DE4139641A1 - Lichtmessanordnung zur messung der winkelabhaengigen lichtverteilung im raum - Google Patents
Lichtmessanordnung zur messung der winkelabhaengigen lichtverteilung im raumInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Lichtmeßanordnung zur Messung der
winkelabhängige Lichtverteilung im Raum gemäß dem Oberbegriff
des Anspruchs 1.
Nach dem derzeitigen technischen Entwicklungsstand werden
winkelabhängigen Lichtverteilungen im Raum für wissenschaftlich
technische Ansprüche mit rechnergesteuerten Präzisionsgoniofoto
metern gemessen (Feingerätetechnik, Berlin 40(1991) 2; CASI
Scatterometer. Firmenschrift TMA; Laser Scatterometer 10020.
Firmenschrift Huber). Diese Einrichtungen sind relativ kosten
intensiv (≈350TDM). Ein weiterer wesentlicher Nachteil dieser
Geräte besteht darin, daß die winkelabhängige Lichtverteilung
durch eine motorisierte Scanbewegung eines Goniometerarmes
sequentiell aufgezeichnet wird. Dies bedingt eine Meßzeit von
mehreren Minuten bis zu Stunden für einen Punkt des Unter
suchungsobjektes.
Um die Meßzeit erheblich zu verkürzen, ist eine Parallelanord
nung von Empfängern in Form von Arrays notwendig. Wegen der
notwendigen Miniaturisierung und um die Kosten in Grenzen zu
halten, werden hierfür Arrays aus Halbleiterempfängern einge
setzt. Bedingt durch die Herstellung aus monolithischen Wafer
scheiben, werden diese Arrays industriell so gefertigt, daß die
Empfänger stets in einer Ebene liegen. Deshalb kann mit diesen
Arrays die winkelabhängige Lichtverteilung nicht unmittelbar
erfaßt werden.
Eine Lösungsmöglichkeit besteht in einer Sonderanfertigung eines
gekrümmten Arrays aus Einzelempfängern mit Hilfe der Hybridtech
nologie (DD 25 92 245). Durch die manuelle Herstellung ist dabei
die Anzahl der Empfänger und somit der erfaßte Winkelbereich
und/oder die Winkelabstützung erheblich eingeschränkt. Ein
derartiges Bauelement ist ebenfalls recht kostenintensiv und
erreicht bei weitem nicht die technischen Parameter von Goniome
tern. Besonders kompliziert gestalten würde sich die hybride
Herstellung eines in der Patentschrift (P 41 05 509.8)
vorgestellten Arrays, welches eine nichtlineare Winkelabstützung
mit nach der 1/cos-Funktion größer werdenden Winkelabständen
vorschlägt.
Sollen industriell monolithisch hergestellte Arrays zum Einsatz
kommen, ist es notwendig, die winkelabhängige Lichtverteilung
mit Hilfe geeigneter Bauelemente in ein ebene, laterale Vertei
lung zu transformieren. Eine Variante dazu ist der Einsatz eines
fokussierenden Bauelementes, speziell einer Linse, wie es bei
spielsweise von Rauheitssensoren bekannt ist. Der erfaßte Win
kelbereich ist hier stark eingeschränkt (≈10°), weiterhin werden
für größere Winkel gleiche Winkelabstände in zunehmend kleinere
Linearabstände transformiert.
Um größere Winkelbereiche zu erfassen, wird das Licht mit Hilfe
von halbkreisförmig angeordneten Lichtleitfasern auf die Arrays
geleitet (DD 2 52 236 A1; US 47 10 642; EP 03 83 244 A1; EP 01 41 369 A2).
Die Herstellung einer derartigen Anordnung ist mit
anspruchsvoller manueller Arbeit verbunden und sehr aufwendig.
Die Reproduzierbarkeit der Herstellungsqualität gestaltet sich
problematisch. Ebenso kann nicht garantiert werden, daß die
einzelnen Fasern gleiche Lichtleiteigenschaften besitzen, was
zum einen durch die Exemplarstreuung bedingt ist, andererseits
dadurch resultiert, daß die einzelnen Fasern verschiedene, nicht
genau determinierbare Krümmungen aufweisen, welche außerdem
aufgrund der Flexibilität auch innerhalb eines Gerätes nicht
zeitlich konstant gehalten werden können. Ein weiterer Nachteil
besteht darin, daß die einzelnen Fasern leicht brechen können,
was zu zunehmendem Leistungsverlust führt. Dagegen wird durch
Einsatz von CCD-Arrays in (The Journal of Physical Chemistry,
1988, 92, 6723) eine für Streulichtmessungen relativ hohe
Abtastrate von 30 ms für das gesamte Array bei gleichzeitig für
den Einsatzfall hinreichender Winkelabstützung von 1° erreicht,
wobei jedoch keine Abtastung des Halbraumes, sondern eine
lineare Abtastung erfolgt, was zu einer wesentlichen
Verringerung der Meßgenauigkeit führt.
Die Erfindung soll die Nachteile bekannter Anordnungen zur
Messung der winkelabhängigen Lichtverteilung im Raum (lange
Meßdauer, geringe Meßgenauigkeit, hoher Platzbedarf) bei
gleichzeitig geringerem Kostenaufwand beseitigen.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß
die integriert-optische Baugruppe ein ebenes Array von
Lichtwellenleitern darstellt, deren Eintrittsöffnungen
bogenförmig, zumindest teilweise um das Meßobjekt und deren
Austrittsöffnungen in der Ebene der Halbleiterfotoempfänger
angeordnet sind.
Zur räumlichen Transformation der winkelabhängigen
Lichtverteilung des Halbraumes in eine laterale Verteilung
kommen Lichtwellenleiterstrukturen in Form eines oder mehrerer
integriert optischer Bauelemente zum Einsatz. Die
Lichtwellenleiter sind hierzu an ihren Eintrittsöffnungen auf
dem Trägersubstrat radial kreisförmig mit dem Radius r bzw.
elliptisch angeordnet und bilden mit ihren Austrittsöffnungen
mindestens eine Ebene. Dadurch entsteht mindestens eine laterale
Verteilung, die sich leicht mit zeilenförmigen Empfängerarrays
(Photodiodenarrays, CCD-Zeilen) bzw. mit großflächigen
Empfängern (SEV, Vollflächendioden), denen eine verschiebliche
Blende vorgeschaltet ist, abtasten läßt.
Diese Lösung vereint die Vorteile der Lösungen mit linearen
Halbleiterbildsensoren (geringe Abmessungen, einfache
Signalverarbeitung, großer Dynamikbereich der eingesetzten
Sensoren) mit den Vorteilen bei der Verwendung von
Lichtleitfasern (direkte Abtastung der Lichtverteilung des
Halbraumes). Gleichzeitig werden die Nachteile der herkömmlichen
Lösungen umgangen: Durch die starre Anordnung der
Lichtwellenleiter auf dem integriert optischen Bauelement werden
die Nachteile der flexiblen Lichtwellenleiter umgangen,
andererseits tritt kein Genauigkeitsverlust durch die ebene
Abtastung mittels der Zeilensensoren auf. Gegenüber den
Präzisionsgoniometern wird eine erhebliche Kostenreduzierung und
Miniaturisierung bei fast gleichen Genauigkeitsparametern
erzielt.
Die Erfindung wird zur Messung einer winkelabhängigen
Lichtverteilung im Raum verwendet. Winkelabhängige
Lichtverteilungen treten insbesondere bei diffraktiv wirkenden
Körpern bzw. Grenzflächen auf (Gitterstrukturen, diffraktive
Elemente) und diffus streuenden Medien auf. Im weitesten Sinne
kann ebenfalls die Streuwirkung an Grenzflächen als eine
Beugungserscheinung verstanden werden.
Neben der grundsätzlichen Lösung sind weitere Details zur
Erzielung bestimmter Effekte bzw. zur Verbesserung der
Leistungsparameter Gegenstand der Erfindung. Diese sollen im
folgenden erläutert werden.
Zur Empfindlichkeitsanpassung an unterschiedliche
Streulichtintensitäten und -verteilungen werden verschiedene
Maßnahmen der Empfängergestaltung sowie der Dämpfung des Lichtes
im Strahlengang getroffen. Im Strahlengang des einfallenden
Lichtes wird mindestens ein Dämpfungsglied zur
Empfindlichkeitsanpassung angeordnet.
Daneben weisen die Lichtwellenleiter der integriert-optischen
Baugruppe fest einstellbare Dämpfungseigenschaften zur
Empfindlichkeitsanpassung auf.
Weitere Maßnahmen zur Empfindlichkeitsanpassung bestehen darin,
daß die Lichtwellenleiter der integriert-optischen Baugruppe
unterschiedliche Breiten und Tiefen sowie unterschiedliche
spektrale Transmissionen aufweisen. Außerdem weisen die
Empfänger der einzelnen Winkelbereiche eine unterschiedliche
Empfindlichkeit, auch in verschiedenen Spektralbereichen, auf.
Eine Empfindlichkeitsanpassung hat den wesentlichen Vorteil, daß
ein breites Materialspektrum mit starken Unterschieden der
Streulichtverteilungen untersucht werden kann. Durch die
Empfindlichkeitsanpassung lassen sich die Unterschiede der
Streulichtverteilungen z. T. kompensieren.
Zur Verbesserung der Signalqualität des Lichtes werden
polarisationswirksame Maßnahmen getroffen. Dazu wird im
Beleuchtungsstrahlengang mindestens ein polarisationsoptisches
Bauelement zur Festlegung des Polarisationszustandes des
Beleuchtungsbündels angeordnet. Durch der integriert-optischen
Baugruppe vor- oder nachgeschaltete polarisationsoptische Bau
elemente wird die empfangene Polarisation eingestellt.
Weiterhin weisen die Lichtwellenleiter der integriert-optischen
Baugruppe polarisationsoptische Eigenschaften auf.
Das integriert optische Bauelement besteht aus mehreren Stücken.
Dies führt zu einer erheblichen Kostenreduzierung, da die
Herstellung größerer integriert optischer Bauelemente sehr
kostenintensiv ist.
Die Signale der Einzelempfänger aus entsprechenden Winkelbe
reichen werden elektronisch (additiv) mit Hilfe einer
Auswerteeinheit zusammengefaßt. Diese Zusammenfassung ist
elektronisch steuerbar. Eine solche Datenvorverarbeitung bietet
den Vorteil der Rechenzeiteinsparung bei einer weiteren
Verarbeitung der aus den Signalen gewonnenen Daten im Computer.
Meßobjekt und Lichtmeßanordnung sind in verschiedenen
Koordinaten und um verschiedene Achsen gegeneinander linear oder
rotatorisch beweglich angeordnet. Durch eine Kippung der
Materialprobe um die x- oder y-Achse läßt sich der Einfluß
unterschiedlicher Einfallswinkel auf das Streulicht untersuchen.
Eine Bewegung der Probe in x- und y-Richtung ermöglicht die
Untersuchung verschiedener Punkte der Oberfläche. Die
Sensorbaugruppe ist drehbar um eine Achse senkrecht zur
Probenoberfläche (z-Achse) angeordnet. Dies bietet den Vorteil,
daß nicht nur ein Schnitt des Halbraumes, sondern ein größerer
Bereiches des Halbraumes bzw. der gesamte Halbraum abgetastet
werden kann. Es gestattet zusätzlich die Untersuchung der
Isotropieeigenschaften der Probenoberfläche.
Es werden mehrere integriert optische Bauelemente mit
entsprechend zugeordneten Empfängern räumlich, radial auf den
Quellpunkt der Lichtverteilung gerichtet, angeordnet. Die
Anordnung erfolgt so, daß die Eintrittsöffnungen der
Lichtwellenleiter der integriert-optischen Baugruppen zusammen
eine Kugeloberfläche bzw. den Teil einer Kugeloberfläche bilden.
Dies gestattet ebenfalls die Abtastung eines größeren Bereiches
des Halbraumes bzw. des gesamten Halbraumes.
Die Erfindung soll anhand von drei Ausführungsbeispielen
erläutert werden.
Es zeigen
Fig. 1 Lichtmeßanordnung zur Messung der winkelabhängigen
Lichtverteilung im Raum.
Fig. 2 Integriert-optische Baugruppe
Fig. 3 Lichtmeßanordnung zur Messung der winkelabhängigen
Lichtverteilung im Raum mit SEV
Fig. 4 Lichtmeßanordnung zur Messung der winkelabhängigen
Lichtverteilung im Raum durch räumliche Anordnung
mehrerer integriert-optischer Baugruppen.
Die Erfindung soll im folgenden anhand der Ausführung eines
Sensors zur winkelaufgelösten Streulichtmessung gezeigt werden.
Fig. 1 zeigt die Lichtmeßanordnung zur Messung der
winkelabhängigen Lichtverteilung im Raum.
Zur Lichterzeugung dient eine starke Laserlichtquelle La. Der
Laserstrahl wird mit bekannten strahlformenden optischen
Systemen Os aufgeweitet und danach auf die zu untersuchende
Probenoberfläche Pr transformiert und u. U. auch fokussiert. Für
polarisationsoptische Untersuchungen befindet sich ein
Polarisator Po im Beleuchtungsstrahlengang. Die Anordnung von
Dämpfungsgliedern Dä im Beleuchtungsstrahlengang dient der
Empfindlichkeitsanpassung des Gesamtsystems an das auftretende
Streulicht.
Das zu untersuchende Objekt Ob befindet sich auf einem
Objektträger Ot, der verschiedene Bewegungen ermöglicht, z. B.
eine Kippung um die x- und/ oder y-Achse, eine x-y-Translation
sowie eine Drehung um die optische Achse. Die
Translationsbewegungen und die Drehbewegung um die optische
Achse ermöglichen die Untersuchung verschiedener Punkte der
Oberfläche bezüglich der Oberflächenbeschaffenheit. Kippung und
Drehung dienen der Untersuchung des Einflusses des
Einfallswinkels auf das Streulicht bzw. der Untersuchung von
Anisotropien der Oberflächenbeschaffenheit.
Kernstück der Anordnung ist die Sensorgruppe. Sie besteht aus
dem Träger der Gesamtgruppe SeTr, einer integriert-optischen
Baugruppe IoBg, als Analysatoren fungierenden
polarisationsoptischen Bauelementen sowie Dämpfungsgliedern.
Die integriert-optische Baugruppe IoBg (Fig. 2) besteht aus
vorzugsweise aus drei Segmenten I, II und III, die drei
Streuwinkelbereichen zugeordnet sind. Die Streuwinkelbereiche
sind durch die Winkel ßl und ß2 bestimmt (siehe Fig. 2). Es wird
insgesamt ein Streuwinkel von 0 Φ 90° erfaßt.
Diese integriert-optische Baugruppe IoBg wird entweder aus einem
Stück gefertigt oder die drei Segmente werden einzeln gefertigt
und anschließend miteinander verbunden (z. B. gekittet). Der
allen Segmenten gemeinsame innere Radius (Abstand zum
Streuzentrum) beträgt r. Für den Radius ist eine Größe von
r = 1 . . . 2cm vorgesehen. Die Basislänge 1 beträgt ca. 3 . . . 5 cm.
Im Segment I wird das Streuspektrum mit einer Winkelauflösung
von ca 0,2° abgetastet. Entsprechend enthält das Segment I eine
Anzahl von n1 Lichtwellenleitern, die am Wellenleiterausgang
einen äquidistanten Abstand besitzen.
Im Segment II wird das Streuspektrum mit einer Winkelauflösung
von ca. 0,5 abgetastet. Die entsprechenden n2 Lichtwellenleiter
weisen am Wellenleiterausgang ebenfalls einen äquidistanten
Abstand auf.
Im Segment III wird das Streuspektrum mit einer Winkelauflösung
von ca 1 abgetastet. Auch hier weisen die zugehörigen n3
Lichtwellenleiter am Ausgang einen äquidistanten Abstand auf.
Zur Wandlung der optischen Strahlung in elektrische Signale an
den Austrittsöffnungen der Lichtwellenleiter sind an den drei
Segmenten Fotoempfänger Em angeordnet. Geeignet hierfür sind
lineare Fotoempfängerarrays (CCD-Zeilen, Fotodiodenzeilen),
welche durch ihre Empfängergeometrie eine direkte Abtastung der
aus den Lichtwellenleitern austretenden optischen Signale
gestatten. Bei den linearen Fotoempfängerarrays nehmen CCD-
Zeilen aufgrund ihrer leichten Ansteuerbarkeit und ihrer hohen
Signalqualität eine herausragende Stellung ein.
Für das Ausführungsbeispiel sind drei CCD-Zeilen (je Segment der
integrierten Optik eine Zeile) konzipiert. Durch die Wahl von
Bauelementen mit unterschiedlichen Empfindlichkeiten und geome
trischen Abmessungen werden unterschiedliche Verhältnisse bei
der Bestrahlungsstärke am Ausgang der integrierten Optik be
rücksichtigt.
Das Einbringen von miniaturisierten, passiven Dämpfungsgliedern
in einen Teil der Ein/Austrittsöffnungen der Lichtwellenleiter
ergänzt die winkelabhängige Empfindlichkeitsanpassung. Diesem
Ziel dient ebenfalls eine partielle Verspiegelung eines Teils
der Ein/Austrittsöffnungen der Wellenleiter.
Fig. 3 zeigt eine Lichtmeßanordnung zur Messung der
winkelabhängigen Lichtverteilung im Raum mit SEV. Sie
unterscheidet sich von der im Ausführungsbeispiel 1
vorgestellten Anordnung dadurch, daß anstelle eines
zeilenförmigen Empfängerarrays Em ein großflächiger Empfänger
(SEV, Vollflächendiode) mit einer davor angeordneten
verschieblichen Blende B1 zum Einsatz kommt.
Durch systematisches Verschieben der Blende werden die aus den
Austrittsöffnungen der Lichtwellenleiter austretenden
Lichtsignale nacheinander abgetastet. Die Verwendung eines SEV
bietet sich aufgrund seiner im Vergleich zu CCD-Zeilen
wesentlich höheren Empfindlichkeit insbesondere für die
Detektion der sehr schwachen Streulichtsignale des Segmentes III
der integriert-optischen Baugruppe an. Gegenstand der Erfindung
ist jedoch daneben auch die Verwendung mehrerer großflächiger
Emfänger bzw. auschließlich großflächiger Empfänger mit davor
angeordneten verschieblichen Blenden anstelle der zeilenförmigen
Arrays (in der Fig. 3 nicht mit dargestellt).
Fig. 4 zeigt eine Lichtmeßanordnung zur Messung der
winkelabhängigen Lichtverteilung im Raum durch räumliche
Anordnung mehrerer integriert-optischer Baugruppen. Sie
unterscheidet sich von den im Ausführungsbeispiel 1 und
Ausführungsbeispiel 2 vorgestellten Anordnungen dadurch, daß
anstelle einer integriert-optischen Baugruppe IoBg mehrere
integriert-optische Baugruppen IoBg nach Ausführungsbeispiel 1
mit entsprechend zugeordneten Empfängern Em nach Ausführungs
beispiel 1 oder 2 (Zeilenförmige Halbleiterfotoempfänger,
Vollflächendioden, SEV) zum Einsatz kommen.
Die integriert-optischen Baugruppen IoBg werden mit ihren
Eintrittsöffnungen radial auf den Quellpunkt der Lichtverteilung
gerichtet, angeordnet. Die Eintrittsöffnungen der
Lichtwellenleiter der integriert-optischen Baugruppen IoBg
bilden dann zusammen eine Kugeloberfläche bzw. den Teil einer
Kugeloberfläche.
Dies gestattet die Abtastung eines größeren Bereiches des
Halbraumes bzw. des gesamten Halbraumes.
Bezugszeichen
La - Laserlichtquelle
Os - Optisches System
Pr - Probenoberfläche
Po - Polarisator
Dä - Dämpfungsglied
Ob - Untersuchungsobjekt
Ot - Objektträger
Setr - Träger der Sensorbaugruppe
IoBg - Integriert-optische Baugruppe
I; II; III - Segmente
Φ - Streuwinkelbereich
r - innerer Radius
l - Basislänge
n₁ - Anzahl der Lichtwellenleiter des Segmentes I
n₂ - Anzahl der Lichtwellenleiter des Segmentes II
n₃ - Anzahl der Lichtwellenleiter des Segmentes III
Em - Fotoempfänger
Os - Optisches System
Pr - Probenoberfläche
Po - Polarisator
Dä - Dämpfungsglied
Ob - Untersuchungsobjekt
Ot - Objektträger
Setr - Träger der Sensorbaugruppe
IoBg - Integriert-optische Baugruppe
I; II; III - Segmente
Φ - Streuwinkelbereich
r - innerer Radius
l - Basislänge
n₁ - Anzahl der Lichtwellenleiter des Segmentes I
n₂ - Anzahl der Lichtwellenleiter des Segmentes II
n₃ - Anzahl der Lichtwellenleiter des Segmentes III
Em - Fotoempfänger
Claims (20)
1. Lichtmeßanordung zur Messung der winkelabhängigen Lichtver
teilung im Raum - beispielsweise Beugungs-, Dispersions- und
Streuspektren - bestehend aus einer Lichtquelle (La), einem
strahlformenden optischen System (Os), Meßobjekthalter und
Meßobjekt (Ob), einem Träger der Sensorbaugruppe (Setr) mit
einer integriert-optischen Baugruppe (IoBg) sowie mindestens
einem Halbleiterfotoempfänger (Em) oder mindestens einem
Halbleiterfotoempfängerarray, welches mit elektronischen
Auswerteeinheiten (AE) verbunden ist, dadurch gekennzeichnet,
daß die integriert-optische Baugruppe (IoBg) ein ebenes Array
von Lichtwellenleitern darstellt, deren Eintrittsöffnungen
bogenförmig, zumindest teilweise um das Meßobjekt (Ob) und deren
Austrittsöffnungen in der Ebene der Halbleiterfotoempfänger (Em)
angeordnet sind.
2. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Eintrittsöffnungen der Lichtwellenleiter radial
kreisförmig mit dem Radius r angeordnet sind.
3. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Eintrittsöffnungen der Lichtwellenleiter elliptisch
angeordnet sind.
4. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Austrittsöffnungen der Lichtwellenleiter mindestens eine
Ebene bilden und an die Empfängerstruktur (Pixelrasterung)
angepaßt sind.
5. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß anstelle mindestens eines Halbleiterfotoempfängers (Em)
mindestens ein mit einer verschieblichen Vorblende (Bl)
versehener großflächiger Fotompfänger, z. B. SEV,
Vollflächendiode, angeordnet ist.
6. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 und 5, dadurch
gekennzeichnet, daß sich im Strahlengang des einfallenden
Lichtes mindestens ein Dämpfungsglied (Dä) befindet.
7. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1, 5 und 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter (LWL) der integriert
optischen Baugruppe (IoBg) insbesondere durch Dotierung
erzeugte, fest eingestellte Eigenschaften zur
Empfindlichkeitsanpassung aufweisen.
8. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Querschnitt der Lichtwellenleiter (LWL) der integriert
optischen Baugruppe (IoBg) unterschiedliche Breiten und Tiefen
aufweist.
9. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtwellenleiter (LWL) der integriert-optischen
Baugruppe (IoBg) unterschiedliche spektrale Transmissionen
besitzen.
10. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die Fotoempfänger (Em) bzw. die
Fotoempfängerarrays unterschiedliche Lichtempfindlichkeiten
aufweisen.
11. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 10, dadurch
gekennzeichnet, daß im Beleuchtungsstrahlengang mindestens ein
polarisationsoptisches Bauelement (Po) angeordnet ist.
12. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß der integriert-optischen Baugruppe (IoBg)
weitere polarisationsoptische Bauelemente vor- und/oder
nachgeschaltet sind.
13. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die Lichtwellenleiter (LWL) der integriert
optischen Baugruppe (IoBg) feste oder steuerbare
polarisationsoptische Eigenschaften aufweisen.
14. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die integriert-optische Baugruppe (IoBg)
vorzugsweise aus drei Stücken besteht.
15. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, daß die Signale der Einzelempfänger (Em) aus
verschiedenen Winkelbereichen mittels der Auswerteeinheit (Ae)
elektronisch (additiv) zusammengefaßt werden, diese
Zusammenfassung elektronisch steuerbar ist und durch einen
Computer (Co) auswertbar ist.
16. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 15, dadurch
gekennzeichnet, daß sich die Probe (Pr) um die x- und/oder y-
Achse kippen läßt.
17. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 16, dadurch
gekennzeichnet, daß sich die Probe (Pr) in x- und y-Richtung
Verschieben läßt.
18. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 17, dadurch
gekennzeichnet, daß die Sensorbaugruppe drehbar um eine Achse
(z-Achse) senkrecht zur Probenoberfläche (Pr) angeordnet ist.
19. Lichtmeßanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß mehrere integriert-optische Baugruppen
(IoBg) mit jeweils entsprechend zugeordneten Empfängern (Em)
räumlich um das Meßobjekt (Ob) herum angeordnet sind.
20. Lichtmeßanordnung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet,
daß die intergriert-optischen Baugruppen (IoBg) radial auf den
Quellpunkt der Lichtverteilung (Qp) gerichtet angeordnet sind,
wobei die Eintrittsöffnungen der Lichtwellenleiter der
integriert-optischen Baugruppen (IoBg) zusammen die Innenseite
einer Kugeloberfläche bzw. den Teil der Innenseite einer
Kugeloberfläche bilden.
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- 1991-12-02 DE DE19914139641 patent/DE4139641C2/de not_active Expired - Fee Related
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