DE4206174C2 - Integrierter Sensor aus Silizium - Google Patents
Integrierter Sensor aus SiliziumInfo
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- H01C10/00—Adjustable resistors
- H01C10/10—Adjustable resistors adjustable by mechanical pressure or force
Description
In der EP A2 0 266 681 wird ein Drucksensor mit einem
Verformungsbereich, in den ein Widerstandselement eingebracht
ist, offenbart.
Aus der DE A1 35 43 261 ist ein Drucksensor mit einem
Verformungsbereich bekannt, in dem vier dehnungsempfindliche
Elemente durch Diffusion in das Silizium des Verformungsbereichs
hergestellt sind.
In der US 3 772 628 wird ein Drucksensor mit einem
Verformungsbereich, der aus Silizium besteht, offenbart. Im
Verformungsbereich sind durch Diffusion in das Silizium des
Verformungsbereichs dehnungsempfindliche Widerstände angebracht.
Aus einem Artikel aus "Technisches Messen atm" (J. Bretschi,
1976, Heft 6, Seiten 181-186) wird auf der Seite 184, Fig. 4
und der Beschreibung offenbart, daß Leiterbahnen aus p-Silizium
in einem Substrat aus n-Silizium gegeneinander isoliert sind, da
so mindestens ein pn-Übergang in Sperrichtung gepolt ist.
Bei diesen Schriften liest der Fachmann eine
Passivierungsschicht auf der Oberfläche mit, da offenliegende
pn-Übergänge an der Oberfläche von Halbleiterelementen nicht
zulässig sind, da die dort auftretenden hohen Feldstärken
Verunreinigungen ansammeln und so zu einer Zerstörung der
Isolationswirkung führen.
Der erfindungsgemäße Sensor mit den kennzeichnenden Merkmalen
des Hauptanspruchs hat demgegenüber die Aufgabe, daß der
Verformungsbereich ausschließlich aus Silizium verschiedener
Dotierungen besteht. Da die thermischen Ausdehnungskoeffizienten
von Silizium verschiedener Dotierungen sich nur minimal
unterscheiden, kommt es auch nur zu minimalen thermischen
Verzügen und Verspannungen. Die Genauigkeit solcher Sensoren ist
daher wesentlich besser als bei Sensoren, die aus verschiedenen
Materialien aufgebaut sind.
Die Erfindung geht aus von einem integrierten Sensor aus Silizium
nach der Gattung des Hauptanspruchs. Es ist bereits ein integrierter
Sensor aus Silizium bekannt (Wong et al., IEEE Digest of Technical
Papers, Transducers 85, Seite 26-29), der einen Verformungsbereich
und ein im Verformungsbereich gelegenes Widerstandselement aus
p-dotiertem Silizium aufweist, welches mit einer n-dotierten
Si-Schicht überlegt ist. Dieser Sensor weist jedoch im Verformungs
bereich zusätzlich eine Schutzschicht aus Siliziumoxid auf.
Der erfindungsgemäße Sensor mit den kennzeichnenden Merkmalen des
Hauptanspruchs hat demgegenüber den Vorteil, daß der Verformungs
bereich ausschließlich aus Silizium verschiedener Dotierungen
besteht. Da die thermischen Ausdehnungskoeffizienten von Silizium
verschiedener Dotierung sich nur minimal unterscheiden, kommt es
auch nur zu minimalen thermischen Verzügen und Verspannungen. Die
Genauigkeit solcher Sensoren ist daher wesentlich besser als bei
Sensoren, die aus verschiedenen Materialien aufgebaut sind.
Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vor
teilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des im Hauptanspruch
angegebenen Sensors möglich.
Die Kontaktierung des Widerstandselements kann entweder durch Zu
leitungen aus stark dotiertem Silizium oder, sofern sich das Wider
standselement über den Verformungsbereich hinaus erstreckt, auch
durch metallische Leiterbahnen erfolgen. Die Empfindlichkeit des
Sensors wird erhöht, wenn der Verformungsbereich als Biegezunge oder
Membran ausgebildet ist. Durch die Verwendung mehrerer Wider
standselemente im Verformungsbereich kann die Kennlinie des Sensors
verbessert werden, beispielsweise dadurch, daß vier Wider
standselemente in einer Brückenschaltung verwendet werden.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dar
gestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es
zeigt
Fig. 1 einen Querschnitt durch einen Sensor mit einer Biege
zunge,
Fig. 2 eine Aufsicht auf den Sensor nach Fig. 1 und Fig. 3
die Ausgestaltung des Sensors mit einer Membran.
In Fig. 1 ist ein Querschnitt durch einen Beschleunigungssensor
gezeigt, bei dem eine seismische Masse 20 durch einen als Biegezunge
ausgestalteten Verformungsbereich 1 an einem fest verankerten Gegen
lager 21 aufgehängt ist. Wird diese Struktur beschleunigt, so wird
die seismische Masse ausgelenkt und der Verformungsbereich 1 ver
bogen.
In der Nähe des fest verankerten Gegenlagers 21 ist ein längliches
Widerstandselement 3 im Verformungsbereich 1 gelegen. Das Wider
standselement 3 ist unter einer Schicht 8 gelegen und von zwei Zu
leitungen 9 kontaktiert. Weiterhin ist auf dem Gegenlager 21 ein
Metallkontakt 22 gelegen, der direkten Kontakt zu den Leiterbahnen 9
hat. Durch die Verwendung einer strukturierten Isolationsschicht 23
wird ein elektrischer Kontakt zwischen dem Metallkontakt 22 und dem
Gegenlager 21 bzw. der Schicht 8 verhindert.
In der Fig. 2 ist der Beschleunigungssensor nach Fig. 1 in der
Aufsicht dargestellt. Der Querschnitt durch diese Struktur gemäß der
Fig. 1 erfolgt entlang der Linie I-I. Das Widerstandselement 3 kann
durch die Zuleitungen 9 und die auf dem Gegenlager 21 angeordneten
Metallkontakte 22 so kontaktiert werden, daß der elektrische Wider
stand des Widerstandselements 3 gemessen werden kann. Die Metall
kontakte 22 dienen dabei zum Anschluß von externen Bonddrähten.
Weiterhin ist in Fig. 2 die Lage der Schicht 8 eingezeichnet.
Durch eine Verformung des Widerstandselementes 1 ändert sich auf
grund des Piezoeffekts von einkristallinem Silizium der Widerstand
des Widerstandselementes 3. Aufgrund dieser Widerstandsänderungen
kann auf die Verformung des Verformungsbereiches 1 und somit auf die
anliegende Beschleunigung geschlossen werden.
Die Zuleitungen 9, das Widerstandselement 3, die Schicht 8, die
seismische Masse 20, der Rahmen 21 und der untere Bereich des Ver
formungsbereiches 1 bestehen aus Silizium. Bei der nun folgenden
Beschreibung wird davon ausgegangen, daß der hier gezeigte Sensor
durch Bearbeitung eines n-dotierten Siliziumwafers hergestellt
wurde. In aquivalenter Weise ist jedoch die Herstellung auch aus
einem p-dotierten Siliziumwafer möglich. In die Oberfläche des
n-dotierten Siliziumwafer wird eine starke p-Dotierung eingebracht,
welche die Zuleitungen 9 bildet. Weiterhin wird eine schwache
p-Dotierung eingebracht, durch die das Widerstandselement 3 gebildet
wird. Die Schicht 8 wird durch eine n-Diffusion gebildet. Dabei ist
wichtig, daß die Schicht 8 so ausgelegt wird, daß sie einen elektri
schen Kontakt mit dem n-Material des Wafers aufweist. Die Struk
turierungsmethoden zur Erzeugung der seismischen Masse, des Ver
formungsbereiches 1 und des Rahmens 21 sind dem Fachmann geläufig.
Bei der hier gezeigten Struktur ist besonders wichtig, daß der Ver
formungsbereich 1 auf seiner Oberseite nicht durch eine dielektrische
Isolationsschicht 23 bedeckt ist. Solche dielektrischen Isolations
schichten 23 bestehen in der Regel aus Siliziumoxid oder Silizium
nitrid. Beide Materialien haben einen thermischen Ausdehnungs
koeffizienten, der sich um ca. eine Zehnerpotenz vom thermischen Aus
dehnungskoeffizienten von Silizium unterscheidet. Wenn die Ober
fläche des Verformungsbereiches 1 mit einer solchen Isolations
schicht bedeckt wäre, so käme es aufgrund des sogenannten Bimetall
effektes zu einer Verformung des Verformungsbereiches infolge von
Temperaturschwankungen. Da sich der thermische Ausdehnungs
koeffizient von unterschiedlich dotiertem Silizium nur minimal
unterscheidet, wird bei der hier gezeigten Ausgestaltung des Be
schleunigungssensors die thermisch bedingte Drift der Kennlinie des
Sensors verringert. Die Isolation der Zuleitungen 9 und des Wider
standselementes 3 erfolgt durch die darüberliegende n-dotierte
Schicht 8 und den dadurch entstehenden pn-Übergang. Auf eine weitere
Isolation des Verformungsbereiches kann verzichtet werden.
In Fig. 3 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel mit einem als Mem
bran ausgebildeten Verformungsbereich 2 gezeigt. Dieser Sensor kann
sowohl als Beschleunigungssensor wie auch als Drucksensor verwendet
werden. Der Rahmen 24, der Verformungsbereich 2 und die seismische
Masse 20 bestehen aus einkristallinem Silizium. Weiterhin bestehen
die Widerstandselemente 4 bis 7 und die Zuleitungen 9 ebenfalls aus
Silizium. Aus Vereinfachungsgründen wurde die n-Schicht 8 nicht
eingezeichnet. Um über den gesamten Verformungsbereich die gleiche
Dicke zu haben, ist diese Schicht 8 so angeordnet, daß sie den
gesamten Bereich der Membran überdeckt. Das Widerstandselement 7 ist
so ausgestaltet, daß es sich noch auf den Rahmen 24 erstreckt. In
diesem Fall kann das Widerstandselement 7 auch durch eine
metallische Leiterbahn 10 kontaktiert werden.
Durch die Verwendung von mehreren Widerstandselementen 4, 5, 6, 7
kann die Genauigkeit und das Ausgangssignal des Sensors erhöht
werden. Dies kann beispielsweise dadurch erreicht werden, daß die
vier Widerstandselemente 4 bis 7 in einer Brücke zusammengeschaltet
werden, so daß sich die Temperaturabhängigkeit der elektrischen
Widerstände kompensieren.
Da die Widerstandsänderungen je nach Druck- oder Zugspannung unter
schiedliches Vorzeichen haben, lassen sie sich als Wheatstonebrücke
so verschalten, daß das Ausgangssignal erhöht wird.
Claims (2)
1. Integrierter Sensor aus Silizium, insbesondere ein
Drucksensor oder Beschleunigungssensor, mit mindestens einem
Verformungsbereich (1, 2) aus n-Silizium mit mindestens einem
eindiffundierten Widerstandselement (3 bis 7) aus p-Silizium und
mit einer darüber eindiffundierten Abschirmschicht aus
n-Silizium, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor im
Verformungsbereich (1, 2) ausschließlich aus Silizium besteht.
2. Integrierter Sensor aus Silizium, insbesondere ein
Drucksensor oder Beschleunigungssensor, mit mindestens einem
Verformungsbereich (1, 2) aus p-Silizium mit mindestens einem
eindiffundierten Widerstandselement (3 bis 7) aus n-Silizium und
mit einer darüber eindiffundierten Abschirmschicht aus
p-Silizium, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor im
Verformungsbereich (1, 2) ausschließlich aus Silizium besteht.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005049792B4 (de) * | 2005-05-30 | 2008-08-28 | Mitsubishi Denki K.K. | Halbleiterdrucksensor |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0836265B1 (de) * | 1996-04-26 | 2005-04-13 | The Nippon Signal Co., Ltd. | Elektromagnetischer betätiger und verfahren zu seiner herstellung |
MY123377A (en) | 1999-07-05 | 2006-05-31 | Honda Motor Co Ltd | Sliding members and piston for internal combustion engines |
DE102005032635A1 (de) | 2005-07-13 | 2007-01-25 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische Vorrichtung mit zwei Sensorstrukturen, Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Vorrichtung |
TWI506278B (zh) * | 2012-12-06 | 2015-11-01 | Murata Manufacturing Co | High Voltage Resistive MEMS Sensors |
JP2016161508A (ja) * | 2015-03-04 | 2016-09-05 | セイコーエプソン株式会社 | 圧力センサー、携帯機器、電子機器および移動体 |
DE102023000211B3 (de) | 2023-01-25 | 2024-04-25 | Wieland-Werke Aktiengesellschaft | Widerstandsanordnung und Verfahren zur Bestimmung der Temperatur einer Widerstandsanordnung |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3772628A (en) * | 1972-05-30 | 1973-11-13 | Gen Electric | Integral silicon diaphragms for low pressure measurements |
DE3543261A1 (de) * | 1985-12-06 | 1987-06-11 | Siemens Ag | Drucksensor |
US4809536A (en) * | 1986-11-06 | 1989-03-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of adjusting bridge circuit of semiconductor pressure sensor |
US4885621A (en) * | 1988-05-02 | 1989-12-05 | Delco Electronics Corporation | Monolithic pressure sensitive integrated circuit |
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-
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- 1993-01-07 CH CH4293A patent/CH687650A5/de not_active IP Right Cessation
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005049792B4 (de) * | 2005-05-30 | 2008-08-28 | Mitsubishi Denki K.K. | Halbleiterdrucksensor |
Also Published As
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