DE4305524C2 - Vorrichtung zum Entfernen von Ionen - Google Patents

Vorrichtung zum Entfernen von Ionen

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Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Entfernen von Ionen in einem Elektronenspeicherring.
Fig. 7 zeigt einen Querschnitt der wesentlichen Teile eines bekannten Elektronenspeicherrings, der beispiels­ weise eingeführt wurde in den Berichten über das 6. Symposium über "Accelerator Science and Technology" vom 27. bis 29. Oktober 1987 in Tokyo, Seite 265, von Sugiyama und anderen. Fig. 7 zeigt einen Vakuumbe­ hälter 1, eine im Vakuumbehälter 1 vorgesehene draht­ artige Ionenentfernungs-Elektrode 2 zum Induzieren von Elektronen und dadurch zum Herausbringen von Ionen nach außerhalb des Ringes, um die Lebensdauer der Elektronen im Vakuumbehälter 1 zu erhöhen, einen Ablenkungs-Elektromagneten 3, der um den Vaku­ umbehälter 1 herum vorgesehen ist zur Erzeugung eines vertikal ausgerichteten Magnetfeldes, um Elektronen in einer horizontalen Richtung abzulenken, Pfeile 4 zur Anzeige der Richtung des magnetischen Feldes und Pfeile 5 zur Anzeige der Richtung eines elektrischen Feldes. Der Elektronenspeicherring enthält weiterhin einen Quadrupol-Elektromagneten, der um den Vakuumbe­ hälter 1 herum vorgesehen ist, um die Elektronenbah­ nen zu stabilisieren, und einen Hochfrequenz-Be­ schleunigungsraum für die Beschleunigung von Elektro­ nen, welche nicht dargestellt sind.
Bei dem wie vorbeschrieben angeordneten bekannten Elektronenspeicherring wird, wenn eine Hochspannung an die Ionenentfernungs-Elektrode 2 angelegt wird, ein elektrisches Feld in der durch die Pfeile 5 ange­ zeigten Richtung erzeugt. Wegen der erzeugten elek­ trischen und magnetischen Felder führen die Ionen im mittleren Bereich eine Abwanderungsbewegung durch. Die Abwanderungsbewegung ist senkrecht zur Zeich­ nungsebene zur Betrachterseite hin gerichtet, wodurch sie nach außerhalb des Ablenkungs-Elektromagneten 3 bewegt werden.
Jedoch ist bei einem Elektronenspeicherring mit einer rennbahnförmigen Gestalt der Strahldurchmesser in horizontaler Richtung ein Minimum in der Nähe der Mitte des Ablenkungs-Elektromagneten, der den Ring über 180° umgibt. Im allgemeinen ist die Position, an der der Strahldurchmesser ein Minimum ist, dort, wo das Potential gesehen von den Ionen aus am niedrig­ sten ist, und die Ionen werden durch das Potential dort gefangen. Fig. 8 enthält ein Diagramm, das das von den im Speicherring zirkulierenden geladenen Teilchen erzeugte Potential zeigt. In Fig. 8 stellen die Abszisse den Abstand in der axialen Richtung ei­ nes Strahls und die Ordinate das Potential dar. Wie aus Fig. 8 ersichtlich ist, ist das Potential gesehen von den Ionen aus in der Nähe der Mitte des Ablen­ kungs-Elektromagneten, der den Ring über 180° umgibt, am geringsten. Ionen werden in dieser Position gefan­ gen.
Somit ist es für die in Fig. 7 gezeigte Ionenentfer­ nungs-Elektrode 2 unmöglich, die gefangenen Ionen außerhalb des Ablenkungs-Elektromagneten 3 zu brin­ gen.
Daher wurde die in Fig. 9 gezeigte Vorrichtung zum Entfernen von Ionen vorgeschlagen. Diese Vorrichtung wurde in "High Energy Accelerator Seminar", veröf­ fentlicht von der "High-Energy Physics Association", Nr. VI, Seite 17, beschrieben. In Fig. 9 sind eine Ionenentfernungs-Elektrode 6, ein Vakuumbehälter 7 und ein Elektronenstrahl 8 gezeigt.
Bei der in der vorbeschriebenen Weise angeordneten Vorrichtung zum Entfernen von Ionen wird, wenn die vom Potential des Elektronenstrahls 8 gefangenen Io­ nen sich in der Nähe der Vorrichtung zum Entfernen von Ionen befinden, eine Spannung von mehreren hun­ dert Volt an die Ionenentfernungs-Elektroden 6 ge­ legt. Demgemäß bewegen sich die Ionen im den Elektro­ nenspeicherring bildenden Vakuumbehälter 7 vom Poten­ tial des Elektronenstrahls 8 weg zu den Ionen­ entfernungs-Elektroden 6 hin. Diese Ionen verschwin­ den an den Ionenentfernungs-Elektroden 6. Auf diese Weise können die Ionen im Elektronenspeicherring ent­ fernt werden.
Jedoch ist es schwierig die Ionenentfernungs-Elektro­ den 6 in der Weise vorzusehen, daß sie in der Mitte des Ablenkungs-Elektromagneten in vertikaler Richtung getrennt sind, wie in Fig. 9 gezeigt ist, da der Be­ reich des Vakuumbehälters 7, der sich im Ablenkbe­ reich befindet, im allgemeinen als eine Einheit her­ gestellt wird, um ein sehr hohes Vakuum zu er­ halten. Da der Durchmesser des Elektronenstrahls in vertikaler Richtung in der Mitte des Ablenkbereichs maximal ist, kann weiterhin die Anordnung der Ionen­ entfernungs-Elektroden 6 in der vertikalen Richtung eine stabile Zirkulation des Elektronenstrahls ver­ hindern. Wenn die Ionenentfernungs-Elektroden 6 in vertikaler Richtung vorgesehen sind, kann auch, da die Elektroden nahe des Elektronenstrahls angeordnet sind, eine stabile Zirkulation des Elektronenstrahls aufgrund des vom Elektronenstrahl erzeugten Nachlaufs verhindert werden.
Um die vorbeschriebenen Probleme zu beseitigen, kön­ nen die Ionenentfernungs-Elektroden 6 in der Weise angeordnet sein, daß sie in horizontaler Richtung des Vakuumbehälters 7 voneinander getrennt sind. In die­ sem Fall jedoch können, wenn ein elektrisches Feld in horizontaler Richtung im starken magnetischen Feld des Ablenkungs-Elektromagneten erzeugt wird, um die Ionen zu entfernen, die Ionen eine Abwanderungsbewe­ gung in axialer Richtung des Strahls vollführen, je­ doch nicht wirksam entfernt werden.
Bei der vorbeschriebenen bekannten Vorrichtung zum Entfernen von Ionen wird, da die Ionenentfernungs- Elektroden 6 im Vakuumbehäler 7 in vertikaler Richtung angeordnet sind, die vertikale Öffnung der Bahn des Elektronenstrahls verengt, wodurch eine stabile Zirku­ lation der Elektronen unmöglich gemacht wird.
Weiterhin ist der Bereich des Vakuumbehälters 7, der im Ablenkungs-Elektromagneten angeordnet ist, als eine Einheit hergestellt, um ein sehr hohes Vakuum zu erhalten. Es ist daher schwierig, die Ionenentfernungs- Elektroden 6 im Ablenkungs-Elektromagneten in einer solchen Weise fest zu montieren, daß sie in vertikaler Richtung voneinander getrennt sind. Wenn die Ionenent­ fernungs-Elektroden 6 so vorgesehen sind, daß sie sich über 180° erstrecken, können sie am Auslaß der beiden Enden des Ablenkungs-Elektromagneten befestigt werden. Jedoch ist es unmöglich, die Ionenentfernungs-Elektro­ den 6 im Innern des Ablenkungs-Elektromagneten in des­ sen mittlerem Bereich zu befestigen, und dies macht es unmöglich, die Position der Ionenentfernungs-Elektroden im Ablenkungs-Elektromagneten zu bestimmen, nachdem der Ablenkungs-Elektromagnet eingesetzt wurde.
Die Veröffentlichung "Ion-Trapping and Clearing", A. Poncet, CAS Cern Accelerater School, Third Advanced Accelerator Physics Course, Uppsala University, Schwe­ den, 18.-19. September 1989, veröffentlicht unter CERN 90-04 am 24. April 1990, Seiten 74-98, offenbart verschiedene Verfahren zum Entfernen von Ionen in einem Elektronenspeicherring mittels dafür vorgesehener Elek­ troden.
In der Veröffentlichung "Ion-Clearing System of UVSOR Storage Ring", T. Kasuga, Jap. Journal of Applied Physics, Vol. 25, No. 11, Nov. 1986, Sn. 1711-1716, wird ein System aus DC und RF Elektroden verwendet, um gefangene Ionen in einem Speicherring zu entfernen. Dabei werden durch die RF Anregung die vertikalen Beta­ tron-Oszillationen des Elektronenstrahls angeregt, so daß die Amplitude der Ionenbewegung groß wird und da­ durch ein durch eine Gleichspannung an den Ionenentfer­ nungs-Elektroden hervorgerufenes elektrisches Feld ver­ mindert werden kann. Durch die von außen angeregten Betatron-Oszillationen wird die Breite des Elektronen­ strahls vergrößert, um die Ionen zu entfernen, wodurch jedoch der Elektronenstrahl in einen instabilen Zustand gebracht wird.
In "Dynamical analysis on the longitudinal motion of trapped ions in an electron storage ring", Y. Miyahara, K. Takayama, G. Horikoshi, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A270 (1988), Sn. 217-225, wird über Untersuchungen berichtet, die bestätigten, daß die Driftgeschwindigkeit in einem Ablenkfeld B auf­ grund der E × B Kraft sehr schnell sein kann, d. h. die Driftgeschwindigkeit wird durch das Vektorprodukt des Ablenkmagnetfeldes und des durch den Elektronenstrahl erzeugten elektrischen Feldes bestimmt.
Es ist demgemäß die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zum Entfernen von Ionen vorzusehen, die in der Lage ist, Ionen wirksam zu entfernen, ohne die vertikale Öffnung des Elektronenstrahls zu veren­ gen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des Hauptanspruchs gelöst.
Durch die in den Unteransprüchen angegebenen Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen möglich.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die Draufsicht auf die Umgebung eines Ablenkbereichs eines Elektronenspei­ cherrings mit einer darin angeordneten Vorrichtung zum Entfernen von Ionen gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 2 eine Illustration, wie ein Ion beim ersten Ausführungsbeispiel induziert wird,
Fig. 3 die Draufsicht auf eine Elektronenin­ duktions-Elektrode nach dem ersten Ausführungsbeispiel,
Fig. 4 einen Querschnitt durch die am Vakuum­ behälter befestigte Ioneninduktions- Elektrode nach dem ersten Ausführungs­ beispiel,
Fig. 5 eine Perspektivansicht der wesentli­ chen Teile des Elektronenspeicherrings nach einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 6 eine teilweise geschnittene Vorderan­ sicht eines beim zweiten Ausführungs­ beispiel verwendeten Impuls-Elektroma­ gneten,
Fig. 7 eine Querschnittsansicht der wesentli­ chen Teile eines bekannten Elektronen­ speicherrings,
Fig. 8 ein Diagramm des von geladenen Teil­ chen gebildeten Potentials, die im Elektronenspeicherring zirkulieren, und
Fig. 9 eine Querschnittsansicht einer bekann­ ten Vorrichtung zum Entfernen von Io­ nen.
Fig. 1 zeigt den Abschnitt eines Elektronenspeicher­ rings, der sich in der Nähe des Ablenkbereichs befin­ det, gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfin­ dung. Eine Ioneninduktions-Elektrode 11 ist in einem Vakuumbehälter 14 über den gesamten Ablenkbereich des Elektronenspeicherrings vorgesehen. Die Ioneninduk­ tions-Elektrode 11 ist entlang des Vakuumbehälters 14 auf dessen peripherer Innenseite angeordnet. Weiter­ hin sind Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b im unteren Abschnitt des Vakuumbehälters 14 am Einlaß und Auslaß des Ablenkbereichs vorgesehen. Die Ionen­ induktions-Elektrode 11 und die Ionenentfernungs- Elektroden 12a und 12b sind sämtlich mit einer Hoch­ spannungsquelle 13 verbunden. Der Vakuumbehälter 14 ist geerdet.
Es wird nun die Arbeitsweise beschrieben. Es wird angenommen, daß Ionen durch das vom Elektronenstrahl im Ablenkbereich er­ zeugte Potential dort, wo der (nicht gezeigte) Ablen­ kungs-Elektromagnet vorgesehen ist, gefangen werden. Zuerst wird von der Hochspannungsquelle 13 eine Gleichspannung von etwa 10 kV an die Ioneninduktions- Elektrode 11 angelegt, um ein elektrisches Feld in dem Abschnitt des Vakuumbehälters 14 zu erzeugen, der sich in der Nähe des Ablenkbereichs befindet. Diese Gleichspannung wird auch an die Ionenentfernungs- Elektroden 12a und 12b angelegt.
Wie die Ionen durch ein von der Ioneninduktions-Elek­ trode 11 gebildetes elektrisches Feld E induziert werden, ist in Fig. 2 gezeigt. Ein Ion E vollführt eine Abwanderungsbewegung E × B aufgrund der Einwir­ kung sowohl des elektrischen Feldes E und des vom Ablenkungs-Elektromagneten erzeugten magnetischen Feldes B, und wird auf diese Weise in einer axialen Richtung A der Elektronenbahn induziert. Das Ion I, das zum Endabschnitt des Ablenkbereichs induziert wurde, wird von den Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b entfernt, welche sich im unteren Abschnitt des Vakuumbehälters 11 befinden.
Somit können die durch das Potential des Elektronenstrahls gefangenen Ionen wirksam entfernt werden, indem ein elektrisches Feld von der Ioneninduktions-Elektrode 11 in dem Ab­ schnitt des Vakuumbehälters 14, der sich in der Nähe des Ablenkbereichs befindet, erzeugt wird.
Da es hierbei nicht erforder­ lich ist, die Ionenentfernungs-Elektroden in dem Ab­ schnitt des Vakuumbehälters, der sich in der Nähe des Ablenkbereichs befindet, in senkrechter Richtung an­ zuordnen, so wie es bei der bekannten Vorrichtung der Fall ist, kann der Elektronenstrahl stabil bewegt werden ohne Verengung der Öffnung.
Da weiterhin die Ioneninduktions-Elektrode 11 und die Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b elektrisch miteinander verbunden sind, so daß eine Spannung von einer einzigen Hochspannungsquelle 13 an sie angelegt werden kann, können die Kosten für die Vorrichtung niedrig gehalten werden.
Die Ausbildung der verwendeten Ioneninduktions-Elektrode 11 wird nach­ folgend näher beschrieben. Wie in Fig. 3 gezeigt ist, besteht die Ioneninduktions-Elektrode 11 aus kupfernen oder korrosionsbeständigen Drähten, von denen jeder eine Querschnittsfläche von wenigen mm2 hat und die beispielsweise in der Form eines Gitters miteinander verbunden sind. Es ist nicht immer erforderlich, Drähte zu verwenden. Wenn jedoch Drähte benutzt wer­ den, kann das Gewicht der Ioneninduktions-Elektrode 11 reduziert werden und ihre Herstellung kann auf einfache Weise erfolgen. Eine Mehrzahl von Befesti­ gungsgliedern 15 aus elektrisch isolierendem Materi­ al. beispielsweise Keramik, ist auf die Drähte aufge­ bracht, um eine Befestigung der Ioneninduktions-Elek­ trode 11 an der Innenwand des Vakuumbehälters 14 zu ermöglichen und eine elektrische Isolierung zwischen den Drähten, an die von der Hochspannungsquelle 13 eine Hochspannung angelegt ist, und dem Vakuumbehäl­ ter 14 herzustellen.
Wie in Fig. 4 gezeigt ist, ist jedes der Befesti­ gungsglieder 15 an der Oberfläche der peripheren In­ nenwand des Abschnitts des Vakuumbehälters 14, der sich im Ablenkbereich befindet, befestigt. Wenn ein Elektronenspeicherring hergestellt wird, wird, nach­ dem der Abschnitt des Vakuumbehälters 14, der sich im Ablenkbereich befindet, fertiggestellt wurde, die Ioneninduktions-Elektrode 11 von der Öffnung des Ab­ lenkbereichs her in den Vakuumbehälter 14 eingesetzt und wird dann von den beiden Öffnungen des Ablenkbe­ reichs aus gezogen, um die Befestigungsglieder 15 gegen die periphere Innenwand des Vakuumbehälters 14 zu drücken. Danach wird die Ioneninduktions-Elektrode 11 an den beiden Öffnungen des Ablenkbereichs mit dem Vakuumbehälter 14 verbunden.
Da die Verbindung der Ioneninduktions-Elektrode 11 mit dem Vakuumbehälter 14 nur an den beiden Öffnungen des Ablenkbereichs erfolgt und da die Drähte der Io­ neninduktions-Elektrode 11 mit den dazwischenliegen­ den Befestigungsgliedern 15 im Ablenkbereich gegen die periphere Innenwand des Vakuumbehälters 14 ge­ drückt werden, wird die Montage und Befestigung der Elektrode 11 vereinfacht.
Zusätzlich sind die Ecken jedes der Befestigungsglie­ der 15 abgerundet. Dadurch wird der Kriechabstand zwischen der Ioneninduktions-Elektrode 11 und dem Vakuumbehälter 14 erhöht, wodurch das Auftreten von Entladungen zwischen diesen Teilen verhindert wird.
Eine Elektrode in Form einer Metallplatte kann für die Ionenentfernungs-Elektroden 12a und 12b verwendet werden. Alternativ können die Ionenentfernungs-Elek­ troden 12a und 12b wie die Ioneninduktions-Elektrode 11 aus Draht hergestellt sein. Die Ionenentfernungs- Elektroden 12a und 12b können auch im oberen Ab­ schnitt des Vakuumbehälters 14 an den Öffnungen des Ablenkbereichs angeordnet sein.
Fig. 5 zeigt die wesentlichen Teile einer Weiterbildung der Erfindung. Ein Ablenkungs-Elektromagnet 23 ist im Ablenkbereich des Rings vorgesehen und eine aus Draht bestehende Ioneninduktions-Elektrode 22 ist in dem Abschnitt eines Vakuumbehälters 21 angeordnet, der sich im Ablenkbereich befindet. Die Ioneninduktions- Elektrode 22 erstreckt sich entlang des Vakuumbehäl­ ters 21. Ein Impuls-Elektromagnet 26 ist in der Nähe des Endabschnitts des Ablenkbereichs vorgesehen, der­ art, daß er den Vakuumbehälter 21 umschließt. Eine Hochspannungsquelle 24 ist mit der Ioneninduktions- Elektrode 22 und eine Stromquelle 25 mit dem Impuls-Elektromagnet 26 verbun­ den.
Wie in Fig. 6 gezeigt ist, weist der Impuls-Elektro­ magnet 26 ein fensterrahmenartiges ferromagnetisches Teil 26a, das den Vakuumbehälter 21 umgibt, eine um den oberen Abschnitt des ferromagnetischen Teils 26a gewundene erste Spule 26b und eine um dessen unteren Abschnitt gewundene zweite Spule 26c auf.
Die Arbeitsweise wird nachfolgend beschrieben. Es wird ein elektri­ sches Feld im Vakuumbehälter 21 erzeugt, indem von der Hochspannungsquelle 24 eine Hochspannung an der Ione­ ninduktions-Elektrode 22 angelegt wird, die in dem Abschnitt des Vakuumbehälters 21 vorgesehen ist, der sich im Ablenkbereich befindet. Ionen führen eine Abwanderungsbewegung E × B durch aufgrund der Einwir­ kung sowohl des elektrischen Feldes und eines vom Ablenkungs-Elektromagneten 23 erzeugten magnetischen Feldes und werden so in der axialen Richtung der Elektronenstrahlbahn induziert. Jedoch kann im Ab­ lenkbereich eine Mulde des von den Elektronen erzeug­ ten Potentials gebildet werden und Ionen können in dieser Mulde gefangen werden. Die Bildung der Mulde hängt ab von der Gestalt des Ablenkungs-Elektromagne­ ten 23.
Es wird daher ein impulsartiger Erregerstrom von der Stromquelle 25 zu der ersten und der zweiten Spu­ le 26b und 26c des Impuls-Elektromagneten 26 gelie­ fert, um ein magnetisches Feld zu erzeugen, das durch die Pfeile C in Fig. 6 gezeigt ist. Demgemäß wird die Bahn eines Elektronenstrahls 27 in der Darstellung nach Fig. 6 impulsartig nach oben abgelenkt und da­ durch näher zur Oberfläche der Innenwand des Vakuum­ behälters 21 bewegt. Das heißt, es wird eine Mulde des vom Elektronenstrahl 27 erzeugten Potentials nicht im Ablenkbereich, sondern in dessen Nähe gebil­ det: im Ablenkbereich, wo der Ablenkungs-Elektroma­ gnet 23 angeordnet ist, wird das Potential auf einen Scheitelwert angehoben. Daher führen die im Ablenkbe­ reich gefangenen Ionen eine Abwanderungsbewegung E × B durch aufgrund der Einwirkung des von der Ionenin­ duktions-Elektrode 22 erzeugten elektrischen Feldes und des vom Ablenkungs-Elektromagneten 23 erzeugten magnetischen Feldes, und sie werden auf diese Weise induziert und wirksam außerhalb des Ablenkbereichs gebracht.
Wenn der von der Stromquelle 25 zum Impuls-Elek­ tromagneten 26 gelieferte Erregerstrom umgekehrt wird, wird die Bahn des Elektronenstrahls 27 in Fig. 6 nach unten abgelenkt und somit zur Oberfläche der Innenwand des Vakuumbehälters 21 hin bewegt.
Es kann ein impulsartiger Erregerstrom zyklisch von der Stromquelle 25 zum Impuls-Elektromagneten 26 geliefert werden.

Claims (7)

1. Vorrichtung zum Entfernen von Ionen in einem Vaku­ umbehälter eines Elektronenspeicherrings, mit
einer Ioneninduktions-Elektrode (11), die in einem Ablenkbereich des Elektronenspeicherrings entlang einer peripheren Innenwand des Vakuumbehälters (14) innerhalb von diesem vorgesehen ist und die in dem Ablenkbereich gefangenen Ionen in Richtung auf den Einlaß und den Auslaß des Ablenkbereichs in Bewegung versetzt,
jeweils einer Ionenentfernungs-Elektrode (12a, 12b) innerhalb des Vakuumbehälters (14) in der Nähe des Einlasses und des Auslasses des Ablenkbereichs des Elektronenspeicherrings, und
einer Hochspannungsquelle (13) zum Anlegen einer Gleichspannung sowohl an die Ioneninduktions-Elek­ trode (11) als auch an die Ionenentfernungs-Elek­ troden (12a, 12b).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Ioneninduktions-Elektrode (11) aus Draht gebildet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich­ net, daß die Ioneninduktions-Elektrode (11) durch Verbinden von Draht in Form eines Gitters gebildet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich­ net, daß eine Mehrzahl von Befestigungsgliedern (15) auf dem die Ioneninduktions-Elektrode (11) bildenden Draht befestigt ist, um eine elektrische Isolierung zwischen dem Draht und dem Vakuumbehäl­ ter (14) herzustellen und den Draht am Vakuumbe­ hälter zu befestigen.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich­ net, daß zwei Enden der Ioneninduktions-Elektrode (11) an dem Einlaß und Auslaß des Ablenkbereichs des Elektronenspeicherrings am Vakuumbehälter (14) befestigt sind, wodurch die Ioneninduktions-Elek­ trode (11) innerhalb des Ablenkbereichs mit den dazwischenliegenden Befestigungsgliedern (15) ge­ gen die periphere Innenwand des Vakuumbehälters (14) gedrückt wird.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, gekennzeichnet durch einen Impuls-Elektromagneten (26), der den Vakuum­ behälter (21) in der Nähe eines Endabschnitts des Ablenkbereichs des Elektronenspeicherrings umgibt, um impulsartig eine Elektronenbahn im Vakuumbehäl­ ter (21) abzulenken, und eine Stromquelle (25) zum Liefern ei­ nes impulsartigen Erregerstroms zum Impuls-Elektromagneten (26).
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich­ net, daß der Impuls-Elektromagnet (26) ein fen­ sterrahmenartiges ferromagnetisches Teil (26a), das den Vakuumbehälter (21) umgibt, sowie eine erste (26b) und eine zweite (26c) Spule, die um einen oberen bzw. unteren Abschnitt des ferroma­ gnetischen Teils (26a) gewunden sind, aufweist.
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