DE4227817A1 - Mehrfach-Meßsystem für Oberflächen - Google Patents
Mehrfach-Meßsystem für OberflächenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen einer
Oberfläche nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 bzw. ein Ver
fahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 10.
Oberflächenmessungen werden allgemein auf Koordinaten
meßmaschinen (CMM) durchgeführt. Ein Meßelement in Form eines
Tasters wird über ein mechanisches 3D-Positioniersystem an
den gewünschten Stellen in Kontakt mit der zu messenden Ober
fläche gebracht und die Koordinaten dieser Stellen werden vom
Positioniersystem an die Auswerteeinrichtung ausgegeben. Mit
den erhaltenen Meßdaten kann die Genauigkeit einer Oberfläche
durch Vergleich mit Solldaten überprüft oder die Form der
Oberfläche digitalisiert werden.
Die Taster, die bei Kontakt einer kugelförmigen Tastspitze
mit der Oberfläche ein Signal an die Auswerteeinrichtung ab
geben, haben zwar den Vorteil, daß sie sehr genau messen und
insbesondere bei entsprechender Einstellung der Tastrichtung
auch schwierige Oberflächen wie beispielsweise Hohlräume aus
messen können; dem stehen jedoch erhebliche Nachteile gegen
über: sie erfordern einen Kontakt mit der Oberfläche und sind
daher nicht für empfindliche Oberflächen geeignet; die Mes
sung einer beliebigen Oberfläche ist zeitaufwendig, da eine
sehr große Zahl von Stellen nacheinander gemessen werden muß;
zudem sind für jeden Meßpunkt normalerweise drei Messungen
erforderlich, da der Taster nicht erkennen kann, an welcher
Stelle der Tastspitze der Kontakt auftritt, und der Meßwert
muß aufgrund der endlichen Größe der Tastspitze korrigiert
werden.
Es ist ferner bekannt, Oberflächen mittels Moire-Technik zu
messen. Dabei wird die Oberfläche über ein erstes Gitter be
leuchtet und über ein zweites Gitter unter einem Winkel zur
Beleuchtungsrichtung betrachtet. Durch die Überlagerung der
Gitter ergeben sich Moire-Linien, die Höhenlinien der
Oberfläche entsprechen und über eine Video-Kamera und einen
angeschlossenen Rechner ausgewertet werden. Eine derartige
Technik ist beispielsweise in der DE-OS 33 28 753 beschrie
ben. Damit ist es möglich, eine große Zahl von Meßstellen mit
einer Einstellung berührungsfrei auszuwerten; allerdings ist
die Genauigkeit geringer als bei der Tastermessung, es werden
nur relative Oberflächendaten erhalten und bestimmte Oberflä
chen wie Hinterschneidungen, Hohlräume etc. bereiten Schwie
rigkeiten.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung
zu schaffen, mit der eine schnelle und genaue Messung auch
komplizierter Oberflächen möglich ist.
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen
des Anspruchs 1 bzw. durch ein Verfahren mit den Merkmalen
des Anspruchs 10 gelöst.
Die Erfindung soll im weiteren unter Bezug auf ein in den Fi
guren dargestelltes Ausführungsbeispiel im Detail beschrieben
werden. Von den Figuren zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung; und
Fig. 2 eine Darstellung der an ein erfindungsgemäßes
Positioniersystem ankoppelbaren verschiedenen
Meßelemente.
Fig. 1 zeigt einen Meßtisch 1, auf dem ein Objekt 2 mit der
zu messenden Oberfläche 3 mittels geeigneter Befestigungs
elemente 4 fixiert ist. Auf dem Meßtisch ist eine
Positioniervorrichtung 5 montiert, die einen Meßkopfhalter 6
trägt. Die Positioniervorrichtung 5 ist in bekannter Weise
als XYZ-Positioniersystem ausgebildet und so angeordnet, daß
der Meßkopfhalter 6 in X, Y-Richtung über eine Meßfläche 7 des
Meßtisches 1 und Z-Richtung senkrecht zu dieser Meßfläche
verschoben werden kann. Zusätzlich können in der in Fig. 2
gezeigten Weise weitere Freiheitsgrade für die Bewegung bzw.
Positionierung des Meßkopfhalters 6 vorgesehen sein, bei
spielsweise eine Drehung um die Z-Achse und um die X-Achse.
Die Positioniervorrichtung weist ferner eine Erfassungsein
richtung 8a, 8b, 8c zur Erfassung der momentanen Position des
Meßkopfhalters 6 in X-, Y- und Z-Richtung auf. Diese ist mit
einer Auswertevorrichtung 9 verbunden, welche ein Display 10
zur Anzeige der momentanen Position aufweist.
Auf dem Meßtisch 1 ist im Bereich der Meßfläche 7 ein Magazin
11 zur Aufnahme verschiedener Meßelemente angeordnet. Zwei
dieser Meßelemente sind in Fig. 2 dargestellt. Mit 12 ist
ein Taster bezeichnet, der eine an einem Schaft 13 über einen
Ausleger 14 befestigte kugelförmige Spitze 15 aufweist. Der
Ausleger 14 löst bei Kontakt der Spitze 15 mit einer Fläche
über einen Schalter oder dgl. ein elektrisches Signal aus,
das zur Auswertevorrichtung 9 übermittelt wird. Zur Verbin
dung des Tasters 12 mit dem Meßkopfhalter 6 weist dieser ei
nen Anschluß 16 zur mechanischen und elektrischen Ankopplung
an ein entsprechendes Anschlußelement 17 am Taster 12 auf.
Anschluß 16 und Anschlußelement 17 weisen in üblicher Weise
mechanische Koppelelemente, beispielsweise eine Rast- oder
Bajonettverbindung, und elektrische Koppelelemente, bei
spielsweise in Form von elektrischen Kontakten bzw. Kontakt
stiften, zur Übermittlung von elektrischen Signalen auf.
Mit 18 ist ein weiterer Taster bezeichnet, der ebenfalls ein
Anschlußelement 17 mit einem Ausleger 14 aufweist, an dem je
doch eine Mehrzahl von Spitzen 14 jeweils in X-, Y- und
Z-Richtung beabstandet befestigt sind.
Es ist ferner ein Moir´-Meßkopf 19 vorgesehen, der ebenfalls
ein Anschlußelement 17 zur Ankopplung an den Meßkopfhalter 6
aufweist. Dieser Meßkopf 19 arbeitet nach dem
Moir´-Verfahren, wie es beispielsweise in der DE-OS 33 28 753
beschrieben ist. Hierzu enthält der Meßkopf 19 in einer
miniaturisierten Weise eine Beleuchtungseinrichtung, bei
spielsweise einen Laser, zum Beleuchten der Meßfläche 7 durch
ein erstes Gitter und eine Bildaufnahmeeinrichtung, bei
spielsweise eine Videokamera, zum Betrachten der Meßfläche
durch ein zweites Gitter unter einem Winkel zur Beleuchtungs
richtung. Die elektrischen Versorgungsleitungen für die Be
leuchtungseinrichtung und die Signalleitungen für den Ausgang
der Videokamera sowie für ein den Meßkopf 17 identifizieren
des Signal sind zu den elektrischen Koppelelementen in An
schlußelement 17 geführt.
Die Auswertevorrichtung 9 enthält eine erste Verarbeitungs
schaltung zur Auswertung der Signale der Taster 12, 18 und
eine zweite Auswerteschaltung mit einem Video-Interface zum
Auswerten der Signale des Meßkopfes 19 und zum Umrechnen die
ser Signale in Koordinateninformation sowie einem Monitor zum
Betrachten der Video-Bilder des Meßkopfes 19. Ferner enthält
die Auswertevorrichtung eine Steuerung zum Steuern der
Positioniervorrichtung 5 in Abhängigkeit des Auswerteergeb
nisses in der weiter unten beschriebenen Weise.
Im Betrieb wird zunächst ein Objekt 2 mit der zu messenden
Oberfläche 3 mittels der Befestigungselemente 4 auf dem
Meßtisch innerhalb der Meßfläche befestigt. Dann fährt die
Positioniervorrichtung 5 zum Magazin 11, um eines der
Meßelemente 12, 18 oder 19 mit dem Meßkopfhalter zu verbin
den. Beispielsweise soll zunächst der Taster 12 angeschlossen
werden. Die Positioniervorrichtung steuert hierzu die Posi
tion des Tasters 12 im Magazin 11 an und senkt den
Meßkopfhalter 6 ab, so daß das Anschlußelement 17 des Tasters
12 mit dem Anschluß 16 in Eingriff gelangt, wodurch automa
tisch eine mechanische Kopplung und eine elektrische Kopplung
der Koppelelemente erfolgt.
Danach steuert die Auswertevorrichtung 9 die Positionier
vorrichtung 5 an eine oder mehrere als Referenzstelle ge
wählte Stellen der Oberfläche 3 und registriert die entspre
chenden Oberflächenkoordinaten. Anschließend legt die
Positioniervorrichtung 5 den Taster 12 wieder an seinem Platz
im Magazin 11 ab, fährt zum Platz des Moir´-Meßkopfes 19 und
koppelt diesen in gleicher Weise wie den Taster 12 automa
tisch an. Mit dem Moir´-Meßkopf werden zunächst die Referenz
stellen gemessen, um eine Kalibrierung des Meßkopfes durch
Vergleich des Meßergebnisses des Meßkopfes mit dem des
Tasters 12 vorzunehmen. Nach dieser Kalibierung kann der
Meßkopf 19 an verschiedene Meßorte, vorzugsweise programm
gesteuert von der Auswertevorrichtung 9, oberhalb der Ober
fläche 3 zur flächigen Messung dieser Oberfläche verschoben
werden, wobei die Auswertung der bei der Moir´-Messung erhal
tenen Linienmuster und ggfs. die Anzeige des Meßergebnisses
ebenfalls in der Auswertevorrichtung 9 erfolgt.
Stellt die Auswertevorrichtung einen Problem- oder
Fehlmeßbereich, beispielsweise anhand einer Unstetigkeit des
Linienmusters, wie sie beispielsweise bei den dargestellten
Löchern in der Oberfläche auftritt, anhand von unter einem
Schwellwert liegenden Intensitätsänderungen bei der in der
DE-OS 33 28 753 beschriebenen Phasenshiftmethode oder von
über einem Schwellwert liegenden Gradienten des Linienmu
sters, oder aufgrund von Plausibilitätsprüfungen, Vergleich
mit Toleranzbereichen oder dgl. fest, dann betätigt die Aus
wertevorrichtung 9 über die Steuerung die
Positioniervorrichtung 5 derart, daß der Meßkopf in eine neue
Meßposition gebracht wird, in der der Problem- oder
Fehlmeßbereich aus einer anderen Richtung gemessen wird. Bei
spielsweise kann der Meßkopf 19 horizontal verschoben oder um
die in Fig. 2 gezeigten Dreh- und Schwenkachsen 20, 21 ge
dreht und/oder gekippt werden. Ist die Messung aus dieser
neuen Meßposition unproblematisch und eindeutig, dann kann
das ausgewertete Meßergebnis abgespeichert werden. Ist dies
nicht der Fall, kann die Messung aus weiteren Meßpositionen
wiederholt werden und die Messungen aus den einzelnen
Meßpositionen zur Bildung eines Mittelwerts gewichtet werden.
Wird nach einer festgelegten Zahl von Meßpositionen keine
unproblematische oder offensichtlich fehlerfreie Messung er
halten, dann steuert die Auswertevorrichtung 9 die Position
iervorrichtung 5 zum Magazin 11 und wechselt automatisch den
Moir´-Meßkopf 19 gegen den Taster 12 aus. Anschließend wird
der Taster 12 über die Positioniervorrichtung 5 genau zu den
vorher ermittelten Problem- oder Fehlmeßbereichen gesteuert
und die Messung an diesen wird mit dem Taster 12 durchge
führt.
Die Kalibrierung mittels des Tasters 12 kann entfallen, wenn
erfindungsgemäß im Meßkopf 19 ein Lasertriangulations-Meß
gerät eingebaut ist, das die absoluten Oberflächenkoordinaten
an einer oder mehreren Referenzstellen zur Kalibrierung der
Moir´-Messung ermittelt und an die Auswertevorrichtung 9 lie
fert.
Erfindungsgemäß sind auch andere Kombination von Taster
messung und Moir´-Messung möglich. Enthält beispielsweise die
zu messende Oberfläche sowohl Regelflächen wie Zylinder, Ku
gel etc. als auch beliebige Oberflächen, dann kann die Mes
sung der Regelflächen mit dem Taster an einigen wesentlichen
Stellen - woraus dann die gesamte Kontur berechenbar ist -
und die Messung der beliebigen Oberflächen mit dem
Moir´-Meßkopf 19 durchgeführt werden. Wenn sowohl die Lage
als auch die Qualität einer Regelfläche, beispielsweise die
Höhe und Ebenheit einer ebenen Fläche, festgestellt werden
sollen, dann kann die Tastermessung zur genauen Feststellung
der absoluten Position und die Moir´-Messung zur Feststellung
von Abweichungen von dieser Position eingesetzt werden. Fer
ner kann auch zunächst die Moir´-Messung zur Feststellung der
Lage von besonderen Merkmalen eingesetzt werden, um diese
Merkmale dann für die genauere Vermessung mittels der
Tastermessung automatisch ansteuern zu
können.
Claims (13)
1. Vorrichtung zum Messen einer Oberfläche, mit einem
Meßelement (12, 18, 19) zum Abtasten der Oberfläche, einer
Positioniervorrichtung (5) zum Positionieren des
Meßelements (12, 18, 19) relativ zur Oberfläche und einer
Auswerteeinrichtung (9) zum Auswerten der Meßsignale des
Meßelements (12, 18, 19),
dadurch gekennzeichnet, daß zwei verschiedene
Meßelemente vorgesehen sind, nämlich ein Taster (12, 18)
und ein Moir´-Meßkopf (19), und daß die Positionier
vorrichtung (5) eine Halterung (6) zum auswechselbaren
Befestigen entweder des Tasters (12, 18) oder des Moir´-
Meßkopfes (19) aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Halterung (6) einen
mechanischen Anschluß zum ausgerichteten Halten der
Meßelemente und einen elektrischen Anschluß zur
Übermittlung der Meßsignale aufweist, wobei der elektri
sche Anschluß zusammen mit dem mechanischen Anschluß au
tomatisch gekoppelt wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der elektrische Anschluß ein
Identifiziersignal zum Identifizieren des angeschlosse
nen Meßelementes an die Auswertevorrichtung (9) übermit
telt.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Magazin (11) zur Lage
rung der Meßelemente (12, 18, 19) vorgesehen ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertevorrichtung (9)
so ausgebildet ist, daß sie die Positioniervorrichtung
(5) zum Magazin (11) zur automatischen Auswechselung des
Meßelementes (12, 18, 19) steuert.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertevorrichtung (9)
eine erste Verarbeitungsschaltung zum Verarbeiten der
Meßsignale des Tasters (12, 18) und eine zweite Verarbei
tungsschaltung zum Verarbeiten der Meßsignale des
Moir´-Meßkopfes (19) aufweist.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß die Auswertevorrichtung (9)
eine Steuerung aufweist, die mit einer Verarbeitungs
schaltung für die Meßsignale des Moir´-Meßkopfes (19)
und mit der Positioniervorrichtung (5) derart gekoppelt
ist, daß die Positioniervorrichtung (5) die Position des
Moir´-Meßkopfes (19) in Abhängigkeit der ausgewerteten
Meßsignale verändert.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß weitere Meßelemente wie z. B.
Lasertriangulations-Meßelemente und 2D-Video-Meßelemente
vorhanden sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Lasertriangulations-
Meßelement im Moir´-Meßkopf (19) eingebaut ist.
10. Verfahren zum Messen einer Oberfläche, bei dein die Ober
fläche in einer ersten Meßposition durch ein erstes Git
ter beleuchtet und durch ein zweites Gitter unter einem
Winkel zur Beleuchtungsrichtung betrachtet wird und die
dadurch entstehenden Linienmuster zur Bestimmung von
Oberflächenkoordinaten ausgewertet werden,
dadurch gekennzeichnet, daß das Linienmuster zur Bestim
mung von Problem- oder Fehlmeßbereichen ausgewertet wird
und daß bei Entdeckung eines derartigen Problem- oder
Fehlmeßbereiches die Messung automatisch aus einer zwei
ten Meßposition wiederholt wird, in der die
Beleuchtungs- und/oder Betrachtungsrichtung gegenüber
der ersten Meßposition verschoben und/oder relativ zur
Oberfläche gedreht oder gekippt ist.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß Problem- oder
Fehlmeßbereiche anhand zu geringer Intensitätsänderungen
oder zu starker Gradienten des Linienmusters erkannt
werden.
12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Meßergebnisse der ersten
und zweiten Meßposition zur Berechnung eines Mittelwert
es gewichtet werden.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß dann, wenn der Problem- oder
Fehlmeßbereich auch bei der zweiten oder einer weiteren
Meßposition vorliegt, die Messung in diesem Bereich mit
tels eines Tastmeßsystems durchgeführt wird, das automa
tisch in diesem Bereich positioniert
wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924227817 DE4227817C2 (de) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Mehrfach-Meßsystem für Oberflächen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924227817 DE4227817C2 (de) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Mehrfach-Meßsystem für Oberflächen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4227817A1 true DE4227817A1 (de) | 1994-02-24 |
DE4227817C2 DE4227817C2 (de) | 1997-11-27 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19924227817 Expired - Fee Related DE4227817C2 (de) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Mehrfach-Meßsystem für Oberflächen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4227817C2 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996012217A1 (de) * | 1994-10-18 | 1996-04-25 | Eos Gmbh Electro Optical Systems | Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer steuerung zur ablenkung eines laserstrahls |
DE19605520C1 (de) * | 1996-02-15 | 1997-04-24 | Herberts Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung lackierter Oberflächen |
US5991042A (en) * | 1996-02-15 | 1999-11-23 | Herberts Gmbh | Method and an apparatus for the characterisation of lacquered surfaces |
DE10329964A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Basf Coatings Ag | Verfahren zur Bestimmung der Stabilitätsgrenze von Schichten aus Beschichtungsstoffen auf geneigten Oberflächen |
CN103353292A (zh) * | 2013-07-29 | 2013-10-16 | 北京理工大学 | 整体螺栓拉伸机拉伸量自动测量装置 |
DE10150633C5 (de) * | 2001-10-12 | 2014-09-04 | Thermosensorik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen, zerstörungsfreien automatischen Prüfung von Materialverbindungen, insbesondere der Qualitätskontrolle von Schweißverbindungen |
CN104034286A (zh) * | 2013-03-06 | 2014-09-10 | 昆山富利瑞电子科技有限公司 | 钣金共面度检测设备 |
EP3048413A1 (de) | 2015-01-23 | 2016-07-27 | Erowa AG | Messmaschine zum vermessen von werkstücken |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102519370B (zh) * | 2011-12-16 | 2014-07-16 | 哈尔滨工业大学 | 基于正交二维微焦准直的微孔测量装置与方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3328753A1 (de) * | 1982-08-18 | 1984-02-23 | Novon, Inc., 01907 Swampscott, Mass. | Verfahren und vorrichtung zur abbildung von szenen und bereichen |
DE3320127A1 (de) * | 1983-06-03 | 1984-12-06 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Taststiftwechselhalter |
DE3610160A1 (de) * | 1985-04-06 | 1986-10-09 | Schaudt Maschinenbau Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zum optischen pruefen der oberflaeche von werkstuecken |
EP0212353A2 (de) * | 1985-08-08 | 1987-03-04 | Bayer Ag | 1- Aryl-5-hydrazino-pyrazole |
DE3934423C1 (en) * | 1989-10-14 | 1991-04-25 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De | Camera photographing topography of test piece surface - produces Moire image using CCD sensors recording phase shift between object grating and camera reference grating |
-
1992
- 1992-08-21 DE DE19924227817 patent/DE4227817C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3328753A1 (de) * | 1982-08-18 | 1984-02-23 | Novon, Inc., 01907 Swampscott, Mass. | Verfahren und vorrichtung zur abbildung von szenen und bereichen |
DE3320127A1 (de) * | 1983-06-03 | 1984-12-06 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Taststiftwechselhalter |
DE3610160A1 (de) * | 1985-04-06 | 1986-10-09 | Schaudt Maschinenbau Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zum optischen pruefen der oberflaeche von werkstuecken |
EP0212353A2 (de) * | 1985-08-08 | 1987-03-04 | Bayer Ag | 1- Aryl-5-hydrazino-pyrazole |
DE3934423C1 (en) * | 1989-10-14 | 1991-04-25 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De | Camera photographing topography of test piece surface - produces Moire image using CCD sensors recording phase shift between object grating and camera reference grating |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5832415A (en) * | 1994-10-18 | 1998-11-03 | Eos Gmbh Electro Optical Systems | Method and apparatus for calibrating a control apparatus for deflecting a laser beam |
WO1996012217A1 (de) * | 1994-10-18 | 1996-04-25 | Eos Gmbh Electro Optical Systems | Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer steuerung zur ablenkung eines laserstrahls |
DE19605520C1 (de) * | 1996-02-15 | 1997-04-24 | Herberts Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung lackierter Oberflächen |
US5991042A (en) * | 1996-02-15 | 1999-11-23 | Herberts Gmbh | Method and an apparatus for the characterisation of lacquered surfaces |
EP0842414B2 (de) † | 1996-02-15 | 2003-12-03 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung lackierter oberflächen |
DE10150633C5 (de) * | 2001-10-12 | 2014-09-04 | Thermosensorik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen, zerstörungsfreien automatischen Prüfung von Materialverbindungen, insbesondere der Qualitätskontrolle von Schweißverbindungen |
DE10329964A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Basf Coatings Ag | Verfahren zur Bestimmung der Stabilitätsgrenze von Schichten aus Beschichtungsstoffen auf geneigten Oberflächen |
CN104034286A (zh) * | 2013-03-06 | 2014-09-10 | 昆山富利瑞电子科技有限公司 | 钣金共面度检测设备 |
CN103353292A (zh) * | 2013-07-29 | 2013-10-16 | 北京理工大学 | 整体螺栓拉伸机拉伸量自动测量装置 |
CN103353292B (zh) * | 2013-07-29 | 2016-02-24 | 北京理工大学 | 整体螺栓拉伸机拉伸量自动测量装置 |
EP3048413A1 (de) | 2015-01-23 | 2016-07-27 | Erowa AG | Messmaschine zum vermessen von werkstücken |
CH710648A1 (de) * | 2015-01-23 | 2016-07-29 | Erowa Ag | Messmaschine zum Vermessen von Werkstücken. |
US9863751B2 (en) | 2015-01-23 | 2018-01-09 | Erowa Ag | Measuring machine for measuring workpieces |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4227817C2 (de) | 1997-11-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8181 | Inventor (new situation) |
Free format text: LANGER, HANS J., DR., 82166 GRAEFELFING, DE SHELLABEAR, MIKE, DR., 82152 PLANEGG, DE |
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D2 | Grant after examination | ||
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