DE4323129A1 - Microscope with laser illumination - has laser beam input via conventional light inlet and slider with mirror for deflecting light to objective - Google Patents

Microscope with laser illumination - has laser beam input via conventional light inlet and slider with mirror for deflecting light to objective

Info

Publication number
DE4323129A1
DE4323129A1 DE4323129A DE4323129A DE4323129A1 DE 4323129 A1 DE4323129 A1 DE 4323129A1 DE 4323129 A DE4323129 A DE 4323129A DE 4323129 A DE4323129 A DE 4323129A DE 4323129 A1 DE4323129 A1 DE 4323129A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microscope
laser
mirror
microscope according
laser beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4323129A
Other languages
German (de)
Other versions
DE4323129C2 (en
Inventor
Joergens Dr Reinhard
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DE4345538A priority Critical patent/DE4345538C2/en
Priority to DE4323129A priority patent/DE4323129C2/en
Priority claimed from DE4345538A external-priority patent/DE4345538C2/en
Publication of DE4323129A1 publication Critical patent/DE4323129A1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE4323129C2 publication Critical patent/DE4323129C2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0028Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders specially adapted for specific applications, e.g. for endoscopes, ophthalmoscopes, attachments to conventional microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

The laser beam is input (18) from the rear (11) of the microscope stand (1). The direct light reflectors are accommodated in a slider (9) which can assume several switchable positions. In one position, the slider is equipped with a fully reflecting mirror (10), and the position of the mirror detected by sensors (20, 21). The sensors are coupled to a shutter which ensures that the laser beam is only allowed to propagate when the mirror is switched in. Above the object table (6) of the microscope, a screen (22) is provided which is non-transparent to eye-damaging radiation. The screen is connected via sensors (26, 27) to the beam interrupting shutter. USE/ADVANTAGE - For inverse-type laser scan microscope. High safety w.r.t. eyes of operator.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop, bei dem für die Objektbeleuchtung eine augenschädigende Strahlung, wie z. B. Laserstrahlung verwendet wird.The present invention relates to a microscope in which radiation that damages the eyes for object lighting, such as B. laser radiation is used.

Aus der DE-PS 35 27 322 ist ein Mikroskop bekannt, bei dem Laserlicht in den Auflichtstrahlengang für die konventionelle Beleuchtung eingekoppelt wird. Hier dient das Laserlicht jedoch nicht zur Ausleuchtung des Objektes an sich. Mit Hilfe des Laserlichtes wird vielmehr ein Autofokussignal erzeugt. Die Laser sind daher sehr leistungsschwach ausgelegt, so daß ihre Strahlung nicht augenschädigend wirkt.From DE-PS 35 27 322 a microscope is known in which Laser light in the incident light beam path for the conventional lighting is coupled. Serves here however, the laser light is not used to illuminate the object per se. Rather, with the help of laser light Auto focus signal generated. The lasers are therefore very poorly designed so that their radiation does not is harmful to the eyes.

Aus der US-PS 5 032 720 und der WO 92/02839 sind Laserscanaufsätze für konventionelle Mikroskope bekannt, bei denen ein Laserstrahl für die Objektbeleuchtung verwendet wird. Die Einkoppelung des Laserstrahls erfolgt hier jedoch von oben in den Photoausgang des Mikroskops. Abgesehen davon, daß dadurch ein sehr hoher und leicht instabiler Aufbau entsteht, haben derartige Zusatzsysteme den Nachteil, daß der Photoausgang für konventionelle Anwendungen nicht mehr zur Verfügung steht.From US Pat. No. 5,032,720 and WO 92/02839 Known laser scanning attachments for conventional microscopes, where a laser beam for object lighting is used. The laser beam is coupled in but here from above into the photo output of the microscope. Aside from being a very tall and light unstable structure arises, have such additional systems the disadvantage that the photo output for conventional Applications is no longer available.

Letztgenannte Nachteile sind bei dem Laserscanmikroskop der Anmelderin, das beispielsweise in dem Prospekt Nr. 42-920-d mit dem Druckvermerk AW-H-VII/88 Uoo beschrieben ist, vermieden. Bei diesem Mikroskop ist der Laser senkrecht hinter dem eigentlichen Mikroskopstativ angeordnet und wird über einen Strahlengang in das Mikroskop eingekoppelt, der oberhalb des konventionellen Auflichtbeleuchtungs- Strahlenganges und zu diesem parallel verläuft. Die Einkoppelung selbst erfolgt über einen in einem Schieber angeordneten Vollspiegel. Eine Schieberposition ist dabei unbestückt, so daß in dieser Schaltstellung das Beobachtungslicht in den Photoausgang gelangt. Nachteilig ist hier jedoch, daß die gesamte Laserscaneinheit konstruktiv an ein spezielles Stativ, insbesondere bezüglich der Stativhöhe, angepaßt ist. Eine Adaption der Laserbeleuchtung an unterschiedliche Stative ist daher nur bei einer Umkonstruktion möglich.The latter disadvantages are in the laser scanning microscope Applicant, for example in prospectus No. 42-920-d is described with the printing note AW-H-VII / 88 Uoo, avoided. With this microscope, the laser is vertical arranged behind the actual microscope stand and is coupled into the microscope via a beam path, the above the conventional incident light illumination Beam path and runs parallel to this. The Coupling itself takes place via a in a slide  arranged full mirror. There is a slide position bare, so that in this switch position Observation light enters the photo output. Disadvantageous is here, however, that the entire laser scanning unit constructively on a special tripod, in particular with regard to the tripod height. An adaptation of the Laser lighting on different tripods is therefore only possible with a redesign.

Aus dem Aufsatz "Laser-Scan-Mikroskop - Aufbau und Anwendungen" in GIT Fachz. Lab. 28, (1984) ist ein Laser- Scan-Mikroskop bekannt, bei dem der Laserstrahl über den konventionellen Auflichtstrahlengang in das Mikroskop eingekoppelt wird. Zur Vermeidung von Augenschäden ist bei Laser-Scan-Betrieb der visuelle Beobachtungsstrahlengang abgeblockt. Durch welche Mittel der visuelle Beobachtungsstrahlengang abgeblockt wird, und ob oder wie eine eventuelle Fehlbedienung dergestalt, daß der Beobachtungsstrahlengang trotz Laser-Scan-Betriebs frei gegeben ist, vermieden ist, ist dem Aufsatz nicht entnehmbar.From the essay "Laser Scan Microscope - Setup and Applications "in GIT Fachz. Lab. 28, (1984) is a laser Scanning microscope known in which the laser beam over the conventional reflected light beam path into the microscope is coupled. To avoid eye damage is at Laser scan operation of the visual observation beam path blocked. By what means the visual Observation beam path is blocked, and whether or how a possible incorrect operation such that the Observation beam path free despite laser scan operation is given, is avoided, the essay is not removable.

Aus der EP-B1-0 101 572 ist ein Mikroskop mit einem Laser- Mikromanipulator bekannt. Der Manipulationsstrahl wird über den konventionellen Auflichtstrahlengang in das Mikroskop eingekoppelt. Zwischen dem Laser und dem Auflichtreflektor ist noch ein Shutter angeordnet, dessen Funktionsweise jedoch nicht näher beschrieben ist. Der Auflichtreflektor ist als Teilspiegel ausgebildet. Dadurch wird stets das am Objekt gestreute oder reflektierte Laserlicht in die Okulare gespiegelt. Bei Fokussierung auf stark reflektierende Objektstrukturen besteht daher eine erhebliche Gefahr für Augenschädigungen des in die Okulare einblickenden Beobachters.EP-B1-0 101 572 describes a microscope with a laser Micromanipulator known. The manipulation beam is over the conventional incident light beam path into the microscope coupled. Between the laser and the reflected light reflector a shutter is arranged, the way it works but is not described in detail. The reflected light reflector is designed as a partial mirror. This will always be the Scattered or reflected laser light into the object Mirrored eyepieces. When focusing on strong reflective object structures therefore exist considerable risk of eye damage to the eyepieces insightful observer.

Die vorliegende Erfindung soll ein Mikroskop mit einer Laserbeleuchtung bzw. einer anderen augenschädigenden Beleuchtungsstrahlung schaffen, bei dem keine Einschränkungen bezüglich der konventionellen Benutzung auftreten. Die Laserbeleuchtung soll möglichst einfach an unterschiedliche Mikroskopstative adaptierbar sein. Außerdem sollen Augenschädigungen des in die Okulare einblickenden Beobachters ausgeschlossen sein.The present invention is intended to be a microscope with a Laser lighting or another eye-damaging Create illuminating radiation in which none Limitations on conventional use occur. The laser lighting should be as simple as possible different microscope stands can be adapted. In addition, eye damage is said to be in the eyepieces insightful observer be excluded.

Dies wird durch ein Mikroskop mit den Merkmalen des Anspruchs 1 erreicht.This is done through a microscope with the characteristics of Claim 1 reached.

Das erfindungsgemäße Mikroskop besteht aus einem Stativ mit einem an seiner Vorderseite angeordneten Beobachtungstubus. An einem Schieber oder Revolver sind ein oder mehrere Strahlteiler und ein Spiegel zur Umlenkung eines Auflichtstrahlenganges in Richtung auf ein Objektiv vorgesehen. Die Einkopplung der Laserstrahlung oder einer anderen augenschädigenden Strahlung erfolgt von der der Vorderseite gegenüberliegenden Rückseite in den für konventionelle Auflichtbeleuchtung vorgesehenen Auflichtstrahlengang.The microscope according to the invention consists of a tripod an observation tube arranged on its front. There are one or more on a slide or revolver Beam splitter and a mirror to deflect one Incident light path towards a lens intended. The coupling of the laser radiation or one other eye-damaging radiation is emitted by the Front opposite back in the for conventional incident lighting provided Incident light beam path.

Da die Laserstrahlung auch in den konventionellen Auflichtstrahlengang eingekoppelt wird, bestehen hinsichtlich der Anwendungsmöglichkeiten des Mikroskops keinerlei Einschränkungen. Die Einkopplung der Laserbeleuchtung von der Rückseite des Stativs bewirkt darüber hinaus, daß die Zugänglichkeit des Mikroskoptisches in keiner Weise eingeschränkt wird. Der Raum seitlich des Mikroskopstativs steht voll für die Positionierung von Mikromanipulatoren etc. zur Verfügung. Da für den Auflichtstrahlengang am Mikroskopstativ üblicherweise ohnehin eine Schnittstelle zur Ankopplung der Auflichtbeleuchtung vorgesehen ist, sind keine baulichen Veränderungen am Stativ erforderlich. Since the laser radiation also in the conventional Incident light beam path is coupled regarding the possible uses of the microscope no restrictions. The coupling of the Laser lighting from the back of the tripod causes moreover, that the accessibility of the microscope stage is not restricted in any way. The room to the side of the Microscope stands stand for the positioning of Micromanipulators etc. available. As for the Incident light beam path on the microscope stand usually anyway an interface for coupling the Incident lighting is provided, are not structural Tripod changes required.  

Der Schieber oder Revolver des Auflichtreflektors enthält in einer Schaltposition einen Vollspiegel. Der Vollspiegel lenkt dann das gesamte Laserlicht zum Objektiv um, und das an der Probe reflektierte Licht in den Auflichtstrahlengang zurück. Dadurch wird der Einfall von Laserlicht in den Beobachtungstubus vermieden. Für die Mikroskopie mit einer konventionllen Beleuchtung, z. B. mittels einer Halogenlampe, kann anstelle des Vollspiegels einer der Strahlteiler in den Strahlengang geschaltet werden. Das Objekt ist dann auch durch die Okulare beobachtbar.Contains the slider or revolver of the reflected light reflector a full mirror in a switch position. The full mirror then redirects all of the laser light to the lens, and that light reflected from the sample into the incident light beam path back. This will prevent laser light from entering the Observation tube avoided. For microscopy with one conventional lighting, e.g. B. by means of a Halogen lamp, can be one of the full mirror instead Beam splitter can be switched into the beam path. The The object can then also be observed through the eyepieces.

Des weiteren sollte ein Sensor zur Erkennung der Schaltposition, in der der Vollspiegel in den Strahlengang eingeschaltet ist, vorgesehen sein. Durch eine Kopplung dieses Sensors mit einem zwischen dem Laser und dem Vollspiegel angeordneten Shutter wird dann sichergestellt, daß nur dann Laserstrahlung in das Mikroskop eingekoppelt wird, wenn der Vollspiegel in den Strahlengang eingeschaltet ist. In einer anderen Schaltposition des Schiebers, in der ein Strahlteiler für die Beobachtung durch die Okulare in den Strahlengang eingeschaltet ist, ist dann die Laserbeleuchtung abgeschaltet. Dadurch ist sichergestellt, daß der Strahlengang zum Auge immer unterbrochen ist, wenn der Laserstrahl freigegeben ist.Furthermore, a sensor for detecting the Switch position in which the full mirror in the beam path is switched on, be provided. Through a coupling this sensor with one between the laser and the Full mirror arranged shutter is then ensured that only then laser radiation is coupled into the microscope will when the full mirror in the beam path is switched on. In another switching position of the Slider in which a beam splitter for observation is switched on through the eyepieces in the beam path, the laser lighting is then switched off. This is ensures that the beam path to the eye always is interrupted when the laser beam is released.

In einem vorteilhaften Ausführungsbeispiel ist das Mikroskop ein Laserscan-Mikroskop. In diesem Fall ist zwischen dem Laser und dem Strahlteiler oder Spiegel eine Strahlablenkeinheit, die den Laserstrahl in zwei zueinander senkrechten Richtungen ablenkt, vorgesehen. Damit keine Eingriffe an dem Mikroskopstativ erforderlich sind, sollte die Strahlablenkeinheit in einem separaten, hinter dem Mikroskopstativ angeordneten Gehäuseteil angeordnet sein. In an advantageous embodiment, this is Microscope a laser scanning microscope. In this case between the laser and the beam splitter or mirror Beam deflection unit, which the laser beam in two to each other deflects vertical directions, provided. So that none Interventions on the microscope stand should be required the beam deflection unit in a separate, behind the Microscope stand arranged housing part can be arranged.  

Für konfokalmikroskopische Fluoreszenzuntersuchungen sollten darüberhinaus in mehreren zur Fokusebene des Objektivs konfokalen Ebenen jeweils eine Blende angeordnet sein. Diese mehreren Konfokalebenen sind über Farbteiler mit unterschiedlichen spektralen Transmissionscharakteristiken zueinander parallel geschaltet. Dadurch sind Fluoreszenzuntersuchungen bei entsprechend verschiedenen Wellenlängen simultan möglich. Jede der Blenden sollte unabhängig von den anderen zentrierbar und in ihrem Öffnungsdurchmesser variierbar sein. Dadurch ist die Konfokalität der Meßanordnung für jede Wellenlänge separat einstellbar und an die jeweilige Fluoreszenzintensität bei der betreffenden Wellenlänge anpaßbar.For confocal microscopic fluorescence examinations should also focus on the focus level of the Objective confocal planes each arranged an aperture his. These multiple confocal planes are over color dividers with different spectral Transmission characteristics parallel to each other switched. As a result, fluorescence studies are included possible simultaneously according to different wavelengths. Each of the bezels should be independent of the others centerable and variable in their opening diameter his. As a result, the confocality of the measuring arrangement for each wavelength separately adjustable and to the respective Fluorescence intensity at the wavelength concerned customizable.

Für visuelle Auflichtuntersuchungen sollte darüberhinaus zwischen dem Strahlteiler oder Spiegel und der Ablenkeinrichtung eine konventionelle Beleuchtungseinrichtung, beispielsweise das Licht einer Halogenlampe in den Auflichtstrahlengang einkoppelbar sein. Dies kann beispielsweise über einen Schaltspiegel, z. B. einen Klappspiegel erfolgen.For visual incident light exams should go beyond that between the beam splitter or mirror and the Deflection device a conventional one Lighting device, for example the light of a Halogen lamp can be coupled into the incident light beam path. This can be done, for example, using a switching mirror, e.g. B. a folding mirror.

Bei einem besonders vorteilhaften Ausführungsbeispiel ist das Mikroskopstativ inverser Bauart, also mit unter dem Objekt angeordnetem Objektiv. Da inverse Mikroskope sehr häufig im mikro-biologischen Bereich eingesetzt werden, ist es hier besonders wichtig, daß der Raum seitlich des Mikroskopstativs für Mikromanipulatoren und Mikroinjektions-Einrichtungen voll zur Verfügung steht. Zur Abschirmung der durch ein transparentes Objekt hindurchtretenden bzw. bei entferntem Objekt aus dem Objektiv austretenden Laserstrahlung sollte oberhalb des Objekttisches eine für das Laserlicht undurchlässige Abschirmung vorgesehen sein. Diese Abschirmung sollte darüberhinaus ebenfalls über einen Sensor mit einem den Laserstrahl unterbrechenden Shutter in Verbindung stehen. Dadurch ist sichergestellt, daß bei entfernter Abschirmung ebenfalls kein Laserlicht in das Auge des Operateurs fallen kann.In a particularly advantageous embodiment the inverted microscope stand, i.e. with under the Object arranged lens. Because inverted microscopes very much are often used in the micro-biological field It is particularly important here that the room to the side of the Microscope stands for micromanipulators and Microinjection facilities are fully available. For Shielding by a transparent object passing through or with a removed object from the Laser radiation emerging should be above the lens Object table one impervious to laser light Shielding may be provided. This shield should moreover also via a sensor with a  Laser interrupting shutter are connected. This ensures that when the shield is removed likewise, no laser light falls into the surgeon's eye can.

Eine derartige Abschirmung ist auch dadurch gegeben, daß oberhalb der Objektebene eine Durchlichtbeleuchtungseinheit vorhanden ist. Die Gehäusewandung dieser Einheit stellt dann gleichzeitig die Abschirmung dar. Für eine gute Zugänglichkeit des Objektraumes ist die Durchlichtbeleuchtungseinrichtung über einen Arm schwenkbar am Stativ angeordnet. An dem Schwenkgelenk des Armes sind wiederum Sensoren vorgesehen, die mit dem Shutter zur Unterbrechung des Laserstrahls gekoppelt sind. Bei vom Objekt weggeschwenkten Arm wird dann der Laser ebenfalls unterbrochen. Die Sensoren am Schwenkgelenk und am Auflichtreflektorschieber sind über eine logische UND- Verknüpfung mit der Shuttersteuerung gekoppelt, so daß der Laserstrahl nur dann freigegeben ist, wenn der Sensor des Reflektorschiebers und der Sensor des Schwenkgelenkes gleichzeitig ein die Sicherheitsstellung anzeigendes Signal erzeugen.Such shielding is also given by the fact that a transmitted light illumination unit above the object level is available. The housing wall of this unit provides then the shield at the same time. For a good one Accessibility of the object space is the Transmitted light illumination device can be swiveled via an arm arranged on the tripod. Are on the swivel joint of the arm again sensors are provided which are used with the shutter Interruption of the laser beam are coupled. At from The laser then becomes the object that is swung away interrupted. The sensors on the swivel joint and on Reflected light slides are connected via a logical AND Link coupled with the shutter control, so that the Laser beam is only released if the sensor of the Reflector slide and the sensor of the swivel joint at the same time a signal indicating the safety position produce.

Im folgenden werden Einzelheiten der Erfindung anhand des in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert. Im einzelnen zeigen:In the following details of the invention are based on the in the embodiment shown in the drawings explained. In detail show:

Fig. 1 ein Laserscan-Mikroskop inverser Bauart nach der Erfindung in einem die optische Achse des Objektivs enthaltenden Schnitt und Fig. 1 shows a laser scanning microscope of inverted design according to the invention in a section containing the optical axis of the lens and

Fig. 2 eine Prinzipskizze des Strahlengangs in dem Mikroskop nach Fig. 1. Fig. 2 is a schematic diagram of the optical path in the microscope of FIG. 1.

Das in der Fig. 1 dargestellte inverse Mikroskop hat ein Stativ (1), an dessen Vorderseite (2) ein Binokulartubus (3) angeordnet ist. Unter dem Objekttisch (6) sind mehrere Objektive (5) an einem Objektivrevolver (4) aufgenommen. Der entlang der optischen Achse (7) des Objektivs (5) verlaufende Beobachtungsstrahlengang wird über einen unterhalb des Objektivs angeordneten Spiegel schräg nach oben zum Okulartubus (3) gelenkt. Zwischen dem Objektiv (5) und dem Spiegel (8) ist der Auflichtreflektorschieber (9) angeordnet. Der bisher beschriebene Aufbau entspricht dem aus der DE-OS 39 38 412 bekannten inversen Mikroskop. Hinsichtlich der weiteren im Beobachtungsstrahlengang angeordneten Komponenten sowie der Ausspiegelung in den Phototubus sei daher ausdrücklich auf diese Offenlegungsschrift verwiesen.The inverted microscope shown in FIG. 1 has a stand ( 1 ), on the front ( 2 ) of which a binocular tube ( 3 ) is arranged. A plurality of objectives ( 5 ) are accommodated on a nosepiece ( 4 ) under the object table ( 6 ). The observation beam path running along the optical axis ( 7 ) of the objective ( 5 ) is directed obliquely upwards to the eyepiece tube ( 3 ) via a mirror arranged below the objective. The reflected-light reflector slide ( 9 ) is arranged between the objective ( 5 ) and the mirror ( 8 ). The structure described so far corresponds to the inverse microscope known from DE-OS 39 38 412. With regard to the other components arranged in the observation beam path and the reflection into the phototube, reference is therefore expressly made to this published specification.

Der Auflichtreflektorschieber (9) hat mindestens drei Schaltstellungen. Eine dieser drei Schaltstellungen ist frei und dient der visuellen Durchlichtmikroskopie. In der zweiten Schaltstellung ist ein 50%-Strahlteiler für die visuelle Auflichtmikroskopie und in der dritten Schaltstellung ein Vollspiegel (10) für die konfokale Mikroskopie vorgesehen. In einer anderen Ausführung für Fluoreszenzanwendungen hat der Reflektor vier Schaltpositionen, von denen eine mit dem Vollspiegel für die konfokale Mikroskopie und zwei weitere mit Fluoreszenz- Filtersätzen bestückt sind. Die vierte Position ist für die visuelle Durchlichtmikroskopie unbestückt oder mit einem weiteren Fluoreszenzfiltersatz ausgerüstet.The reflected light slide valve ( 9 ) has at least three switch positions. One of these three switch positions is free and is used for visual transmitted light microscopy. In the second switch position, a 50% beam splitter is provided for visual reflected light microscopy and in the third switch position a full mirror ( 10 ) is provided for confocal microscopy. In another version for fluorescence applications, the reflector has four switching positions, one of which is equipped with the full mirror for confocal microscopy and the other two with fluorescence filter sets. The fourth position is empty for visual transmitted light microscopy or equipped with another set of fluorescent filters.

Auf der dem Okulartubus (3) abgewandten Rückseite (11) des Mikroskopstatives ist ein Scanmodul (12) angeordnet. Das Laserscanmodul (12), das ein eigenes Gehäuse hat, besteht im wesentlichen aus einer Scaneinheit, z. B. zwei Galvanometerscannern, die den senkrecht zur Zeichenebene einfallenden Laserstrahl in zwei zueinander senkrechten Richtungen ablenkt. Eine hinter der Scaneinheit angeordnete Linse (15) bildet zusammen mit der im Mikroskopstativ angeordneten Tubuslinse (17) ein Relaislinsensystem, das die beiden Scanspiegel (13, 14) in die beleuchtungsseitige Pupille des Objektivs (5) abbildet.A scan module ( 12 ) is arranged on the back ( 11 ) of the microscope stand facing away from the eyepiece tube ( 3 ). The laser scanning module ( 12 ), which has its own housing, consists essentially of a scanning unit, e.g. B. two galvanometer scanners, which deflects the laser beam incident perpendicular to the plane of the drawing in two mutually perpendicular directions. A lens ( 15 ) arranged behind the scanning unit forms, together with the tube lens ( 17 ) arranged in the microscope stand, a relay lens system which images the two scanning mirrors ( 13 , 14 ) into the pupil of the objective ( 5 ) on the illumination side.

Die Einkopplung des Laserstrahls in das Stativ (1) erfolgt über einen Spiegel (16) durch den im Mikroskopstativ ohnehin vorhandenen Auflichtstrahlengang (18). Da ein solcher Auflichtstrahlengang (18) in der Regel bei sämtlichen Mikroskopstativen ohnehin vorhanden ist, läßt sich damit das Scanmodul (12) leicht an die unterschiedlichsten Mikroskopstative adaptieren.The laser beam is coupled into the stand ( 1 ) via a mirror ( 16 ) through the incident light beam path ( 18 ), which is already present in the microscope stand. Since such an incident light beam path ( 18 ) is generally present in all microscope stands, the scan module ( 12 ) can be easily adapted to a wide variety of microscope stands.

Zwischen dem Umlenkspiegel (16) und der Einkopplung des Laserstrahls in das Mikroskopstativ (1) ist noch ein Klappspiegel (19) vorgesehen, über den eine hier nicht dargestellte konventionelle Mikroskopleuchte anstelle des Laserstrahls zur visuellen Auflichtmikroskopie in den Auflichtstrahlengang einkoppelbar ist.A folding mirror ( 19 ) is also provided between the deflecting mirror ( 16 ) and the coupling of the laser beam into the microscope stand ( 1 ), via which a conventional microscope lamp (not shown here) can be coupled into the incident light beam path instead of the laser beam for visual reflected light microscopy.

Am Reflektorschieber (9) ist die Position des Vollspiegels (10) durch einen Sensor markiert. Dieser Sensor besteht hier speziell aus zwei Magneten (21), die in zwei kleinen Bohrungen im Reflektorschieber (9) aufgenommen sind, und zwei diesen gegenüberstehenden, an der Führung des Reflektorschiebers aufgenommenen Sonden. Stehen sich die Magneten (21) und die Sonden (20) gegenüber, so triggert das dabei entstehende Signal einen hier nicht dargestellten Shutter im Strahlengang des Laserlichts und gibt den Strahlengang frei. Da nur die Schaltstellung des Vollspiegels (10) durch Magnete (21) markiert ist, wird der Laserstrahlengang für jede andere Schaltstellung des Reflektorschiebers (9) oder bei Nichtvorhandensein dieses Schiebers unterbrochen. Eine Schädigung der Augen beim Einblick in den Okulartubus (3) ist dadurch ausgeschlossen. Die Ausführung der Sicherheitseinrichtung mit zwei Magneten erlaubt dabei, den Ausfall eines Sensors festzustellen, so daß auch bei einer Fehlfunktion eines Sensors die Laserstrahlung unterbrochen wird.The position of the full mirror ( 10 ) is marked on the reflector slide ( 9 ) by a sensor. This sensor consists here specifically of two magnets ( 21 ), which are accommodated in two small bores in the reflector slide ( 9 ), and two probes opposite them, which are received on the guide of the reflector slide. If the magnets ( 21 ) and the probes ( 20 ) face each other, the resulting signal triggers a shutter (not shown here) in the beam path of the laser light and releases the beam path. Since only the switch position of the full mirror ( 10 ) is marked by magnets ( 21 ), the laser beam path is interrupted for any other switch position of the reflector slide ( 9 ) or in the absence of this slide. This prevents damage to the eyes when looking into the ocular tube ( 3 ). The design of the safety device with two magnets allows the failure of a sensor to be determined, so that the laser radiation is interrupted even if a sensor malfunctions.

Oberhalb des Objekttisches (6) ist an einem um eine horizontale Achse (23) schwenkbaren Arm (22) ein Durchlichtkondensor (24) und darüber ein Klappspiegel (25) angeordnet. Über den Klappspiegel (25) kann wahlweise das Licht einer hier nicht dargestellten, oberhalb der Zeichenebene liegenden konventionellen Durchlichtbeleuchtung eingespiegelt oder für die Scanmikroskopie auf einen unterhalb der Zeichenebene liegenden Detektor ausgespiegelt werden. Das Gehäuse, in dem der Durchlichtkondensor (24) und der Klappspiegel (25) sowie der Detektor und die Durchlichtbeleuchtungseinrichtung angeordnet sind, dient gleichzeitig zum Schutz vor einem unbeabsichtigten Einblick in das aus dem Objektiv (5) austretende Laserlicht. Damit beim Wegklappen des Armes (22) ein solcher unbeabsichtigter Einblick vermieden ist, ist auch hier ein Sensor (26, 27) vorgesehen. Die Signale dieses aus Magneten (26) und Sonden (27) bestehenden Sensors steuern ebenfalls den Shutter im Laserstrahlengang. Die Signale der Sensoren (20, 21) und (26, 27) werden dazu im Sinne einer logischen UND-Schaltung miteinander verknüpft, so daß der Laserstrahlengang nur dann freigegeben ist, wenn beide Sensoren den sicheren Zustand anzeigen.Above the object table ( 6 ), a transmitted light condenser ( 24 ) is arranged on an arm ( 22 ) which can be pivoted about a horizontal axis ( 23 ) and a folding mirror ( 25 ) is arranged above it. Via the folding mirror ( 25 ), the light of a conventional transmitted light illumination which is not shown here and which is above the drawing plane can either be reflected or can be reflected for a scanning microscope on a detector below the drawing plane. The housing, in which the transmitted light condenser ( 24 ) and the folding mirror ( 25 ) as well as the detector and the transmitted light illumination device are arranged, serves at the same time to protect against unintentional insight into the laser light emerging from the objective ( 5 ). A sensor ( 26 , 27 ) is also provided so that such an unintentional view is avoided when the arm ( 22 ) is folded away. The signals of this sensor consisting of magnets ( 26 ) and probes ( 27 ) also control the shutter in the laser beam path. For this purpose, the signals from the sensors ( 20 , 21 ) and ( 26 , 27 ) are linked to one another in the sense of a logical AND circuit, so that the laser beam path is only released when both sensors indicate the safe state.

Wie aus der Fig. 2 hervorgeht, ist das inverse Laserscan- Mikroskop modular aufgebaut. Es besteht aus drei Standardblöcken (A, B und C) sowie im Prinzip beliebig vielen zusätzlichen Lasermodulen (D und E). Das Modul (A) stellt dabei das Mikroskopstativ und das Modul (B) das Scanmodul dar. Die einzelnen optischen Komponenten sind in der Fig. 2 mit denselben Bezugszeichen versehen wie in der Fig. 1. Sämtliche Komponenten sind in der Fig. 2 zur Vereinfachung in einer Ebene dargestellt, obwohl sie im tatsächlich realisierten Mikroskop in unterschiedlichen Ebenen liegen.As can be seen from FIG. 2, the inverse laser scanning microscope has a modular structure. It consists of three standard blocks (A, B and C) and, in principle, any number of additional laser modules (D and E). Module (A) represents the microscope stand and module (B) the scanning module. The individual optical components in FIG. 2 are given the same reference numerals as in FIG. 1. All components are shown in FIG. 2 for simplification shown in one plane, although they are in different planes in the microscope actually realized.

Da auf die Komponenten der Module (A und B) bereits im Zusammenhang mit der Fig. 1 eingegangen worden ist, wird auf eine nochmalige Beschreibung dieser Komponenten verzichtet.Since the components of the modules (A and B) have already been discussed in connection with FIG. 1, these components will not be described again.

An das Scanning-Modul (B) ist das Detektor-Modul (C) angeschlossen. Dieses Detektor-Modul enthält einen Laser (31) mit einem vorgeschalteten Shutter (32). Der Shutter (32) ist über einen Elektromagneten angetrieben. Ein Farbteiler (33) lenkt den aus dem Laser (31) austretenden Laserstrahl auf eine Strahlaufweitung (34, 35). Ein weiterer Farbteiler (36) lenkt den aus der Strahlaufweitung (34, 35) austretenden kollimierten Laserstrahl zur Ablenkeinheit (13, 14). Für die Auflichtmikroskopie kann hier auch ein Neutralteiler oder ein Polarisationsteiler verwendet werden.The detector module (C) is connected to the scanning module (B). This detector module contains a laser ( 31 ) with an upstream shutter ( 32 ). The shutter ( 32 ) is driven by an electromagnet. A color splitter ( 33 ) directs the laser beam emerging from the laser ( 31 ) onto a beam expansion ( 34 , 35 ). Another color splitter ( 36 ) directs the collimated laser beam emerging from the beam expansion ( 34 , 35 ) to the deflection unit ( 13 , 14 ). A neutral splitter or a polarization splitter can also be used here for incident light microscopy.

Nach Durchlauf der Scaneinrichtung (13, 14) wird der kollimierte Laserstrahl vom Vollspiegel (10) zum Objektiv (5) umgelenkt und von diesem auf das hier nicht dargestellte Präparat fokussiert.After passing through the scanning device ( 13 , 14 ), the collimated laser beam is deflected from the full mirror ( 10 ) to the objective ( 5 ) and from there focused on the specimen (not shown here).

Das durch das Laserlicht im Präparat angeregte Fluoreszenzlicht bzw. das reflektierte Licht durchläuft zwischen dem Objektiv und dem Teiler (36) denselben Strahlengang in entgegengesetzter Richtung. Da sich das Fluoreszenzlicht hinsichtlich der Wellenlänge von dem Laserlicht unterscheidet, transmittiert das Fluoreszenzlicht den Farbteiler (36). Über zwei weitere Farbteiler (37, 38) mit unterschiedlichen spektralen Transmissionseigenschaften und einem Vollspiegel (39) wird das Fluoreszenzlicht drei parallelen konfokalen Detektionskanälen zugeführt. Jeder dieser konfokalen Detektionskanäle enthält ein Objektiv (40, 41, 42), eine Konfokalblende (46, 44, 45) sowie einen Photodetektor (47, 48, 49) zur Umwandlung optischer Strahlung in elektrische Signale. Die Konfokalblenden (46, 44, 45) sind dabei jeweils in einer zur Fokusebene des Objektivs (5) konjugierten Ebene angeordnet. Jede dieser Konfokalblenden ist unabhängig von der anderen über entsprechende von außen zugängliche Justierschrauben (nicht dargestellt) zentrierbar sowie bezüglich ihres Öffnungsdurchmessers variierbar. Dadurch ist die Tiefenauflösung der mikroskopischen Abbildung für jede Fluoreszenzwellenlänge separat einstellbar.The fluorescent light or the reflected light excited by the laser light in the preparation passes through the same beam path in the opposite direction between the objective and the divider ( 36 ). Since the fluorescent light differs in wavelength from the laser light, the fluorescent light transmits the color splitter ( 36 ). The fluorescent light is fed to three parallel confocal detection channels via two further color dividers ( 37 , 38 ) with different spectral transmission properties and a full mirror ( 39 ). Each of these confocal detection channels contains an objective ( 40 , 41 , 42 ), a confocal diaphragm ( 46 , 44 , 45 ) and a photodetector ( 47 , 48 , 49 ) for converting optical radiation into electrical signals. The confocal diaphragms ( 46 , 44 , 45 ) are each arranged in a plane conjugate to the focal plane of the objective ( 5 ). Each of these confocal diaphragms can be centered independently of the other by means of corresponding externally accessible adjusting screws (not shown) and can be varied in terms of their opening diameter. This enables the depth resolution of the microscopic image to be set separately for each fluorescence wavelength.

Der Teiler (36), der den Beleuchtungsstrahlengang vom Meßstrahlengang trennt sowie die Farbteiler (37, 38) zur Aufteilung des Meßlichtes in die unterschiedlichen Detektionskanäle sind jeweils in hier nicht dargestellten Reflektorschiebern aufgenommen. Durch die unterschiedlichen Kombinationen der Reflektorschieber sind daher die unterschiedlichsten Wellenlängenkombinationen einstellbar und simultan zu registrieren. Die Reflektorschieber, in denen die Farbteiler (37, 38) aufgenommen sind, haben dabei eine leere Schaltstellung. Dadurch ist es möglich, bei Messung sehr schwacher Fluoreszenzen einen Reflektorschieber auf vollen Durchgang zu schalten, so daß keine zusätzliche Abschwächung des ohnehin schon schwachen Fluoreszenzlichtes erfolgt.The divider ( 36 ), which separates the illuminating beam path from the measuring beam path, and the color dividers ( 37 , 38 ) for dividing the measuring light into the different detection channels are each accommodated in reflector slides, not shown here. Due to the different combinations of the reflector slides, the most varied wavelength combinations can therefore be set and registered simultaneously. The reflector slides in which the color dividers ( 37 , 38 ) are accommodated have an empty switch position. This makes it possible to switch a reflector slide to full passage when measuring very weak fluorescence, so that there is no additional weakening of the already weak fluorescent light.

Wie des weiteren durch die Module (D und E) angedeutet ist, sind für Anwendungen mit mehreren Anregungswellenlängen im Prinzip beliebig viele zusätzliche externe Laser-Module an das Detektor-Modul (C) ankoppelbar. Jedes dieser zusätzlichen Laser-Module (D und E) besteht im wesentlichen aus einem Laser (61, 51), einem eigenen Shutter (62, 52), gegebenenfalls Filter zur Linienselektion (hier nicht dargestellt) bei Multiline-Lasern und justierbaren Einkoppeloptiken (63, 53). Jede dieser justierbaren Einkoppeloptiken (63, 53) besteht aus zwei justierbaren Spiegeln, von denen hier jedoch lediglich einer dargestellt ist.As is further indicated by the modules (D and E), in principle, any number of additional external laser modules can be coupled to the detector module (C) for applications with several excitation wavelengths. Each of these additional laser modules (D and E) essentially consists of a laser ( 61 , 51 ), its own shutter ( 62 , 52 ), optionally filters for line selection (not shown here) for multiline lasers and adjustable coupling optics ( 63 , 53 ). Each of these adjustable coupling optics ( 63 , 53 ) consists of two adjustable mirrors, of which only one is shown here.

Anhand der Figuren ist ein besonders vorteilhaftes Ausführungsbeispiel der Erfindung beschrieben. Es sind jedoch auch zahlreiche Variationsmöglichkeiten möglich. Insbesondere können für die Erzeugung der Shuttersignale andere Sensortypen verwendet werden, beispielsweise Mikroschalter oder einfache elektrische Kontakte. Außerdem können auch im Detektormodul (C) mehrere Laser oder mehr als drei parallele Detektionskanäle vorgesehen sein.Based on the figures is a particularly advantageous one Embodiment of the invention described. There are however, numerous possible variations are also possible. In particular, can be used to generate the shutter signals other types of sensors are used, for example Microswitches or simple electrical contacts. Furthermore can also use several lasers or more in the detector module (C) be provided as three parallel detection channels.

Für die Erfindung ist es wesentlich, daß der Vollspiegel (10) kein Laserlicht transmittiert. Es ist daher nicht zwingend erforderlich, daß der Vollspiegel (10) jegliche Wellenlänge vollständig reflektiert. Es ist vielmehr völlig ausreichend, wenn der Vollspiegel (10) Licht der Laserwellenlänge, oder im Falle mehrerer Laser unterschiedlicher Wellenlängen das Licht aller Laserwellenlängen, vollständig reflektiert.It is essential for the invention that the full mirror ( 10 ) does not transmit any laser light. It is therefore not absolutely necessary for the full mirror ( 10 ) to completely reflect any wavelength. Rather, it is entirely sufficient if the full mirror ( 10 ) completely reflects light of the laser wavelength, or in the case of several lasers of different wavelengths, the light of all laser wavelengths.

Claims (10)

1. Mikroskop bestehend aus einem Stativ (1) , einem an der Vorderseite (2) des Stativs (1) angeordneten Okulartubus (3) und einem Schieber (9) oder Revolver in dem mindestens ein Strahlteiler und ein Spiegel (10) zur Umlenkung eines Auflichtstrahlenganges (18) in Richtung auf das Objektiv (5) aufgenommen ist, wobei ein Laserstrahl oder eine andere augenschädigende Strahlung von der der Vorderseite (2) gegenüberliegenden Rückseite (11) in den für konventionelle Auflichtbeleuchtung vorgesehenen Auflichtstrahlengang (18) eingekoppelt ist.1. Microscope consisting of a tripod ( 1 ), an eyepiece tube ( 3 ) arranged on the front ( 2 ) of the tripod ( 1 ) and a slide ( 9 ) or revolver in which at least one beam splitter and a mirror ( 10 ) for deflecting one Incident light beam path ( 18 ) is recorded in the direction of the objective ( 5 ), a laser beam or another radiation damaging to the eyes being coupled from the rear side ( 11 ) opposite the front side ( 2 ) into the incident light beam path ( 18 ) provided for conventional incident light illumination. 2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Sensor (20, 21) zur Erkennung der Schaltposition, in der der Spiegel (10) in den Strahlengang eingeschaltet ist, vorgesehen ist und daß der Sensor (20, 21) mit einem zwischen dem Laser (31, 61, 51) und dem Spiegel (10) angeordneten Shutter (32, 62, 52) gekoppelt ist.2. Microscope according to claim 1, characterized in that a sensor ( 20 , 21 ) for detecting the switching position in which the mirror ( 10 ) is switched on in the beam path is provided, and that the sensor ( 20 , 21 ) with a between the laser ( 31 , 61 , 51 ) and the mirror ( 10 ) arranged shutter ( 32 , 62 , 52 ) is coupled. 3. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischem dem Laser (31, 61, 51) und dem Strahlteiler oder Spiegel (10) eine Strahlablenkeinheit (13, 14) in einem separaten, hinter dem Mikroskopstativ (1) angeordneten Gehäuseteil (12) angeordnet ist.3. Microscope according to one of claims 1 or 2, characterized in that between the laser ( 31 , 61 , 51 ) and the beam splitter or mirror ( 10 ) a beam deflection unit ( 13 , 14 ) in a separate, behind the microscope stand ( 1 ) arranged housing part ( 12 ) is arranged. 4. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß in mehreren zur Fokusebene des Objektivs (5) konfokale Ebenen jeweils eine Blende (44, 45, 46) angeordnet ist.4. Microscope according to one of claims 1-3, characterized in that in several to the focal plane of the lens ( 5 ) confocal planes an aperture ( 44 , 45 , 46 ) is arranged. 5. Mikroskop nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Blenden (44, 45, 46) jeweils separat zentrierbar sind und daß die Öffnungsdurchmesser unabhängig voneinander variierbar sind.5. Microscope according to claim 4, characterized in that the diaphragms ( 44 , 45 , 46 ) can each be centered separately and that the opening diameter can be varied independently of one another. 6. Mikroskop nach einem der Ansprüche 3-5, dadurch gekennzeichnet, daß eine konventionelle Beleuchtungseinrichtung zwischen dem Strahlteiler oder Spiegel (10) und der Ablenkeinrichtung (13, 14) in den Auflichtstrahlengang (18) einkoppelbar ist.6. Microscope according to one of claims 3-5, characterized in that a conventional lighting device between the beam splitter or mirror ( 10 ) and the deflection device ( 13 , 14 ) in the incident light beam path ( 18 ) can be coupled. 7. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1-6, dadurch gekennzeichnet, daß das Stativ (1) inverser Bauart ist.7. Microscope according to any one of claims 1-6, characterized in that the stand ( 1 ) is an inverse type. 8. Mikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß oberhalb des Objekttisches (6) eine für augenschädliche Strahlung undurchlässige Abschirmung (22) vorgesehen ist, und daß die Abschirmung (22) über einen Sensor (26, 27) mit einem den Laserstrahl unterbrechenden Shutter (32, 62, 52) verbunden ist.8. Microscope according to claim 7, characterized in that above the object table ( 6 ) an opaque to harmful radiation shield ( 22 ) is provided, and that the shield ( 22 ) via a sensor ( 26 , 27 ) with a shutter interrupting the laser beam ( 32 , 62 , 52 ) is connected. 9. Mikroskop nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß oberhalb des Objekttisches (6) eine Durchlichtbeleuchtungseinheit (28) sowie ein Durchlichtdetektor (19) vorgesehen sind, die über einen schwenkbaren Arm (22) mit dem Stativ (1) in Verbindung stehen, und daß an dem Schwenkgelenk (29) des Armes Sensoren (26, 27) vorgesehen sind, die mit einem Shutter (32, 62, 52) zur Unterbrechung des Laserstrahls gekoppelt sind.9. Microscope according to claim 8, characterized in that above the object table ( 6 ) a transmitted light illumination unit ( 28 ) and a transmitted light detector ( 19 ) are provided, which are connected to the stand ( 1 ) via a pivotable arm ( 22 ), and that sensors ( 26 , 27 ) are provided on the swivel joint ( 29 ) of the arm and are coupled to a shutter ( 32 , 62 , 52 ) for interrupting the laser beam. 10. Mikroskop nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Laserstrahl nur dann freigegeben ist, wenn der Sensor (20, 21) zur Erkennung der Schaltposition des Schiebers (9) oder Revolvers und der am Schwenkgelenk (23) angeordnete Sensor (26, 27) gleichzeitig ein Signal erzeugen.10. Microscope according to claim 9, characterized in that the laser beam is only released when the sensor ( 20 , 21 ) for detecting the switching position of the slide ( 9 ) or turret and the sensor ( 26 , 27 ) arranged on the swivel joint ( 23 ) ) generate a signal at the same time.
DE4323129A 1992-07-24 1993-07-10 Inverted microscope Expired - Lifetime DE4323129C2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4345538A DE4345538C2 (en) 1992-07-24 1993-07-10 fluorescence microscope
DE4323129A DE4323129C2 (en) 1992-07-24 1993-07-10 Inverted microscope

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4224376 1992-07-24
DE4345538A DE4345538C2 (en) 1992-07-24 1993-07-10 fluorescence microscope
DE4323129A DE4323129C2 (en) 1992-07-24 1993-07-10 Inverted microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4323129A1 true DE4323129A1 (en) 1994-02-03
DE4323129C2 DE4323129C2 (en) 2002-10-02

Family

ID=25916875

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4323129A Expired - Lifetime DE4323129C2 (en) 1992-07-24 1993-07-10 Inverted microscope

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4323129C2 (en)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5903688A (en) * 1994-08-25 1999-05-11 Leica Lasertechnik Gmbh Device for feeding a UV laser into a confocal laser scanning microscope
WO2000007056A1 (en) * 1998-07-30 2000-02-10 Carl Zeiss Jena Gmbh Confocal theta microscope
EP1227356A2 (en) * 2001-01-25 2002-07-31 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Safety-device for microscopes with Laser-beam illumination
EP1273952A2 (en) * 2001-07-06 2003-01-08 Leica Microsystems Wetzlar GmbH Confocal microscope
DE10142229A1 (en) * 2001-08-29 2003-04-03 Leica Microsystems Microscope and security device for a lens holder
DE19702753C2 (en) * 1997-01-27 2003-04-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE10029444B4 (en) * 2000-06-21 2004-07-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement
DE10120424B4 (en) * 2001-04-26 2004-08-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope and decoupling element
EP1496385A1 (en) * 2003-07-11 2005-01-12 CARL ZEISS JENA GmbH Arrangement in illumination beam path of laser scanning microscope
DE19733195B4 (en) * 1997-08-01 2006-04-06 Carl Zeiss Jena Gmbh Highly compact laser scanning microscope with integrated short pulse laser
WO2006037439A1 (en) * 2004-10-04 2006-04-13 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Security system for a microscope which emits laser radiation
DE19702754B4 (en) * 1997-01-27 2007-10-04 Carl Zeiss Jena Gmbh Filter changer for microscopes
DE102009050021A1 (en) 2009-10-16 2011-04-28 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Microscope, particularly laser scanning microscope, has illumination beam path with light source and unit for interrupting illumination beam path or switching off light source in absence of safety signals
DE102014114469A1 (en) * 2014-10-06 2016-04-07 Leica Microsystems (Schweiz) Ag microscope
DE19832319B4 (en) * 1997-08-27 2016-06-16 Nikon Corporation Inverted microscope

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005004680A1 (en) * 2005-02-02 2006-08-10 Carl Zeiss Jena Gmbh Device for tilting the illuminator on inverted light microscopes

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3798435A (en) * 1973-08-09 1974-03-19 Reichert Optische Werke Ag Versatile light source for a microscope
DE2640974C3 (en) * 1976-09-11 1985-04-25 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Inverted light microscope
US4629687A (en) * 1982-07-29 1986-12-16 Board Of Trustees Of Michigan State University Positive selection sorting of cells
US4549787A (en) * 1984-01-12 1985-10-29 Hgm, Inc. Optical shutter
DE3527322A1 (en) * 1985-07-31 1987-02-12 Zeiss Carl Fa AUTOFOCUS DEVICE FOR LIGHTING MICROSCOPE
FR2626383B1 (en) * 1988-01-27 1991-10-25 Commissariat Energie Atomique EXTENDED FIELD SCAN AND DEPTH CONFOCAL OPTICAL MICROSCOPY AND DEVICES FOR CARRYING OUT THE METHOD
US5032720A (en) * 1988-04-21 1991-07-16 White John G Confocal imaging system
DE3938412A1 (en) * 1989-11-18 1991-05-23 Zeiss Carl Fa MICROSCOPE WITH A DIAGONAL OBSERVATION BEAM
US5127730A (en) * 1990-08-10 1992-07-07 Regents Of The University Of Minnesota Multi-color laser scanning confocal imaging system

Cited By (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0734539B1 (en) * 1994-08-25 2002-11-13 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Device for feeding the light beam from a uv laser into a laser scanning microscope
US5903688A (en) * 1994-08-25 1999-05-11 Leica Lasertechnik Gmbh Device for feeding a UV laser into a confocal laser scanning microscope
DE19702753C2 (en) * 1997-01-27 2003-04-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19758745C5 (en) * 1997-01-27 2008-09-25 Carl Zeiss Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19758746C2 (en) * 1997-01-27 2003-07-31 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19758748C2 (en) * 1997-01-27 2003-07-31 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19758744C2 (en) * 1997-01-27 2003-08-07 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19758745C2 (en) * 1997-01-27 2003-08-14 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19702754B4 (en) * 1997-01-27 2007-10-04 Carl Zeiss Jena Gmbh Filter changer for microscopes
DE19733195B4 (en) * 1997-08-01 2006-04-06 Carl Zeiss Jena Gmbh Highly compact laser scanning microscope with integrated short pulse laser
DE19861507B3 (en) * 1997-08-27 2017-03-16 Nikon Corporation Inverted microscope
DE19832319B4 (en) * 1997-08-27 2016-06-16 Nikon Corporation Inverted microscope
WO2000007056A1 (en) * 1998-07-30 2000-02-10 Carl Zeiss Jena Gmbh Confocal theta microscope
DE10029444B4 (en) * 2000-06-21 2004-07-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement
EP1227356A3 (en) * 2001-01-25 2004-11-10 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Safety-device for microscopes with Laser-beam illumination
EP1227356A2 (en) * 2001-01-25 2002-07-31 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Safety-device for microscopes with Laser-beam illumination
DE10120424B4 (en) * 2001-04-26 2004-08-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope and decoupling element
US6977773B2 (en) 2001-04-26 2005-12-20 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope and coupling-out element
EP1273952A2 (en) * 2001-07-06 2003-01-08 Leica Microsystems Wetzlar GmbH Confocal microscope
EP1273952A3 (en) * 2001-07-06 2004-05-26 Leica Microsystems Wetzlar GmbH Confocal microscope
US6917468B2 (en) 2001-07-06 2005-07-12 Leica Microsystems Wetzlar Gmbh Confocal microscope
US7009785B2 (en) 2001-08-29 2006-03-07 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Microscope and locking device for a lens mounting
DE10142229B4 (en) * 2001-08-29 2007-02-01 Leica Microsystems Cms Gmbh microscope
DE10142229A1 (en) * 2001-08-29 2003-04-03 Leica Microsystems Microscope and security device for a lens holder
EP1496385A1 (en) * 2003-07-11 2005-01-12 CARL ZEISS JENA GmbH Arrangement in illumination beam path of laser scanning microscope
WO2006037439A1 (en) * 2004-10-04 2006-04-13 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Security system for a microscope which emits laser radiation
US8004757B2 (en) 2004-10-04 2011-08-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Safety system for a laser radiation device
DE102009050021A1 (en) 2009-10-16 2011-04-28 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Microscope, particularly laser scanning microscope, has illumination beam path with light source and unit for interrupting illumination beam path or switching off light source in absence of safety signals
DE102009050021B4 (en) 2009-10-16 2019-05-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope, in particular laser scanning microscope and operating method
DE102014114469A1 (en) * 2014-10-06 2016-04-07 Leica Microsystems (Schweiz) Ag microscope
US10146037B2 (en) 2014-10-06 2018-12-04 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Microscope

Also Published As

Publication number Publication date
DE4323129C2 (en) 2002-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5535052A (en) Laser microscope
DE19758744C2 (en) Laser Scanning Microscope
EP0264404B1 (en) Device for automatic focussing of a reflected light microscope
DE4323129C2 (en) Inverted microscope
EP1664888B1 (en) Scanning microscope with evanescent wave illumination
DE102012017917B4 (en) Microscope module and light microscope as well as methods and data storage media
EP2030062A1 (en) Autofocus device for microscopy
DE3527322A1 (en) AUTOFOCUS DEVICE FOR LIGHTING MICROSCOPE
WO2005096058A1 (en) Scanning microscope and method for examining a sample by using scanning microscopy
DE3230504A1 (en) TRANSLATED AND / OR REFLECTED INVERSE MICROSCOPE
EP0341483A2 (en) Device for measuring and processing spectra of proper fluorescence from surfaces of organic tissues
EP1882970A1 (en) Laser scanning microscope for fluorescence analysis
DE10120424B4 (en) Scanning microscope and decoupling element
DE10233074B4 (en) Optical device for combining light beams and scanning microscope
EP1281997B1 (en) Scanning microscope
DE4331570A1 (en) Method and device for optically exciting an energy state in a sample at a sample point with high positional resolution
DE102004034983A1 (en) Light scanning microscope
EP1985227B1 (en) Optical component for a stereo microscope
EP1227356A2 (en) Safety-device for microscopes with Laser-beam illumination
DE19541477A1 (en) Slit=lamp scanning microscope
DE10029680A1 (en) The microscope assemblage
WO2017036893A1 (en) Image recording arrangement, optical observation appliance and method for recording images
EP3066511B1 (en) Microscope for evanescent illumination and point-shaped raster illumination
DE4345538C2 (en) fluorescence microscope
DE102006047911A1 (en) Arrangement for splitting detection light

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8172 Supplementary division/partition in:

Ref country code: DE

Ref document number: 4345538

Format of ref document f/p: P

Q171 Divided out to:

Ref country code: DE

Ref document number: 4345538

AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 4345538

Format of ref document f/p: P

D2 Grant after examination
AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 4345538

Format of ref document f/p: P

8364 No opposition during term of opposition
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: CARL ZEISS, 89518 HEIDENHEIM, DE

Effective date: 20130108

R071 Expiry of right
R071 Expiry of right