DE4133150A1 - Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband - Google Patents

Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband

Info

Publication number
DE4133150A1
DE4133150A1 DE19914133150 DE4133150A DE4133150A1 DE 4133150 A1 DE4133150 A1 DE 4133150A1 DE 19914133150 DE19914133150 DE 19914133150 DE 4133150 A DE4133150 A DE 4133150A DE 4133150 A1 DE4133150 A1 DE 4133150A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
pressure plate
semiconductor wafer
semiconductor
strip
shaped groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19914133150
Other languages
English (en)
Inventor
Bernd Dr Schueppert
Richard Vogeler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19914133150 priority Critical patent/DE4133150A1/de
Publication of DE4133150A1 publication Critical patent/DE4133150A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • H01L21/3043Making grooves, e.g. cutting
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0005Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing
    • B28D5/0011Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing with preliminary treatment, e.g. weakening by scoring
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0005Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing
    • B28D5/0017Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing using moving tools
    • B28D5/0023Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing using moving tools rectilinearly
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/25Preparing the ends of light guides for coupling, e.g. cutting
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/26Optical coupling means
    • G02B6/30Optical coupling means for use between fibre and thin-film device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Abtrennen eines Halbleiter-Plättchens aus einem Halbleiter-Plättchen­ verband entlang einer vorgegebenen Trennungslinie, bei dem entlang der Trennungslinie eine V-förmige Nut hergestellt wird und anschließend der Halbleiterplättchenverband mit der V-förmigen Nut auf einer kalottenförmigen Auflage druckbe­ lastet wird.
Bei einem bekannten Verfahren dieser Art (P. Kästner "Halb­ leiter-Technologie" 1. Aufl., 1980, S. 86) wird zum Abtrennen eines Halbleiter-Plättchens aus einem Halbleiter-Plättchen­ verband in Form eines Wafers die Kristalloberfläche mit einer feinen Diamantspitze angeritzt, wodurch - wie ergänzend dem Buch von H. Beneking "Halbleiter-Technologie", 1991, S. 301 zu entnehmen ist, eine V-förmige Nut mit einem Tiefenriß aufge­ rissen wird. Anschließend wird bei dem bekannten Verfahren der Halbleiter-Plättchenverband auf einer von einem kalottenför­ migen Stempel gebildeten Auflage druckbelastet, wodurch unter Abtrennen des jeweiligen Halbleiter-Plättchens der Halblei­ ter-Plättchenverband zerbricht. Auf dieses Weise abgetrennte Halbleiter-Plättchen haben den Nachteil, daß sie an ihrer Trennkante bzw. -fläche Unebenheiten aufweisen, weil beim Anritzen mit der Diamantspitze keine exakt V-förmige Nut entsteht, sondern eine Nut, die in ihrem Grund gerundet ist. Beim Abtrennen durch Druckbelastung entsteht dann keine ebene Bruchfläche, so daß insbesondere Halbleiter-Plättchen in integrierter Optik an ihrer Trennfläche den gestellten An­ forderungen einer ebenen, quasi polierten Fläche nicht entsprechen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Abtrennen eines Halbleiter-Plättchens aus einem Halblei­ ter-Plättchenverband vorzuschlagen, mit dem sich Halbleiter- Plättchen mit einer Trennfläche herstellen lassen, die von so hoher optischer Qualität ist, daß keine diffuse Rückstreu­ ung von Licht erfolgt.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird bei einem Verfahren der ein­ gangs angegebenen Art erfindungsgemäß die V-förmige Nut durch anisotropes Ätzen hergestellt.
Ein besonderer Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens be­ steht darin, daß durch Anwendung des anisotropes Ätzen V- förmige Nuten hergestellt werden können, die exakt einem "V" entsprechen, also in ihrem Grunde nicht gerundet sind. Wird ein Halbleiter-Plättchenverband mit einer auf diese Weise her­ gestellten V-förmigen. Nut druckbelastet, dann ergibt sich eine Bruchfläche, die wie poliert aussieht, demzufolge also keine diffuse Rückstreuung von Licht hervorruft. Dies ist beispiels­ weise dann von großer Bedeutung, wenn es sich bei dem Halb­ leiter-Plättchen um ein Plättchen in integrierter Optik handelt; ein Beispiel dafür ist ein optischer Wellenleiter, der auf der Oberseite eines Substrats integriert einen optischen Wellenleiter aufweist, wie dies in der DE 39 22 009 A1 beschrieben ist. Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens wird im Hinblick auf das angestrebte Abtrennen längs spezieller Kristallrichtungen darin gesehen, daß sich eine zum anisotropen Ätzen erforderliche Maske auf dem Halb­ leiter-Plättchenverband mit größerer Genauigkeit im Hinblick auf die speziellen Kristallrichtungen aufbringen läßt, als dies beim Führen einer Diamantspitze beim Ritzen der Fall ist; auf jeden Fall ist der Aufwand hinsichtlich des Aufbringens einer genau ausgerichteten Maske erheblich geringer als bei einer Führungseinrichtung für eine Diamantspitze.
Als vorteilhaft hat es sich hinsichtlich der erzielbaren opti­ schen Qualität der Trennfläche erwiesen, wenn durch das aniso­ trope Ätzen bei dem erfindungsgemäßen Verfahren eine V-förmige Nut mit einer Tiefe hergestellt wird, die etwa 30% der Dicke des Halbleiter-Plättchens beträgt. Daraus ergibt sich dann die Breite eines von einer Maske bereitzustellenden Spaltes für den Zutritt des Ätzmittels, weil sich beim anisotropen Ätzen Schrägen mit vorgegebenen Winkeln ergeben.
Ferner wird es als vorteilhaft angesehen, wenn der Halbleiter- Plättchenverband beiderseits der kalottenförmigen Auflage in gleichem Abstand linienförmig druckbelastet wird. Dabei hat sich eine federnde Druckbelastung des Halbleiter-Plättchen­ verbandes als besonders vorteilhaft gezeigt.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann mit unterschiedlich gestal­ teten Vorrichtungen ausgeführt werden, insbesondere was deren mechanischen Teil, d. h. das Druckbelasten zum Abtrennen anbe­ langt. Als besonders vorteilhaft wird es jedoch angesehen, wenn bei einer Vorrichtung zur Durchführung des erfindungs­ gemäßen Verfahrens die kalottenförmige Auflage ein Gummi­ streifen ist, der an einer Auflageplatte gehalten ist, und der Auflageplatte mit Abstand eine Druckplatte gegenüberliegt, die symmetrisch zum Gummistreifen federnde Bänder trägt; der Abstand ist dabei so bemessen, daß zwischen Auflage- und Druckplatte der Halbleiter-Plättchenverband einbringbar ist.
Bei der Vorrichtung sind die federnden Bänder vorteilhafter­ weise Gewebeschläuche, die aufgrund ihrer Beschaffenheit die federnde Druckbelastung zusammen mit dem Gummistreifen bewirken.
Um in einfacher Weise eine Ausrichtung des Halbleiter-Plätt­ chenverbandes hinsichtlich der geätzten V-förmigen Nut in bezug auf den Gummistreifen zu erreichen, ist diesem gegenüber in der Druckplatte vorteilhafterweise ein Justierkeil federnd gelagert. Durch diesen Justierkeil wird der Halbleiter-Plätt­ chenverband vor der Druckbelastung so ausgerichtet, daß der Grund der V-förmigen Nut dem Gummistreifen als kalotten­ förmiger Auflage genau gegenüberliegt.
Zur Erläuterung der Erfindung ist in
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Halbleiter-Plätt­ chenverbandes in integrierter Optik, in
Fig. 2 der anisotrope Ätzvorgang zur Herstellung einer V-för­ migen Nut und in
Fig. 3 ein Schnitt durch eine schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens gezeigt.
Bei dem Halbleiter-Plättchenverband 1, wie er in der Fig. 1 dargestellt ist, handelt es sich um einen stabförmigen Halb­ leiter-Plättchenverband mit rechteckförmigem Querschnitt, der zur Herstellung von Halbleiter-Plättchen in integrierter Optik (optischer Wellenleiter) geeignet ist. Der Halbleiter-Plätt­ chenverband 1 weist ein stabförmiges Substrat 2 auf, das an seiner Oberseite 3 durch Diffusion aus einem nicht dargestell­ ten germaniumhaltigen Streifen einen optischen Wellenleiter 4 enthält (vgl. DE 39 22 009 A1). Um aus dem Halbleiter-Plätt­ chenverband 1 einzelne Halbleiter-Plättchen 5 herzustellen, sind auf der Unterseite des Substrates 2 V-förmige Nuten 6 und 7 durch anisotropes Ätzen hergestellt, wie dies nachfolgend im einzelnen erläutert wird. Wird auf den Halbleiter-Plättchen­ verband 1 im Bereich der V-förmigen Nuten 6 und 7 in Richtung der Pfeile 8 und 9 eine Druckbelastung ausgeübt, dann tritt ein Abtrennen infolge der durch die V-förmigen Nuten 6 und 7 erzielten Kerbwirkung an Trennflächen 10 und 11 ein.
Anhand der Fig. 2 mit ihren Darstellungen A, B, C und D wird das anisotrope Ätzen zur Herstellung einer V-förmigen Nut im einzelnen erläutert. Der Halbleiter-Plättchenverband 1 ist zunächst ein durchgehender Stab aus beispielsweise einem Sili­ ziumsubstrat, in dem beispielsweise durch Diffusion der opti­ sche Wellenleiter 4 durchgehend gebildet ist; der Wellenleiter 4 erstreckt sich demzufolge von einem Ende 12 bis zum anderen Ende 13 des Verbandes 1. Auf den Halbleiter-Plättchenverband 1 wird in einem ersten vorbereitenden Schritt oben und unten jeweils eine Siliziumdioxidschicht 14 und 15 aufgebracht, beispielsweise durch thermische Oxidation (Darstellung A der Fig. 2). Anschließend wird auf die Siliziumdioxidschicht 14 eine Fotolackschicht 16 aufgebracht, wie dies der Darstellung B der Fig. 2 entnehmbar ist. Dabei ist durch eine entspre­ chende Maske dafür gesorgt, daß in der Fotolackschicht 16 ein Spalt 17 verbleibt.
Anschließend wird - wie die Darstellung C der Fig. 2 erkennen läßt - die Siliziumdioxidschicht 14 im Bereich des Spaltes 17 weggeätzt, so daß eine streifenförmige Fläche 18 auf der Unterseite des Halbleiter-Plättchenverbandes 1 freigelegt ist.
Danach erfolgt ein anisotropes Ätzen, beispielsweise mit Kalilauge, wodurch eine V-förmige Nut 19 entsteht, wie dies die Darstellung D der Fig. 2 zeigt. Handelt es sich bei dem Ausgangsmaterial für den Halbleiter-Plättchenverband 1 um (100)-orientiertes Silizium, dann ergeben sich die Schrägen 20 und 21 der V-förmigen Nut 19 entsprechend der (111)-Orientie­ rung des Siliziums und weisen bei einem kubisch raumzentrier­ ten Gitter einen Winkel von 54,7° auf. Die Tiefe der V-förmi­ gen Nut 19 ist dann um den Faktor 0,707 kleiner als die Breite b der Nut. Hat das Substrat eine Dicke von 0,5 mm, dann sollte mit einer Breite b = 0,2 mm gearbeitet werden; die Tiefe der Nut 19 beträgt dann deutlich weniger als die Hälfte der Substratdicke.
Die Reste der Siliziumdioxidschichten 14 und 15 können nach dem anisotropen Ätzen entfernt werden.
Der entsprechend den Erläuterungen gemäß Fig. 2 mit ( in der Regel mehreren) V-förmigen Nuten 19 versehene Halbleiter- Plättchenverband 1 wird anschließend in eine Vorrichtung 22 gebracht, die als Schnitt mit ihren wesentlichen Teilen in der Fig. 3 gezeigt ist. Die Vorrichtung enthält eine Druckplatte 23 mit einer linienförmigen Vertiefung 24, in der als kalot­ tenförmige Auflage ein Gummiring 25 gehalten ist. Der Auf­ lageplatte 23 gegenüber liegt eine Druckplatte 26, die in einer Bohrung 27 einen Justierkeil 28 enthält, der durch eine an einer Abdeckplatte 30 abgestützte Feder 29 in der Bohrung 28 nach unten gedrückt wird; zur Führung des Justierkeils 28 dient ein Schlitz 31 in der Druckplatte 26 zusammen mit einem Ansatz 32 am Justierkeil 28. Beiderseits des Justierkeils 28 befinden sich Ausnehmungen 33 und 34 in der Druckplatte 26, die sich senkrecht zur Zeichenebene erstrecken und federnde Bänder 35 und 36 aufweisen. Der Auflageplatte 23 liegt in einem Abstand A der Druckplatte 26 gegenüber, der ein Ein­ bringen des jeweiligen Halbleiter-Plättchenverbandes 1 er­ möglicht. Dabei wird dieser Plättchenverband 1 so eingeführt, daß sich die Jeweilige V-förmige Nut oberhalb des Gummistrei­ fens 25 befindet; eine genaue Justierung diesbezüglich erfolgt durch den Justierkeil 28 der gegebenenfalls den Halbleiter- Plättchenverband 1 Justierend etwas seitlich verschiebt. An­ schließend wird in nicht gezeigter Weise auf die Druckplatte 26 eine Druckbelastung in Richtung des Pfeiles 37 ausgeübt, wodurch der Halbleiter-Plättchenverband 1 unterhalb der V-för­ migen Nut bricht; es ist ein Halbleiter-Plättchen abgetrennt.

Claims (8)

1. Verfahren zum Abtrennen eines Halbleiter-Plättchens aus einem Halbleiter-Plättchenverband entlang einer vorgegebe­ nen Trennungslinie, bei dem
  • a) entlang der Trennungslinie eine V-förmige Nut hergestellt wird und
  • b) anschließend der Halbleiter-Plättchenverband mit der V-för­ migen Nut auf einer kalottenförmigen Auflage druckbelastet wird,
dadurch gekennzeichnet, daß
  • c) die V-förmige Nut (19) durch anisotropes Ätzen hergestellt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
  • d) durch das anisotrope Ätzen eine V-förmige Nut (19) mit einer Tiefe hergestellt wird, die etwa 30% der Dicke des Halbleiter-Plättchen beträgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
  • e) der Halbleiter-Plättchenverband (1) beiderseits der kalottenförmigen Auflage (25) im gleichen Abstand linienförmig druckbelastet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
  • f) eine federnde Druckbelastung des Halbleiter-Plättchenver­ bandes (1) ausgeübt wird.
5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
  • g) die kalottenförmige Auflage ein Gummistreifen (25) ist, der an einer Auflageplatte (23) gehalten ist, daß
  • h) der Auflageplatte (23) mit Abstand (A) eine Druckplatte (26) gegenüberliegt, die symmetrisch zum Gummistreifen (25) federnde Bänder (35, 36) trägt und daß
  • i) der Abstand (A) so bemessen ist, daß zwischen Auflage- und Druckplatte (23, 26) der Halbleiter-Plättchenverband einbring­ bar ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
  • j) die federnden Bänder Gewebeschläuche (35, 36) sind.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß
  • k) dem Gummistreifen (25) gegenüber in der Druckplatte (26) ein Justierkeil (28) federnd gelagert ist.
DE19914133150 1991-09-30 1991-09-30 Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband Withdrawn DE4133150A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19914133150 DE4133150A1 (de) 1991-09-30 1991-09-30 Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19914133150 DE4133150A1 (de) 1991-09-30 1991-09-30 Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4133150A1 true DE4133150A1 (de) 1993-04-01

Family

ID=6442170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19914133150 Withdrawn DE4133150A1 (de) 1991-09-30 1991-09-30 Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4133150A1 (de)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5700382A (en) * 1993-07-27 1997-12-23 Siemens Aktiengesellschaft Method for fabricating a silicon semiconductor substrate having an integrated waveguide and an optical fiber coupled thereto
WO1998040782A1 (de) * 1997-03-13 1998-09-17 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur herstellung von flüssigkristallzellen
EP0984489A1 (de) * 1998-03-12 2000-03-08 The Furukawa Electric Co., Ltd. Verfahren und vorrichtung zum spaltung von halbleiterscheiben
EP0951980A3 (de) * 1998-04-23 2003-01-15 Sela Semiconductor Engineering Laboratories Ltd. Kristallspaltvorrichtung
EP1724082A1 (de) * 2005-05-20 2006-11-22 Sieghard Schiller GmbH & Co. KG Vorrichtung zum Brechen eines dünnen plattenförmigen Gegenstands
CN104552630A (zh) * 2013-10-16 2015-04-29 三星钻石工业股份有限公司 弹性支撑板、破断装置以及分断方法
CN111146146A (zh) * 2019-12-30 2020-05-12 长春理工大学 一种基底可多次利用的高效散热半导体衬底的制备方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5700382A (en) * 1993-07-27 1997-12-23 Siemens Aktiengesellschaft Method for fabricating a silicon semiconductor substrate having an integrated waveguide and an optical fiber coupled thereto
WO1998040782A1 (de) * 1997-03-13 1998-09-17 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur herstellung von flüssigkristallzellen
US6143189A (en) * 1997-03-13 2000-11-07 Robert Bosch Gmbh Method for producing liquid crystal cells
EP0984489A1 (de) * 1998-03-12 2000-03-08 The Furukawa Electric Co., Ltd. Verfahren und vorrichtung zum spaltung von halbleiterscheiben
EP0984489A4 (de) * 1998-03-12 2000-03-08 Furukawa Electric Co Ltd Verfahren und vorrichtung zum spaltung von halbleiterscheiben
EP0951980A3 (de) * 1998-04-23 2003-01-15 Sela Semiconductor Engineering Laboratories Ltd. Kristallspaltvorrichtung
EP1724082A1 (de) * 2005-05-20 2006-11-22 Sieghard Schiller GmbH & Co. KG Vorrichtung zum Brechen eines dünnen plattenförmigen Gegenstands
CN104552630A (zh) * 2013-10-16 2015-04-29 三星钻石工业股份有限公司 弹性支撑板、破断装置以及分断方法
CN104552630B (zh) * 2013-10-16 2017-11-03 三星钻石工业股份有限公司 弹性支撑板、破断装置以及分断方法
TWI607975B (zh) * 2013-10-16 2017-12-11 三星鑽石工業股份有限公司 Elastic support plate, breaking device and breaking method
CN111146146A (zh) * 2019-12-30 2020-05-12 长春理工大学 一种基底可多次利用的高效散热半导体衬底的制备方法
CN111146146B (zh) * 2019-12-30 2022-09-06 长春理工大学 一种基底可多次利用的高效散热半导体衬底的制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1252112B1 (de) Verfahren zum herstellen von kleinen dünnglasscheiben und grössere dünnglasscheibe als halbfabrikat für dieses herstellen
DE102005024497B4 (de) Verfahren zum mechanischen Brechen von geritzten flachen Werkstücken aus sprödbrüchigem Material
DE2303798C2 (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen
DE2851679C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Verzweigerelements nach dem Strahlteilerprinzip
DE1908597A1 (de) Verfahren zum Zerteilen einer Halbleiterscheibe
DE69011751T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Markierung und Spaltung von monokristallinen halbleitenden Plättchen.
DE4134291C2 (de)
DE2626564B2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Mesa-Struktur für eine Galliumphosphid-Elektrolumineszenzanordnung
EP2990172A1 (de) Verfahren zum Teilen von plattenförmigen Objekten aus spröden Werkstoffen
DE4133150A1 (de) Verfahren zum abtrennen eines halbleiter-plaettchens aus einem halbleiter-plaettchenverband
DE69029724T2 (de) Trennung von diodenmatrixchips während ihrer herstellung
EP0711420B1 (de) Verfahren zum herstellen eines silizium-halbleitersubstrats mit integriertem wellenleiter und daran angekoppelter optischer faser
DE102021100144A1 (de) Verfahren zur Bearbeitung eines Glases
WO2015193081A1 (de) Verfahren zum ausbilden einer kavität und bauelement mit einer kavität
DE2708792C3 (de) Verwendung des Ionenätzverf ahrens zum Strukturieren von Halbleiterschichten und Ionenätzverfahren für diese Verwendung
DE19757560A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer porösen Schicht mit Hilfe eines elektrochemischen Ätzprozesses
DE102012221011B3 (de) Verfahren zum Herstellen optischer Strahlteilerwürfel
DE2941476A1 (de) Verfahren zum spalten von halbleitermikroplaettchen in einzelstuecke
DE2826110A1 (de) Verfahren zur zerspaltung einer halbleiter-wafer in halbleiter-pellets
EP3964324A1 (de) Verfahren zum oberflächenstrukturieren eines substratkörpers und substratkörper
DE68910873T2 (de) Herstellungsverfahren von Halbleitervorrichtungen.
DE4213118C1 (de)
DE3435138A1 (de) Verbesserung zu einem verfahren zum vereinzeln von halbleiter-bauelementen, die durch brechen aus halbleiter-wafern gewonnen sind
DE1602001B2 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiterelementen
DE4006070C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee