DE4136655A1 - Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substrats - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum reaktiven beschichten eines substratsInfo
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- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/332—Coating
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum reaktiven
Beschichten eines Substrats, beispielsweise mit Silizi
umdioxid (SiO2), bestehend aus einer Stromquelle, die mit
einer in einer evakuierbaren Beschichtungskammer angeord
neten Elektrode verbunden ist, die elektrisch mit einem
Target in Verbindung steht, das zerstäubt wird und dessen
zerstäubte Teilchen sich auf dem Substrat niederschlagen,
wobei in die Beschichtungskammer ein Prozeßgas und ein
Reaktivgas einbringbar sind und wobei zwei elektrisch
voneinander und von der Sputterkammer getrennte Elektro
den vorgesehen sind, von denen die eine Elektrode eine
Magnetronkathode ist, bei der der Kathodenkörper und das
Material des Targets elektrisch miteinander verbunden
sind und die andere Elektrode als Anode bei der Plasma
entladung wirkt, und wobei eine Gleichstromversorgung mit
einem elektrisch hängenden (floatenden) Ausgang vorge
sehen ist, die mit ihrem negativen Pol - unter Zwischen
schaltung einer Drossel - mit der Kathode und mit ihrem
positiven Pol mit der Anode verbunden ist, wobei parallel
zur Drossel ein erster Widerstand angeordnet ist und
wobei zwischen der Kathode und der Anode eine induktions
arme Kapazität und zwischen Anode und dem Masseanschluß
ein zweiter Widerstand eingeschaltet ist nach Patent
......(Patentanmeldung P 40 42 289.5).
Bei bekannten Verfahren zum Beschichten von Substraten
mit Hilfe von Kathodenzerstäubung und Materialien mit
einer hohen Affinität zum Reaktivgas besteht das Problem,
daß neben dem Substrat selbst auch Teile der Vorrichtung,
wie die Innenwand der Prozeßkammer oder Teile von Blenden
mit elektrisch nicht oder schlecht leitenden Materialien
beschichtet werden, was die häufige Änderung der Prozeß
parameter während eines einzigen Beschichtungsprozesses
oder auch eine häufige Unterbrechung des Prozesses und
auch eine häufige Reinigung oder einen Austausch von
Teilen der Vorrichtung erforderlich macht, insbesondere
aber zu den gefürchteten elektrischen Entladungen
(Arcing) führt.
Der Erfindung nach der Hauptanmeldung lag nun die Aufgabe
zugrunde, eine Vorrichtung zum Sputtern von Materialien
mit hoher Affinität zu einem Reaktivgas zu schaffen, die
einen gleichmäßigen, stabilen bzw. Arcing-freien Prozeß
ermöglicht und eine Reinigung der Teile der Vorrichtung
überflüssig macht, und zwar ohne daß herkömmliche bzw.
bereits vorhandene Vorrichtungen oder Anlagen hierfür
ungeeignet sind bzw. ohne daß an diesen wesentliche oder
kostspielige Umbauten oder Änderungen vorgenommen werden
müssen. Darüber hinaus ist die Vorrichtung nach der
Hauptanmeldung geeignet, insbesondere bei langen Be
triebszeiten störungsfrei zu arbeiten - und dies auch bei
reaktiver Abscheidung isolierender Schichten, wie z. B.
SiO2, Al2O3, NiSi2-Oxid, ZrO2, TiO2, ZnO, Ta2 O3, SnO2.
In der Praxis hat sich nun gezeigt, daß die in der Haupt
anmeldung beschriebene Vorrichtung zwar die überwiegende
Zahl der Arcs unterdrückt bzw. die Zeitdauer jedes Arcs
erheblich verkürzt; daß es aber wünschenswert ist, die
Energie der Arcs noch weiter abzusenken bzw. die Wieder
zündung nach einem Arc zu verbessern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß in
Reihe zur induktionsarmen Kapazität eine Induktivität in
die Zweigleitung zum Widerstand bzw. zur Drossel einge
schaltet ist, und zwar mit einem typischen Wert für L von
etwa 15 µHe.
Bei einer alternativen Ausführungsform mit einer Kathode
mit einem ringförmigen oder ovalen Target und mit einer
elektrisch von der Vakuumkammer und von der Anode ge
trennten, als Magnetronkathode ausgebildeten, aus zwei
elektrisch voneinander getrennten Teilen bestehenden
Kathode, bei der der Targetgrundkörper mit Joch und
Magneten als der eine Teil - unter Zwischenschaltung
einer Kapazität - an den negativen Pol einer Gleichstrom-
Spannungsversorgung und das Target als der andere Teil
über eine Leitung und unter Zwischenschaltung einer
Drossel und einem dieser parallel liegenden Widerstand an
die Stromversorgung angeschlossen ist, wobei das Target
über eine weitere Kapazität mit dem Pluspol der Stromver
sorgung und mit der Anode verbunden ist, die ihrerseits
über einem Widerstand - auf Masse liegt, ist erfindungs
gemäß in Reihe zur induktionsarmen Kapazität eine weitere
Induktivität in die Zweigleitung zum Widerstand und zur
Drossel eingeschaltet, wobei der Wert für den auf Masse
liegenden Widerstand typischerweise zwischen 2 kΩ und
10 kΩ beträgt.
Weitere Einzelheiten und Merkmale sind in den Patentan
sprüchen näher charakterisiert und gekennzeichnet.
Die Erfindung läßt die verschiedensten Ausführungsmög
lichkeiten zu; zwei davon sind in den anhängenden Zeich
nungen schematisch näher dargestellt, die den Schnitt
durch Sputteranlagen mit verschieden ausgebildeten Magne
tron-Sputterkathoden zeigen.
In der Zeichnung (Fig. 1) ist ein Substrat 1 darge
stellt, das mit einer dünnen Schicht 2 aus einem Oxid
(z. B. Siliziumdioxid oder Aluminiumoxid) versehen werden
soll. Diesem Substrat 1 liegt ein Target 3 gegenüber, das
zu zerstäuben ist. Das Target 3 steht über eine Platte 4
mit einer Elektrode 5 in Verbindung, die auf einem Joch 6
ruht, das zwischen sich und dem Element 4 Magnete 7, 8,
9, einschließt.
Die auf das Target 3 gerichteten Polaritäten der Pole der
Magnete 7, 8, 9 wechseln sich ab, so daß jeweils die Süd
pole der beiden äußeren Magnete 7, 9 mit dem Nordpol des
innenliegenden Magnets 8 etwa kreisbogenförmige Magnet
felder durch das Target 3 bewirken. Diese Magnetfelder
verdichten das Plasma vor dem Target 3, so daß es dort,
wo die Magnetfelder die Maxima ihrer Kreisbögen aufwei
sen, seine größte Dichte hat. Die Ionen im Plasma werden
durch ein elektrisches Feld beschleunigt, das sich auf
grund einer Gleichspannung aufbaut, die von einer Gleich
stromquelle 10 abgegeben wird. Diese Gleichstromquelle 10
ist mit ihrem negativen Pol über die Leitung 28 mit der
Elektrode 5 - unter Zwischenschaltung einer Drossel 45
und einem zur Drossel parallel geschalteten Widerstand 46
- verbunden. Das elektrische Feld steht senkrecht auf der
Oberfläche des Targets 3 und beschleunigt die positiven
Ionen des Plasmas in Richtung auf dieses Target 3. Hier
durch werden mehr oder weniger viele Atome oder Partikel
aus dem Target 3 herausgeschlagen, und zwar insbesondere
aus den Gebieten 13, 14. Die zerstäubten Atome oder Par
tikel wandern vorwiegend in Richtung auf das Substrat 1
zu, wo sie sich als dünne Schicht 2 niederschlagen.
Bei der Vorrichtung nach Fig. 1 ist die Leitung 28
außerdem über eine Zweigleitung 29, in die eine Indukti
vität 49 eingeschaltet ist, und einen Kondensator 34 und
einen diesem parallel geschalteten weiteren Kondensator
48 an die Leitung 40 angeschlossen, die den Pluspol der
Gleichstromquelle 10 mit der Anode 44 verbindet. Über
eine weitere Zweigleitung 41 und einen in diese einge
schalteten Widerstand 47 sind die Vakuumkammer 25 und die
Leitung 40 an Erde gelegt. Der Widerstand 47 ist typi
scherweise auf 2 kΩ bemessen.
Das Target 3 kann beispielsweise aus einem Material hoher
Affinität zum Reaktivgas bestehen, beispielsweise Si.
Während des Sputterprozesses tragen nun diese Konfigura
tion und Werkstoffauswahl, die entsprechenden Magnet
felder und ein abgestimmtes Verhältnis von Sauerstoff zu
Argon dafür Sorge, daß sich die Schicht 2 auf dem Sub
strat 1 aus SiO2(Silixiumdioxid) aufbaut.
Für die Steuerung der dargestellten Anordnung kann ein
Prozeßrechner vorgesehen werden, der Meßdaten verarbeitet
und Steuerungsbefehle abgibt. Diesem Prozeßrechner können
beispielweise die Werte des gemessenen Partialdrucks in
der Prozeßkammer 15, 15a zugeführt werden. Aufgrund die
ser und anderer Daten kann er zum Beispiel den Gasfluß
aus den Behältern 16, 17 über die Ventile 18, 19 regeln
und die Spannung an der Kathode 5 einstellen. Der Prozeß
rechner ist auch in der Lage, alle anderen Variablen,
z. B. den Kathodenstrom und die magnetische Feldstärke,
zu regeln. Da derartige Prozeßrechner bekannt sind, wird
auf eine Beschreibung ihres Aufbaus verzichtet.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 2 weist die Kathode 30
ein ovales Target 32, 32′ auf, das über die Leitung 28
bzw. die Zweigleitungen 28a, 28b - unter Zwischenschal
tung einer Drossel 45 und einem dieser Drossel parallel
gelegten Widerstand 46 - mit dem negativen Pol der
Gleichstromquelle 10 verbunden ist. Eine weitere Zweig
leitung 42 mit einer in diese eingeschalteten Kapazität
38 und einer Induktivität 50 und einer weiteren, dieser
Kapazität parallelgeschalteten Kapazität 48 ist an die
Leitung 43 angeschlossen, die den Pluspol der Gleich
stromquelle 10 mit der Anode 44 verbindet und die ihrer
seits über einen in die Zweigleitung 41 eingeschalteten
Widerstand 47 an Erde liegt.
Zur Lösung der obengenannten Aufgabe sind also (Fig. 1)
bei einer Sputteranlage zwei elektrisch voneinander und
von der Sputterkammer 25 getrennte Elektroden 5 bzw. 44
vorgesehen, wobei die eine Elektrode eine Magnetronkatho
de 5 ist und die andere Elektrode als Anode 44 bei der
Plasmaentladung benutzt wird. Außerdem weist die Sputter
anlage
- a) eine Gleichstrom-SSV 10 mit einem elektrisch hängen den (floatenden) Ausgang auf, wobei diese SSV mit ihrem negativen Pol über eine Drossel 45 an die Kathode 5 und mit ihrem positiven Pol an die Anode 44 angeschlossen ist, und
- b) parallel zu der Drossel 45 einen Widerstand 46 und
- c) zwischen Kathode 5 und Anode 44 eine induktions arme, HF-taugliche Kapazität 34 und eine Induktivi tät 49 und
- d) zwischen Anode 44 und der elektrisch getrennten Sputterkammer 25 einen Widerstand 47 auf.
In der alternativen Ausführungsform einer Sputteranlage
(Fig. 2), bei der die Kathode aus zwei elektrisch ge
trennten Teilen konstruiert ist, nämlich aus einem Teil,
das die eigentliche Elektrode darstellt (z. B. das Tar
getmaterial 32, 32′ zusammen mit dem Targetträger), und
aus einem zweiten Teil, einer Targetumgebung 31, 36,
(z. B. einem Zwischen-Pol-Target-Kathode, bei dem das
eigentliche Target von Jochen, Magneten und Polschuhen
elektrisch getrennt ist), ist außerdem noch zwischen (dem
ovalen) Target 32, 32′ und der elektrisch getrennten Tar
getumgebung 31, 36 eine induktionsarme Kapazität 37 ein
geschaltet.
Die Aufgabe der Kapazität 34 bzw. 38 und der Induktivität
49 bzw. 50 besteht darin, die durch den Sputterprozeß
induzierte Hochfrequenzspannungs- und Stromschwingungen,
die zu Überschlägen und Bogenentladungen (Arcing) führen,
kurzzuschließen bzw. zu unterdrücken.
In einem D.C.-Sputterprozeß können Plasmaschwingungen bei
sehr hohen Frequenzen (MHz bis GHz) entstehen, die zu
einer momentanen und lokalen Spannungserhöhung führen,
die teilweise höher als die sogenannte Durchbruchsspan
nung für die gegebene Kathode-Anode-Konfiguration sein
können. Diese lokalen Spannungsüberhöhungen führen zu
elektrischen Überschlägen und Bogenzündungen. Die Kapazi
tät 34 bzw. 38 soll diese Spannungsüberhöhungen kurz
schließen.
Die Aufgabe der Drosselinduktivität 45 besteht darin, die
Kathodenspannung während des Kurzschlußverlaufs drastisch
zu reduzieren und damit die Löschung des eventuellen
Bogens zu ermöglichen.
Die Induktivität 45, die Kapazität 34 bzw. 38 und dazu
gehörenden elektrischen Bauelemente stellen einen elek
trischen Schwingkreis dar. Das elektrische Schwingen ist
unerwünscht und wird deshalb mit Hilfe des Widerstands 46
gedämpft.
Um einen langfristig stabilen Sputterprozeß zu erreichen,
sind also Maßnahmen unvermeidlich, die es erschweren oder
sogar verhindern, die Anode 44 mit einer isolierenden
Schicht zu bedecken.
Schließlich besteht die Aufgabe der Kapazität 37 darin,
die Häufigkeit der zufälligen elektrischen Überschläge,
die zwischen dem Target 32, 32′ und der Targetumgebung 31
entstehen, zu mindern oder sogar vollständig zu beseiti
gen.
Standard-Planar-Magentronkathode | |
Kathodenlänge|750 mm | |
Kathodenbreite | 280 mm |
LH-SSV | 30 kW |
Dimensionierung der elektrischen Bauteile | |
45|1 mH | |
46 | 100 Ω |
34 | 2 µF |
47 | 2 kΩ |
49 | 15 µHe |
48 | 20 nF |
In der Praxis kann eine relativ große Kapazität (einige
µF) bei hohen Frequenzen ihre kapazitive Eigenschaft ver
lieren und besitzt auch oft eine sehr hohe Eigenindukti
vität. Die Aufgabe des Kondensators 48 ist es deshalb,
die hohe Eigeninduktivität und den damit verbundenen
großen induktiven Widerstand des Kondensators 34 her
unterzusetzen.
ZPT-(Zwischen-Pol-Target)Kathode | |
Kathodenlänge|750 mm | |
Kathodenbreite | 260 mm |
LH-SSV | 30 kW |
Dimensionierung der elektrischen Bauteile | |
45|1 mH | |
46 | 100 Ω |
38 | 3 µF |
47 | 2 kΩ |
50 | 15 µHe |
48 | 20 nF |
Bezugszeichenliste
1 Substrat
2 Schicht
3, 3a, 3b Target
4 Platte, Kupferplatte
5 Kathode
6 Joch
7 Magnet
8 Magnet
9 Magnet
10 Gleichstromquelle, Gleichstrom-Spannungsversorgung
11 Kathodenkörper
13 Sputtergraben (Gebiet)
14 Sputtergraben (Gebiet)
15, 15a Beschichtungskammer, Rezipient
16 Gasbehälter
17 Gasbehälter
18 Ventil
19 Ventil
20 Einlaßstutzen, Argoneinlaß
21 Einlaßstutzen, Reaktivgaseinlaß
22 Gaszuführungsleitung
23 Gaszuführungsleitung
24 Blenden
25 Behälter, Vakuumkammer
27 elektrischer Anschluß (Masseleitung)
28, 28a, 28b elektrischer Anschluß
29 Zweigleitung
30 Kathode
31 Kathodenkörper
32, 32′ Target
34 Kapazität, Kondensator
36 Joch
37 Kapazität
38 Kapazität
40 Plus-Leitung, Leitung
41 Zweigleitung
42 Zweigleitung
43 Zweigleitung
44 Elektrode
45 Drossel
46 Widerstand
47 Widerstand
48 Kapazität, HF-tauglicher Kondensator
49 Induktivität
50 Induktivität
2 Schicht
3, 3a, 3b Target
4 Platte, Kupferplatte
5 Kathode
6 Joch
7 Magnet
8 Magnet
9 Magnet
10 Gleichstromquelle, Gleichstrom-Spannungsversorgung
11 Kathodenkörper
13 Sputtergraben (Gebiet)
14 Sputtergraben (Gebiet)
15, 15a Beschichtungskammer, Rezipient
16 Gasbehälter
17 Gasbehälter
18 Ventil
19 Ventil
20 Einlaßstutzen, Argoneinlaß
21 Einlaßstutzen, Reaktivgaseinlaß
22 Gaszuführungsleitung
23 Gaszuführungsleitung
24 Blenden
25 Behälter, Vakuumkammer
27 elektrischer Anschluß (Masseleitung)
28, 28a, 28b elektrischer Anschluß
29 Zweigleitung
30 Kathode
31 Kathodenkörper
32, 32′ Target
34 Kapazität, Kondensator
36 Joch
37 Kapazität
38 Kapazität
40 Plus-Leitung, Leitung
41 Zweigleitung
42 Zweigleitung
43 Zweigleitung
44 Elektrode
45 Drossel
46 Widerstand
47 Widerstand
48 Kapazität, HF-tauglicher Kondensator
49 Induktivität
50 Induktivität
Claims (2)
1. Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Sub
strats (1) mit einem elektrisch leitfähigen Werk
stoff, beispielsweise mit Siliziumdioxid (SiO2),
bestehend aus einer Stromquelle (10), die mit einer
in einer evakuierbaren Beschichtungskammer (15, 15a)
angeordneten, Magnete (7, 8, 9) einschließende Ka
thode (5) verbunden ist, die elektrisch mit einem
Target (3) zusammenwirkt, das zerstäubt wird und
dessen zerstäubte Teilchen sich auf dem Substrat (1)
niederschlagen, wobei zwei elektrisch voneinander
und von der Sputterkammer (25) getrennte Elektroden
(44, 5) vorgesehen sind, von denen die eine Elektro
de eine Magnetronkathode (5) ist, bei der der Katho
denkörper (11) und das Material des Targets (3)
elektrisch miteinander verbunden sind und die andere
Elektrode als Anode (44) bei der Plasmaentladung
wirkt, und wobei eine Gleichstromversorgung (10) mit
einem elektrisch hängenden (floatenden) Ausgang
vorgesehen ist, die mit ihrem negativen Pol - unter
Zwischenschaltung einer Drossel (45) - mit der
Kathode (5) und mit ihrem positiven Pol mit der
Anode (44) verbunden ist, wobei parallel zur Drossel
(45) ein erster Widerstand (46) angeordnet ist und
wobei zwischen der Kathode (5) und der Anode (44)
eine induktionsarme Kapazität (34) und zwischen
Anode (44) und dem Masseanschluß ein zweiter Wider
stand (47) eingeschaltet ist, dadurch gekennzeich
net, daß in Reihe zur induktionsarmen Kapazität (34)
eine Induktivität (49) in die Zweigleitung (29) zum
Widerstand (49) und zur Drossel (45) eingeschaltet
ist mit einem typischen Wert von L von etwa 15 µHe.
2. Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Sub
strats (1) mit einem elektrisch leitfähigen Werk
stoff, beispielsweise mit Siliziumdioxid (SiO2),
bestehend aus einer Stromquelle (10), die mit einer
in einer evakuierbaren Beschichtungskammer (15, 15a)
angeordneten, Magnete (7, 8, 9) einschließende Ka
thode (30) verbunden ist, die elektrisch mit einem
Target (32, 32′) zusammenwirkt, das zerstäubt wird
und dessen zerstäubte Teilchen sich auf dem Substrat
(1) niederschlagen, wobei eine elektrisch von der
Vakuumkammer (25) und von der Anode (44) getrennte,
als Magnetronkathode ausgebildete, aus zwei elek
trisch voneinander getrennten Teilen bestehende
Kathode (30), bei der der Targetgrundkörper (31) mit
Joch (36) und Magneten (7, 8, 9) als der eine Teil -
unter Zwischenschaltung einer Kapazität (37) - an
den negativen Pol einer Gleichstrom-Spannungsversor
gung (10) und das Target (32, 32′) als der andere
Teil über eine Leitung (28) und unter Zwischenschal
tung einer Drossel (45) und einem dieser parallel
liegenden Widerstand (46) an die Stromversorgung
(10) angeschlossen ist, und wobei das Target (32,
32′) über eine weitere Kapazität (38) mit dem Plus
pol der Stromversorgung (10) und mit der Anode (44)
verbunden ist, die ihrerseits unter Zwischenschal
tung eines Widerstands (47) auf Masse liegt, dadurch
gekennzeichnet, daß in Reihe zur induktionsarmen
Kapazität (38) eine Induktivität (50) in die Zweig
leitung (42) zum Widerstand (46) und zur Drossel
(46) eingeschaltet ist, wobei der Wert für den
Widerstand (47) typischerweise zwischen 2 kΩ und 10
kΩ liegt.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914136655 DE4136655C2 (de) | 1990-12-31 | 1991-11-07 | Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Substrats |
US07/839,963 US5240584A (en) | 1991-11-07 | 1992-02-24 | Apparatus for the reactive coating of a substrate |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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DE19914136655 DE4136655C2 (de) | 1990-12-31 | 1991-11-07 | Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Substrats |
Publications (2)
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ID=25899903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914136655 Expired - Fee Related DE4136655C2 (de) | 1990-12-31 | 1991-11-07 | Vorrichtung zum reaktiven Beschichten eines Substrats |
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1991
- 1991-11-07 DE DE19914136655 patent/DE4136655C2/de not_active Expired - Fee Related
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