DE4123916C2 - Verfahren und Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines ObjektesInfo
- Publication number
- DE4123916C2 DE4123916C2 DE4123916A DE4123916A DE4123916C2 DE 4123916 C2 DE4123916 C2 DE 4123916C2 DE 4123916 A DE4123916 A DE 4123916A DE 4123916 A DE4123916 A DE 4123916A DE 4123916 C2 DE4123916 C2 DE 4123916C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lighting
- mirror
- light
- classification
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/066—Modifiable path; multiple paths in one sample
- G01N2201/0666—Selectable paths; insertable multiple sources
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum beleuchtungsdynamischen Erkennen
und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes, das
von einem Beleuchtungshimmel umgeben ist gemäß Anspruch 1
und eine Vorrichtung hierzu gemäß Anspruch 3.
In dem Aufsatz von R. Malz: Der Einsatz schneller Beleuchtungsoperationen für
die robuste Merkmalsextraktion und Segmentierung in der industriellen
Objekterkennung und Qualitätsprüfung, Informatik-Fachberichte "Musterer
kennung 1988" 10. DAGM-Symposium 1988, Springer-Verlag, Seite 270 bis 276 ist
eine Beleuchtungsanordnung bekannt, die aus vier Beleuchtungsmodulen
besteht:
einem Auflichtmodul zur schattfreien Ausleuchtung diffus streuender Objekte, realisiert mit einer Punktlichtquelle, die über einen Teilerspiegel in den Beobach tungsstrahlengang der CCD-Matrixkamera eingespiegelt ist, einem Streiflicht modul zur Aufhellung von Kanten und diffus streuenden Oberflächenfehlern, realisiert durch eine oder mehrere Ringlampen, einem Durchlichtmodul zur Aufhellung der Innenflächen und Ränder von Objektdurchbrüchen, und einem Reflexionslichtmodul zur gleichmäßigen, reflektorischen Hellfeld-Beleuchtung von ebenen oder schwach gekrümmten Oberflächen, bestehend aus einem Beleuchtungsarray mit Fresnel-Linse und einem Teilerspiegel.
einem Auflichtmodul zur schattfreien Ausleuchtung diffus streuender Objekte, realisiert mit einer Punktlichtquelle, die über einen Teilerspiegel in den Beobach tungsstrahlengang der CCD-Matrixkamera eingespiegelt ist, einem Streiflicht modul zur Aufhellung von Kanten und diffus streuenden Oberflächenfehlern, realisiert durch eine oder mehrere Ringlampen, einem Durchlichtmodul zur Aufhellung der Innenflächen und Ränder von Objektdurchbrüchen, und einem Reflexionslichtmodul zur gleichmäßigen, reflektorischen Hellfeld-Beleuchtung von ebenen oder schwach gekrümmten Oberflächen, bestehend aus einem Beleuchtungsarray mit Fresnel-Linse und einem Teilerspiegel.
Aus demselben Aufsatz ist ein weiteres Beleuchtungssystem bekannt, das
mit Hilfe eines zweidimensional abgelenkten und in seiner Intensität elektrisch
modulierten Halbleiterlasers während der Belichtungszeit eines einzelnen
Kamerabildes beliebig positionierbare Punkt- Cluster-, Linien- und Flächen
lichtquellen erzeugt, die mit jedem Bildwechsel verändert werden können.
Merkmale mit anisotropen Streu- und Reflexionseigenschaften, wie Kanten oder
Kratzer, liefern nur dann einen maximalen Bildkontrast, wenn sie aus einem
kleinen Raumsektor beleuchtet und betrachtet werden, der sich je nach
Orientierung der Merkmale ändert. Des weiteren muß beleuchtungstechnisch
der gesamte Raumwinkel verfügbar sein, weil ansonsten nicht sämtliche
Merkmale oder Fehler optimal beleuchtet werden können.
Beide genannten Beleuchtungssysteme genügen daher noch nicht den Anforde
rungen, die an ein Inspektionssystem gestellt werden, das mit hohen Taktraten
an ständig wechselnden Objekttypen und Objektorientierungen unterschiedliche
Fehlertypen mit maximalem Kontrast detektieren und klassifizieren soll.
Durch die DE 35 40 288 A1 ist des weiteren eine Anordnung zur Durchführung
von Kontrollen an Lötstellen bekanntgeworden, wobei Licht unter verschiedenen
Einfallswinkeln auf die Lötstellen gerichtet wird. Informationen für die drei
dimensionale Beschaffenheit der Lötstellen werden abgeleitet, um zu entschei
den, ob diese Beschaffenheit einwandfrei ist oder nicht. Die Information über die
Beschaffenheit kann durch Bestrahlung mit Licht von wenigstens zwei Stellen
aus abgeleitet werden; die Kontrolle erfolgt nach quantitativen Gesichtspunkten.
Durch die DE 38 15 539 A1 ist eine Vorrichtung zum selbsttätigen Prüfen von
Hohlgläsern, z. B. Flaschen, auf Schadstellen im Mündungsbereich bekannt
geworden durch Anstrahlung dieses Zielbereiches mittels mehrerer, in einem
den Zielbereich halbkugelförmig umschließenden Raum strahlenförmig auf
diesen ausgerichteter Lichtsende-Lampe, die lichtunterschiedliche Wellenlänge
aussenden. Auf den gleichen Zielbereich sind in verschiedenen Winkelpositionen
ausgerichtete Fotozellen gerichtet, die entweder Fehlerlicht-Reflexionen von
Normallicht oder von Prüflicht in der abweichenden Wellenlänge zu empfangen
geeignet sind. Die Fehlerlicht-Reflexionen werden verstärkt und aufbereitet und
an einen Aussortier-Mechanismus übertragen. Die DE 35 34 019 C2 beinhaltet
eine Vorrichtung zur optischen Fehlerfeststellung in Materialbahnen, bei der
eine Lichtquelle eine Beleuchtungspupille beleuchtet und eine Beleuchtungsoptik
zur Erzeugung eines streifenförmigen beleuchteten Bereiches einen streifen
förmigen Beleuchtungshohlspiegel aufweist, der die Beleuchtungspupille über
die Materialbahn in das Objektiv einer Diodenzeilenkamera abbildet.
Durch die US 4876455 ist ein Löt-Inspektionssystem zur Feststellung der
Qualität einer spiegelnden Lötverbindung durch die Überprüfung der Form der
Verbindungsoberfläche bekanntgeworden, wobei eine Serie von Punktlicht
quellen und benachbarten Lichtreflexionen von der Verbindungsoberfläche
benützt wird. Die Vorrichtung arbeitet gemäß einem Verfahren zum beleuch
tungsdynamischen Erkennen von Oberflächenmerkmalen der Lötstelle, die von
einem Beleuchtungshimmel umgeben ist, innerhalb dem mehrere unterschied
lich positionierte Beleuchtungsquellen die Lötstelle sequentiell und mit vorgeb
barer Winkel- und Intensitätsabstufung beleuchten. Das Licht von den Punkt
lichtquellen, welches auf die Lötverbindung gerichtet ist, wird von derselben auf
einen lichtempfindlichen Array beispielsweise einer Kamera an einer festen
Stelle geleitet. Indem unterschiedliche Intensitätswerte des Lichtes des Arrays
verwendet werden, wird eine binäre Quadratkarte der Reflexionen für jede
Punktlichtquelle erzeugt. Eine Serie derartiger Quadratkarten kann mathema
tisch so interpretiert werden, um die Lötoberfläche zu rekonstruieren. Ein regel
basiertes System bewertet durch Vergleich mit akzeptablen Lötstellen-Ausgestal
tungen die Lötverbindungen nach ihrer Qualität.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung
der genannten Gattung zu schaffen, mit der bei Objekten, wie Metallteilen,
Keramikscheiben, Blechen, Halbleiter-Chips, Hybridbausteinen, SMD-Schaltun
gen, Dichtungen etc. Merkmale und Defekte der Oberfläche, wie Kanten, Textu
ren, Knicke, Farbflecke, matte Stellen, Welligkeiten, Risse u. a.m., mit hoher
Zuverlässigkeit und Geschwindigkeit detektiert und klassifiziert werden können.
Die Lösung der Aufgabe besteht erfindungsgemäß in den Merkmalen des
Anspruchs 1; eine Vorrichtung ist in Anspruch 3 gekennzeichnet. Weitere
Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Das Verfahren weist den Vorteil auf, daß mit diesem Merkmale und Defekte der
Oberfläche eines Objektes, wie Kanten, Texturen, Knicke, Farbflecke, matte
Stellen, Welligkeiten, Risse u. a.m., mit maximal möglichem Signal-Rausch
verhältnis bzw. mit maximalem Kontrast detektiert und unabhängig von der
jeweiligen Bildumgebung pixelweise, d. h. für jeden Oberflächenpunkt getrennt,
klassifiziert werden können, weil die erhaltene Information jeweils in der
zeitlichen Grauwertsequenz enthalten ist. Durch die vollständige Bereitstellung
aller Beleuchtungswinkel wird in vorteilhafter Weise erreicht, daß die Merkmale
mit Optimalfiltern bzw. Matched-Filtern extrahiert werden können.
Bei ring-, sektor- oder ringsektorförmigen Verteilungen der Beleuchtungsfunk
tionen und wenn als Merkmalsanalyse eine Fourier- oder ähnliche Transfor
mation verwendet wird, wird vorteilhaft eine rotationsinvariante Klassifizierung
der Merkmale erhalten. Mit einem Auswerteprogramm kann dann das Ergebnis
der DFT-Operation graphisch dargestellt werden und die unterschiedlichen
Fehlerklassen in π-periodische (D1<D2) oder 2π-periodische (D1<D2) oder
nichtperiodische mit geringen Änderungen in der Grauwertsequenz (großes D0,
kleines D1+D2) oder durchgehend dunkle (alle Spektralwerte gering) Grauwert
sequenzen unterschieden werden.
Streut die Oberfläche isotrop, dann sind zur rotationsinvarianten Klassifizierung
gerichteter Merkmale kreissymmetrische Beleuchtungssequenzen (Fig. 2)
zweckmäßig. Ist jedoch die Oberflächenstruktur, zum Beispiel durch gerichtete
Bearbeitung, wie Schleifen, nicht mehr rotationssymmetrisch, dann kann zur
optimalen Signaltrennung von Oberfläche und gesuchtem Merkmal der Einsatz
von elliptischen Beleuchtungsfunktionen vorteilhaft sein. Dabei muß die
Strukturorientierung zur Ausrichtung der Ellipsen-Hauptachsen bekannt sein,
was vorher mit Testbeleuchtungsfunktionen bestimmt werden kann.
In vorteilhafter Weise können die einzelnen Lichtquellen innerhalb des
Beleuchtungshimmels, (der vorzugsweise kugelförmig ist und auf dem sich
beliebige Punkt-, Linien- oder Flächenlichtquellen befinden können), durch
Farblichtquellen ersetzt sein, vorzugsweise durch drei Farblichtquellen grün, rot
und blau. Auf diese Weise kann der Aufwand der Bildaufnahme mindestens um
den Faktor 3 reduziert werden, weil ein Farbbild einer Sequenz von mindestens
drei Graubildern entspricht.
Zur Durchführung des Verfahrens wird vorteilhafterweise der Nullpunkt des
Beleuchtungskoordinatensystems in diejenige Punktlichtquelle gelegt, die über
die als Spiegel gedachte Objektebene in die Kamerapupille abgebildet wird und
damit zum Hellfeld führt. Kleinere Verkippungen der Objektebene können durch
eine relative Translation der Beleuchtungskonfiguration mit geringem Aufwand
korrigiert werden, da die Beleuchtungsanordnung kartesisch und damit
translationsinvariant ist.
Zum Verständnis des Verfahrens ist die Betrachtung der verallgemeinerten
Beleuchtungs-Bildmatrix I(x,y,x,j) hilfreich, die den Zusammenhang zwischen
der Leuchtdichtematrix L(x,j) und der Bildmatrix B(x,y) beschreibt und die
gesamte fotometrische Information über das Objekt enthält, die mit der erfinderi
schen Vorrichtung überhaupt gewonnen werden kann. Das Beleuchtungsarray
erlaubt es, den 4-dimensionalen Beleuchtungs-Bildraum I(x,y,x,j) in einer
diskreten Form I(x,y,i,j) zu erzeugen. Lichtpunkt für Lichtpunkt wird ange
steuert und das jeweils entstehende Bild in den Bildspeicher abgelegt. Mit einer
Benutzeroberfläche können verschiedene Projektionen oder Schnittebenen dieses
4-dimensionalen Datenraums betrachtet werden.
Für die pixelweise Untersuchung der Objektoberfläche eines Objektes spielt die
lokale, d. h. für feste x- und y-Koordinaten gewonnene Streu-, Reflexions- und
Schattencharakteristik eine entscheidende Rolle. Ein matter Fleck, der die
Streukeule verbreitert, hat eine gleichmäßige Streucharakteristik ohne bevor
zugte Richtung (isotrope Streucharakteristik). Punkte eines richtungsab
hängigen Oberflächenmerkmals zeichnen sich durch eine anisotrope Streu
charakteristik aus und unterscheiden sich von solchen mit isotroper Streucha
rakteristik. Beispielsweise streut ein Oberflächenpunkt, der zu einem gerichteten
Oberflächenmerkmal gehört (Kratzer oder Kante) vornehmlich das Licht in die
Videokamera, das senkrecht zu seiner Orientierung eintrifft. Ein Punkt, der die
Neigung der reflektierenden Oberfläche verändert, bevorzugt Streulicht aus
einem bestimmten Sektor der Leuchtdichtematrix. Bei einem Fehlerpunkt mit
verkippter spiegelnder Oberfläche erzeugt ein einziger Lichtpunkt des
Beleuchtungshimmels einen hellen Grauwert in der Videokamera.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren können nun Bilder mit möglichst
geringer Redundanz und maximalem Aussagewert erzeugt werden. Dabei
eignen sich im einfachsten Fall Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung als
Konzepte zur Extraktion der Oberflächenmerkmale, wobei diejenige Beleuch
tungsfunktion gewählt wird, die einen Maximalkontrast für die Fehlerquelle
liefert. Ein optimales Beleuchtungsfilter wird erhalten, indem die Streucharak
teristik als Beleuchtungsfunktion aufgefaßt wird. So ist beispielsweise die
Hellfeldbeleuchtung mit einer Punktquelle ein Optimalfilter für einen
idealspiegelnden Oberflächenpunkt, bei dem das Grauwerteergebnis einer
Kamera maximal ausfällt, bei jeder anderen Oberflächenstruktur hingegen
absinkt. Bei Oberflächenpunkten mit stark anisotrop streuenden Eigenschaften,
wie Kratzer oder Kanten, die in der Regel mit verschiedenen Orientierungen
auftreten, wird aus einer Richtung senkrecht zur Orientierung des
Objektmerkmals beleuchtet, so daß das Helligkeitssignal in der Kamera deutlich
stärker ist, als bei einer Beleuchtung aus anderen Richtungen. Wegen der
Richtungsabhängigkeit der Streucharakteristik ist somit ein optimales
Beleuchtungsfilter nur in der Lage, anisotrop streuende Merkmale in einer
bestimmten Richtung zu detektieren. Deshalb werden in diesem Fall Beleuch
tungssequenzen aus einer Vielzahl von Raumwinkeln eingesetzt. Dazu wird die
Leuchtdichtematrix in Sektoren aufgeteilt, die nacheinander angesteuert
werden. Dadurch werden rotationsinvariante bzw. von der Orientierung des
Objektes unabhängige Ergebnisse erhalten, weil zwischen verschiedenen Arten
von Streucharakteristiken unterschieden werden kann.
Wird als Vorrichtung zur Bildung des kuppelförmigen Beleuchtungshimmels ein
Hohlspiegel, insbesondere Parabolspiegel, verwendet, so besitzt dieser den
Vorteil, daß aufgrund der Abbildungsgesetze die vom Parabolspiegel mehr oder
weniger horizontal reflektierten Lichtstrahlen, wie für eine ortsunabhängige
Streuung gefordert, in Richtung zum Brennpunkt und zum Objekt parallel oder
mehr oder weniger parallel verlaufen, so daß der virtuelle Abstand der diffus
beleuchtenden Lichtquellen vom Objekt sehr groß ist und in erster Näherung als
praktisch unendlich gelten kann. Das mehr oder weniger vertikal auf das Objekt
einfallende Strahlenbündel ist hingegen konvergent, so daß dies Lichtquellen über
die als spiegelnde Ebene gedachte Objektoberfläche in die Ebene der Kamerapu
pille abgebildet werden. Damit können (wie beim eigens dafür realisierten
Reflexions-Lichtmodul) spiegelnde Oberflächen gleichmäßig im Hellfeld
beleuchtet werden. Zu dieser speziellen Anpassung kann der virtuelle Abstand
der Lichtquellen variiert werden: Der Abstand der unteren Lichtquellen, wie
LED-Arrays, vom Parabolspiegel ist entscheidend für die Strahlenformation, die
auf das Objekt im Brennpunkt auftritt, ob es sich also um konvergentes,
divergentes oder paralleles Licht handelt, weshalb der Abstand vorteilhaft
variabel ist. Der geometrische Ort der Punktlichtquelle, die im Brennpunkt
paralleles Licht erzeugt, ist ein Paraboloid oder ähnlich geformt. Konvergentes
bzw. divergentes Licht wird dann im Brennpunkt erzeugt, wenn sich die
Lichtquelle unterhalb bzw. oberhalb des geometrischen Ortes befindet; paralleles
Licht zum Brennpunkt wird erzeugt, wenn die Lichtquelle sich auf diesem
geometrischen Ort befindet.
Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß die Vorrichtung äußerst kompakt ist. Der
Hohlspiegel kann des weiteren vorzugsweise einstückig aus transparentem Glas
oder Kunststoff ohne Aussparung bestehen und in seinem obersten Bereich
unverspiegelt sein zur Bildung einer Durchtrittsöffnung für das der reflekto
rischen Beleuchtung dienende Licht der Beleuchtungseinrichtung.
Kurzbeschreibung der Zeichnung, in der zeigen:
Fig. 1 einen schematischen Querschnitt durch eine Beleuchtungsvorrichtung
zur Durchführung des Verfahrens an einem Be
leuchtungshimmel in Form einer Halbkugel und
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Beleuchtungshimmel zur Darstellung der
verschiedenen anwählbaren Sektoren, in denen sich jeweils eine oder
eine Mehrzahl von Lichtquellen befinden können,
Fig. 3 einen Algorithmus eines Flußdiagramms für Pixel-Klassifikation mit
(N+2) Beleuchtungen,
Fig. 4 einen schematischen Querschnitt durch eine Beleuchtungsvorrichtung
bestehend aus einem zweidimensional gekrümmten Beleuchtungs
himmel mit einer Beleuchtungsanordnung und
Fig. 5 eine weitere Beleuchtungsvorrichtung mit zweidimensional
gekrümmten Beleuchtungshimmel und einer gestalterisch
abweichenden Beleuchtungsanordnung und Objektzuführung.
Über eine Basis 8 (Fig. 1) wölbt sich ein halbkugelförmiger Beleuchtungs
himmel, in welchem eine Vielzahl von Lichtquellen 2 angeordnet sind,
vorzugsweise in verschiedene Sektoren sm, n gemäß der Fig. 2 aufgeteilt, wobei
die Lichtquellen in ihrer Intensität einzeln freiprogrammierbar sind. Des
weiteren befindet sich im Beleuchtungshimmel ein Beleuchtungsmodul 3 welches
eine Mehrzahl von Lichtquellen 4 aufweist, die vorzugsweise als kartesisches
Array angeordnet sind. Vor dem Beleuchtungsmodul 3 befindet sich eine Optik 5,
die das von einer einzigen oder von wenigen Lichtquellen 4 ausgesandte Licht
dergestalt bündelt, daß es zur gleichmäßigen Hellfeldausleuchtung ebener,
reflektierender Oberflächen eines Objektes geeignet ist. Das Beleuchtungsmodul 3 dient
insbesondere für die Welligkeit- und Knickprüfung an reflektierenden
Oberflächen und somit zur Klassifizierung von Oberflächenneigungen. Die
Lichtquellen 2 dienen zur diffusen Beleuchtung.
Das von den Lichtquellen 2 und 4 auf daß Objekt 1 geworfene und von diesem
gestreute und reflektierte Licht wird von einem Objektiv 6 einer Videokamera
aufgefangen und auf eine CCD-Matrix der Videokamera geleitet; die CCD-Matrix
7 der Videokamera ist an eine Bildspeichereinrichtung 9 angeschlossen, welche die Graubildfolgen
speichert. Nach Abspeichern einer bestimmten, vorgebbaren Anzahl von Bildern
bzw. Farbbildern innerhalb einer Bildspeichereinrichtung 9 der Videokamera
werden die Bildinhalte bezüglich der Beleuchtungskoordinaten einer
Fouriertransformation, vorzugsweise eine 2D-Fouriertransformation, unter
worfen, um Betrag und Phase der Beleuchtungswinkelabhängigkeit des
einzelnen Bildpunktes zu bestimmen.
Diese Klassifikationsmethode baut auf den prinzipiellen Eigenheiten der Grau
wertsequenz auf, die bei Durchlaufen der sektoriellen Beleuchtungen erhalten
werden. Die Grauwertsequenz wird als endlicher Ausschnitt einer periodischen,
zeit- und wertdiskreten Funktion angesehen, die in ihre Basiskomponenten
zerlegt werden kann; Betrag und Phase der Komponenten werden durch diskrete
Fouriertransformation (DFT) der Anzahl N Grauwerte der Sequenz erhalten.
Die Sektorzahl N soll dabei für die Fouriertransformation eine Potenz von 2 sein
und hängt gemäß dem Abtasttheorem von der Periode der kompliziertesten
relevanten Streucharakteristik ab:
N 2x 2π/Tmin.
Hat man es mit π-periodischen Phänomenen zu tun, muß mit mindestens vier
Sektoren beleuchtet werden. Für N = 4 können somit beispielsweise die Grau
wertsequenzen durch Beleuchtung aus vier Raumsektoren gewonnen und
anschließend einer Fouriertransformation unterzogen werden. Die Ergebnisse
dieses Vorgangs für drei Fehlerklassen sind nachfolgend dargestellt und lassen
sich wie folgt beschreiben:
- (A) Die Grauwertsequenz eines Kratzers ist π-periodisch (2 Maxima), da das Licht aus 2 senkrecht zu seiner Orientierung liegenden Beleuch tungssektoren in die Kamera gestreut wird. Das Betragsspektrum weist eine große 2. Komponente auf, die Phase der 2. Komponente Φ2 gibt die Orientierungsrichtung des Merkmals an.
- (B) Die Grauwertsequenz eines Punktes ist 2π-periodisch, da er das Licht aus einem bestimmten Beleuchtungssektor in die Kamera streut. Das Betragsspektrum hat eine große 1. Komponente.
- (C) Ein isotrop streuendes Objektmaterial (Spiegel, Fleck) hat eine kon stante Grauwertsequenz. Sein Betragsspektrum besteht nur aus einem Gleichanteil, der ein Maß für die Streuintensität darstellt.
Nachfolgend ist eine Spektralanalyse dreier exemplarischer Grauwertsequenzen
gezeigt, wobei die horizontale Koordinate den azimutalen Beleuchtungswinkel
beschreibt.
Mit Hilfe der Fouriertransformation kann nun ein Oberflächenpunkt bzw. ein
Pixel des Bildes der Videokamera klassifiziert werden, wobei nachfolgend ein
erfindungsgemäßer möglicher Algorithmus in Form eines Flußdiagramms für
die schnelle hierarchische Klassifizierung in beispielsweise vier idealisierte
Fehlerklassen, wie Spiegel, Punkt, Kratzer und Fleck, gezeigt. Ein unver
sehrter Punkt der Oberfläche (Spiegel-Punkt) kann sofort ausgesondert werden,
indem Hell- und Dunkelfeldbild mit in Betracht gezogen werden. In diesem Fall
ist die Klassifikation ohne die Fouriertransformation beendet.
Gemäß der Fig. 4 wölbt sich über einer Ebene 35 oder Basis ein Beleuch
tungshimmel, der vorzugsweise ein innenverspiegelter Parabolspiegel oder ein
innenverspiegelter Spiegel mit etwa paraboloidischer Form ist oder ähnlich
zweidimensional gekrümmt ist und der, vorzugsweise im obersten Bereich der
Wölbung, eine Öffnung 12 zum Lichtdurchtritt besitzt; diese Öffnung kann auch
aus einem unverspiegelten, transparenten Materialfeld des Spiegels bestehen.
Für weniger genaue Merkmalsextraktionen kann der Beleuchtungshimmel
halbkugelförmig, für beste Merkmalsextraktionen angepaßt zweidimensional
gekrümmt sein.
Unterhalb der Öffnung 12 des Spiegels 11 befindet sich auf einem transparenten
Träger 13 ein zu analysierendes Objekt 10. Unterhalb des Trägers 13 befindet sich
auf der Ebene 35 eine Beleuchtungseinrichtung 14, die aus einer Mehrzahl von
kartesischen Lichtquellenfeldern 15, 15′, 15′′ besteht, wobei jedes Lichtquellenfeld
eine Mehrzahl von einzelnen Lichtquellen 17, 17′ aufweist. Die Lichtquellenfelder
15, 15′, 15′′ sind vorzugsweise LED-Arrays, deren einzelne Lichtquellen 17, 17′
einzeln oder in Gruppen sequentiell ansteuerbar sind. Direkt oberhalb der
Lichtquellenfelder 15, 15′, 15′′ kann ein dieselben abdeckender Diffusor angeord
net sein, der ein Tiefpaß ist und dazu dient, daß die Lichtquellen ortskontinuier
lich sind, um das Abtasttheorem zu erfüllen.
Die Beleuchtungseinrichtung 23 oberhalb des Spiegels 11 und der Öffnung 12 besteht
aus wenigstens einer Reflexions-Lichtquelle 23 und ist vorzugsweise ebenfalls ein
LED-Array, der eine Optik zur reflektorischen Beleuchtung des Objektes 10
aus einem begrenzten Raumwinkel vorgeschaltet ist und vor der sich ebenfalls
ein Diffusor 24 befinden kann. Die im Strahlengang der von der Beleuchtungs
einrichtung 23 ausgesandten Lichtstrahlen 32 befindliche Optik ist beispielsweise
eine Kollimationslinse 25, auf die ein Teilerspiegel 20 folgt. Seitlich des Teiler
spiegels ist eine Videokamera 21 mit Bildspeichereinrichtung angeordnet, die
eine Optik-Blenden-Einrichtung 22 aufweisen kann. Die Beleuchtungsein
richtung 23 und die Videokamera 21 sind dergestalt aufeinander abgestimmt, daß
die Konvergenz des Lichtbündels 32 gleich der Konvergenz des Beobach
tungslichtbündels 32′ ist.
Die Beleuchtungseinrichtung 23 dient der mehr oder weniger vertikalen Beleuch
tung flacher, reflektierender Objekte, wobei das Lichtstrahlenbündel 32 durch die
Kollimationslinse 25 und nach Passieren des Teilerspiegels 20 sowie der Öffnung
12 innerhalb des Spiegels 11 als konvergentes Lichtbündel auf das Objekt 10
auftritt, von dort reflektiert und durch den Teilerspiegel 20 auf die Videokamera
21 geworfen wird. Die Beleuchtungseinrichtung 23 arbeitet analog der in Fig. 1
beschriebenen Beleuchtungseinrichtung 3.
Von den einzelnen Lichtquellen 17, 17′ der Lichtquellenfelder 15, 15′, 15′′ werden
Lichtbündel 19 zum Spiegel 11 gesandt, die von dort als parallele Lichtbündel 19′
auf das Objekt 10 fallen, welches sich im Brennpunkt oder ungefähr im
Brennpunkt des Spiegels 11 befindet. Diese mehr oder weniger horizontal ein
fallenden Lichtbündel 19′ werden gestreut und durch den Teilerspiegel 20 auf die
Videokamera 21 gelenkt. Von oben hingegen trifft auf das Objekt 10 konvergentes
Licht ein, so daß die Vorrichtung die theoretischen Voraus
setzungen für das gleichzeitige Vorhandensein von horizontalen, parallelen
Beleuchtungs-Lichtstrahlen und von vertikalen, konvergenten Beleuchtungs-
Lichtstrahlen gleichermaßen erfüllt.
Alternativ kann statt dem Kamerastrahlengang der Beleuchtungsstrahlengang
abgeknickt verlaufen; alternativ zur Linse kann auch ein Spiegel zur Kollimation
vorhanden sein. Ebenso können die ins Hellfeld gebrachten Objektoberflächen
sphärisch gekrümmt sein, wenn die Kollimationsoptik entsprechend angepaßt
ist.
Fig. 5 zeigt eine abgewandelte Beleuchtungseinrichtung 26, bestehend aus einer
Mehrzahl von kartesischen Lichtquellenfeldern 28, 28′, die wie die Licht
quellenfelder der Fig. 4 aufgebaut sein können. Die Lichtquellenfelder 28,28′
sind ebenfalls mit einem Diffusor 30 abgedeckt. Die Beleuchtungseinrichtung 26
sowie der Diffusor 30 weisen mittig je eine Aussparung 29 bzw. 31 auf, durch die
ein Objektträger 33 mit dem zu detektierenden Objekt 10 in vertikaler Richtung
verschoben werden kann. Durch eine einfache Höhen- und Seitenverstellbarkeit
kann somit das Objekt 10 bezüglich des Brennpunktes des Spiegels 11 vertikal und
gegebenenfalls auch horizontal korrigiert werden. Ansonsten entspricht die
Ausgestaltung des Spiegels 11 sowie der Beleuchtungseinrichtung 23 und der
Videokamera 21 derjenigen der Fig. 1.
Die Größe und Anzahl der optimal erforderlichen Sektoren hängt von der Objekt
funktion mit der niedrigsten Halbwertsbreite ab. Die geeignete Sektorzahl kann
gefunden werden, indem das Verhältnis zwischen Merkmalssignal und
Oberflächensignal über der Zahl der Sektoren aufgetragen wird. Dabei zeigt sich
nach einem steilen Anstieg meist eine rasche Sättigung; bereits mit 3 bis 8
Bildern lassen sich leistungsfähige Fehlererkennungen realisieren, die gegen
über statisch beleuchteten Einzelbildern von wesentlichem Vorteil sind.
Bezugszeichenliste
1, 10 Objekte
2 Lichtquellen
3 Beleuchtungsmodul
4 Lichtquellen
5 Optik
6 Objektiv
7 CCD-Matrix der Videokamera
8 Objektebene
9 Bildspeichereinrichtung der Video-Kamera
11 Spiegel
12 Öffnung
13 transparenter Träger
14 Beleuchtungseinrichtung
15, 15′, 15′′ ebene Lichtquellenfelder
16, 27, 34 Bewegungsdoppelpfeile
17, 17′ einzelne Lichtquellen
18, 24, 30 Diffusoren
19 Lichtbündel einer einzelnen Lichtquelle zum Spiegel
19′ vom Spiegel reflektiertes Lichtbündel einer einzelnen Lichtquelle
20 Teilerspiegel
21 Videokamera mit Bildspeichereinrichtung
22 Optik-Blenden-Einrichtung
23 Beleuchtungseinrichtung
25 Optik, z. B. Kollimationslinse
26 Beleuchtungseinrichtung
28, 28′ ebene Lichtquellenfelder
29, 31 Aussparungen
32 Lichtbündel
32′ Beobachtungslichtbündel
33 Objektträger
35 Ebene
2 Lichtquellen
3 Beleuchtungsmodul
4 Lichtquellen
5 Optik
6 Objektiv
7 CCD-Matrix der Videokamera
8 Objektebene
9 Bildspeichereinrichtung der Video-Kamera
11 Spiegel
12 Öffnung
13 transparenter Träger
14 Beleuchtungseinrichtung
15, 15′, 15′′ ebene Lichtquellenfelder
16, 27, 34 Bewegungsdoppelpfeile
17, 17′ einzelne Lichtquellen
18, 24, 30 Diffusoren
19 Lichtbündel einer einzelnen Lichtquelle zum Spiegel
19′ vom Spiegel reflektiertes Lichtbündel einer einzelnen Lichtquelle
20 Teilerspiegel
21 Videokamera mit Bildspeichereinrichtung
22 Optik-Blenden-Einrichtung
23 Beleuchtungseinrichtung
25 Optik, z. B. Kollimationslinse
26 Beleuchtungseinrichtung
28, 28′ ebene Lichtquellenfelder
29, 31 Aussparungen
32 Lichtbündel
32′ Beobachtungslichtbündel
33 Objektträger
35 Ebene
Claims (11)
1. Verfahren zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von
Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes (1), das von einem Beleuch
tungshimmel umgeben ist, innerhalb dem mehrere unterschiedlich positionierte
Beleuchtungsquellen (2, 4) zur diffusen Beleuchtung in flächiger Anordnung das
Objekt (1) sequentiell beleuchten und mit vorgebbarer Winkel- und Intensitäts
abstufung frei programmierbar sind zum Erzeugen - einer variablen Anzahl
beliebiger Beleuchtungsfunktionen, wobei das von der Oberfläche des Objektes (1)
in jedem Zeitpunkt jeweils diffus zurückgeworfene oder reflektierte Licht mittels
einer CCD-Matrix (7), einer Videokamera, die eine Bildspeichereinrichtung (9) aufweist, als raum
zeitlich verschiedene Bilder aufgenommen wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Objekt (1) zusätzlich aus einem begrenzten Raumwinkelbereich mit
einem weiteren programmierbaren, flächenhaften Beleuchtungsmodul (3) zur
reflektorischen Beleuchtung über eine Kollimationsoptik so beleuchtet wird, daß
für alle Punkte einer ebenen Objektoberfläche die Reflexionswinkelbedingung
erfüllt wird und der Nullpunkt des Beleuchtungskoordinatensystems in diejenige
Punktlichtquelle gelegt wird, die über die als ebener Spiegel gedachte Oberfläche
des Objektes (1) in die Kamerapupille abgebildet wird, die entstehenden Bilder von
der CCD-Matrix (7), der Videokamera aufgenommen und in einer Bildspeichereinrichtung (9)
abgespeichert und die Grauwertfolgen des aufgenommenen Bildstapels einer
Merkmalsanalyse unterzogen werden, die eine Fouriertransformation ist und
dadurch eine rotationsinvariante Klassifizierung der Merkmale erhalten wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Algorithmus für die hierarchische Klassifizierung in vier idealisierte
Fehlerklassen, nämlich Spiegel, Punkt, Kratzer und Fleck, mit Fourier
transformation wie folgt verwendet wird:
- a) mit den Grauwertdaten des Beleuchtungsversuchs N Sektoren-, Hellfeld-, Dunkelfeldbeleuchtung = N + 2 Bilder wird eine Grauwertsequenz extrahiert dn (n = 0, 1, . . . , N+1)
- b) in einer Vorentscheidung wird geprüft, ob der Grauwertunterschied zwischen ringförmiger Dunkelfeldbeleuchtung und Hellfeldbeleuchtung an der jeweiligen Bildkoordinate größer ist als ein geeignet gewählter Schwellwert S₀ gemäß dN - dN+1 < S₀, was auf eine spiegelnde, ebene Oberfläche am entsprechenden Ort der Oberfläche schließen läßt und eine weitere Verarbeitung erübrigt
- c) in allen anderen Fällen werden die bei umlaufenden Dunkelfeldsektoren gewonnenen Grauwertefolgen der jeweiligen Bildkoordinate einer Fouriertrans formation gemäß dn(n = 0, 1, . . . , N-1) → Dk, Φk(k = 0, 1, 2) unterzogen,
- d) das daraus resultierende Betragsspektrum Dk wird einer Klassifikation unterzogen, wobei in einer ersten Entscheidung überprüft wird, ob die Summe der Spektralkoeffizienten D1 und D2 klei ner ist als ein Schwellwert S1, wenn dies der Fall ist, dann wird die Klasse "Fleck" ausgegeben, ist dies nicht der Fall, dann wird in einer weiteren Entscheidung überprüft, ob der Spektralkoeffizient D2 größer ist als der Spektralkoeffizient D1, wenn dies der Fall ist, wird die Klasse "Punkt" ausgegeben, andernfalls die Klasse "Kratzer".
3. Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von
Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes (1), das von einem Beleuch
tungshimmel umgeben ist, innerhalb dem mehrere unterschiedlich positionierte
Beleuchtungsquellen (2, 4) zur diffusen Beleuchtung in flächiger Anordnung das
Objekt (1) sequentiell beleuchten und mit vorgebbarer Winkel- und Intensitäts
abstufung frei programmierbar sind zum Erzeugen einer variablen Anzahl
beliebiger Beleuchtungsfunktionen, wobei das von der Oberfläche des Objektes (1)
in jedem Zeitpunkt jeweils diffus zurückgeworfene oder reflektierte Licht mittels
der CCD-Matrix (7) der Videokamera die eine Bildspeichereinrichtung (9) aufweist, als raum
zeitlich verschiedene Bilder aufnehmbar ist,
gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
- a) wenigstens ein weiteres programmierbares Beleuchtungsmodul (3) mit einer Linsen- oder Spiegeloptik (5) zur gleichmäßigen reflektorischen Hellfeld-Beleuch tung von ebenen oder schwach gekrümmten Oberflächen, wobei der Nullpunkt des Beleuchtungskoordinatensystems in diejenige Punktlichtquelle gelegt ist, die über die als ebener Spiegel gedachte Oberfläche des Objektes (1) in die Kamera pupille abgebildet wird und
- b) ein Algorithmusgenerator, der die von der Videokamera (21) aufgenommenen Bildstapel einer Transformation zu unterwerfen imstande ist, die eine Fourier transformation ist und dadurch eine rotationsinvariante Klassifizierung der Merkmale erhalten wird, womit bei geeigneter Wahl der Beleuchtungsfunktion die gesuchten Oberflächenmerkmale und Fehlertypen mit maximalem Signal- Rausch-Abstand detektierbar und klassifizierbar sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Beleuchtungsmodul (3) eine Mehrzahl von Lichtquellen (4) aufweist, die
als kartesisches Array angeordnet sind, die Beleuchtungsfunktionen elliptische
ring-, sektor- oder ringsektorförmige Verteilungen aufweisen und aus einer
Anzahl von Ringsektoren (sm,n) bestehen, deren erzeugte Grauwertbildfolgen
einer 1D- oder 2D-Fouriertransformation bezüglich der Ringsektorindices m, n
unterworfen werden, wobei mittels der erhaltenen Koeffizienten die rotations
invariante Klassifizierung der Merkmale durchführbar ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß jede Lichtquelle (2, 4) innerhalb des Beleuchtungshimmels aus einer
Mehrzahl von getrennt ansteuerbaren Farblichtquellen, vorzugsweise grün, rot
und blau, besteht und gleichzeitig je ein Bild mit den verschiedenen überlagerten
Farben aufnehmbar ist, wobei ein Farbbild jeweils mindestens drei aufeinander
folgende Graubilder zu ersetzen imstande ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Beleuchtungshimmel ein innen verspiegelter, konkav gekrümmter Hohl spiegel (11) ist, der in seinem obersten Bereich eine Öffnung (12) aufweist, oberhalb derselben sich die zur reflektorischen Beleuchtung dienende Beleuch tungseinrichtung (23) befindet und daß die zur diffusen Beleuchtung dienende Beleuchtungseinrichtung (14, 26) aus ebenen Lichtquellenfeldern (15, 15′, 15′′; 28, 28′) besteht, die sich unterhalb des Hohlspiegels befinden, wobei das Objekt (10) unterhalb der Öffnung (12) und ungefähr mittig innerhalb der ebenen Lichtquellenfelder innerhalb der Sammelfläche des Hohlspiegels angeordnet ist.
daß der Beleuchtungshimmel ein innen verspiegelter, konkav gekrümmter Hohl spiegel (11) ist, der in seinem obersten Bereich eine Öffnung (12) aufweist, oberhalb derselben sich die zur reflektorischen Beleuchtung dienende Beleuch tungseinrichtung (23) befindet und daß die zur diffusen Beleuchtung dienende Beleuchtungseinrichtung (14, 26) aus ebenen Lichtquellenfeldern (15, 15′, 15′′; 28, 28′) besteht, die sich unterhalb des Hohlspiegels befinden, wobei das Objekt (10) unterhalb der Öffnung (12) und ungefähr mittig innerhalb der ebenen Lichtquellenfelder innerhalb der Sammelfläche des Hohlspiegels angeordnet ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Hohlspiegel (11) ein Parabolspiegel ist und sich das Objekt (10) im
Brennpunkt desselben befindet.
8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Hohlspiegel (11) ein Kugelspiegel oder ein Ellipsoidspiegel ist und sich das
Objekt (10) im Brennpunkt desselben befindet.
9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsquellen (2) zur diffusen Beleuchtung ebene LED-Arrays
(15, 15′, 15′′) sind, die auf einer gemeinsamen Ebene (35) unterhalb des
Hohlspiegels (11) geordnet und mit einem Diffusor (18) abgedeckt sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen den Beleuchtungsquellen (15, 15′, 15′′) zur diffusen Beleuchtung und
dem Hohlspiegel (11) ein transparenter Träger (13) zum Plazieren des Objektes
(10) angeordnet ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 6 dadurch gekennzeichnet,
daß das Beleuchtungsmodul ein LED-Array (23) ist, vor dem ein Diffusor (18) und
oberhalb der Öffnung (12) des Hohlspiegels (11) ein Teilerspiegel (20)
angeordnet sind, der das reflektierte Licht auf die Videokamera (21) leitet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4123916A DE4123916C2 (de) | 1990-07-19 | 1991-07-19 | Verfahren und Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4023026 | 1990-07-19 | ||
DE4101266 | 1991-01-17 | ||
DE4123916A DE4123916C2 (de) | 1990-07-19 | 1991-07-19 | Verfahren und Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4123916A1 DE4123916A1 (de) | 1992-01-23 |
DE4123916C2 true DE4123916C2 (de) | 1998-04-09 |
Family
ID=25895185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4123916A Expired - Fee Related DE4123916C2 (de) | 1990-07-19 | 1991-07-19 | Verfahren und Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4123916C2 (de) |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE29807926U1 (de) * | 1998-05-02 | 1999-09-09 | Ibea Ingenieurbuero Fuer Elekt | Vorrichtung zur optischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit von Gegenständen |
DE10108075A1 (de) * | 2001-02-20 | 2002-09-19 | Oce Document Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum zeilenförmigen Beleuchten eines Objektes mittels LEDs und eines elliptischen Spiegels |
DE10330003A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-02-03 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Vorrichtung, Verfahren und Computerprogramm zur Wafer-Inspektion |
DE102004038761A1 (de) * | 2004-08-09 | 2006-02-23 | Daimlerchrysler Ag | Kamera-basierte Objektprüfung mittels Shape-from-Shading |
DE10230891B4 (de) * | 2001-07-11 | 2006-08-17 | Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon | Photolithographisches System und photolithographes Verfahren zur Erfassung von Verunreinigungen aufder Oberfläche von Wafern |
DE102005031490A1 (de) * | 2005-07-04 | 2007-02-01 | Massen Machine Vision Systems Gmbh | Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion |
DE102007002106B3 (de) * | 2007-01-09 | 2008-07-03 | Wolfgang Weinhold | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung eines Gegenstandes |
DE10083372B4 (de) * | 1999-10-14 | 2010-02-04 | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp. | Verfahren zum Untersuchen der Oberfläche von Halbleiterwafern |
US7823789B2 (en) | 2004-12-21 | 2010-11-02 | Cognex Technology And Investment Corporation | Low profile illumination for direct part mark readers |
US7874487B2 (en) | 2005-10-24 | 2011-01-25 | Cognex Technology And Investment Corporation | Integrated illumination assembly for symbology reader |
US7969565B2 (en) | 2005-07-08 | 2011-06-28 | Koenig & Bauer Aktiengesellschaft | Device for inspecting a surface |
US8061614B2 (en) | 2003-10-24 | 2011-11-22 | Cognex Technology And Investment Corporation | Light pipe illumination system and method |
US8282000B2 (en) | 2003-10-24 | 2012-10-09 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method and apparatus for providing omnidirectional lighting in a scanning device |
US8286878B2 (en) | 2004-12-16 | 2012-10-16 | Cognex Technology And Investment Corporation | Hand held symbology reader illumination diffuser |
DE102011113670A1 (de) * | 2011-09-20 | 2013-03-21 | Schott Ag | Beleuchtungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren für die optische Prüfung eines Objekts |
DE102013108722A1 (de) * | 2013-08-12 | 2015-02-12 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Defekten einer ebenen Oberfläche |
EP2863168A1 (de) | 2013-10-21 | 2015-04-22 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren und Messvorrichtung zum Bewerten von Strukturunterschieden einer reflektierenden Oberfläche |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4217430A1 (de) * | 1992-05-27 | 1993-12-02 | Autronic Bildverarbeitung | Aufnahme-Einrichtung zum Erfassen und Darstellen zu vergleichender Objekte |
DE4243863A1 (de) * | 1992-12-23 | 1994-06-30 | Hermann Dr Ing Tropf | Verfahren zur optischen Kontrolle regelmäßig strukturierter Oberflächen |
DE4313258A1 (de) * | 1993-04-23 | 1994-10-27 | Beiersdorf Ag | Verfahren und Vorrichtung zur meßtechnischen quantitativen Bestimmung der Textur der menschlichen Hautoberfläche durch Registrierung, Wiedergabe und Analysierung von Bildinformationen |
US6271916B1 (en) | 1994-03-24 | 2001-08-07 | Kla-Tencor Corporation | Process and assembly for non-destructive surface inspections |
DE19511948A1 (de) * | 1994-08-11 | 1996-02-15 | Graessle Walter Gmbh | Vorrichtung zum Vereinzeln von kleinen Gegenständen |
US5661249A (en) * | 1994-08-11 | 1997-08-26 | Walter Grassle Gmbh | Apparatus and method for inspecting small articles |
DE4434475C2 (de) * | 1994-09-27 | 1998-05-28 | Basler Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle eines Gegenstandes, insbesondere einer Compact-Disc |
DE19511197C2 (de) * | 1995-03-27 | 1999-05-12 | Basler Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Prüfen einer Oberfläche, insbesondere einer Compact-Disc |
ATE211549T1 (de) * | 1995-10-25 | 2002-01-15 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur kontrolle von scheiben |
DE19613082C2 (de) * | 1996-04-02 | 1999-10-21 | Koenig & Bauer Ag | Verfahren und Vorrichtung zur qualitativen Beurteilung von bearbeitetem Material |
JP3312849B2 (ja) * | 1996-06-25 | 2002-08-12 | 松下電工株式会社 | 物体表面の欠陥検出方法 |
DE19638065A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-19 | Massen Machine Vision Systems | Automatische Qualitätskontrolle von Fliesen |
US5831725A (en) * | 1996-10-16 | 1998-11-03 | Atlas Electric Devices Co. | Two-mode surface defect testing system |
DE19720307C2 (de) * | 1997-05-15 | 2001-08-16 | Parsytec Comp Gmbh | Vorrichtung zur kontinuierlichen Detektion von Fehlern auf der Oberfläche eines bewegten Materials |
DE19732484A1 (de) * | 1997-07-29 | 1999-02-18 | Parsytec Computer Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Fehlern auf der Oberfläche eines flexiblen Materialbandes |
DE19739885A1 (de) * | 1997-09-11 | 1999-03-18 | Bernd Klose | Komparativer Oberflächenqualifizierer |
US6201601B1 (en) | 1997-09-19 | 2001-03-13 | Kla-Tencor Corporation | Sample inspection system |
US6956644B2 (en) | 1997-09-19 | 2005-10-18 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Systems and methods for a wafer inspection system using multiple angles and multiple wavelength illumination |
US20040057045A1 (en) | 2000-12-21 | 2004-03-25 | Mehdi Vaez-Iravani | Sample inspection system |
WO1999022224A1 (en) * | 1997-10-29 | 1999-05-06 | Vista Computer Vision Ltd. | Illumination system for object inspection |
US6359694B1 (en) | 1997-11-10 | 2002-03-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and device for identifying the position of an electrical component or terminals thereof, and equipping head employing same |
DE19801246C2 (de) * | 1998-01-15 | 2001-07-05 | Ibm | Verfahren und Vorrichtung zur Lokalisierung und Detektion von Folien und Fensterbereichen auf Postgut |
US6111638A (en) * | 1998-08-21 | 2000-08-29 | Trw Inc. | Method and apparatus for inspection of a solar cell by use of a rotating illumination source |
EP1455179A1 (de) * | 2003-03-07 | 2004-09-08 | MV Research Limited | Maschinenvisionssystem und Verfahren zur Inspektion |
US9070031B2 (en) | 2003-10-24 | 2015-06-30 | Cognex Technology And Investment Llc | Integrated illumination assembly for symbology reader |
US9536124B1 (en) | 2003-10-24 | 2017-01-03 | Cognex Corporation | Integrated illumination assembly for symbology reader |
US9292724B1 (en) | 2004-12-16 | 2016-03-22 | Cognex Corporation | Hand held symbology reader illumination diffuser with aimer optics |
US7898524B2 (en) | 2005-06-30 | 2011-03-01 | Logitech Europe S.A. | Optical displacement detection over varied surfaces |
US7554656B2 (en) | 2005-10-06 | 2009-06-30 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for inspection of a wafer |
WO2007118459A1 (de) * | 2006-04-13 | 2007-10-25 | Luedeker Wilhelm | Optisches diskriminierungsverfahren für mindestens zwei materialien |
DE102007017481B4 (de) * | 2006-04-13 | 2011-01-27 | LÜDEKER, Wilhelm | Optisches Diskriminierungsverfahren für mindestens zwei Materialien |
EP2006804A1 (de) * | 2007-06-22 | 2008-12-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur optischen Insprktion einer matten Oberfläche und Vorrichtung zum Durchführen dieses Verfahren |
DE102010037746B4 (de) | 2010-09-23 | 2013-01-24 | Carl Mahr Holding Gmbh | Verfahren zum optischen Antasten einer Kante in oder an einem Oberflächenbereich |
DE102014202679A1 (de) * | 2014-02-13 | 2015-08-27 | Dr. Wirth Grafische Technik Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen von Bildinformationen aus einem zu erfassenden Gegenstand |
EP3401672B1 (de) * | 2016-01-08 | 2023-08-30 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Schwachstellenerkennungsvorrichtung und schwachstellenerkennungsverfahren |
DE102016118520B4 (de) | 2016-09-29 | 2018-10-31 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Prüfeinrichtung zum Prüfen eines Werkstücks |
DE102016012371A1 (de) * | 2016-10-15 | 2018-04-19 | INPRO Innovationsgesellschaft für fortgeschrittene Produktionssysteme in der Fahrzeugindustrie mbH | Verfahren und Anlage zum Ermitteln der Defektfläche mindestens einer Fehlstelle auf mindestens einer Funktionsoberfläche eines Bauteils oder Prüfkörpers |
US20190238796A1 (en) | 2017-05-11 | 2019-08-01 | Jacob Nathaniel Allen | Object Inspection System And Method For Inspecting An Object |
CN114017709A (zh) * | 2021-11-22 | 2022-02-08 | 中导光电设备股份有限公司 | 一种高亮度暗场照明装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3540288A1 (de) * | 1985-06-21 | 1987-01-02 | Matsushita Electric Works Ltd | Anordnung und verfahren zur durchfuehrung von kontrollen an loetstellen |
GB2185813A (en) * | 1986-01-27 | 1987-07-29 | Elektro App Werke Veb | Assessing soldered joints |
US4801810A (en) * | 1987-07-13 | 1989-01-31 | Gerber Scientific, Inc. | Elliptical reflector illumination system for inspection of printed wiring boards |
DE3534019C2 (de) * | 1985-09-24 | 1989-05-03 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De | |
US4876455A (en) * | 1988-02-25 | 1989-10-24 | Westinghouse Electric Corp. | Fiber optic solder joint inspection system |
DE3815539A1 (de) * | 1988-05-06 | 1989-11-16 | Hermann Dr Datz | Vorrichtung zum selbsttaetigen pruefen von hohlglaesern, zum beispiel flaschen, auf schadstellen im muendungsbereich |
-
1991
- 1991-07-19 DE DE4123916A patent/DE4123916C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3540288A1 (de) * | 1985-06-21 | 1987-01-02 | Matsushita Electric Works Ltd | Anordnung und verfahren zur durchfuehrung von kontrollen an loetstellen |
DE3534019C2 (de) * | 1985-09-24 | 1989-05-03 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De | |
GB2185813A (en) * | 1986-01-27 | 1987-07-29 | Elektro App Werke Veb | Assessing soldered joints |
US4801810A (en) * | 1987-07-13 | 1989-01-31 | Gerber Scientific, Inc. | Elliptical reflector illumination system for inspection of printed wiring boards |
US4876455A (en) * | 1988-02-25 | 1989-10-24 | Westinghouse Electric Corp. | Fiber optic solder joint inspection system |
DE3815539A1 (de) * | 1988-05-06 | 1989-11-16 | Hermann Dr Datz | Vorrichtung zum selbsttaetigen pruefen von hohlglaesern, zum beispiel flaschen, auf schadstellen im muendungsbereich |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
WALZ, R.: Der Einsatz schneller Beleuchtungs- operationen f. die robuste Merkmalsextraktion und Segmentierung in der industriellen Objekt- erkennung u. Qualitätsprüfung, Inforamtik - Fachberichte, Mustererkennung 1988", 10. DAGM- Symposium, Springer Verlag, S. 270-276 * |
Cited By (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE29807926U1 (de) * | 1998-05-02 | 1999-09-09 | Ibea Ingenieurbuero Fuer Elekt | Vorrichtung zur optischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit von Gegenständen |
DE10083372B4 (de) * | 1999-10-14 | 2010-02-04 | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp. | Verfahren zum Untersuchen der Oberfläche von Halbleiterwafern |
DE10108075A1 (de) * | 2001-02-20 | 2002-09-19 | Oce Document Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum zeilenförmigen Beleuchten eines Objektes mittels LEDs und eines elliptischen Spiegels |
US7012241B2 (en) | 2001-02-20 | 2006-03-14 | Océ Document Technologies GmbH | Device and method for linear illumination of an object using LEDs and elliptical mirrors |
DE10230891B4 (de) * | 2001-07-11 | 2006-08-17 | Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon | Photolithographisches System und photolithographes Verfahren zur Erfassung von Verunreinigungen aufder Oberfläche von Wafern |
US7224446B2 (en) | 2003-07-03 | 2007-05-29 | Vistec Semiconductor Systems Gmbh | Apparatus, method, and computer program for wafer inspection |
DE10330003A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-02-03 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Vorrichtung, Verfahren und Computerprogramm zur Wafer-Inspektion |
DE10330003B4 (de) * | 2003-07-03 | 2007-03-08 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Vorrichtung, Verfahren und Computerprogramm zur Wafer-Inspektion |
US8740078B2 (en) | 2003-10-24 | 2014-06-03 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method and apparatus for providing omnidirectional lighting in a scanning device |
US9298960B2 (en) | 2003-10-24 | 2016-03-29 | Cognex Corporation | Method and apparatus for providing omnidirectional lighting in a scanning device |
US9329332B2 (en) | 2003-10-24 | 2016-05-03 | Cognex Corporation | Light pipe illumination system and method |
US8770483B2 (en) | 2003-10-24 | 2014-07-08 | Cognex Technology And Investment Corporation | Light pipe illumination system and method |
US8342405B2 (en) | 2003-10-24 | 2013-01-01 | Cognex Technology And Investment Corporation | Light pipe illumination system and method |
US8061614B2 (en) | 2003-10-24 | 2011-11-22 | Cognex Technology And Investment Corporation | Light pipe illumination system and method |
US8282000B2 (en) | 2003-10-24 | 2012-10-09 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method and apparatus for providing omnidirectional lighting in a scanning device |
DE102004038761B4 (de) * | 2004-08-09 | 2009-06-25 | Daimler Ag | Kamera-basierte Objektprüfung mittels Shape-from-Shading |
DE102004038761A1 (de) * | 2004-08-09 | 2006-02-23 | Daimlerchrysler Ag | Kamera-basierte Objektprüfung mittels Shape-from-Shading |
US8286878B2 (en) | 2004-12-16 | 2012-10-16 | Cognex Technology And Investment Corporation | Hand held symbology reader illumination diffuser |
US8672227B2 (en) | 2004-12-21 | 2014-03-18 | Cognex Technology And Investment Corporation | Low profile illumination for direct part mark readers |
US7823789B2 (en) | 2004-12-21 | 2010-11-02 | Cognex Technology And Investment Corporation | Low profile illumination for direct part mark readers |
US9495573B2 (en) | 2004-12-21 | 2016-11-15 | Cognex Technology And Investment Corporation | Low profile illumination for direct part mark readers |
DE102005031490A1 (de) * | 2005-07-04 | 2007-02-01 | Massen Machine Vision Systems Gmbh | Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion |
US7969565B2 (en) | 2005-07-08 | 2011-06-28 | Koenig & Bauer Aktiengesellschaft | Device for inspecting a surface |
US7874487B2 (en) | 2005-10-24 | 2011-01-25 | Cognex Technology And Investment Corporation | Integrated illumination assembly for symbology reader |
DE102007002106B3 (de) * | 2007-01-09 | 2008-07-03 | Wolfgang Weinhold | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung eines Gegenstandes |
US9322644B2 (en) | 2007-01-09 | 2016-04-26 | Wolfgang Weinhold | Method and apparatus for the examination of an object |
DE102011113670A1 (de) * | 2011-09-20 | 2013-03-21 | Schott Ag | Beleuchtungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren für die optische Prüfung eines Objekts |
DE102013108722A1 (de) * | 2013-08-12 | 2015-02-12 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Defekten einer ebenen Oberfläche |
DE102013108722B4 (de) | 2013-08-12 | 2022-10-06 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Defekten einer ebenen Oberfläche |
DE102013221334A1 (de) | 2013-10-21 | 2015-04-23 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren und Messvorrichtung zum Bewerten von Strukturunterschieden einer reflektierenden Oberfläche |
EP2863168A1 (de) | 2013-10-21 | 2015-04-22 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren und Messvorrichtung zum Bewerten von Strukturunterschieden einer reflektierenden Oberfläche |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4123916A1 (de) | 1992-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4123916C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum beleuchtungsdynamischen Erkennen und Klassifizieren von Oberflächenmerkmalen und -defekten eines Objektes | |
KR101945927B1 (ko) | 비전시스템의 정반사 표면에서 결점을 검출하기 위한 시스템 및 방법 | |
DE3919110C2 (de) | ||
US6621571B1 (en) | Method and apparatus for inspecting defects in a patterned specimen | |
TWI575625B (zh) | 檢測晶圓之系統及方法 | |
CN110006904B (zh) | 自适应漫射照明系统和方法 | |
JP2001194323A (ja) | パターン欠陥検査方法及びその装置 | |
DE102009000528B4 (de) | Inspektionsvorrichtung und -verfahren für die optische Untersuchung von Objektoberflächen, insbesondere von Waferoberflächen | |
US5854674A (en) | Method of high speed, high detection sensitivity inspection of repetitive and random specimen patterns | |
JPH0217427A (ja) | 拡散反射分光システム | |
EP1864081A1 (de) | Vorrichtung zur optischen formerfassung von gegenständen und oberflächen | |
US11493454B2 (en) | System and method for detecting defects on a specular surface with a vision system | |
US5144495A (en) | Systems for illuminating and evaluating surfaces | |
EP1405059A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur inspektion transparenter böden von flaschen | |
US7924517B2 (en) | Spatial filter, a system and method for collecting light from an object | |
US20180209918A1 (en) | Optical inspection system for transparent material | |
US20120293795A1 (en) | Defect inspection device and method of inspecting defect | |
DE102009026186A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Kanten- und Oberflächeninspektion | |
DE10297337T5 (de) | Automatischer Inspektionsapparat und Verfahren zur Erkennung von Anomalien in einem 3-dimensionalen transluzenten Objekt | |
DE10317078B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse reflektierender Oberflächen | |
EP2500716B1 (de) | Vorrichtung zur optischen Erfassung von Prüfobjekten | |
JPH10506710A (ja) | 映像面の変調パターンを認識するための方法および装置 | |
EP1563467B1 (de) | Verfahren zur fotografischen aufnahme eines zylinderförmigen, insbesondere plattenförmigen gegenstandes | |
CN210375628U (zh) | 一种镜片检测系统 | |
JP2022055348A (ja) | ラインスキャン用非ランバート性表面検査システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |