DE4227817C2 - Mehrfach-Meßsystem für Oberflächen - Google Patents
Mehrfach-Meßsystem für OberflächenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen einer
Oberfläche nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 bzw. ein
Verfahren zum Messen einer Oberfläche.
Oberflächenmessungen werden allgemein auf Koordinaten
meßmaschinen (CMM) durchgeführt. Ein Meßelement in Form eines
Tasters wird über ein mechanisches 3D-Positioniersystem an
den gewünschten Stellen in Kontakt mit der zu messenden Ober
fläche gebracht und die Koordinaten dieser Stellen werden vom
Positioniersystem an die Auswerteeinrichtung ausgegeben. Mit
den erhaltenen Meßdaten kann die Genauigkeit einer Oberfläche
durch Vergleich mit Solldaten überprüft oder die Form der
Oberfläche digitalisiert werden.
Die Taster, die bei Kontakt einer kugelförmigen Tastspitze
mit der Oberfläche ein Signal an die Auswerteeinrichtung ab
geben, haben zwar den Vorteil, daß sie sehr genau messen und
insbesondere bei entsprechender Einstellung der Tastrichtung
auch schwierige Oberflächen wie beispielsweise Hohlräume aus
messen können; dem stehen jedoch erhebliche Nachteile gegen
über: sie erfordern einen Kontakt mit der Oberfläche und sind
daher nicht für empfindliche Oberflächen geeignet; die Mes
sung einer beliebigen Oberfläche ist zeitaufwendig, da eine
sehr große Zahl von Stellen nacheinander gemessen werden muß;
zudem sind für jeden Meßpunkt normalerweise drei Messungen
erforderlich, da der Taster nicht erkennen kann, an welcher
Stelle der Tastspitze der Kontakt auftritt, und der Meßwert
muß aufgrund der endlichen Größe der Tastspitze korrigiert
werden.
Es ist ferner bekannt, Oberflächen mittels Moir´-Technik zu
messen. Dabei wird die Oberfläche über ein erstes Gitter be
leuchtet und über ein zweites Gitter unter einem Winkel zur
Beleuchtungsrichtung betrachtet. Durch die Überlagerung der
Gitter ergeben sich Moir´-Linien, die Höhenlinien der
Oberfläche entsprechen und über eine Video-Kamera und einen
angeschlossenen Rechner ausgewertet werden. Eine derartige
Technik ist beispielsweise in der DE 33 28 753 A1 beschrie
ben. Damit ist es möglich, eine große Zahl von Meßstellen mit
einer Einstellung berührungsfrei auszuwerten; allerdings ist
die Genauigkeit geringer als bei der Tastermessung, es werden
nur relative Oberflächendaten erhalten und bestimmte Oberflä
chen wie Hinterschneidungen, Hohlräume etc. bereiten Schwie
rigkeiten.
Aus der DE 36 10 160 A1 ist eine Vorrichtung nach dem Oberbegriff
des Patentanspruches 1 bekannt.
Aus der DE 39 34 423 C1 ist eine Kamera zur Erfassung der Topo
graphie einer Prüflingsoberfläche durch Erzeugen eines Moir´-
Bildes bekannt.
Aus der DE 33 20 127 A1 ist eine Aufnahme zur auswechselbaren
Befestigung eines Taststiftes bzw. einer Taststiftkombination am
Tastkopf eines Koordinatenmeßgerätes bekannt, bei der die Tast
stifte bzw. die Taststiftkombination mit hoher Genauigkeit be
züglich ihrer räumlichen Lage auswechselbar befestigt werden
können.
Aus der EP 0 121 353 A1 ist ein Verfahren zum Messen einer
Oberfläche, bei dem die Oberfläche in einer ersten Meßposition
durch ein erstes Gitter beleuchtet und durch ein zweites Gitter
unter einem Winkel zur Beleuchtungsrichtung betrachtet wird und
die dadurch entstehenden Linienmuster zur Bestimmung von
Oberflächenkoordinaten ausgewertet werden, bekannt.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung
zu schaffen, mit der eine schnelle und genaue Messung auch
komplizierter Oberflächen möglich ist.
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen
des Anspruchs 1 bzw. durch ein Verfahren mit den Merkmalen
des Anspruchs 10 gelöst.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
gegeben.
Es folgt die Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der
Figuren. Von den Figuren zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung; und
Fig. 2 eine Darstellung der an ein erfindungsgemäßes
Positioniersystem ankoppelbaren verschiedenen
Meßelemente.
Fig. 1 zeigt einen Meßtisch 1, auf dem ein Objekt 2 mit der
zu inessenden Oberfläche 3 mittels geeigneter Befestigungs
elemente 4 fixiert ist. Auf dem Meßtisch ist eine
Positioniervorrichtung 5 montiert, die einen Meßkopfhalter 6
trägt. Die Positioniervorrichtung 5 ist in bekannter Weise
als XYZ-Positioniersystem ausgebildet und so angeordnet, daß
der Meßkopfhalter 6 in X,Y-Richtung über eine Meßfläche 7 des
Meßtisches 1 und Z-Richtung senkrecht zu dieser Meßfläche
verschoben werden kann. Zusätzlich können in der in Fig. 2
gezeigten Weise weitere Freiheitsgrade für die Bewegung bzw.
Positionierung des Meßkopfhalters 6 vorgesehen sein, bei
spielsweise eine Drehung um die Z-Achse und um die X-Achse.
Die Positioniervorrichtung weist ferner eine Erfassungsein
richtung 8a, 8b, 8c zur Erfassung der momentanen Position des
Meßkopfhalters 6 in X-, Y- und Z-Richtung auf. Diese ist mit
einer Auswertevorrichtung 9 verbunden, welche ein Display 10
zur Anzeige der momentanen Position aufweist.
Auf dem Meßtisch 1 ist im Bereich der Meßfläche 7 ein Magazin
11 zur Aufnahme verschiedener Meßelemente angeordnet. Zwei
dieser Meßeleinente sind in Fig. 2 dargestellt. Mit 12 ist
ein Taster bezeichnet, der eine an einem Schaft 13 über einen
Ausleger 14 befestigte kugelförmige Spitze 15 aufweist. Der
Ausleger 14 löst bei Kontakt der Spitze 15 mit einer Fläche
über einen Schalter oder dgl. ein elektrisches Signal aus,
das zur Auswertevorrichtung 9 übermittelt wird. Zur Verbin
dung des Tasters 12 mit dem Meßkopfhalter 6 weist dieser ei
nen Anschluß 16 zur mechanischen und elektrischen Ankopplung
an ein entsprechendes Anschlußelement 17 am Taster 12 auf.
Anschluß 16 und Anschlußelement 17 weisen in üblicher Weise
mechanische Koppelelemente, beispielsweise eine Rast- oder
Bajonettverbindung, und elektrische Koppelelemente, bei
spielsweise in Form von elektrischen Kontakten bzw. Kontakt
stiften, zur Übermittlung von elektrischen Signalen auf.
Mit 18 ist ein weiterer Taster bezeichnet, der ebenfalls ein
Anschlußelement 17 mit einem Ausleger 14 aufweist, an dem je
doch eine Mehrzahl von Spitzen 15 jeweils in X-, Y- und
Z-Richtung beabstandet befestigt sind.
Es ist ferner ein Moir´-Meßkopf 19 vorgesehen, der ebenfalls
ein Anschlußelement 17 zur Ankopplung an den Meßkopfhalter 6
aufweist. Dieser Meßkopf 19 arbeitet nach dem
Moir´-Verfahren, wie es beispielsweise in der DE 33 26 753 A1
beschrieben ist. Hierzu enthält der Meßkopf 19 in einer
miniaturisierten Weise eine Beleuchtungseinrichtung, bei
spielsweise einen Laser, zum Beleuchten der Meßfläche 7 durch
ein erstes Gitter und eine Bildaufnahmeeinrichtung, bei
spielsweise eine Videokamera, zum Betrachten der Meßfläche
durch ein zweites Gitter unter einem Winkel zur Beleuchtungs
richtung. Die elektrischen Versorgungsleitungen für die Be
leuchtungseinrichtung und die Signalleitungen für den Ausgang
der Videokamera sowie für ein den Meßkopf 17 identifizieren
des Signal sind zu den elektrischen Koppelelementen in An
schlußelement 17 geführt.
Die Auswertevorrichtung 9 enthält eine erste Verarbeitungs
schaltung zur Auswertung der Signale der Taster 12, 18 und
eine zweite Auswerteschaltung mit einem Video-Interface zum
Auswerten der Signale des Meßkopfes 19 und zum Umrechnen die
ser Signale in Koordinateninformation sowie einem Monitor zum
Betrachten der Video-Bilder des Meßkopfes 19. Ferner enthält
die Auswertevorrichtung eine Steuerung zum Steuern der
Positioniervorrichtung 5 in Abhängigkeit des Auswerteergeb
nisses in der weiter unten beschriebenen Weise.
Im Betrieb wird zunächst ein Objekt 2 mit der zu messenden
Oberfläche 3 mittels der Befestigungselemente 4 auf dem
Meßtisch innerhalb der Meßfläche befestigt. Dann fährt die
Positioniervorrichtung 5 zum Magazin 11, um eines der
Meßelemente 12, 18 oder 19 mit dem Meßkopfhalter zu verbin
den. Beispielsweise soll zunächst der Taster 12 angeschlossen
werden. Die Positioniervorrichtung steuert hierzu die Posi
tion des Tasters 12 im Magazin 11 an und senkt den
Meßkopfhalter 6 ab, so daß das Anschlußelement 17 des Tasters
12 mit dem Anschluß 16 in Eingriff gelangt, wodurch automa
tisch eine mechanische Kopplung und eine elektrische Kopplung
der Koppelelemente erfolgt.
Danach steuert die Auswertevorrichtung 9 die Positionier
vorrichtung 5 an eine oder mehrere als Referenzstelle ge
wählte Stellen der Oberfläche 3 und registriert die entspre
chenden Oberflächenkoordinaten. Anschließend legt die
Positioniervorrichtung 5 den Taster 12 wieder an seinem Platz
im Magazin 11 ab, fährt zum Platz des Moir´-Meßkopfes 19 und
koppelt diesen in gleicher Weise wie den Taster 12 automa
tisch an. Mit dem Moir´-Meßkopf werden zunächst die Referenz
stellen gemessen, um eine Kalibrierung des Meßkopfes durch
Vergleich des Meßergebnisses des Meßkopfes mit dem des
Tasters 12 vorzunehmen. Nach dieser Kalibierung kann der
Meßkopf 19 an verschiedene Meßorte, vorzugsweise programm
gesteuert von der Auswertevorrichtung 9, oberhalb der Ober
fläche 3 zur flächigen Messung dieser Oberfläche verschoben
werden, wobei die Auswertung der bei der Moir´-Messung erhal
tenen Linienmuster und ggfs. die Anzeige des Meßergebnisses
ebenfalls in der Auswertevorrichtung 9 erfolgt.
Stellt die Auswertevorrichtung einen Problem- oder
Fehlmeßbereich, beispielsweise anhand einer Unstetigkeit des
Linienmusters, wie sie beispielsweise bei den dargestellten
Löchern in der Oberfläche auftritt, anhand von unter einem
Schwellwert liegenden Intensitätsänderungen bei der in der
DE 33 28 753 A1 beschriebenen Phasenshiftmethode oder von
über einem Schwellwert liegenden Gradienten des Linienmu
sters, oder aufgrund von Plausibilitätsprüfungen, Vergleich
mit Toleranzbereichen oder dgl. fest, dann betätigt die Aus
wertevorrichtung 9 über die Steuerung die
Positioniervorrichtung 5 derart, daß der Meßkopf in eine neue
Meßposition gebracht wird, in der der Problem- oder
Fehlmeßbereich aus einer anderen Richtung gemessen wird. Bei
spielsweise kann der Meßkopf 19 horizontal verschoben oder um
die in Fig. 2 gezeigten Dreh- und Schwenkachsen 20,21 ge
dreht und/oder gekippt werden. Ist die Messung aus dieser
neuen Meßposition unproblematisch und eindeutig, dann kann
das ausgewertete Meßergebnis abgespeichert werden. Ist dies
nicht der Fall, kann die Messung aus weiteren Meßpositionen
wiederholt werden und die Messungen aus den einzelnen
Meßpositionen zur Bildung eines Mittelwerts gewichtet werden.
Wird nach einer festgelegten Zahl von Meßpositionen keine
unproblematische oder offensichtlich fehlerfreie Messung er
halten, dann steuert die Auswertevorrichtung 9 die Position
iervorrichtung 5 zum Magazin 11 und wechselt automatisch den
Moir´-Meßkopf 19 gegen den Taster 12 aus. Anschließend wird
der Taster 12 über die Positioniervorrichtung 5 genau zu den
vorher ermittelten Problem- oder Fehlmeßbereichen gesteuert
und die Messung an diesen wird mit dem Taster 12 durchge
führt.
Die Kalibrierung mittels des Tasters 12 kann entfallen, wenn
erfindungsgemäß im Meßkopf 19 ein Lasertriangulations-Meß
gerät eingebaut ist, das die absoluten Oberflächenkoordinaten
an einer oder mehreren Referenzstellen zur Kalibrierung der
Moir´-Messung ermittelt und an die Auswertevorrichtung 9 lie
fert.
Erfindungsgemäß sind auch andere Kombinationen von Taster
messung und Moir´-Messung möglich. Enthält beispielsweise die
zu messende Oberfläche sowohl Regelflächen wie Zylinder, Ku
gel etc. als auch beliebige Oberflächen, dann kann die Mes
sung der Regelflächen mit dem Taster an einigen wesentlichen
Stellen - woraus dann die gesamte Kontur berechenbar ist -
und die Messung der beliebigen Oberflächen mit dem
Moir´-Meßkopf 19 durchgeführt werden. Wenn sowohl die Lage
als auch die Qualität einer Regelfläche, beispielsweise die
Höhe und Ebenheit einer ebenen Fläche, festgestellt werden
sollen, dann kann die Tastermessung zur genauen Feststellung
der absoluten Position und die Moir´-Messung zur Feststellung
von Abweichungen von dieser Position eingesetzt werden. Fer
ner kann auch zunächst die Moir´-Messung zur Feststellung der
Lage von besonderen Merkmalen eingesetzt werden, um diese
Merkmale dann für die genauere Vermessung mittels der
Tastermessung automatisch ansteuern zu können.
Claims (12)
1. Vorrichtung zum Messen einer Oberfläche, mit einem Meßelement
(12, 18, 19) zum Abtasten der Oberfläche, einer Positioniervor
richtung (5) zum Positionieren des Meßelements (12, 18, 19) rela
tiv zur Oberfläche und einer Auswertevorrichtung (9) zum Auswer
ten der Meßsignale des Meßelements (12, 18, 19),
dadurch gekennzeichnet, daß die Positioniervorrichtung (5) eine
Halterung (6) zum auswechselbaren Befestigen des Meßelementes
(12, 18, 19) aufweist und daß als Meßelement (12, 18, 19) ein Taster
(12, 18) und ein Moir´-Meßkopf (19) vorgesehen sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Halterung (6) einen mechanischen
Anschluß zum ausgerichteten Halten der Meßelemente und einen
elektrischen Anschluß zur Übermittlung der Meßsignale aufweist,
wobei der elektrische Anschluß zusammen mit dem mechanischen An
schluß automatisch gekoppelt wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der elektrische Anschluß ein Identi
fiziersignal zum Identifizieren des angeschlossenen Meßelementes
an die Auswertevorrichtung (9) übermittelt.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Magazin (11) zur Lagerung der
Meßelemente (12, 18, 19) vorgesehen ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertevorrichtung (9) so aus
gebildet ist, daß sie die Positioniervorrichtung (5) zum Magazin
(11) zur automatischen Auswechselung des Meßelementes (12, 18, 19)
steuert.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Auswertevorrichtung (9) eine erste
Verarbeitungsschaltung zum Verarbeiten der Meßsignale des Ta
sters (12, 18) und eine zweite Verarbeitungsschaltung zum Verar
beiten der Meßsignale des Moir´-Meßkopfes (19) aufweist.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Auswertevorrichtung (9) eine Steuerung
aufweist, die mit einer Verarbeitungsschaltung für die Meß
signale des Moir´-Meßkopfes (19) und mit der Positioniervorrich
tung (5) derart gekoppelt ist, daß die Positioniervorrichtung
(5) die Position des Moir´-Meßkopfes (19) in Abhängigkeit der
ausgewerteten Meßsignale verändert.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß als weitere Meßelemente Lasertriangulations-
Meßelemente und/oder 2D-Video-Meßelemente vorhanden sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Lasertriangulations-Meßelement
im Moir´-Meßkopf (19) eingebaut ist.
10. Verfahren zum Messen einer Oberfläche, bei dem die Oberflä
che in einer ersten Meßposition durch ein erstes Gitter beleuch
tet und durch ein zweites Gitter unter einem Winkel zur Beleuch
tungsrichtung betrachtet wird und die dadurch entstehenden Lini
enmuster zur Bestimmung von Oberflächenkoordinaten und von Pro
blem- oder Fehlmeßbereichen ausgewertet werden und bei Ent
deckung eines derartigen Problem- oder Fehlmeßbereiches die
Messung automatisch aus einer zweiten Meßposition wiederholt
wird, in der die Beleuchtungs- und/oder Betrachtungsrichtung
gegenüber der ersten Meßposition verschoben und/oder relativ zur
Oberfläche gedreht oder gekippt ist, und, wenn der Problem- oder
Fehlmeßbereich auch bei der zweiten oder einer weiteren
Meßposition vorliegt, die Messung in diesem Bereich mittels
eines Tastmeßsystems durchgeführt wird, das automatisch in
diesem Bereich positioniert wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß Problem- oder Fehlmeßbereiche anhand
zu geringer Intensitätsänderungen oder zu starker Gradienten des
Linienmusters erkannt werden.
12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Meßergebnisse der ersten und
zweiten Meßposition zur Berechnung eines Mittelwertes gewichtet
werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924227817 DE4227817C2 (de) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Mehrfach-Meßsystem für Oberflächen |
Applications Claiming Priority (1)
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ID=6466128
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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