DE4305524C2 - Vorrichtung zum Entfernen von Ionen - Google Patents
Vorrichtung zum Entfernen von IonenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Entfernen
von Ionen in einem Elektronenspeicherring.
Fig. 7 zeigt einen Querschnitt der wesentlichen Teile
eines bekannten Elektronenspeicherrings, der beispiels
weise eingeführt wurde in den Berichten über das
6. Symposium über "Accelerator Science and Technology"
vom 27. bis 29. Oktober 1987 in Tokyo, Seite 265,
von Sugiyama und anderen. Fig. 7 zeigt einen Vakuumbe
hälter 1, eine im Vakuumbehälter 1 vorgesehene draht
artige Ionenentfernungs-Elektrode 2 zum Induzieren von
Elektronen und dadurch zum Herausbringen von
Ionen nach außerhalb des Ringes, um die Lebensdauer
der Elektronen im Vakuumbehälter 1 zu erhöhen,
einen Ablenkungs-Elektromagneten 3, der um den Vaku
umbehälter 1 herum vorgesehen ist zur Erzeugung eines
vertikal ausgerichteten Magnetfeldes, um Elektronen
in einer horizontalen Richtung abzulenken, Pfeile 4
zur Anzeige der Richtung des magnetischen Feldes und
Pfeile 5 zur Anzeige der Richtung eines elektrischen
Feldes. Der Elektronenspeicherring enthält weiterhin
einen Quadrupol-Elektromagneten, der um den Vakuumbe
hälter 1 herum vorgesehen ist, um die Elektronenbah
nen zu stabilisieren, und einen Hochfrequenz-Be
schleunigungsraum für die Beschleunigung von Elektro
nen, welche nicht dargestellt sind.
Bei dem wie vorbeschrieben angeordneten bekannten
Elektronenspeicherring wird, wenn eine Hochspannung
an die Ionenentfernungs-Elektrode 2 angelegt wird,
ein elektrisches Feld in der durch die Pfeile 5 ange
zeigten Richtung erzeugt. Wegen der erzeugten elek
trischen und magnetischen Felder führen die Ionen im
mittleren Bereich eine Abwanderungsbewegung durch.
Die Abwanderungsbewegung ist senkrecht zur Zeich
nungsebene zur Betrachterseite hin gerichtet, wodurch
sie nach außerhalb des Ablenkungs-Elektromagneten 3
bewegt werden.
Jedoch ist bei einem Elektronenspeicherring mit einer
rennbahnförmigen Gestalt der Strahldurchmesser in
horizontaler Richtung ein Minimum in der Nähe der
Mitte des Ablenkungs-Elektromagneten, der den Ring
über 180° umgibt. Im allgemeinen ist die Position, an
der der Strahldurchmesser ein Minimum ist, dort, wo
das Potential gesehen von den Ionen aus am niedrig
sten ist, und die Ionen werden durch das Potential
dort gefangen. Fig. 8 enthält ein Diagramm, das das
von den im Speicherring zirkulierenden geladenen
Teilchen erzeugte Potential zeigt. In Fig. 8 stellen
die Abszisse den Abstand in der axialen Richtung ei
nes Strahls und die Ordinate das Potential dar. Wie
aus Fig. 8 ersichtlich ist, ist das Potential gesehen
von den Ionen aus in der Nähe der Mitte des Ablen
kungs-Elektromagneten, der den Ring über 180° umgibt,
am geringsten. Ionen werden in dieser Position gefan
gen.
Somit ist es für die in Fig. 7 gezeigte Ionenentfer
nungs-Elektrode 2 unmöglich, die gefangenen Ionen
außerhalb des Ablenkungs-Elektromagneten 3 zu brin
gen.
Daher wurde die in Fig. 9 gezeigte Vorrichtung zum
Entfernen von Ionen vorgeschlagen. Diese Vorrichtung
wurde in "High Energy Accelerator Seminar", veröf
fentlicht von der "High-Energy Physics Association",
Nr. VI, Seite 17, beschrieben. In Fig. 9 sind eine
Ionenentfernungs-Elektrode 6, ein Vakuumbehälter 7
und ein Elektronenstrahl 8 gezeigt.
Bei der in der vorbeschriebenen Weise angeordneten
Vorrichtung zum Entfernen von Ionen wird, wenn die
vom Potential des Elektronenstrahls 8 gefangenen Io
nen sich in der Nähe der Vorrichtung zum Entfernen
von Ionen befinden, eine Spannung von mehreren hun
dert Volt an die Ionenentfernungs-Elektroden 6 ge
legt. Demgemäß bewegen sich die Ionen im den Elektro
nenspeicherring bildenden Vakuumbehälter 7 vom Poten
tial des Elektronenstrahls 8 weg zu den Ionen
entfernungs-Elektroden 6 hin. Diese Ionen verschwin
den an den Ionenentfernungs-Elektroden 6. Auf diese
Weise können die Ionen im Elektronenspeicherring ent
fernt werden.
Jedoch ist es schwierig die Ionenentfernungs-Elektro
den 6 in der Weise vorzusehen, daß sie in der Mitte
des Ablenkungs-Elektromagneten in vertikaler Richtung
getrennt sind, wie in Fig. 9 gezeigt ist, da der Be
reich des Vakuumbehälters 7, der sich im Ablenkbe
reich befindet, im allgemeinen als eine Einheit her
gestellt wird, um ein sehr hohes Vakuum zu er
halten. Da der Durchmesser des Elektronenstrahls in
vertikaler Richtung in der Mitte des Ablenkbereichs
maximal ist, kann weiterhin die Anordnung der Ionen
entfernungs-Elektroden 6 in der vertikalen Richtung
eine stabile Zirkulation des Elektronenstrahls ver
hindern. Wenn die Ionenentfernungs-Elektroden 6 in
vertikaler Richtung vorgesehen sind, kann auch, da
die Elektroden nahe des Elektronenstrahls angeordnet
sind, eine stabile Zirkulation des Elektronenstrahls
aufgrund des vom Elektronenstrahl erzeugten Nachlaufs
verhindert werden.
Um die vorbeschriebenen Probleme zu beseitigen, kön
nen die Ionenentfernungs-Elektroden 6 in der Weise
angeordnet sein, daß sie in horizontaler Richtung des
Vakuumbehälters 7 voneinander getrennt sind. In die
sem Fall jedoch können, wenn ein elektrisches Feld in
horizontaler Richtung im starken magnetischen Feld
des Ablenkungs-Elektromagneten erzeugt wird, um die
Ionen zu entfernen, die Ionen eine Abwanderungsbewe
gung in axialer Richtung des Strahls vollführen, je
doch nicht wirksam entfernt werden.
Bei der vorbeschriebenen bekannten Vorrichtung zum
Entfernen von Ionen wird, da die Ionenentfernungs-
Elektroden 6 im Vakuumbehäler 7 in vertikaler Richtung
angeordnet sind, die vertikale Öffnung der Bahn des
Elektronenstrahls verengt, wodurch eine stabile Zirku
lation der Elektronen unmöglich gemacht wird.
Weiterhin ist der Bereich des Vakuumbehälters 7, der im
Ablenkungs-Elektromagneten angeordnet ist, als eine
Einheit hergestellt, um ein sehr hohes Vakuum zu
erhalten. Es ist daher schwierig, die Ionenentfernungs-
Elektroden 6 im Ablenkungs-Elektromagneten in einer
solchen Weise fest zu montieren, daß sie in vertikaler
Richtung voneinander getrennt sind. Wenn die Ionenent
fernungs-Elektroden 6 so vorgesehen sind, daß sie sich
über 180° erstrecken, können sie am Auslaß der beiden
Enden des Ablenkungs-Elektromagneten befestigt werden.
Jedoch ist es unmöglich, die Ionenentfernungs-Elektro
den 6 im Innern des Ablenkungs-Elektromagneten in des
sen mittlerem Bereich zu befestigen, und dies macht es
unmöglich, die Position der Ionenentfernungs-Elektroden
im Ablenkungs-Elektromagneten zu bestimmen, nachdem
der Ablenkungs-Elektromagnet eingesetzt wurde.
Die Veröffentlichung "Ion-Trapping and Clearing",
A. Poncet, CAS Cern Accelerater School, Third Advanced
Accelerator Physics Course, Uppsala University, Schwe
den, 18.-19. September 1989, veröffentlicht unter
CERN 90-04 am 24. April 1990, Seiten 74-98, offenbart
verschiedene Verfahren zum Entfernen von Ionen in einem
Elektronenspeicherring mittels dafür vorgesehener Elek
troden.
In der Veröffentlichung "Ion-Clearing System of UVSOR
Storage Ring", T. Kasuga, Jap. Journal of Applied
Physics, Vol. 25, No. 11, Nov. 1986, Sn. 1711-1716,
wird ein System aus DC und RF Elektroden verwendet, um
gefangene Ionen in einem Speicherring zu entfernen.
Dabei werden durch die RF Anregung die vertikalen Beta
tron-Oszillationen des Elektronenstrahls angeregt, so
daß die Amplitude der Ionenbewegung groß wird und da
durch ein durch eine Gleichspannung an den Ionenentfer
nungs-Elektroden hervorgerufenes elektrisches Feld ver
mindert werden kann. Durch die von außen angeregten
Betatron-Oszillationen wird die Breite des Elektronen
strahls vergrößert, um die Ionen zu entfernen, wodurch
jedoch der Elektronenstrahl in einen instabilen Zustand
gebracht wird.
In "Dynamical analysis on the longitudinal motion of
trapped ions in an electron storage ring", Y. Miyahara,
K. Takayama, G. Horikoshi, Nuclear Instruments and
Methods in Physics Research, A270 (1988), Sn. 217-225,
wird über Untersuchungen berichtet, die bestätigten,
daß die Driftgeschwindigkeit in einem Ablenkfeld B auf
grund der E × B Kraft sehr schnell sein kann, d. h. die
Driftgeschwindigkeit wird durch das Vektorprodukt des
Ablenkmagnetfeldes und des durch den Elektronenstrahl
erzeugten elektrischen Feldes bestimmt.
Es ist demgemäß die Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Vorrichtung zum Entfernen von Ionen vorzusehen,
die in der Lage ist, Ionen wirksam zu entfernen, ohne
die vertikale Öffnung des Elektronenstrahls zu veren
gen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale
des Hauptanspruchs gelöst.
Durch die in den Unteransprüchen angegebenen Maßnahmen
sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen
möglich.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von in den
Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die Draufsicht auf die Umgebung eines
Ablenkbereichs eines Elektronenspei
cherrings mit einer darin angeordneten
Vorrichtung zum Entfernen von Ionen
gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel
der Erfindung,
Fig. 2 eine Illustration, wie ein Ion beim
ersten Ausführungsbeispiel induziert
wird,
Fig. 3 die Draufsicht auf eine Elektronenin
duktions-Elektrode nach dem ersten
Ausführungsbeispiel,
Fig. 4 einen Querschnitt durch die am Vakuum
behälter befestigte Ioneninduktions-
Elektrode nach dem ersten Ausführungs
beispiel,
Fig. 5 eine Perspektivansicht der wesentli
chen Teile des Elektronenspeicherrings
nach einem zweiten Ausführungsbeispiel
der Erfindung,
Fig. 6 eine teilweise geschnittene Vorderan
sicht eines beim zweiten Ausführungs
beispiel verwendeten Impuls-Elektroma
gneten,
Fig. 7 eine Querschnittsansicht der wesentli
chen Teile eines bekannten Elektronen
speicherrings,
Fig. 8 ein Diagramm des von geladenen Teil
chen gebildeten Potentials, die im
Elektronenspeicherring zirkulieren,
und
Fig. 9 eine Querschnittsansicht einer bekann
ten Vorrichtung zum Entfernen von Io
nen.
Fig. 1 zeigt den Abschnitt eines Elektronenspeicher
rings, der sich in der Nähe des Ablenkbereichs befin
det, gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfin
dung. Eine Ioneninduktions-Elektrode 11 ist in einem
Vakuumbehälter 14 über den gesamten Ablenkbereich des
Elektronenspeicherrings vorgesehen. Die Ioneninduk
tions-Elektrode 11 ist entlang des Vakuumbehälters 14
auf dessen peripherer Innenseite angeordnet. Weiter
hin sind Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b im
unteren Abschnitt des Vakuumbehälters 14 am Einlaß
und Auslaß des Ablenkbereichs vorgesehen. Die Ionen
induktions-Elektrode 11 und die Ionenentfernungs-
Elektroden 12a und 12b sind sämtlich mit einer Hoch
spannungsquelle 13 verbunden. Der Vakuumbehälter 14
ist geerdet.
Es wird nun die Arbeitsweise
beschrieben. Es wird angenommen, daß Ionen
durch das vom Elektronenstrahl im Ablenkbereich er
zeugte Potential dort, wo der (nicht gezeigte) Ablen
kungs-Elektromagnet vorgesehen ist, gefangen werden.
Zuerst wird von der Hochspannungsquelle 13 eine
Gleichspannung von etwa 10 kV an die Ioneninduktions-
Elektrode 11 angelegt, um ein elektrisches Feld in
dem Abschnitt des Vakuumbehälters 14 zu erzeugen, der
sich in der Nähe des Ablenkbereichs befindet. Diese
Gleichspannung wird auch an die Ionenentfernungs-
Elektroden 12a und 12b angelegt.
Wie die Ionen durch ein von der Ioneninduktions-Elek
trode 11 gebildetes elektrisches Feld E induziert
werden, ist in Fig. 2 gezeigt. Ein Ion E vollführt
eine Abwanderungsbewegung E × B aufgrund der Einwir
kung sowohl des elektrischen Feldes E und des vom
Ablenkungs-Elektromagneten erzeugten magnetischen
Feldes B, und wird auf diese Weise in einer axialen
Richtung A der Elektronenbahn induziert. Das Ion I,
das zum Endabschnitt des Ablenkbereichs induziert
wurde, wird von den Ionenentfernungs-Elektroden 12a
und 12b entfernt, welche sich im unteren Abschnitt
des Vakuumbehälters 11 befinden.
Somit können die
durch das Potential des Elektronenstrahls gefangenen
Ionen wirksam entfernt werden, indem ein elektrisches
Feld von der Ioneninduktions-Elektrode 11 in dem Ab
schnitt des Vakuumbehälters 14, der sich in der Nähe
des Ablenkbereichs befindet, erzeugt wird.
Da es hierbei nicht erforder
lich ist, die Ionenentfernungs-Elektroden in dem Ab
schnitt des Vakuumbehälters, der sich in der Nähe des
Ablenkbereichs befindet, in senkrechter Richtung an
zuordnen, so wie es bei der bekannten Vorrichtung der
Fall ist, kann der Elektronenstrahl stabil bewegt
werden ohne Verengung der Öffnung.
Da weiterhin die Ioneninduktions-Elektrode 11 und die
Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b elektrisch
miteinander verbunden sind, so daß eine Spannung von
einer einzigen Hochspannungsquelle 13 an sie angelegt
werden kann, können die Kosten für die Vorrichtung
niedrig gehalten werden.
Die Ausbildung der
verwendeten Ioneninduktions-Elektrode 11 wird nach
folgend näher beschrieben. Wie in Fig. 3 gezeigt ist,
besteht die Ioneninduktions-Elektrode 11 aus kupfernen
oder korrosionsbeständigen Drähten, von denen jeder
eine Querschnittsfläche von wenigen mm2 hat und die
beispielsweise in der Form eines Gitters miteinander
verbunden sind. Es ist nicht immer erforderlich,
Drähte zu verwenden. Wenn jedoch Drähte benutzt wer
den, kann das Gewicht der Ioneninduktions-Elektrode
11 reduziert werden und ihre Herstellung kann auf
einfache Weise erfolgen. Eine Mehrzahl von Befesti
gungsgliedern 15 aus elektrisch isolierendem Materi
al. beispielsweise Keramik, ist auf die Drähte aufge
bracht, um eine Befestigung der Ioneninduktions-Elek
trode 11 an der Innenwand des Vakuumbehälters 14 zu
ermöglichen und eine elektrische Isolierung zwischen
den Drähten, an die von der Hochspannungsquelle 13
eine Hochspannung angelegt ist, und dem Vakuumbehäl
ter 14 herzustellen.
Wie in Fig. 4 gezeigt ist, ist jedes der Befesti
gungsglieder 15 an der Oberfläche der peripheren In
nenwand des Abschnitts des Vakuumbehälters 14, der
sich im Ablenkbereich befindet, befestigt. Wenn ein
Elektronenspeicherring hergestellt wird, wird, nach
dem der Abschnitt des Vakuumbehälters 14, der sich im
Ablenkbereich befindet, fertiggestellt wurde, die
Ioneninduktions-Elektrode 11 von der Öffnung des Ab
lenkbereichs her in den Vakuumbehälter 14 eingesetzt
und wird dann von den beiden Öffnungen des Ablenkbe
reichs aus gezogen, um die Befestigungsglieder 15
gegen die periphere Innenwand des Vakuumbehälters 14
zu drücken. Danach wird die Ioneninduktions-Elektrode
11 an den beiden Öffnungen des Ablenkbereichs mit dem
Vakuumbehälter 14 verbunden.
Da die Verbindung der Ioneninduktions-Elektrode 11
mit dem Vakuumbehälter 14 nur an den beiden Öffnungen
des Ablenkbereichs erfolgt und da die Drähte der Io
neninduktions-Elektrode 11 mit den dazwischenliegen
den Befestigungsgliedern 15 im Ablenkbereich gegen
die periphere Innenwand des Vakuumbehälters 14 ge
drückt werden, wird die Montage und Befestigung der
Elektrode 11 vereinfacht.
Zusätzlich sind die Ecken jedes der Befestigungsglie
der 15 abgerundet. Dadurch wird der Kriechabstand
zwischen der Ioneninduktions-Elektrode 11 und dem
Vakuumbehälter 14 erhöht, wodurch das Auftreten von
Entladungen zwischen diesen Teilen verhindert wird.
Eine Elektrode in Form einer Metallplatte kann für
die Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b verwendet
werden. Alternativ können die Ionenentfernungs-Elek
troden 12a und 12b wie die Ioneninduktions-Elektrode
11 aus Draht hergestellt sein. Die Ionenentfernungs-
Elektroden 12a und 12b können auch im oberen Ab
schnitt des Vakuumbehälters 14 an den Öffnungen des
Ablenkbereichs angeordnet sein.
Fig. 5 zeigt die wesentlichen Teile einer Weiterbildung
der Erfindung. Ein Ablenkungs-Elektromagnet 23 ist im
Ablenkbereich des Rings vorgesehen und eine aus Draht
bestehende Ioneninduktions-Elektrode 22 ist in dem
Abschnitt eines Vakuumbehälters 21 angeordnet, der
sich im Ablenkbereich befindet. Die Ioneninduktions-
Elektrode 22 erstreckt sich entlang des Vakuumbehäl
ters 21. Ein Impuls-Elektromagnet 26 ist in der Nähe
des Endabschnitts des Ablenkbereichs vorgesehen, der
art, daß er den Vakuumbehälter 21 umschließt. Eine Hochspannungsquelle 24 ist
mit der Ioneninduktions-
Elektrode 22 und eine Stromquelle 25 mit dem Impuls-Elektromagnet 26 verbun
den.
Wie in Fig. 6 gezeigt ist, weist der Impuls-Elektro
magnet 26 ein fensterrahmenartiges ferromagnetisches
Teil 26a, das den Vakuumbehälter 21 umgibt, eine um
den oberen Abschnitt des ferromagnetischen Teils 26a
gewundene erste Spule 26b und eine um dessen unteren
Abschnitt gewundene zweite Spule 26c auf.
Die Arbeitsweise
wird nachfolgend beschrieben. Es wird ein elektri
sches Feld im Vakuumbehälter 21 erzeugt, indem von
der Hochspannungsquelle 24 eine Hochspannung an der Ione
ninduktions-Elektrode 22 angelegt wird, die in dem
Abschnitt des Vakuumbehälters 21 vorgesehen ist, der
sich im Ablenkbereich befindet. Ionen führen eine
Abwanderungsbewegung E × B durch aufgrund der Einwir
kung sowohl des elektrischen Feldes und eines vom
Ablenkungs-Elektromagneten 23 erzeugten magnetischen
Feldes und werden so in der axialen Richtung der
Elektronenstrahlbahn induziert. Jedoch kann im Ab
lenkbereich eine Mulde des von den Elektronen erzeug
ten Potentials gebildet werden und Ionen können in
dieser Mulde gefangen werden. Die Bildung der Mulde
hängt ab von der Gestalt des Ablenkungs-Elektromagne
ten 23.
Es wird daher ein impulsartiger Erregerstrom von der Stromquelle
25 zu der ersten und der zweiten Spu
le 26b und 26c des Impuls-Elektromagneten 26 gelie
fert, um ein magnetisches Feld zu erzeugen, das durch
die Pfeile C in Fig. 6 gezeigt ist. Demgemäß wird die
Bahn eines Elektronenstrahls 27 in der Darstellung
nach Fig. 6 impulsartig nach oben abgelenkt und da
durch näher zur Oberfläche der Innenwand des Vakuum
behälters 21 bewegt. Das heißt, es wird eine Mulde
des vom Elektronenstrahl 27 erzeugten Potentials
nicht im Ablenkbereich, sondern in dessen Nähe gebil
det: im Ablenkbereich, wo der Ablenkungs-Elektroma
gnet 23 angeordnet ist, wird das Potential auf einen
Scheitelwert angehoben. Daher führen die im Ablenkbe
reich gefangenen Ionen eine Abwanderungsbewegung E ×
B durch aufgrund der Einwirkung des von der Ionenin
duktions-Elektrode 22 erzeugten elektrischen Feldes
und des vom Ablenkungs-Elektromagneten 23 erzeugten
magnetischen Feldes, und sie werden auf diese Weise
induziert und wirksam außerhalb des Ablenkbereichs
gebracht.
Wenn der von der Stromquelle 25 zum Impuls-Elek
tromagneten 26 gelieferte Erregerstrom umgekehrt
wird, wird die Bahn des Elektronenstrahls 27 in Fig.
6 nach unten abgelenkt und somit zur Oberfläche der
Innenwand des Vakuumbehälters 21 hin bewegt.
Es kann ein impulsartiger Erregerstrom zyklisch von
der Stromquelle 25 zum Impuls-Elektromagneten 26
geliefert werden.
Claims (7)
1. Vorrichtung zum Entfernen von Ionen in einem Vaku
umbehälter eines Elektronenspeicherrings, mit
einer Ioneninduktions-Elektrode (11), die in einem Ablenkbereich des Elektronenspeicherrings entlang einer peripheren Innenwand des Vakuumbehälters (14) innerhalb von diesem vorgesehen ist und die in dem Ablenkbereich gefangenen Ionen in Richtung auf den Einlaß und den Auslaß des Ablenkbereichs in Bewegung versetzt,
jeweils einer Ionenentfernungs-Elektrode (12a, 12b) innerhalb des Vakuumbehälters (14) in der Nähe des Einlasses und des Auslasses des Ablenkbereichs des Elektronenspeicherrings, und
einer Hochspannungsquelle (13) zum Anlegen einer Gleichspannung sowohl an die Ioneninduktions-Elek trode (11) als auch an die Ionenentfernungs-Elek troden (12a, 12b).
einer Ioneninduktions-Elektrode (11), die in einem Ablenkbereich des Elektronenspeicherrings entlang einer peripheren Innenwand des Vakuumbehälters (14) innerhalb von diesem vorgesehen ist und die in dem Ablenkbereich gefangenen Ionen in Richtung auf den Einlaß und den Auslaß des Ablenkbereichs in Bewegung versetzt,
jeweils einer Ionenentfernungs-Elektrode (12a, 12b) innerhalb des Vakuumbehälters (14) in der Nähe des Einlasses und des Auslasses des Ablenkbereichs des Elektronenspeicherrings, und
einer Hochspannungsquelle (13) zum Anlegen einer Gleichspannung sowohl an die Ioneninduktions-Elek trode (11) als auch an die Ionenentfernungs-Elek troden (12a, 12b).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Ioneninduktions-Elektrode (11) aus
Draht gebildet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Ioneninduktions-Elektrode (11) durch
Verbinden von Draht in Form eines Gitters gebildet
ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß eine Mehrzahl von Befestigungsgliedern
(15) auf dem die Ioneninduktions-Elektrode (11)
bildenden Draht befestigt ist, um eine elektrische
Isolierung zwischen dem Draht und dem Vakuumbehäl
ter (14) herzustellen und den Draht am Vakuumbe
hälter zu befestigen.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich
net, daß zwei Enden der Ioneninduktions-Elektrode
(11) an dem Einlaß und Auslaß des Ablenkbereichs
des Elektronenspeicherrings am Vakuumbehälter (14)
befestigt sind, wodurch die Ioneninduktions-Elek
trode (11) innerhalb des Ablenkbereichs mit den
dazwischenliegenden Befestigungsgliedern (15) ge
gen die periphere Innenwand des Vakuumbehälters
(14) gedrückt wird.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
gekennzeichnet durch
einen Impuls-Elektromagneten (26), der den Vakuum
behälter (21) in der Nähe eines Endabschnitts des
Ablenkbereichs des Elektronenspeicherrings umgibt,
um impulsartig eine Elektronenbahn im Vakuumbehäl
ter (21) abzulenken, und
eine Stromquelle (25) zum Liefern ei
nes impulsartigen Erregerstroms zum Impuls-Elektromagneten (26).
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich
net, daß der Impuls-Elektromagnet (26) ein fen
sterrahmenartiges ferromagnetisches Teil (26a),
das den Vakuumbehälter (21) umgibt, sowie eine
erste (26b) und eine zweite (26c) Spule, die um
einen oberen bzw. unteren Abschnitt des ferroma
gnetischen Teils (26a) gewunden sind, aufweist.
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DE4305524A1 (en) | 1993-08-19 |
US5457361A (en) | 1995-10-10 |
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