem Spiegel 19 auf
den Krümmungsmittelpunkt des Auges 7 ab.
Bei ausreichendem Strahlquerschnitt hat diese Anordnung zur Folge, daß das über eine
Linse 22 sowie eine zu einem nicht dargestellten Detektor führende Lichtleitfaser 23
gelangende Lichtbündel jeweils dem Signal aus dem Zentrum des Interferenzmusters für
den ausgeleuchteten Punkt des Augenhintergrundes entspricht.
Durch Verschwenken des Spiegels 19 werden unterschiedliche Stellen des
Augenhintergrundes der Messung zugänglich gemacht. Für jede Stelle kann durch
Verschieben des Reflektors 3 am Interferometer I die Intensitätsverteilung ermittelt werden.
Die Interferenzoszillationen auf den Detektoren 12 können auch als Folge des
Doppeleffektes, der durch Verschieben des Reflektors 3 auftritt, betrachtet werden.
Möchte man ihre Frequenz erhöhen, um in einen Bereich geringen Rauschens zu
gelangen, so ist das über die Erhöhung der Verfahrensgeschwindigkeit des Reflektors 3
möglich. Dies ist aber nicht immer erwünscht, da sich dabei gleichzeitig die Zeit verkürzt,
während derer das Licht aus einer bestimmten Tiefenschicht zum Signal beiträgt. Deshalb
kann es vorteilhaft sein, in einem der Arme des Interferometers eine Vorrichtung
vorzusehen, die eine Frequenzverschiebung des aus diesem Arm reflektierten Lichtes
auch bei Stillstand des Reflektors erzeugt. Zu diesem Zweck kann in einem Arm des
Interferometers ein zusätzlicher Modulator, beispielsweise ein elektrooptischer Modulator
EOM oder ein akustropischer Modulator AOM, vorgesehen sein.
Claims (24)
1. Anordnung zur Erfassung und Vermessung des Abstandes von Schichten und
Strukturen, insbesondere im menschlichen Auge,
enthaltend
eine Beleuchtungseinrichtung zur Beleuchtung des Auges mit Licht geringerer
Kohärenzlänge und
eine interferometrische Meßanordnung mit Mitteln zur meßbaren Verstellung der
optischen Weglängendifferenz,
dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Auge und interferometrischer Meßanordnung
ein optisches System zur Erzeugung mehrerer, auf unterschiedliche Bereiche der
Retina gerichteter, in sich paralleler Beleuchtungsteilstrahlengänge vorgesehen ist
und mittels der Interferometeranordnung sowie einer mit einer Auswerteeinheit
verbundenen fotoelektrischen Empfängeranordnung für jeden
Beleuchtungsteilstrahlengang eine Bestimmung der Intensität der von verschiedenen
Schichten und Strukturen reflektierten und überlagerten Strahlung in Abhängigkeit
von der Verstellung der optischen Weglängendifferenz erfolgt.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Beleuchtungsteilstrahlengänge gleichzeitig über eine Abbildungsoptik erzeugt werden.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Beleuchtungsteilstrahlengänge nacheinander durch Verschiebung mindestens eines
Teilstrahlbündels erzeugt werden.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Beleuchtung des Auges über die interferometrische Meßanordnung erfolgt und über
einen Strahlenteiler die reflektierten Teilstrahlengänge auf die fotoelektrische
Empfängeranordnung übertragen werden.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß zuerst das
Auge beleuchtet wird und die von verschiedenen Schichten und Strukturen
reflektierten Teilstrahlengänge anschließend die interferometrische Meßanordnung
durchlaufen.
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Erfassung der Intensität für jeden Teilstrahlengang ein separater fotoelektrischer
Empfänger vorgesehen ist, der mit einer Auswerteeinheit verbunden ist.
7. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-6, dadurch gekennzeichnet, daß zur
meßbaren Verstellung der optischen Weglängendifferenz in einem Zweig der
interferometrischen Meßanordnung ein verschiebbarer Spiegel vorgesehen ist.
8. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-6, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Verstellung der optischen Weglängendifferenz ein verschiebbarer Retroreflektor
vorgesehen ist.
9. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-8, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Erfassung weiterer retinaler Bereiche die Beleuchtungsteilstrahlengänge in ihrer Lage
und Richtung veränderbar sind.
10. Anordnung nach Anspruch 9, gekennzeichnet durch eine Relativbewegung zwischen
Auge und Meßanordnung.
11. Anordnung nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch eine Drehung der
Meßanordnung um einen im Augeninneren angeordneten Drehpunkt.
12. Anordnung nach Anspruch 11, gekennzeichnet dadurch, daß der Drehpunkt im
Bereich zwischen Hornhautmittelpunkt und Pupillenmitte liegt.
13. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-12, dadurch gekennzeichnet, daß das
optische System zur Erzeugung der Teilstrahlengänge aus mehreren Prismen besteht,
die den Beleuchtungsstrahlengang in Teilstrahlengänge aufspalten.
14. Anordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß eine aus einer Planplatte
bestehende Mikrooptik vorgesehen ist, auf der die Prismen angeordnet sind.
15. Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die den Prismen
abgewandte Seite der Planplatte definierte Lichtdurchtrittsöffnungen für die
Teilstrahlengänge aufweist.
16. Anordnung nach einem der Ansprüche 13-15, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens eines der Prismen drehbar angeordnet ist.
17. Anordnung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Drehachse parallel
zur optischen Achse des Auges liegt.
18. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-17, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Übertragung reflektierten Lichtes der Beleuchtungsteilstrahlengänge auf die
fotoelektrische Empfängeranordnung eine Übertragungsoptik vorgesehen ist.
19. Anordnung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Übertragungsoptik
aus einer Anzahl in einer Ebene angeordneter Einzellinsen besteht.
20. Anordnung nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekennzeichnet, daß die
Übertragung auf die fotoelektrische Empfängeranordnung über eine
Lichtleitfaseranordnung erfolgt.
21. Anordnung nach einem der Ansprüche 1-20, dadurch gekennzeichnet, daß das
optische System mindestens einen im Beleuchtungsstrahlengang angeordneten Spiegel
enthält, wobei durch eine Zusatzoptik ein telezentrischer Strahlengang zwischen
Spiegel und Auge realisiert wird.
22. Anordnung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel zur
Veränderung der Lage des Beleuchtungsteilstrahlenganges schwenkbar angeordnet ist.
23. Anordnung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß durch schnelle
Schwenkung des Spiegels in mindestens einer Richtung in jeder Stellung des die
optische Weglänge verändernden Mittels eine Erfassung des Intensitätsverlaufes
entlang des Schwenkbereiches erfolgt.
24. Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens in einem
Interferometerarm eine Einrichtung zur Frequenzmodulation vorgesehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934326144 DE4326144C1 (de) | 1993-08-04 | 1993-08-04 | Anordnung zur Erfassung und Vermessung des Abstandes von Schichten und Strukturen |
Applications Claiming Priority (1)
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DE19934326144 DE4326144C1 (de) | 1993-08-04 | 1993-08-04 | Anordnung zur Erfassung und Vermessung des Abstandes von Schichten und Strukturen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4326144C1 true DE4326144C1 (de) | 1994-12-15 |
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ID=6494427
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE19934326144 Expired - Fee Related DE4326144C1 (de) | 1993-08-04 | 1993-08-04 | Anordnung zur Erfassung und Vermessung des Abstandes von Schichten und Strukturen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4326144C1 (de) |
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1993
- 1993-08-04 DE DE19934326144 patent/DE4326144C1/de not_active Expired - Fee Related
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