DE4319777A1 - Abtastendes Abbildungssystem - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft generell optische Systeme, und mehr im besonderen duale optische Systeme.

Es gibt verschiedene Arten von optischen Dualbetriebssystemen oder optischen Dualmodussystemen, und diese umfassen u. a. Tele­ skope, die bei oder auf zwei unterschiedlichen Wellenlängen ar­ beiten. Die veröffentlichte britische Patentanmeldung bzw. Of­ fenlegungsschrift 2 242 283 des Anmelders beschreibt ein opti­ sches Abbildungssystem, das aus einem einzigen Materialstück oder -teil hergestellt ist, von dem angegeben ist, daß es für die Verwendung in einem optischen Zwei-Wellenlängen-System ge­ eignet ist.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es insbesondere, ein verbessertes optisches Dualbetriebs- oder Dualmodussystem zur Verfügung zu stellen, das eine Abtasteinrichtung sowie eine Mehrzahl von Infrarot- und CCD-Detektoren, die sich die gleiche Optik teilen, aufweist (CCD = ladungsgekoppelter Baustein oder Ladungsspeicherelement).

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird da­ her ein multispektrales optisches Abbildungssystem zur Verfü­ gung gestellt, das folgendes umfaßt:
eine erste und zweite gegenüberangeordnete, beispielsweise gegenüberliegende oder gegenüberstehende, reflektierende Ober­ fläche, die eine einzige optische Achse definieren, wobei die erste reflektierende Oberfläche integral auf einem einzigen Stück oder Teil aus metallischem Material ausgebildet ist, wo­ bei das einzige Stück oder Teil aus metallischem Material eine mittige Öffnung hat, durch welche sich die optische Achse er­ streckt, und eine Mehrzahl von integral, vorzugsweise einstüc­ kig, darauf ausgebildete langgestreckte Rippenteile, welche da­ zwischen bzw. zwischen sich eine Mehrzahl von Öffnungen defi­ nieren, die mit der mittigen Öffnung in Verbindung sind; und wobei die zweite reflektierende Oberfläche einen Brennpunkt auf der optischen Achse hat, wodurch Strahlung, die auf die erste reflektierende Oberfläche auftrifft, davon nach der zweiten re­ flektierenden Oberfläche zu reflektiert wird und weiter von der zweiten reflektierenden Oberfläche nach dem Brennpunkt zu re­ flektiert wird;
eine mit der zweiten reflektierenden Oberfläche verbundene Ab­ tasteinrichtung zum Bewirken, daß die zweite reflektierende Oberfläche eine Abtastbewegung erfährt oder ausführt;
eine Strahlteilungseinrichtung, die von der zweiten re­ flektierenden Oberfläche reflektierte Strahlung empfängt; und
eine Mehrzahl von Detektoren, von denen jeder bei oder auf einer unterschiedlichen optischen Wellenlänge bzw. in einem un­ terschiedlichen Wellenlängenbereich arbeitet und Strahlung von der Strahlteilungseinrichtung empfängt.

Die erste und zweite reflektierende Oberfläche kann sphärisch oder asphärisch sein, und gemäß einer bevorzugten Ausführungs­ form der Erfindung haben sie eine äußere Konfiguration, die ge­ nerell kreisförmig ist, wenn sie parallel zu der optischen Achse projiziert wird, wobei der Durchmesser der ersten reflek­ tierenden Oberfläche größer als der Durchmesser der zweiten re­ flektierenden Oberfläche ist.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung umfaßt das einzige Stück oder Teil aus Material außerdem eine inte­ gral, insbesondere einstückig damit, ausgebildete Abschirm- oder Wandeinrichtung, die zwischen der ersten reflektierenden Oberfläche und den Rippenteilen angeordnet und dahingehend wirksam ist, daß sie wenigstens teilweise das Auftreffen von Streustrahlung (dieser Begriff wird hier zusammenfassend für "Störstrahlung, Nebenstrahlung, Falschstrahlung, Streustrah­ lung" verwendet) auf die reflektierenden Oberflächen verhin­ dert.

Gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung ist auch eine integral, insbesondere einstückig, mit der Abtasteinrichtung ausgebildete Abschirm- oder Wandeinrichtung vorgesehen, welche dahingehend wirksam ist, daß sie wenigstens teilweise das Auf­ treffen von Streustrahlung auf die Detektoren verhindert.

Gemäß einer noch anderen Ausführungsform der Erfindung sind die Abtasteinrichtung und die zweite reflektierende Oberfläche in­ tegral, insbesondere einstückig oder teilweise einstückig, aus­ gebildet.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann irgend­ einer der Detektoren ein einziger Detektor oder Einzeldetektor, ein Linien- oder Zeilendetektor oder ein Matrixdetektor sein; und die Abtasteinrichtung befindet sich in einer Abtastbe­ triebsweise, wenn ein einziger Detektor oder Einzeldetektor oder ein Liniendetektor oder Zeilendetektor angewandt wird, und in einer verriegelten oder arretierten Betriebsweise, wenn ein Matrixdetektor angewandt wird.

Gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung ist wenig­ stens eine korrigierte Linse oder Linsengruppe zwischen dem Strahlteiler bzw. der Strahlteilungseinrichtung und wenigstens einem der Detektoren vorgesehen.

Gemäß einer noch anderen Ausführungsform der Erfindung ist we­ nigstens eine der reflektierenden Oberflächen durch Diamantdre­ hen ausgebildet, und das einzige Stück oder Teil aus metalli­ schem Material ist bevorzugt aus Aluminium oder Beryllium.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist das Sy­ stem so konfiguriert, daß es ein Cassegrainsches System ist.

Gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung ist das ein­ zige Stück oder Teil aus Material fest an einer stationären Ba­ sis angebracht und sieht auch ein Gehäuse für irgendeines der folgenden vor oder bildet ein Gehäuse für irgendeines der fol­ genden: Detektoren, Rate- oder Geschwindigkeitssensoren, Senso­ ren zur Positionseinstellung und/oder -stabilisierung, Abta­ ster- oder Abtasteinrichtungpositionierungsmittel und Elektro­ nikschaltplatten oder -tafeln oder -karten.

Gemäß einer noch anderen Ausführungsform der Erfindung ist das einzige Stück oder Teil aus Material mit zwei Präzisionslöchern zum Montieren des Systems auf Lagern versehen, welche dahinge­ hend operativ sind, daß sie das System stabilisieren und prä­ zise im Gleichgewicht erhalten oder balancieren.

Die vorstehenden sowie weitere Vorteile und Merkmale der Erfin­ dung seien zum umfassenderen Verständnis und zur vollständige­ ren Würdigung des erfindungsgemäßen Systems nachfolgend anhand einer bevorzugten Ausführungsform in näheren Einzelheiten in Verbindung mit den Figuren der Zeichnung beschrieben und erläu­ tert; worin:

Fig. 1 eine Schnittdarstellung eines bi-spektralen opti­ schen Abbildungssystems ist, das gemäß einer bevorzugten Aus­ führungsform der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist und ar­ beitet; und

Fig. 2 eine Seitenansichtsdarstellung des Systems der Fig. 1 ist.

In der nun folgenden detallierten Beschreibung der Erfindung sei zunächst auf Fig. 1 Bezug genommen, die eine Schnittdar­ stellung eines bi-spektralen optischen Abbildungssystems vom Cassegrain-Typ ist, das gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist und arbeitet. Das Sy­ stem der Fig. 1 umfaßt ein einziges Stück oder Teil 48 aus me­ tallischem Material, auf welchem eine primäre reflektierende Oberfläche 50 präzise ausgebildet ist. Das einzige Stück oder Teil 48 aus metallischem Material besteht vorzugsweise aus Alu­ minium oder Beryllium, und es kann in variablen Dimensionen oder Abmessungen in Abhängigkeit von der speziellen Anwendung hergestellt sein. Für die meisten Anwendungen wird die primäre reflektierende Oberfläche 50 einen Durchmesser zwischen 5,08 cm und 25,40 cm (zwischen 2 Zoll und 10 Zoll) haben, obwohl auch ein Durchmesser von beispielsweise 101,60 cm (40 Zoll) oder mehr möglich ist.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist die primäre reflektierende Oberfläche 50 durch Diamantdrehen des metallischen Materials 48 selbst ausgebildet. Alternativ oder zusätzlich kann mittels eines geeigneten Ablagerungs- oder Re­ plikationsverfahrens oder Reproduktionsverfahrens, wie es auf dem Fachgebiet bekannt ist, eine reflektierende Beschichtung auf die Oberfläche 50 aufgebracht sein.

Das einzige Stück oder Teil aus metallischem Material hat eine mittige Öffnung 49 und eine Mehrzahl von langgestreckten Rip­ penteilen 53, welche integral, insbesondere einstückig, damit ausgebildet sind. Die Rippenteile 53 definieren oder begrenzen dazwischen bzw. zwischen sich eine Mehrzahl von Öffnungen, wel­ che mit der mittigen Öffnung 49 in Verbindung sind.

Eine sekundäre reflektierende Oberfläche 52 und eine Abtastan­ ordnung 55 sind auf der Oberseite oder dem in der Zeichnung oberen Ende der Rippenteile 53 mittels einer Gehäuse- und Posi­ tionierungsanordnung 54 angebracht. Die primäre und sekundäre reflektierende Oberfläche 50 und 52 sind optisch koaxial, wobei die sekundäre reflektierende Oberfläche 52 einen Brennpunkt de­ finiert, der an einem Punkt 57 hinter der mittigen Öffnung 49 vorhanden ist. Wegen dieses Aufbaus wird Strahlung, die auf die primäre Oberfläche 50 auftrifft, zu der sekundären Oberfläche 53 reflektiert und wieder zurück zum Brennpunkt 57 der sekun­ dären Oberfläche 52.

Die primäre reflektierende Oberfläche 50 und die sekundäre re­ flektierende Oberfläche 52 sind typischer- bzw. vorzugsweise reflektierende sphärische Vollkreisoberflächen; alternativ kön­ nen sie asphärisch sein.

In einer bevorzugten Ausführungsform haben die primäre reflek­ tierende Oberfläche 50 und die sekundäre reflektierende Ober­ fläche 52 eine äußere Konfiguration, die generell kreisförmig ist, wenn sie parallel zu ihrer optischen Achse projiziert wird, wobei der Durchmesser der primären reflektierenden Ober­ fläche 50 größer als der Durchmesser der sekundären reflektie­ renden Oberfläche 52 ist.

Die Abtastanordnung 55 ist dahingehend operativ, daß sie die sekundäre reflektierende Oberfläche 52 abtastet und/oder eine Abtastbewegung der sekundären reflektierenden Oberfläche 52, beispielsweise eine Kipp-, Schwenk-, Schwing-, Vibrations- oder Drehbewegung derselben, vorzugsweise in einem Hin- und Herbewe­ gungsmodus, bewirkt, und diese Abtastanordnung kann von jedem geeigneten Typ einer unabhängigen oder in sich abgeschlossenen Abtastanordnung, wie sie auf dem Fachgebiet bekannt ist, sein. Die Gehäuse- und Abtastanordnung oder die Gehäuse- und Positio­ nierungsanordnung 54 ist oder umfaßt vorzugsweise eine Photo­ dioden-LED-Anordnung, es kann jedoch auch irgendeine andere Ab­ tastanordnung oder Positionierungsanordnung, wie sie auf dem Fachgebiet bekannt ist, verwendet werden. Gemäß einer bevorzug­ ten Ausführungsform der Erfindung ist die Abtastanordnung 55 gemäß den technischen Lehren der US-Patentschrift 5 097 356 des Anmelders, welche den Titel "Abtasteinrichtung" hat, aufgebaut und operativ, und demgemäß wird die Offenbarung der US-Patent­ schrift 5 097 356 durch diese Bezugnahme mit zum Offenbarungs­ inhalt der vorliegenden Anmeldung gemacht. Insbesondere wird auf Fig. 1 der US-Patentschrift 5 097 356 Bezug genommen.

Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind die Abtastanordnung 55 und die sekundäre reflektierende Oberfläche 52 integral ausgebildet, bevorzugt derart, daß sie zusammen eine Baueinheit bilden.

Wie es auf dem Fachgebiet an sich bekannt ist, können optische Systeme mit einer einzigen Achse oder einachsige optische Sy­ steme auch Abschirmungen oder Wände erfordern, um Interferenz von oder mit Streustrahlung zu minimieren. Demgemäß ist in ei­ ner bevorzugten Ausführungsform der Erfindung das einzige Stück oder Teil aus metallischem Material 48 mit einem integral aus­ gebildeten Abschirm-, Wand- oder Zwischenwandteil 51 versehen, welches zwischen der ersten reflektierenden Oberfläche 50 und den Rippenteilen 53 eingefügt ist, so daß es wenigstens teil­ weise das Auftreffen von Streustrahlung auf die reflektierenden Oberflächen verhindert.

Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist die Abtastanordnung 55 auch mit einem strukturellen Ab­ schirm- oder Wandteil 66 versehen, der vorzugsweise eine Dicke von weniger als 10 mm hat, und zwar so, daß das Auftreffen von Streustrahlung auf die Detektoren, die hier weiter unter in nä­ heren Einzelheiten beschrieben sind, verhindert wird.

Ein Strahlteiler 56, der typischer- oder vorzugsweise vom di­ chroitischen Typ ist, ist auf der Unterseite des einzelnen oder einzigen Stücks oder Teils aus metallischem Material 48 oder des einstückigen oder einteiligen metallischen Materials 48 am Brennpunkt 57 der sekundären reflektierenden Oberfläche 52 an­ gebracht. Der Strahlteiler 56 empfängt Strahlung, die von der sekundären reflektierenden Oberfläche 52 reflektiert worden ist, und definiert oder bildet zwei Ausgangsstrahlen oder -bün­ del 58 und 60. Der Strahl oder das Bündel 58 ist typischer­ bzw. vorzugsweise auf einen Infrarotdetektor 62 gerichtet, wäh­ rend der Strahl oder das Bündel 60 typischer- bzw. vorzugsweise auf einen im sichtbaren Spektrum arbeitenden Detektor 64 ge­ richtet ist, welcher vorzugsweise ein CCD-Detektor ist, welcher aber auch alternativ irgendein anderer geeigneter Detektor sein kann, wie beispielsweise ein Laserstrahldetektor. In einer Aus­ führungsform können die Detektoren 62 und 64 beide Infrarotde­ tektoren sein, die in unterschiedlichen Wellenlängenbereichen operativ oder empfindlich sind, wie beispielsweise 3-5 µm und 8-12 µm.

Es sei darauf hingewiesen, daß es die einheitliche Struktur der Einrichtung möglich macht, eine sehr genaue Positionierung der Detektoren mit Bezug auf die optische Achse, den Strahlteiler und die anderen optischen Elemente des Systems zu erzielen und zu erhalten.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung kann ei­ ner der Detektoren oder es können beide Detektoren ein einziger Detektor oder Einzeldetektor, ein Linien- oder Zeilendetektor oder ein Matrixdetektor sein, wie beispielsweise ein CCD-Detek­ tor, der im sichtbaren Bereich arbeitet, und ein Infrarotdetek­ tor, der im Bereich von 3-5 µm oder 8-12 µm arbeitet, und es kann jede geeignete Kombination der obigen Arten von Detek­ toren angewandt werden. Die Abtastanordnung 55 ist in einer Ab­ tastbetriebsweise operativ, wenn ein einziger Detektor oder Einzeldetektor oder ein Linien- oder Zeilendetektor bzw. je­ weils ein einziger Detektor oder Einzeldetektor oder ein Li­ nien- oder Zeilendetektor verwendet wird, und sie wird in einer arretierten oder verriegelten Betriebsweise gehalten, wenn ein Matrixdetektor bzw. jeweils ein Matrixdetektor angewandt oder verwendet wird.

Das System der Fig. 1 kann zur gleichzeitigen Detektion bei mehr als zwei Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen operativ sein, indem eine zusätzliche geeignete Strahlteilungseinrich­ tung vorgesehen wird. Alternativ kann das System so ausgebildet sein, daß es ein einziges Sichtfeld oder mehrere Sichtfelder ermöglicht, z. B. durch die Hinzufügung einer kleinen Linse oder Linsengruppe zwischen den Strahlteiler und einen der Detekto­ ren.

Eine erhöhte Abbildungsqualität kann durch das Hinzufügen von einer oder mehreren Korrekturlinsen (nicht gezeigt) entlang dem oder in den optischen Weg zwischen der reflektierenden Oberflä­ che 52 und den Detektoren 62 und 64 erzielt werden. Vorzugs­ weise sind die Korrekturlinsen aus Multispektral-Lichtbre­ chungsmaterial ausgebildet, das eine Übertragung oder Transmis­ sion von sowohl sichtbarer als auch von Infrarotstrahlung er­ möglicht, und die in der Größe bzw. den Abmessungen relativ zu der primären reflektierenden Oberfläche 50 klein sind.

Das einzige Stück oder Teil aus metallischem Material 48 oder das einstückige oder einteilige Metallmaterial 48 liefert oder bildet vorzugsweise auch ein geeignetes Gehäuse für die zusätz­ lichen elektronischen Komponenten, die mit der Erfindung ver­ bunden sind. Die Fig. 1 veranschaulicht das Gehäuse eines Rate- oder Geschwindigkeits- oder Positionssensors oder sonsti­ gen geeigneten Sensors 70, welcher für die Trägheitsstabilisie­ rung des Systems verwendet wird bzw. geeignet ist, und es ist außerdem zusätzlicher Raum 72 für andere Elemente verfügbar, wie beispielsweise Elektronikschaltplatten, -karten und/oder -tafeln, Vorverstärker für die Detektoren und andere elektro­ mechanische Einrichtungen, wie sie auf dem Fachgebiet bekannt sind.

Es sei nun auch noch auf Fig. 2 Bezug genommen, welche die äu­ ßere Konfiguration des Systems der Fig. 1 veranschaulicht. Es ist ersichtlich, daß eine oder mehrere Signalverarbeitungs- Elektronikplatten oder -tafeln 90 angemessen, vorteilhaft, be­ quem und kompakt auf dem einzigen Stück oder Teil aus metalli­ schem Material 48 oder dem einstückigen oder einteiligen metal­ lischem Material 48 angebracht sein können. Alternativ oder zu­ sätzlich kann das einstückige oder einteilige metallische Mate­ rial 48 dazu verwendet werden, das System fest oder ortsfest an anderen Strukturen (nicht gezeigt) anzubringen.

Die einheitliche metallische Struktur der Erfindung ermöglicht auch eine sehr präzise Positionierung, Stabilisierung, Balan­ cierung und/oder Ausrichtung bzw. Fluchtung des optischen Sy­ stems. Dieses wird mittels zweiter Präzisionslöcher 92 bewerk­ stelligt, welche in dem Basisteil der metallischen Struktur ausgebildet sind und welche Lager 94 für die Stabilisierung und Balancierung des Systems aufnehmen.

Es sei außerdem darauf hingewiesen, daß das optische System nach der vorliegenden Erfindung wegen seiner kompakten, ein­ heitlichen Struktur niedrig im Gewicht, athermisch (d. h. unemp­ findlich gegen Temperaturänderungen), erschütterungsfrei, elastisch und kompakt sowie stabil ist.

Selbstverständlich ist die Erfindung nicht auf die beschriebe­ nen und dargestellten Ausführungsformen beschränkt, sondern sie läßt sich vielmehr im Rahmen des Gegenstandes der Erfindung, wie er in den Patentansprüchen angegeben ist, sowie im Rahmen des allgemeinen Erfindungsgedankens, wie er sich aus der ge­ samten Offenbarung ergibt, in vielfältiger Weise abwandeln und mit Erfolg ausführen.

Mit der Erfindung wird ein multi-spektrales optisches Abbil­ dungssystem zur Verfügung gestellt, umfassend eine erste und zweite einander gegenüber angeordnete, reflektierende Oberflä­ che, die eine einzige optische Achse definieren, wobei die er­ ste reflektierenden Oberfläche integral auf einem einzigen Stück oder Teil aus metallischem Material ausgebildet ist, wo­ bei das einzige Stück oder Teil aus metallischem Material eine mittige Öffnung hat, durch welche sich die optische Achse er­ streckt, und eine Mehrzahl von langgestreckten Rippenteilen in­ tegral darauf ausgebildet ist, welche zwischen sich eine Mehr­ zahl von Öffnungen begrenzen, die mit der mittigen Öffnung in Verbindung stehen; und wobei die zweite reflektierende Oberflä­ che einen Brennpunkt auf der optischen Achse hat, wodurch Strahlung, die auf die erste reflektierende Oberfläche auf­ trifft, hiervon nach der zweiten reflektierenden Oberfläche zu reflektiert wird, und dann weiter von der zweiten reflektieren­ den Oberfläche nach dem Brennpunkt zu reflektiert wird; wobei ferner eine mit der zweiten reflektierenden Oberfläche verbun­ dene Abtasteinrichtung vorgesehen ist, welche bewirkt, daß die zweite reflektierende Oberfläche eine Abtastbewegung erfährt oder ausführt; und wobei eine Strahlteilungseinrichtung vorge­ sehen ist, welche Strahlung empfängt, die von der zweiten re­ flektierenden Oberfläche reflektiert worden ist; schließlich ist eine Mehrzahl von Detektoren vorgesehen, von denen jeder bei oder auf einer unterschiedlichen optischen Wellenlänge oder einem unterschiedlichen optischen Wellenlängenbereich operativ ist und Strahlung von der Strahlteilungseinrichtung empfängt.

Claims (23)

1. Multi-spektrales optisches Abbildungssystem, umfas­ send:
wenigstens eine erste und zweite gegenüberangeordnete re­ flektierende Oberfläche (50, 52), die eine einzige optische Achse (58) definieren;
wobei die erste reflektierende Oberfläche (50) integral auf ei­ nem einzigen Stück oder Teil (48) aus metallischem Material ausgebildet ist und eine mittige Öffnung (49) definiert, durch welche sich die optische Achse (58) erstreckt, wobei das ein­ zige Stück oder Teil (48) aus Material außerdem eine Mehrzahl von langgestreckten Rippenteilen (53) umfaßt, die darauf inte­ gral ausgebildet sind, wobei die Mehrzahl der langgestreckten Rippenteile (53) dazwischen eine Mehrzahl von Öffnungen defi­ niert, die mit der mittigen Öffnung (49) in Verbindung sind;
wobei die zweite reflektierende Oberfläche (52) einen Brenn­ punkt (57) definiert, der auf der optischen Achse (58) liegt, wodurch Strahlung, die auf die erste reflektierende Oberfläche (50) auftrifft, davon nach der zweiten reflektierenden Oberflä­ che (52) zu reflektiert und weiter von der zweiten reflektie­ renden Oberfläche (52) nach dem Brennpunkt (57) zu reflektiert wird;
eine mit der zweiten reflektierenden Oberfläche (52) verbundene Abtasteinrichtung (55) zum Bewirken, daß die zweite reflektie­ rende Oberfläche (52) eine Abtastbewegung erfährt oder aus­ führt;
eine Strahlteilungseinrichtung (56), welche von der zwei­ ten reflektierenden Oberfläche (52) reflektierte Strahlung emp­ fängt; und
eine Mehrzahl von Detektoren (62, 64), von denen jeder bei einer unterschiedlichen optischen Wellenlänge oder in einem un­ terschiedlichen optischen Wellenlängenbereich anspricht und Strahlung von der Strahlteilungseinrichtung (56) empfängt.

2. System nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die reflektierenden Oberflächen (50, 52) sphärisch sind.

3. System nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die reflektierenden Oberflächen (50, 52) asphärisch sind.

4. System nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß sowohl die erste als auch die zweite reflektierenden Oberfläche (50, 52) eine äußere Konfigu­ ration hat, die generell kreisförmig ist, wenn sie parallel zu der optischen Achse (58) projiziert wird, und daß der Durchmes­ ser der ersten reflektierenden Oberfläche (50) größer als der Durchmesser der zweiten reflektierenden Oberfläche (52) ist.

5. System nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das einzige Stück oder Teil (48) aus Material außerdem integral ausgebildet eine erste Wandeinrichtung (51) umfaßt, die zwischen der ersten reflektie­ renden Oberfläche (50) und den Rippenteilen (53) angeordnet ist, wobei die erste Wandeinrichtung (51) dahingehend wirksam ist, daß sie wenigstens teilweise das Auftreffen von Streu­ strahlung auf die reflektierenden Oberflächen (50, 52) verhin­ dert.

6. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich­ net, daß das System außerdem eine zweite Wandeinrichtung (66) aufweist, die integral mit der Abtasteinrichtung (55) aus­ gebildet ist, wobei die zweite Wandeinrichtung (66) dahingehend wirksam ist, daß sie wenigstens teilweise das Auftreffen von Streustrahlung auf die Detektoren (62, 64) verhindert.

7. System nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 6, da­ durch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrich­ tung (55) und die zweite reflektierende Oberfläche (52) inte­ gral ausgebildet sind.

8. System nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 7, da­ durch gekennzeichnet, daß irgendeiner der De­ tektoren (62, 64) irgendeiner der folgenden ist: ein Einzelele­ mentdetektor, ein Linien- oder Zeilendetektor, oder ein Matrix­ detektor.

9. System nach Anspruch 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Abtasteinrichtung (55) in einer Ab­ tastbetriebsweise ist, wenn ein Einzelelementdetektor oder ein Linien- oder Zeilendetektor verwendet oder angewandt wird, und in einer arretierten oder verriegelten Betriebsweise, wenn ein Matrixdetektor verwendet oder angewandt wird.

10. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich­ net, daß es wenigstens eine korrigierte Linse oder Linsen­ gruppe zwischen dem Strahlteiler (56) und wenigstens einem der Detektoren (72, 64) aufweist.

11. System nach Anspruch 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Abtasteinrichtung (55) in der Wand­ einrichtung (66) eingekapselt oder teilweise eingekapselt und von einer Dicke von weniger als 10 mm ist.

12. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich­ net, daß die Mehrzahl von Detektoren, welche die gleiche Optik teilen, unterschiedliche Sichtfelder haben.

13. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß wenigstens eine der reflektierenden Oberflächen (50, 52) durch Diamantdrehen ausgebildet ist.

14. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß wenigstens eine der reflektierenden Oberflächen (50, 52) eine reflektierende Überzugschicht hat, die durch Re­ plikation, Reproduktion oder Ablagerung ausgebildet ist.

15. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß das einzige Stück oder Teil (48) aus metallischem Material Aluminium oder Beryllium ist.

16. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß das einzige Stück oder Teil (48) aus Material ein Gehäuse für die Detektoren (62, 64) liefert oder bildet.

17. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß das System außerdem einen oder mehrere Rate-, Ge­ schwindigkeits- oder Positionssensoren oder einen oder mehrere sonstige Sensoren, welche an dem einzigen Stück oder Teil (48) aus Material befestigt sind, für die Trägheitsstabilisierung des Systems umfaßt.

18. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß es Elektronikplatten, -tafeln oder -karten (90) umfaßt, die an dem einzigen Stück oder Teil (48) aus Material befestigt sind.

19. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß das System außerdem eine Abtaster- oder Abtast­ einrichtungspositionierungseinrichtung (54) umfaßt, die an dem einzigen Stück oder Teil (48) aus Material befestigt ist.

20. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß das einzige Stück oder Teil (48) aus Material fest an oder auf einer stationären Basis angebracht ist.

21. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß das einzige Stück oder Teil (48) aus Material au­ ßerdem zwei Präzisionslöcher (92) und Lager (94) für die Balan­ cierung des Systems umfaßt.

22. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ins­ besondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß wenigstens einer aus der Mehrzahl von Detektoren (62, 64) für das Detektieren von Laserstrahlung wirksam ist.

23. System nach irgendeinem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das System ein Cassegrainsches System ist.