DE4119093A1 - Optischer transistor - Google Patents

Optischer transistor

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DE4119093A1
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DE4119093A
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Peter Dr Deimel
Konrad Kapser
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Airbus Defence and Space GmbH
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Messerschmitt Bolkow Blohm AG
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/11Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by two potential barriers, e.g. bipolar phototransistors
    • H01L31/1105Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by two potential barriers, e.g. bipolar phototransistors the device being a bipolar phototransistor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02327Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors

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Description

Die Erfindung betrifft einen Transistor, der optisch schaltbar ist und mit optischen Wellenleitern(n) gekoppelt ist. Optische Wellenleiter können sowohl in kristallinem als auch in amorphem Material hergestellt werden. Das gleiche gilt für optische Transistoren, d. h. Transistoren, bei denen der Basisstrom nicht durch Injektion von Ladungsträgern, son­ dern durch optische Absorption von Photonen erzeugte Ladungsträger ge­ steuert wird.
Die Kombination von optischen Wellenleitern mit Photodetektoren ist be­ reits bekannt und auf verschiedene Weise als integrierte Optik reali­ siert worden. Auch sind Wellenleiter in Form von Rippen bekannt (siehe z. B. die EP 03 97 089 A1). Als Substrate kommen Halbleitermaterialien und als Wellenleiter Photodetektoren an sich bekannter Art in Betracht.
Aufgabe vorliegender Erfindung ist es, einen optisch steuerbaren Transi­ stor so mit einem Wellenleiter zu kombinieren, daß die Integration eines optischen und eines elektronischen Bauelementes leichter als bisher her­ stellbar ist und der Anwendungsbereich gegenüber dem Stand der Technik zugleich größer wird.
Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Kombination gemäß Hauptanspruch. Aus- und Weiterbildungen der Erfindung sind den weiteren Ansprüchen zu entnehmen. Hierzu gehören auch die Beschreibung und Zeichnung von Aus­ führungsbeispielen.
Die wesentlichsten Vorteile der Erfindung sind wie folgt: Durch die Kombination von Rippenwellenleiter und darauf angeordnetem op­ tischen Transistor wird eine geschickte Tunnelung bzw. Transistorschal­ tung im optischen Mode mit Hilfe des Wellenleiters erreicht. Die Basis des Transistors besteht dabei aus einem Material, das einen größeren Brechungsindex und ein kleineres Bandgap besitzt als der Wellenleiter.
Durch Ausnützen der optischen Länge des Transistors kann dieser jeweils für verschiedene Wellenlängen sensitiv gemacht werden. So werden z. B. bei vorgegebenem Basismaterial kurze Wellenlängen in kurzen Transistoren absorbiert und lange Wellenlängen (d. h. kleine Energien) werden auf lan­ gen optischen Wegstrecken absorbiert. Diese Lösung (siehe beispielsweise Fig. 3) stellt eine besonders einfache Lösung für einen optischen Spek­ tralanalysator dar, bei dem lediglich die verschiedenen Breiten in Rich­ tung der Länge der Rippe des Wellenleiters aneinandergereiht sind (late­ ral).
Weitere Vorteile der Erfindung sind in der einfachen Integration eines optischen und elektronischen Bauelementes zu sehen, welches im Batch- Prozeß herstellbar ist, d. h. in größerer Anzahl gleichzeitig, z. B. auf Großsubstraten.
Weitere Vorteile der Erfindung sind der Beschreibung und Zeichnung von Ausführungsbeispielen, die nachfolgen, zu entnehmen. Es zeigt
Fig. 1 einen Querschnitt durch ein Substrat mit darauf angeordnetem Rippenwellenleiter und darüber angeordnetem Transistor,
Fig. 2 eine Draufsicht auf die Anordnung nach Fig. 1 mit einem einzel­ nen Phototransistor und
Fig. 3 eine Draufsicht auf eine Anordnung ähnlich Fig. 2, jedoch mit mehreren Phototransistoren aneinandergereiht in der Achse des Rippenwellenleiters hintereinander (lateral).
Wie der Fig. 1 zu entnehmen ist, ist auf einem Substrat 1 aus Halblei­ termaterial, bevorzugt kristallinem Halbleitermaterial, wie Silizium, GaAs, InP, ein Transistor aus Germanium-Silizium (GexSi1-x), InGaAs oder Kombinationen hiervon, wobei die Wellenleiter als Rippenwellenlei­ ter, wie Fig. 1 zeigt, strukturiert sind, auf dem Substrat direkt aufge­ bracht. Übereinanderfolgend können dabei Schichten aus SiO2 mit einem Brechungsindex, z. B. 1, 46, Silizium-Oxinitrid mit einem Brechungsindex 1, 51 und wieder eine Silizium-O2-Schicht mit Brechungsindex 1, 46 an­ geordnet sein. Auf der obersten Wellenleiterschicht mit der Rippe ist seitlich hiervon eine Kollektorschicht mit jeweils gemäß Fig. 1 außen­ liegendem ohmschen Kontakt aufgebracht und auf der Kollektorschicht die Basisschicht und über der Basisschicht die Emitterschicht. Das Material, das die Basis bestimmt, hat einen größeren Brechungsindex und ein klei­ neres Bandgap als der Wellenleiter. Bevorzugt wird hier z. B. amorphes Silizium, Germanium dotiert mit Wasserstoff, chemische Formel a-SixGe1-x :H als Basismaterial, amorphes Silizium dotiert mit Was­ serstoff, chemische Formel a-Si:H als Kollektormaterial und Emittermate­ rial, z. B. a-SiyGe1-y:H mit y<x.
Im Betrieb bildet sich eine optische Mode zur Tunnelung im Bereich der Rippe des Wellenleiters aus und von da wird in den Detektor (Basis­ schicht) getunnelt. Auf diese Weise wird der Phototransistor im opti­ schen Mode im Wellenleiter geschaltet und zwar auf direktem Wege entwe­ der durch Energieübertragung im TM-Mode oder im TE-Mode. Die Schicht­ dicke der Basisschicht als Absorber für Photonen ist abgestimmt auf die Wellenlänge des Lichts im Wellenleiter.
Der entscheidende Vorteil der Erfindung ist darin zu sehen, daß die Ba­ sischicht somit über den Wellenleiterrippen angeordnet ist und somit die Photonen absorbiert, wie insbesondere aus Fig. 2 ersichtlich ist. Die erzeugten Majoritätsladungsträger dienen dabei zum Vorwärtsspannen der Emitter-Basis-Grenzschicht. Die Ansteuerung erfolgt mit Hilfe der ohm­ schen Kontakte in an sich bekannter Weise.
Abwandlungen der beschriebenen und dargestellten Ausführungsbeispiele kann der Fachmann im Rahmen des beanspruchten Prinzips jederzeit vorneh­ men.

Claims (8)

1. Optisch schaltbarer Transistor auf einem Halbleitersubstrat, auf dem Wellenleiter in Rippenstruktur angeordnet sind, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Basis des Transistors aus einem Material besteht, das einen größeren Brechungsindex und ein kleineres Bandgap besitzt als der Wellenleiter.
2. Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtdicke der Basis abgestimmt ist auf die Wellenlänge des Lichtes im Wellenleiter.
3. Transistor nach Anspruch 1 und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Rippen der Wellenleiter aus vorgegebenem Material über die Länge der Rippen Transistoren verschiedener Ausdehnung aneinandergereiht sind.
4. Transistor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß er von einer optischen Mode im Wellenleiter schaltbar ist.
5. Transistor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Energieübertragung im TM-Mode oder TE-Mode er­ folgt.
6. Transistor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß mit Wasserstoff dotiertes amorphes Silizium die Basis und zugleich Absorberschicht für Photonen bildet.
7. Transistor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die optische Mode aus einem Siliziumoxid über einem Siliziumsubstrat besteht und daß über der(en) Siliziumoxidschicht(en) eine amorphe Siliziumschicht als Photodektor angeordnet ist.
8. Transistor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß mit Wasserstoff dotiertes amorphes Silizium die Basis und zugleich Absorberschicht für Photonen bildet.
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